JP4538119B2

JP4538119B2 - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JP4538119B2
Application number: JP31981899A
Authority: JP
Inventors: 正博辻
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 1998-12-24
Filing date: 1999-11-10
Publication date: 2010-09-08
Anticipated expiration: 2019-11-10
Also published as: JP2000237179A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、種々変更可能なスライス厚による断層画像を得るＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線ＣＴ装置では、Ｘ線源と、対向配置したＸ線検出器とを、被検体のまわりに回転させながら、Ｘ線源から扇状（ファンビーム）にＸ線ビームを被検体に照射し、Ｘ線検出器で被検体を透過したＸ線量を検出する。Ｘ線検出器で検出された透過Ｘ線量データを収集し、再構成手段によってこの収集データを基に断層画像を再構成する。
【０００３】
扇状のＸ線ビームは、ある幅を持つ。この幅をビームスライス厚と呼ぶ。Ｘ線検出器の厚みとスライス厚とを等しくすることで、断層画像のスライス厚はビームスライス厚と一致する。
Ｘ線検出器の厚みよりも薄いスライス厚の断層画像を得るには、従来、スライス厚調整手段を設けた。この調整手段としてはＸ線の厚方向の照射範囲を制限するコリメータを設置したり、Ｘ線検出器の厚み方向の検出範囲を調整する機構を設けたりすることによってＸ線入射面を制限するやり方をとった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来の方法では、調整手段を設けなくてはならないという欠点があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、測定範囲を調整する手段を設けなくともＸ線検出器のＸ線入射面の幅よりも薄いスライス厚の断層画像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、所定のスライス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、
被検体を挟んでＸ線源に対向して配置され、対向配置した状態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、
互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定ピッチ距離移動する手段と、
その移動の前後の位置で、互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させてＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出信号を収集する手段と、
この検出信号から上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手段と、
この検出データから断層像を再構成する手段と、
を備えるＸ線ＣＴ装置を開示する。
【０００６】
更に本発明は、所定のマルチスライス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、
被検体を挟んでＸ線源に対向いて配置され、対向配置した状態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のマルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、
互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定ピッチ距離移動する手段と、
その移動の前後の位置で、互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させてＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出システム号を収集する手段と、
この検出信号から、各マルチスライス部位対応に上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手段と
この検出データから各マルチスライス部位対応の断層像を再構成する手段と、
を備えるＸ線ＣＴ装置を開示する。
【０００７】
更に本発明は、所定のマルチスライス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、
被検体を挟んでＸ線源に対向して配置され、対向配置した状態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のマルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、
互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定ピッチ距離移動する手段と、
