JP4504400B2 - 群管理システム、半導体製造装置、情報処理方法、およびプログラム - Google Patents
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Description
図1は、本実施の形態における群管理システムの概念図である。群管理システムは、例えば、半導体製造装置や、液晶パネル製造装置等の製造装置を管理するシステムである。また、群管理システムは、1以上の半導体製造装置11(半導体製造装置11aから半導体製造装置11n(ただしnは任意数を示す))、サーバ装置12、および1以上のクライアント装置13(クライアント装置13aからクライアント装置13m(ただし、mは任意数を示す))を有する。
本実施の形態にかかる群管理システムは、上記実施の形態にかかる群管理システムにおいて、半導体製造装置が、用力を検出するセンサーが順次出力する情報から、用力情報を順次取得して、サーバ装置に送信するようにし、サーバ装置が、これらの用力情報の中から、所定のタイミングに取得された用力情報のうちの、半導体製造装置が所定の状態である場合に取得された用力情報を取得し、この用力情報を用いて、半導体製造装置の異常を検出するようにしたものである。
11、21 半導体製造装置
12、22 サーバ装置
112、212 用力情報取得部
111 センサー
113、213 送信部
121、221 受信部
122、222 サーバ側判断部
123 サーバ側出力部
124 判断部
125 出力部
131 クライアント側受信部
132 クライアント側出力部
214 状態情報取得部
224 サーバ側取得部
Claims (15)
- 被処理基板に対して所定の半導体製造プロセスを実行する1以上の半導体製造装置と、当該1以上の半導体製造装置と接続されているサーバ装置とを備えた群管理システムであって、
前記半導体製造装置は、
半導体製造プロセスにおいて用いられる1以上の用力についての値を示す情報である用力情報を取得する用力情報取得部と、
前記用力情報取得部が取得した用力情報を前記サーバ装置に送信する送信部とを備え、
前記サーバ装置は、
前記半導体製造装置から送信される用力情報を受信する受信部と、
前記受信部が受信した用力情報が示す用力の値が、所定の値であるか否かを判断するサーバ側判断部と、
前記サーバ側判断部の判断結果に応じた出力を行うサーバ側出力部とを備えた群管理システム。 - 前記用力情報取得部は、自装置の状態を判断し、自装置の状態に応じて前記各用力情報を取得する請求項1記載の群管理システム。
- 前記用力情報取得部は、予め指定されたタイミングであって、自装置の状態が、所定の状態である場合に、前記用力情報を取得する請求項2記載の群管理システム。
- 前記用力情報取得部は、自装置が各用力情報毎に指定された状態である場合に、当該各用力情報を取得する請求項2または請求項3記載の群管理システム。
- 前記半導体製造装置は、自装置の状態を示す情報である状態情報を取得する状態情報取得部をさらに備え、
前記送信部は、前記用力情報取得部が取得した用力情報と、前記状態情報取得部が取得した状態情報とを前記サーバ装置に送信し、
前記受信部は、前記半導体製造装置から送信される用力情報と状態情報とを受信し、
前記サーバ装置は、前記受信部が受信した状態情報に応じて、前記受信部が受信した用力情報を取得するサーバ側取得部をさらに備え、
前記サーバ装置のサーバ側判断部は、前記受信部が受信した用力情報のうちの、前記サーバ側取得部が取得した用力情報が示す用力の値が、所定の値であるか否かを判断する請求項1から請求項4いずれか記載の群管理システム。 - 前記サーバ側取得部は、各半導体製造装置が予め指定されたタイミングに取得した用力情報であって、各半導体製造装置が所定の状態であることを示す状態情報に対応した用力情報を取得する請求項5記載の群管理システム。
- 前記サーバ側取得部は、各半導体製造装置が送信した状態情報が、各用力情報毎に指定された状態であることを示す場合に、当該状態情報に対応した各用力情報を取得する請求項5または請求項6記載の群管理システム。
- 被処理基板に対して所定の半導体製造プロセスを実行する半導体製造装置であって、
半導体製造プロセスにおいて用いられる1以上の用力についての値を示す情報である用力情報を取得する用力情報取得部と、
前記用力情報取得部が取得した用力情報をサーバ装置に送信する送信部とを備えた半導体製造装置。 - 前記用力情報取得部は、自装置の状態を判断し、自装置の状態に応じて前記各用力情報を取得する請求項8記載の半導体製造装置。
- 前記用力情報取得部は、予め指定されたタイミングであって、自装置の状態が、所定の状態である場合に、用力情報を取得する請求項9記載の半導体製造装置。
- 前記用力情報取得部は、自装置が各用力情報毎に指定された状態である場合に、当該各用力情報を取得する請求項9または請求項10記載の半導体製造装置。
- 被処理基板に対して所定の半導体製造プロセスを実行する半導体製造装置において実行される情報処理方法であって、
半導体製造プロセスにおいて用いられる1以上の用力についての値を示す情報である用力情報を取得する用力情報取得ステップと、
前記用力情報取得ステップで取得した用力情報をサーバ装置に送信する送信ステップとを備えた情報処理方法。 - 被処理基板に対して所定の半導体製造プロセスを実行する1以上の半導体製造装置と接続されているサーバ装置において実行される情報処理方法であって、
前記1以上の半導体製造装置から送信される用力情報を受信する受信ステップと、
前記受信ステップで受信した用力情報が示す用力の値が、所定の値であるか否かを判断するサーバ側判断ステップと、
前記サーバ側判断ステップによる判断結果に応じた出力を行うサーバ側出力ステップとを備えた情報処理方法。 - コンピュータに、被処理基板に対して所定の半導体製造プロセスを実行する半導体製造装置が行う処理を実行させるプログラムであって、
コンピュータに、
半導体製造プロセスにおいて用いられる1以上の用力についての値を示す情報である用力情報を取得する用力情報取得ステップと、
前記用力情報取得ステップで取得した用力情報をサーバ装置に送信する送信ステップとを実行させるためのプログラム。 - コンピュータに、被処理基板に対して所定の半導体製造プロセスを実行する1以上の半導体製造装置と接続されているサーバ装置が行う処理を実行させるプログラムであって、
コンピュータに、
前記1以上の半導体製造装置から送信される用力情報を受信する受信ステップと、
前記受信ステップで受信した用力情報が示す用力の値が、所定の値であるか否かを判断するサーバ側判断ステップと、
前記サーバ側判断ステップによる判断結果に応じた出力を行うサーバ側出力ステップとを実行させるためのプログラム。
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