JP4392876B2 - メモリアーキテクチャ - Google Patents

メモリアーキテクチャ Download PDF

Info

Publication number
JP4392876B2
JP4392876B2 JP26170098A JP26170098A JP4392876B2 JP 4392876 B2 JP4392876 B2 JP 4392876B2 JP 26170098 A JP26170098 A JP 26170098A JP 26170098 A JP26170098 A JP 26170098A JP 4392876 B2 JP4392876 B2 JP 4392876B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
plane
hierarchical
port
architecture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP26170098A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11149781A (ja
Inventor
マタウシュ ハンス−ユルゲン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of JPH11149781A publication Critical patent/JPH11149781A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4392876B2 publication Critical patent/JP4392876B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はメモリアーキテクチャに関し、詳細には、複数のメモリセルから成り多重階層平面をもつメモリアーキテクチャに関する。
【0002】
【従来の技術】
将来の超小形電子回路によって、1012〜1015の範囲のトランジスタ数をもつ複雑なシステムが実現されることになる。そのような複雑なシステムたとえば並列プロセッサシステム、人工知能システムやマルチメディアシステムなどは通常、データを処理するために共働する多数のサブシステムを有している。したがって、それらの将来のシステムを効率的かつ実践的に実現するための重要な課題は、処理すべきデータの記憶ならびにそれらのデータ処理プログラムということになる。各サブシステムによって時間的に並行しかつ高い帯域幅でアクセス可能なメモリを利用できるならば、性能のよいシステムを確実に実現することができる。外部端子として複数のポートをもち外部のコンポーネントから時間的に並行してアクセスできるようなメモリは、一般にマルチポートメモリと称する。
【0003】
その際、経済的な理由から殊に重要となる境界条件は当然ながら、チップ上でできるかぎり僅かな面積しか費やさないことである。さらに別の境界条件として挙げられるのは、メモリセルないしポートに対しできるかぎり少ないアクセスタイムしか必要としないことや、メモリシステム全体の電力損失ができるかぎり僅かでなければならないことである。
【0004】
L.A.Glasser & D.W.Dobberpohl, "The Design and Analysis of VLSI-Circuits", Addison-Wesley, ISBN 0-201-12580-3, p.388-390 には、上述のようなマルチポートメモリについて記載されている。この文献に示されているマルチポートメモリによれば、所望の個数の外部ポートが個々のメモリセルごとに実装されている。したがって個々のメモリセル各々は、かなり大きなチップ面積を占有している。しかもこの場合、各ポートごとのデコーディングのためにかなりの複雑さも加わり、その結果、完全なマルチポートメモリは結局は極度に面積を費やすものとなる。このため、マルチポートメモリのこのような最も簡単な実現形態は、面積に関して最も不利でありつまりは最も高価な解決策でもある。
【0005】
K.Guttag, R.J.Gove, J.R. van Aken, "A Single Chip Multiprocessor for Multimedia: The MVP", IEEE Computer Graphics & Appl, vol.12, 1992, p.53-64から、別のマルチポートメモリが公知である。上述の問題点はここではいわゆるクロスバーディストリビュータにより解決している。このディストリビュータの入力側には所望の外部ポートが設けられており、出力側において複数の慣用のメモリブロックが1ポートメモリセルと接続されている。このやり方は1ポートメモリセルで済ます点では有利であるが、交換ネットワークと呼ばれることの多いクロスバーディストリビュータは、実際にはやはり著しく多くのチップ面積を必要とするし、配線が長いことから電力損失も高まってしまう。また、非常にたくさんのメモリブロックは接続できないので、不首尾に終わるアクセス数つまり同じ時間に2つ以上のポートが1つの特定のメモリブロックをアクセスする回数が、かなり多くなってしまう。
【0006】
また、この文献から別の課題設定のために階層構造をもつメモリアーキテクチャを使用することが公知である。ここで設定された課題のうち最も重要なことはこれまで、ただ1つの慣用の外部ポートを介した実効アクセスタイムを縮めることであった。実効アクセスタイムの短縮は原則的にゆっくりであるダイナミックメモリ(DRAM)において殊に有用であり、これは現在標準的に組み込まれているマイクロプロセッサのクロック速度に対し過度に大きな差が生じないようにすることを目的としている。1つのメモリアレイにおけるアクセスタイムは実質的に、ワードライン上のデータ信号の走行時間とメモリ容量の再充電によって定まる。階層状の装置構成によりプリント配線板の実効長が短くなり、このことでアクセスタイムも相応に低減する。
【0007】
バンキング技術に従って動作するメモリアレイは、ある意味ではこのような階層構造をもつメモリである。バンキング技術の場合、データバスを介したデータ伝送はメモリアクセスよりも著しく速い、ということを利用している。したがって基本的に、複数のメモリブロックからデータをパラレルに読み出して高速なレジスタ内でバッファリングし、データバスを介して高速で外部へ送出させることができる。しかしながら、バンキング技術を利用するためにきわめて重要なことは、シーケンシャルに要求されるデータが高い確率でそれぞれ異なるブロック内に存在している、ということである。このことが該当しなければ、アクセス要求を拒否しなければならない。したがってバンキングにおける主要な構成部分は、格納データを個々のメモリブロックへ分配するための詳述されたアルゴリズムである。実践において、バンキングにおけるメモリブロック数はかなり少ない個数のメモリブロックに制限されており、一般に32個のメモリブロックに制限されている。しかもこの場合、個々のメモリブロックへのアクセスタイムはおそい。
【0008】
ヨーロッパ特許出願 EP 0 393 434 B1 から、やはりメモリ階層構造を利用したメモリアーキテクチャが公知である。そこには多重平面階層構造のメモリについて記載されており、これはただ1つの慣用の外部ポートを有する。この場合、クリティカルな導体経路における信号走行時間はメモリを複数の階層平面に分割することによって短くできる、ということを利用している。たしかにこれによれば、階層状のメモリ分配によりクリティカルな経路部分の負荷が避けられる。さもないと、ワードラインおよびビットラインの区間において寄生容量と抵抗が著しく高いことに起因して、過度に長い信号変化時間が生じ、つまりは外部ポートに対する過度に長いアクセスタイムが生じてしまう。
【0009】
階層構造をもつ1ポートメモリアーキテクチャに関するその他の詳細な点、特徴、利点ならびに効果については、ヨーロッパ特許出願 EP 0393 434 B1 を参照されたい。この文献は本出願の参考文献とする。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
これらの従来技術から出発して発明の課題は、複数の外部ポートを有する多重平面階層構造のメモリアーキテクチャを提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明によればこの課題は、
a)上位および下位の階層平面(H1,H2)と、
b)前記下位の階層平面(H1)に個々のメモリセルを有する少なくとも1つの第1のメモリブロック(SB1)が設けられており、
前記下位の階層平面(H1)は、メモリセルからデータワードを読み出すための、またはメモリセルへデータワードを書き込むための第1のデコーダ装置(WLD,BLD)と、アドレス選択回路(AAS)と、ポート選択バッファ回路(PAP)と、複数のアドレスポート(A11〜AN1)およびI/Oポート(D1〜DN)を有しており、
前記アドレス選択回路(AAS)は、複数のアドレスポート(A11〜AN1)を介してアドレスワードを受け取り、該受け取ったアドレスワードに基づき前記第1のデコーダ装置(WLD,BLD)は、メモリセルからデータワードを読み出し、またはメモリセルへデータワードを書き込み、
前記ポート選択バッファ回路(PAP)は、読み出されたデータワードまたは書き込まれるデータワードを、前記下位の階層平面(H1)における複数のI/Oポート(D1〜DN)のうちの1つに割り当て、
c)前記上位の階層平面(H2)に複数の第2のメモリブロック(SB2)が設けられており、該第2のメモリブロック(SB2)には、前記下位の階層平面(H1)におけるそれぞれ少なくとも1つの第1のメモリブロック(SB1)と、前記下位の階層平面(H1)における前記第1のデコーダ装置(WLD,BLD)とアドレス選択回路(AAS)とポート選択バッファ回路(PAP)が含まれており、
d)前記上位の階層平面(H2)に第2のデコーダ装置(RAG,SAG)が設けられており、該第2のデコーダ装置(RAG,SAG)は、前記上位の階層平面(H2)における複数の第2のメモリブロック(SB2)のうち1つのメモリブロックからデータワードを読み出し、または該メモリブロックへデータワードを書き込み、
e)前記上位の階層平面(H2)に入/出力バッファ回路(IOP)が設けられており、該入/出力バッファ回路(IOP)は、前記下位の階層平面(H1)から読み出されたデータワードを、該入/出力バッファ回路(IOP)の対応するI/Oポート(D1〜DN)へ送出し、または前記下位の階層平面(H1)へ書き込まれるデータワードを、該入/出力バッファ回路(IOP)の対応するI/Oポート(D1〜DN)から受け取り、該入/出力バッファ回路(IOP)の複数のI/Oポート(D1〜DN)はメモリアーキテクチャの複数のI/Oポート(D1〜DN)を成しており、
f)前記上位の階層平面(H2)にアクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)が設けられており、該アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)は、該アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)へ供給されるアドレスワードを、前記下位の階層平面(H1)におけるメモリブロック(SB1)の同一のメモリセルへのアクセスによるアクセスコンフリクトについて検査し、アクセスコンフリクトが発生したとき、該アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)は、アクセスコンフリクトの発生したメモリセルに係わる第2のメモリブロック(SB2)へのアクセスに対し、メモリアーキテクチャのただ1つのI/Oポート(D1〜DN)だけを許可することにより解決される。
【0012】
【発明の実施の形態】
このように多重階層平面をもつ本発明によるメモリアーキテクチャは複数の外部接続ポートを有しており、これらのポートは同時に完全に並行して制御可能である。
【0013】
これら階層平面の各々は複数のそれぞれ異なるメモリブロックを有している。この場合、最下位階層平面におけるメモリブロックは複数のメモリセルによって構成されている。最下位階層平面がただ1つのメモリセルから成るように構成することも考えられる。通常はたいていの要求に対し、2つの階層平面を使用すれば十分である。しかしその場合には、最下位階層平面におけるメモリブロックは少なくとも複数のメモリセルから構成されることになる。
【0014】
有利には本発明によるマルチポートメモリアーキテクチャによれば、最下位階層平面において1ポートメモリセルを用いることができる。もちろん、2ポートメモリセルやマルチポートメモリセルの使用も考えられることはいうまでもない。しかし、1ポートメモリセルの使用は面積最適化の点で、殊に電気的導体路(ワードラインおよびビットライン)に関して格別に有利であることが明らかになっている。SRAMデザインデータに基づくと、マルチポートメモリセルを使用した場合に比べ、ポート数に応じて2ポートの場合の約30%〜16ポートの場合の約70%まで面積の節約度合いを高めることができる。したがってこの種のスタティックな1ポートメモリセル(SRAMメモリセル)の使用は、コスト的にもきわめて有利であることは明らかである。
【0015】
この場合、種々の階層平面におけるメモリブロックの配置構成をそれぞれ様々なやり方で形成できる。殊に有利であるのは、1つの階層平面におけるメモリブロックをマトリクス状に配置することである。また、このメモリマトリクスの行と列の個数を2の倍数にすると殊に有利である。
【0016】
しかし、階層平面におけるメモリブロックを交換ネットワーク構成やバンク技術等として配置することも考えられる。その際、種々の階層平面内部におけるそれぞれ異なるメモリブロックの配置構成は、システム設計の自由にまかされている。種々の階層平面においてそれぞれ異なるメモリブロック配置構成を用いることも考えられる。