その移動と共に、互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させてＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出信号を収集する手段と、
この検出信号から、各マルチスライス部位対応に上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手段と、
この検出データから各マルチスライス部位対応の断層像を再構成する手段と、
を備えるＸ線ＣＴ装置を開示する。
【０００８】
更に本発明は、ピッチ距離移動は、被検体の体軸方向に、複数回行うものとしたＸ線ＣＴ装置を開示する。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下添付図面に従って本発明に係るＸ線ＣＴ装置の好ましい実施の形態について説明する。
図１は、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示すブロック図である。
Ｘ線ＣＴ装置２０は、Ｘ線源１から所定のスライス幅ＷのファンビームＸ線（通常、コリメータを介して得たもの。以下、このコリメータを含めてＸ線源と称す）を寝台３上の被検体２に照射し、Ｘ線源１に対向して扇状に配置されたマルチチャンネル形Ｘ線検出器４で被検体２を透過したＸ線量を検出する。Ｘ線源１及びＸ線検出器４は被検体２の周囲を一定周期で回転し、データ収集部８はＸ線検出器４で検出された透過Ｘ線量データを収集する。この収集データに対して画像処理部５で断層画像が再構成され、再構成された断層画像が表示部９で表示される。また断層画像データはメモリ上に格納され、その後の処理や表示に利用される。
【００１０】
Ｘ線制御部７はＸ線源１の照射するＸ線量を制御し、寝台制御部６が寝台３を体軸方向に移動制御する。回転・移動制御部１１は、対向するＸ線源１とＸ線検出器４との回転制御及びＸ線源１とＸ線検出器４とを収容するガントリ部の移動制御とを行う。システム制御部１０はＸ線制御部７と寝台制御部６と画像処理部５と回転・移動制御部１１とを制御する。
【００１１】
図２は、図１に示すＸ線源１とＸ線検出器４との被検体２の体軸上での計測と体軸方向の移動とを示す説明図である。紙面に垂直方向がＸ線ビームの扇状部位であり、紙面に沿う方向が体軸方向である。紙面に垂直方向にマルチチャンネルＸ線検出器４が扇状に配列存在する。紙面に沿う方向のＸ線検出器４の幅ＷとＸ線のスライス幅Ｑとは一致することも、不一致とする例もある。Ｗ≧ＱであればＱがスライス幅、Ｗ＜ＱであればＷがスライス幅となる。
Ｘ線源１とＸ線検出器４とは、被検体２に対して回転する動作と図上矢印で示す体軸方向に相対的に移動する動作とを持つ。ここで相対的とは、寝台３が移動するか、寝台３の代わりにＸ線源１とＸ線検出器４とが回転しながら移動するか、いずれかとの意味である。以下では、後者の例で説明する。
【００１２】
本発明では、ある体軸上の位置でＸ線源１とＸ線検出器４とが対向して１回転してＣＴ計測を行い、この１回転でのＣＴ計測後にＸ線源１とＸ線検出器４とが体軸方向に所定距離Ｌを移動するように、Ｘ線源１とＸ線検出器４との移動の制御を行う。この制御は、回転・移動制御部１１によって行う。上記所定距離移動後のその体軸上の位置で再びＸ線源１とＸ線検出器４とを対向させ回転させてＣＴ計測を行う。以下、距離Ｌ移動し計測を繰り返す。その移動量ＬはＸ線入射面よりも小さく、断層画像の目的のスライス幅に等しい。図２では、当初のＸ線源１の位置Ｐ₁に対して、距離Ｌ（Ｌ＝Ｗ／２）だけ移動した時のＸ線源１の位置Ｐ₂を、併せて表示した。Ｐ₁、Ｐ₂は例えばＸ線源１の中心位置や端部位置のごとく、Ｘ線源を特定できる位置である。
【００１３】
図３は、入射Ｘ線のスライス幅をＷ、移動距離ＬをＬ＝Ｗ／２とした場合のＣＴ計測値ｂ_k（Ｘ線検出器４の出力又はこの出力の各種の前処理（各種の補正や対数変換等）後の出力を言う）と仮想測定値ａ_kとを示す図である。図でｂ₀、ｂ₁、ｂ₂、ｂ₃、…は以下の通りである。
ｂ₀…体軸上の開始位置Ｓ₀でのＣＴ計測値
ｂ₁…位置Ｓ₀から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ₁でのＣＴ計測値
ｂ₂…位置Ｓ₁から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ₂でのＣＴ計測値
ｂ₃…位置Ｓ₂から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ₃でのＣＴ計測値
………………………………………………………………
ここで、ＣＴ計測値ｂ₀、ｂ₁、ｂ₂、ｂ₃、…は、それぞれチャンネル番号ｉ、投影角（ビュー）ｊを因子とする値であり、例えば、ｂ_nであればｂ_n（ｉ、ｊ）の如くである。投影角ｊは、ｊ＝０゜〜３６０゜、０゜〜１８０゜、０゜〜１８０゜＋βの範囲内の各値である。
かかるｂ₀、ｂ₁、ｂ₂、ｂ₃、…は、図３（ｉ）と（ii）では、ｂ₀、ｂ₂、…、ｂ₁、ｂ₃、…の如く区別して表記した。
【００１４】
一方、スライス幅Ｗ／２での測定値（これは計算によって求めるため、仮想測定値と定義）を、体軸上の開始位置Ｒ₁（これは、スライス幅Ｗ／２での、中心位置や端部位置等の特定位置を指す）からＷ／２の順に定まる位置Ｒ₂、Ｒ₃、…で、図３（iii）に示すように、α、ａ₀、ａ₁、ａ₂、ａ₃、…とすると、以下の関係となる。
【数１】

ここで、αは最初の開始位置Ｒ₁でのスライス幅Ｗ／２の仮想測定値である。数１を変形し、ａ₀、ａ_nを求めると、数２となる。
【数２】

数２から以下のことがわかる。ｂ₀、ｂ_nはＣＴ計測値であって既知であり、αがわかれば、ａ₀、ａ_n（ｎ≧１）の全てが数２を利用して求まる。ａ₀、ａ_n（ｎ≧１）は図３（iii）からわかるように、スライス幅Ｗ／２でのＣＴ計測値とみなせる。このａ₀、ａ_n（ｎ≧１）を用いて再構成することで、スライス幅Ｗ／２毎の再構成画像が得られる。ここで、ａ₀、ａ_n（ｎ≧１）は、それぞれチャンネル番号ｉ、投影角（ビュー）ｊを因子とする値であり、ａ₀（ｉ、ｊ）、ａ_n（ｉ、ｊ）の如くである。投影角ｊは、ｊ＝０゜〜３６０゜、０゜〜１８０゜、０゜〜１８０゜＋βの範囲内の各値である。ａ₀、ａ_n（ｎ≧１）の再構成とは、以下の如くなる。
・開始位置Ｒ₁でのＷ／２スライス幅の再構成……α（ｉ、ｊ）を用いて行う。
・開始位置の次の位置Ｒ₂でのＷ／２スライス幅の再構成……ａ₀（ｉ、ｊ）を用いて行う。
・更なる次の位置Ｒ₃でのＷ／２スライス幅の再構成……ａ₁（ｉ、ｊ）を用いて行う。
………………………………………………………………
ａ₀、ａ_n（ｎ≧１）は、αが求まっていることが前提として得られる値である。以下に、αの各種の設定例を説明する。
【００１５】
（ｉ）、α＝ａ₀、即ち、α＝ｂ₀／２とする例。
この例は、開始位置Ｓ₀のＸ線入射位置に被検体がない場合に有効である。
（ii）、αをａ_nの線形補間から求める例。
例えば二点補間の場合、
【数３】

の関係がある故に、
【数４】

となり、αは以下となる。
【数５】

結果的に、ｂ₀、ｂ₁からの補間と同じである。
（iii）、Ｄ＝Σ（ａ_n-1−ａ_n）²を最小によるαを求める例。
αの値の誤差は、（ａ_n-1−ａ_n）に現れる。この特性からＤを最小にするαを用いることができる。
即ち、下記となる。
【数６】

【数７】

数６を数７に代入してａ_nを消去すれば、Ｄは、ｂ_nとαとの関数となる。ｂ_nは計測値でわかっているので、Ｄを最小にするαが求まる。
【００１６】
以上の実施の形態では、Ｗ／２としたが、Ｗ／３、Ｗ／４の例にも適用できる。その説明図を図４、図６に示す。図４のＷ／３の例では、対向するＸ線源１とＸ線検出器４とをＷ／３のピッチで移動させると共に、各ピッチ停止点で１回転させてＣＴ計測を行う。この結果、スライス幅（Ｗ／３）の仮想測定値α、ａ₀、ａ₁、ａ₂、…を得る。また、ｂ₀、ｂ₃、ｂ₆、…を図４（ｉ）に示し、ｂ₁、ｂ₄、ｂ₇、…を図４（ii）に示し、ｂ₂、ｂ₅、ｂ₈、…を図４（iii）に示す。ここで、ａとｂとの関係は以下となる。
【数８】

αを前述と同様に設定や算出することで、ａが求まる。尚、ｂ、ａ共にチャンネル番号ｉ、投影角ｊの２つの因子で表現されたものである。
【００１７】
図６は、Ｗ／４の例であり、Ｗ／４ピッチでの移動と、各ピッチ停止点での３６０゜のＣＴ計測を行った例である。ａ、ｂとは以下の関係をなす。
【数９】

図４のＷ／３の例は、図５に示す２Ｗ／３の例に拡張できる。スライス幅（３Ｗ／４）では、その仮想測定値をｃ₀、ｃ₁、ｃ₂…は、下記の関係となる。
【数１０】

図６のＷ／４の例は、３Ｗ／４の例に拡張できる。スライス幅（３Ｗ／４）での仮想測定値をｄ₀、ｄ₁、ｄ₂とすると、下記となる。
【数１１】

尚、一般的には（Ｍ・Ｗ）／Ｎ（ＭとＮとは整数で素数の関係、Ｍ＜Ｎ）が可能である。Ｗ／Ｎでの計測を基本にして行う点で共通する。
【００１８】
以上の実施の形態は、ＣＴ計測→移動→ＣＴ計測→移動→…のシーケンスとしているが、移動しながらＣＴ計測を行うら旋スキャン式のやり方もある。例えば、Ｗ／２スライス幅の例では、Ｘ線源１とＸ線検出器４とをＷ／２移動させ、この移動期間中に１回転させてＣＴ計測を行う。次にＷ／２移動させ、同じくこの移動期間中に１回転させてＣＴ計測を行う。このようにしても、図３の如きＣＴ計測を行うことができ、仮想計測値ａ₀、ａ₁、ａ₂、…を得ることができる。他のスライス幅の例でも同様である。
【００１９】
かかる第２の実施の形態での、マルチスライス検出器数を「３」とした時の、ら旋スキャンによる体軸方向での計測軌跡を図１２に示す。図１２に対してスライス幅調整（Ｗ／２）をしての仮想計測データ例の体軸方向での計測軌跡を図１３に示す。即ち、Ｘ線源１とＸ線検出器４をＷ／２移動させ、この移動期間中に１回転させてＣＴ計測を行う。この場合の様子を図示したのが図１２である。ここではある特定の１チャンネルのみの軌道を示してある。かかる図１２に対して本実施の形態により、ある角度ｊ、あるチャンネルｉの計測データ例
｛ｂ_n（ｉ、ｊ）｜ｎ＝０、１、２…｝から仮想計測値｛ａ_n（ｉ、ｊ）｜ｎ＝０、１、２…｝
を求めることができる。
図１２の計測データｂ_nに対してａ_nを求めると図１３のような位置での仮想計測値を得ることとなる。これは、検出器の幅があたかもＷ／２であるシステムでら旋スキャンした場合と同じデータ例である。この仮想計測データを使って画像再構成を行うことによりスライス幅がＷ／２の画像を得ることができる。
このように移動させながら計測する場合に対しても適用できる。
【００２０】
本発明の他の実施の形態を説明する。この新規な形態は、スライス幅方向に１個のＸ線検出器の例（図２）でははなく、スライス幅方向に２個以上のＸ線検出器を配置するマルチスライスＸ線検出器に適用する例である。Ｘ線検出器の配置数をＰとすると、このマルチスライスＸ線検出器を持つＣＴ装置では、１回のＣＴ計測でＰ個の断層像を得ることができるのが特徴である。然も、各断層像は、Ｘ線検出器当たりのスライスは幅Ｗによる断層像である。
【００２１】
そこで、本発明では、こうしたマルチスライスＸ線検出器でも、そのスライス幅Ｗよりも狭いスライス幅の断層像を得ることを可能にしたものである。図７にＰ＝２としたマルチスライスＸ線検出器４０の例を示す。Ｘ線検出器４０は、同一スライス幅Ｗを持つ２つのＸ線検出器要素４１、４２から成る。この２つのＸ線検出器要素４１、４２は、それぞれ紙面に直交する方向に扇状に配置した複数のＸ線検出器要素を持つマルチチャンネル形Ｘ線検出器である。かかるＸ線検出器要素４１、４２を持つＸ線検出器４０を、Ｘ線源１と対向して回転させることで、１回転でＸ線検出器要素４１、４２とからそれぞれ隣接する２つのＣＴ計測値を得ることができ、要素４１に対応して一つの断層像、要素４２に対応して一つの断層像、の合計２つの断層像を得ることができる。
【００２２】
かかる図７のマルチスライスＸ線検出器４０に対して、回転・移動制御部１１にて回転・移動の制御を行わせる。この場合、図２の第１の実施の形態と同じように各種のスライス幅の断層像を得ることができる。特に、移動量をＰＷ／Ｎ（Ｐ＜ＮかつＰとＮとは互いに素）となる様に選ぶことで検出器が同一の場所を計測することをなくすことができる。以下、代表的な例を示す。
（ｉ）、スライス幅（Ｗ／３）の断層像を得る例。
これはＸ線源１とＸ線検出器４０とを（２Ｗ／３）ピッチで移動し、各停止点（開始点を含む）で、対向させて１回転させてＣＴ計測を行うことで実現できる。図８にそのタイムチャートを示す。スライス幅（Ｗ／３）のＣＴ計測値α、ｅ₀、ｅ₁、ｅ₂、…を得る例が示されている。
（ii）、その他の例。
第１の実施の形態と同じように、Ｗ／ＮやＭＷ／Ｎなるスライス幅のＣＴ計測値を得ることが可能である。
【００２３】
図９には、スライス検出器数Ｐ＝４の検出器４１〜４４を持つ例への適用例を示す。スライス幅をＷ／５にする例であり、４Ｗ／５移動毎に停止させて、１回転によりＣＴ計測を行う。これからＷ／５のスライス幅のＣＴ断層像を得ることができる。
更に、第１の実施の形態と同じように、ピッチ移動期間中に、１回転してＣＴ計測を行うやり方もある。
以上の実施の形態で、ピッチ移動幅と求めるスライス幅との関係は一例であって、相互に各種の対応がありうる。仮想計測値の求め方を工夫するだけで種々の対応が可能である。
【００２４】
スライス幅を種々狭くする理由は、体軸分解能を良くすることがある。これについて述べる。スライス幅が大きいと、像がぼやけるとの欠点があるが、一方では、大きい領域の観察像を得るには利点がある。スライス幅が小さいと、画像の解像度がよくなり、コントラストのよい画像が得られるとの利点がある。例えば小さい領域の観察像を得たい場合に、小さいスライス幅を設定できるようにしたのが本発明である。然も、スライス幅の設定は、簡単に行える利点を持つ。逆に、種々のスライス幅のデータをデータ的に得ることができたため、体軸分解能を自在に調整可能になるとの利点がある。
【００２５】
ここで、本発明でのスライス幅設定法を簡単に説明する。Ｘ線検出器４、４０のスライス幅Ｗを定める。このスライス幅Ｗ自体は、コリメータを利用して行ってもよく、またコリメータを使用せずに、Ｘ線検出器４、４０の物理的なスライス幅そのものである例もある。かかるスライス幅Ｗに対して、その幅よりも狭いスライス幅Ｗ_iをキーボードやマウス等を介して入力設定する。この入力設定値Ｗ_iを満足すべく、移動ピッチ幅を自動設定する。この自動設定した移動ピッチ幅で、回転・移動制御部１１は回転移動・計測を行う。
【００２６】
図１０は、本発明のＸ線ＣＴ装置の他の構成例図を示す。このＣＴ装置は、図１に比して、操作部１４、スライス幅可変部１２、スライス加算部１３、再構成部１５、を持つ点で異なる。操作部１４は、ＣＴ計測条件や計測部位や計測方法等を指示入力するものであり、図１では示していなかったが、図１でも本来存在するものである。スライス幅可変部１２は、ＣＴ計測したデータを処理して所望のスライス幅のデータに変換する数値処理手段である。スライス幅可変部１２は、本発明の重要な要素である。上記変換とは、図３についてみればｂからａへの変換処理である。スライス加算部１３は、スライス幅の大きさを、後発的に厚くする処理である。例えば、Ｗ／２のスライス幅に対して３Ｗ／２のスライス幅にするとかの処理である。再構成部１５は、可変部１２からのデータａやスライス加算部１３からのデータをもとに再構成し、断層画像を得る。図１と対応ずければ、スライス幅可変部１２、再構成演算部１５、スライス加算部１３が、図１の画像処理部５に相当する。
図１１は、図１０の処理フローを示す。
【００２７】
操作部１２より断層画像のスライス幅やその他撮影条件の設定を行い計測を開始する（フローＦ₁）。スライス幅は画像再構成処理後のスライス厚加算処理（フローＦ₇）により厚さを増すことができるため、必要なスライス厚の内もっとも薄い値を選択する。更に、そのスライス幅に対応するＸ線源１とＸ線検出器４との移動ピッチ量を算出する（フローＦ₂）。
【００２８】
Ｘ線ＣＴ装置２０では、Ｘ線源１からＸ線ビームを寝台３上の被検体２に照射し、Ｘ線源１に対して扇状に配置されたＸ線検出器４で被検体２を透過したＸ線量を検出する。Ｘ線源１及びＸ線検出器４は被検体２を一定周期で回転し、データ収集部８はＸ線検出器４で検出された透過Ｘ線量データを収集する（フローＦ₃）。
この収集に対してスライス幅可変部により数値処理を施し所望のスライス幅データに変換する（フローＦ₄）。この変換データに対して再構成演算部５で断層画像が再構成され（フローＦ₅）、再構成された断層画像が表示部９で表示される（フローＦ₆）。更に、更なるスライス幅拡大の要求があれば（フローＦ₇）、その拡大のための加算処理を行う（フローＦ₈）。
【００２９】
以上の実施の形態は、いずれも第３世代の例で説明したが、Ｘ線像検出器を３６０°分配置してＸ線源のみを回転させる第４世代にも適用できる。
【００３０】
【発明の効果】
本発明によれば、スライス幅を種々変更可能になった。また、スライス幅を小さくできる発明によれば体軸分解能の向上をはかることができた。更に、スライス幅を種々変更可能にできる発明によれば、体軸分解能が種々設定可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のＸ線ＣＴ装置の構成例図である。
【図２】本発明のスライス幅変更の説明図である。
【図３】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャートである。
【図４】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャートである。
【図５】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャートである。
【図６】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャートである。
【図７】マルチスライスＸ線検出器を示す図である。
【図８】マルチスライスＸ線検出器を示す図である。
【図９】マルチスライスＸ線検出器を示す図である。
【図１０】本発明のＸ線ＣＴ装置の他の構成例図である。
【図１１】フローチャートである。
【図１２】移動軌跡図である。
【図１３】スライス幅調整による仮想計測値と移動軌跡図である。
【符号の説明】
１Ｘ線源
２被検体
３Ｘ線検出器

Claims

所定のスライス幅を持つファンビームＸ線を被検体に照射するＸ線源と、
前記被検体を挟んでＸ線源に対向して配置され前記被検体の透過Ｘ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線源とＸ線検出器が対向配置された状態で前記被検体の周りを回転させるスキャナと、
互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベッドのいずれか一方を、前記スライス幅よりも狭い所定ピッチ距離で移動する手段と、
その移動の前後の位置で、前記スキャナを回転させてＣＴ計測を行い、前記Ｘ線検出器から得られる検出信号を収集する手段と、
前記収集された検出信号から所定ピッチ距離相当のスライス幅の仮想計測データを得る処理手段と、
前記得られた仮想計測データから断層像を再構成する手段と、を備え、
前記処理手段はＣＴ計測を開始した被検体が存在する位置の仮想計測データαを前記収集させた検出信号から求めるものであり、
上記ＣＴ計測を開始した被検体が存在する位置の仮想計測データαは、
ピッチ距離幅がスライス幅Ｗに対してＷ・Ｍ／Ｎ（但し、ＭとＮとは互いに素数で且つＭ＜Ｎとする）の関係にあるときのＮと、ＣＴ計測を開始した位置を含む最初に収集した検出信号ｄ _０とから得られる、ｄ _０・Ｍ／Ｎの値、
または、計測を開始した位置を含む最初に収集した検出信号及びこれに隣接する検出信号から補間によって得た値、
または、２つの仮想計測データａ _ｎ−１とａ _ｎとの差の２乗が最小となるようにして得た値であることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。