JPH10286253A

JPH10286253A - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JPH10286253A
Application number: JP9083092A
Authority: JP
Inventors: Katsuyuki Taguchi; 克行田口
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1997-02-17
Filing date: 1997-04-01
Publication date: 1998-10-27
Anticipated expiration: 2017-04-01
Also published as: US6028908A; JP4155529B2

Abstract

(57)【要約】【課題】アキシャル面の高い空間分解能（例えば、
０．３５ｍｍ）と、ヘリカルスキャンでの良好な体軸方
向連続性とを全て満たしたＸ線ＣＴ装置を提供する。【解決手段】ヘリカルスキャンをしつつ検出手段が収
集したデータ（実データ１，２）より細かい細ピッチデ
ータＳＰを生成し、該細ピッチデータＳＰに基づき画像
再構成を行う。このようにすれば、いわゆるＱＱのよう
にアキシャル面の高い空間分解能（例えば、０．３５ｍ
ｍ）と、ヘリカルスキャンでの良好な体軸方向連続性の
両方を満たすことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に係
り、特に螺旋状スキャンを行うＸ線ＣＴ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の被検体の断層面の撮影に使用する
Ｘ線ＣＴ装置（以下、ＣＴと略記する）のスキャン方式
等について簡単に説明する。

【０００３】（１）ファンビーム（シングルスライス）
Ｘ線ＣＴ現在のＣＴの主流は、図３１に示すように、扇状のＸ線
ビーム（ファンビーム）を発生するＸ線焦点と、ファン
状あるいは直線状にＮchチャンネル（例えば１０００チ
ャンネル）の検出素子を１列に並べた検出器とを有する
シングルスライスＣＴである。

【０００４】該シングルスライスＣＴは、前記Ｘ線焦点
と検出器とを一対にして被検体の周囲に回転しながら被
検体を通過したＸ線強度のデータ（投影データと称す
る）を収集する。１回転でＮview回、例えば１０００回
投影データを収集し、このデータに基づき後述の方法で
画像再構成をする。なお、１回のデータ収集を１ビュー
と称し、１ビューにおける１検出素子あるいは検出素子
群のデータを１ビーム、１ビューにおける全ビーム（全
検出素子のデータ）をまとめて実データと称する。

【０００５】（２）２つのスキャン方式（コンベンショ
ナルスキャンとヘリカルスキャン）ＣＴの代表的な２種のスキャン方式について説明する。
第１のスキャン方式は、図３２（Ａ）に示すコンベンシ
ョナルスキャンである。

【０００６】この方式は、目的とする断面（例えば、断
面Ａ）の周囲を１回転するスキャン方式である。複数の
断面（例えば、断面Ａと断面Ｂ）の画像を得たい場合
は、先ず断面Ａの周囲を１回転しながらデータ収集し、
その後、被検体を載せた寝台、或いはＸ線焦点と検出器
を移動して、断面Ｂを回転面にもってくる。その後、断
面Ａと同様に断面Ｂの周囲を１回転しながらデータ収集
する。従って、コンベンショナルスキャン方式は、撮影
範囲が被検体の体軸方向（Ｚ軸方向）に広い場合、およ
び目的とする断面が多い場合には、撮影時間が長くな
る。

【０００７】第２のスキャン方式は、図３２（Ｂ）に示
すヘリカルスキャンである。この方式は、Ｘ線焦点と検
出器とを連続的に回転させながら、その回転と同期させ
て寝台を被検体の体軸方向に移動させてデータ収集す
る。Ｘ線焦点の軌跡が被検体周囲を螺旋状にスキャンす
る。このスキャン方式によると、広範囲を高速にスキャ
ンできる。ここで、座標系を図３１に示すように定義す
る。ＸＹ面がコンベンショナルスキャンでスキャンする
断面Ａ，Ｂに相当し、Ｚ軸方向は被検体の体軸方向であ
り、前述のシングルスライスＣＴではスライス方向と称
される方向である。

【０００８】（３）コンベンショナルスキャンの通常の
画像再構成ＣＴの画像再構成を、図３３（Ａ）〜（Ｄ）を参照しつ
つ簡単に説明する。

【０００９】コンベンショナルスキャンの場合は、以下
の３ステップからなる。ここに、図３３（Ａ）に示すよ
うに、回転中心の矢印の信号のみが存在する被検体を想
定する。

【００１０】[1] データ収集と補正コンベンショナルスキャンでデータ収集する。回転角は
一部しか図示しないが、通常３６０°，１８０°＋ファ
ン角などである。投影データは図３３（Ｂ）に示すよう
になっている。この投影データを、検出器の感度，Ｘ線
強度等の種々の要因を考慮して補正し、生データを得
る。

【００１１】[2] 再構成関数とのコンボリューション演
算それぞれの角度の生データと、再構成関数をコンボリュ
ーションする。コンボリューションデータは図３３
（Ｄ）に示すようになり、もともと存在した信号の周囲
が窪んでいる。

【００１２】[3] 逆投影演算コンボリューションデータを、そのデータを収集したと
きのＸ線の通過パス上の全画素（ピクセル）に加算す
る。図３３（Ｃ）は、ある角度における逆投影演算を示
す。これを必要な角度だけ繰り返すと、元の信号だけが
残る。以上に説明した[2],[3] の処理を合わせて、フィ
ルタ補正逆投影法（コンボルーションバックプロジェク
ション法）と呼ばれる。

【００１３】（４）コンベンショナルスキャンの高分解
能な画像再構成（ＱＱ）空間分解能の向上を実現する方式であり、例えば、空間
分解能を０．５０ｍｍから０．３５ｍｍへ向上させるた
めのいわゆるＱＱ（Quarter-Quarter)と呼ばれる処理に
ついて説明する。

【００１４】図３４（Ａ）はＺ軸方向からアキシャル面
（ＸＹ面）を観察したものである。有効視野直径ＦＯＶ
(Field of View) を５００ｍｍ、検出器のチャンネル数
を１０００チャンネルとすると、前記（３）のコンベン
ショナルスキャンの通常の画像再構成で得られるアキシ
ャル画像の空間分解能は、約０．５０ｍｍである。な
お、ＦＣＤ（Focus-Center-Distance ，Ｘ線焦点−回転
中心間距離），ＦＤＤ（Focus-Detector-Distance 、Ｘ
線焦点−検出器間距離）である。

【００１５】前述の如く通常の空間分解能が約０．５ｍ
ｍであるのに対し、ＱＱは、アキシャル画像の空間分解
能を例えば約０．３５ｍｍに向上する方法であり、以下
にＱＱを説明する。

【００１６】図３５は、チャンネル方向に配列された偶
数個の素子（チャンネル）で構成される検出器を中心線
に対して対称的に取り付けずに、検出器をチャンネル方
向に１／４チャンネル分ずらして取り付けたいわゆるＱ
Ｑオフセット取り付けの状態である。

【００１７】このとき、図３６（Ａ）において、第ｊビ
ューにおける第ｋチャンネルと第ｋ＋１チャンネルの丁
度中間における仮想的な第ｋ＋０．５チャンネルと、第
ｊビューの焦点を結んだパス（上向き太い矢印）は、図
３６（Ｂ）における約半回転した第ｊ＋ｘビューの焦点
と第ｙチャンネルを結んだパス（下向き太い矢印）と一
致する。

【００１８】従って、図３６（Ｂ）の第ｊ＋ｘビューに
おける第ｙチャンネルのデータを図３６（Ａ）の第ｊビ
ューにおける第ｋ＋０．５チャンネルのデータとする。
前述のｊ，ｋ，ｘ，ｙの関係を式で表すと、下記のよう
になる。

【００１９】

【数１】ｙ＝Ｃent ＣＨ×２−（ｋ＋0.5 ）ｘ＝｛[(ｋ＋0.5 −Ｃent ＣＨ）×φ］／［Ｎch×180
］＋0.5 ｝×Ｎview ［∵ φ：Ｎch＝ψ：（ｋ＋0.5 −Ｃent ＣＨ）且つ（180 ＋２ψ）：ｘ＝３６０：Ｎview］（図３７
参照）Ｎview＝１回のビュー数、Ｎch＝チャンネル数、 φ＝ファン角、 ψ＝チャンネルへの角度、Ｃent ＣＨ＝中心チャンネル＝（Ｎch＋0.5 ）／２（Ｑ
Ｑオフセット取り付けの場合、図３５参照）

【００２０】従って、第ｊ＋ｘビューの第ｙチャンネル
のデータから、第ｋチャンネルと第ｋ＋１チャンネルの
間の仮想的な第ｋ＋０．５チャンネルのデータが得られ
ることになる。

【００２１】しかし、上式で例えばＮview＝１０００，
Ｎch＝１０００，ｊ＝１００，ｋ＝７００，φ＝５０°
の場合には、ｙ＝３００チャンネル，ｘ＝５５５．６２
５となって、第６５５．２５５ビューのデータというこ
とになってしまう）。

【００２２】従って、整数部分Ｉｘ＝ｉｎｔ（ｘ）＝６
５５から第６５５ビューにおける第３００チャンネルの
データＤ（６５５，３００）と、第６５６ビューにおけ
る第３００チャンネルのデータＤ（６５６，３００）を
下式に従って補間してデータＴ・Ｄata を得る。

【００２３】

【数２】Ｔ・Ｄata ＝（１−ｗ）×Ｄ（Ｉｘ，ｙ）＋ｗ
×Ｄ（Ｉｘ＋１，ｙ）Ｉｘ＝ｉｎｔ（ｘ），ｗ＝ｘ−Ｉｘ，Ｄ（ｊ，ｋ）：第
ｊビューにおける第ｋチャンネルのデータ対向ビーム（図３６（Ｂ）の符号Ｂo および後述する図
４０（Ｃ）参照）と呼ばれるこのデータを、目的とする
第ｊビューにおける第ｋ＋０．５チャンネルのデータと
する。

【００２４】第ｊビューにおける全検出器素子に挟まれ
る仮想的な０．５，１．５，２．５，３．５，…，ｋ＋
０．５，…，９９９．５チャンネルのデータ（対向ビー
ム）を同様の方法で得る。全チャンネルの対向ビームを
合わせて対向データと称する。ほぼ全ての場合において
ｘは小数になるので、各対向ビームは各々、１チャンネ
ル×２ビューの２データ補間で得られる。これを全Ｎvi
ewに関して繰り返す。