【0017】
システムインテグレーションにおいて適用することのほかに、本発明を面積に関して好適なマルチポートメモリチップのためにも利用できることはいうまでもない。本発明は特別なメモリ形態に限定されるものではなく、あらゆる形態の不揮発性メモリやスタティックメモリおよびダイナミックメモリならびに基礎とするメモリ技術に適用することができる。殊に有利には、本発明はスタティックメモリ(SRAM)およびダイナミックメモリ(DRAM)に適用されるが、たとえばロジックメモリやあらゆる形態のプログラミング可能な固定値メモリ(PROM,EPROM,EEPROM)において有利であることは明らかである。しかも本発明によるメモリアーキテクチャは、慣用のROMメモリにおいても有用である。ROMメモリはプロセッサコンポーネントにおいて有利であり、その際、階層構造アーキテクチャの適用はスペースに関してとても魅力的である。
【0018】
また、種々の平面においてそれぞれ異なる技術を適用することも考えられる。たとえばいわゆる「埋め込み形」メモリに関して、最下位平面ではメモリ技術として製造し、それよりも上の階層平面ではロジック技術として製造することもできる。したがって、適用されるメモリアーキテクチャは、使用される技術とはまったく無関係である。本発明はダイナミックメモリアレイ(DRAM)において殊に有利である。それというのも、この場合には実効ライン長が著しいことからメモリセルの容量を比較的小さく設計できるからである。
【0019】
メモリを複数の階層平面に配置するにもかかわらず、ポートごとのアクセスタイムは劣化しない。この場合、逆方向の発展作用が生じる。たとえば付加的なマルチプレクサなどのような付加的なゲートによって、付加的な遅延時間が発生することでたしかにアクセスタイムは劣化するが、個々のメモリブロックの寸法つまりはそれらの導体路もいっそう小さく形成され、このことはやはりアクセスタイムの減少を意味する。そのうえクリティカルな導体パッドにおいて寄生容量や抵抗が小さくなることから、アクセスタイムがさらに改善される。
【0020】
ポートごとおよびアクセスごとに上方の階層平面におけるただ1つのメモリブロックだけがそのつど活性化され、使用されていない残りのメモリブロックはいわば遮断されることになるから、メモリアーキテクチャ全体における電力損失が小さくなる。このように、使用されていない残りのメモリブロックはいわば遮断状態におかれる。
【0021】
しかも従来技術によるマルチポートメモリアーキテクチャはその設計に関して、実質的に行デコーダ回路と列デコーダ回路から成るいわゆるラスタ回路により制約されている。著しく多くの接続ポートの場合には殊に、デコーダ回路の制御ラインをその中に含まれているドライバによってっももはや対応するメモリセルへ導くことはできない。つまりこの種のマルチポートメモリアーキテクチャの接続ポート数は、設計によって制約されている。有利には本発明によれば、マルチポートメモリアーキテクチャの設計を所定のスペース要求に整合させることが可能となる。その際、種々のラスタ回路を複数の階層平面に配分することができる。しかもこの場合、マルチポートメモリアーキテクチャの接続ポートをそれぞれ異なる階層平面に配分することも可能である。このようにすることで、所定の多重階層平面によって任意の設計自由度が得られるようになる。
【0022】
従属請求項には本発明の有利な実施形態が示されている。
【0023】
次に、図面に示された実施例に基づき本発明について詳細に説明する。
【0024】
【実施例】
図1には、スタティック1ポートメモリセル(a)が、この実例では2つの外部ポートを有するスタティックマルチポートメモリセル(b)と比較されて示されている。
【0025】
図1のa)における1ポートメモリセルは、2つの選択トランジスタAT1,AT2および2つのインバータI1,I2を有している。この場合、第1の選択トランジスタAT1は情報の書き込み/読み出し用データラインB1と第1のインバータI1の入力側との間に接続されており、ここで第2のインバータI2は第1のインバータI1に対し並列にフィードバック接続されている。
【0026】
【外1】
Figure 0004392876
【0027】
選択トランジスタAT1,AT2の制御端子は、付加的にワードラインWL1と接続されている。ワードラインWL1を介して、選択トランジスタAT1,AT2を導通状態あるいは阻止状態になるよう制御できる。
【0028】
図1のb)にはマルチポートメモリセルを有しており、これはこの実例では2つのポートを有している。このようないわゆる2ポートメモリセルは、図1のa)に示した1ポートメモリセルと同じように構成されている。この2ポートメモリセルは付加的にさらに2つの別の選択トランジスタAT3,AT4を有しており、これは選択トランジスタAT1,AT2と同様、メモリセルの2つのインバータI1,I2と接続されている。
【0029】
【外2】
Figure 0004392876
【0030】
【外3】
Figure 0004392876
【0031】
それ相応の個数の出力ポートを備えたマルチポートメモリセルには、図1によるメモリセルから出発してそれ相応の個数の選択トランジスタやラインが設けられる。したがって1つのメモリセルにおけるポート数が増えるにつれて、冒頭で述べたように配線も複雑になる。それゆえ面積を費やすという点からすれば、1ポートメモリセルは面積に関して最も好適な形態である。
【0032】
本発明によるメモリアーキテクチャはメモリ内部において2平面の階層構造を使用しており、これは各メモリセルに実装されたただ1つのポートからマルチポートメモリの外部ポートへの移行を実現するためである。図2には、多重平面階層構造を有する本発明によるこのようなメモリアーキテクチャの基本原理図が描かれている。この実施例では、2つの階層平面とN個の出力ポートが示されている。
【0033】
多重平面階層構造をもつ本発明によるメモリアーキテクチャは、この実施例では2つの階層平面H1,H2を有している。本発明によるメモリアーキテクチャを実現するために、2つの階層平面よりも多くの階層平面を用いることも考えられる。ここでは第1の階層平面には参照符号H1が付されており、他方、第2の階層平面には参照符号H2が付されている。さらに以下では、第1の階層平面H1におけるエレメントには添字1を設ける一方、第2の階層平面H2におけるエレメントには添字2を設けた。
【0034】
みやすくするため、すべての階層平面H1,H2には配線ここでは殊にワードラインとビットラインは書き込まれていない。
【0035】
さて、この実施例の場合、両方の階層平面H1,H2は同じ構造であり、それぞれ1つのメモリブロックマトリクスと、個々のメモリブロックを所期のように読み出す選択手段と、次に高い階層平面へのインタフェースとを有しており、この実例では選択手段は行デコーダおよび列デコーダとして構成されている。
