JP4453527B2 - エキシマランプ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、誘電体を介した放電により紫外光を放射するエキシマランプと、該エキシマランプを収容するランプハウスを具えたエキシマランプ装置に関するものである。
例えば特許文献1などで知られるエキシマランプを搭載したエキシマランプ装置においては、エキシマランプから放射される200nm以下の紫外光を被処理物の表面に照射して、発生したオゾンと透過した紫外光の相乗効果によって、被処理物の表面の有機物等を分解飛散させて洗浄を行う。
図8にこのエキシマランプ装置の概略構成図を示す。ランプハウス90内部にエキシマランプ91が配置されており、該ランプハウス90下面には開口が設けられて紫外光に対して透過性を有する光取り出し窓Mが気密に配設されている。エキシマランプ装置の下部には被処理物Wが処理される処理室92が形成される。ランプハウス90の内部空間は処理室内部空間Pの空間とは光取り出し窓Mを介して気密に区画されており、エキシマランプ91の放射光はこの光取り出し窓Mを介して出射されるようになっている。処理室92内には不図示の被処理物搬送機構が具備されており、ガラス基板などのワークWが係る搬送機構によって搬送される。
エキシマランプ91から放射される紫外光は、放電ガスとしてキセノンガスが使用されている場合は波長172nmの光が放出される。このような波長が短い紫外光を効率よく外部に取り出すため、光取り出し窓Mは200nm以下の紫外線に対して高い透過性を有することが必要で、通常、合成石英ガラスが使用されている。また、ランプハウス90内には、紫外光の損失を防ぐため窒素などの不活性ガスが充填され、酸素濃度が低い状態になるよう維持されている。
上記エキシマランプ装置においては、被処理物である液晶表示装置のガラス基板の大型化につれて、大面積の処理を可能とするよう照射面積の増大化が強く要請されている。このため、ランプハウスと被照射領域を区画するための石英ガラスよりなる光取り出し窓も大きなものが必要とされ、ランプハウス内を充填するための不活性ガスも大量に必要になり、装置の高コスト化やスループット効率の低下を招いている。
このような観点から、低コスト化のために、光取り出し窓を設けず、エキシマランプが被照射領域に臨むよう配置された装置が提案されている(特許文献2参照)。
特開平11−138490号公報 特開2004−113984号公報
図9は、図8で示したエキシマランプ装置において、ランプハウスと被照射領域を区画していた光取り出し窓Mを設けず構造を簡素化して低コスト化を図った装置の一例であり、エキシマランプ91の端部を拡大して示す断面図である。
同図においてエキシマランプ91は、径が異なる外側管912と内側管913とが同軸配置され、管の両端部において閉じられた概略円筒形状の放電容器911を具備しており、外側管912の外周面上には金属線よりなる網状の外側電極914が、内側管913の内周面上に金属板よりなる内側電極915が配置されたものである。内側電極915は半円筒形状の金属板を2つ組合せ構成されており、内側電極915に内接するように給電端子96が接続され、リード線93により引き出されている。ランプハウス90の上部には電源部(不図示)が設けられており、リード線916端部のプラグ94が差込口95に接続されてコネクターが構成されている。
図9に係るエキシマランプ装置ではランプハウス90内部と処理室内部空間Pとの間が連通した状態であるため、処理室内部空間Pで発生した高濃度のオゾンがランプハウス90内部に流入する。オゾンは、反応性の高い活性酸素に比較して長い時間、例えば、空気中での半減期は12時間以上も存在するため、ランプハウス90内部を自由に流過することができる。そして、自然分解や光や熱による分解によって酸素に戻るとき、その場所で活性酸素を生成する。
このため、エキシマランプの構成部材において金属で構成される部材は、高濃度のオゾンやより反応性の高い活性酸素の作用により酸化するおそれがあり、このため金属部材に金属部材表面には耐酸化処理が施される。
しかして、エキシマランプ91の給電端子96と内側電極915の接続面やコネクター(94,95)の接続面などの給電部材の接続面においては、電気的接続を維持するために金属表面を露出させておく必要があり、耐酸化処理することができない。そのため、上記活性酸素の作用で給電部材が酸化すると抵抗値が大きくなって発熱し、リード線93が断線したり、給電端子96やコネクター(94,95)部分が腐食して外れなくなる問題が生じる。ニッケルやニッケル合金など耐酸化性金属材料を用いた場合にも、より反応生成の高い活性酸素によって酸化し、前記問題が発生する。
