JPH1043174A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPH1043174A JPH1043174A JP8219387A JP21938796A JPH1043174A JP H1043174 A JPH1043174 A JP H1043174A JP 8219387 A JP8219387 A JP 8219387A JP 21938796 A JP21938796 A JP 21938796A JP H1043174 A JPH1043174 A JP H1043174A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- data
- ray beam
- subject
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｘ線ＣＴ像のスライス厚さの自由度を高め
る。 【解決手段】 コントローラ２３により回転装置１４と
移動装置２２とを制御し、回転ごとの検査台２１の移動
量を任意に定めることによって、Ｘ線管１１から発せら
れるＸ線ビームのＺ方向幅よりも小さい間隔で各スライ
スのデータを収集し、減算器１７によって、同一角度の
データにつきあるＺ方向位置のデータから隣接するＺ方
向位置のデータのオーバーラップしていない部分を減算
し、その減算後のデータを用いて画像再構成装置１８で
画像再構成演算処理を行なう。
る。 【解決手段】 コントローラ２３により回転装置１４と
移動装置２２とを制御し、回転ごとの検査台２１の移動
量を任意に定めることによって、Ｘ線管１１から発せら
れるＸ線ビームのＺ方向幅よりも小さい間隔で各スライ
スのデータを収集し、減算器１７によって、同一角度の
データにつきあるＺ方向位置のデータから隣接するＺ方
向位置のデータのオーバーラップしていない部分を減算
し、その減算後のデータを用いて画像再構成装置１８で
画像再構成演算処理を行なう。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ヘリカルスキャ
ン型あるいは通常のタイプのＸ線ＣＴ装置に関する。
ン型あるいは通常のタイプのＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置で再構成される画像のスラ
イス厚さは、基本的に、Ｘ線ビームのスライス厚さ方向
の幅に依存している。そこで、画像の厚さを種々に定め
るため、従来より、Ｘ線ビームのスライス厚さ方向の幅
を絞るコリメータが用いられている。従来のコリメータ
は、任意のビーム幅とすることができる連続可変型では
なく、１、２、３、５、１０ｍｍというようにいくつか
の値に固定され、これらの中から選ぶようになってい
る。このように、Ｘ線ビーム幅がいくつかの値に固定さ
れているのは、コリメータの機構的な複雑化を避けるた
めであり、また、通常実施するビーム幅ごとのキャリブ
レーション（検出器感度補正）の作業の負担を過重にし
ないためである。
イス厚さは、基本的に、Ｘ線ビームのスライス厚さ方向
の幅に依存している。そこで、画像の厚さを種々に定め
るため、従来より、Ｘ線ビームのスライス厚さ方向の幅
を絞るコリメータが用いられている。従来のコリメータ
は、任意のビーム幅とすることができる連続可変型では
なく、１、２、３、５、１０ｍｍというようにいくつか
の値に固定され、これらの中から選ぶようになってい
る。このように、Ｘ線ビーム幅がいくつかの値に固定さ
れているのは、コリメータの機構的な複雑化を避けるた
めであり、また、通常実施するビーム幅ごとのキャリブ
レーション（検出器感度補正）の作業の負担を過重にし
ないためである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ｘ線ビ
ーム幅を可変できる値が限られそのためＸ線ＣＴ像のス
ライス厚さを任意のものとできないことは、実際上不便
であり、医学的な診断の支障にもなるという問題があ
る。
ーム幅を可変できる値が限られそのためＸ線ＣＴ像のス
ライス厚さを任意のものとできないことは、実際上不便
であり、医学的な診断の支障にもなるという問題があ
る。
【０００４】この発明は、コリメータの機構の複雑化を
招かず、かつキャリブレーションの手間の増大も招かな
いようにしながら、Ｘ線ＣＴ像のスライス厚さの自由度