【００２５】上述の方法によって得た、従来の２倍のサ
ンプリング点数（２倍のサンプリング密度）である２×
Ｎchチャンネルのデータを用いて、前記（３）に記載し
た畳み込み処理（コンボリューション）と逆投影処理
（バックプロジェクション）を行い、画像再構成をす
る。前述の如く対向データを２データ補間で得ているた
めに、空間分解能は２倍にまでは到達しないが、１．４
倍である約０．３５ｍｍの空間分解能を得られる。

【００２６】ここで、ＱＱの概念を図３８を用いて再度
説明する。或る第ｊビューのデータを考える。実線で示
す第ｊビューで収集された実データと、１チャンネル×
２ビューの補間で得た点線で示す対向データを互い違い
に挟み込み、図３８の符号Ｍ1 に示すように、２倍の検
出素子数をもつサンプリング密度の高い検出器で収集し
たデータとして画像再構成する。このとき、スキャン方
式はコンベンショナルスキャンなので、実データと対向
データのスライス位置（Ｚ軸方向のサンプリング位置）
は同じである。

【００２７】（５）ヘリカルスキャンの画像再構成前記図３２（Ａ），（Ｂ）に示した２つのスキャン方式
であるコンベンショナルスキャンとヘリカルスキャンの
状態を手前側から見たのが図３９（Ａ），（Ｂ）であ
る。横軸をスライス（Ｚ軸）方向、縦軸を回転位相（角
度）とし、各データのサンプリング位置を矢印で結んで
表している。以下、このような図をスキャン図と称す
る。

【００２８】図３９（Ａ）に示すコンベンショナルスキ
ャンでは、前記[1] のステップに相当する、目的とする
スライス面で必要な３６０°のデータが収集されてお
り、前述のように[1] →[2] →[3] のステップによる画
像再構成ができる。これに対して図３９（Ｂ）に示すヘ
リカルスキャンでは、螺旋状スキャンであるために、目
的とするスライス面においては１ビューしか収集されて
いない。

【００２９】そこで、前記[1] の代わりに、収集した投
影データを補正した生データをＺ軸方向に補間して必要
なデータを得た後、前述の[2] →[3] のフィルタ補正逆
投影法で画像再構成を行う。

【００３０】シングルスライスＣＴにおける代表的な補
間方法は、下記の２種類である。

【００３１】(a) ３６０°補間法３６０°補間法をスキャン図の図４０（Ａ）を使って説
明する。図４０（Ａ）に示すように、目的のスライス位
置を挟み、且つ最も近い同位相の２ビューの実データ
を、スライス面とサンプリング位置との距離の逆比で線
形補間する方法である。

【００３２】例えば、目的とするスライス位置（スライ
ス面のＺ座標）をＺ＝Ｚ0 とすると、このスライス位置
で収集されたデータは位相０°における１ビューだけで
ある。そこで、例えば位相θのデータを得る場合には、
スライス位置の上側の実データ１と、下側の実データ２
を選択し、それぞれの実データをサンプリングしたＺ座
標と目的のスライス位置Ｚ0 の距離（Ｚ座標）の逆比で
各チャンネル毎に線形補間し、補間データを得る。これ
を必要な全位相分繰り返す。

【００３３】図４１に示すように、或る第ｊビューのデ
ータを示したのが図４２である。

【００３４】実データ１における第１，２，３，…，Ｎ
chのデータと、実データ２における第１，２，３，…，
Ｎchのデータをそれぞれ、実データ１と実データ２と目
的とするスライス位置の距離の逆比で補間して補間デー
タを得る。

【００３５】(b) 対向ビーム補間法仮想的なデータである対向データを使う方法である。図
４０（Ｃ）に示すように、焦点が「黒丸」の位置にある
ときに収集した実データの各々の検出素子へのビーム
は、実線矢印のようになっている。このとき、左側のビ
ーム１と、Ｘ線焦点が「白丸」の位置にあるときの点線
のビームとは、同じパスを通過するビームである。この
「白丸」からのビームを対向ビームと称する。

【００３６】同様に、ビーム２と薄灰色（粗いドット）
からの点線のビーム、およびビーム３と濃灰色（濃いド
ット）からのビームは、それぞれ同じパスを通過する対
向ビームである。このように、「黒丸」における全ての
ビームは、対向するビームをもっている。

【００３７】そこで、各ビーム毎に対応する対向ビーム
を白丸→薄灰色（粗いドット）→濃灰色（濃いドット）
の焦点位置のデータから抜き出して仮想的なデータ（対
向データと称する）を形成し、この実データと対向デー
タで線形補間する方法が、対向ビーム補間法である。こ
のとき対向ビームは、下式で与えられる。

【００３８】

【数３】ｙ＝Ｃent ＣＨ×２−ｋｘ＝｛［（ｋ−Ｃent ＣＨ）×φ］／［Ｎch×１８０］
＋１／２｝Ｎview ［∵ φ：Ｎch＝ψ：（ｋ−Ｃent ＣＨ）且つ（１８０＋２ψ）：ｘ＝３６０：Ｎview］（図３
７参照）Ｎview＝１回のビュー数、Ｎch＝チャンネル数、 φ＝ファン角、 ψ＝チャンネルへの角度Ｃent ＣＨ＝中心チャンネル＝（Ｎch＋０．５）／２
（ＱＱオフセット取り付けの場合）

【００３９】従って、第ｊ＋ｘビューの第ｙチャンネル
のデータから、スライス方向に約半回転ズレて第ｋチャ
ンネルと同じパスを通過する仮想的な対向データが得ら
れることになる。

【００４０】前述のＱＱ再構成と異なるのは、ＱＱにお
いては実データのチャンネル間に挟まれるパスの仮想的
なチャンネルのデータを得たのに対し（図３６参照）、
今回は実データのチャンネルと同じパスのデータを得る
ことである（図４３参照）。

【００４１】しかし、上式で例えばＮview＝１０００，
Ｎch＝１０００，ｊ＝１００，ｋ＝７００，φ＝５０°
の場合には、ｙ＝３００．５チャンネル、ｘ＝５５５．
４８６１となって、第６５５．４８６１ビューの第３０
０．５チャンネルのデータということになってしまう。

【００４２】従って、整数部分Ｉｘ＝ｉｎｔ（ｘ）＝６
５５とＩｙ＝ｉｎｔ（ｙ）＝３００から第６５５ビュー
における第３００チャンネルのデータＤ（６５５，３０
０）と第３０１チャンネルのデータＤ（６５５，３０
１）と、第６５６ビューにおける第３００チャンネルの
データ（６５６，３００）と第３０１チャンネルのデー
タＤ（６５６，３０１）を、下式に従って４点補間して
対向データＴ・Ｄata を得る。対向ビームは各々、２チ
ャンネル×２ビューの４データ補間で得られる。

【数４】Ｔ・Ｄata ＝（１−ｗ）×［Ｄ（Ｉx ，Ｉy ）
＋Ｄ（Ｉx ，Ｉy+1 ）］／２＋ｗ×［Ｄ（Ｉx+1 ，Ｉy
）＋Ｄ（Ｉx+1 ，Ｉy+1 ）］／２Ｉx ＝ｉｎｔ（ｘ），ｗ＝ｘ−Ｉx ，Ｉy ＝ｉｎｔ
（ｙ），Ｄ（ｊ，ｋ）：第ｊビューにおける第ｋチャン
ネルのデータ前記図４１は、或る第ｊビューのデータの対向ビーム補
間の概念図である。

【００４３】実データにおける第１，２，３，…，Ｎch
のデータと、上記４点補間によって得た第１，２，３，
…，Ｎchの対向データをそれぞれ、実データと対向デー
タと目的とするスライス位置の距離の逆比で各チャンネ
ルのデータ毎に補間して補間データを得る。

【００４４】前述のように対向データの各ビームは異な
るビューのデータから得られるが、今回スキャン方式が
ヘリカルスキャンであるので、ビュー毎にスライス位置
が異なってくる。従って、図４１のように対向ビームの
スライス位置はチャンネル毎に異なる。

【００４５】この方法では、３６０°補間法が１回転ズ
レたスライス位置のデータ同士で補間しているのに対
し、対向ビーム補間法は実データと対向データのスライ
ス位置のズレは約半回転であるために、スライス方向の
分解能は対向ビーム補間法の方が優れている。但し、ア
キシャル面内の空間分解能は、３６０°補間法ではコン
ベンショナルスキャンと同程度の約０．５０ｍｍ、対向
ビーム補間法では対向データを４点補間で得ているため
に、０．５０ｍｍ以下である。

【００４６】（６）マルチスライスＣＴさて、高精細に広範囲を高速に撮影したいという要求か
ら、図４４（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に示すように、検出
器列を２列，４列，８列というように複数列備えるマル
チスライスＣＴシステムが提案されている。

【００４７】図４４（Ｂ）の４列マルチスライスＣＴを
例にして、幾つか用語を説明する。

【００４８】前記図３４（Ａ）はＺ軸方向から見たもの
で、前述の如く図中の円が有効視野ＦＯＶである。図３
４（Ｂ）はＺ軸に垂直な方向からＺ軸を含む平面を観察
したもので、Ｘ線焦点から検出器素子へ入射するＸ線
が、回転中心を通過するときの（Ｘ線焦点から距離ＦＣ
Ｄの）Ｚ軸方向のビームの厚みを、基本スライス厚Ｔと
する。

【００４９】（７）マルチスライスＣＴにおけるヘリカ
ルスキャンの公知例マルチスライスＣＴにおけるヘリカルスキャンについて
は、下記文献１に記載されている。

【００５０】特開平４−２２４７３６号公報「ＣＴ装
置」荒舘博、南部恭二郎（９０年１２月２５日出願）
（文献１）マルチスライスＣＴにおけるヘリカルピッチＰは、前述
のシングルスライスＣＴにおける基本ピッチの概念を拡
張し、以下の式（１）に示すように検出器列数Ｎと基本
スライス厚Ｔの積、即ち、回転中心におけるトータルス
ライス厚と同じとされている。

【００５１】Ｐ＝Ｎ×Ｔ …（１）以下、ヘリカルピッチを基本スライス厚で割った値でヘ
リカルピッチを表現する。式（１）では、ピッチ４のヘ
リカルスキャンとなる。前記文献１で提案されている、
Ｎ列マルチスライスＣＴでピッチＮでヘリカルスキャン
したときの補間方法の一つは、シングルスライスＣＴの
３６０°補間法を拡張したものである。