また、酸化した部材から酸化物の粉が飛散すると処理室内部空間Pに侵入してワークW表面を汚染するおそれもある。
また更には、上記エキシマランプ装置においては、ランプハウス90内部が不活性ガスで充填されていないため、エキシマランプ91から放射された紫外光がランプハウス90内部を照射し、当該ランプハウス90内部で酸素と反応し、新たにオゾンや活性酸素を生成したり、オゾンが分解して活性酸素を生成したりする。このような現象が生じることで給電部材の酸化が促進され、劣化、破損が進行する。
本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、ランプハウスと被照射領域を区画していた光取り出し窓を排除して装置構成を簡素化し、低コスト化を実現できるとともに、ランプ端部近傍に配置された給電部材が活性酸素にさらされることを回避して酸化を防ぎ、当該部材の劣化や破損の発生を低減することができるエキシマランプ装置を提供することを目的とする。
本発明は、上述の目的を達成するために、誘電体を介した放電により紫外光を放射するエキシマランプと、該エキシマランプを収容するランプハウスと、を具備し、前記ランプからの放射光を取り出す開口がランプハウスに形成され、ランプハウス内部空間が被処理物が処理される処理室内部空間と該開口を介して連通してなるエキシマランプ装置であって、前記エキシマランプの少なくとも一方の端部に給電部材が接続されて給電結合部が形成されてなり、ランプハウスの内部に、給電結合部が形成されたランプ端部領域とランプハウス内部空間とを仕切る仕切部材が配設されていることを特徴とする。
また、前記仕切部材が紫外光に対して遮光性を具備していることを特徴とする。
また、前記エキシマランプには、放電容器の端部に紫外光の遮光膜が形成されていることを特徴とする。
また、ランプ端部領域の内部に、オゾン分解物質が配設されていることを特徴とする。
また、前記ランプハウスのランプ端部領域に不活性ガスを流入、充填するガス供給機構を具備したことを特徴とする。
また、前記ランプ端部領域内の圧力と処理室内部空間内の圧力又は大気圧を検出するための圧力検出手段と、制御手段とを具備してなり、前記制御手段は、前記圧力検出手段からの検出信号に基づいて、ランプ端部領域内の圧力が処理室内部空間内の圧力又は大気圧よりも常に高い状態となるよう制御する信号を、ガス供給機構に送信することを特徴とする。
また、前記ランプ端部領域内の圧力と処理室内部空間内の圧力又は大気圧を検出するための圧力検出手段と、制御手段とを具備してなり、前記制御手段は、前記圧力検出手段からの検出信号に基づいて、ランプ端部領域内の圧力が処理室内部空間内の圧力又は大気圧よりも高い場合に前記エキシマランプを点灯させる信号を、ランプ点灯電源に送信することを特徴とする。
また、搬送機構により搬送されてきた被処理物にエキシマ光を照射するエキシマランプ装置であって、前記ランプ端部領域内の圧力と処理室内部空間内の圧力又は大気圧を検出するための圧力検出手段と、制御手段とを具備してなり、前記制御手段は、前記圧力検出手段からの検出信号に基づいて、ランプ端部領域内の圧力が処理室内部空間内の圧力又は大気圧よりも高い場合に被処理物の搬送を可能にする信号を、前記搬送機構に送信することを特徴とする。
本願発明によれば以下の効果が奏される。
(1) ランプハウスと被照射領域を区画する光取り出し窓を排除することで装置構成を簡素化でき、低コスト化を実現できる。また、更なる大面積の処理を可能とするよう照射面積の増大化も容易に実現できるようになる。
(2) ランプハウス内部において、給電結合部が形成されたエキシマランプの端部領域が仕切部材により仕切られているので、処理室内部空間で発生した高濃度のオゾンがエキシマランプ端部の給電結合部近傍に流過することが規制され、オゾンから生成された活性酸素に給電部材がさらされて酸化するという事態を回避することができる。したがって、給電部材の劣化や破損の発生を抑制して、信頼性の高いエキシマランプ装置とすることができる。
(3) また、仕切部材が紫外光に対して遮光性を具備していることで、エキシマランプから放射された紫外光が給電結合部が形成されたエキシマランプの端部近傍を照射することが抑制され、ランプ端部領域で新たにオゾンや活性酸素が形成されることを回避することができる。