をより高めるように改善したＸ線ＣＴ装置を提供するこ
とを目的とする。
招かず、かつキャリブレーションの手間の増大も招かな
いようにしながら、Ｘ線ＣＴ像のスライス厚さの自由度
をより高めるように改善したＸ線ＣＴ装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるＸ線ＣＴ装置においては、Ｘ線発生
器と、このＸ線発生器に対向配置されるＸ線検出器と、
これらＸ線発生器とＸ線検出器との間の空間に置かれた
被検体に対して上記Ｘ線発生器から発生しＸ線検出器に
入射するＸ線ビームをスキャンさせるスキャン装置と、
上記Ｘ線発生器から発生するＸ線ビームの、上記のＸ線
スキャン平面に対して直交する方向における幅を、絞る
コリメータと、上記のＸ線スキャン平面に対して直交す
る方向に被検体を相対的に移動させる移動装置と、上記
の移動ピッチを上記のＸ線ビーム幅よりも小さくして移
動させ、その各々の位置でデータ収集するよう上記のス
キャン装置と移動装置とを制御する制御装置と、所定位
置についての所定角度のデータからその隣の位置の同じ
角度のデータオーバーラップ部分を減算することをすべ
ての角度のデータについて行なう減算器と、減算後のデ
ータを用いて上記の所定位置での画像再構成処理を行な
う画像再構成装置とが備えられることが特徴となってい
る。
め、この発明によるＸ線ＣＴ装置においては、Ｘ線発生
器と、このＸ線発生器に対向配置されるＸ線検出器と、
これらＸ線発生器とＸ線検出器との間の空間に置かれた
被検体に対して上記Ｘ線発生器から発生しＸ線検出器に
入射するＸ線ビームをスキャンさせるスキャン装置と、
上記Ｘ線発生器から発生するＸ線ビームの、上記のＸ線
スキャン平面に対して直交する方向における幅を、絞る
コリメータと、上記のＸ線スキャン平面に対して直交す
る方向に被検体を相対的に移動させる移動装置と、上記
の移動ピッチを上記のＸ線ビーム幅よりも小さくして移
動させ、その各々の位置でデータ収集するよう上記のス
キャン装置と移動装置とを制御する制御装置と、所定位
置についての所定角度のデータからその隣の位置の同じ
角度のデータオーバーラップ部分を減算することをすべ
ての角度のデータについて行なう減算器と、減算後のデ
ータを用いて上記の所定位置での画像再構成処理を行な
う画像再構成装置とが備えられることが特徴となってい
る。
【０００６】移動ピッチをＸ線ビーム幅よりも小さくし
て移動させて、その各々の位置（被検体のＸ線スキャン
面に対する位置）でデータ収集すると、各位置でのデー
タは、互いにオーバーラップしたＸ線ビームによるもの
となる。すなわち、１つの方向のＸ線ビームを考えてみ
ると、それは移動ピッチごとにずれるが、そのずれ量が
Ｘ線ビーム幅よりも小さいため、互いにオーバーラップ
する。そこである位置で得た、ある角度でのデータか
ら、その隣の位置で得た同じ角度のデータのオーバーラ
ップ分を減算すれば、その位置での隣とはオーバーラッ
プしていない部分のデータが得られる。そこで、この位
置のすべての角度のデータについて同様の処理を行なえ
ば、隣とはオーバーラップしていない部分（つまり薄い
部分）のデータが得られることになり、これを用いて画
像再構成演算すれば、オーバーラップしていない厚さの
画像が得られる。Ｘ線ビーム幅に対する移動ピッチを定
めることと、データの減算処理とにより、Ｘ線ビーム幅
よりも狭いスライス厚さのＣＴ像を得ることができ、簡
単な構成でありながら、ＣＴ像のスライス厚さの自由度
を高めることができる。
て移動させて、その各々の位置（被検体のＸ線スキャン
面に対する位置）でデータ収集すると、各位置でのデー
タは、互いにオーバーラップしたＸ線ビームによるもの
となる。すなわち、１つの方向のＸ線ビームを考えてみ
ると、それは移動ピッチごとにずれるが、そのずれ量が
Ｘ線ビーム幅よりも小さいため、互いにオーバーラップ
する。そこである位置で得た、ある角度でのデータか
ら、その隣の位置で得た同じ角度のデータのオーバーラ
ップ分を減算すれば、その位置での隣とはオーバーラッ
プしていない部分のデータが得られる。そこで、この位
置のすべての角度のデータについて同様の処理を行なえ
ば、隣とはオーバーラップしていない部分（つまり薄い
部分）のデータが得られることになり、これを用いて画
像再構成演算すれば、オーバーラップしていない厚さの
画像が得られる。Ｘ線ビーム幅に対する移動ピッチを定