【００５２】図４５は、４列マルチスライスＣＴで上の
方法を示すスキャン図である。図４０（Ａ）の３６０°
補間法と同様に、目的とするスライス位置を挟む２つの
実データで補間する方法である。これを隣接補間法と仮
称するが、これについても上記文献１に記載されてい
る。

【００５３】（８）マルチスライスＸ線ＣＴにおけるヘ
リカルスキャンの未公開例公知例ではないが、下記文献２において、下記の３種類
の方法が記載されている。

【００５４】特願平７−３３７１２３号「Ｘ線ＣＴ装
置」田口克行、荒舘博（９５年１２月２５日出願）
（文献２）本発明が解決しようとする問題点ではないが、本方法を
マルチスライスＣＴに適用する際にはこれを一部利用す
るので、内容の概略を記載する。

【００５５】(A) 手段１：高密度サンプリング・スキャ
ン法：４列はＰitch＝２．５，３．５，４．５、２列は
Ｐitch＝１．５第１はヘリカルピッチに関する記載があり、Ｐitch＝
２．５，３．５，４．５などのピッチのヘリカルスキャ
ンにてサンプリング密度を上げる方法について記載があ
る。

【００５６】(B) 手段２：新対向ビーム補間法：対向ビ
ーム同士の内挿補間法第２は対向ビームの利用方法について記載がある。実デ
ータ同士／実データと対向データ／対向データ同士の組
み合わせによる補間方法と、通常のヘリカルピッチ或い
は高密度サンプリング法によるヘリカルピッチとの組み
合わせに関して記載がある。

【００５７】(C1)手段３：フィルタ補間法１（サンプリ
ングデータ・フィルタ処理によるフィルタ補間法） (C2)手段４：フィルタ補間法２（補間データ・重み付け
加算（フィルタ）処理によるフィルタ補間法） (C3)手段５：フィルタ補間法３（仮想的スキャン生デー
タの処理によるフィルタ補間法） (C4)手段６：フィルタ補間法４（再構成ボクセルデータ
の処理によるフィルタ補間法）第３は補間方法に関する記載である。スライス方向にフ
ィルタ処理をする方法について、４つの方法が記載され
ており、通常のヘリカルピッチ或いは高密度サンプリン
グ法によるヘリカルピッチとの組み合わせ、さらには新
対向ビーム補間法との組み合わせに関して記載がある。

【００５８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ＱＱではアキシャル面で０．３５ｍｍ分解能を得られる
が、コンベンショナルスキャンであるためにスライス方
向の連続性が悪く、３次元ボリュームデータを得るには
適さない。一方、ヘリカルスキャンにおける補間付き画
像再構成では体軸方向の連続性が良く、３次元ボリュー
ムデータを得るには適しており、対向ビーム補間法では
体軸方向に高い空間分解能が得られが、アキシャル面の
空間分解能は０．５０ｍｍ以下になってしまう。

【００５９】そこで、本発明の目的は、アキシャル面の
高い空間分解能（例えば、０．３５ｍｍ）と、ヘリカル
スキャンでの良好な体軸方向連続性とを全て満たしたＸ
線ＣＴ装置を提供することである。

【００６０】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に請求項１記載の発明は、Ｘ線ビーム発生源と、該Ｘ線
ビーム発生源が発したＸ線を検出する検出手段と、被検
体が載置される寝台あるいは回転架台を該被検体の体軸
方向に移動させる移動手段と、前記Ｘ線ビーム発生源を
回転させながらＸ線ビームを発生させると共に、前記移
動手段により寝台あるいは回転架台を移動させて前記被
検体をらせん状にスキャンして前記検出手段を介してデ
ータ収集し、画像再構成するＸ線ＣＴ装置において、前
記検出手段が収集したデータのサンプリングピッチより
細かいサンプリングピッチのデータ（細ピッチデータ）
を生成し、該細ピッチデータに基づき画像再構成を行う
ことを特徴とする。

【００６１】請求項１記載の発明によれば、例えば、図
３に示すように、ヘリカルスキャンをしつつ検出手段
（図１の２１，２３等）が収集したデータ（実データ
１，２）より細かい細ピッチデータＳＰを生成し、該細
ピッチデータＳＰに基づき画像再構成を行う。このよう
にすれば、図３８に示したＱＱのようにアキシャル面の
高い空間分解能（例えば、０．３５ｍｍ）と、ヘリカル
スキャンでの良好な体軸方向連続性の両方を満たすこと
ができる。

【００６２】また、請求項２記載の発明は、Ｘ線ビーム
発生源と、該Ｘ線ビーム発生源が発したＸ線を検出する
検出手段と、被検体が載置される寝台あるいは回転架台
を該被検体の体軸方向に移動させる移動手段と、前記Ｘ
線ビーム発生源を回転させながらＸ線ビームを発生させ
ると共に、前記移動手段により寝台あるいは回転架台を
移動させて前記被検体をらせん状にスキャンして前記検
出手段を介してデータ収集し、画像再構成するＸ線ＣＴ
装置において、前記検出手段が収集したデータのサンプ
リング点数より多いサンプリング点数のデータ（多点数
データ）を生成し、該多点数データに基づき画像再構成
を行うことを特徴とする。

【００６３】請求項２記載の発明によれば、被検体をヘ
リカルスキャンをしつつ検出手段（図１の２１，２３
等）がサンプリングした点数（例えば、１０００点）よ
り、点数の多いサンプリングデータ（多点数データ、例
えば、２０００点）を生成し、該多点数データに基づき
画像再構成を行う。このようにすれば、図３８に示した
ＱＱのようにアキシャル面の高い空間分解能（例えば、
０．３５ｍｍ）と、ヘリカルスキャンでの良好な体軸方
向連続性の両方を満たすことができる。

【００６４】また、請求項３記載の発明は、Ｘ線ビーム
発生源と、該Ｘ線ビーム発生源が発したＸ線を検出する
検出手段と、被検体が載置される寝台あるいは回転架台
を該被検体の体軸方向に移動させる移動手段と、前記Ｘ
線ビーム発生源を回転させながらＸ線ビームを発生させ
ると共に、前記移動手段により寝台あるいは回転架台を
移動させて前記被検体をらせん状にスキャンして前記検
出手段を介してデータ収集し、画像再構成するＸ線ＣＴ
装置において、前記検出手段を介して収集した第１デー
タ群を、データ処理して第１処理データを生成する第１
処理データ生成手段と、前記検出手段を介して収集した
第２データ群を、データ処理して第２処理データを生成
する第２処理データ生成手段と、前記第１処理データ生
成手段が生成した第１処理データと、前記第２処理デー
タ生成手段が生成した第２処理データとに基づき、第３
処理データを生成する第３処理データ生成手段とを備
え、該第３処理データに基づき画像再構成を行うことを
特徴とする。

【００６５】請求項３記載の発明によれば、例えば、図
２，図３において、ヘリカルスキャンしつつ検出手段を
介して第１データ群（図３の実データ１と実データ２）
を得て、第１処理データ生成手段［補間手段１（２９
Ｃ）］で実データ同士で第１処理データを生成する。同
様に、検出手段を介して第２データ群（図３の対向デー
タ１と対向データ２）を得て、第２処理データ生成手段
［補間手段２（２９Ｆ）］でＱＱの場合と同様にして対
向データ同士で第２処理データを生成する。第３処理デ
ータ生成手段［高密度データ生成手段２９Ｈ］は第１，
第２処理データから高密度のデータを生成する。

【００６６】また、請求項４記載の発明は、前記第１デ
ータ群および第２データ群はそれぞれ２つのデータから
なり、前記第１，第２，第３処理データを生成するデー
タ処理は、補間処理であることを特徴とする。

【００６７】請求項４記載の発明によれば、例えば、図
２，図３に示すように、第１データ群は実データ１と実
データ２の２つのデータ、第２データ群は対向データ１
と対向データ２の２つのデータからなる。そして、デー
タ処理は図３に示す補間処理を行う。

【００６８】また、請求項５記載の発明は、前記第１デ
ータ群および第２データ群はそれぞれ３つ以上のデータ
からなり、前記第１，第２，第３処理データを生成する
データ処理は、フィルタ処理であることを特徴とする。
請求項５記載の発明によれば、例えば、図１３，図１４
に示すように、第１データ群は１〜４列目の実データか
らなり、第２データ群は１〜４列目の対向データからな
る。そして、フィルタ手段１（２９Ｌ），フィルタ手段
２（２９Ｍ）によりフィルタ処理して処理データを生成
する。

【００６９】また、請求項６記載の発明は、前記第１デ
ータ群は実データ群であり、前記第２データ群は対向デ
ータ群であることを特徴とする。

【００７０】また、請求項７記載の発明は、前記第１処
理データ又は第２処理データ又は第３処理データの少な
くとも一つに対して、処理に伴うボケを回復するDeblur
ing処理をチャンネル方向に施すことを特徴とする。ま
た、請求項８記載の発明は、前記第１処理データ又は第
２処理データ又は第３処理データの少なくとも一つを生
成する際に、処理に伴うボケを回復するDebluring 処理
をスライス方向に施すことを特徴とする。

【００７１】請求項７および請求項８記載の発明によれ
ば、処理データについてDebluring処理をチャンネル方
向に施せば、スライス方向の空間分解能を向上させるこ
とができる。

【００７２】また、請求項９記載の発明は、前記被検体
のスライス方向に複数の検出器列を持つことを特徴とす
る。請求項９記載の発明によれば、例えば、図４４に示
すように、複数の検出器列を持っている。この構成にす
ると、例えば図１１，図１２に示すように、シングルス
ライスの場合よりもスライス方向の被検体の変化の影響
を受けにくくなり、高密度データで再構成した画像は画
質が良く、スライス方向の空間分解能も高くなる。

【００７３】また、請求項１０記載の発明は、高密度サ
ンプリング・スキャン法によってヘリカルスキャンを行
うことを特徴とする。請求項１０記載の発明によれば、
図１７，図１８に示すように、例えばピッチ２．５でヘ
リカルスキャンを行い、高密度のサンプリングデータを
得る。

