JP2000237179A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 46
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
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- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/027—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis characterised by the use of a particular data acquisition trajectory, e.g. helical or spiral
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 物理的に定まるＸ線検出器の幅よりも狭いス
ライス幅のＣＴ計測値を、コリメータによる調整をする
ことなく得るようにしたい。 【解決手段】 Ｘ線検出器の幅が本来のスライス幅とす
るとき、Ｘ線源とＸ線検出器とを、このＸ線検出器の幅
よりも小さい距離移動する。この移動の前後の開始点と
終了点の二点で３６０°回転によりＣＴ計測を行う。こ
の計測したＸ線検出量から上記移動距離分をスライス幅
とするＸ線検出量を計算により求める。上記二点の計測
ではなく、移動中に連続してら旋スキャンの如くＣＴ計
測を行っても同様に得ることができる。
ライス幅のＣＴ計測値を、コリメータによる調整をする
ことなく得るようにしたい。 【解決手段】 Ｘ線検出器の幅が本来のスライス幅とす
るとき、Ｘ線源とＸ線検出器とを、このＸ線検出器の幅
よりも小さい距離移動する。この移動の前後の開始点と
終了点の二点で３６０°回転によりＣＴ計測を行う。こ
の計測したＸ線検出量から上記移動距離分をスライス幅
とするＸ線検出量を計算により求める。上記二点の計測
ではなく、移動中に連続してら旋スキャンの如くＣＴ計
測を行っても同様に得ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、種々変更可能なス
ライス厚による断層画像を得るＸ線ＣＴ装置に関する。
ライス厚による断層画像を得るＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置では、Ｘ線源と、対向配置
したＸ線検出器とを、被検体のまわりに回転させなが
ら、Ｘ線源から扇状（ファンビーム）にＸ線ビームを被
検体に照射し、Ｘ線検出器で被検体を透過したＸ線量を
検出する。Ｘ線検出器で検出された透過Ｘ線量データを
収集し、再構成手段によってこの収集データを基に断層
画像を再構成する。
したＸ線検出器とを、被検体のまわりに回転させなが
ら、Ｘ線源から扇状（ファンビーム）にＸ線ビームを被
検体に照射し、Ｘ線検出器で被検体を透過したＸ線量を
検出する。Ｘ線検出器で検出された透過Ｘ線量データを
収集し、再構成手段によってこの収集データを基に断層
画像を再構成する。
【０００３】扇状のＸ線ビームは、ある幅を持つ。この
幅をビームスライス厚と呼ぶ。Ｘ線検出器の厚みとスラ
イス厚とを等しくすることで、断層画像のスライス厚は
ビームスライス厚と一致する。Ｘ線検出器の厚みよりも
薄いスライス厚の断層画像を得るには、従来、スライス
厚調整手段を設けた。この調整手段としてはＸ線の厚方
向の照射範囲を制限するコリメータを設置したり、Ｘ線
検出器の厚み方向の検出範囲を調整する機構を設けたり
することによってＸ線入射面を制限するやり方をとっ
た。
幅をビームスライス厚と呼ぶ。Ｘ線検出器の厚みとスラ
イス厚とを等しくすることで、断層画像のスライス厚は
ビームスライス厚と一致する。Ｘ線検出器の厚みよりも
薄いスライス厚の断層画像を得るには、従来、スライス
厚調整手段を設けた。この調整手段としてはＸ線の厚方
向の照射範囲を制限するコリメータを設置したり、Ｘ線
検出器の厚み方向の検出範囲を調整する機構を設けたり
することによってＸ線入射面を制限するやり方をとっ
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の方
法では、調整手段を設けなくてはならないという欠点が
あった。本発明はこのような事情に鑑みてなされたもの
で、測定範囲を調整する手段を設けなくともＸ線検出器
のＸ線入射面の幅よりも薄いスライス厚の断層画像を得
ることができるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とす
る。
法では、調整手段を設けなくてはならないという欠点が
あった。本発明はこのような事情に鑑みてなされたもの
で、測定範囲を調整する手段を設けなくともＸ線検出器
のＸ線入射面の幅よりも薄いスライス厚の断層画像を得
ることができるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、所定のスライ
ス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、被検
体を挟んでＸ線源に対向して配置され、対向配置した状
態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所
定のスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、互い
に対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベ
ッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定
ピッチ距離移動する手段と、その移動の前後の位置で、
互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させて
ＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出信号を収
集する手段と、この検出信号から上記所定ピッチ相当の
スライス幅の検出データを得る手段と、この検出データ
から断層像を再構成する手段と、を備えるＸ線ＣＴ装置
を開示する。
ス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、被検
体を挟んでＸ線源に対向して配置され、対向配置した状
態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所
定のスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、互い
に対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベ
ッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定
ピッチ距離移動する手段と、その移動の前後の位置で、
互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させて
ＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出信号を収
集する手段と、この検出信号から上記所定ピッチ相当の
スライス幅の検出データを得る手段と、この検出データ
から断層像を再構成する手段と、を備えるＸ線ＣＴ装置
を開示する。
【０００６】更に本発明は、所定のマルチスライス幅を
持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、被検体を挟
んでＸ線源に対向いて配置され、対向配置した状態でＸ
線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のマ
ルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、互い
に対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベ
ッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定
ピッチ距離移動する手段と、その移動の前後の位置で、
互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させて
ＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出システム
号を収集する手段と、この検出信号から、各マルチスラ
イス部位対応に上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出
データを得る手段とこの検出データから各マルチスライ
ス部位対応の断層像を再構成する手段と、を備えるＸ線
ＣＴ装置を開示する。
持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、被検体を挟
んでＸ線源に対向いて配置され、対向配置した状態でＸ
線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のマ
ルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、互い
に対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベ
ッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定
ピッチ距離移動する手段と、その移動の前後の位置で、
互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させて
ＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得られる検出システム
号を収集する手段と、この検出信号から、各マルチスラ
イス部位対応に上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出
データを得る手段とこの検出データから各マルチスライ
ス部位対応の断層像を再構成する手段と、を備えるＸ線
ＣＴ装置を開示する。
【０００７】更に本発明は、所定のマルチスライス幅を
持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、被検体を挟
んでＸ線源に対向して配置され、対向配置した状態でＸ
線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のマ
ルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、互い
に対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベ
ッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定
ピッチ距離移動する手段と、その移動と共に、互いに対
向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させてＣＴ計測
を行い、Ｘ線検出器から得られる検出信号を収集する手
段と、この検出信号から、各マルチスライス部位対応に
上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手
段と、この検出データから各マルチスライス部位対応の
断層像を再構成する手段と、を備えるＸ線ＣＴ装置を開
示する。
持つファンビームＸ線を放出するＸ線源と、被検体を挟
んでＸ線源に対向して配置され、対向配置した状態でＸ
線源と一緒に被検体の周りを回転すると共に、所定のマ
ルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器と、互い
に対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載したベ
ッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い所定
ピッチ距離移動する手段と、その移動と共に、互いに対
向配置したＸ線源とＸ線検出器とを回転させてＣＴ計測
を行い、Ｘ線検出器から得られる検出信号を収集する手
段と、この検出信号から、各マルチスライス部位対応に
上記所定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手
段と、この検出データから各マルチスライス部位対応の
断層像を再構成する手段と、を備えるＸ線ＣＴ装置を開
示する。
【０００８】更に本発明は、ピッチ距離移動は、被検体
の体軸方向に、複数回行うものとしたＸ線ＣＴ装置を開
示する。
の体軸方向に、複数回行うものとしたＸ線ＣＴ装置を開
示する。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るＸ線ＣＴ装置の好ましい実施の形態について説明す
る。図１は、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示すブ
ロック図である。Ｘ線ＣＴ装置２０は、Ｘ線源１から所
定のスライス幅ＷのファンビームＸ線（通常、コリメー
タを介して得たもの。以下、このコリメータを含めてＸ
線源と称す）を寝台３上の被検体２に照射し、Ｘ線源１
に対向して扇状に配置されたマルチチャンネル形Ｘ線検
出器４で被検体２を透過したＸ線量を検出する。Ｘ線源
１及びＸ線検出器４は被検体２の周囲を一定周期で回転
し、データ収集部８はＸ線検出器４で検出された透過Ｘ
線量データを収集する。この収集データに対して画像処
理部５で断層画像が再構成され、再構成された断層画像
が表示部９で表示される。また断層画像データはメモリ
上に格納され、その後の処理や表示に利用される。
るＸ線ＣＴ装置の好ましい実施の形態について説明す
る。図１は、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示すブ
ロック図である。Ｘ線ＣＴ装置２０は、Ｘ線源１から所
定のスライス幅ＷのファンビームＸ線（通常、コリメー
タを介して得たもの。以下、このコリメータを含めてＸ
線源と称す）を寝台３上の被検体２に照射し、Ｘ線源１
に対向して扇状に配置されたマルチチャンネル形Ｘ線検
出器４で被検体２を透過したＸ線量を検出する。Ｘ線源
１及びＸ線検出器４は被検体２の周囲を一定周期で回転
し、データ収集部８はＸ線検出器４で検出された透過Ｘ
線量データを収集する。この収集データに対して画像処
理部５で断層画像が再構成され、再構成された断層画像
が表示部９で表示される。また断層画像データはメモリ
上に格納され、その後の処理や表示に利用される。
【００１０】Ｘ線制御部７はＸ線源１の照射するＸ線量
を制御し、寝台制御部６が寝台３を体軸方向に移動制御
する。回転・移動制御部１１は、対向するＸ線源１とＸ
線検出器４との回転制御及びＸ線源１とＸ線検出器４と
を収容するガントリ部の移動制御とを行う。システム制
御部１０はＸ線制御部７と寝台制御部６と画像処理部５
と回転・移動制御部１１とを制御する。
を制御し、寝台制御部６が寝台３を体軸方向に移動制御
する。回転・移動制御部１１は、対向するＸ線源１とＸ
線検出器４との回転制御及びＸ線源１とＸ線検出器４と
を収容するガントリ部の移動制御とを行う。システム制
御部１０はＸ線制御部７と寝台制御部６と画像処理部５
と回転・移動制御部１１とを制御する。
【００１１】図２は、図１に示すＸ線源１とＸ線検出器
４との被検体２の体軸上での計測と体軸方向の移動とを
示す説明図である。紙面に垂直方向がＸ線ビームの扇状
部位であり、紙面に沿う方向が体軸方向である。紙面に
垂直方向にマルチチャンネルＸ線検出器４が扇状に配列
存在する。紙面に沿う方向のＸ線検出器４の幅ＷとＸ線
のスライス幅Ｑとは一致することも、不一致とする例も
ある。Ｗ≧ＱであればＱがスライス幅、Ｗ＜Ｑであれば
Ｗがスライス幅となる。Ｘ線源１とＸ線検出器４とは、
被検体２に対して回転する動作と図上矢印で示す体軸方
向に相対的に移動する動作とを持つ。ここで相対的と
は、寝台３が移動するか、寝台３の代わりにＸ線源１と
Ｘ線検出器４とが回転しながら移動するか、いずれかと
の意味である。以下では、後者の例で説明する。
４との被検体２の体軸上での計測と体軸方向の移動とを
示す説明図である。紙面に垂直方向がＸ線ビームの扇状
部位であり、紙面に沿う方向が体軸方向である。紙面に
垂直方向にマルチチャンネルＸ線検出器４が扇状に配列
存在する。紙面に沿う方向のＸ線検出器４の幅ＷとＸ線
のスライス幅Ｑとは一致することも、不一致とする例も
ある。Ｗ≧ＱであればＱがスライス幅、Ｗ＜Ｑであれば
Ｗがスライス幅となる。Ｘ線源１とＸ線検出器４とは、
被検体２に対して回転する動作と図上矢印で示す体軸方
向に相対的に移動する動作とを持つ。ここで相対的と
は、寝台３が移動するか、寝台３の代わりにＸ線源１と
Ｘ線検出器４とが回転しながら移動するか、いずれかと
の意味である。以下では、後者の例で説明する。
【００１２】本発明では、ある体軸上の位置でＸ線源１
とＸ線検出器４とが対向して１回転してＣＴ計測を行
い、この１回転でのＣＴ計測後にＸ線源１とＸ線検出器
４とが体軸方向に所定距離Ｌを移動するように、Ｘ線源
１とＸ線検出器４との移動の制御を行う。この制御は、
回転・移動制御部１１によって行う。上記所定距離移動
後のその体軸上の位置で再びＸ線源１とＸ線検出器４と
を対向させ回転させてＣＴ計測を行う。以下、距離Ｌ移
動し計測を繰り返す。その移動量ＬはＸ線入射面よりも
小さく、断層画像の目的のスライス幅に等しい。図２で
は、当初のＸ線源１の位置Ｐ1に対して、距離Ｌ（Ｌ＝
Ｗ／２）だけ移動した時のＸ線源１の位置Ｐ2を、併せ
て表示した。Ｐ1、Ｐ2は例えばＸ線源１の中心位置や端
部位置のごとく、Ｘ線源を特定できる位置である。
とＸ線検出器４とが対向して１回転してＣＴ計測を行
い、この１回転でのＣＴ計測後にＸ線源１とＸ線検出器
４とが体軸方向に所定距離Ｌを移動するように、Ｘ線源
１とＸ線検出器４との移動の制御を行う。この制御は、
回転・移動制御部１１によって行う。上記所定距離移動
後のその体軸上の位置で再びＸ線源１とＸ線検出器４と
を対向させ回転させてＣＴ計測を行う。以下、距離Ｌ移
動し計測を繰り返す。その移動量ＬはＸ線入射面よりも
小さく、断層画像の目的のスライス幅に等しい。図２で
は、当初のＸ線源１の位置Ｐ1に対して、距離Ｌ（Ｌ＝
Ｗ／２）だけ移動した時のＸ線源１の位置Ｐ2を、併せ
て表示した。Ｐ1、Ｐ2は例えばＸ線源１の中心位置や端
部位置のごとく、Ｘ線源を特定できる位置である。
【００１３】図３は、入射Ｘ線のスライス幅をＷ、移動
距離ＬをＬ＝Ｗ／２とした場合のＣＴ計測値ｂk（Ｘ線
検出器４の出力又はこの出力の各種の前処理（各種の補
正や対数変換等）後の出力を言う）と仮想測定値ａkと
を示す図である。図でｂ0、ｂ 1、ｂ2、ｂ3、…は以下の
通りである。 ｂ0…体軸上の開始位置Ｓ0でのＣＴ計測値 ｂ1…位置Ｓ0から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ1でのＣ
Ｔ計測値 ｂ2…位置Ｓ1から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ2でのＣ
Ｔ計測値 ｂ3…位置Ｓ2から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ3でのＣ
Ｔ計測値 ……………………………………………………………… ここで、ＣＴ計測値ｂ0、ｂ1、ｂ2、ｂ3、…は、それぞ
れチャンネル番号ｉ、投影角（ビュー）ｊを因子とする
値であり、例えば、ｂnであればｂn（ｉ、ｊ）の如くで
ある。投影角ｊは、ｊ＝０゜〜３６０゜、０゜〜１８０
゜、０゜〜１８０゜＋βの範囲内の各値である。かかる
ｂ0、ｂ1、ｂ2、ｂ3、…は、図３（ｉ）と（ii）では、
ｂ0、ｂ2、…、ｂ1、ｂ3、…の如く区別して表記した。
距離ＬをＬ＝Ｗ／２とした場合のＣＴ計測値ｂk（Ｘ線
検出器４の出力又はこの出力の各種の前処理（各種の補
正や対数変換等）後の出力を言う）と仮想測定値ａkと
を示す図である。図でｂ0、ｂ 1、ｂ2、ｂ3、…は以下の
通りである。 ｂ0…体軸上の開始位置Ｓ0でのＣＴ計測値 ｂ1…位置Ｓ0から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ1でのＣ
Ｔ計測値 ｂ2…位置Ｓ1から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ2でのＣ
Ｔ計測値 ｂ3…位置Ｓ2から距離Ｗ／２だけ離れた位置Ｓ3でのＣ
Ｔ計測値 ……………………………………………………………… ここで、ＣＴ計測値ｂ0、ｂ1、ｂ2、ｂ3、…は、それぞ
れチャンネル番号ｉ、投影角（ビュー）ｊを因子とする
値であり、例えば、ｂnであればｂn（ｉ、ｊ）の如くで
ある。投影角ｊは、ｊ＝０゜〜３６０゜、０゜〜１８０
゜、０゜〜１８０゜＋βの範囲内の各値である。かかる
ｂ0、ｂ1、ｂ2、ｂ3、…は、図３（ｉ）と（ii）では、
ｂ0、ｂ2、…、ｂ1、ｂ3、…の如く区別して表記した。
【００１４】一方、スライス幅Ｗ／２での測定値（これ
は計算によって求めるため、仮想測定値と定義）を、体
軸上の開始位置Ｒ1（これは、スライス幅Ｗ／２での、
中心位置や端部位置等の特定位置を指す）からＷ／２の
順に定まる位置Ｒ2、Ｒ3、…で、図３（iii）に示すよ
うに、α、ａ0、ａ1、ａ2、ａ3、…とすると、以下の関
係となる。
は計算によって求めるため、仮想測定値と定義）を、体
軸上の開始位置Ｒ1（これは、スライス幅Ｗ／２での、
中心位置や端部位置等の特定位置を指す）からＷ／２の
順に定まる位置Ｒ2、Ｒ3、…で、図３（iii）に示すよ
うに、α、ａ0、ａ1、ａ2、ａ3、…とすると、以下の関
係となる。
【数１】 ここで、αは最初の開始位置Ｒ1でのスライス幅Ｗ／２
の仮想測定値である。数１を変形し、ａ0、ａnを求める
と、数２となる。
の仮想測定値である。数１を変形し、ａ0、ａnを求める
と、数２となる。
【数２】 数２から以下のことがわかる。ｂ0、ｂnはＣＴ計測値で
あって既知であり、αがわかれば、ａ0、ａn（ｎ≧１）
の全てが数２を利用して求まる。ａ0、ａn（ｎ≧１）は
図３（iii）からわかるように、スライス幅Ｗ／２での
ＣＴ計測値とみなせる。このａ0、ａn（ｎ≧１）を用い
て再構成することで、スライス幅Ｗ／２毎の再構成画像
が得られる。ここで、ａ0、ａn（ｎ≧１）は、それぞれ
チャンネル番号ｉ、投影角（ビュー）ｊを因子とする値
であり、ａ0（ｉ、ｊ）、ａn（ｉ、ｊ）の如くである。
投影角ｊは、ｊ＝０゜〜３６０゜、０゜〜１８０゜、０
゜〜１８０゜＋βの範囲内の各値である。ａ0、ａn（ｎ
≧１）の再構成とは、以下の如くなる。 ・開始位置Ｒ1でのＷ／２スライス幅の再構成……α
（ｉ、ｊ）を用いて 行う。 ・開始位置の次の位置Ｒ2でのＷ／２スライス幅の再構
成……ａ0（ｉ、ｊ）を用いて行う。 ・更なる次の位置Ｒ3でのＷ／２スライス幅の再構成…
…ａ1（ｉ、ｊ）を用いて行う。 ……………………………………………………………… ａ0、ａn（ｎ≧１）は、αが求まっていることが前提と
して得られる値である。以下に、αの各種の設定例を説
明する。
あって既知であり、αがわかれば、ａ0、ａn（ｎ≧１）
の全てが数２を利用して求まる。ａ0、ａn（ｎ≧１）は
図３（iii）からわかるように、スライス幅Ｗ／２での
ＣＴ計測値とみなせる。このａ0、ａn（ｎ≧１）を用い
て再構成することで、スライス幅Ｗ／２毎の再構成画像
が得られる。ここで、ａ0、ａn（ｎ≧１）は、それぞれ
チャンネル番号ｉ、投影角（ビュー）ｊを因子とする値
であり、ａ0（ｉ、ｊ）、ａn（ｉ、ｊ）の如くである。
投影角ｊは、ｊ＝０゜〜３６０゜、０゜〜１８０゜、０
゜〜１８０゜＋βの範囲内の各値である。ａ0、ａn（ｎ
≧１）の再構成とは、以下の如くなる。 ・開始位置Ｒ1でのＷ／２スライス幅の再構成……α
（ｉ、ｊ）を用いて 行う。 ・開始位置の次の位置Ｒ2でのＷ／２スライス幅の再構
成……ａ0（ｉ、ｊ）を用いて行う。 ・更なる次の位置Ｒ3でのＷ／２スライス幅の再構成…
…ａ1（ｉ、ｊ）を用いて行う。 ……………………………………………………………… ａ0、ａn（ｎ≧１）は、αが求まっていることが前提と
して得られる値である。以下に、αの各種の設定例を説
明する。
【００１５】 （ｉ）、α＝ａ0、即ち、α＝ｂ0／２とする例。 この例は、開始位置Ｓ0のＸ線入射位置に被検体がない
場合に有効である。 （ii）、αをａnの線形補間から求める例。例えば二点
補間の場合、
場合に有効である。 （ii）、αをａnの線形補間から求める例。例えば二点
補間の場合、
【数３】 の関係がある故に、
【数４】 となり、αは以下となる。
【数５】 結果的に、ｂ0、ｂ1からの補間と同じである。 （iii）、Ｄ＝Σ（ａn-1−ａn）2を最小によるαを求め
る例。αの値の誤差は、（ａn-1−ａn）に現れる。この
特性からＤを最小にするαを用いることができる。即
ち、下記となる。
る例。αの値の誤差は、（ａn-1−ａn）に現れる。この
特性からＤを最小にするαを用いることができる。即
ち、下記となる。
【数６】
【数７】 数６を数７に代入してａnを消去すれば、Ｄは、ｂnとα
との関数となる。ｂnは計測値でわかっているので、Ｄ
を最小にするαが求まる。
との関数となる。ｂnは計測値でわかっているので、Ｄ
を最小にするαが求まる。
【００１６】以上の実施の形態では、Ｗ／２としたが、
Ｗ／３、Ｗ／４の例にも適用できる。その説明図を図
４、図６に示す。図４のＷ／３の例では、対向するＸ線
源１とＸ線検出器４とをＷ／３のピッチで移動させると
共に、各ピッチ停止点で１回転させてＣＴ計測を行う。
この結果、スライス幅（Ｗ／３）の仮想測定値α、
ａ0、ａ1、ａ2、…を得る。また、ｂ0、ｂ3、ｂ6、…を
図４（ｉ）に示し、ｂ1、ｂ 4、ｂ7、…を図４（ii）に
示し、ｂ2、ｂ5、ｂ8、…を図４（iii）に示す。ここ
で、ａとｂとの関係は以下となる。
Ｗ／３、Ｗ／４の例にも適用できる。その説明図を図
４、図６に示す。図４のＷ／３の例では、対向するＸ線
源１とＸ線検出器４とをＷ／３のピッチで移動させると
共に、各ピッチ停止点で１回転させてＣＴ計測を行う。
この結果、スライス幅（Ｗ／３）の仮想測定値α、
ａ0、ａ1、ａ2、…を得る。また、ｂ0、ｂ3、ｂ6、…を
図４（ｉ）に示し、ｂ1、ｂ 4、ｂ7、…を図４（ii）に
示し、ｂ2、ｂ5、ｂ8、…を図４（iii）に示す。ここ
で、ａとｂとの関係は以下となる。
【数８】 αを前述と同様に設定や算出することで、ａが求まる。
尚、ｂ、ａ共にチャンネル番号ｉ、投影角ｊの２つの因
子で表現されたものである。
尚、ｂ、ａ共にチャンネル番号ｉ、投影角ｊの２つの因
子で表現されたものである。
【００１７】図６は、Ｗ／４の例であり、Ｗ／４ピッチ
での移動と、各ピッチ停止点での３６０゜のＣＴ計測を
行った例である。ａ、ｂとは以下の関係をなす。
での移動と、各ピッチ停止点での３６０゜のＣＴ計測を
行った例である。ａ、ｂとは以下の関係をなす。
【数９】 図４のＷ／３の例は、図５に示す２Ｗ／３の例に拡張で
きる。スライス幅（３Ｗ／４）では、その仮想測定値を
ｃ0、ｃ1、ｃ2…は、下記の関係となる。
きる。スライス幅（３Ｗ／４）では、その仮想測定値を
ｃ0、ｃ1、ｃ2…は、下記の関係となる。
【数１０】 図６のＷ／４の例は、３Ｗ／４の例に拡張できる。スラ
イス幅（３Ｗ／４）での仮想測定値をｄ0、ｄ1、ｄ2と
すると、下記となる。
イス幅（３Ｗ／４）での仮想測定値をｄ0、ｄ1、ｄ2と
すると、下記となる。
【数１１】 尚、一般的には（Ｍ・Ｗ）／Ｎ（ＭとＮとは整数で素数
の関係、Ｍ＜Ｎ）が可能である。Ｗ／Ｎでの計測を基本
にして行う点で共通する。
の関係、Ｍ＜Ｎ）が可能である。Ｗ／Ｎでの計測を基本
にして行う点で共通する。
【００１８】以上の実施の形態は、ＣＴ計測→移動→Ｃ
Ｔ計測→移動→…のシーケンスとしているが、移動しな
がらＣＴ計測を行うら旋スキャン式のやり方もある。例
えば、Ｗ／２スライス幅の例では、Ｘ線源１とＸ線検出
器４とをＷ／２移動させ、この移動期間中に１回転させ
てＣＴ計測を行う。次にＷ／２移動させ、同じくこの移
動期間中に１回転させてＣＴ計測を行う。このようにし
ても、図３の如きＣＴ計測を行うことができ、仮想計測
値ａ0、ａ1、ａ2、…を得ることができる。他のスライ
ス幅の例でも同様である。
Ｔ計測→移動→…のシーケンスとしているが、移動しな
がらＣＴ計測を行うら旋スキャン式のやり方もある。例
えば、Ｗ／２スライス幅の例では、Ｘ線源１とＸ線検出
器４とをＷ／２移動させ、この移動期間中に１回転させ
てＣＴ計測を行う。次にＷ／２移動させ、同じくこの移
動期間中に１回転させてＣＴ計測を行う。このようにし
ても、図３の如きＣＴ計測を行うことができ、仮想計測
値ａ0、ａ1、ａ2、…を得ることができる。他のスライ
ス幅の例でも同様である。
【００１９】かかる第２の実施の形態での、マルチスラ
イス検出器数を「３」とした時の、ら旋スキャンによる
体軸方向での計測軌跡を図１２に示す。図１２に対して
スライス幅調整（Ｗ／２）をしての仮想計測データ例の
体軸方向での計測軌跡を図１３に示す。即ち、Ｘ線源１
とＸ線検出器４をＷ／２移動させ、この移動期間中に１
回転させてＣＴ計測を行う。この場合の様子を図示した
のが図１２である。ここではある特定の１チャンネルの
みの軌道を示してある。かかる図１２に対して本実施の
形態により、ある角度ｊ、あるチャンネルｉの計測デー
タ例 ｛ｂn（ｉ、ｊ）｜ｎ＝０、１、２…｝から仮想計測値
｛ａn（ｉ、ｊ）｜ｎ＝０、１、２…｝ を求めることができる。図１２の計測データｂnに対し
てａnを求めると図１３のような位置での仮想計測値を
得ることとなる。これは、検出器の幅があたかもＷ／２
であるシステムでら旋スキャンした場合と同じデータ例
である。この仮想計測データを使って画像再構成を行う
ことによりスライス幅がＷ／２の画像を得ることができ
る。このように移動させながら計測する場合に対しても
適用できる。
イス検出器数を「３」とした時の、ら旋スキャンによる
体軸方向での計測軌跡を図１２に示す。図１２に対して
スライス幅調整（Ｗ／２）をしての仮想計測データ例の
体軸方向での計測軌跡を図１３に示す。即ち、Ｘ線源１
とＸ線検出器４をＷ／２移動させ、この移動期間中に１
回転させてＣＴ計測を行う。この場合の様子を図示した
のが図１２である。ここではある特定の１チャンネルの
みの軌道を示してある。かかる図１２に対して本実施の
形態により、ある角度ｊ、あるチャンネルｉの計測デー
タ例 ｛ｂn（ｉ、ｊ）｜ｎ＝０、１、２…｝から仮想計測値
｛ａn（ｉ、ｊ）｜ｎ＝０、１、２…｝ を求めることができる。図１２の計測データｂnに対し
てａnを求めると図１３のような位置での仮想計測値を
得ることとなる。これは、検出器の幅があたかもＷ／２
であるシステムでら旋スキャンした場合と同じデータ例
である。この仮想計測データを使って画像再構成を行う
ことによりスライス幅がＷ／２の画像を得ることができ
る。このように移動させながら計測する場合に対しても
適用できる。
【００２０】本発明の他の実施の形態を説明する。この
新規な形態は、スライス幅方向に１個のＸ線検出器の例
（図２）でははなく、スライス幅方向に２個以上のＸ線
検出器を配置するマルチスライスＸ線検出器に適用する
例である。Ｘ線検出器の配置数をＰとすると、このマル
チスライスＸ線検出器を持つＣＴ装置では、１回のＣＴ
計測でＰ個の断層像を得ることができるのが特徴であ
る。然も、各断層像は、Ｘ線検出器当たりのスライスは
幅Ｗによる断層像である。
新規な形態は、スライス幅方向に１個のＸ線検出器の例
（図２）でははなく、スライス幅方向に２個以上のＸ線
検出器を配置するマルチスライスＸ線検出器に適用する
例である。Ｘ線検出器の配置数をＰとすると、このマル
チスライスＸ線検出器を持つＣＴ装置では、１回のＣＴ
計測でＰ個の断層像を得ることができるのが特徴であ
る。然も、各断層像は、Ｘ線検出器当たりのスライスは
幅Ｗによる断層像である。
【００２１】そこで、本発明では、こうしたマルチスラ
イスＸ線検出器でも、そのスライス幅Ｗよりも狭いスラ
イス幅の断層像を得ることを可能にしたものである。図
７にＰ＝２としたマルチスライスＸ線検出器４０の例を
示す。Ｘ線検出器４０は、同一スライス幅Ｗを持つ２つ
のＸ線検出器要素４１、４２から成る。この２つのＸ線
検出器要素４１、４２は、それぞれ紙面に直交する方向
に扇状に配置した複数のＸ線検出器要素を持つマルチチ
ャンネル形Ｘ線検出器である。かかるＸ線検出器要素４
１、４２を持つＸ線検出器４０を、Ｘ線源１と対向して
回転させることで、１回転でＸ線検出器要素４１、４２
とからそれぞれ隣接する２つのＣＴ計測値を得ることが
でき、要素４１に対応して一つの断層像、要素４２に対
応して一つの断層像、の合計２つの断層像を得ることが
できる。
イスＸ線検出器でも、そのスライス幅Ｗよりも狭いスラ
イス幅の断層像を得ることを可能にしたものである。図
７にＰ＝２としたマルチスライスＸ線検出器４０の例を
示す。Ｘ線検出器４０は、同一スライス幅Ｗを持つ２つ
のＸ線検出器要素４１、４２から成る。この２つのＸ線
検出器要素４１、４２は、それぞれ紙面に直交する方向
に扇状に配置した複数のＸ線検出器要素を持つマルチチ
ャンネル形Ｘ線検出器である。かかるＸ線検出器要素４
１、４２を持つＸ線検出器４０を、Ｘ線源１と対向して
回転させることで、１回転でＸ線検出器要素４１、４２
とからそれぞれ隣接する２つのＣＴ計測値を得ることが
でき、要素４１に対応して一つの断層像、要素４２に対
応して一つの断層像、の合計２つの断層像を得ることが
できる。
【００２２】かかる図７のマルチスライスＸ線検出器４
０に対して、回転・移動制御部１１にて回転・移動の制
御を行わせる。この場合、図２の第１の実施の形態と同
じように各種のスライス幅の断層像を得ることができ
る。特に、移動量をＰＷ／Ｎ（Ｐ＜ＮかつＰとＮとは互
いに素）となる様に選ぶことで検出器が同一の場所を計
測することをなくすことができる。以下、代表的な例を
示す。 （ｉ）、スライス幅（Ｗ／３）の断層像を得る例。 これはＸ線源１とＸ線検出器４０とを（２Ｗ／３）ピッ
チで移動し、各停止点（開始点を含む）で、対向させて
１回転させてＣＴ計測を行うことで実現できる。図８に
そのタイムチャートを示す。スライス幅（Ｗ／３）のＣ
Ｔ計測値α、ｅ 0、ｅ1、ｅ2、…を得る例が示されてい
る。 （ii）、その他の例。 第１の実施の形態と同じように、Ｗ／ＮやＭＷ／Ｎなる
スライス幅のＣＴ計測値を得ることが可能である。
０に対して、回転・移動制御部１１にて回転・移動の制
御を行わせる。この場合、図２の第１の実施の形態と同
じように各種のスライス幅の断層像を得ることができ
る。特に、移動量をＰＷ／Ｎ（Ｐ＜ＮかつＰとＮとは互
いに素）となる様に選ぶことで検出器が同一の場所を計
測することをなくすことができる。以下、代表的な例を
示す。 （ｉ）、スライス幅（Ｗ／３）の断層像を得る例。 これはＸ線源１とＸ線検出器４０とを（２Ｗ／３）ピッ
チで移動し、各停止点（開始点を含む）で、対向させて
１回転させてＣＴ計測を行うことで実現できる。図８に
そのタイムチャートを示す。スライス幅（Ｗ／３）のＣ
Ｔ計測値α、ｅ 0、ｅ1、ｅ2、…を得る例が示されてい
る。 （ii）、その他の例。 第１の実施の形態と同じように、Ｗ／ＮやＭＷ／Ｎなる
スライス幅のＣＴ計測値を得ることが可能である。
【００２３】図９には、スライス検出器数Ｐ＝４の検出
器４１〜４４を持つ例への適用例を示す。スライス幅を
Ｗ／５にする例であり、４Ｗ／５移動毎に停止させて、
１回転によりＣＴ計測を行う。これからＷ／５のスライ
ス幅のＣＴ断層像を得ることができる。更に、第１の実
施の形態と同じように、ピッチ移動期間中に、１回転し
てＣＴ計測を行うやり方もある。以上の実施の形態で、
ピッチ移動幅と求めるスライス幅との関係は一例であっ
て、相互に各種の対応がありうる。仮想計測値の求め方
を工夫するだけで種々の対応が可能である。
器４１〜４４を持つ例への適用例を示す。スライス幅を
Ｗ／５にする例であり、４Ｗ／５移動毎に停止させて、
１回転によりＣＴ計測を行う。これからＷ／５のスライ
ス幅のＣＴ断層像を得ることができる。更に、第１の実
施の形態と同じように、ピッチ移動期間中に、１回転し
てＣＴ計測を行うやり方もある。以上の実施の形態で、
ピッチ移動幅と求めるスライス幅との関係は一例であっ
て、相互に各種の対応がありうる。仮想計測値の求め方
を工夫するだけで種々の対応が可能である。
【００２４】スライス幅を種々狭くする理由は、体軸分
解能を良くすることがある。これについて述べる。スラ
イス幅が大きいと、像がぼやけるとの欠点があるが、一
方では、大きい領域の観察像を得るには利点がある。ス
ライス幅が小さいと、画像の解像度がよくなり、コント
ラストのよい画像が得られるとの利点がある。例えば小
さい領域の観察像を得たい場合に、小さいスライス幅を
設定できるようにしたのが本発明である。然も、スライ
ス幅の設定は、簡単に行える利点を持つ。逆に、種々の
スライス幅のデータをデータ的に得ることができたた
め、体軸分解能を自在に調整可能になるとの利点があ
る。
解能を良くすることがある。これについて述べる。スラ
イス幅が大きいと、像がぼやけるとの欠点があるが、一
方では、大きい領域の観察像を得るには利点がある。ス
ライス幅が小さいと、画像の解像度がよくなり、コント
ラストのよい画像が得られるとの利点がある。例えば小
さい領域の観察像を得たい場合に、小さいスライス幅を
設定できるようにしたのが本発明である。然も、スライ
ス幅の設定は、簡単に行える利点を持つ。逆に、種々の
スライス幅のデータをデータ的に得ることができたた
め、体軸分解能を自在に調整可能になるとの利点があ
る。
【００２５】ここで、本発明でのスライス幅設定法を簡
単に説明する。Ｘ線検出器４、４０のスライス幅Ｗを定
める。このスライス幅Ｗ自体は、コリメータを利用して
行ってもよく、またコリメータを使用せずに、Ｘ線検出
器４、４０の物理的なスライス幅そのものである例もあ
る。かかるスライス幅Ｗに対して、その幅よりも狭いス
ライス幅Ｗiをキーボードやマウス等を介して入力設定
する。この入力設定値Ｗiを満足すべく、移動ピッチ幅
を自動設定する。この自動設定した移動ピッチ幅で、回
転・移動制御部１１は回転移動・計測を行う。
単に説明する。Ｘ線検出器４、４０のスライス幅Ｗを定
める。このスライス幅Ｗ自体は、コリメータを利用して
行ってもよく、またコリメータを使用せずに、Ｘ線検出
器４、４０の物理的なスライス幅そのものである例もあ
る。かかるスライス幅Ｗに対して、その幅よりも狭いス
ライス幅Ｗiをキーボードやマウス等を介して入力設定
する。この入力設定値Ｗiを満足すべく、移動ピッチ幅
を自動設定する。この自動設定した移動ピッチ幅で、回
転・移動制御部１１は回転移動・計測を行う。
【００２６】図１０は、本発明のＸ線ＣＴ装置の他の構
成例図を示す。このＣＴ装置は、図１に比して、操作部
１４、スライス幅可変部１２、スライス加算部１３、再
構成部１５、を持つ点で異なる。操作部１４は、ＣＴ計
測条件や計測部位や計測方法等を指示入力するものであ
り、図１では示していなかったが、図１でも本来存在す
るものである。スライス幅可変部１２は、ＣＴ計測した
データを処理して所望のスライス幅のデータに変換する
数値処理手段である。スライス幅可変部１２は、本発明
の重要な要素である。上記変換とは、図３についてみれ
ばｂからａへの変換処理である。スライス加算部１３
は、スライス幅の大きさを、後発的に厚くする処理であ
る。例えば、Ｗ／２のスライス幅に対して３Ｗ／２のス
ライス幅にするとかの処理である。再構成部１５は、可
変部１２からのデータａやスライス加算部１３からのデ
ータをもとに再構成し、断層画像を得る。図１と対応ず
ければ、スライス幅可変部１２、再構成演算部１５、ス
ライス加算部１３が、図１の画像処理部５に相当する。
図１１は、図１０の処理フローを示す。
成例図を示す。このＣＴ装置は、図１に比して、操作部
１４、スライス幅可変部１２、スライス加算部１３、再
構成部１５、を持つ点で異なる。操作部１４は、ＣＴ計
測条件や計測部位や計測方法等を指示入力するものであ
り、図１では示していなかったが、図１でも本来存在す
るものである。スライス幅可変部１２は、ＣＴ計測した
データを処理して所望のスライス幅のデータに変換する
数値処理手段である。スライス幅可変部１２は、本発明
の重要な要素である。上記変換とは、図３についてみれ
ばｂからａへの変換処理である。スライス加算部１３
は、スライス幅の大きさを、後発的に厚くする処理であ
る。例えば、Ｗ／２のスライス幅に対して３Ｗ／２のス
ライス幅にするとかの処理である。再構成部１５は、可
変部１２からのデータａやスライス加算部１３からのデ
ータをもとに再構成し、断層画像を得る。図１と対応ず
ければ、スライス幅可変部１２、再構成演算部１５、ス
ライス加算部１３が、図１の画像処理部５に相当する。
図１１は、図１０の処理フローを示す。
【００２７】操作部１２より断層画像のスライス幅やそ
の他撮影条件の設定を行い計測を開始する（フロー
Ｆ1）。スライス幅は画像再構成処理後のスライス厚加
算処理（フローＦ7）により厚さを増すことができるた
め、必要なスライス厚の内もっとも薄い値を選択する。
更に、そのスライス幅に対応するＸ線源１とＸ線検出器
４との移動ピッチ量を算出する（フローＦ2）。
の他撮影条件の設定を行い計測を開始する（フロー
Ｆ1）。スライス幅は画像再構成処理後のスライス厚加
算処理（フローＦ7）により厚さを増すことができるた
め、必要なスライス厚の内もっとも薄い値を選択する。
更に、そのスライス幅に対応するＸ線源１とＸ線検出器
４との移動ピッチ量を算出する（フローＦ2）。
【００２８】Ｘ線ＣＴ装置２０では、Ｘ線源１からＸ線
ビームを寝台３上の被検体２に照射し、Ｘ線源１に対し
て扇状に配置されたＸ線検出器４で被検体２を透過した
Ｘ線量を検出する。Ｘ線源１及びＸ線検出器４は被検体
２を一定周期で回転し、データ収集部８はＸ線検出器４
で検出された透過Ｘ線量データを収集する（フロー
Ｆ 3）。この収集に対してスライス幅可変部により数値
処理を施し所望のスライス幅データに変換する（フロー
Ｆ4）。この変換データに対して再構成演算部５で断層
画像が再構成され（フローＦ5）、再構成された断層画
像が表示部９で表示される（フローＦ6）。更に、更な
るスライス幅拡大の要求があれば（フローＦ7）、その
拡大のための加算処理を行う（フローＦ8）。
ビームを寝台３上の被検体２に照射し、Ｘ線源１に対し
て扇状に配置されたＸ線検出器４で被検体２を透過した
Ｘ線量を検出する。Ｘ線源１及びＸ線検出器４は被検体
２を一定周期で回転し、データ収集部８はＸ線検出器４
で検出された透過Ｘ線量データを収集する（フロー
Ｆ 3）。この収集に対してスライス幅可変部により数値
処理を施し所望のスライス幅データに変換する（フロー
Ｆ4）。この変換データに対して再構成演算部５で断層
画像が再構成され（フローＦ5）、再構成された断層画
像が表示部９で表示される（フローＦ6）。更に、更な
るスライス幅拡大の要求があれば（フローＦ7）、その
拡大のための加算処理を行う（フローＦ8）。
【００２９】以上の実施の形態は、いずれも第３世代の
例で説明したが、Ｘ線像検出器を３６０°分配置してＸ
線源のみを回転させる第４世代にも適用できる。
例で説明したが、Ｘ線像検出器を３６０°分配置してＸ
線源のみを回転させる第４世代にも適用できる。
【００３０】
【発明の効果】本発明によれば、スライス幅を種々変更
可能になった。また、スライス幅を小さくできる発明に
よれば体軸分解能の向上をはかることができた。更に、
スライス幅を種々変更可能にできる発明によれば、体軸
分解能が種々設定可能になった。
可能になった。また、スライス幅を小さくできる発明に
よれば体軸分解能の向上をはかることができた。更に、
スライス幅を種々変更可能にできる発明によれば、体軸
分解能が種々設定可能になった。
【図１】本発明のＸ線ＣＴ装置の構成例図である。
【図２】本発明のスライス幅変更の説明図である。
【図３】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図４】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図５】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図６】本発明の仮想測定値ａを得ることのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図７】マルチスライスＸ線検出器を示す図である。
【図８】マルチスライスＸ線検出器を示す図である。
【図９】マルチスライスＸ線検出器を示す図である。
【図１０】本発明のＸ線ＣＴ装置の他の構成例図であ
る。
る。
【図１１】フローチャートである。
【図１２】移動軌跡図である。
【図１３】スライス幅調整による仮想計測値と移動軌跡
図である。
図である。
１ Ｘ線源 ２ 被検体 ３ Ｘ線検出器
Claims (4)
- 【請求項１】 所定のスライス幅を持つファンビームＸ
線を放出するＸ線源と、 被検体を挟んでＸ線源に対向して配置され、対向配置し
た状態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共
に、所定のスライス幅のマルチチャンネルＸ線検出器
と、 互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載し
たベッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い
所定ピッチ距離移動する手段と、 その移動の前後の位置で、互いに対向配置したＸ線源と
Ｘ線検出器とを回転させてＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器
から得られる検出信号を収集する手段と、 この検出信号から上記所定ピッチ相当のスライス幅の検
出データを得る手段と、 この検出データから断層像を再構成する手段と、 を備えるＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項２】 所定のマルチスライス幅を持つファンビ
ームＸ線を放出するＸ線源と、 被検体を挟んでＸ線源に対向いて配置され、対向配置し
た状態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共
に、所定のマルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検
出器と、 互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載し
たベッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い
所定ピッチ距離移動する手段と、 その移動の前後の位置で、互いに対向配置したＸ線源と
Ｘ線検出器とを回転させてＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器
から得られる検出システム号を収集する手段と、 この検出信号から、各マルチスライス部位対応に上記所
定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手段とこ
の検出データから各マルチスライス部位対応の断層像を
再構成する手段と、を備えるＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項３】 所定のマルチスライス幅を持つファンビ
ームＸ線を放出するＸ線源と、 被検体を挟んでＸ線源に対向して配置され、対向配置し
た状態でＸ線源と一緒に被検体の周りを回転すると共
に、所定のマルチスライス幅のマルチチャンネルＸ線検
出器と、 互いに対向するＸ線源とＸ線検出器又は被検体を搭載し
たベッドのいずれか一方を、上記スライス幅よりも狭い
所定ピッチ距離移動する手段と、 その移動と共に、互いに対向配置したＸ線源とＸ線検出
器とを回転させてＣＴ計測を行い、Ｘ線検出器から得ら
れる検出信号を収集する手段と、 この検出信号から、各マルチスライス部位対応に上記所
定ピッチ相当のスライス幅の検出データを得る手段と、 この検出データから各マルチスライス部位対応の断層像
を再構成する手段と、 を備えるＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項４】 上記ピッチ距離移動は、被検体の体軸方
向に、複数回行うものとした請求項１又は２又は３のＸ
線ＣＴ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31981899A JP4538119B2 (ja) | 1998-12-24 | 1999-11-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US10/130,098 US7046758B1 (en) | 1999-11-10 | 2000-11-09 | X-ray CT apparatus |
| PCT/JP2000/007902 WO2001034032A1 (fr) | 1999-11-10 | 2000-11-09 | Tomodensitometre par rayons x |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP37628198 | 1998-12-24 | ||
| JP10-376281 | 1998-12-24 | ||
| JP31981899A JP4538119B2 (ja) | 1998-12-24 | 1999-11-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000237179A true JP2000237179A (ja) | 2000-09-05 |
| JP2000237179A5 JP2000237179A5 (ja) | 2006-09-14 |
| JP4538119B2 JP4538119B2 (ja) | 2010-09-08 |
Family
ID=26569840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31981899A Expired - Fee Related JP4538119B2 (ja) | 1998-12-24 | 1999-11-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4538119B2 (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1021372A (ja) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH1043174A (ja) * | 1996-07-31 | 1998-02-17 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH1075943A (ja) * | 1996-09-04 | 1998-03-24 | Toshiba Corp | マルチスライスｃｔ装置 |
| JPH10248837A (ja) * | 1997-03-14 | 1998-09-22 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH10286253A (ja) * | 1997-02-17 | 1998-10-27 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH11325A (ja) * | 1997-04-21 | 1999-01-06 | General Electric Co <Ge> | 対象物の画像データを作成する方法およびシステム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61154543A (ja) * | 1984-12-27 | 1986-07-14 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｃｔ装置の断層像再構成装置 |
-
1999
- 1999-11-10 JP JP31981899A patent/JP4538119B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH1021372A (ja) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
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