JP4494001B2 - 表示装置の検査方法 - Google Patents
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Description
複数の画素がマトリクス状に配置され、その位置を交点とするようにデータ信号線および走査線が並び、前記データ信号線および走査線のそれぞれに対してドライバ回路にて制御を行っている画像表示装置において、
前記ドライバ回路と前記画素とは、前記データ信号線を介して検査回路に接続され、
前記検査回路は、直列に接続された複数のNAND回路を有し、
前記データ信号線は、それぞれ前記複数のNAND回路のうちいずれか1つの入力に接続され、前記直列に接続されたNAND回路の先頭の入力は電源電圧、後尾の出力は検査端子と接続されていることを特徴とする。
前記検査パルスは、映像信号の入力に従い、前記データ信号線に出力されるパルスであることを特徴とする。
前記検査パルスは全てのデータ信号線においてHigh信号とし、順次Low信号に切り替えることを特徴とする。
前記直列に接続されたNAND回路への前記検査パルスの入力は、全段にわたり同時入力されることを特徴とする。
Claims (2)
- 一の2入力NAND回路の入力部の一方と、他の2入力NAND回路の出力部と、が接続されることにより直列接続された複数の2入力NAND回路と、
前記直列接続された前記複数の2入力NAND回路の先頭の入力部に接続された電源と、
前記直列接続された前記複数の2入力NAND回路の後尾の出力部に接続された検査端子と、
前記複数の2入力NAND回路の入力部の他方に接続された複数の配線と、
前記複数の配線にそれぞれ接続された複数のラッチ回路と、を有する表示装置の検査方法であって、
前記電源から前記複数の2入力NAND回路の先頭の入力部に電源電圧が入力された状態において、前記複数の配線に検査パルスを入力し、
前記検査パルスは、前記複数の配線全ての初期状態をHigh信号とした後、前記複数のラッチ回路からラッチ信号が入力されるごとに、先頭から後尾に向かって順次Low信号に切り替わっていくパルスであり、
(A)前記初期状態から最初のラッチ信号が入力されたときに前記検査端子に出力される波形が反転しない場合は断線又は接触不良があると判断し、
(B)前記初期状態から最初のラッチ信号が入力されたときに前記検査端子に出力される波形が反転するものの、N回目(Nは自然数)のラッチ信号の入力のときに前記検査端子に出力される波形が反転せず、その後のラッチ信号の入力時に前記検査端子に出力される波形が反転する場合は、前記N回目(Nは自然数)のラッチ信号を入力したラッチ回路に異常があると判断することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項1において、
前記(A)で前記断線又は前記接触不良があると判断された場合において、更に順次ラッチ信号を入力して前記検査端子に出力される波形が反転する箇所を特定することにより、前記断線又は前記接触不良の箇所を特定することを特徴とする表示装置の検査方法。
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KR102352610B1 (ko) * | 2015-05-29 | 2022-01-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 드라이버집적회로 및 표시장치 |
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Citations (4)
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---|---|---|---|---|
JPH085709A (ja) * | 1994-06-22 | 1996-01-12 | Kawasaki Steel Corp | 半導体集積回路 |
JPH09218250A (ja) * | 1996-02-14 | 1997-08-19 | Kawasaki Steel Corp | 集積回路及び集積回路テスト方法 |
JP2000047255A (ja) * | 1998-07-27 | 2000-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示パネル |
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Patent Citations (4)
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JPH085709A (ja) * | 1994-06-22 | 1996-01-12 | Kawasaki Steel Corp | 半導体集積回路 |
JPH09218250A (ja) * | 1996-02-14 | 1997-08-19 | Kawasaki Steel Corp | 集積回路及び集積回路テスト方法 |
JP2000047255A (ja) * | 1998-07-27 | 2000-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示パネル |
JP2002174655A (ja) * | 2000-12-07 | 2002-06-21 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の検査方法、電気光学装置の検査用回路、電気光学装置および電子機器 |
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