【００７４】また、請求項１１記載の発明は、Ｘ線ビー
ム発生源と、該Ｘ線ビーム発生源が発したＸ線を検出す
る検出手段と、被検体が載置される寝台あるいは回転架
台を該被検体の体軸方向に移動させる移動手段と、前記
Ｘ線ビーム発生源を回転させながらＸ線ビームを発生さ
せると共に、前記移動手段により寝台あるいは回転架台
を移動させて前記被検体をらせん状にスキャンして前記
検出手段を介してデータ収集し、画像再構成するＸ線Ｃ
Ｔ装置において、前記検出手段を介して収集した第１デ
ータ群を、チャンネル方向に補間処理して高密度な実デ
ータである第１処理データを生成する第１処理データ生
成手段と、前記第１データ群から高密度な対向データで
ある第２処理データを生成する第２処理データ生成手段
と、前記第１処理データおよび前記第２処理データに基
づいてヘリカル補間処理を行い目的とするスライス位置
の第３処理データを生成する第３処理データ生成手段と
を備え、該第３処理データに基づき画像再構成を行うこ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。

【００７５】また、請求項１２記載の発明は、Ｘ線ビー
ム発生源と、該Ｘ線ビーム発生源が発したＸ線を検出す
る検出手段と、被検体が載置される寝台あるいは回転架
台を該被検体の体軸方向に移動させる移動手段と、前記
Ｘ線ビーム発生源を回転させながらＸ線ビームを発生さ
せると共に、前記移動手段により寝台あるいは回転架台
を移動させて前記被検体をらせん状にスキャンして前記
検出手段を介してデータ収集し、画像再構成するＸ線Ｃ
Ｔ装置において、前記検出手段を介して収集した第１デ
ータ群を、チャンネル方向に補間処理して高密度な実デ
ータである第１処理データを生成する第１処理データ生
成手段と、前記第１処理データから高密度な対向データ
である第２処理データを生成する第２処理データ生成手
段と、前記第１処理データおよび前記第２処理データに
基づいてヘリカル補間処理を行い目的とするスライス位
置の第３処理データを生成する第３処理データ生成手段
とを備え、該第３処理データに基づき画像再構成を行う
ことを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。

【００７６】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施形態例
に基づいて説明する。（Ｉ）第１実施形態例図１は本実施形態例を適用した装置のシステム構成図で
あり、図２は図１における補間処理部２９の詳細な構成
図であり、図３は本実施形態例の処理の概念図であり、
図４は本実施形態例の処理の流れを示すフローチャート
図である。

【００７７】図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１０は、
システム制御部１１と、架台・寝台制御部１３と、寝台
移動部１５と、Ｘ線制御装置１７と、高電圧発生装置１
９と、Ｘ線ビーム発生源２１と、検出器２３と、回転架
台２５と、データ収集部２７と、補間処理部２９と、画
像再構成部３１と、表示部３３とを備えている。

【００７８】システム制御部１１は、図示しない入力装
置を用いて入力されたスライス厚、回転速度等のヘリカ
ルスキャン条件の内、回転速度とスライス厚とファン角
度等を架台・寝台制御信号として架台・寝台制御部１３
に対して出力する。

【００７９】また、システム制御部１１は、Ｘ線ビーム
発生を制御するＸ線ビーム発生制御信号をＸ線制御装置
１７に対して出力し、Ｘ線ビームの検出のタイミングを
示す検出制御信号をデータ収集部２７に対して出力す
る。

【００８０】更に、システム制御部１１は、データ収集
のためのデータ収集制御信号をデータ収集部２７に対し
て出力し、補間方法を示す補間制御信号を補間処理部２
９に対して出力する。架台・寝台制御部１３は、システ
ム制御部１１により出力された架台・寝台制御信号を基
に回転架台２５を回転させると共に、寝台移動信号を寝
台移動部１５に対して出力する。

【００８１】寝台移動部１５は、架台・寝台制御部１３
により出力された寝台移動信号を基に、回転架台２５の
１回転当りの寝台１５ａの移動量を求め、この移動量で
寝台１５ａを移動させる。

【００８２】Ｘ線制御装置１７は、システム制御部１１
により出力されたＸ線ビーム発生制御信号を基に、高電
圧発生装置１９による高電圧発生のタイミングを制御す
る。

【００８３】高電圧発生装置１９は、Ｘ線ビーム発生源
２１からＸ線ビームを曝射させるための高電圧をＸ線制
御部１７からの制御信号に従ってＸ線ビーム発生源２１
に供給する。Ｘ線ビーム発生源２１は、高電圧発生装置
１９から供給された高電圧によってＸ線ビームを曝射す
る。

【００８４】検出器２３は、被検体を透過した投影デー
タを収集するシングルスライス検出器である。回転架台
２５は、Ｘ線ビーム発生源２１と検出器２３とを保持す
る。また、回転架台２５は、図示しない架台回転機構に
より、Ｘ線ビーム発生源２１と検出器２３との中間点を
通る回転軸を中心にして回転される。

【００８５】データ収集部２７は、検出器２３により検
出されたＸ線ビーム（実際には検出信号）を、システム
制御部１１により出力されたデータ収集制御信号に対応
させて収集する。補間処理部２９は、データ収集部２７
によって収集されたＸ線ビームを基に、目的のスライス
位置のＸ線ビームを補間する。補間処理部２９は、ＣＰ
Ｕ，メモリ等から構成される。補間処理部２９の詳細構
成を前述の如く図２に示す。

【００８６】画像再構成部３１は、補間処理部２９によ
り補間されたＸ線ビームを基に、画像再構成する。表示
部３３は、画像再構成部３１により再構成された画像を
図示しないモニタ上に表示する。

【００８７】次に本実施形態例の動作を、（１）ＣＴの
概略動作と、（２）補間処理に分けて説明する。（１）概略動作先ず、操作者は図示しない入力装置を用いてヘリカルス
キャン条件を入力する。例えば、以下に示すヘリカルス
キャン条件とする。

【００８８】検出器列数Ｎseg ＝１検出器チャンネル数Ｎch＝１０００検出器のＺ軸方向の回転中心での厚みＤseg ＝２０mm 回転中心でのビームの厚みＮseg ×Ｄseg ＝２０mm 焦点−回転中心間距離ＦＣＤ＝６００mm 焦点−検出器間距離ＦＤＤ＝１２００mm 有効視野直径ＦＯＶ＝５００mm 有効視野角（ファン角） φ＝５０°

【００８９】前記のヘリカルスキャン条件が入力される
とシステム制御部１１は、このヘリカルスキャン条件の
内、回転速度とスライス厚とファン角等を架台・寝台制
御信号として架台・寝台制御部１３に対して出力する。
そして、架台・寝台制御部１３は、この架台・寝台制御
信号を基にして寝台移動信号を寝台移動部１５に対して
出力する。

【００９０】この状態で操作者により寝台開始命令が前
記入力装置から入力されると、システム制御部１１は、
架台・寝台制御部１３に対して診断開始を指示すると共
に、Ｘ線ビーム発生を制御するＸ線ビーム発生制御信号
をＸ線制御装置１７に対して出力する。そして、前記Ｘ
線ビーム発生制御信号に対応させて、Ｘ線制御装置１７
は、高電圧発生装置１９から高電圧を発生させる。

【００９１】これにより、Ｘ線ビーム発生源２１からＸ
線ビームが曝射されると共に、寝台１５ａが寝台移動部
１５により移動され、ヘリカルスキャンによる診断が開
始される。そして、データ収集制御信号がシステム制御
部１１から出力されると、データ収集部２７は、このデ
ータ収集制御信号に対応させて検出器２３からＸ線ビー
ムを検出し、この検出したＸ線ビーム（実際には検出デ
ータ）を補間処理部２９に供給する。

【００９２】Ｘ線ビームが供給されると、補間処理部２
９は、このＸ線ビームを基に、目的のスライス位置のＸ
線ビームを補間する。この補間処理を次の（２）で説明
する。

【００９３】（２）補間処理図３は補間処理の概念図であり、図４は補間処理の流れ
を示すフローチャート図である。図３において、或る位
相θの複数のデータを示す。スライス位置を挟み下側の
実データ１として第ｊビュー、上側の実データ２として
第ｊ＋Ｎviewビューを考える。これらは前述の３６０°
補間法（図４０（Ａ）および図４２参照）で用いられた
データと同様である。

【００９４】更に、スライス位置を挟み下側の対向デー
タ１と上側の対向データ２を考える。

【００９５】第１補間処理補間手段１（２９Ｃ）は実データ１と実データ２とを生
データ記憶部２９Ｂから得て、同データのスライス位置
と目的とするスライス位置との距離の逆比で線形内挿補
間して、目的とするスライス位置の補間データ１を得
て、補間データ１記憶部２９Ｄに記憶させる（図４のス
テップＳ１１）。補間の重みは全チャンネルで一定であ
る。補間データ１は、第１，２，３，…，１０００チャ
ンネル（以下、整数チャンネルとも呼ぶ）のデータとな
る。

【００９６】対向データ生成対向データ生成手段２９Ｅは、生データ記憶部２９Ｂか
ら必要なデータを読み出し、従来例に記載したＱＱ再構
成のときの方法で（図３８参照）、該当する１チャンネ
ル×２ビューのデータを補間して実データのチャンネル
間に挟まれる仮想的チャンネル（以下、この仮想的チャ
ンネルを少数チャンネルとも呼ぶ）の対向データを生成
する。このとき、スライス位置下側の対向データ１と、
スライス位置上側の対向データ２の２つを生成する（図
４のステップＳ１３）。

【００９７】生成された対向データ１と対向データ２
は、第０．５，１．５，…，９９９．５チャンネルのデ
ータとなる。生成された対向データ１と対向データ２
は、スライス方向に補間されていないので、図３には各
チャンネル毎にスライス位置を変えて示している。

【００９８】第２補間処理補間手段２（２９Ｆ）は対向データ１と対向データ２
を、両データのスライス位置と目的とするスライス位置
との距離の逆比で線形補間して、目的とするスライス位
置の補間データ２を得て、補間データ２記憶部２９Ｇに
記憶させる（図４のステップＳ１５）。なお、補間の重
みはチャンネル毎に計算する。補間データ２は、第０．
５，１．５，…，９９９．５チャンネルのデータとな
る。

【００９９】高密度データ生成処理高密度データ生成手段２９Ｈは、補間データ１（整数チ
ャンネルのデータ）を補間データ１記憶部２９Ｄから、
補間データ２（少数チャンネルのデータ）を補間データ
２記憶部２９Ｇからそれぞれ読み出し、各データを互い
違いに挟み込んでサンプリング点数が２倍である補間デ
ータ３を得る（図４のステップＳ１７）。このとき、補
間データ３を構成する個々のデータに対して、新たに１
から２０００（＝２×Ｎch）のチャンネル番号を付与す
る。

【０１００】フィルタ補正逆投影画像再構成部３１で、例えば、通常のフィルタ補正逆投
影法によって画像再構成する（図４のステップＳ１
９）。

【０１０１】得られる画像は、２×Ｎch点のサンプリン
グ点数のデータを用いて画像再構成されているので、ア
キシャル面の空間分解能はＱＱ処理と同様の約０．３５
ｍｍであり、ヘリカルスキャンのデータを利用している
ので、体軸方向の連続性にも優れている。両者の利点を
両立するものである。

【０１０２】本実施形態例ではスライス位置下側の対向
データ１とスライス位置上側の対向データ２を用いて線
形内挿補間して補間データ２を得る例を説明したが、こ
れに限定されるものではない。

【０１０３】例えば、非線形補間でも良いし、中心チャ
ンネルにおいてスライス位置下側の対向データ１と中心
チャンネルにおいてスライス位置上側の対向データ２を
選択し、図５のようにチャンネルによっては外挿補間を
用いても良い。

【０１０４】また、図１において、最大ＦＯＶに対して
被検体が２点鎖線で示すように、小さい場合がある（例
えば、頭部）。このような場合には、図５の右下に示す
ように、チャンネル数を半分（この場合は１０００）に
して補間処理をしてもよい。このようにすれば、小さい
メモリサイズで画像再構成が行え、また、高速に処理す
ることが可能になる。

【０１０５】或いは、図６のようにチャンネル毎に対向
データの選択を変えて、必ず内挿補間になるようにして
も良い。また、本実施形態例では補間処理部と画像再構
成部を別の構成としたが、例えば図７のように画像再構
成部の制御装置が補間処理を行う構成でも良い。

【０１０６】（II）第２実施形態例本実施形態例はチャンネル方向のDebluring 処理の場合
である。本実施形態例の装置のシステム構成は前記第１
実施形態例と同一であり、被検体の投影データを収集す
る検出器はシングルスライス検出器である。

【０１０７】図８は、本実施形態例における補間処理部
２９の詳細な構成である。第１実施形態例における補間
処理部２９の構成に加え、チャンネル方向Debluring 手
段２９Ｊと補間データ４記憶部２９Ｋを備えている。以
下からまでの処理は前記第１実施形態例と同一であ
るので説明は省略する。

【０１０８】第１補間処理対向データ生成第２補間処理高密度データ生成処理以上の〜の処理により、高密度なデータである補間
データ３が得らる。

【０１０９】チャンネル方向Debluring 処理図９は、チャンネル方向Debluring 処理の概念図であ
る。ここで補間データ１，補間データ２，補間データ３
の、サンプリング間隔と各々のサンプリング幅について
考察する。簡単のため、チャンネルは直線状に配列さ
れ、各々の検出素子に対して平行にＸ線ビームが入射し
たものとして以下説明する。

【０１１０】補間データ１と補間データ２は全サンプリ
ング点数はＮchであり、サンプリング間隔はチャンネル
間隔ｄ、各々サンプル点のサンプリング幅もｄである。
これに対し、補間データ３は全サンプリング点数は２Ｎ
chであり、サンプリング間隔はｄ／２でありながら各々
のサンプル点のサンプリング幅はｄである。即ち、これ
らのデータは互いに重複しており冗長さを含んでいるこ
とが分かる。

【０１１１】そこで、この重複による冗長さを回復する
ために、補間データ３に対してチャンネル方向にエンハ
ンス効果を持つボケ回復フィルタでフィルタ処理を行
う。この種の処理はデコンボリューション処理あるいは
Debluring 処理と呼ばれ、同業他社にとってはＱＱ処理
などに伴って良く知られた処理である。ボケ回復フィル
タの一例が下記文献３，４に記載されているが、これに
限定されず、適度に変形したフィルタを利用してもよ
い。

【０１１２】特開昭６１−７４０７１（８４年９月１９
日出願）「Ｘ線ＣＴ装置」堀場勇夫、岩田彰、佐々木
寛、佐藤一弘（文献３）特開昭６１−２９０５７３（８４年６月１９日出願）
「Ｘ線ＣＴ装置」西村博
（文献４）チャンネル方向Debluring 手段２９Ｊは、補間データ３
を読み込み、補間データ３とDebluring フィルタＤＦ・
ＣＨをコンボリューションし、第４補間データを得て、
補間データ４記憶部２９Ｋに記憶させる。第４補間デー
タは、冗長さを回復されたデータである。

【０１１３】フィルタ補正逆投影画像再構成部３１で、通常のフィルタ補正逆投影法によ
って画像再構成する。再構成された画像は、冗長さを回
復された第４補間データを用いているので、より空間分
解能が高い画像である。

【０１１４】前記では、チャンネル方向のDebluring 処
理とフィルタ補正逆投影法の再構成フィルタのコンボリ
ューションを別々に処理したが、同時に行っても良い。
コンボリューション処理は線形処理であるので、データ
Ｄに対してフィルタＦ１とフィルタＦ２を順にコンボリ
ューションするのと、フィルタＦ１とフィルタ１Ｆ２を
コンボリューションしたフィルタＦ３をデータＤに対し
て１回コンボリューションするのとは数学的に等価であ
る。

【０１１５】

【数５】Ｄata ＝Ｆ２＊（Ｆ１＊Ｄ）＝（Ｆ２＊Ｆ１）
＊Ｄ＝Ｆ３＊Ｄ，Ｆ３＝Ｆ２＊Ｆ１従って、上記Debluring 処理で用いるフィルタとフィル
タ補正逆投影法の再構成フィルタを予めコンボリューシ
ョンしたものを用いてデータを処理すれば、コンボリュ
ーション処理が１回で済むので効率的である。

【０１１６】また、上記では補間データ３に対するDebl
uring 処理を説明したが、補間データ２も、対向データ
生成時の１チャンネル×２ビューのデータの補間であ
り、補間によるボケを含んでいる。従って、補間データ
２に対して上述のDebluring 処理とは別に、このボケを
回復するようなDebluring 処理を施しても良い。これは
対向データ１と対向データ２に対して処理しても良い
し、対向データ１と対向データ２を補間して得た補間デ
ータ２に対して処理しても良い。

【０１１７】(III)第３実施形態例本実施形態例はマルチスライスＣＴの場合である。本実
施形態例の装置のシステム構成は前記第１実施形態例と
同一である。但し、４列マルチスライス検出器をもつマ
ルチスライスＣＴシステムとする（図４４（Ｂ）参
照）。

【０１１８】本実施形態例における補間処理部２９の詳
細な構成は、第１実施形態例と同一である。即ち、動作
は異なるが、構成は同一である。

【０１１９】４列マルチスライスＣＴで、Ｐitch＝４で
ヘリカルスキャンすると、或る列の対向ビームは、図１
０（Ａ）や図１１右上図のように、中心チャンネルで、
異なる列の実データのサンプリング位置とほぼ一致する
一連のデータとなる（詳細は前記文献２を参照）。実デ
ータと対向データのサンプリング位置が近くなるので、
これは実データと対向データで補間する際には大きなデ
メリットとなってしまうが、第３実施形態例では、これ
を積極的に利用する。

【０１２０】４列マルチスライスＣＴで収集した或る位
相θの状態を図１１に示す。第ｊビューの４列分の実デ
ータと、第１実施形態例と同様に第ｊ＋ｘビューのデー
タから生成される４列分の対向データと、その１回転
（Ｎviewビュー）後である第ｊ＋Ｎviewビューの４列分
の実データと第ｊ＋ｘ＋Ｎviewの第１，第２のデータか
ら生成される２つの対向データと、１回転前である第ｊ
＋ｘ＋Ｎviewビューの第３，４列のデータから生成され
る２つの対向データの合計８つのデータを示した。本来
データ数は下式だけ存在するが、ここでは一部のみ示し
た。

【０１２１】

【数６】（データ数）＝（ヘリカルスキャンの回転数）
×（検出器列数）×２図１２は第３実施形態例の処理の概念図である。以下に
詳細を説明するが、，，，については前記第１
実施形態例と同様なので説明を省略する。第１実施形態
例と異なるのは、補間手段２９Ｃと対向データ生成手段
２９Ｅが、データ選択手段としての機能が追加されてい
ることである。

【０１２２】実データ１と実データ２の選択（ビュー
と列）補間手段１（２９Ｃ）は、図１１のように複数のビュー
と複数の検出器列の実データの中から、スライス位置を
挟み最も近い２つの実データを選択し、実データ１と実
データ２とする。

【０１２３】第１補間処理対向データ１と対向データ２の生成（チャンネル毎に
独立）対向データ生成手段２９Ｅは、第２補間処理において必
ず内挿補間になるようにスライス位置を挟み最も近い２
つの対向ビームをチャンネル毎に選択する。４列マルチ
スライスＣＴのＰitch＝４のヘリカルスキャンではチャ
ンネル毎のスライス位置のズレが大きいので、全チャン
ネルにわたって連続した対向データを生成するよりも、
チャンネル毎に独立に最適なデータを選択した方がよ
い。

【０１２４】このときと同様に、どのビューのどの検
出器列のデータを使用するか、という選択が必要であ
る。選択した結果に応じて対向データ生成に必要な生デ
ータを生データ記憶部２９Ｂから読み出す。読み出した
データに対して第１実施形態例と同様に１チャンネル×
２ビューの補間処理を行い、対向データ１と対向データ
２を生成する。

【０１２５】図１１では説明のため多くの対向データを
表示したが、これら全てを生成後に選択するのではな
く、選択後に生成する方が効率的である。図１２中に示
した、スライス下側の対向データ１およびスライス上側
の対向データ２を生成する。

【０１２６】第２補間処理高密度データ生成処理フィルタ補正逆投影実データ１と対向データ１および実データ２と対向デー
タ２の中心チャンネルにおけるスライス位置が互いに同
じであるので、とで得られた補間データ１と補間デ
ータ２は、シングルスライスＣＴのときよりもスライス
方向の被写体の変化の影響を受けにくい。従って、その
ような補間データ１と補間データ２から今回生成された
高密度データで再構成した画像は画質の良いものとな
り、スライス方向の空間分解能も高くなる。

【０１２７】なお、本実施形態例では４列マルチスライ
スＣＴにおけるＰitch＝４の例について説明したが、こ
れに限定されるものではない。４列でＰitch＝２として
も良いし、２，３，５，６，７，８，…列など他の列数
でＰitch＝偶数としても良い。即ち、実データと対向デ
ータのスライス位置が中心チャンネル近傍でほぼ等しく
なるように列数とＰitchの関係を決定する。

【０１２８】また、対向データの選択に関しても、外挿
を利用するように選択するなど様々な変形があるのは、
第１実施形態例と同様である。また、前記第２実施形態
例に記載のチャンネル方向のDebluring 処理については
省略したが、これと組み合わせても良い。

【０１２９】（IV）第４実施形態例本実施形態例はマルチチャンネルＣＴにおける、スライ
ス方向フィルタ処理（基本スライス厚を薄くして束ね処
理、Debluring 処理）の場合である。図１３は、本実施
形態例における補間処理部２９のブロック図である。図
２における補間手段１と補間手段２とが、それぞれフィ
ルタ手段１とフィルタ手段２とに置き換えられている。

【０１３０】また、基本スライス厚Ｔをシングルスライ
スＣＴのスライス厚Ｔより小さく、例えばＴ／３にす
る。位相θにおけるスキャンの状態と処理の概念図を図
１４に示す。基本スライス厚Ｔのときの図１１と比較す
ると、図１４ではスライス方向のサンプリング密度が高
まっていることが分かる。

【０１３１】また、元々のデータのスライス方向のサン
プリング幅、即ちスライス厚が薄いので、いわゆるパー
シャルボリューム効果が抑制された良好なデータが得ら
れることが分かる。

【０１３２】今回はこのデータ群の中から３つ以上のデ
ータを選択し、それらをスライス方向に束ね処理あるい
はエンハンス処理するようなフィルタ処理をチャンネル
毎に独立に行う。フィルタ処理の詳細については前記文
献２（特願平７−３３７１２３号「Ｘ線ＣＴ装置」）に
譲るが、高密度サンプリングと組み合わせたフィルタ処
理の概念図を図１５に示す。

【０１３３】束ね処理あるいはエンハンス処理を行うフ
ィルタ関数の形状については、図１６（Ａ）〜（Ｄ）に
幾つかの例を示す。今回は図１６（Ｄ）の低分解能関数
を用いて、多くのデータを束ねるものとする。処理，
は第１実施形態例などと同じであるので、説明を省略
する。

【０１３４】実データ選択フィルタ手段１（２９Ｌ）は、図１４のように複数のビ
ューと複数の検出器列の実データの中から、フィルタ処
理に必要な範囲のスライス位置の実データを複数選択し
（実データ群と呼ぶ）、生データ記憶部２９Ｂから読み
出す。

【０１３５】フィルタ処理１フィルタ手段１（２９Ｌ）は、で選択した実データ群
に対し、制御装置から指示された図１４中に示すフィル
タでチャンネル毎に独立にスライス方向にフィルタ処理
し、補間データ１を得て、補間データ１記憶部２９Ｄに
記憶させる。

【０１３６】フィルタ処理の方法は、前記文献２の第３
実施形態例に記載の実データ群に対して直接処理する方
法でも良いし、文献２の第４実施形態例に記載の実デー
タ群をリサンプリングして得たデータ群に対して処理す
る方法でも良い。

【０１３７】対向データ生成対向データ生成手段２９Ｅは、図１４のように複数のビ
ューと複数の検出器列の実データのデータによって生成
され得る複数の対向データの中から、フィルタ処理に必
要な範囲のスライス位置の対向データを複数選択し（対
向データ群と呼ぶ）、生データ記憶部２９Ｂから必要な
データを読み出す。読み出したデータに対して、第１実
施形態例と同様に１チャンネル×２ビューの補間処理を
行い、対向データ群を生成する。

【０１３８】フィルタ手段２フィルタ手段２（２９Ｍ）は、対向データ生成手段２９
Ｅが生成した対向データ群に対し、制御装置から指示さ
れた図１４中に示すフィルタでチャンネル毎に独立にス
ライス方向にフィルタ処理し、補間データ２を得て、補
間データ２記憶部２９Ｇに記憶させる。フィルタ処理の
方法はに準じる。

【０１３９】高密度データ生成処理フィルタ補正逆投影もともとパーシャル効果の抑制されたデータを用いてお
り、それを低分解能フィルタ関数によってスライス方向
に加算したような補間データ１と補間データ２から高密
度データを生成し、再構成した画像であるので、その画
像はパーシャル効果がきわめて抑制されている。

【０１４０】なお、本実施形態例ではスライス方向に束
ねるようなフィルタを用いたフィルタ処理に関して説明
したが、これに限定されるものではない。スライス方向
の空間分解能を向上するようなフィルタを用いていわゆ
るDebluring 処理を施しても良い。もともとスライス方
向に充分なサンプリング密度が得られているので、Debl
uring 処理による効果は大きい。また、次に説明する第
５実施形態例に記載の高密度サンプリングと組み合わせ
れば、この場合には更に画質が向上する。

【０１４１】また、検出器はマルチスライス検出器であ
る必要はなく、シングルスライスでも良い。また、基本
スライス厚を薄くせず、従来の基本スライス厚を用いて
も良い。また、前記第２実施形態例に記載のDebluring
処理と組み合わせると、アキシャル面の空間分解能も更
に向上する。スライス方向のフィルタ処理においても、
上記のようにDebluring 効果のあるフィルタを用いる
と、アキシャル面，スライス方向ともに高い空間分解能
が得られる。

【０１４２】（Ｖ）第５実施形態例本実施形態例はマルチチャンネルＣＴにおけるヘリカル
ピッチ２．５の場合である。本実施形態例の補間処理部
２９の構成は、前記第４実施形態例と同じである。

【０１４３】今回はヘリカルピッチをＰitch＝２．５と
する高密度サンプリング・スキャン法によるヘリカルス
キャンを行い、基本スライス厚をＴとする。Ｐitch＝
２．５の高密度サンプリング・スキャン法における実デ
ータだけのスキャン図を図１７に示し、実データと（中
心チャンネルの）対向データのスキャン図を図１８に示
す。高密度サンプリング・スキャン法では、スライス方
向のサンプリング密度が増大していることが分かる。

【０１４４】位相θにおけるスキャンの状態を図１９に
示す。Ｐitch＝４のときのスキャンの状態を示す図１１
と比較すると、スライス方向のサンプリング密度が高ま
っていることが分かる。スライス方向のフィルタ処理に
は、図１６（Ａ）の標準的関数を用いる。

【０１４５】処理，，，については第４実施形
態例と同様であるので、説明を省略する。またデータ選
択後のフィルタ処理に関しては第４実施形態例の図１４
と同様であるので省略する。

【０１４６】実データ選択フィルタ手段１（２９Ｌ）は、図１９のように複雑な順
序で配列された複数のビューと複数の検出器列の実デー
タの中からフィルタ処理に必要な範囲のスライス位置の
実データを複数選択し（実データ群と呼ぶ）、生データ
記憶部２９Ｂから読み出す。

【０１４７】フィルタ処理１対向データ生成対向データ生成手段２９Ｅは、図１９のように複雑な順
序で配列された複数のビューと複数の検出器列の実デー
タのデータによって生成され得る複雑な順序で配列され
る複数の対向データの中から、フィルタ処理に必要な範
囲のスライス位置の対向データを複数選択し（対向デー
タ群と呼ぶ）、生データ記憶部２９Ｂから必要なデータ
を読み出す。読み出したデータに対して、前記第１実施
形態例と同様に１チャンネル×２ビューの補間処理を行
い、対向データ群を生成する。

【０１４８】フィルタ処理２高密度データ生成処理フィルタ補正逆投影法基本スライス厚をＴにしたまま、スライス方向に高密度
なサンプリングで得られたデータをフィルタ処理するの
で、高画質な画像となる。

【０１４９】なお、本実施形態例では４列マルチスライ
スＣＴにおけるＰitch＝２．５の例について説明した
が、これに限定されるものではない。Ｐitch＝１．５，
２．０，３．０，３．５，４．５、或いは２列マルチス
ライスにおけるＰitch＝１．５など任意に変形可能であ
る。

【０１５０】一例として、４列でのＰitch＝３．５、Ｐ
itch＝４．５および２列でのＰitch＝１．５のときのス
キャン図を図２０〜図２２および図２３〜図２６に示
す。

【０１５１】また、前記第２実施形態例あるいは第４実
施形態例記載のDebluring 処理と組み合わせても良い。

【０１５２】（VI）第６実施形態例以上説明した第１ないし第５の実施形態例とこれらの変
形例は、予め実データを補間処理およびまたはフィルタ
処理等を施して、目的とするスライス位置の整数チャン
ネルデータである第１補間データを得、また同様に対向
データを補間処理およびまたはフィルタ処理して、目的
とするスライス位置の少数チャンネルデータである第２
補間データを得、これらの第１および第２補間データを
組み合わせて目的スライス位置の高密度データを生成す
るものであった。

【０１５３】しかしながら、本発明は、予めチャンネル
方向に補間処理を施して第１の補間データである高密度
実データおよび第２の補間データである高密度対向デー
タを生成し、これら第１および第２補間データに基づい
て対向ビーム補間処理（ヘリカル補間処理）により目的
とするスライス位置の高密度データを生成することもで
きる。

【０１５４】本第６の実施形態例は、それぞれ補間によ
り高密度の実データおよび対向データを生成したのち、
これらを使用してヘリカル補間により目的とするスライ
ス位置の高密度データを得る場合の実施形態を示すもの
である。

【０１５５】本第６実施形態例が適用されるＸ線ＣＴ装
置のシステム構成は、図１に示したＸ線ＣＴ装置と同様
であるが、補間処理部２９の詳細な構成が異なる。

【０１５６】図２７は図１における補間処理部２９の詳
細な構成図であり、図２８は本実施形態例の処理の概念
図であり、図２９は本実施形態例の処理の流れを示すフ
ローチャート図である。

【０１５７】図２７において、本第６実施形態例の補間
処理部２９は、補間処理部全体を制御する補間処理制御
部２９Ａと、被検体のスキャンにより得られた生データ
を記憶する生データ記憶部２９Ｂと、高密度実データを
生成する高密度実データ生成手段２９Ｑと、高密度対向
データを生成する高密度対向データ生成手段２９Ｐと、
ヘリカル補間手段２９Ｒと、補間データ１記憶部２９Ｄ
と、補間データ２記憶部２９Ｇと、補間データ３記憶部
２９Ｉとを備えて構成されている。

【０１５８】なお、被検体をスキャンして収集された生
データが生データ記憶部２９Ｂに記憶されるまでは、第
１実施形態例と同様であるので、それ以後の処理につい
て説明する。

【０１５９】図２８において、或る位相θの複数のデー
タを示す。スライス位置を挟み下側の実データ１として
第ｊビュー、上側の実データ２として第ｊ＋Ｎviewビュ
ーを考える。これらは前述の３６０°補間法（図４０
（Ａ）および図４２参照）で用いられたデータと同様で
ある。更に、スライス位置を挟み下側の対向データ１と
上側の対向データ２を考える。

【０１６０】（１）第１高密度データ生成処理（実デー
タ）高密度実データ生成手段２９Ｑは、実データ１と実デー
タ２とを生データ記憶部２９Ｂから得て、それぞれの実
データに対して、下式に従う同一ビューの隣接チャンネ
ル間補間を行って、第１高密度データ群ｈｐ１を生成
し、補間データ１記憶部２９Ｄに記憶させる（図２９の
ステップＳ２１）。補間の重みは全チャンネルで一定で
ある。

【０１６１】第ｊビューにおける第ｋチャンネルの実デ
ータをＤ（ｊ，ｋ）とすると、

【数７】ｈｐ１（ｊ，２×ｋ）＝Ｄ（ｊ，ｋ）ｈｐ１（ｊ，２×ｋ−１）＝［Ｄ（ｊ，ｋ−１）＋Ｄ
（ｊ，ｋ）］／２補間データ１は、第１，２，３，…，２０００チャンネ
ルのデータとなる。

【０１６２】（２）第２高密度データ生成処理（対向デ
ータ）高密度対向データ生成手段２９Ｐは、生データ記憶部２
９Ｂから必要なデータを読み出し、奇数チャンネルのデ
ータに対しては、従来例に記載したＱＱ再構成のときの
方法で（図３８参照）、該当する１チャンネル×２ビュ
ーのデータを補間し、偶数チャンネルのデータに対して
は、従来例に記載した対向ビーム補間法で生成したデー
タと同様に、２ビューで収集した２チャンネルのデータ
を用いた４点補間により、それぞれ第２高密度データｈ
ｐ２の生成を行い、補間データ２記憶部２９Ｇに記憶さ
せる（図２９のステップＳ２３）。

【０１６３】（２−１）奇数チャンネル

【数８】ｈｐ２（ｊ，２×ｋ−１）＝（１−ｗ）×Ｄ
（Ｉx,ｙ）＋ｗＤ（Ｉx+1,ｙ）ｙ＝Ｃent ＣＨ×２−（ｋ＋0.5 ）ｘ＝{[( ｋ＋0.5 −Ｃent ＣＨ) ×φ] ／[ Ｎch×180]
＋0.5}×Ｎview Ｉx ＝int （ｘ）ｗ＝ｘ−Ｉx （２−２）偶数チャンネル

【数９】ｈｐ２（ｊ，２×ｋ）＝（１−ｗ）×[ Ｄ( Ｉ
x,Ｉy)＋Ｄ( Ｉx,Ｉy+1)] ／２＋ｗ×[ Ｄ( Ｉx+1,Ｉy)
＋Ｄ( Ｉx+1,Ｉy+1)] ／２ｙ＝Ｃent ＣＨ×２−ｋｘ＝{[( ｋ−Ｃent ＣＨ) ×φ] ／[ Ｎch×180]＋0.5}
×Ｎview Ｉx ＝int （ｘ）ｗ＝ｘ−Ｉx

【０１６４】あるいは、偶数チャンネルのデータは、
（２−１）で得た奇数チャンネルのデータを（１）のよ
うにして補間しても良い。また、第１、第２高密度デー
タの生成順序を逆にして、第２高密度データである高密
度対向データを先に生成し、第１高密度データである高
密度実データの生成を後にしてもよい。

【０１６５】（３）ヘリカル補間処理ヘリカル補間手段２９Ｒは、補間データ１記憶部２９Ｄ
および補間データ２記憶部２９Ｇよりそれぞれ第１高密
度データ（実データ）および第２高密度データ（対向デ
ータ）を読み出して、スライス方向にヘリカル補間し、
目的のスライス位置のデータを作成し補間データ３記憶
部２９Ｉに記憶させる（ステップＳ２５）。補間は、第
１実施形態例のように２点補間でも良いし、第４実施形
態例のようにスライス方向のフィルタ処理でも良い。ま
た、チャンネル方向やスライス方向のボケ回復処理（ D
ebluring処理）を施しても良い。

【０１６６】（４）ファンビーム再構成処理画像再構成部３１は、補間データ３記憶部２９Ｉに記憶
された高密度データを使用して、通常のファンビーム再
構成を行い、画像を得る（ステップＳ１９）。適用する
再構成法は、第１実施形態例に使用したフィルタ補正逆
投影法でも良いし、ファンパラ変換とフーリエ逆変換と
を組み合わせて処理しても良い。

【０１６７】図３０は、本第６実施形態例の変形例を示
すフローチャート図である。第６実施形態例では、それ
ぞれ生データから第１、第２高密度データ生成処理を行
ったが、第１高密度データの生成結果を使用して第２高
密度データを生成することもできる。

【０１６８】（１）第１高密度データ生成処理（実デー
タ）高密度実データ生成手段２９Ｑは、実データ１と実デー
タ２とを生データ記憶部２９Ｂから得て、それぞれの実
データに対して、下式に従う同一ビューの隣接チャンネ
ル間補間を行って、第１高密度データ群ｈｐ３を生成
し、補間データ１記憶部２９Ｄに記憶させる（図３０の
ステップＳ３１）。補間の重みは全チャンネルで一定で
ある。

【０１６９】第ｊビューにおける第ｋチャンネルの実デ
ータをＤ（ｊ，ｋ）とすると、

【数１０】ｈｐ３（ｊ，１）＝Ｄ（ｊ，１）ｈｐ３（ｊ，２×ｋ）＝Ｄ（ｊ，ｋ）ｈｐ３（ｊ，２×ｋ＋１）＝［Ｄ（ｊ，ｋ）＋Ｄ（ｊ，
ｋ＋１）］／２補間データ１は、第１，２，３，…，２０００チャンネ
ルのデータとなる。

【０１７０】（２）第２高密度データ生成処理（対向デ
ータ）高密度対向データ生成手段２９Ｐは、補間データ１記憶
部２９Ｄから必要なデータを読み出し、奇数チャンネル
のデータに対しては、従来例に記載したＱＱ再構成のと
きの方法で（図３８参照）、該当する１チャンネル×２
ビューのデータを補間し、偶数チャンネルのデータに対
しては、従来例に記載した対向ビーム補間法で生成した
データと同様に、２ビューで収集した２チャンネルのデ
ータを用いた４点補間により、それぞれ第２高密度デー
タｈｐ４の生成を行い、補間データ２記憶部２９Ｇに記
憶させる（図３０のステップＳ３３）。

【０１７１】この補間式を以下に示す。

【０１７２】

【数１１】１≦Ｋ≦２×Ｎch（＝２０００）について、ｈｐ４（ｊ，Ｋ）＝ｈｐ３（ｊ＋Ｘ（Ｋ），Ｙ（Ｋ））Ｙ（Ｋ）＝２×Ｎch−Ｋ＋１Ｘ（Ｋ）＝{[( Ｋ−Ｃent ＣＨ) ×φ] ／［Ｎch×180]
＋0.5}×Ｎview Ｃent ＣＨ＝（２×Ｎch＋１）／２こうして得られた第１、第２高密度データ、ｈｐ３，ｈ
ｐ４を使用してヘリカル補間処理（図３０のステップＳ
２５）及び画像再構成処理（図３０のステップＳ１９）
を行うことは、第６実施形態例と同様であるので、以下
の説明を省略する。

【０１７３】以上説明した第６実施形態例およびその変
形例は、第２、３、４、５の各実施形態例と任意に組み
合わせることができる。すなわち、チャンネル方向の D
ebluring処理との組合せ、マルチスライスＣＴ装置への
適用、スライス方向フィルタ処理との組合せ、マルチス
ライスＣＴ装置での高密度サンプリング・スキャン法に
よるヘリカルスキャンなどにも適用することができる。

【０１７４】なお、本発明をマルチスライスＣＴ装置に
適用する場合、実施形態例では検出器列数を４列として
説明したが、４列に限らず２、３、５、６、７、８列
等、任意の検出器列数を備えたマルチスライスＣＴ装置
に適用できることは明らかである。

【０１７５】また、画像再構成法についても、フィルタ
補正逆投影法（コンボリューション法）に限らず、ファ
ンパラ変換による逆投影演算や、高速フーリエ変換（Ｆ
ＦＴ）を用いた逆投影演算、フーリエ変換および逆フー
リエを用いた画像再構成法、ライノグラムによる画像再
構成等、各種の画像再構成法を利用できることは明らか
である。

【０１７６】さらに、実施形態例では、生データから２
倍の密度を有する高密度データを生成したが、２倍に限
らず、３倍、４倍等の密度を有する高密度データを生成
して画像再構成することも本発明の範囲内である。例え
ば３倍密度の高密度データを生成する場合には、少数チ
ャンネルの小数点以下の数を０．３３および０．６７と
し、４倍密度の高密度データを生成する場合には、小数
チャンネルの小数点以下の数を０．２５，０．５および
０．７５とすれば良い。

【０１７７】

【発明の効果】以上説明したように、各請求項記載の発
明によれば、ＱＱ再構成画像と同様に高いアキシャル面
の空間分解能と、ヘリカルスキャンの３６０°補間画像
あるいは対向ビーム補間画像と同様に高い体軸方向の連
続性の、両方を兼ね備えた画像を再構成することが可能
である。

【０１７８】また、チャンネル方向のDebluring 処理に
より、アキシャル面の空間分解能をさらに向上すること
が可能である。この場合、計算時間の増加を防止するこ
とも可能である。

【０１７９】また、マルチスライスＣＴへの適用によ
り、被写体の体軸方向の変化の影響に抑制され、アキシ
ャル面の分解能が更に高く且つ高画質な画像が得られ
る。

【０１８０】また、基本スライス厚の薄化とスライス方
向のフィルタ処理により、さらにパーシャルボリューム
効果が抑制され、しかもアーチファクトの少ない高画質
な画像が得られる。スライス方向のフィルタ処理で選択
するフィルタを低分解能関数とすれば、スタック処理画
像のような高画質な画像が得られる。フィルタを極高分
解能関数としてスライス方向のDebluring 処理を行え
ば、スライス方向の空間分解能をさらに向上することが
できる。

【０１８１】また、高密度サンプリング・スキャン法に
より、アーチファクトの少ない高画質な絵画像が得られ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の各実施形態例を適用するＸ線ＣＴ装置
のシステム構成図である。

【図２】同第１実施形態例における補間処理部のブロッ
ク図である。

【図３】同第１実施形態例における処理の概念図であ
る。

【図４】同第１実施形態例における処理の流れを説明す
るフローチャート図である。

【図５】同第１実施形態例における処理として外挿補間
を用いた場合の概念図である。

【図６】同第１実施形態例における処理として内挿補間
を用いた場合の概念図である。

【図７】同第１実施形態例において画像再構成部の制御
装置が補間処理を行う構成の場合のブロック図である。

【図８】同第２実施形態例における補間処理部のブロッ
ク図である。

【図９】チャンネル方向Debluring 処理の概念図であ
る。

【図１０】４列マルチスライスＣＴ、Ｐitch＝４でヘリ
カルスキャンした場合の或る列の対向ビームを示す図で
ある。

【図１１】右上図が４列マルチスライスＣＴ、Ｐitch＝
４でヘリカルスキャンした場合の或る列の対向ビームを
示す図である。

【図１２】同第３実施形態例の処理の概念図である。

【図１３】同第４実施形態例における補間処理部のブロ
ック図である。

【図１４】同第４実施形態例における位相θのスキャン
の状態と処理の概念図である。

【図１５】高密度サンプリングと組み合わせたフィルタ
処理の概念図である。

【図１６】束ね処理あるいはエンハンス処理を行うフィ
ルタ関数の形状の例を示す図である。

【図１７】Ｐitch＝２．５の高密度サンプリング・スキ
ャン法における実データだけのスキャン図である。

【図１８】Ｐitch＝２．５の高密度サンプリング・スキ
ャン法における実データと（中心チャンネルの）対向デ
ータのスキャン図である。

【図１９】複雑な順序で配列された複数のビューと複数
の検出器列の実データを示す図である。

【図２０】４列マルチスライスＣＴにおけるＰitch＝
３．５のスキャン図である。

【図２１】４列マルチスライスＣＴにおけるＰitch＝
４．５のスキャン図である。

【図２２】基本スライス厚を半分にしてのＰitch＝４．
５のスキャン図である。

【図２３】２列マルチスライスＣＴにおけるＰitch＝
１．５のときのスキャン図である。

【図２４】２列マルチスライスＣＴにおけるピッチ１．
５の場合の対向ビーム補間法を示す図である。

【図２５】４列マルチスライスＣＴにおけるピッチ３．
５の場合の対向ビーム補間法を示す図である。

【図２６】４列マルチスライスＣＴにおけるピッチ４．
５の場合の対向ビーム補間法を示す図である。

【図２７】本発明に係るＸ線ＣＴ装置の第６実施形態に
おける補間処理部のブロック図である。

【図２８】本発明に係るＸ線ＣＴ装置の第６実施形態に
おける処理の概念図である。

【図２９】同第６実施形態例における処理手順を示すフ
ローチャート図である。

【図３０】同第６実施形態例の変形例における処理手順
を示すフローチャート図である。

【図３１】シングルスライスＣＴの概略構成図である。

【図３２】コンベンショナルスキャンとヘリカルスキャ
ンの概念図である。

【図３３】Ｘ線ＣＴ装置の画像再構成を説明する図であ
る。

【図３４】マルチスライスＸ線ＣＴ装置のジオメトリを
説明する図である。

【図３５】ＱＱオフセット取り付けの状態を説明する図
である。

【図３６】ＱＱを説明する図である。

【図３７】ＱＱを説明する図である。

【図３８】ＱＱの概念を説明する図である。

【図３９】コンベンショナルスキャンとヘリカルスキャ
ンにおけるスキャン図である。

【図４０】３６０°補間法を説明する図（Ａ）、対向ビ
ーム補間法を説明する図（Ｂ）、対向ビームを説明する
図（Ｃ）、対向ビームのサンプリング位置を説明する図
（Ｄ）である。

【図４１】或る第ｊビューのデータの対向ビーム補間の
概念図である。

【図４２】３６０°補間法の概念図である。

【図４３】ヘリカルスキャンの対向ビーム補間を説明す
る図である。

【図４４】マルチスライスＣＴの概念図である。

【図４５】４列マルチスライスＣＴに３６０°補間法を
適用した場合のスキャン図である。

【符号の説明】

１３…架台寝台制御部、１５…寝台移動部、２３…検出
器、２７…データ収集部、２９…補間処理部、３１…画
像再構成部。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】Ｘ線ビーム発生源と、該Ｘ線ビーム発生
源が発したＸ線を検出する検出手段と、被検体が載置さ
れる寝台あるいは回転架台を該被検体の体軸方向に移動
させる移動手段と、前記Ｘ線ビーム発生源を回転させな
がらＸ線ビームを発生させると共に、前記移動手段によ
り寝台あるいは回転架台を移動させて前記被検体をらせ
ん状にスキャンして前記検出手段を介してデータ収集
し、画像再構成するＸ線ＣＴ装置において、前記検出手段が収集したデータのサンプリングピッチよ
り細かいサンプリングピッチのデータ（細ピッチデー
タ）を生成し、該細ピッチデータに基づき画像再構成を
行うことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】Ｘ線ビーム発生源と、該Ｘ線ビーム発生
源が発したＸ線を検出する検出手段と、被検体が載置さ
れる寝台あるいは回転架台を該被検体の体軸方向に移動
させる移動手段と、前記Ｘ線ビーム発生源を回転させな
がらＸ線ビームを発生させると共に、前記移動手段によ
り寝台あるいは回転架台を移動させて前記被検体をらせ
ん状にスキャンして前記検出手段を介してデータ収集
し、画像再構成するＸ線ＣＴ装置において、前記検出手段が収集したデータのサンプリング点数より
多いサンプリング点数のデータ（多点数データ）を生成
し、該多点数データに基づき画像再構成を行うことを特
徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】Ｘ線ビーム発生源と、該Ｘ線ビーム発生
源が発したＸ線を検出する検出手段と、被検体が載置さ
れる寝台あるいは回転架台を該被検体の体軸方向に移動
させる移動手段と、前記Ｘ線ビーム発生源を回転させな
がらＸ線ビームを発生させると共に、前記移動手段によ
り寝台あるいは回転架台を移動させて前記被検体をらせ
ん状にスキャンして前記検出手段を介してデータ収集
し、画像再構成するＸ線ＣＴ装置において、前記検出手段を介して収集した第１データ群を、データ
処理して第１処理データを生成する第１処理データ生成
手段と、前記検出手段を介して収集した第２データ群を、データ
処理して第２処理データを生成する第２処理データ生成
手段と、前記第１処理データ生成手段が生成した第１処理データ
と、前記第２処理データ生成手段が生成した第２処理デ
ータとに基づき、第３処理データを生成する第３処理デ
ータ生成手段とを備え、該第３処理データに基づき画像再構成を行うことを特徴
とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】前記第１データ群および第２データ群は
それぞれ２つのデータからなり、前記第１，第２，第３処理データを生成するデータ処理
は、補間処理であることを特徴とする請求項３記載のＸ
線ＣＴ装置。
【請求項５】前記第１データ群および第２データ群は
それぞれ３つ以上のデータからなり、前記第１，第２，第３処理データを生成するデータ処理
は、フィルタ処理であることを特徴とする請求項３記載
のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】前記第１データ群は実データ群であり、
前記第２データ群は対向データ群であることを特徴とす
る請求項３乃至請求項５記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】前記第１処理データ又は第２処理データ
又は第３処理データの少なくとも一つに対して、処理に伴うボケを回復するDebluring 処理をチャンネル
方向に施すことを特徴とする請求項３乃至請求項６記載
のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】前記第１処理データ又は第２処理データ
又は第３処理データの少なくとも一つを生成する際に、処理に伴うボケを回復するDebluring 処理をスライス方
向に施すことを特徴とする請求項３乃至請求項６記載の
Ｘ線ＣＴ装置。
【請求項９】前記被検体のスライス方向に複数の検出
器列を持つことを特徴とする請求項１乃至請求項８記載
のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１０】高密度サンプリング・スキャン法によ
ってヘリカルスキャンを行うことを特徴とする請求項９
記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１１】Ｘ線ビーム発生源と、該Ｘ線ビーム発
生源が発したＸ線を検出する検出手段と、被検体が載置
される寝台あるいは回転架台を該被検体の体軸方向に移
動させる移動手段と、前記Ｘ線ビーム発生源を回転させ
ながらＸ線ビームを発生させると共に、前記移動手段に
より寝台あるいは回転架台を移動させて前記被検体をら
せん状にスキャンして前記検出手段を介してデータ収集
し、画像再構成するＸ線ＣＴ装置において、前記検出手段を介して収集した第１データ群を、チャン
ネル方向に補間処理して高密度な実データである第１処
理データを生成する第１処理データ生成手段と、前記第１データ群から高密度な対向データである第２処
理データを生成する第２処理データ生成手段と、前記第１処理データおよび前記第２処理データに基づい
てヘリカル補間処理を行い目的とするスライス位置の第
３処理データを生成する第３処理データ生成手段とを備
え、該第３処理データに基づき画像再構成を行うことを特徴
とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１２】Ｘ線ビーム発生源と、該Ｘ線ビーム発
生源が発したＸ線を検出する検出手段と、被検体が載置
される寝台あるいは回転架台を該被検体の体軸方向に移
動させる移動手段と、前記Ｘ線ビーム発生源を回転させ
ながらＸ線ビームを発生させると共に、前記移動手段に
より寝台あるいは回転架台を移動させて前記被検体をら
せん状にスキャンして前記検出手段を介してデータ収集
し、画像再構成するＸ線ＣＴ装置において、前記検出手段を介して収集した第１データ群を、チャン
ネル方向に補間処理して高密度な実データである第１処
理データを生成する第１処理データ生成手段と、前記第１処理データから高密度な対向データである第２
処理データを生成する第２処理データ生成手段と、前記第１処理データおよび前記第２処理データに基づい
てヘリカル補間処理を行い目的とするスライス位置の第
３処理データを生成する第３処理データ生成手段とを備
え、該第３処理データに基づき画像再構成を行うことを特徴
とするＸ線ＣＴ装置。