めることと、データの減算処理とにより、Ｘ線ビーム幅
よりも狭いスライス厚さのＣＴ像を得ることができ、簡
単な構成でありながら、ＣＴ像のスライス厚さの自由度
を高めることができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】つぎに、この発明の実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１はこの
発明をヘリカルスキャン型ＣＴ装置に適用したもので、
この図において、ガントリ１０にはＸ線管１１とＸ線検
出器１３とが対向配置されており、回転装置１４によっ
てＸ線管１１とＸ線検出器１３とが紙面に直角な平面内
で回転するようにされている。Ｘ線管１１の前面にはコ
リメータ１２が設けられて、上記の回転平面に直交する
方向（図の左右方向）でのＸ線ビーム幅が定められる。
このコリメータ１２もＸ線管１１等と一体となって回転
させられる。
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１はこの
発明をヘリカルスキャン型ＣＴ装置に適用したもので、
この図において、ガントリ１０にはＸ線管１１とＸ線検
出器１３とが対向配置されており、回転装置１４によっ
てＸ線管１１とＸ線検出器１３とが紙面に直角な平面内
で回転するようにされている。Ｘ線管１１の前面にはコ
リメータ１２が設けられて、上記の回転平面に直交する
方向（図の左右方向）でのＸ線ビーム幅が定められる。
このコリメータ１２もＸ線管１１等と一体となって回転
させられる。
【０００８】このＸ線管１１とＸ線検出器１３とに挟ま
れる空間内に検査台２１に横たえられた被検体２０が挿
入される。検査台２１は移動装置２２によって直線的に
移動させられるようになっている。この移動装置２２お
よび上記の回転装置１４はコントローラ２３によって制
御されており、直線移動と回転運動とが同期して行われ
る。
れる空間内に検査台２１に横たえられた被検体２０が挿
入される。検査台２１は移動装置２２によって直線的に
移動させられるようになっている。この移動装置２２お
よび上記の回転装置１４はコントローラ２３によって制
御されており、直線移動と回転運動とが同期して行われ
る。
【０００９】紙面の左右方向をＺ、上下方向をＹ、紙面
に垂直な方向をＸとすると、Ｘ線管１１とＸ線検出器１
３はＸ−Ｙ平面内で回転し、被検体２０がこのＸ−Ｙ平
面に垂直なＺ方向に矢印で示すように挿入されることに
なる。被検体２０から見ると、Ｙ方向が前後方向、Ｘ方
向が左右方向、Ｚ方向が体軸方向ということになる。つ
まり、体軸に直角なＸ−Ｙ平面内でＸ線ビームが回転ス
キャンさせられることになり、Ｘ線検出器１３からは、
そのＸ線ビームが通る平面内でのＸ線吸収に関する各角
度方向のビューデータが得られる。すなわち、Ｘ線検出
器１３はＺ方向から見ると、小さな検出エレメントが円
弧状に並べられたものとなっており、Ｘ線管１１、Ｘ線
検出器１３のある角度で扇型に広がるＸ線ビームによる
多数角度のデータが、データ収集装置１５を通じて一度
に得られる。つまりビューデータはこのような多数角度
のデータの集合ということになる。このビューデータ
が、回転装置１４からの角度信号および移動装置２２か
らの位置信号（被検体２０のＺ方向位置を表わす）とと
もにメモリ１６に送られて記憶させられる。
に垂直な方向をＸとすると、Ｘ線管１１とＸ線検出器１
３はＸ−Ｙ平面内で回転し、被検体２０がこのＸ−Ｙ平
面に垂直なＺ方向に矢印で示すように挿入されることに
なる。被検体２０から見ると、Ｙ方向が前後方向、Ｘ方
向が左右方向、Ｚ方向が体軸方向ということになる。つ
まり、体軸に直角なＸ−Ｙ平面内でＸ線ビームが回転ス
キャンさせられることになり、Ｘ線検出器１３からは、
そのＸ線ビームが通る平面内でのＸ線吸収に関する各角
度方向のビューデータが得られる。すなわち、Ｘ線検出
器１３はＺ方向から見ると、小さな検出エレメントが円
弧状に並べられたものとなっており、Ｘ線管１１、Ｘ線
検出器１３のある角度で扇型に広がるＸ線ビームによる
多数角度のデータが、データ収集装置１５を通じて一度
に得られる。つまりビューデータはこのような多数角度
のデータの集合ということになる。このビューデータ
が、回転装置１４からの角度信号および移動装置２２か
らの位置信号（被検体２０のＺ方向位置を表わす）とと
もにメモリ１６に送られて記憶させられる。