(4) また、ランプハウスの給電結合部が形成されたランプ端部領域に不活性ガスを流入、充填することで、当該ランプ端部領域にオゾンが流入することを確実に防止することができ、オゾンから生成された活性酸素に給電部材がさらされること効果的に回避することができる。
図1は本発明のエキシマランプ装置であり、ランプ端部を拡大して示す断面図、図2はA−A’断面図である。このエキシマランプ装置1は、全体が直方体形状の箱型のランプハウス10と処理室内部空間Pに臨むように配置されたエキシマランプ20を具備してなり、当該装置1は、ベース41を介して処理室40上に設置されている。処理室40はコンベアなど不図示の搬送機構が具備されており、ガラス基板などのワークWが搬入、搬出される。また、処理室40の下部にはワークWの処理の際に生じた酸化物などを外部に排出するための排気ダクト42が設けられており、当該処理室40上部には、処理室にガスを供給可能なガス供給口43が設けられている。
ランプハウス10の下面には、開口が設けられており、この開口を介してランプハウス10の内部空間Hが処理室内部空間Pと連続している。エキシマランプ20は、図2で示すように複数本(例えば3本)用意され、ランプ管軸が互いに平行になるようにランプハウス10内に配置されている。エキシマランプ20から紫外光が放射されると、200nm以下の紫外光がワークWの表面に直接照射され、処理室内部空間P内に存在する酸素と反応してオゾンを生成し、紫外光の相乗効果によってワークWの表面に所定の処理が施されるようになる。
図1においてランプハウス10は、ハウジングの側面部分を構成する枠体11と、その上部開口を覆う天板12と、コネクター(27,28)部分を含むエキシマランプ20の端部20a,20bの周囲を取り囲むように配置されたオゾン通過防止用の仕切部材13と、を具備している。仕切部材13は、図1、図2で示すように、エキシマランプ20が貫通した側面部131とランプハウス10の両側縁部において底部を塞ぐよう設けられた底面部132aとからなり、ランプハウス10内においてランプの端部近傍の領域T(以下、「ランプ端部領域T」という。)がランプハウス内部空間Hから区画されることで、処理室内部空間P及びランプハウス内部空間Hで発生したオゾンが直ちにランプ端部領域Tに流入しないよう構成されている。なおここでいう「ランプ端部領域」とは、エキシマランプ20端部及びコネクター(27,28)などランプの外部に設けられた給電部材を含めた、給電結合部が形成された領域である。また、特にエキシマランプ20端部とは放電が形成されない部分(非発光部)の少なくとも一部である。
ここで、図3を参照してエキシマランプ20の構成を説明する。図3は、図1中に示したエキシマランプ20を取り出して示した説明用断面図である。エキシマランプ20の放電容器21は、径が異なる外側管211と内側管212とが同軸配置され、管の端面部213a,213bにおいて閉じられた概略円筒形状に形成されたものである。内側電極22は例えば半円筒形状の金属板が2つ組合されて構成され、内側管212の内周面上に添って配置されている。外側管211の外周面上には金属線よりなる網状の外側電極23が全周にわたって配置されており、これにより一対の電極22,23が放電空間Sと内側管212と外側管211で構成される誘電体層を挟んで対向配置している。
上記エキシマランプ20には、図1で示すように、例えば断面C字型に形成された板バネよりなる給電端子24が、内側電極22に内側から押圧状態に接触して接続されており、係る給電端子24に連設されたリード棒25にリード線26が接続され、ランプの外部に導出された状態になっている。ランプハウス10の上部には電源部(図示省略)が設けられており、プラグ27が電源部の差込口28に接続されてコネクターが構成されている。一方、外側電極23には図示省略のリード線が接続されてアースに接続されている。なお、内側電極22、外側電極23及び給電端子24には、給電のための接触部表面を除いてSiOやAl等の膜が被覆されて耐酸化処理されており、オゾンが発生する雰囲気内に置かれても十分な耐性を具備したものとなっている。
また、このエキシマランプ20には、放電容器21の端面部213a,213bを少なくとも被覆するように、波長200nm以下の紫外光に対して遮光性を有する遮光膜29が設けられている。係る遮光膜29a,29bはランプハウス内においてランプ端部領域Tに紫外光が照射することを防止するものであり、例えば、TiO、CeO、ZnO、BN、などからなる。この遮光膜29a,29bは、少なくとも給電結合部が形成される側のランプ端部に設けられていればよく、非給電結合部側の遮光膜(図1の装置では遮光膜29b)においては形成する必要はない。
このように遮光膜29aを形成することで、ランプの放電容器21を透過してランプ端部領域Tに入射する紫外光を遮光し、ランプ端部領域T内で新たにオゾンが生成されることを防止している。
仕切部材13は、エキシマランプ20の非発光部となる端部20a及び前記リード線26及びコネクター(27,28)を含むランプ端部領域を取り囲むように配設されている。仕切部材13における側面部131は、図2に示すように、例えば2つに分割可能なプレートを突き合わせて構成されており、ランプの非発光部の周囲に位置され、ランプハウス10の内部空間Hにおいてランプ端部領域Tを区画している。一方、底面部132aは、側面部131と枠体11の間を塞ぐように設けられる。非給電部側のランプ端部においては、給電結合部が形成されていないため、仕切部材を設ける必要はないが、ここではベース41に対応する底面部132bが設けられて、ランプハウス内部空間Hと連続した空間となっている。
この仕切部材13は、例えばアルミニウム等の金属、セラミックス、ガラス等により構成でき、紫外光に対して透過性を有するもので構成することも可能である。このような仕切部材13を設けることで、給電結合部が形成されたランプ端部領域T内へのオゾンの侵入を防ぐことができる。
ここで、仕切部材13を紫外光に対して透過性を有するもので構成した場合、ランプ20から放射される紫外光がランプの端部近傍の領域を照射することがあり、ランプの端部領域Tにある酸素と反応してオゾンや活性酸素が生成することがあると考えられる。そのような事態を回避するため、例えば、仕切部材を紫外光に対して不透過性の部材で構成すると、紫外光が遮光されて上記ランプ端部領域内でオゾンが発生することを好適に回避できる。この場合の仕切部材は、波長200nm以下の紫外光に対して遮光性を備えた材質であればよい。このような構成によれば、紫外光がランプの発光管を透過してランプ端部領域に入射するのが防止されるので、このランプ端部領域内においてオゾンが発生したり、このオゾンが分解して活性酸素が発生したり、酸素から直接活性酸素が発生するという事態を防止できる。その結果、ランプの給電部を構成する金属部材が活性酸素に触れて腐食が生じるという問題を回避できる。
なお、仕切部材13、とりわけ側面部131の処理室側表面に反射機能を持たせると、ランプ端部近傍の照度低下を抑えることができるのでより望ましい。反射機能を具備させる手段としては、例えば、アルミニウムの表面にSiOやAlなどの光透過膜をコートしたものなどを用いることが望ましい。
側面部131の開口部131aには、図1、図2から分かるように、開口縁部とランプ20との間に微小間隙dが形成されている。この間隙dは、エキシマランプ20の点灯中に放電容器21や仕切部材13が加熱して半径方向に膨張した場合に、その膨張分を吸収するものである。また、ランプハウス自身も長いため、ランプ軸方向に熱膨張した場合に歪(曲がり)等も発生する。その歪によってエキシマランプに曲げの力を掛けないようにするためである。このような間隙dは、過大である場合は処理室内部空間Pで発生したオゾンがランプ端部領域Tに流入し易くなるので、熱膨張分を吸収可能な範囲で小さい方が好ましく、例えば0.5〜5mmの範囲であり、特に好ましくは1〜3mmの範囲である。
上記構成に係るエキシマランプ装置1によれば、オゾン通過防止用の仕切部材13がコネクター(27,28)を含むエキシマランプ20の端部を取り囲むように配設されて、エキシマランプ20の端部領域Tが区画されているので、処理室内部空間Pにおいて発生したオゾンが直ちにランプの端部領域Tに流入することはない。すなわち、オゾンが処理室内部空間Pからランプ端部領域Tに自由に通過できないため、ランプの給電部を構成する金属部材がオゾンから分解・生成した活性酸素に曝される事態を回避でき、リード部の金属線の断線や端子やコネクター部分の腐食を回避できるようになる。
更に、図1、図4(a)を参照して本願発明の説明を行う。なお、図4(a)はエキシマランプ装置概略を示す模式図である。
図1において枠体11にはガス供給口14が設けられており、ガス供給部より不活性ガスが流入可能になっている。ガス供給部は、例えば図4で示すように、電磁弁61とガス供給源62とからなっている。圧力検知手段50はランプの端部領域T内の圧力を検知する。圧力検出手段51は処理室内部空間Pの圧力を検出する。その検出値を制御部52に送信する。制御部52においては、ランプの端部領域T内の圧力と処理室内部空間Pの圧力と比較して、処理室内部空間Pの圧力が高い場合ランプ点灯不可の制御信号を点灯電源66等に送る。また、被処理物搬送機構67を停止させるための信号を出力する。かつランプの端部領域T内部の圧力が例えば大気圧以上の加圧状態になるように、ガス供給源62に接続された電磁弁又は流量調節器などからなる流量調節部61に制御信号を送信する。流量調節部61はこの制御信号に基づいて開閉又は流量調整を行い、ガス供給部60からランプの端部領域Tに不活性ガスが供給され、充填される。ランプの端部領域T内の圧力が処理室内部空間Pの圧力より高くなった場合は、制御部52は被処理物搬送機構67の動作可能信号とランプ点灯可能の信号を出力する。処理室内部空間Pの圧力が大気圧に近い場合には、圧力検知手段51はランプハウス外部の大気圧を測定しても良い。処理室内部空間Pの圧力を検知する場合、処理室内部のオゾン等によって圧力検知手段の耐久性を損ねる可能性があるためである。
圧力検知手段50、51の代わりに、2つの圧力差を検知してその差圧が設定値を超える場合に信号を出力する機能を備えた、差圧スイッチを設けることで制御回路が簡易に製作できる。
ランプの端部領域Tに過剰に供給された不活性ガスは、図1中に矢印で示すように、側面部131とランプ20との間隙dを通過してランプハウス内部空間Hに流出する。この実施形態では、不活性ガスはエキシマランプ20の内側管の中を通過可能であるため、もう片方のランプ端部領域Tに流過して、両方の端部領域でオゾンの流路に対して同様の作用効果を得ることができる。このような不活性ガスの流れによって、処理室内部空間Pで発生したオゾンが側面部131とランプ20との間隙dを通過することが確実に阻止される。
ランプと仕切り用の側面部の間から漏れ出た不活性ガスは、光源とワーク間の酸素濃度を下げる働きがあり、光の到達量を高めることができる。特にランプの端部は、斜め方向からの光が少なくなるのでワーク面上の光量が低下しやすく、酸素濃度が下がることで均一な処理ができる。
また、上記装置においては、ガス供給口43を通して処理室40内に処理ガスを導入することも可能である。例えば図4(b)は、処理ガスを供給するガス供給機構を具備したエキシマランプ装置概略を示す模式図であり、このガス供給部63より処理ガスが供給される。なお、図4(b)においては前図図4(a)と同じ構成については同符号で示して説明を省略している。処理室内に処理ガスを供給する場合、処理室内部空間Pの圧力が変動するため、圧力検出手段51を設けて処理室内部空間Pの圧力を検出し、ランプ端部領域T側が処理室内部空間Pよりも常に高い圧力となるよう制御するのが望ましい。具体的には、ランプ端部領域Tにおける圧力の検出信号と処理室内部空間Pの圧力の検出信号を制御部52に送信して比較演算し、不活性ガスあるいは処理ガスの流量を制御する制御信号を、各ガス供給源62,65に接続された流量調節部61,64に送信する。このようにして、ランプ端部領域T側が常に高い圧力となるよう制御することで、上記と同様、ランプの端部領域Tにオゾンが流入することが確実に抑制されるようになる。無論、圧力検出手段の代わりに差圧スイッチを用いて常に一定値以上の差圧を保つよう、流量調節部61,64を制御しても良い。
なお、以上において処理ガスとは光CVDではSiH,TEOSなどの有機シリコン系のガスなどであり、光洗浄では例えばN2と(例えば酸素濃度2%)の混合ガスなどである。
また、上記処理ガスとして不活性ガスを用いてもよい。処理室内部空間Pに不活性ガスを流入すると処理室内部の大気雰囲気の酸素濃度が低下するため、酸素による紫外光の吸収が抑えられ、紫外光を高い効率でワークWに照射できるようになり、処理能力が向上する。なお、不活性ガスは例えば窒素ガスである。
このような適宜の処理ガスは、ガス供給口43からガスを導入するほか、ランプとランプの間にノズルを設けるなどしてワークに向けて指向性を持たせてガスを供給することも可能である。
再び図1を参照して実施形態の説明を行う。同図に示すように、ランプの端部領域T内の枠体11や底面部132の一部にオゾン分解物質の層15を形成してもよい。オゾン分解物質層15をランプ端部領域Tの内面に設けておくと、ランプ端部領域Tにオゾンが流入したり発生した場合も、オゾン分解物質表面でオゾンが分解されて活性酸素が生成されないので、ランプ端部領域T内の金属部材が酸化されることを回避できる。オゾン分解物質層15は、例えばMnO,CuO,TiO等の酸化物や、Pt,Pb等の金属や含有する合金を用いることができる。
図1に示す実施形態のようにオゾン分解物質を層状に形成する場合は、オゾン分解物質の粉末を適宜のバインダーとともに溶剤に混入し、ペースト状にしたものを塗布して膜状に形成して設けたり、オゾン分解物質として金属を選択した場合は、例えばメッキによって形成することも可能である。
なお、ここではオゾン分解物質を筐体内面に層状に形成したが、このような態様以外にも、ペレット状やハニカム構造などの固形物としてオゾン分解物質を配置してもよい。
図5は、他の実施形態を示す、エキシマランプ装置のランプ管軸方向断面図である。なお、同図においては処理室部分の図示を省略しており、先に図面で説明した構成と同じ構成については同じ符号で示して説明を省略している。この実施形態においては、エキシマランプの両方の端部に給電結合部が形成されて、仕切部材がランプの両端側に設けられると共に、上述した遮光膜(29)に代えてランプに口金を装着して、遮光した例である。
口金30は例えばセラミック製であり、放電容器の外周面上に配置されたシール部材31を介して放電容器21端部を包囲するように装着されている。内側電極と給電端子構造は、先に図1で説明したものと同様であるが、この実施形態においてはエキシマランプ両端に給電結合部が形成されている。リード棒25に接続されたリード線26は、口金30の後端に設けられた細管部を通過してシール部材31を介して気密に導出されており、ランプの内管部212の内側空間が密閉された状態になっている。仕切部材13は、アルミニウムよりなり、この実施形態においては、側面部は第一の側面部131aと第二の側面部131bより構成され、ランプの長さ方向に2枚併設して配置されている。また、底面部132は第一の側面部131aと枠体11の間を塞ぐように配設されている。そして、口金30の前端が第二の側面部131bに当接するよう配置されており、ランプからの放射光が仕切部材13と口金30によって完全に遮光されるようになっている。
この実施形態によれば、第一の側面部131aと第二の側面部131bによってランプ端部領域Tが区画されているので、処理室内部空間或いはランプハウス内部空間Hで発生したオゾンがランプ端部領域Tに通過することが規制される。しかもこの実施形態においては側面部が2つ形成されているため二重に遮蔽された状態であり、オゾンがランプ端部領域Tに通過するのを確実に阻止することができる。また、ランプから放射された紫外光は、第二の側壁部と口金が当接しているため完全に遮光され、ランプ端部領域Tにおいて新たにオゾンが生成されることも回避される。
また、この実施形態においても、枠体11に設けたガス供給口14よりランプ端部領域Tに不活性ガスを流入することも可能である。係る場合、ランプ端部領域Tに過剰に流入したガスは、エキシマランプ20と第一の側面部131a或いは第二の側面部131bとの間の間隙を流過してランプハウス内部空間Hに出射するようになる。
図6は、上記とは更に異なる実施形態を示す装置の拡大断面図で、同図においては給電結合部が形成された側の端部のみ図示している。この実施形態は、先に説明したものとはランプ構成が異なり、一つのガラス管の中に内側電極が配置され、該ガラス管の外に外側電極が配置されたものである。同図において、ランプハウスの基本的な構造は先に図5で説明したものと同様である。すなわち、ランプハウス10は枠体11と天板12よりなる。そして、このランプハウス10に収納されたエキシマランプ70は、その端部領域Tが第一、第二の側面部131a,131bと底面部132とからなるオゾン通過防止用の仕切部材13で仕切られて構成され、処理室内部空間Pで発生したオゾンは仕切部材13のランプ端部領域Tに直ちに流過できないようになっている。
また、枠体11には開口が設けられてガス供給口14が形成されており、ここから不活性ガスが供給可能になっている。ランプ端部領域Tに不活性ガスを供給する場合は、ランプ端部領域T内部の圧力が、処理室内部空間P内部の圧力よりも高くなるよう維持され、不活性ガスを第一の側面部131aとエキシマランプ70の間の微小間隙から処理室内部空間P内に流過させることで、オゾンがランプ端部領域Tに導入されることを効果的に抑制できる。
この実施形態においては、第一の側面部131aと第二の側面部131bの間に、遮光部材32がランプの周囲にはめ込まれており、上記側面部131とエキシマランプ70の間の間隙を通過して入りこむ紫外光を遮光している。またランプの非放電空間側領域においては放電容器71の外表面上に遮光膜29が設けられている。
続いて、図6のランプの構成について詳細に説明する。図7はエキシマランプの構成を説明する断面図であり(a)管軸方向の断面図、(b)管軸に垂直方向の断面図である。
エキシマランプ70は例えば、合成石英ガラスからなり内部にキセノンガスが封入された直管状の放電容器71を具備し、当該放電容器71外表面上に半円筒状の外側電極72が添設され、一方、放電容器71の内部にコイル状の内部電極72が配設されて、構成されており、内側電極73外部電極72の間に高周波電圧が印加されるものである。74は、放電安定化のため具備された誘電体よりなる筒管であり、例えばガラス管である。この筒管74の内部に内側電極73が挿入されている。
内側電極73の両端にはモリブデンからなる金属箔75がそれぞれ接続されており、この金属箔75が放電容器71の端部に形成されたピンチシール部76に埋設されて、内部電極73が放電容器71内において懸架され、同時に放電容器71が封止されている。金属箔75の外端部には、外部リード棒77が溶接されており、係る外部リード棒77が放電容器71外部に取り出されている。なお、78はガラス管74の半径方向の移動を規制するため放電容器71の内壁から中心方向に突出形成した支柱である。
内部電極73と外部電極72間に電圧が印加されると、放電容器71およびガラス管74を介して放電が発生し、放電空間内のキセノンが励起されて波長172nmエキシマ光が生成され放射される。
図6で示すように、リード棒77の一端部には給電用リード線79の端部が溶接により接続されており、プラグが80電源装置の差込口81に挿入されている。
このエキシマランプ70においては、内側電極73の外周に長さ方向全域にガラス管74からなる誘電体の層が設けられているので、内側電極73と外側電極72の間に生じる放電がランプの長さ方向に均整化されて、内側電極73の一箇所に放電が集中して過熱溶断するという事態を回避でき、均一な光出力を安定して得ることができる。しかも、放電容器71の構成が比較的簡単で軽量化を達成できて長尺化も容易に行える。
なお、このようなエキシマランプ70を用いる場合、仕切部材13(とりわけ側面部131)については、ランプに近接して配置されるため、絶縁性の部材を用いるのが望ましい。側面部131a,131bの材質として金属など導電性材料を使用した場合、内側電極73の内部リード部73aと側面部131a,131bの間で放電が生じて、ランプの長さ方向で均一な放電が得られなくなるおそれがある。よって、セラミック、ガラスなどの無機絶縁材料を用いるのが望ましく、具体的にはアルミナ、パイレックス(登録商標)ガラスのような耐熱強化ガラスである。
以上、図6の構成に係るエキシマランプ装置も先に説明したエキシマランプ装置と同様、ランプ端部領域が仕切り板と底面部で仕切られているので、処理室内部空間で発生したオゾンが直ちにランプ端部領域に流入することが回避され、ランプの給電部を構成する金属部材がオゾンや活性酸素にさらされることを回避することができる。そしてその結果、給電用の金属部材の酸化や腐食の進行を効果的に抑制することができる。
なお、ランプから放射された紫外光を遮光すると、ランプ端部領域内に存在する酸素からオゾンや活性酸素が新たに生成されることも回避できる。
また、ランプ端部近傍において、放電容器の外表面に遮光膜を形成すると、放電空間の長さ方向内方で発光した紫外光がランプの放電容器を透過してランプ端部領域を照射することも防止できる。
また、ランプ端部領域に不活性ガスを供給、充填することで、処理室内部空間のオゾンがランプ端部領域に流入することを確実に抑制できる。
以上、本願発明について説明したが、本願発明は上記構成に限定されることなく適宜変更可能であることは言うまでもない。例えば、エキシマランプ構成は上述した図3、図7のような構成のものに限定されることなく、適宜変更可能である。
本願発明の一実施形態を示す図で、ランプの管軸方向に切断した断面図である。 本願発明の一実施形態を示す図で、図1中のA−A’で切断した断面図であるを示す図である。 エキシマランプの構成を説明する図で(a)ランプの管軸方向断面図,(b)管軸に垂直な方向の断面図である。 (a)(b)エキシマランプ装置概略を示す模式図である。 他の実施形態を示すエキシマランプ装置のランプ管軸方向断面図である。 更に他の実施形態を示すエキシマランプ装置のランプ管軸方向断面図である。 ランプの構成を示す図で(a)管軸方向断面図,(b)管軸に垂直な方向の断面図である。 従来におけるエキシマランプ装置の構造を示す説明図である。 エキシマランプ装置の一例を示す図であり、ランプ給電部側の端部を拡大して示す図である。
符号の説明
1 エキシマランプ装置
10 ランプハウス
11 枠体
12 天板
13 仕切部材
131 側面部
131a 第一の側面部
131b 第二の側面部
132 底面部
14 ガス供給口
15 オゾン分解物質層
20 エキシマランプ
21 放電容器
211 内側管
212 外側管
213a,213b 端面部
22 内側電極
23 外側電極
24 給電端子
25 リード棒
26 リード線
27 プラグ
28 差込口
29 遮光膜
30 口金
31 シール部材
32 遮光部材
40 処理室
41 ベース
42 排気ダクト
43 ガス供給口
50,51 圧力検知手段
52 制御部
60,63 ガス供給部
61,64 流量調節部
62,65 ガス供給源
66 点灯電源
67 被処理物搬送装置
70 エキシマランプ
71 放電容器
72 外側電極
73 内側電極
74 ガラス管
75 金属箔
76 ピンチシール部
77 外部リード棒
78 支柱
79 リード線
80 プラグ
81 差込口
90 ランプハウス
91 エキシマランプ
92 処理室
93 リード線
94 プラグ
95 差込口
96 給電端子
W ワーク
S 放電空間
T ランプ端部領域
H ランプハウス内部空間
P 処理室内部空間

Claims (8)

  1. 誘電体を介した放電により紫外光を放射するエキシマランプと、該エキシマランプを収容するランプハウスと、を具備し、
    前記ランプからの放射光を取り出す開口がランプハウスに形成され、ランプハウス内部空間が被処理物が処理される処理室内部空間と該開口を介して連通してなるエキシマランプ装置であって、
    前記エキシマランプの少なくとも一方の端部に給電部材が接続されて給電結合部が形成されてなり、
    ランプハウスの内部に、給電結合部が形成されたランプ端部領域とランプハウス内部空間とを仕切る仕切部材が配設されていることを特徴とするエキシマランプ装置。
  2. 前記仕切部材が紫外光に対して遮光性を具備していることを特徴とする請求項1記載のエキシマランプ装置。
  3. 前記エキシマランプには、放電容器の端部に紫外光の遮光膜が形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のエキシマランプ装置。
  4. ランプ端部領域の内部に、オゾン分解物質が配設されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のエキシマランプ装置。
  5. 前記ランプハウスのランプ端部領域に不活性ガスを流入、充填するガス供給機構を具備したことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載のエキシマランプ装置。
  6. 前記ランプ端部領域内の圧力と処理室内部空間内の圧力又は大気圧を検出するための圧力検出手段と、制御手段とを具備してなり、
    前記制御手段は、前記圧力検出手段からの検出信号に基づいて、ランプ端部領域内の圧力が処理室内部空間内の圧力又は大気圧よりも常に高い状態となるよう制御する信号を、ガス供給機構に送信することを特徴とする請求項5記載のエキシマランプ装置。
  7. 前記ランプ端部領域内の圧力と処理室内部空間内の圧力又は大気圧を検出するための圧力検出手段と、制御手段とを具備してなり、
    前記制御手段は、前記圧力検出手段からの検出信号に基づいて、ランプ端部領域内の圧力が処理室内部空間内の圧力又は大気圧よりも高い場合に前記エキシマランプを点灯させる信号を、ランプ点灯電源に送信することを特徴とする請求項5記載のエキシマランプ装置。
  8. 搬送機構により搬送されてきた被処理物にエキシマ光を照射するエキシマランプ装置であって、前記ランプ端部領域内の圧力と処理室内部空間内の圧力又は大気圧を検出するための圧力検出手段と、制御手段とを具備してなり、
    前記制御手段は、前記圧力検出手段からの検出信号に基づいて、ランプ端部領域内の圧力が処理室内部空間内の圧力又は大気圧よりも高い場合に被処理物の搬送を可能にする信号を、前記搬送機構に送信することを特徴とする請求項5記載のエキシマランプ装置。
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