JP3732568B2 - X線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
X線コンピュータ断層撮影装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3732568B2 JP3732568B2 JP08153496A JP8153496A JP3732568B2 JP 3732568 B2 JP3732568 B2 JP 3732568B2 JP 08153496 A JP08153496 A JP 08153496A JP 8153496 A JP8153496 A JP 8153496A JP 3732568 B2 JP3732568 B2 JP 3732568B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slice thickness
- ray
- subject
- slice
- helical scan
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title claims description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 27
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 18
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/027—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis characterised by the use of a particular data acquisition trajectory, e.g. helical or spiral
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Public Health (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、いわゆるヘリカルスキャン方式のX線コンピュータ断層撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
X線コンピュータ断層撮影装置(以下、X線CT装置と略称することがある)は、図6に示すようにX線を曝射するX線管と、X線管に対し被検体をはさんで対向する位置に設けられ被検体を透過したX線を検出する検出器とを有し、これらを一体で回転させることにより被検体をスキャンし、特定スライス位置における多方向からの投影データを収集し、該投影データを再構成することにより断層像を得るものである。
【0003】
このようなX線CT装置により得られた断層像は、被検体の体軸方向に対し所定の厚さを有するX線ビームが被検体の内部を透過した後、同じく体軸方向に所定の検出幅を有する検出器に入射した範囲の情報を含んでいる。この範囲をスライス厚と称する。スライス厚は一般に、回転中心におけるX線ビームの幅で与えられる。またスライス厚は、X線管と被検体との間に介在するスリット40と、被検体と検出器との間に介在するビームトリマ42とを含むX線光学系機構の設定により決定される。いいかえれば操作者は、X線光学的機構の設定を変えることによりスライス厚を所望の値にすることができる。医療分野で用いられるX線CT装置では、診断目的あるいはスキャン所要時間を考慮し複数の値の中から適当なスライス厚の値を選択し(例えば1,2,5,10[mm]の中から2[mm] を選択する)、スライス厚が選択した値になるようにX線光学的機構を設定している。
【0004】
ところで、いわゆるヘリカルスキャン方式の従来のX線CT装置は、図7に示すように、X線管及び検出器が配置される架台回転部を、架台固定部に対しスリップリング装置を介して接続することにより連続的に回転させ且つ被検体を載置した天板を被検体の体軸方向に移動させることにより被検体を、ら旋状にスキャンし、被検体の広範囲の投影データを高速に得るものである。このようなヘリカルスキャン方式の従来のX線CT装置では、あるスライス位置の断層像を再構成するために必要な生データを補間処理により求めている。このため、再構成によって得られた断層像の実効スライス厚(実効スライス厚は既知の手法により求めることができる)が、X線光学的機構により設定したスライス厚よりも大きくなってしまうという問題点がある。実効スライス厚の増加は空間分解能の低下をまねく。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上述した事情に対処すべくなされたもので、その目的は、指定したスライス厚と実効スライス厚とがほぼ等しくなるように好適なスキャン条件を自動的に設定するX線コンピュータ断層撮影装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明によるX線コンピュータ断層撮影装置は、ヘリカルスキャン動作により被検体の多方向からのX線透過情報を収集する収集手段と、前記収集手段により収集されたX線透過情報に基づき前記被検体の特定スライス位置のX線透過情報を補間処理により求め、該被検体の特定スライス位置の断層像を再構成する手段とを有するX線コンピュータ断層撮影装置において、所望のスライス厚を指定する指定手段と、前記指定手段により指定したスライス厚と、補間処理の影響でX線ビーム幅より広い範囲のX線透過情報が含まれることによるスライス厚の増加を加味した実効スライス厚とがほぼ等しくなるように、少なくともX線ビームスリット及びX線ビームトリマのいずれかにより規定されるスライス厚、及び前記ヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチを制御する制御手段とを具備することを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明によるX線コンピュータ断層撮影装置の実施形態を説明する。図1は本実施形態の概略構成を示すブロック図である。本実施形態は、X線管2と検出部4(及びデータ収集装置10)とを含む架台回転部(図示しない)が、被検体P(及び天板6)の周囲を回転するいわゆる第三世代のX線CT装置に本発明を適用したものである。さらに本実施形態のX線CT装置は、いわゆるヘリカルスキャン方式を採用している。すなわち架台回転部は架台固定部(図示しない)に対しスリップリング装置を介して接続され、これにより架台回転部の連続回転が可能であり、かつ、撮影時における架台回転部の連続回転中に天板6を被検体Pの体軸方向(矢印A方向)に移動させることが可能なように構成されている。なお、ヘリカルスキャンを実施するために、静止する被検体Pに対し架台回転部および架台固定部を矢印A方向に移動させるように構成しても良い。