【００１０】コントローラ２３は、Ｘ線管１１・Ｘ線検
出器１３等が連続回転するよう回転装置１４を制御する
とともに、この連続回転中に被検体２０が連続的に直線
移動するよう移動装置２２を制御する。この回転と直線
移動とが組み合わされることにより、図２に示すような
Ｘ線ビームによるヘリカルスキャンが行われる。
出器１３等が連続回転するよう回転装置１４を制御する
とともに、この連続回転中に被検体２０が連続的に直線
移動するよう移動装置２２を制御する。この回転と直線
移動とが組み合わされることにより、図２に示すような
Ｘ線ビームによるヘリカルスキャンが行われる。
【００１１】そして、コントローラ２３によって、その
ヘリカルスキャンのピッチがＸ線ビームのＺ方向の幅よ
りも小さくなるよう、Ｘ線管１１等の１回転に対する被
検体２０の直線移動量が制御される。そのため、図２に
示すようにスライス厚さ方向にオーバーラップしてＸ線
ビームによるスキャンが行われていくことになる。
ヘリカルスキャンのピッチがＸ線ビームのＺ方向の幅よ
りも小さくなるよう、Ｘ線管１１等の１回転に対する被
検体２０の直線移動量が制御される。そのため、図２に
示すようにスライス厚さ方向にオーバーラップしてＸ線
ビームによるスキャンが行われていくことになる。
【００１２】ある角度のＸ線ビームによる１つのデータ
（ビューデータを形成する１つのデータ）を考えてみ
る。図３に示すように、被検体２０の移動ごとに被検体
２０に対して、ある角度のＸ線ビームが３１、３２、３
３、…と、ピッチＰずつ順次ずれていく。Ｘ線ビーム３
１、３２、３３、…の幅をＷとすると、ピッチＰは幅Ｗ
より小さく定められている（ここでは３Ｐ＝Ｗとなって
いる）ため、Ｘ線ビーム３１、３２、３３、…は互いに
オーバーラップする。
（ビューデータを形成する１つのデータ）を考えてみ
る。図３に示すように、被検体２０の移動ごとに被検体
２０に対して、ある角度のＸ線ビームが３１、３２、３
３、…と、ピッチＰずつ順次ずれていく。Ｘ線ビーム３
１、３２、３３、…の幅をＷとすると、ピッチＰは幅Ｗ
より小さく定められている（ここでは３Ｐ＝Ｗとなって
いる）ため、Ｘ線ビーム３１、３２、３３、…は互いに
オーバーラップする。
【００１３】たとえばＸ線ビーム３２で得たデータか
ら、Ｘ線ビーム３１で得たデータのＸ線ビーム３２との
重なり部分４１を減算すれば、Ｘ線ビーム３２のＸ線ビ
ーム３１とは重なっていない部分５２のデータが得られ
る。そのためには、上記の重なり部分４１のデータが分
かっていなければならない。そこで、被検体２０が未だ
現れない部分からヘリカルスキャンを開始する。図３で
はＸ線ビーム３１はすべて空気中を通過し、Ｘ線ビーム
３２で初めてその端部が被検体２０の端部をかすめるよ
うになる。そうすると、Ｘ線ビーム３１で空気部分の吸
収データが得られ、この空気部分の吸収データは均一な
ものと考えられるので、Ｘ線ビーム３１によるデータの
部分４１の分は、Ｘ線ビーム３１による全体のデータの
（Ｗ−Ｐ）／Ｗ倍（この例では２／３倍）すれば求めら
れる。もっとも空気部分の吸収を０とみなすなら、Ｘ線
ビーム３２で得たデータの部分５２のデータは、Ｘ線ビ
ーム３２で得たデータの全体と見てよいことになる。
ら、Ｘ線ビーム３１で得たデータのＸ線ビーム３２との
重なり部分４１を減算すれば、Ｘ線ビーム３２のＸ線ビ
ーム３１とは重なっていない部分５２のデータが得られ
る。そのためには、上記の重なり部分４１のデータが分
かっていなければならない。そこで、被検体２０が未だ
現れない部分からヘリカルスキャンを開始する。図３で
はＸ線ビーム３１はすべて空気中を通過し、Ｘ線ビーム
３２で初めてその端部が被検体２０の端部をかすめるよ
うになる。そうすると、Ｘ線ビーム３１で空気部分の吸
収データが得られ、この空気部分の吸収データは均一な
ものと考えられるので、Ｘ線ビーム３１によるデータの
部分４１の分は、Ｘ線ビーム３１による全体のデータの
（Ｗ−Ｐ）／Ｗ倍（この例では２／３倍）すれば求めら
れる。もっとも空気部分の吸収を０とみなすなら、Ｘ線
ビーム３２で得たデータの部分５２のデータは、Ｘ線ビ
ーム３２で得たデータの全体と見てよいことになる。
【００１４】いずれにしても、これにより部分５２のデ
ータが求められる。そうすると、つぎのＸ線ビーム３３
の、Ｘ線ビーム３１、３２と重なっていない部分５３の
データも求めることができる。すなわち、Ｘ線ビーム３
３によるデータから、重なり部分４２のデータを減算す
ればよいのであるが、この重なり部分４２のデータとい
うのは、Ｘ線ビーム３１によるデータを（Ｗ−２Ｐ）／
Ｗ倍したものと部分５２のデータとを加算したものであ
るからである。
ータが求められる。そうすると、つぎのＸ線ビーム３３
の、Ｘ線ビーム３１、３２と重なっていない部分５３の
データも求めることができる。すなわち、Ｘ線ビーム３
３によるデータから、重なり部分４２のデータを減算す
ればよいのであるが、この重なり部分４２のデータとい
うのは、Ｘ線ビーム３１によるデータを（Ｗ−２Ｐ）／
Ｗ倍したものと部分５２のデータとを加算したものであ
るからである。
【００１５】このような減算処理を、各位置（被検体２
０のＺ方向の各位置）ごとに減算器１７で行なえば、重
なっていない厚さ部分つまりピッチＰの厚さのデータが
順次得られる。そして、各位置ごとの全角度のＸ線ビー
ムによるデータにつきこの減算処理を行なうことによ
り、各位置ごとに画像再構成に必要なすべての角度のデ
ータが得られる。そこで、画像再構成装置１８において
各位置ごとに画像再構成を行なえば、ピッチＰのスライ
ス厚さの画像がピッチＰごとに順次得られる。再構成に
より得られた画像はディスプレイ装置１９で表示され
る。
０のＺ方向の各位置）ごとに減算器１７で行なえば、重
なっていない厚さ部分つまりピッチＰの厚さのデータが
順次得られる。そして、各位置ごとの全角度のＸ線ビー
ムによるデータにつきこの減算処理を行なうことによ
り、各位置ごとに画像再構成に必要なすべての角度のデ
ータが得られる。そこで、画像再構成装置１８において
各位置ごとに画像再構成を行なえば、ピッチＰのスライ
ス厚さの画像がピッチＰごとに順次得られる。再構成に
より得られた画像はディスプレイ装置１９で表示され
る。
【００１６】ピッチの値Ｐに応じたスライス厚さの画像
が得られるため、スライス厚さの自由度が格段に向上す
る。なお、上記のような計算が可能なのは、ＰがＷの整
数分の１であるという関係があるときに限られるので、
この制限が加わる。
が得られるため、スライス厚さの自由度が格段に向上す
る。なお、上記のような計算が可能なのは、ＰがＷの整
数分の１であるという関係があるときに限られるので、
この制限が加わる。
【００１７】この発明は上記の例に限定されず、種々に
変形可能である。たとえば、上記ではヘリカルスキャン
型Ｘ線ＣＴ装置に適用しているが、通常のスキャンタイ
プのＸ線ＣＴ装置に適用できる。すなわち、通常の、平
行スキャンと回転スキャンとを組み合わせたものや、Ｘ
線検出器が全円周上に配置されＸ線管のみが回転するタ
イプのものや、Ｘ線検出器が全円周上に配置されＸ線管
はリング状となっていてＸ線焦点のみが回転移動するＸ
線ＣＴ装置などに適用できる。また、上記では被検体２
０を外れた空気部分のデータを収集しているが、被検体
２０を外れた部分では吸収が均一であればよいので、水
などの吸収が均一なものを被検体２０の端部に取り付け
るようにし、その部分のデータをも収集するようにして
もよい。上記では減算器１７を別個設けるように説明し
たが、この減算器１７や画像再構成装置１８などはコン
ピュータのソフトウェアで構成することも可能である。
変形可能である。たとえば、上記ではヘリカルスキャン
型Ｘ線ＣＴ装置に適用しているが、通常のスキャンタイ
プのＸ線ＣＴ装置に適用できる。すなわち、通常の、平
行スキャンと回転スキャンとを組み合わせたものや、Ｘ
線検出器が全円周上に配置されＸ線管のみが回転するタ
イプのものや、Ｘ線検出器が全円周上に配置されＸ線管
はリング状となっていてＸ線焦点のみが回転移動するＸ
線ＣＴ装置などに適用できる。また、上記では被検体２
０を外れた空気部分のデータを収集しているが、被検体
２０を外れた部分では吸収が均一であればよいので、水
などの吸収が均一なものを被検体２０の端部に取り付け
るようにし、その部分のデータをも収集するようにして
もよい。上記では減算器１７を別個設けるように説明し
たが、この減算器１７や画像再構成装置１８などはコン
ピュータのソフトウェアで構成することも可能である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のＸ線Ｃ
Ｔ装置によれば、隣接する各スライス面の間隔を、Ｘ線
ビームのスライス厚さ方向の幅よりも小さくして、Ｘ線
ビーム幅よりも薄いスライス厚さの画像を得ることがで
きる。しかも、コンピュータソフトウェアを変更するな
ど、最小限の変更で済むので、コストが余計にかかるこ
ともない。
Ｔ装置によれば、隣接する各スライス面の間隔を、Ｘ線
ビームのスライス厚さ方向の幅よりも小さくして、Ｘ線
ビーム幅よりも薄いスライス厚さの画像を得ることがで
きる。しかも、コンピュータソフトウェアを変更するな
ど、最小限の変更で済むので、コストが余計にかかるこ
ともない。
【図１】この発明の実施の形態を示す模式図。
【図２】オーバーラップ式ヘリカルスキャンを説明する
ための模式図。
ための模式図。
【図３】同一角度でＺ方向位置のみが異なるＸ線ビーム
を示す模式図。
を示す模式図。
１０ ガントリ １１ Ｘ線管 １２ コリメータ １３ Ｘ線検出器 １４ 回転装置 １５ データ収集装置 １６ メモリ １７ 減算器 １８ 画像再構成装置 １９ ディスプレイ装置 ２０ 被検体 ２１ 検査台 ２２ 移動装置 ２３ コントローラ
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線発生器と、このＸ線発生器に対向配
置されるＸ線検出器と、これらＸ線発生器とＸ線検出器
との間の空間に置かれた被検体に対して上記Ｘ線発生器
から発生しＸ線検出器に入射するＸ線ビームをスキャン
させるスキャン装置と、上記Ｘ線発生器から発生するＸ
線ビームの、上記のＸ線スキャン平面に対して直交する
方向における幅を、絞るコリメータと、上記のＸ線スキ
ャン平面に対して直交する方向に被検体を相対的に移動
させる移動装置と、上記の移動ピッチを上記のＸ線ビー
ム幅よりも小さくして移動させ、その各々の位置でデー
タ収集するよう上記のスキャン装置と移動装置とを制御
する制御装置と、所定位置についての所定角度のデータ
からその隣の位置の同じ角度のデータオーバーラップ部
分を減算することをすべての角度のデータについて行な
う減算器と、減算後のデータを用いて上記の所定位置で
の画像再構成処理を行なう画像再構成装置とを有するこ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8219387A JPH1043174A (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8219387A JPH1043174A (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1043174A true JPH1043174A (ja) | 1998-02-17 |
Family
ID=16734628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8219387A Pending JPH1043174A (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1043174A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000237179A (ja) * | 1998-12-24 | 2000-09-05 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2001034032A1 (fr) * | 1999-11-10 | 2001-05-17 | Hitachi Medical Corporation | Tomodensitometre par rayons x |
| JP2017514118A (ja) * | 2014-04-11 | 2017-06-01 | マグカム ナムローゼ フェンノートシャップＭａｇＣａｍ ＮＶ | 磁石の磁場分布を当該磁石に沿って測定するための方法および装置 |
-
1996
- 1996-07-31 JP JP8219387A patent/JPH1043174A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000237179A (ja) * | 1998-12-24 | 2000-09-05 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP4538119B2 (ja) * | 1998-12-24 | 2010-09-08 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2001034032A1 (fr) * | 1999-11-10 | 2001-05-17 | Hitachi Medical Corporation | Tomodensitometre par rayons x |
| US7046758B1 (en) * | 1999-11-10 | 2006-05-16 | Hitachi Medical Corporation | X-ray CT apparatus |
| JP2017514118A (ja) * | 2014-04-11 | 2017-06-01 | マグカム ナムローゼ フェンノートシャップＭａｇＣａｍ ＮＶ | 磁石の磁場分布を当該磁石に沿って測定するための方法および装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4508789B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| US6023494A (en) | Methods and apparatus for modifying slice thickness during a helical scan | |
| JP2758515B2 (ja) | 投影データを獲得する方法及びｃｔ装置 | |
| JP4478335B2 (ja) | Ｘ線ビームの動きを補正するための方法および装置 | |
| EP0744158B1 (en) | Computed tomography scanner apparatus | |
| JP4993163B2 (ja) | 傾斜円錐形ビームデータの再構成のための方法及び装置 | |
| JPH11325A (ja) | 対象物の画像データを作成する方法およびシステム | |
| US7522697B2 (en) | X-ray CT apparatus | |
| KR20070011176A (ko) | Ｘ선 ｃｔ 장치 | |
| JP2000333939A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JPH04285539A (ja) | 被作像体の断層撮影投影データを取得する装置 | |
| US6047040A (en) | Detector signal integration in volumetric CT scanner detector arrays | |
| US5917876A (en) | Computed tomography scanner | |
| US5812628A (en) | Methods and apparatus for detecting partial volume image artifacts | |
| JP4087547B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| US5974110A (en) | Helical reconstruction algorithm | |
| JP4654551B2 (ja) | Ｃｔ装置 | |
| JP2001128964A (ja) | 画像再構成における重みを前フィルタ処理するための方法及び装置 | |
| JPH1043174A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| US7221730B2 (en) | Multi-row detector x-ray CT apparatus and method for creating tomogram | |
| WO1999038439A1 (fr) | Dispositif servant a analyser une image radiographique | |
| JP2006110332A (ja) | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 | |
| JP3413775B2 (ja) | 放射線画像検出装置 | |
| JP5138279B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| JPH11108857A (ja) | コンピュータ断層撮影装置 |