【0036】
当然ながら、異なる階層平面において各メモリブロックをそれぞれ異なるやり方で配置させることも考えられる。つまりたとえば、一方の階層平面ではメモリブロックを交換ネットワーク配置で配置する一方、他方の階層平面ではメモリブロックをたとえば周知のメモリブロックマトリクスとして配置させることも考えられる。したがって、それぞれ異なる階層平面H1,H2を必ずしも互いに同じように配置しなくてもよい。それゆえ個々の階層平面におけるメモリブロックの配置を、適用事例ないしユーザの要求に整合させることができ、そのようにすることでメモリアーキテクチャにおける設計の自由度が広がる。
【0037】
第1の階層平面H1は第1のメモリブロックマトリクスSBM1を有している。さらに第1の階層平面H1は、ワードラインデコーダWLDとビットラインデコーダBLDとポート選択バッファ回路PAPとアドレス選択回路AASを有している。
【0038】
第1の階層平面H1のメモリブロックマトリクスSBM1はこの実施例の場合、M1=2m1個の異なるメモリブロックSB1を有しており、それらはマトリクス状に配置されている。この実施例では、メモリブロックマトリクスSBM1は2m1-r1個の列と2r1個の行を有している。したがってメモリブロックマトリクスSBM1の行と列の個数は2の倍数である。必ずこのようにしなければいけないというわけではないが、この種のメモリブロックマトリクスにおいては有利である。
【0039】
第1の階層平面H1のメモリブロックSB1は、それぞれ異なるメモリセルによって構成されている。この実施例では、第1の階層平面におけるメモリセルはただ1つの書き込み/読み出しポートを備えた1ポートメモリセルである。もちろん、既述のメモリセルが相応の個数の書き込み/読み出しポートを備えたいわゆるマルチポートメモリセルであるように構成することも考えられる。しかし冒頭の説明や図1の関連で述べたように、最下位階層の平面H1において1ポートメモリセルを使用するのは殊に有利である。とはいうものの、最下位階層平面H1においてたとえばアクセスタイムや設計上の面積最適化など特定の要求のために、上述のようなマルチポートメモリセルを使用するのが好適になる場合もある。これはたとえば、上の方の階層平面のうちの1つに僅かな個数のメモリブロックしか設けられていない場合にアクセスがコンフリクトする確率を少なくする目的で有利となる可能性もある。
【0040】
なお、第1の階層平面H1におけるメモリセルは任意の不揮発性メモリセル(たとえばEEPROMメモリセル)、スタティックメモリセル(たとえばSRAMメモリセル)あるいはダイナミックメモリセル(たとえばDRAMメモリセル)として構成することができる。メモリブロックの周辺回路は、選択した種類のメモリセルに合わせて構成できることはいうまでもない。
【0041】
最下位階層平面H1において単一または複数のメモリセルを選択するために、ビットラインデコーダBLDならびにワードラインデコーダWLDが設けられている。この実施例の場合、ビットラインデコーダBLDはm1−r1個のアドレスビットを有しており、ワードラインデコーダWLDはr1個のアドレスビットを有している。さらに第1の階層平面H1はアドレス選択回路AASを有しており、これらはN個の種々のアドレスA11〜AN1によって制御される。これらのアドレスの各々はm1アドレスビットの幅をもつ。
【0042】
また、第1の階層平面H1はポート選択バッファ回路PAPも有しており、これにはN個の種々の出力ポートD1〜DNが設けられている。
【0043】
第1の階層平面H1におけるメモリ装置の動作は読み出し過程の場合、以下のようにして行われる:アドレス選択回路AASにより、アドレスポートA11〜AN1を介してアドレスワードが入力結合される。入力結合されたこのアドレスワードに基づき、ワードラインデコーダWLDとビットラインデコーダBLDはメモリブロックマトリクスSBM1内の個々のメモリセルを、データワードを読み出すことができるよう制御する。このデータワードはポート選択バッファ回路PAPへ供給される。ポート選択バッファ回路PAPはこのデータワードを、出力ポートD1〜DNのうちの1つへ割り当てる。書き込み過程に関しては、このサイクルが同じように逆方向で進行する。
【0044】
図2に示されているように、このメモリアーキテクチャはさらに第2の階層平面H2を有している。第2の階層平面H2は、第2のメモリブロックマトリクスSBM2、行選択ジェネレータRAG、列選択ジェネレータSAG、ならびに入/出力バッファ回路IOPを有している。この実施例の場合、第2の階層平面H2においてメモリブロックSB2はやはりメモリブロックマトリクスとして構成されている。
【0045】
第2の階層平面H2における第2のメモリブロックマトリクスSBM2の構造は、第1の階層平面H1の構造と同じである。この場合、メモリブロックの別の配置構成たとえば交換ネットワークやいわゆるバンク技術で配置されたメモリブロックも考えられるのはいうまでもない。この実施例の場合、メモリブロックマトリクスSBM2は2m2-r2個の異なる列と2r2個の異なる行を有している。また、第1のメモリブロックマトリクスSBM1の場合と同様、第2のメモリブロックマトリクスSBM2の場合も行ないしは列の個数は2の倍数であり、その際、一般的な個数の行列も考えられる。
【0046】
さらに第2の階層平面H2は、第2のメモリマトリクスSBM2における種々の行を選択するための行選択ジェネレータRAGと種々の列を選択するための列列選択ジェネレータSAGを有している。したがって行選択ジェネレータRAGは、それぞれ異なるr2個のアドレスビットをもつN個の種々のポートを有する。同様に列選択ジェネレータSAGも、それぞれm2−r2個のアドレスビットをもつN個の種々のポートを有している。
【0047】
第2の階層平面H2におけるメモリブロックSB2の選択は、いわゆる入/出力バッファ回路IOP(I/Oバッファ回路)を介して行われる。I/Oバッファ回路IOPは、やはりN個の異なる出力ポートD1〜DNを有する。したがってこれらの出力ポートは、マルチポートメモリアーキテクチャの出力ポートを成している。
【0048】
当然ながら、1つまたは複数の階層平面H1,H2がそれぞれただ1つのメモリブロックだけから成るように構成することも考えられる。この場合、最下位階層平面H1では、メモリブロックマトリックスSBM1はただ1つのメモリブロックSB1に低減され、つまりはただ1つのメモリセルに低減されることになる。
【0049】
本発明によれば、第2の階層平面H2におけるメモリブロックSB2はそれぞれ、メモリブロックSB1と第1の階層平面H1における個々の周辺ユニットによって構成されている。
【0050】
メモリアーキテクチャが多数の階層平面によって構成されている場合、メモリの構造は以下のようになる:最下位階層平面H1では、メモリブロックSB1は少なくとも1つのメモリセルによって構成される。それらのメモリセルのための周辺ユニットたとえばワードラインデコーダWLD、ビットラインデコーダBLS、ポート選択バッファ回路PAP、アドレス選択回路AASは、個々の階層平面におけるメモリブロックの個々の配置構成に整合されている。その上の各階層平面は、すぐ下の階層平面におけるメモリブロックによって構成されている。これに加えて最上位階層は、メモリアーキテクチャの相応の出力ポートを備えたI/Oバッファ回路IOPを有している。個数Nの種々異なる出力ポートD1〜DNは、マルチポートメモリアーキテクチャのポートである。
【0051】
第2の階層平面H2は、M2=2m2個の異なるメモリブロックSB2から成り、この場合、個々のメモリブロックSB2は各々、M1=2m1個の種々のメモリセルを有している。したがってメモリアーキテクチャにおけるメモリセルの総数はM=M1 * M2=2m となり、ここでm=m1+2である。
【0052】
さらに本発明によれば階層平面H2には、アクセスコンフリクトを処理する回路が設けられている。このいわゆるアクセスコンフリクト評価回路は殊にマルチポートメモリアーキテクチャにおいて、たとえば2つまたはそれ以上のポートにより同一のメモリブロックがアクセスされるような場合にはどうしても必要である。
【0053】
この場合、アクセス選択の優先順位を付けなければならない。アクセスコンフリクト評価回路ZKASは慣用のNポートメモリアーキテクチャの場合にはすべて、つまり単一のNポートメモリセルの場合であっても必要であり、それというのも、少なくとも1つの書き込みアクセスにおいて同一のメモリセルへの2つまたはそれ以上のポートによるアクセスは許可されず、コンフリクトとなるからである。
【0054】
次に、最も重要な部分回路の機能について詳しく説明する。ここではまずはじめに、Nポートを介してアクセス中のNポートメモリアーキテクチャの機能について簡単に説明する。このアーキテクチャにおいて構成されるたいていの回路に対し、従来技術による一般に周知の使用された解決手段が存在する。
【0055】
行選択ジェネレータRAGと列選択ジェネレータSAGは、N個のポートのために第2の階層平面の個々のm2個のアドレスビットから、行選択信号と列選択信号を生成する。これと同時にアクセスコンフリクト評価回路ZKASは、1つまたは複数のコンフリクト状況について第2の階層平面H2におけるアドレスビットを検査する。アクセスコンフリクト検査が終了し、アクセスコンフリクトが発生した場合には、所定の優先順位付けアルゴリズムに従いそのつど1つのポートがアクセス権限ありとして選択されてはじめて、相応のメモリブロックSB2が活性化される。これにより、第2の階層平面H2においてポートごとにそのつどただ1つのメモリブロックSB2だけが活性化される。
【0056】
Nポートメモリアーキテクチャの場合、たとえばNポートメモリセルの場合、アクセスコンフリクトはこれまでシーケンシャルに解決されていた。しかしながらこのようなシーケンシャルなアクセスコンフリクトの解決は、Nポートメモリアーキテクチャの場合には不利であることがわかった。その理由は、複数のアクセスコンフリクトが発生したときには殊に、メモリアーキテクチャ全体における性能が著しく下がってしまうからである。
【0057】
このような理由から、アクセスコンフリクトが時間的に完全に並行して処理されるようにすると有利である。アクセスコンフリクトのこの種の並列処理はたとえば、そのつど1つのポートをアクセス権限ありとして選択する優先順位付けアルゴリズムによって行うことができる。この優先順位付けアルゴリズムのためにたとえば、その重要性に応じたポートの簡単なクラス分けを行うことができる。この場合、コンフリクトが発生したときには常に、最も重要なポートがアクセス権限を獲得する。そしてステータス信号を用いることによって、目下のアクセスが成功したか拒否されたかが各ポートごとに外部へ通報される。
【0058】
第1の階層平面H1において、ただ1つのポートのm1アドレスビットだけがワードラインデコーダWLDおよびビットラインデコーダBLDへ供給される。このためメモリブロックSB1の活性化信号は、活性化すべきポートに関する情報だけしか含まない。この情報は、所属のポートのアドレスビットを対応するデコーダへ向けて切り替えるためにアドレス選択回路AASによって利用される。この場合、ポート選択バッファ回路PAPにより同時に、ビットラインデコーダBLDの出力側がポートに属するデータラインと接続される。さらにビットラインデコーダBLDは、集積評価回路ならびに読み出し信号増幅用のドライバ手段も有している。
【0059】
3つの回路すなわちポート選択バッファ回路PAP、アドレス選択回路AASならびにアクセスコンフリクト評価回路ZKASは、慣用の回路技術における公知の手法に従って実現することができる。最初の2つの回路の場合、つまりポート選択バッファ回路PAPとアドレス選択回路AASの場合、簡単なマルチプレクサ回路ないしデマルチプレクサ回路が用いられる。
【0060】
アクセスコンフリクト評価回路ZKASは当然ながら、基礎とする優先順位付けアルゴリズムに依存する。殊に完全に並行したアクセスコンフリクトを解消する場合には、ここではEXORゲートを介したアドレスビットの比較に基づいて回路を構成することができる。この場合、基礎とする優先順位付けアルゴリズムによって、対応するポートイネーブル信号を発生させるためにEXORゲートの出力側がどのように結合されるかが決定される。
【0061】
図2ではみやすくするため、ポートごとに1ビットのワード幅とした。上述のメモリアーキテクチャ内部におけるワード幅を任意の値とすることができるのはいうまでもない。この場合、従来技術の手法に従って変形が行われる。
【0062】
1つの実施形態として、多重階層構造をもつ本発明によるマルチポートメモリアーキテクチャの発展形態を実現するために、アクセスタイムを短くする従来技術によるあらゆる公知の技術を利用することも当然ながら可能である。とはいうものの図2には、異なる複数の階層平面におけるメモリブロックのための最も簡単な階層構造が示されている。しかしそれらの階層平面の各々において付加的に、たとえばキャッシングやバンクなどアクセスタイムを短くする公知技術のうちの1つを内部的に組み込むこともできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】スタティック1ポートメモリセル(a)をスタティックマルチポートメモリセル(b)と対比して示す図である。
【図2】多重階層平面を備えた本発明によるマルチポートメモリアーキテクチャの実例を示す図である。
【符号の説明】
H1,H2 階層平面
SBM1,SBM2 メモリブロックマトリクス
SB1,SB2 メモリブロック
AAS アドレス選択回路
WLD ワードラインデコーダ
BLD ビットラインデコーダ
PAP ポート選択バッファ回路
RAG 行選択ジェネレータ
SAG 列選択ジェネレータ
IOP I/Oバッファ回路