【0008】
X線管2は、高圧発生部8から供給された高電圧電力によりX線を発生し、天板6上に載置された被検体Pに対し扇状のX線ビームを曝射するものである。この扇状のX線ビームは、被検体Pの体軸方向に所定の厚さを有している。この厚さは、X線管2と被検体Pとの間に介在し開口部を有するスリット12により規定される。
【0009】
検出部4は、X線管2の焦点を中心として複数の検出器が円弧状に配列されて成る。これらの検出器は、装置で実現し得る最大のスライス厚のX線ビームを検出するのに十分な被検体Pの体軸方向の検出幅を有し、被検体Pを透過した透過X線を検出する。これにより検出部4は、架台回転部が所定角度回転する間に検出したX線の強度を電気信号(電流)に変換、出力する。検出部4の出力端はデータ収集装置10に接続されている。
【0010】
データ収集装置10は検出部4から出力された電流信号を電圧信号に変換し、さらにそれをA/D変換し、得られたディジタル信号を後段の前処理部21に転送する。前処理部21では、前記のディジタル信号に対して、照射されたX線の強度を補正するリファレンス補正や対数変換、さらに検出素子の感度のばらつきを補正する等の前処理がなされる(この前処理後のデータを生データと呼ぶ)。前処理部21の出力端は、再構成部20に接続されている。
【0011】
画像再構成部20は、データ収集部(DAS)9から出力された生データに対し、画像再構成に必要なフィルタ関数とのコンボリューション演算、バックプロジェクション演算を含む再構成演算を行って被検体Pの断層像を再構成する。また、ヘリカルスキャンで収集された生データに対しては、被検体Pの断層像を再構成したい特定スライス位置における生データを補間処理によって疑似的に生成(以後、疑似生データ)する必要がある。
【0012】
補間処理による疑似生データの生成は、例えば360゜補間法、180゜補間法といった公知の補間方法によるものであり、本実施形態ではこれら2種の補間方法のうちいずれかの補間方法を選択して実行することが可能となっている。
【0013】
例えば360゜補間法について説明する。ヘリカルスキャン方式によれば、図2の(a)に示すように、あるスライス位置においては、そのときのX線源位置に応じた一つの投影角度の生データしか存在しない。そこで、あるスライス位置の断層像の再構成に必要な他の投影角度の生データを、図2の(b)に示すように同一投影角度の前後の生データP1 、P2 に基づく疑似生データPとして次式[1] に従って求め、これを複数投影角度について繰り返すことにより、360゜分の全疑似生データを生成する。なおP1 およびP2 は収集された生データ、L1 およびL2 は生データP1 およびP2 が収集された位置と再構成位置との間の体軸方向の距離である。
【0014】
P=(L2 ・P1 +L1 ・P2 )/(L1 +L2 )…[1]
再構成部20の出力端は表示部22に接続されており、表示部22は再構成部20から出力された被検体Pの断層像を表示する。
【0015】
ここで実効スライス厚について説明する。上述したように、疑似生データは実測された生データから補間処理によって求められる。実測された生データは、X線光学的機構によって設定されたX線ビーム幅に含まれる被検体内のX線透過率情報が含まれている。したがって、補間処理の影響により疑似生データには上記X線ビーム幅よりも広い幅の被検体内のX線透過率情報が含まれることになる。このことは再構成画像の体軸方向の分解能を低下させことにつながる。本実施形態では下記のような実験により実効スライス厚の増加率を事前に求めておく。
(1) 図3の(a)に示すように、例えばコインファントムをヘリカルスキャンし、補間処理を行って断層像を再構成する。
(2) 再構成によって得られた断層像のCT値分布を示すスライスプロフィールを作成する。図3の(b)は作成されたスライスプロフィールの一例を表すグラフである。このグラフの横軸は被検体Pの体軸方向(矢印A方向)の位置、縦軸はその位置のCT値である。
(3) 作成したスライスプロフィールの半値幅を同グラフに示すように実効スライス厚とし、実効スライス厚/X線光学的機構によって設定されたスライス厚×100(%)を実効スライス厚の増加率として算出する。
【0016】
ちなみに、例えば補間方法を360゜補間方法とした場合、実効スライス厚はX線光学的機構(スリット12、ビームトリマ14)によって設定されたスライス厚と比べて、約30%〜40%増加することがわかっている。例えば指定スライス厚を2[mm] とした場合、実効スライス厚は、2.6 〜2.8[mm] になる。また、指定補間方法を180゜補間方法とした場合、実効スライス厚は、同様に約10〜20%増加する。なお、ヘリカルスキャンのピッチは、上記X線光学的機構により規定されるスライス厚と同じ値に設定した場合である。
【0017】
以上のようにして実効スライス厚の増加率が事前に求められる。この実効スライス厚の増加率の値は図示しないデータベースに記憶される。
制御部30は、操作者により指定されたスライス厚及び補間方法に基づき、X線光学的機構により規定されるスライス厚及びヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチの制御を行うものである。制御部30は、算出部32、スリット制御部34、ビームトリマ制御部36、及びスキャンピッチ制御部38を有している。スリット制御部34、ビームトリマ制御部36、スキャンピッチ制御部38は、それぞれ算出部32の出力端に接続されている。またスリット制御部34の出力端はスリット12に接続され、ビームトリマ制御部36の出力端はビームトリマ14に接続され、スキャンピッチ制御部38の出力端は駆動部18に接続されている。駆動部18は寝台16内に設けられており、これにより天板6を矢印A方向にスライドさせることができる。
【0018】
以上のように構成された本実施形態の動作を説明する。図4は、本実施形態の動作を説明するためのフローチャートである。先ずステップS1において、操作者によるスライス厚及び補間方法の指定を行う。指定は、図示しないキーボード等を用いて行う。その入力内容は制御部30内の算出部32に送られる。補間方法については、前述したように360゜補間法、180゜補間法のいずれかを選択できる。なお、これらの補間方法は例えば指定スライス厚等のスキャン条件に応じて自動的に本装置が選択するように構成しても良い。以下、当該ステップにて指定したスライス厚及び補間方法を、それぞれ“指定スライス厚”,“指定補間方法”と称する。
【0019】
次にステップS2において、算出部32は上記したコインファントムの実験により得られた実効スライス厚の増加率を検索する。検索された実効スライス厚の増加率の値は、算出部32からスリット制御部34、ビームトリマ制御部36、及びスキャンピッチ制御部38にそれぞれ出力される。
【0020】
次にステップS3において、これらスリット制御部34、ビームトリマ制御部及びスキャンピッチ制御部38による制御が行われる。スリット制御部34は、指定スライス厚と、実効スライス厚の増加率とに基づき、スリット12の開口幅を制御する。例えばステップS1において、操作者がスライス厚を2[mm] 、補間方法を360゜補間法と指定し、ステップS2において算出部32により実効スライス厚の増加率が30% と算出された場合は、スリット制御部34は、スライス厚が1.3x=2,x=1.5[mm]となるように、スリット12の開口幅を制御する。また、ビームトリマ制御部36は、スリット制御部34と同様にスライス厚が1.5[mm] となるように、ビームトリマ14の開口幅を制御する。これら制御により、X線光学的機構の幾何学的位置関係が適宜調節され、スライス厚が規定される。なおX線光学的機構のうち、スリット12又はビームトリマ14のいずれか一方のみを制御することによりスライス厚を規定するように構成しても良い。
【0021】
スキャンピッチ制御部38は、ヘリカルスキャン動作の際のヘリカルスキャンピッチを制御する。ヘリカルスキャン方式に固有のスキャン条件として、例えば単位時間当たりの被検体(天板)の移動速度[mm/sec]等があるが、本実施形態においては、このようなヘリカルスキャン方式に固有のスキャン条件の一つとして、ヘリカルスキャンピッチ、すなわち架台回転部が一回転する間に、被検体P(天板6)がその体軸方向に移動する移動量(単位は、[mm/回転] )を用いる。このヘリカルスキャンピッチは、被検体P(天板6)と、架台回転部との、体軸方向への相対的移動量として定義される。例えば、静止する被検体P(天板6)に対して架台回転部が回転しながら被検体Pの体軸方向に移動する場合は、架台回転部の一回転当たりの体軸方向への移動量をヘリカルスキャンピッチとする。
【0022】
本実施形態では、当該スキャンピッチを、X線光学的機構により規定するスライス厚に応じ、これと同じ値にする。例えばステップS1において、操作者がスライス厚を2[mm] 、補間方法を360゜補間法と指定し、ステップS2において算出部32により実効スライス厚の増加率が30% と算出され、X線光学的機構によって規定するスライス厚が1.5[mm] である場合はヘリカルスキャンピッチを1.5[mm]/回転とする。そして、スキャンピッチ制御部38は、後のステップS4(ヘリカルスキャン動作)において、ここで決められたヘリカルスキャンピッチに応じて駆動部18を制御する。
【0023】
次にステップS4において、ヘリカルスキャン動作を実施する。ここでは、架台回転部を連続的に回転させながら被検体PにX線を曝射し、且つ(被検体P)天板6を連続的に移動させながら被検体Pの多方向からの生データを収集する。そして、撮影開始位置から撮影終了位置までスキャンを終えた時点でスキャン動作を終了し、ステップS5に移行する。
【0024】
ステップS5において、先ず操作者による再構成位置の指定を行う。再構成位置が指定されると、再構成部20は、ステップS4にて収集された生データに基づき、前述の補間処理により再構成位置における疑似生データを生成し、再構成演算を行って被検体Pの断層像を再構成する。
【0025】
前述したステップS2及びステップS3によれば、実効スライス厚の増加分を予め勘定しこれを打ち消すようにスキャン条件(X線光学的機構により規定されるスライス厚及びヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチ)が設定される。したがって、ここで再構成された断層像は、その実効スライス厚が先に指定したスライス厚(指定スライス厚)とほぼ等しくなる。
【0026】
再構成して得られた断層像は、ステップS6において、表示部22によって表示される。かくして観察者は先に指定した所望のスライス厚(指定スライス厚)と実効スライス厚とがほぼ等しい断層像を観察することができる。
【0027】
ここで、上記説明したステップS3におけるスキャン条件設定のまとめ及びその変形例を述べる。
(1)上記説明したステップS3におけるスキャン条件の設定は、最も好ましい実施態様であって、X線光学的機構によって規定されるスライス厚を制御し、且つ、ヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチを制御することによるものである。
(2)その第1の変形例は、X線光学的機構によって規定されるスライス厚の制御のみを行い、ヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチについては、単に操作者により指定されたスライス厚に応じ、これと同じ値にするものである。
(3)その第2の変形例は、X線光学的機構によって規定されるスライス厚については単に操作者により指定されたスライス厚とし、ヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチのみを制御するものである。例えば、実効スライス厚が30%増加する場合は、この増加分を打ち消すように、ヘリカルスキャンピッチを小とする。
【0028】
以上説明したように、本実施形態によれば、所望のスライス厚を指定すると、指定したスライス厚と実効スライス厚とがほぼ等しくなるように、スキャンの諸条件(X線光学的機構、スキャンピッチ)が自動的に設定される。したがって操作者は、実効スライス厚の増加分を勘定してスライス厚を指定する手間がかからず、その負担を軽減することができる。あるいは、指定したスライス厚に対し実効スライス厚が増加することによる空間分解能の低下を防ぐことができ、画像診断の精度向上に寄与する。なお本発明は、上述した実施形態に限定されず種々変形して実施可能である。例えば上記実施形態では、ヘリカルスキャン方式を採用したいわゆる第三世代のX線CT装置について説明したが、同スキャン方式を採用した他の世代のX線CT装置についても本発明は適用可能である。また図5に示すように、複数チャンネルの検出素子からなる検出器列を2列配置したダブルスライス検出器を具備し、X線光学的機構によりスライス厚を可変とする構成のヘリカルスキャン方式のX線コンピュータ断層撮影装置にも本発明は適用可能である。
【0029】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、指定したスライス厚と実効スライス厚とがほぼ等しくなるように好適なスキャン条件を自動的に設定するX線コンピュータ断層撮影装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるX線コンピュータ断層撮影装置の実施形態の概略構成を示すブロック図。
【図2】上記実施形態に係る補間処理を説明するための図。
【図3】上記実施形態に係るスライスプロフィールを示すグラフ。
【図4】上記実施形態の動作を説明するためのフローチャート。
【図5】上記実施形態の変形例に係るダブルスライス検出器を示す図。
【図6】従来のX線CT装置によるスキャン動作を説明するための図。
【図7】従来のX線CT装置によるヘリカルスキャン動作を説明するための図。
【符号の説明】
2…X線管
4…検出部
6…天板
8…高圧発生部
10…データ収集装置
12…スリット
14…ビームトリマ
16…寝台
18…駆動部
20…再構成部
21…前処理部
22…表示部
30…制御部
32…算出部
34…スリット制御部
36…ビームトリマ制御部
38…スキャンピッチ制御部
Claims (2)
- ヘリカルスキャン動作により被検体の多方向からのX線透過情報を収集する収集手段と、
前記収集手段により収集されたX線透過情報に基づき前記被検体の特定スライス位置のX線透過情報を補間処理により求め、該被検体の特定スライス位置の断層像を再構成する手段とを有するX線コンピュータ断層撮影装置において、
所望のスライス厚を指定する指定手段と、
前記指定手段により指定したスライス厚と、補間処理の影響でX線ビーム幅より広い範囲のX線透過情報が含まれることによるスライス厚の増加を加味した実効スライス厚とがほぼ等しくなるように、少なくともX線ビームスリット及びX線ビームトリマのいずれかにより規定されるスライス厚、及び前記ヘリカルスキャン動作する際のヘリカルスキャンピッチを制御する制御手段とを具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記収集手段は、複数チャンネルの検出素子からなる検出器列を2列配置したダブルスライス検出器を含むことを特徴とする請求項1に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08153496A JP3732568B2 (ja) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
US08/826,505 US5864597A (en) | 1996-04-03 | 1997-04-03 | X-ray computed tomography device and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08153496A JP3732568B2 (ja) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09266904A JPH09266904A (ja) | 1997-10-14 |
JP3732568B2 true JP3732568B2 (ja) | 2006-01-05 |
Family
ID=13748984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP08153496A Expired - Fee Related JP3732568B2 (ja) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5864597A (ja) |
JP (1) | JP3732568B2 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19824496A1 (de) * | 1998-06-02 | 1999-12-09 | Siemens Ag | Vorrichtung mit einem Betriebsparameter, dessen Wert über eine Steuereinheit vorwählbar ist |
DE19832275B4 (de) * | 1998-07-17 | 2006-09-14 | Siemens Ag | Verfahren zur Rekonstruktion von Bildern aus mittels eines CT-Gerätes durch Spiralabtastung des Untersuchungsobjekts gewonnenen Meßwerten und CT-Gerät zur Durchführung des Verfahrens |
JP2001112747A (ja) * | 1999-10-19 | 2001-04-24 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | X線ct装置 |
US6568851B2 (en) * | 2000-10-25 | 2003-05-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray CT scanner |
JP3964615B2 (ja) * | 2000-11-09 | 2007-08-22 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | コリメータ制御方法および装置並びにx線ct装置 |
JP3942142B2 (ja) * | 2000-12-15 | 2007-07-11 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 放射線断層撮影装置およびその方法 |
US7636462B2 (en) * | 2004-09-17 | 2009-12-22 | General Electric Company | Method and system for filtering in medical imaging |
JP5242057B2 (ja) * | 2006-01-12 | 2013-07-24 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置及びx線コンピュータ断層撮影用補正データ生成方法 |
JP4891623B2 (ja) * | 2006-02-02 | 2012-03-07 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
US9339243B2 (en) | 2006-04-14 | 2016-05-17 | William Beaumont Hospital | Image guided radiotherapy with dual source and dual detector arrays tetrahedron beam computed tomography |
US8983024B2 (en) | 2006-04-14 | 2015-03-17 | William Beaumont Hospital | Tetrahedron beam computed tomography with multiple detectors and/or source arrays |
CA2649320C (en) * | 2006-04-14 | 2011-09-20 | William Beaumont Hospital | Tetrahedron beam computed tomography |
EP2026698A4 (en) * | 2006-05-25 | 2016-10-05 | Beaumont Hospital William | REAL-TIME, ONLINE AND OFFLINE TREATMENT DOSE TRACKING AND FEEDBACK PROCESS FOR VOLUMETRIC IMAGE-GUIDED ADAPTIVE RADIATION THERAPY |
JP5345540B2 (ja) * | 2006-09-29 | 2013-11-20 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | フライバイスキャン |
JP5426075B2 (ja) * | 2007-01-31 | 2014-02-26 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
WO2009107658A1 (ja) * | 2008-02-25 | 2009-09-03 | 株式会社 日立メディコ | X線ctスキャンシミュレータ及びx線ct装置 |
EP2521592A4 (en) | 2010-01-05 | 2013-12-18 | Beaumont Hospital William | INTRA-MODULATED ARC THERAPY COMPRISING ROTATION / CONTINUOUS BED MODIFICATION AND SIMULTANEOUS IMAGING WITH CONICAL BEAM |
US9245658B2 (en) * | 2010-05-06 | 2016-01-26 | Eos Imaging | Imaging apparatus and method |
KR101609932B1 (ko) * | 2014-07-02 | 2016-04-06 | (의료)길의료재단 | 굴곡진 가동성 빔 차단 어레이 및 이를 포함하는 cbct |
WO2019027712A1 (en) * | 2017-07-31 | 2019-02-07 | Lawrence Livermore National Security, Llc | DEVICE AND METHOD FOR CONVERGENT X-RAY IMAGING |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4789929A (en) * | 1987-05-14 | 1988-12-06 | Hitachi Medical Corporation | CT system for spirally scanning subject on a movable bed synchronized to X-ray tube revolution |
US5544212A (en) * | 1988-10-20 | 1996-08-06 | Picker International, Inc. | Spiral CT using an integrating interpolator |
US5485493A (en) * | 1988-10-20 | 1996-01-16 | Picker International, Inc. | Multiple detector ring spiral scanner with relatively adjustable helical paths |
US5270923A (en) * | 1989-11-02 | 1993-12-14 | General Electric Company | Computed tomographic image reconstruction method for helical scanning using interpolation of partial scans for image construction |
-
1996
- 1996-04-03 JP JP08153496A patent/JP3732568B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-04-03 US US08/826,505 patent/US5864597A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09266904A (ja) | 1997-10-14 |
US5864597A (en) | 1999-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3732568B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP4490645B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP4439202B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置及び画像ノイズシミュレーション装置 | |
US6141398A (en) | Protocol driven image reconstruction, display, and processing in a multislice imaging system | |
US6990170B2 (en) | X-ray computed tomographic imaging apparatus | |
JP5142664B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP3637074B2 (ja) | ヘリカルスキャン方式のコンピュータ断層撮影装置 | |
US6324247B1 (en) | Partial scan weighting for multislice CT imaging with arbitrary pitch | |
JP2004180715A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2003199739A (ja) | X線コンピュータトモグラフィ装置及びx線コンピュータトモグラフィ方法 | |
JPH08509408A (ja) | 円すい状ビームデータからの画像の再構成 | |
WO2003043499A1 (fr) | Tomodensitometre et procede de preparation d'image tomographique associe | |
JP4346128B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP5022690B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
CN100424725C (zh) | 产生时间内插断层摄影图像的方法和装置 | |
JP4040873B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
JP3466678B2 (ja) | X線ctスキャナ | |
IL138112A (en) | Methods and apparatus for pre-filtering weighting in image reconstruction | |
JP4621425B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
US6307908B1 (en) | System and method for data interpolation in a multislice x-ray computed tomography system | |
JPH05305077A (ja) | X線ct装置 | |
JP4490627B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2004113271A (ja) | 断層撮影装置 | |
JP3350208B2 (ja) | 画像表示装置 | |
JP4176987B2 (ja) | X線ct装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040428 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040511 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040707 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050104 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050304 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051011 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051013 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081021 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091021 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091021 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101021 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |