JP4550144B2 - A/dコンバータ - Google Patents

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Description

本発明は、A/Dコンバータに関し、特に、逐次比較型のA/Dコンバータ及びそれを並列化したA/Dコンバータに関する。
A/Dコンバータ(ADC)にはさまざまな種類があるが、中でも逐次比較型ADCは精度、速度、コストなどのバランスがよく、さまざまなアプリケーションに用いられている。一般に、逐次比較型ADCはキャパシタアレイ型又は抵抗ストリング型のD/Aコンバータ(DAC)、逐次比較レジスタ(SAR)及び比較器から概略構成され、二分探査によってアナログ信号をデジタル信号に変換する。すなわち、SARは比較器の出力値に基づいてMSBからデジタル値を逐次決定する。具体的には、SARは逐次確定するデジタル値のさらに一つ下位のビットを“1”にしてDACから当該デジタル値に相当するアナログ値を出力させ、入力アナログ信号が当該アナログ値よりも大きければ当該ビットを“1”のままにし、そうでなければ“0”にする。このようにして、入力アナログ信号はn回の比較動作によってnビットのデジタル信号に変換される(例えば、非特許文献1参照)。
相良岩男著、「A/D・D/A変換回路入門」、第2版、日刊工業新聞社、2003年3月、pp.114−115
ADCは各種アプリケーションに必要不可欠な電子回路であり、特に近年の無線通信技術の発達により一層の低消費電力化が求められている。特に、携帯機器では電池寿命が問題となるため、携帯機器に用いられる電子回路の低消費電力化の要求は非常に厳しい。また、携帯機器については、システム仕様の異なる複数の無線通信システムを一つの集積回路上に実現する必要がある。このため、プロセス微細化により面積単価の上昇した集積回路上に複数の無線システムを集積したのでは集積回路の単価を引き上げることとなり、コスト面で大きな問題となる。
上記問題を解決するには、複数の無線システム仕様を一つのシステムに集約可能なソフトウェア無線システムを実現し、無線信号の受信周波数を周波数変調した場合でもなるべく高い周波数のまま高精度なデジタル信号に変換できるようにする必要がある。しかし、ソフトウェア無線システムには高速かつ高精度で動作し低消費電力化されたADCが必要となるところ、そのような高性能のADCはこれまで存在しなかった。
逐次比較型ADCは高精度なA/D変換を行うことが可能であるが、DACの動作が遅く、また、DACの精度を保つために回路規模が比較的大きくなってしまうという問題がある。例えば、10ビットのキャパシタアレイ型DACだと1024(=210)個のキャパシタが必要となる。しかし、これら多数のキャパシタはDACにとって大きな負荷となるため、D/A変換速度が低下し、また、消費電力が増大してしまい、結果的に、ADCの速度低下や消費電力の増大を招いてしまう。
上記問題に鑑み、本発明は、より小さな回路規模で低消費電力の逐次比較型A/Dコンバータを提供することを課題とする。さらに、そのような逐次比較型A/Dコンバータを用いた高速なA/Dコンバータを提供することを課題とする。
上記課題を解決するために本発明が講じた手段は、逐次比較型のA/Dコンバータとして、サイクリック型のD/Aコンバータと、アナログ値とD/Aコンバータの出力値とを比較する比較器と、比較器の出力値を順次記憶し、当該記憶した値を逆順でD/Aコンバータに供給する記憶手段とを備えたものとする。これによると、サイクリックDACの回路規模及び消費電力が非常に小さいため、逐次比較型A/Dコンバータの回路規模及び消費電力を非常に小さくすることができる。
具体的には、D/Aコンバータは、一端がLレベル論理値に相当する電圧ノードに接続された互いに同じ容量値を有する第1及び第2のキャパシタと、入力端と第1のキャパシタの他端との間に設けられた第1のスイッチと、第1のキャパシタの他端と第2のキャパシタの他端との間に設けられ、第1のスイッチとは逆の開閉動作をする第2のスイッチと、第2のキャパシタの他端と上記電圧ノードとの間に接続された第3のスイッチとを有する。
また、具体的には、記憶手段は、一又は複数の入力の中からいずれか一つを選択的に出力するセレクタを介して複数のフリップフロップがリング状に接続され、各セレクタには入力の一つとして第1のフリップフロップの出力値が供給され、第1のフリップフロップの入力側セレクタには入力の一つとしてHレベル論理値が供給され、第2のフリップフロップの入力側セレクタには入力の一つとして前記比較器の出力値が供給されるように構成されており、第1のフリップフロップの出力値が前記D/Aコンバータに供給される。
また、具体的には、記憶手段は、複数のフリップフロップと、比較器の出力値を複数のフリップフロップに順次記憶させる入力制御部と、複数のフリップフロップの出力値及びHレベル論理値を受け、これらをD/Aコンバータに順次供給する出力制御部とを有する。
好ましくは、上記の逐次比較型A/Dコンバータは、さらに、キャパシタアレイ型のD/Aコンバータと、比較器の出力値を逐次記憶し、当該記憶した値をキャパシタアレイ型のD/Aコンバータに逐次供給する逐次比較レジスタと、比較器の出力値を受け、これを記憶手段及び逐次比較レジスタのいずれか一方に選択的に供給するセレクタとを備えたものとする。ここで、比較器は、アナログ値とサイクリック型のD/Aコンバータ及びキャパシタアレイ型のD/Aコンバータの合計出力値とを比較するものとする。これによると、記憶手段及びサイクリックDACで回路規模及び消費電力を低減しつつ、逐次比較レジスタ及びキャパシタアレイ型D/AコンバータによってA/D変換速度を高速化することができる。
一方、本発明が講じた手段は、複数の上記の逐次比較型A/Dコンバータと、これら複数の逐次比較型A/Dコンバータのそれぞれにアナログ値を供給する複数のサンプルホールド回路と、入力されたアナログ信号をこれら複数のサンプルホールド回路に順次供給するマルチプレクサとを備えたものとする。ここで、これら複数の逐次比較型A/Dコンバータの記憶手段における比較器の出力値を記憶する各フリップフロップどうしが相互に接続されてシフトレジスタが構成されているものとする。これによると、逐次比較型A/Dコンバータが並列化され、A/D変換速度を高速化することができる。
さらに、本発明が講じた手段は、上記の複数のA/Dコンバータと、これら複数のA/DコンバータのうちA/D変換中でないいずれか一つを選択し、入力されたアナログ信号を当該選択したA/Dコンバータに供給する入力選択部と、これら複数のA/DコンバータのうちA/D変換中でないいずれか一つを選択し、当該選択したA/Dコンバータから出力されたデジタル信号を出力する出力選択部とを備えたものとする。これによると、逐次比較型A/Dコンバータを並列化した複数のA/Dコンバータがインターリーブ動作をして高速なA/D変換を連続的に行うことができる。
以上のように本発明によると、逐次比較型A/Dコンバータの回路規模及び消費電力を極めて小さくすることができる。さらに、そのような逐次比較型A/Dコンバータを並列化してA/D変換を高速化することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る逐次比較型ADCの構成を示す。ADC10は、サイクリックDAC11、比較器12及び記憶手段13を備えている。比較器12は、ADC10に入力されたアナログ値とDAC11の出力値とを比較し、1ビットの論理値を出力する。
DAC11は、デジタル値をLSBから順に1ビットずつ受けてアナログ値に変換する。図2は、DAC11の構成を示す。互いに同じ容量値を有するキャパシタ111及び112のそれぞれの一端はグランドノードに接続されている。キャパシタ111の他端とデジタル入力端との間にはスイッチ113が挿入されている。また、キャパシタ111の他端とキャパシタ112の他端との間にはスイッチ114が挿入されている。さらに、キャパシタ112の他端とグランドノードとの間にはスイッチ115が挿入されている。そして、キャパシタ112の充電電圧がアナログ出力となる。
DAC11の動作は次のとおりである。まず、スイッチ113をオフにし、スイッチ114をオンにした状態でリセット信号φRによってスイッチ115が一旦オンにされ、キャパシタ111及び112がリセット(放電)される。その後、スイッチ115をオフにした状態で、スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって相補的に開閉動作をするように制御される。すなわち、スイッチ113がオンのとき、H論理レベルに相当する電源電圧又はL論理レベルに相当するグランド電圧がキャパシタ111に印加される。一方、スイッチ114がオンのとき、キャパシタ111とキャパシタ112との間で電荷が再配分される。
ここで、キャパシタ111に印加される電圧は、入力デジタル値が“1”のときには電源電圧(VDD)であり、“0”のときにはグランド電圧(0)であるとし、n番目のクロックサイクルでキャパシタ112に充電されている電荷をQ(n)、キャパシタ111及び112の容量値をCとすると、n+1番目のクロックサイクルでキャパシタ112に充電される電荷Q(n+1)は次式で表される。
Figure 0004550144
上式は、スイッチ114がスイッチング動作するたびにキャパシタ111及び112の合計電荷が1/2になっていくことを示している。さらに、n番目のクロックサイクルにおける入力デジタル値をbとすると、n番目のクロックサイクル終了時にキャパシタ112に充電されている電荷Q(n)及び電圧V(n)はそれぞれ次式で表される。
Figure 0004550144
DAC11にはデジタル値をLSBから順に入力する必要があるところ、当該デジタル値は比較器12からMSBから順に出力される。したがって、比較器12から出力されるビット値を先入れ後出し方式(FILO)でDAC11に入力する必要がある。図3は、比較器出力とDAC入力との関係を示す。二分探査によるA/D変換を行う逐次比較型ADCでは、DACに入力されるデジタル値のLSBは常に“1”となる。したがって、DAC11にはまず“1”を入力し、それに続いて比較器12からビット値が出力されるたびに、比較器12の出力値を出力順とは逆順で入力する。
記憶手段13は、上述したように比較器12から出力されるビット値を先入れ後出し方式でDAC11に入力する。以下、記憶手段13の二つの構成例を説明する。なお、便宜のためADC10の分解能が4ビットであるとして説明する。
図4は、記憶手段13の第1の構成例を示す。4つのフリップフロップ131、131、131及び131は、クロック信号φ3に同期して、セレクタ132、132、132及び132から供給されるビット値をそれぞれラッチする。入力制御部133は、比較器12の出力値を受け、これをセレクタ132〜132に順次供給する。セレクタ132〜132は、入力制御部133からビット値が供給されている場合には当該ビット値を出力し、そうでない場合にはフリップフロップ131〜131の出力値をそれぞれフィードバックする。出力制御部134は、フリップフロップ131〜131の出力値及びビット値“1”を受け、ビット値“1”から順次フリップフロップ131〜131の出力値を出力する。セレクタ132〜132、入力制御部133及び出力制御部134は制御信号CTLによって制御される。
図5は、記憶手段13の第2の構成例を示す。5つのフリップフロップ131〜131は、セレクタ132〜132を介してリング状に接続されており、クロック信号φ3に同期して、セレクタ132〜132から供給されるビット値をそれぞれラッチする。そして、フリップフロップ131の出力値がDAC11の入力となる。また、フリップフロップ131の出力値はセレクタ132〜132にも入力される。すなわち、フリップフロップ131〜131のいずれもフリップフロップ131の出力値をラッチ可能となっている。さらに、セレクタ132にはビット値“1”が入力され、セレクタ132には比較器12の出力値が入力されるようになっている。セレクタ132〜132は制御信号CTLによって制御される。なお、セレクタ132は入力が一つであるため特に省略してもよい。
図6は、図5に示した記憶手段13の動作の様子を表す。なお、参照符号は省略している。また、各セレクタが選択している入力は実線で表している。まず、初期状態として、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたビット値“1”をラッチしてから、ADC10のA/D変換が開始される(不図示)。
出力デジタル値のMSBを決定する第1フェーズでは、フリップフロップ131はビット値“1”を出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択された自己の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択された比較器12の出力値bをラッチする。
出力デジタル値のMSBの下位1ビット目を決定する第2フェーズでは、まず、フリップフロップ131はビット値“1”を出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチする。次に、フリップフロップ131はビット値bを出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択された比較器12の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチする。
出力デジタル値のMSBの下位2ビット目を決定する第3フェーズでは、まず、フリップフロップ131はビット値“1”を出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチする。次に、フリップフロップ131はビット値bを出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチする。次に、フリップフロップ131はビット値bを出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択された比較器12の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131 の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチする。
出力デジタル値のMSBの下位3ビット目を決定する第4フェーズでは、まず、フリップフロップ131はビット値“1”を出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチする。次に、フリップフロップ131はビット値bを出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチする。次に、フリップフロップ131はビット値bを出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチする。次に、フリップフロップ131はビット値bを出力する。そして、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値“1”をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択された比較器12の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131 の出力値bをラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値 をラッチし、フリップフロップ131はセレクタ132によって選択されたフリップフロップ131の出力値bをラッチする。そして、第4フェーズが終了した時点でフリップフロップ131〜131にA/D変換の結果得られた4ビットのデジタル値が記憶されている。
図7は、ADC10を制御する各種信号のタイミングを示す。また、図8は、これら信号を生成する回路の構成例を示す。DAC11を駆動するクロック信号φ1及びφ2は、互いにオーバーラップ期間のない排他的な2相クロック信号でなければならない。これらクロック信号φ1及びφ2は、NANDゲート及び遅延バッファを用いて基準クロック信号から容易に生成することができる。DAC11のリセット信号φRは、出力デジタル値の各ビットを決定する各フェーズの最初に出力される。リセット信号φRは、クロック信号φ1を適宜マスクすることで容易に生成することができる。記憶手段13における各フリップフロップの動作クロック信号φ3は、クロック信号φ1と同じタイミングでよい。このため、クロック信号φ1及びφ3は共通化することができる。そして、記憶手段13における各セレクタの制御信号CTLは、クロック信号φ2に同期して遷移するようにする。これにより、各フリップフロップにおいてセットアップ及びホールド期間を十分に確保することができる。
以上、本実施形態によると、DACが2個のキャパシタで構成されるため、ADCの回路規模を格段に小さくすることができる。また、DACの負荷が小さくなるため、低消費電力化が可能となる。
なお、比較器12の出力遷移が遅いため記憶手段13が正確な値を受けることができないようであれば、比較器12の出力側にラッチ回路を設けるとよい。当該ラッチ回路は各ビット値の決定フェーズの最後に動作すればよく、当該ラッチ回路を駆動する信号はクロック信号φ2を適宜マスクすることで生成することができる。また、DAC11にデジタル値を供給するフリップフロップの駆動能力が低いためDAC11におけるキャパシタ111に十分な電圧が印加できないようであれば、当該フリップフロップの出力値に応じて電源電圧又はグランド電圧を選択的に供給するセレクタを介してキャパシタ111にデジタル値を供給するとよい。
(第2の実施形態)
図9は、第2の実施形態に係る逐次比較型ADCの構成を示す。本実施形態に係るADC10は、キャパシタアレイ型DAC14及び逐次比較レジスタ(SAR)15を備えた従来の逐次比較型ADCと第1の実施形態に係るADCとを組み合わせた構成をしている。記憶手段13及びSAR15の出力はいずれも比較器12に入力される。セレクタ16は、A/D変換の前半において比較器12の出力値をSAR15に供給し、後半において記憶手段13に供給する。すなわち、上位ビット側のA/D変換はキャパシタアレイ型DAC14を用いて行われ、SAR15からは上位ビット側のデジタル値が出力される。そして、下位ビット側のA/D変換はサイクリックDAC11を用いて行われ、記憶手段13からは下位ビット側のデジタル値が出力される。
従来の逐次比較型ADCはnクロックサイクルでnビットの分解能を得ることができる。これに対して、第1の実施形態に係るADCは、出力デジタル値の各ビットを決定する各フェーズにおいてそれまでに比較器12から出力されたビット値を逆順にしてDAC11に供給する必要があるため、nビットの分解能を得るためにはnの総和、すなわち、n(n+1)/2クロックサイクルが必要となる。このため、変換速度の点では不利である。そこで、本実施形態のように従来の逐次比較型ADCと第1の実施形態に係る逐次比較型ADCとを組み合わせることで、回路規模及び消費電力を低減しつつ変換速度を高速化することができる。
第1及び第2の実施形態において、比較器12として通常の差動増幅型の比較器を用いると、オフセット電圧などが影響して誤った値を出力してしまうおそれがある。そこで、比較器12としてオフセット電圧による影響を受けにくいチョッパ型比較器を用いてもよい。図10は、チョッパ型比較器12の構成例を示す。比較器12において、キャパシタ121は、スイッチ122又はスイッチ123を介して、ADC10に入力されたアナログ信号又はDAC11の出力が入力される。スイッチ122及び123は、それぞれ、信号INT及びその反転である信号/INTによってスイッチング制御され、互いに逆の開閉状態となる。インバータ124は、キャパシタ121に発生した電圧に対応する論理値を反転した1ビットの論理値を出力する。インバータ124の入出力端はスイッチ125によって短絡可能となっている。スイッチ125は、スイッチ122と同じ信号INTによってスイッチング制御され、互いに同じ開閉状態となる。比較器12の動作初期において、スイッチ122及び125は閉じるとともにスイッチ123は開く。これにより、インバータ124の入出力端が短絡されて入出力電圧が平衡点で安定するとともに(オートゼロ動作)、ADC10に入力されたアナログ信号によってキャパシタ121が充電される。その後、スイッチ122及び125が開くとともにスイッチ123が閉じ、DAC11が比較器12に接続される。DAC11の出力電圧がキャパシタ121の電圧よりも高い場合には、インバータ124の入力電圧が平衡点よりも高くなるため、インバータ124は“0”を出力する。一方、DAC11の出力電圧がキャパシタ121の電圧よりも低い場合には、インバータ124の入力電圧が平衡点よりも低くなるため、インバータ124は“1”を出力する。以上のように比較器12をチョッパ型にしても、本実施形態に係るADC10は従来の逐次比較型ADCよりも少ないキャパシタで構成可能であるため、回路規模を格段に小さくすることができる。また、キャパシタの数が少ない分、ADCの駆動電流が少なくて済み、低消費電力化が可能となる。
(第3の実施形態)
図11は、第3の実施形態に係るADCの構成を示す。ADC20は、マルチプレクサ21、複数のサンプルホールド回路22及び複数のADC10(サブADC)を備えている。ADC10は、第1又は第2の実施形態に係る逐次比較型ADCであり、対応するサンプルホールド回路22からアナログ値を受け、当該アナログ値をデジタル値に変換する。マルチプレクサ21は、入力されたアナログ信号を複数のサンプルホールド回路22のそれぞれに順次供給する。サンプルホールド回路22は、供給されたアナログ信号のサンプル&ホールドを行う。このように、ADC20はADC10を並列化したものである。なお、図10に示したチョッパ型比較器12では、キャパシタ121がサンプルホールド回路22として動作する。
ADC10の並列数は、個々のADC10のA/D変換に要するクロックレイテンシに基づいて決定する。例えば、第1の実施形態に係るADC10で10ビットの分解能を得る場合、クロックレイテンシは55(=10×11/2)となるため、55個のADC10を並列化する必要がある。
複数のADC10は、複数のサンプルホールド回路22のすべてにアナログ値がホールドされてから一斉に動作させる。複数のADC10は、それぞれ、同じタイミングで動作可能であるため、クロック信号φ1〜φ3、リセット信号φR及び制御信号CTLを複数のADC10に共通に与えればよい。
各ADC10でのA/D変換結果を取り出すために、複数のADC10の記憶手段13における各フリップフロップどうしを相互に接続してシフトレジスタを構成する。図12及び図13は、それぞれ、図4及び図5に示した記憶手段13を複数繋げて構成したシフトレジスタの一部を示す。シフトレジスタは、各フリップフロップの入力側のセレクタに、隣接するADC10の記憶手段13における各フリップフロップの出力を接続することで容易に構成可能である。そして、当該シフトレジスタを動作させることで、特定のADC10(図11では最下に配置したADC10)から各ADC10のA/D変換結果を順次取り出すことができる。なお、図5に示した記憶手段13におけるフリップフロップ131は比較器12の出力値を記憶するためのものではないため、シフトレジスタ化する必要はない。
以上、本実施形態によると、複数の逐次比較型ADCによって一斉にA/D変換が行われるため、個々の逐次比較型ADCの動作が遅くても全体として高速なA/D変換が可能となる。また、並列化に係る逐次比較型ADCとして第1又は第2の実施形態に係るADCを採用しているため、逐次比較型ADC単体の回路規模及び消費電力は極めて小さい。したがって、このような逐次比較型ADCを数十個並列化しても本実施形態に係るADCの全体的な回路規模及び消費電力は相当程度にまで抑えることができる。
また、従来の逐次比較型ADCを並列化した場合、個々のサブADCが異なるタイミングで動作するためこれらサブADCを制御するための回路が複数必要になるが、本実施形態に係るADCでは、複数の逐次比較型ADCの各種制御信号を共通化することができるためこれらサブADCを制御するための回路が1個で済む。したがって、当該制御回路まで含めると、本実施形態に係るADCはより小さな回路規模及びより少ない消費電力を達成することができる。
(第4の実施形態)
第3の実施形態のような同期制御方式のADCでは、サブADCの個数が多くなるとサブADC間での各種制御信号のスキュー調整が難しくなる。また、すべてのサブADCに共通のクロック信号が供給されるため、動作の必要のないクロック信号の供給ラインが動作してしまい、電力が無駄に消費されてしまう。そこで、多数のサブADCを互いに独立に制御する、すなわち、非同期制御することを考える。図14は、第4の実施形態に係るADCの構成を示す。以下、第3の実施形態と異なる点についてのみ説明する。
複数のサンプルホールド回路22には共通のアナログ信号が入力される。複数のサンプルホールド回路22は、それぞれ、制御回路23からパルス信号φSを受けたとき、そのときに入力されているアナログ信号のサンプル&ホールドを行う。複数の制御回路23は、それぞれ、トリガー回路24からトリガーを受けると、制御対象のサンプルホールド回路22及びADC10(サブADC)の制御を開始する。具体的には、制御回路23は、サンプルホールド回路22にパルス信号φSを与えてから、ADC10に対してクロック信号φ1〜φ3、リセット信号φR及び制御信号CTLの供給を開始する。トリガー回路24は、複数の制御回路23に動作開始のトリガーTrgを順次与える。トリガー回路24は、例えば、所定のクロック信号に同期して動作するnビットのシフトレジスタで構成可能である。ただし、nはADC10の個数である。
図15は、制御回路23の主要部の構成例を示す。同図に示した回路の動作について、図16のタイミングチャートを参照しながら説明する。パルス発生回路230は、トリガー回路24から受けたトリガーTrgの立ち上がりでワンショットパルス(パルス信号φS)を出力する。パルス発生回路231は、パルス信号φSの立ち下がりでワンショットパルス(クロック信号φ1)を出力する。パルス発生回路232は、クロック信号φ1の立ち下がりでワンショットパルス(クロック信号φ2)を出力する。パルス発生回路233は、カウンタ回路234から出力される信号ena1が“1”となっている間、クロック信号φ2の立ち下がりでワンショットパルス(パルス信号Q1)を出力する。パルス信号Q1は、クロック信号φ3として出力される。パルス発生回路231は、パルス信号Q1の立ち下がりでワンショットパルス(クロック信号φ1)を出力する。
カウンタ回路234は、パルス発生回路231から出力されるパルスをカウントし、そのカウント値に応じて、出力信号ena1、ena2及びena3のそれぞれの論理レベルを切り替える。信号ena1は、制御回路23の制御対象のADC10におけるDAC11がD/A変換を行っている間“1”となる信号である。信号ena2は、制御回路23の制御対象のADC10におけるDAC11によるD/A変換が完了するタイミングで“1”となる信号である。信号ena3は、制御回路23の制御対象のADC10によるA/D変換が完了するタイミングで“1”となる信号である。
Dフリップフロップ(DFF)235は、クロック信号φ2に同期して信号ena2をラッチする。すなわち、DFF235の出力信号Q2は、制御回路23の制御対象のADC10における比較器12による比較動作開始を指示する信号である。ここで、比較器12が上述のチョッパ型比較器で構成されており、その出力が差動出力である場合、比較器12の比較動作の完了は差動出力の排他的論理和が“1”となることによって検知することができる。比較器12を含むパルス発生回路236は、DFF235の出力信号Q2の立ち上がりをトリガーとして動作する比較器12の比較動作が完了したときにワンショットパルス(パルス信号Q2’)を出力する。パルス信号Q2’は、クロック信号φ3として出力される。パルス発生回路231は、パルス信号Q2’の立ち下がりでワンショットパルス(クロック信号φ1)を出力する。また、パルス発生回路237は、パルス信号Q2’の立ち下がりでワンショットパルス(クロック信号φR)を出力する。
DFF238は、クロック信号φ2に同期して信号ena3をラッチする。すなわち、DFF238の反転出力信号/Q3は、制御回路23の制御対象のADC10の動作停止を指示する信号である。信号/Q3が“0”になると、パルス発生回路231によるクロック信号φ1の生成が停止し、これをトリガーとして動作していた各回路が停止する。これにより、制御回路23の制御対象のADC10全体の動作が停止する。
以上、本実施形態によると、複数のADC10が非同期で制御されるため、サブADC間での各種制御信号のスキュー調整が不要になる。各サブADCは、所定期間(例えば、トリガー回路24の同期クロック信号の1周期×ADC10の個数)内にA/D変換を完了すればよい。このため、サブADCの個数が非常に多くなっても、比較的容易に回路をレイアウトすることができる。また、各ADC10はA/D変換が完了すると停止するため、無駄な電力の消費が抑制される。
(第5の実施形態)
図17は、第5の実施形態に係るADCの構成を示す。ADC30は、入力選択部31、出力選択部32及び2個のADC20を備えている。ADC20は、第3の実施形態に係るものである。入力選択部31は、入力されたアナログ信号を、2個のADC20のうちA/D変換中でない方に供給する。出力選択部32は、2個のADC20のうちA/D変換中でない方からデジタル値を受けて出力する。
ADC20の一連の動作を、入力されたアナログ信号を各サンプルホールド回路22に振り分けるサンプリング動作、複数のADC10で一斉にA/D変換を行うA/D変換動作、シフトレジスタを動作させてデジタル値を順次出力する出力動作に分けると、サンプリング動作と出力動作とは同時並行的に行うことができるが、A/D変換動作は単独で行う必要がある。したがって、図18の動作タイミングチャートに示したように、各ADC20においてA/D変換動作が他の動作と重ならないようにし、さらに、2個のADC20のうち一方がA/D変換動作中は他方はA/D変換動作を停止するようにADC20、入力選択部31及び出力選択部32をそれぞれ制御する。
以上、本実施形態によると、ADC20単体ではアナログ信号を各サンプルホールド回路22に振り分けている間はA/D変換を実行することができないところ、2個のADC20をインターリーブ動作させることにより連続的なA/D変換が可能となる。これにより、電気通信信号などの連続信号を低消費電力で高速にA/D変換することができる。なお、3個以上のADC20をインターリーブ動作させてもよいことは言うまでもない。
(サイクリックDACに関する参考発明)
サイクリックDACは、2個のキャパシタ間での電荷再配分を繰り返すことによってD/A変換を行う(例えば、特開2006−325184号公報(第3−4頁、第1図)参照)。このように、サイクリックDACは基本的には2個のキャパシタと数個のスイッチで構成することができるため、その回路規模及び消費電力は、キャパシタアレイ型や抵抗ストリング型などの他のタイプのDACと比較して格段に小さくすることができる。
しかし、サイクリックDACは、D/A変換対象のデジタル値をLSBから1ビットずつ処理するという動作原理から、nビットのデジタル値を処理するのに動作クロック信号のnクロックサイクルの時間を要する。すなわち、サイクリックDACにはクロックレイテンシが大きいという欠点がある。
上記問題に鑑み、本参考発明は、サイクリックDACの動作速度を向上することを課題とする。
上記課題を解決するために本参考発明が講じた手段は、デジタル値をアナログ値に変換するD/Aコンバータとして、一端が“0”に相当する電圧ノードに接続され、容量比が1:2−1(ただし、nは2以上の整数)である第1及び第2のキャパシタと、前記第1のキャパシタの他端と前記第2のキャパシタの他端との間に接続された第1のスイッチと、前記第2のキャパシタの他端に接続され、前記第1のスイッチが非導通状態にあるときに導通状態となる第2のスイッチと、D/A変換対象のデジタル値がLSBから順にnビットに区切られて入力され、前記第2のスイッチを介して、前記第2のキャパシタに前記nビットのデジタル値に応じた大きさの電圧を印加する電圧供給回路とを備えたものとする。これによると、第1のスイッチが非導通状態にあるとき、電圧供給回路によって第2のキャパシタがnビットのデジタル値に応じた電圧に充電され、第1のスイッチが導通して第1のキャパシタと第2のキャパシタとが接続されると、第1のキャパシタにおいてそれまで設定されていたデジタル値がnビットだけシフトし、さらに第2のキャパシタに設定された上位nビットのデジタル値が第1のキャパシタに追加される。すなわち、D/A変換対象のデジタル値をnビットずつ処理することができる。これにより、より少ないクロックサイクルでD/A変換を完了することができる。
好ましくは、上記D/Aコンバータは、前記第1及び第2のキャパシタのいずれか一方に並列接続された第3のスイッチを備え、前記第1及び第3のスイッチは、当該D/AコンバータによるD/A変換開始前にいずれも導通状態となるものとする。
具体的には、前記電圧供給回路は、“0”から“2−1”までの各整数に相当する複数の電圧を供給する電圧源と、前記第2のスイッチに接続され、前記電圧源の複数の電圧のいずれか一つを選択するセレクタと、前記nビットのデジタル値から前記セレクタを制御する信号を生成するデコーダとを有する。
好ましくは、前記電圧供給回路は、前記D/A変換対象のデジタル値のMSBを含むm(ただし、mはnよりも大きい整数)ビットのデジタル値を受け、前記第2のスイッチを介して、前記第2のキャパシタに前記mビットのデジタル値に応じた大きさの電圧を印加するものとする。これによると、D/A変換の終盤において、より大きなビット幅のデジタル値を処理することができる。
具体的には、前記電圧供給回路は、“0”から“2−1”までの各整数に相当する複数の電圧を供給する電圧源と、前記第2のスイッチに接続され、前記電圧源の複数の電圧のいずれか一つを選択するセレクタと、前記n又はmビットのデジタル値から前記セレクタを制御する信号を生成するデコーダとを有する。
また、本参考発明が講じた手段は、デジタル値をアナログ値に変換するD/Aコンバータとして、一端が“0”に相当する電圧ノードに接続された第1のキャパシタと、一端が前記電圧ノードに接続され、並列接続したときの合成容量が前記第1のキャパシタの容量の2−1(ただし、nは2以上の整数)倍である第2のキャパシタ群と、前記第1のキャパシタの他端と前記第2のキャパシタ群の他端との間に接続された第1のスイッチ群と、前記第2のキャパシタ群の他端に接続され、前記第1のスイッチ群が非導通状態にあるときに導通状態となる第2のスイッチ群と、D/A変換対象のデジタル値がLSBから順にnビットに区切られて入力され、前記第2のスイッチ群を介して、前記第2のキャパシタ群の合計電荷が前記nビットのデジタル値に応じた量となるように前記第2のキャパシタ群に電圧を印加する電圧供給回路とを備えたものとする。これによると、第1のスイッチ群が非導通状態にあるとき、電圧供給回路によって第2のキャパシタ群がnビットのデジタル値に応じた電圧に充電され、第1のスイッチ群が導通して第1のキャパシタと第2のキャパシタ群とが接続されると、第1のキャパシタにおいてそれまで設定されていたデジタル値がnビットだけシフトし、さらに第2のキャパシタ群に設定された上位nビットのデジタル値が第1のキャパシタに追加される。すなわち、D/A変換対象のデジタル値をnビットずつ処理することができる。これにより、より少ないクロックサイクルでD/A変換を完了することができる。
好ましくは、上記のD/Aコンバータは、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタ群のうちのいずれか一つに並列接続された第3のスイッチを備え、前記第1及び第3のスイッチは、当該D/AコンバータによるD/A変換開始前にいずれも導通状態となるものとする。
具体的には、前記電圧供給回路は、“0”に相当する電圧を含む複数の電圧を供給する電圧源と、前記第2のスイッチ群に接続され、前記電圧源の複数の電圧のいずれか一つを選択するセレクタ群と、前記nビットのデジタル値から前記セレクタ群を制御する信号を生成するデコーダとを有する。
好ましくは、前記電圧供給回路は、前記D/A変換対象のデジタル値のMSBを含むm(ただし、mはnよりも大きい整数)ビットのデジタル値を受け、前記第2のスイッチ群を介して、前記第2のキャパシタ群の合計電荷が前記mビットのデジタル値に応じた量となるように前記第2のキャパシタ群に電圧を印加するものとする。これによると、D/A変換の終盤において、より大きなビット幅のデジタル値を処理することができる。
具体的には、前記電圧供給回路は、“0”に相当する電圧を含む複数の電圧を供給する電圧源と、前記第2のスイッチ群に接続され、前記電圧源の複数の電圧のいずれか一つを選択するセレクタ群と、前記n又はmビットのデジタル値から前記セレクタ群を制御する信号を生成するデコーダとを有する。
また、本参考発明が講じた手段は、デジタル値をアナログ値に変換するD/Aコンバータとして、一端が“0”に相当する電圧ノードに接続され、容量比が1:2−1(ただし、nは2以上の整数)である第1及び第2のキャパシタと、前記第1のキャパシタの他端と前記第2のキャパシタの他端との間に接続された第1のスイッチと、前記第2のキャパシタに並列接続され、前記第1のスイッチが非導通状態にあるときに導通状態となる第2のスイッチと、D/A変換対象のデジタル値がLSBから順にnビットに区切られて入力され、前記第2のスイッチが非導通状態にあるとき、前記第2のキャパシタに前記nビットのデジタル値に応じた大きさの電流パルスを供給する電流供給回路とを備えたものとする。これによると、第1のスイッチが非導通状態にあるとき、第2のキャパシタがリセットされ、第1のスイッチが導通して第1のキャパシタと第2のキャパシタとが接続されると、第1のキャパシタにおいてそれまで設定されていたデジタル値がnビットだけシフトし、さらに電流供給回路から供給されたnビットのデジタル値に応じた電流パルスが上位ビットとして第1及び第2のキャパシタに追加される。すなわち、D/A変換対象のデジタル値をnビットずつ処理することができる。これにより、より少ないクロックサイクルでD/A変換を完了することができる。
好ましくは、前記第1及び第2のスイッチは、当該D/AコンバータによるD/A変換開始前にいずれも導通状態となるものとする。
具体的には、前記電流供給回路は、“1”に相当する電流を供給する2−1個の電流源と、前記第2のキャパシタの他端と前記2−1個の電流源のそれぞれとの間に接続された2−1個のスイッチと、前記nビットのデジタル値及び前記第2のスイッチが非導通状態にあるときに活性化するパルス信号に基づいて、前記2−1個のスイッチを制御する信号を生成する制御回路とを有する。
また、具体的には、前記電流供給回路は、“2”(ただし、iは0からn−1までの各整数)に相当する電流を供給するn個の電流源と、前記第2のキャパシタの他端と前記n個の電流源のそれぞれとの間に接続されたn個のスイッチと、前記nビットのデジタル値及び前記第2のスイッチが非導通状態にあるときに活性化するパルス信号に基づいて、前記n個のスイッチを制御する信号を生成する制御回路とを有する。
好ましくは、前記電流供給回路は、前記D/A変換対象のデジタル値のMSBを含むm(ただし、mはnよりも大きい整数)ビットのデジタル値を受け、前記第2のスイッチが非導通状態にあるとき、前記第2のキャパシタに前記mビットのデジタル値に応じた大きさの電流パルスを供給するものとする。これによると、D/A変換の終盤において、より大きなビット幅のデジタル値を処理することができる。
具体的には、前記電流供給回路は、“1”に相当する電流を供給する2−1個の電流源と、前記第2のキャパシタの他端と前記2−1個の電流源のそれぞれとの間に接続された2−1個のスイッチと、前記n又はmビットのデジタル値及び前記第2のスイッチが非導通状態にあるときに活性化するパルス信号に基づいて、前記2−1個のスイッチを制御する信号を生成する制御回路とを有する。
また、具体的には、前記電流供給回路は、“2”(ただし、iは0からm−1までの各整数)に相当する電流を供給するm個の電流源と、前記第2のキャパシタの他端と前記m個の電流源のそれぞれとの間に接続されたm個のスイッチと、前記n又はmビットのデジタル値及び前記第2のスイッチが非導通状態にあるときに活性化するパルス信号に基づいて、前記m個のスイッチを制御する信号を生成する制御回路とを有する。
以上説明したように本参考発明によると、少ないクロックサイクルでサイクリックDACのD/A変換を完了することができる。これにより、回路規模、消費電力及びクロックレイテンシが小さいD/Aコンバータを実現することができる。
以下、参考発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
(第1の参考実施形態)
図19は、第1の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成を示す。DAC11において、キャパシタ111及び112のそれぞれの一端はグランドノードに接続されている。キャパシタ112の容量値はCであり、キャパシタ111の容量値はその2−1倍である。ただし、nは2以上の整数である。キャパシタ111の他端にはスイッチ113が接続されている。また、キャパシタ111の他端とキャパシタ112の他端との間にはスイッチ114が挿入されている。スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって制御され、互いに一方が非導通状態にあるときに導通状態となる。さらに、キャパシタ112の他端とグランドノードとの間にはスイッチ115が挿入されている。そして、キャパシタ112の充電電圧がアナログ出力となる。
スイッチ114が導通すると、キャパシタ111及び112が並列接続されて合成容量2Cのキャパシタが形成される。スイッチ114が導通する直前にキャパシタ111及び112のそれぞれに蓄積されていた電荷は、スイッチ114の導通によって形成されたキャパシタに再配分される(イコライズ動作)。すなわち、キャパシタ111の電圧は、スイッチ114が導通する直前にキャパシタ111及び112のそれぞれに蓄積されていた電荷の合計を容量2Cで割った値となる。例えば、キャパシタ111を放電した後にスイッチ114を導通させると、キャパシタ112の電圧は1/2倍となる。これをm回繰り返すとキャパシタ112の電圧は1/2nm倍となる。すなわち、スイッチ114がオンとなるごとに、キャパシタ112の電圧として表されるD/A変換値はnビットずつシフトすることとなる。そこで、スイッチ114が非導通状態にあるときにキャパシタ111をnビットのデジタル値に応じた電圧で充電しておくことによって、スイッチ114が導通したときに、キャパシタ111に設定されたnビットの値を上位ビットとしてキャパシタ112に追加することができる。すなわち、DAC11においてD/A変換対象のデジタル値をnビットずつ処理することができる。
電圧供給回路116は、スイッチ113を介して、キャパシタ111に最大でm(ただし、mはnよりも大きい整数)ビットのデジタル値に応じた大きさの電圧を印加する。ただし、電圧供給回路116は、DAC11のD/A変換対象のデジタル値のMSBを含む場合のみ最大でmビットのデジタル値を処理し、それ以外はnビットのデジタル値を処理する。すなわち、DAC11は、D/A変換対象のデジタル値をLSBから順にnビットずつ処理していき、MSBを含む場合にのみ最大でmビットのデジタル値を処理する。
電圧供給回路116において、電圧源1161は、“0”から“2−1”までの各整数に相当する電圧V[0](グランド電圧)からV[2−1]を供給する。電圧源1161は、例えば、抵抗ラダー回路で構成することができる。セレクタ1162は、電圧源1161の複数の電圧のいずれか一つを選択する。セレクタ1162によって選択された電圧はスイッチ113を介してキャパシタ111に印加される。デコーダ1163は、入力されたn又はmビットのデジタル値からセレクタ1162を制御する信号を生成する。例えば、デコーダ1163は、入力されたデジタル値の全ビットが“0”ならば電圧V[0]が、LSBのみ“1”ならば電圧V[1]が、全ビットが“1”ならば電圧V[2−1](nビットのデジタル値の場合)又は電圧V[2−1](mビットのデジタル値の場合)が、それぞれ選択されるような制御信号を生成する。
DAC11の動作は次のとおりである。まず、スイッチ113をオフにし、スイッチ114をオンにした状態でリセット信号φRによってスイッチ115が一旦オンにされ、キャパシタ111及び112がリセット(放電)される。その後、スイッチ115をオフにした状態で、スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって排他的に開閉動作をするように制御される。すなわち、スイッチ113が導通状態にあるとき、nビットのデジタル値に相当する電圧がキャパシタ111に印加され、その後、スイッチ114が導通してキャパシタ111とキャパシタ112との間で電荷が再配分される。このイコライズ動作を所定回行った後、キャパシタ111に最大でmビットのデジタル値に相当する電圧が印加され、その後、キャパシタ111とキャパシタ112との間で電荷が再配分される。
以上、本実施形態によると、1回のイコライズ動作でD/A変換結果をnビットだけシフトさせることができる。このため、従来よりも少ないクロックサイクルでD/A変換をすることができる。すなわち、サイクリックDACの動作速度を向上することができる。例えば、10ビットのデジタル値のD/A変換を行う場合、従来のサイクリックDACでは10クロックサイクルが必要であるのに対して、本実施形態に係るDAC11では、nを3、mを4とすると、3クロックサイクルで完了する。
なお、スイッチ115の挿入箇所は、キャパシタ111の他端とグランドノードとの間であってもよい。また、電圧供給回路116に入力されるデジタル値のビット幅をnに固定してもよい。この場合、電圧源1161は、“0”から“2−1”までの各整数に相当する電圧V[0]からV[2−1]までを供給すればよい。
(第2の参考実施形態)
図20は、第2の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成を示す。DAC11において、3つのキャパシタ111及びキャパシタ112のそれぞれの一端はグランドノードに接続されている。キャパシタ112の容量値はCであり、3つのキャパシタ111の容量値はそれぞれC、2C及び4Cである。3つのスイッチ113は、3つのキャパシタ111のそれぞれの他端に接続されている。また、3つのスイッチ114は、3つのキャパシタ111のそれぞれの他端とキャパシタ112の他端との間に接続されている。スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって制御され、互いに一方が非導通状態にあるときに導通状態となる。さらに、キャパシタ112の他端とグランドノードとの間にはスイッチ115が挿入されている。そして、キャパシタ112の充電電圧がアナログ出力となる。
3つのスイッチ114が導通すると、3つのキャパシタ111及びキャパシタ112が並列接続されて合成容量8(=2)Cのキャパシタが形成される。3つのスイッチ114が導通する直前に3つのキャパシタ111及びキャパシタ112のそれぞれに蓄積されていた電荷は、3つのスイッチ114の導通によって形成されたキャパシタに再配分される(イコライズ動作)。すなわち、キャパシタ111の電圧は、3つのスイッチ114が導通する直前に3つのキャパシタ111及びキャパシタ112のそれぞれに蓄積されていた電荷の合計を容量2Cで割った値となる。例えば、3つのキャパシタ111を放電した後に3つのスイッチ114が導通させると、キャパシタ112の電圧は1/2倍となる。これをm回繰り返すとキャパシタ112の電圧は1/23m倍となる。すなわち、3つのスイッチ114がオンとなるごとに、キャパシタ112の電圧として表されるD/A変換値は3ビットずつシフトすることとなる。そこで、3つのスイッチ114が非導通状態にあるときに3つのキャパシタ111の合計電荷が3ビットのデジタル値に応じた値になるように3つのキャパシタ111のそれぞれを充電しておくことによって、3つのスイッチ114が導通したときに、3つのキャパシタ111に設定された3ビットの値を上位ビットとしてキャパシタ112に追加することができる。すなわち、DAC11においてD/A変換対象のデジタル値を3ビットずつ処理することができる。
電圧供給回路116は、3つのスイッチ113のそれぞれを介して、3つのキャパシタ111に最大で4ビットのデジタル値に応じた大きさの電圧を印加する。ただし、電圧供給回路116は、DAC11のD/A変換対象のデジタル値のMSBを含む場合のみ最大で4ビットのデジタル値を処理し、それ以外は3ビットのデジタル値を処理する。すなわち、DAC11は、D/A変換対象のデジタル値をLSBから順に3ビットずつ処理していき、MSBを含む場合にのみ最大で4ビットのデジタル値を処理する。
電圧供給回路116において、電圧源1161は、“0”から“3”までの各整数に相当する電圧V[0](グランド電圧)からV[3]を供給する。電圧源1161は、例えば、抵抗ラダー回路で構成することができる。3つのセレクタ1162のうち、容量Cのキャパシタ111の印加電圧を選択するものは電圧源1161の電圧V[0]から電圧V[3]までのいずれか一つを選択し、他のものは電圧源1161の電圧V[0]から電圧V[2]までのいずれか一つを選択する。3つのセレクタ1162によって選択された電圧は、それぞれ、3つのスイッチ113を介して3つのキャパシタ111に印加される。デコーダ1163は、入力された3又は4ビットのデジタル値から3つのセレクタ1162を制御する信号を生成する。例えば、3ビットのデジタル値が入力された場合、デコーダ1163は、3つのセレクタ1162によって、入力されたデジタル値の各ビットに応じて電圧V[0]及び電圧V[1]のいずれか一方が選択されるような制御信号を生成する。また、例えば、4ビットのデジタル値が入力された場合、デコーダ1163は、3つのセレクタ1162のうち、容量Cのキャパシタ111の印加電圧を選択するものによって、入力されたデジタル値の下位2ビットに応じて電圧V[0]から電圧V[3]のいずれか一つが選択され、他のものによって、入力されたデジタル値の上位2ビットのそれぞれに応じて電圧V[0]及び電圧V[2]のいずれか一方が選択されるような制御信号を生成する。
DAC11の動作は次のとおりである。まず、3つのスイッチ113をオフにし、3つのスイッチ114をオンにした状態でリセット信号φRによってスイッチ115が一旦オンにされ、3つのキャパシタ111及びキャパシタ112がリセット(放電)される。その後、スイッチ115をオフにした状態で、スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって排他的に開閉動作をするように制御される。すなわち、3つのスイッチ113が導通状態にあるとき、3ビットのデジタル値に相当する電荷が3つのキャパシタ111に分散されて蓄積され、その後、3つのスイッチ114が導通状態となり、3つのキャパシタ111とキャパシタ112との間で電荷が再配分される。その後、3つのキャパシタ111に最大で4ビットのデジタル値に相当する電荷が分散されて蓄積されてから、3つのキャパシタ111とキャパシタ112との間で電荷が再配分される。
以上、本実施形態によると、第1の参考実施形態と同様に、1回のイコライズ動作でD/A変換結果を3ビットだけシフトさせることができる。このため、従来よりも少ないクロックサイクルでD/A変換をすることができる。すなわち、サイクリックDACの動作速度を向上することができる。例えば、10ビットのデジタル値のD/A変換を行う場合、従来のサイクリックDACでは10クロックサイクルが必要であるのに対して、本実施形態に係るDAC11では3クロックサイクルで完了する。
なお、スイッチ115の挿入箇所は、3つのキャパシタ111のいずれか一つの他端とグランドノードとの間であってもよい。また、電圧供給回路116に入力されるデジタル値のビット幅を、1回のイコライズ動作でシフト可能なビット幅である3に固定してもよい。この場合、電圧源1161は、“0”に相当する電圧(例えば、グランド電圧)及び“1”に相当する電圧(例えば、電源電圧)の二つを供給すればよい。
また、キャパシタ111の個数は3に限定されない。キャパシタ111をすべて並列接続したときの合成容量がキャパシタ112の2−1倍になるようにすればよく、キャパシタ111の個数も容量比も任意である。この場合、1回のイコライズ動作で、D/A変換結果をnビットだけシフトさせることができる。特に、容量値が2C(ただし、iは0からn−1までの各整数)のn個のキャパシタ111を用いて、さらに、デコーダ1163に入力されるデジタル値の最大ビット幅をnにすると、電圧源1161を、“0”及び“1”のそれぞれに相当する電圧を供給するだけの簡単な構成にすることができる。
(第3の参考実施形態)
図21は、第3の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成を示す。DAC11において、キャパシタ111及び112のそれぞれの一端はグランドノードに接続されている。キャパシタ112の容量値はCであり、キャパシタ111の容量値はその2−1倍である。ただし、nは2以上の整数である。キャパシタ111の他端とグランドノードとの間にはスイッチ113が挿入されている。また、キャパシタ111の他端とキャパシタ112の他端との間にはスイッチ114が挿入されている。スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって制御され、互いに一方が非導通状態にあるときに導通状態となる。さらに、キャパシタ112の他端とグランドノードとの間にはスイッチ115が挿入されている。そして、キャパシタ112の充電電圧がアナログ出力となる。なお、スイッチ114がオンとなるごとに、キャパシタ112の電圧として表されるD/A変換値はnビットずつシフトすること、及び、キャパシタ111に一度にnビットの値を設定することによって、DAC11においてD/A変換対象のデジタル値をnビットずつ処理できることは上述したとおりである。
電流供給回路117は、キャパシタ111に最大でm(ただし、mはnよりも大きい整数)ビットのデジタル値に応じた大きさの電流パルスを供給する。ただし、電流供給回路117は、DAC11のD/A変換対象のデジタル値のMSBを含む場合のみ最大でmビットのデジタル値を処理し、それ以外はnビットのデジタル値を処理する。すなわち、DAC11は、D/A変換対象のデジタル値をLSBから順にnビットずつ処理していき、MSBを含む場合にのみ最大でmビットのデジタル値を処理する。
電流供給回路117において、電流源1171は、“1”に相当する電流を供給する。キャパシタ111の他端と電流源1171との間にはスイッチ1172が挿入されている。また、電流源1171とグランドノードとの間にはスイッチ1173が挿入されている。これらスイッチ1172及び1173は、互いに逆の開閉動作をする。電流供給回路117には、上記の電流源1171及びスイッチ1172及び1173からなる回路要素が全部で2−1個ある。制御回路1174は、入力されたn又はmビットのデジタル値及びスイッチ113が非導通状態にあるときに活性化するパルス信号φ3に基づいて、2−1個のスイッチ1172を制御する信号を生成する。例えば、制御回路1174は、入力されたデジタル値の全ビットが“0”ならばすべてのスイッチ1172をオフにし、LSBのみ“1”ならばいずれか一つのスイッチ1172のみをオンにし、全ビットが“1”ならば2−1個(nビットのデジタル値の場合)又は2−1個(mビットのデジタル値の場合)のスイッチ1172をオンにする。
DAC11の動作は次のとおりである。まず、スイッチ113及び2−1個のスイッチ1172をオフにし、スイッチ114をオンにした状態でリセット信号φRによってスイッチ115が一旦オンにされ、キャパシタ111及び112がリセット(放電)される。その後、スイッチ115をオフにした状態で、スイッチ113及び114は、それぞれ、クロック信号φ1及びφ2によって排他的に開閉動作をするように制御される。スイッチ1172は、スイッチ113が非導通状態にあるときに導通する。すなわち、スイッチ113が非導通状態にあるとき、nビットのデジタル値に相当する大きさの電流パルスがキャパシタ111及び112に供給される。このイコライズ動作を所定回行った後、キャパシタ111及び112に最大でmビットのデジタル値に相当する大きさの電流パルスが供給される。
以上、本実施形態によると、nビットのデジタル値が電流パルスとしてキャパシタに供給されるため、第1の参考実施形態のような抵抗素子を備えた電圧源は不要となる。このように、本実施形態に係るサイクリックDACは抵抗素子を含まずに回路構成をすることができるため、第1の参考実施形態に係るサイクリックDACよりも高速な動作クロック信号で動作可能となる。
なお、スイッチ115は省略可能である。キャパシタ111及び112をリセットするには、スイッチ114及び113を導通させればよい。また、電流供給回路117に入力されるデジタル値のビット幅をnに固定してもよい。この場合、電流源1171、スイッチ1172及び1173は、それぞれ2−1個あればよい。
(第4の参考実施形態)
図22は、第4の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成を示す。本実施形態に係るDAC11は、第3の参考実施形態とは異なる構成の電流供給回路117を備えている。それ以外の部分については第3の参考実施形態と同様である。ただし、nを3、mを4としている。以下、第3の参考実施形態と異なる点についてのみ説明する。
電流供給回路117は、キャパシタ111に最大で4ビットのデジタル値に応じた大きさの電流パルスを供給する。ただし、電流供給回路117は、DAC11のD/A変換対象のデジタル値のMSBを含む場合のみ最大で4ビットのデジタル値を処理し、それ以外は3ビットのデジタル値を処理する。すなわち、DAC11は、D/A変換対象のデジタル値をLSBから順に3ビットずつ処理していき、MSBを含む場合にのみ最大で4ビットのデジタル値を処理する。
電流供給回路117において、4つの電流源1171は、それぞれ、“2”(ただし、iは0から3までの各整数)に相当する電流、すなわち、“1”、“2”、“4”及び“8”に相当する電流を供給する。キャパシタ111の他端と4つの電流源1171との間には、それぞれ、4つのスイッチ1172が挿入されている。また、4つの電流源1171とグランドノードとの間には4つのスイッチ1172のそれぞれに対応して4つのスイッチ1173が挿入されている。スイッチ1172及び1173は、互いに逆の開閉動作をする。
制御回路1174は、入力された3又は4ビットのデジタル値の各ビットとパルス信号φ3との論理積を4つのスイッチ1172の制御信号として出力する。例えば、制御回路1174は、7ビットのデジタル値を、[0]から[2]までの下位3ビットと[3]から[6]までの上位4ビットの2回に分けて処理する。制御回路1174が3ビット及び4ビットのいずれのデジタル値を処理するかは信号CorFによって切り替えられる。すなわち、制御回路1174は、信号CorFが“0”のとき、4ビットのデジタル値を処理し、“1”のとき、3ビットのデジタル値の最上位ビットに“0”を付加して4ビットのデジタル値として処理する。
図23は、本実施形態に係るDAC11を制御する制御回路の構成例を示す。同図に示した制御回路25の動作について、図24のタイミングチャートを参照しながら説明する。トリガーTrgが立ち上がると、Dフリップフロップ(DFF)251の出力である信号CorFは“1”にセットされる。したがって、制御回路1174では3ビットのデジタル値が処理される。また、パルス発生回路252は、トリガーTrgの立ち上がりでワンショットパルス(パルス信号Q1)を出力する。リセット信号φRとパルス信号Q1とは実質的に同じであり、パルス信号Q1の発生に合わせてリセット信号φRが発生する。また、パルス信号Q1の立ち上がりによって、クロック信号φ1は立ち上がる。このとき、クロック信号φ2は立ち上がったままとなっている。これにより、スイッチ113、114及び115が閉じて、キャパシタ111及び112がリセットされる。
パルス信号Q1が立ち下がると、クロック信号φ1も立ち下がる。パルス発生回路253は、パルス信号Q1の立ち下がりでワンショットパルス(パルス信号φ3)を出力する。クロック信号φ2は立ち上がったままである。これにより、キャパシタ111及び112に、電流供給回路117に入力された3ビットのデジタル値に応じた大きさの電流パルスが供給される。
パルス発生回路254は、パルス信号φ3の立ち下がりでワンショットパルス(パルス信号Q2)を出力する。パルス信号Q2の立ち上がりによって、DFF251はリセットされ、信号CorFは“0”となる。したがって、制御回路1174では4ビットのデジタル値が処理される。また、パルス信号Q2の立ち上がりによって、クロック信号φ1は立ち上がり、クロック信号φ2は立ち下がる。これにより、キャパシタ111のみがリセットされる。
その後、パルス信号Q2の立ち下がりによって、クロック信号φ1は立ち下がり、クロック信号φ2は立ち上がる。また、パルス発生回路253は、パルス信号Q2の立ち下がりで再びワンショットパルス(パルス信号φ3)を出力する。これにより、キャパシタ111及び112に、電流供給回路117に入力された4ビットのデジタル値に応じた大きさの電流パルスが供給される。再びパルス信号φ3が立ち下がったとき、信号CorFは“0”となっているため、エンド信号φEが立ち上がる。エンド信号φEの立ち上がりは、DAC11によるD/A変換が完了したことを表す。
以上、本実施形態によると、第3の参考実施形態と同様に、抵抗素子を含まずに回路構成をすることができるため、第1の参考実施形態に係るサイクリックDACよりも高速な動作クロック信号で動作可能となる。
本参考発明に係るサイクリックD/Aコンバータは、小型及び低消費電力で高速動作が可能であるため、液晶ドライバなどに用いられるD/Aコンバータとして有用である。
本発明に係るA/Dコンバータは、高性能かつ低消費電力であるため、特に通信信号処理や映像信号処理システムなどのフロントエンド部、モバイル用途のソフトウェア無線システムやマルチバンドレシーバなどに有用である。
図1は、第1の実施形態に係る逐次比較型ADCの構成図である。 図2は、サイクリック型DACの構成図である。 図3は、比較器出力とDAC入力との関係を示す図である。 図4は、記憶手段の第1の構成例を示す図である。 図5は、記憶手段の第2の構成例を示す図である。 図6は、図5に示した記憶手段の動作の様子を表す図である。 図7は、図1の逐次比較型ADCを制御する各種信号のタイミングチャートである。 図8は、図1の逐次比較型ADCを制御する各種信号を生成する回路の構成図である。 図9は、第2の実施形態に係る逐次比較型ADCの構成図である。 図10は、チョッパ型比較器の構成図である。 図11は、第3の実施形態に係るADCの構成図である。 図12は、図4に示した記憶手段を複数繋げて構成したシフトレジスタの抜粋図である。 図13は、図5に示した記憶手段を複数繋げて構成したシフトレジスタの抜粋図である。 図14は、第4の実施形態に係るADCの構成図である。 図15は、図14のADCを制御する制御回路の主要部の構成図である。 図16は、図15に示した構成の制御回路が生成する各種信号のタイミングチャートである。 図17は、第5の実施形態に係るADCの構成図である。 図18は、図17のADCの動作タイミングチャートである。 図19は、第1の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成図である。 図20は、第2の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成図である。 図21は、第3の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成図である。 図22は、第4の参考実施形態に係るサイクリックDACの構成図である。 図23は、図22のサイクリックDACを制御する制御回路の構成図である。 図24は、図23に示した構成の制御回路が生成する各種信号のタイミングチャートである。
符号の説明
10 A/Dコンバータ
11 D/Aコンバータ
12 比較器
13 記憶手段
111 キャパシタ(第1のキャパシタ)
112 キャパシタ(第2のキャパシタ)
113 スイッチ(第1のスイッチ)
114 スイッチ(第2のスイッチ)
115 スイッチ(第3のスイッチ)
131 フリップフロップ
132 セレクタ
133 入力制御部
134 出力制御部
14 D/Aコンバータ
15 逐次比較レジスタ
16 セレクタ
20 A/Dコンバータ
21 マルチプレクサ
22 サンプルホールド回路
23 制御回路
24 トリガー回路
30 A/Dコンバータ
31 入力選択部
32 出力選択部

Claims (11)

  1. サイクリック型のD/Aコンバータと、入力されたアナログ値と前記サイクリック型のD/Aコンバータの出力値とを比較する比較器と、前記比較器の出力値を順次記憶し、当該記憶した値を逆順で前記サイクリック型のD/Aコンバータに供給する記憶手段とを有する複数の逐次比較型のサブA/Dコンバータと、
    前記複数のサブA/Dコンバータのそれぞれに前記アナログ値を供給する複数のサンプルホールド回路と、
    入力されたアナログ信号を前記複数のサンプルホールド回路に順次供給するマルチプレクサとを備え、
    前記複数のサブA/Dコンバータの前記記憶手段における前記比較器の出力値を記憶する各フリップフロップどうしが相互に接続されてシフトレジスタが構成されている
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  2. サイクリック型のD/Aコンバータと、入力されたアナログ値と前記サイクリック型のD/Aコンバータの出力値とを比較する比較器と、前記比較器の出力値を順次記憶し、当該記憶した値を逆順で前記サイクリック型のD/Aコンバータに供給する記憶手段とを有する複数の逐次比較型のサブA/Dコンバータと、
    共通のアナログ信号を受けて前記複数のサブA/Dコンバータのそれぞれに前記アナログ値を供給する複数のサンプルホールド回路と、
    前記複数のサブA/Dコンバータ及び複数のサンプルホールド回路を制御する複数の制御回路と、
    前記複数の制御回路に動作開始のトリガーを順次与えるトリガー回路とを備え、
    前記複数のサブA/Dコンバータの前記記憶手段における前記比較器の出力値を記憶する各フリップフロップどうしが相互に接続されてシフトレジスタが構成されている
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  3. 請求項に記載のA/Dコンバータにおいて、
    前記複数の制御回路のそれぞれは、互いに他のパルスをトリガーとして排他的にパルスを生成する複数のパルス発生回路を有するものであり、
    前記複数のサブA/Dコンバータのそれぞれにおける前記サイクリック型のD/Aコンバータは、前記複数のパルス発生回路のそれぞれから出力されるパルスに従って動作する
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  4. 請求項に記載のA/Dコンバータにおいて、
    前記複数の制御回路のそれぞれは、前記複数のパルス発生回路のいずれか一つから出力されるパルスを所定数カウントするカウンタ回路を有し、前記カウンタ回路の出力及び前記複数のパルス発生回路の他のものから出力されるパルスに基づいて、前記複数のサブA/Dコンバータのそれぞれにおける前記サイクリック型のD/Aコンバータのリセット及び自己の動作停止を制御する
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  5. 複数のサブA/Dコンバータとしての、複数の請求項に記載のA/Dコンバータと、
    前記複数のサブA/DコンバータのうちA/D変換中でないいずれか一つを選択し、入力されたアナログ信号を当該選択したサブA/Dコンバータに供給する入力選択部と、
    前記複数のサブA/DコンバータのうちA/D変換中でないいずれか一つを選択し、当該選択したサブA/Dコンバータから出力されたデジタル信号を出力する出力選択部とを備えた
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  6. 複数のサブA/Dコンバータとしての、複数の請求項に記載のA/Dコンバータと、
    前記複数のサブA/DコンバータのうちA/D変換中でないいずれか一つを選択し、入力されたアナログ信号を当該選択したサブA/Dコンバータに供給する入力選択部と、
    前記複数のサブA/DコンバータのうちA/D変換中でないいずれか一つを選択し、当該選択したサブA/Dコンバータから出力されたデジタル信号を出力する出力選択部とを備えた
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  7. アナログ値をデジタル値に変換する逐次比較型のA/Dコンバータであって、
    サイクリック型のD/Aコンバータと、
    前記アナログ値と前記サイクリック型のD/Aコンバータの出力値とを比較する比較器と、
    前記比較器の出力値を順次記憶し、当該記憶した値を逆順で前記サイクリック型のD/Aコンバータに供給する記憶手段と、
    キャパシタアレイ型のD/Aコンバータと、
    前記比較器の出力値を逐次記憶し、当該記憶した値を前記キャパシタアレイ型のD/Aコンバータに逐次供給する逐次比較レジスタと、
    前記比較器の出力値を受け、これを前記記憶手段及び逐次比較レジスタのいずれか一方に選択的に供給するセレクタとを備え、
    前記比較器は、前記アナログ値と前記サイクリック型のD/Aコンバータ及び前記キャパシタアレイ型のD/Aコンバータの合計出力値とを比較する
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  8. 請求項1、2及び7のいずれか一つに記載のA/Dコンバータにおいて、
    前記サイクリック型のD/Aコンバータは、
    一端がLレベル論理値に相当する電圧ノードに接続された互いに同じ容量値を有する第1及び第2のキャパシタと、
    入力端と前記第1のキャパシタの他端との間に設けられた第1のスイッチと、
    前記第1のキャパシタの他端と前記第2のキャパシタの他端との間に設けられ、前記第1のスイッチとは逆の開閉動作をする第2のスイッチと、
    前記第2のキャパシタの他端と前記電圧ノードとの間に接続された第3のスイッチとを有する
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  9. 請求項1、2及び7のいずれか一つに記載のA/Dコンバータにおいて、
    前記記憶手段は、一又は複数の入力の中からいずれか一つを選択的に出力するセレクタを介して複数のフリップフロップがリング状に接続され、各セレクタには入力の一つとして第1のフリップフロップの出力値が供給され、前記第1のフリップフロップの入力側セレクタには入力の一つとしてHレベル論理値が供給され、第2のフリップフロップの入力側セレクタには入力の一つとして前記比較器の出力値が供給されるように構成されており、前記第1のフリップフロップの出力値が前記サイクリック型のD/Aコンバータに供給される
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  10. 請求項1、2及び7のいずれか一つに記載のA/Dコンバータにおいて、
    前記記憶手段は、
    複数のフリップフロップと、
    前記比較器の出力値を前記複数のフリップフロップに順次記憶させる入力制御部と、
    前記複数のフリップフロップの出力値及びHレベル論理値を受け、これらを前記サイクリック型のD/Aコンバータに順次供給する出力制御部とを有する
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
  11. 請求項1、2及び7のいずれか一つに記載のA/Dコンバータにおいて、
    前記比較器は、チョッパ型比較器である
    ことを特徴とするA/Dコンバータ。
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