Claims (15)

  1. メモリアーキテクチャにおいて、
    a)上位および下位の階層平面(H1,H2)
    b)前記下位の階層平面(H1)に個々のメモリセルを有する少なくとも1つの第1のメモリブロック(SB1)が設けられており、
    前記下位の階層平面(H1)は、メモリセルからデータワードを読み出すための、またはメモリセルへデータワードを書き込むための第1のデコーダ装置(WLD,BLD)と、アドレス選択回路(AAS)と、ポート選択バッファ回路(PAP)と、複数のアドレスポート(A11〜AN1)およびI/Oポート(D1〜DN)を有しており、
    前記アドレス選択回路(AAS)は、複数のアドレスポート(A11〜AN1)を介してアドレスワードを受け取り、該受け取ったアドレスワードに基づき前記第1のデコーダ装置(WLD,BLD)は、メモリセルからデータワードを読み出し、またはメモリセルへデータワードを書き込み、
    前記ポート選択バッファ回路(PAP)は、読み出されたデータワードまたは書き込まれるデータワードを、前記下位の階層平面(H1)における複数のI/Oポート(D1〜DN)のうちの1つに割り当て、
    c)前記上位の階層平面(H2)に複数の第2のメモリブロック(SB2)が設けられており、該第2のメモリブロック(SB2)には、前記下位の階層平面(H1)におけるそれぞれ少なくとも1つの第1のメモリブロック(SB1)と、前記下位の階層平面(H1)における前記第1のデコーダ装置(WLD,BLD)とアドレス選択回路(AAS)とポート選択バッファ回路(PAP)が含まれており、
    d)前記上位の階層平面(H2)に第2のデコーダ装置(RAG,SAG)が設けられており、該第2のデコーダ装置(RAG,SAG)は、前記上位の階層平面(H2)における複数の第2のメモリブロック(SB2)のうち1つのメモリブロックからデータワードを読み出し、または該メモリブロックへデータワードを書き込み、
    e)前記上位の階層平面(H2)に入/出力バッファ回路(IOP)が設けられており、該入/出力バッファ回路(IOP)は、前記下位の階層平面(H1)から読み出されたデータワードを、該入/出力バッファ回路(IOP)の対応するI/Oポート(D1〜DN)へ送出し、または前記下位の階層平面(H1)へ書き込まれるデータワードを、該入/出力バッファ回路(IOP)の対応するI/Oポート(D1〜DN)から受け取り、該入/出力バッファ回路(IOP)の複数のI/Oポート(D1〜DN)はメモリアーキテクチャの複数のI/Oポート(D1〜DN)を成しており、
    f)前記上位の階層平面(H2)にアクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)が設けられており、該アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)は、該アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)へ供給されるアドレスワードを、前記下位の階層平面(H1)におけるメモリブロック(SB1)の同一のメモリセルへのアクセスによるアクセスコンフリクトについて検査し、アクセスコンフリクトが発生したとき、該アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)は、アクセスコンフリクトの発生したメモリセルに係わる第2のメモリブロック(SB2)へのアクセスに対し、メモリアーキテクチャのただ1つのI/Oポート(D1〜DN)だけを許可することを特徴とする、
    メモリアーキテクチャ。
  2. 最下位階層平面(H1)におけるメモリブロック(SB1)は1ポートメモリセルから成る、請求項1記載のメモリアーキテクチャ。
  3. 前記下位の階層平面(H1)における第1のデコーダ装置はワードラインデコーダ(WLD)とビットラインデコーダ(BLD)を有する、請求項1または2記載のメモリアーキテクチャ。
  4. 前記アクセスコンフリクト評価回路(ZKAS)は、優先順位付けアルゴリズムに従いI/Oポート(D1〜DN)の優先順序付けをそれらの重要性に応じて行う、請求項1から3のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
  5. 前記複数の階層平面(H1,H2)のうち少なくとも1つの階層平面におけるメモリブロック(SB1,SB2)はマトリクス状に、第1の個数のマトリクス行と第2の個数のマトリクス列をもつメモリブロックマトリクス(SBM1,SBM2)として配置されている、請求項1〜のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
  6. 前記上位の階層平面(H2)はメモリブロックマトリクス(SBM2)を有しており、前記上位の階層平面(H2)における第2のデコーダ装置は、該メモリブロックマトリクス(SBM2)のメモリブロック(SB2)を選択するために行選択ジェネレータ(RAG)と列選択ジェネレータ(AG)を有する、請求項5記載のメモリアーキテクチャ。
  7. 前記の第1の個数および/または第2の個数は2の倍数である、請求項5または6記載のメモリアーキテクチャ。
  8. 前記複数の階層平面(H1,H2)のうち少なくとも1つの階層平面におけるメモリブロック(SB1,SB2)はクロスバースイッチによるネットワーク構成として配置されている、請求項1〜7のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
  9. 前記複数の階層平面(H1,H2)のうち少なくとも1つの階層平面におけるメモリブロック(SB1,SB2)は、いわゆるバンキング技術に従って動作する、請求項1〜8のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
  10. ロジックコンポーネントにおいて用いられる、請求項1〜9のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
  11. EEPROMメモリセルにおいて用いられる、請求項10記載のメモリアーキテクチャ。
  12. ダイナミックまたはスタティックなメモリコンポーネントにおいて用いられる、請求項1〜9のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
  13. ダイナミックDRAMメモリセルにおいて用いられる、請求項12記載のメモリアーキテクチャ。
  14. スタティックSRAMメモリセルにおいて用いられる、請求項12記載のメモリアーキテクチャ。
  15. ROMメモリにおいて用いられる、請求項1〜14のいずれか1項記載のメモリアーキテクチャ。
JP26170098A 1997-09-16 1998-09-16 メモリアーキテクチャ Expired - Fee Related JP4392876B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19740695A DE19740695C2 (de) 1997-09-16 1997-09-16 Datenspeicher mit Mehrebenenhierarchie
DE19740695.5 1997-09-16

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009151839A Division JP2009259392A (ja) 1997-09-16 2009-06-26 メモリアーキテクチャ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11149781A JPH11149781A (ja) 1999-06-02
JP4392876B2 true JP4392876B2 (ja) 2010-01-06

Family

ID=7842518

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26170098A Expired - Fee Related JP4392876B2 (ja) 1997-09-16 1998-09-16 メモリアーキテクチャ
JP2009151839A Pending JP2009259392A (ja) 1997-09-16 2009-06-26 メモリアーキテクチャ

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009151839A Pending JP2009259392A (ja) 1997-09-16 2009-06-26 メモリアーキテクチャ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6141287A (ja)
EP (1) EP0908893B1 (ja)
JP (2) JP4392876B2 (ja)
KR (1) KR100329680B1 (ja)
DE (2) DE19740695C2 (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6411557B2 (en) * 2000-02-02 2002-06-25 Broadcom Corporation Memory architecture with single-port cell and dual-port (read and write) functionality
US6414899B2 (en) 2000-02-02 2002-07-02 Broadcom Corporation Limited swing driver circuit
US7173867B2 (en) * 2001-02-02 2007-02-06 Broadcom Corporation Memory redundancy circuit techniques
US6745354B2 (en) 2000-02-02 2004-06-01 Broadcom Corporation Memory redundancy implementation
US6492844B2 (en) 2000-02-02 2002-12-10 Broadcom Corporation Single-ended sense amplifier with sample-and-hold reference
US6937538B2 (en) * 2000-02-02 2005-08-30 Broadcom Corporation Asynchronously resettable decoder for a semiconductor memory
US8164362B2 (en) * 2000-02-02 2012-04-24 Broadcom Corporation Single-ended sense amplifier with sample-and-hold reference
US6603712B2 (en) 2000-02-02 2003-08-05 Broadcom Corporation High precision delay measurement circuit
US6535025B2 (en) 2000-02-02 2003-03-18 Broadcom Corp. Sense amplifier with offset cancellation and charge-share limited swing drivers
US6724681B2 (en) * 2000-02-02 2004-04-20 Broadcom Corporation Asynchronously-resettable decoder with redundancy
US6417697B2 (en) 2000-02-02 2002-07-09 Broadcom Corporation Circuit technique for high speed low power data transfer bus
US6611465B2 (en) * 2000-02-02 2003-08-26 Broadcom Corporation Diffusion replica delay circuit
US6567290B2 (en) 2000-07-05 2003-05-20 Mosaic Systems, Inc. High-speed low-power semiconductor memory architecture
US20030218927A1 (en) * 2000-12-11 2003-11-27 Yaron Mayer RAM memory based on nanotechnology, capable, among other things, of replacing the hard disk in computers
US6714467B2 (en) * 2002-03-19 2004-03-30 Broadcom Corporation Block redundancy implementation in heirarchical RAM's
US6877071B2 (en) 2001-08-20 2005-04-05 Technology Ip Holdings, Inc. Multi-ported memory
US7301961B1 (en) 2001-12-27 2007-11-27 Cypress Semiconductor Corportion Method and apparatus for configuring signal lines according to idle codes
JP3808799B2 (ja) * 2002-05-15 2006-08-16 株式会社東芝 磁気ランダムアクセスメモリ
KR100527569B1 (ko) * 2003-05-09 2005-11-09 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 강유전체 메모리 및 그 제어 장치
US7173837B1 (en) * 2003-09-26 2007-02-06 Netlogic Microsystems, Inc. Content addressable memory (CAM) cell bit line architecture
JP4421957B2 (ja) * 2004-06-29 2010-02-24 日本電気株式会社 3次元半導体装置
KR100655081B1 (ko) * 2005-12-22 2006-12-08 삼성전자주식회사 가변적 액세스 경로를 가지는 멀티 포트 반도체 메모리장치 및 그에 따른 방법
JP2008009919A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Toshiba Corp カードコントローラ
US8397011B2 (en) * 2007-10-05 2013-03-12 Joseph Ashwood Scalable mass data storage device
JP5226094B2 (ja) * 2011-02-23 2013-07-03 株式会社半導体理工学研究センター 半導体記憶装置
US9536840B2 (en) 2013-02-12 2017-01-03 Qualcomm Incorporated Three-dimensional (3-D) integrated circuits (3DICS) with graphene shield, and related components and methods
US9171608B2 (en) 2013-03-15 2015-10-27 Qualcomm Incorporated Three-dimensional (3D) memory cell separation among 3D integrated circuit (IC) tiers, and related 3D integrated circuits (3DICS), 3DIC processor cores, and methods
US9576644B2 (en) 2015-04-27 2017-02-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Integrated circuit chip having two types of memory cells
US10579275B2 (en) * 2015-07-27 2020-03-03 Hitachi, Ltd. Storage system and storage control method

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5170375A (en) * 1989-04-21 1992-12-08 Siemens Aktiengesellschaft Hierarchically constructed memory having static memory cells
DE59010018D1 (de) * 1989-04-21 1996-02-15 Siemens Ag Statischer Speicher
JP2673390B2 (ja) * 1991-03-13 1997-11-05 三菱電機株式会社 マルチポートメモリ
US5155760A (en) * 1991-06-26 1992-10-13 At&T Bell Laboratories Voice messaging system with voice activated prompt interrupt
US5530814A (en) * 1991-10-30 1996-06-25 I-Cube, Inc. Bi-directional crossbar switch with control memory for selectively routing signals between pairs of signal ports
JPH05289989A (ja) * 1992-04-15 1993-11-05 Sony Corp 多出力遅延回路
US5542067A (en) * 1992-04-23 1996-07-30 International Business Machines Corporation Virtual multi-port RAM employing multiple accesses during single machine cycle
DE69223046T2 (de) * 1992-07-16 1998-02-26 Bull Hn Information Syst Integrierter CMOS-statischer RAM
JP3199207B2 (ja) * 1993-12-16 2001-08-13 シャープ株式会社 マルチポート半導体記憶装置
JP3497904B2 (ja) * 1995-02-03 2004-02-16 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JPH09115286A (ja) * 1995-10-17 1997-05-02 Hitachi Ltd マルチポートメモリ
US5914906A (en) * 1995-12-20 1999-06-22 International Business Machines Corporation Field programmable memory array

Also Published As

Publication number Publication date
US6141287A (en) 2000-10-31
JPH11149781A (ja) 1999-06-02
DE19740695A1 (de) 1999-03-18
JP2009259392A (ja) 2009-11-05
EP0908893A2 (de) 1999-04-14
KR19990029825A (ko) 1999-04-26
EP0908893A3 (de) 2000-03-15
EP0908893B1 (de) 2005-11-30
DE19740695C2 (de) 2002-11-21
DE59813239D1 (de) 2006-01-05
KR100329680B1 (ko) 2002-09-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4392876B2 (ja) メモリアーキテクチャ
KR0184091B1 (ko) 다이나믹형 메모리
US6453400B1 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP3304413B2 (ja) 半導体記憶装置
US20020136081A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
US6243279B1 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP5449686B2 (ja) マルチポートメモリ及びそのマルチポートメモリを用いたシステム
US8305834B2 (en) Semiconductor memory with memory cell portions having different access speeds
US6339817B1 (en) Semiconductor memory including main and sub memory portions having plural memory cell groups and a bidirectional data transfer circuit
US20090097348A1 (en) Integrated circuit including a memory module having a plurality of memory banks
JP2011530735A (ja) メモリモジュール内の独立制御式仮想メモリ装置
US8006026B2 (en) Multi-port memory and computer system provided with the same
US6661731B2 (en) Semiconductor memory, semiconductor integrated circuit and semiconductor mounted device
US7173874B2 (en) Compact decode and multiplexing circuitry for a multi-port memory having a common memory interface
US6366526B2 (en) Static random access memory (SRAM) array central global decoder system and method
US6335873B1 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP3741153B2 (ja) 高速動作のための共有dram i/oデータバス
US6876557B2 (en) Unified SRAM cache system for an embedded DRAM system having a micro-cell architecture
USRE38955E1 (en) Memory device having a relatively wide data bus
JPH10208493A (ja) 冗長アレイを備えるメモリ及び管理方法
US6788600B2 (en) Non-volatile semiconductor memory
KR100240913B1 (ko) 반도체 메모리 시스템, 프로그래머블 어레이 및 엑세스 시간 감소 방법 및 시스템
EP0337457A2 (en) Memory device having a plurality of memory cell arrays with different organization
US7215591B2 (en) Byte enable logic for memory
US6747898B2 (en) Column decode circuit for high density/high performance memories

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040730

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040903

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20041130

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20041203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050303

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20051209

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060406

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20060517

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20060721

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080812

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080815

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080916

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080922

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081009

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081017

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090305

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090310

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090626

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091013

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131023

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees