JP4242800B2 - センサ回路 - Google Patents

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本発明は、ホール素子を用いたセンサ回路に関し、その回路内部で生じるノイズの影響を排除するための技術に関するものである。
ホール素子やその周辺回路に生じるオフセットを、ホール素子に供給するバイアス電流の流通方向とホール電圧の検出方向を切り換えてキャンセルする技術は、例えば特許文献1に紹介されている。この特許文献1にはオフセットをキャンセルするための技術と合わせてノイズの影響を排除するための技術も開示されている。
すなわち、特許文献1に開示された回路はバイアス電流の流通方向とホール電圧の検出方向を切り換えるためのスイッチを有しているが、このスイッチの切り換え時に望ましくないサージ状のノイズが発生する。このスイッチングノイズの影響を排除するために、第1に、サンプルアンドホールド回路のサンプリング動作を時間的にスイッチの切り換え動作から外れた所(具体的には切り換え周期のほぼ真ん中)で行っている。
しかし場合によっては、スイッチングノイズによって比較的長期間に渡ってホール電圧検出用の誤差増幅器の出力信号に過渡的な変動が誘発されることがある。そしてその過渡的な変動がスイッチが切り換えられてからサンプリング動作が開始するまでの時間間隔以上に持続してしまい、サンプルアンドホールド回路のサンプリング動作時にスイッチングノイズの影響が残ってしまうことがある。そこで特許文献1は、スイッチの切り換え動作時に誤差増幅器の信号増幅率を低下させておく、といった第2の対策を提案している。
特開平09−196699号
特許文献1の開示回路は、上記した第1の対策と第2の対策を併用して実施することによりノイズの影響の少ない磁気測定を実現している。しかし第2の対策を実施するに当たっては、スイッチ切り換えのための信号がハイからロー、ローからハイに変化する時、その状態変化の少なくとも直前から直後にかけてハイレベルとなるパルスを生成するパルス発生器が必要になる。また、そのパルスに応じて増幅率を変化させることが可能な誤差増幅器も必要になる。つまり、特殊な構成の回路が必要となるといった問題があった。
そこで本発明は、一般的なパルス発生器や誤差増幅器で構成することが可能な、スイッチングノイズの影響を受け難いセンサ回路を提供することを目的とする。
上記課題を解決するための本発明は、 ホール素子の第1の端子対および第2の端子対の間に生じる第1の検出信号および第2の検出信号を順次検出し、第1の検出信号と第2の検出信号とを信号処理して実質的にホール電圧成分のみの出力信号を得るセンサ回路において、 第1の期間にはホール素子の第2の端子対にバイアス電流を供給し、第2の期間には第1の端子対にバイアス電流を供給する第1のスイッチ回路網と、 実質的に特性の等しい第1および第2の誤差増幅器と、 固定された電圧信号を発生させる基準電圧源と、 第1の期間内の第3の期間の間にはホール素子の第1の端子対の間に生じた第1の検出信号を第1の誤差増幅器に入力し、第3の期間以外の時には基準電圧源の固定された電圧信号を第1の誤差増幅器に入力する第2のスイッチ回路網と、 第3の期間内の所定の時点における第1の誤差増幅器の出力信号を参照してその出力信号に応じた第1のホールド信号を出力する第1のサンプルアンドホールド回路と、 第2の期間内の第4の期間の間には第2の端子対の間に生じた第2の検出信号を第2の誤差増幅器に入力し、第4の期間以外の時には基準電圧源の固定された電圧信号を第2の誤差増幅器に入力する第3のスイッチ回路網と、 第4の期間内の所定の時点における第2の誤差増幅器の出力信号を参照してその出力信号に応じた第2のホールド信号を出力する第2のサンプルアンドホールド回路と、 第1および第2のサンプルアンドホールド回路から第1および第2のホールド信号を受け取り、実質的にホール電圧成分のみの出力信号を生成する信号合成処理回路と、 を具備することを特徴とする。
第1のスイッチ回路網が切り換え動作する時、各誤差増幅器のそれぞれの入力端子には基準電圧源の固定された電圧信号が供給される。両方の入力端子に同じ固定された電圧信号が供給されることと、仮に第1のスイッチ回路網で生じたノイズが侵入しても大半が電圧信号の中に埋没することから、各誤差増幅器に長期に渡る過渡現象が現れなくなる。
各スイッチ回路網を駆動する信号は第1のスイッチ回路網を駆動する信号を基礎として容易に生成でき、特殊な構成のパルス発生器を必要としない。また、増幅率の変更を行わないので、増幅率可変型の誤差増幅器も必要としない。
ホール素子と、第1の期間にはホール素子の第2の端子対に選択的にバイアス電流を供給し、第2の期間には第1の端子対に選択的にバイアス電流を供給する第1のスイッチ回路網とを設ける。
更に基準電圧源と第1および第2の誤差増幅器を設け、ホール素子と第1の誤差増幅器と基準電圧源の間には第2のスイッチ回路網を、ホール素子と第2の誤差増幅器と基準電圧源の間には第3のスイッチ回路網をそれぞれ設ける。ここで第2および第3のスイッチ回路網は以下のような動作をするものとする。
第2のスイッチ回路網は、第1の期間内に発生する第3の期間の間、ホール素子の第1の端子対の間に発生した検出信号を第1の誤差増幅器の入力端子に供給し、それ以外の時には基準電圧源が発する固定された電圧信号を第1の誤差増幅器の入力端子に供給する。
同様に、第3のスイッチ回路網は、第2の期間内に発生する第4の期間の間、ホール素子の第2の端子対の間に発生した検出信号を第2の誤差増幅器の入力端子に供給し、それ以外の時には基準電圧源が発する固定された電圧信号を第2の誤差増幅器の入力端子に供給する。
第1の誤差増幅器の出力側には、第3の期間内の所定の時点で発生していた第1の誤差増幅器の出力信号に応じたホールド信号を出力する第1のサンプルアンドホールド回路を設け、第2の誤差増幅器の出力側には、第4の期間内の所定の時点で発生していた第4の誤差増幅器の出力信号に応じたホールド信号を出力する第2のサンプルアンドホールド回路を設ける。
そして、第1と第2のサンプルアンドホールド回路の出力側に信号処理を行うための信号合成処理回路を設け、この信号合成処理回路において2つのサンプルアンドホールド回路が出力するホールド信号から実質的にホール電圧成分のみの出力信号を得る。
本発明によるセンサ回路の構成を図1に示した。
図1において、ホール素子HALには端子X1とX2からなる第1の端子対と、端子Y1とY2からなる第2の端子対が設けられている。このうち、端子X1はスイッチ11のb接点に接続し、端子X2はスイッチ12のb接点に接続し、端子Y1はスイッチ11のa接点に接続し、端子Y2はスイッチ12のa接点に接続する。なお、スイッチ11の稼動接点は外部電源Vccに接続し、スイッチ12の可動接点はグランドに接続する。このスイッチ11と12により第1のスイッチ回路網10が構成されている。
ホール素子HALの端子X1は更にスイッチ21のa接点に接続し、端子X2はスイッチ22のa接点に接続する。スイッチ21のb接点は基準電圧源Vrefに接続し、可動接点は第1の誤差増幅器AMP1の一方の入力端子に接続する。スイッチ22のb接点は基準電圧源Vrefに接続し、可動接点は2入力2出力型の第1の誤差増幅器AMP1の他方の入力端子に接続する。このスイッチ21と22により第2のスイッチ回路網20が構成されている。
同様に、ホール素子HALの端子Y2はスイッチ31のa接点に接続し、端子Y1はスイッチ32のa接点に接続する。スイッチ31のb接点は基準電圧源Vrefに接続し、可動接点は2入力2出力型の第2の誤差増幅器AMP2の一方の入力端子に接続する。スイッチ32のb接点は基準電圧源Vrefに接続し、可動接点は第2の誤差増幅器AMP2の他方の入力端子に接続する。このスイッチ31と32により第3のスイッチ回路網30が構成されている。
誤差増幅器AMP1の一方の出力端子はスイッチ41を介してバッファB1の入力端子に接続し、誤差増幅器AMP1の他方の出力端子はスイッチ42を介してバッファB2の入力端子に接続する。スイッチ41とバッファB1の共通接続点とグランドの間にはコンデンサC1を接続し、スイッチ42とバッファB2の共通接続点とグランドの間にはコンデンサC2を接続する。このスイッチ41、42、コンデンサC1、C2、およびバッファB1、B2により第1のサンプルアンドホールド回路40が構成されている。
誤差増幅器AMP2の一方の出力端子はスイッチ51を介してバッファB3の入力端子に接続し、誤差増幅器AMP2の他方の出力端子はスイッチ52を介してバッファB4の入力端子に接続する。スイッチ51とバッファB3の共通接続点とグランドの間にはコンデンサC3を接続し、スイッチ52とバッファB4の共通接続点とグランドの間にはコンデンサC4を接続する。このスイッチ51、52、コンデンサC3、C4、およびバッファB3、B4により第2のサンプルアンドホールド回路50が構成されている。
第1のサンプルアンドホールド回路40のバッファB1の出力端子は抵抗R1を介して2入力1出力型の誤差増幅器AMP3の一方の入力端子に接続し、バッファB2の出力端子は抵抗R2を介して誤差増幅器AMP3の他方の入力端子に接続する。また、第2のサンプルアンドホールド回路50のバッファB3の出力端子は抵抗R3を介して誤差増幅器AMP3の他方の入力端子に接続し、バッファB4の出力端子は抵抗R4を介して誤差増幅器AMP3の一方の入力端子に接続する。誤差増幅器AMP3の出力端子はセンサ回路の出力端子である端子OUTに接続し、更に信号帰還用の抵抗R5を介してその一方の入力端子に接続する。そして誤差増幅器AMP3の他方の入力端子とグランドの間に抵抗R6と電圧源Vrを直列に接続する。この誤差増幅器AMP3、抵抗R1〜R6および電圧源Vrにより信号処理のための信号合成処理回路60が構成されている。
このような構成としたセンサ回路は、図2に示すようなタイミングでハイ(H)レベルあるいはロー(L)レベルになる駆動信号の供給を受け、以下のように動作する。なお、駆動信号S1は第1のスイッチ回路網10に供給される駆動信号、S2は第2のスイッチ回路網20に供給される駆動信号、S3は第3のスイッチ回路網30に供給される駆動信号、S4は第1のサンプルアンドホールド回路40に供給される駆動信号、S5は第2のサンプルアンドホールド回路50に供給される駆動信号である。ちなみに、各スイッチ回路網のそれぞれのスイッチは、駆動信号がハイの時には可動接点をa接点に接続し、逆にローの時にはb接点に接続するものとする。また各サンプルアンドホールド回路のスイッチは、駆動信号がハイの時にはオン、ローの時にはオフされるものとする。
時間t1において駆動信号S1がハイレベルになると、スイッチ11および12は可動接点をa接点に接続する。すると端子Y1−Y2間にバイアス電流が流れ、端子X1−X2間にバイアス電流とホール素子HALを貫く磁束に応じた電圧信号(=検出信号)が発生する。この時間t1の直後においては駆動信号S2、S3はローレベルのため、各スイッチ21、22、31、32の可動接点はb接点側に接続される。このため各誤差増幅器AMP1、AMP2の全ての入力端子には基準電圧源Vrefからの固定された電圧信号が供給される。
ここで、スイッチ11、12の切り換え動作に伴ってノイズが発生し、このノイズが、例えばスイッチ等に寄生する浮遊容量を介して誤差増幅器AMP1、AMP2の入力端子の位置まで伝達されたとしても、そのレベルが基準電圧源Vrefの電圧信号を上回ることはほとんど無い。このため誤差増幅器AMP1、AMP2の入力端子の位置ではノイズは電圧信号の中に埋没してしまい、誤差増幅器AMP1、AMP2の出力信号に長期に渡る過渡現象が発生することは無くなる。
時間t1から所定の遅延時間tD1だけ経過した時間t2になると、駆動信号S2がハイレベルに転換する。すると第2のスイッチ回路網20の各スイッチ21、22は、その可動接点の接続先をb接点からa接点に切り換え、誤差増幅器AMP1の各入力端子にホール素子HALの端子X1−X2間に生じた検出信号を供給する。その結果、駆動信号S2がハイレベルとなっている間、誤差増幅器AMP1は検出信号に応じた大きさの出力信号を出力し続けることになる。なお遅延時間tD1は、スイッチ11、12の切り換え動作に伴って検出信号に発生するノイズが消滅するか、消滅しないまでも極めて小さいレベルになる期間に設定される。
時間t2の後、駆動信号S2がハイとなっている期間内のある時点、時間t3になると駆動信号S4がハイレベルとなる。すると第1のサンプルアンドホールド回路40内のスイッチ41、42がオンし、コンデンサC1およびコンデンサC2は誤差増幅器AMP1の検出信号に応じた出力信号によって充電される。そしてバッファB1およびB2は、コンデンサC1およびC2の充電電圧に応じたホールド信号を出力し続けることになる。
駆動信号S4は所定の時間(少なくともコンデンサC1およびC2の充電電圧が飽和するまでの時間)が経過した後にローレベルに転換する。そしてハイレベルとなっていた各駆動信号は時間t4までの間に順次ローレベルに転換して行く。
時間t4において駆動信号S1がローレベルになると、スイッチ11および12は可動接点をb接点に接続する。すると今度は端子X1−X2間にバイアス電流が流れ、端子Y1−Y2間にバイアス電流とホール素子HALを貫く磁束に応じた電圧信号(=検出信号)が発生する。この時間t4の直後においては駆動信号S2、S3はローレベルのため、各スイッチ21、22、31、32の可動接点はb接点側に接続される。このため各誤差増幅器AMP1、AMP2の全ての入力端子には固定された電圧信号が供給される。
当然、スイッチ11、12の切り換え動作に伴ってノイズが発生するが、誤差増幅器AMP1、AMP2の入力端子の位置まで伝達されたノイズのレベルは基準電圧源Vrefの電圧信号を上回ることはほとんど無い。このため、時間t1の直後の時と同様に、誤差増幅器AMP1、AMP2の出力信号に長期に渡る過渡現象は発生しない。
時間t4から所定の遅延時間tD2だけ経過した時間t5になると、今度は駆動信号S2では無く、駆動信号S3の方がハイレベルに転換する。すると第3のスイッチ回路網30の各スイッチ31、32は、その可動接点の接続先をb接点からa接点に切り換え、誤差増幅器AMP2の各入力端子にホール素子HALの端子Y2−Y1間に生じた検出信号を供給する。その結果、駆動信号S3がハイレベルとなっている間、誤差増幅器AMP2は検出信号に応じた大きさの出力信号を出力し続けることになる。なお遅延時間tD2の具体的な期間は遅延時間tD1と同様に設定される。
時間t5の後、駆動信号S3がハイとなっている期間内のある時点、時間t6になると駆動信号S5がハイレベルとなる。すると第2のサンプルアンドホールド回路50内のスイッチ51、52がオンし、コンデンサC3およびコンデンサC4は誤差増幅器AMP2の検出信号に応じた出力信号によって充電される。そしてバッファB3およびB4は、コンデンサC3およびC4の充電電圧に応じたホールド信号を出力し続けることになる。
駆動信号S5は、駆動信号S4と同様に、所定の時間が経過した後にローレベルに転換する。そしてハイレベルとなっていた各駆動信号は時間t7までの間に順次ローレベルに転換して行く。時間t7は実質的に時間t1と同じ状態となり、以後、図1の回路は上に説明した時間t1からt7までの動作を繰り返す。
例えばここで、ホール素子HALの検出信号がホール電圧成分VH とオフセット電圧成分VOFとからなっていると仮定する。すると、時間t1からt4までの回路動作に基づいて、時間t4以降にバッファB1から出力されるホールド信号SH1およびバッファB2から出力されるホールド信号SH2は次のように表される。
SH1=+G(VH +VOF
SH2=−G(VH +VOF
同様に、時間t4からt7までの回路動作に基づいて、時間t7以降にバッファB3から出力されるホールド信号SH3およびバッファB4から出力されるホールド信号SH4は次のように表される。
SH3=+G(−VH +VOF
SH4=−G(−VH +VOF
ここで、ホールド信号SH1とSH2のホール電圧成分(VH )と違ってホールド信号SH4とSH3のホール電圧成分(VH )に負の符号が付くのは、バイアス電流の流通方向と検出電圧の検出方向の関係によるものである。
図1の回路においては、この各ホールド信号は信号合成処理回路60において信号処理される。先ず誤差増幅器AMP3の一方の入力端子に共に入力されるホールド信号SH1とSH4は、その一方の入力端子の位置において加算処理され、他方の入力端子に共に入力されるホールド信号SH2とSH3は、その他方の入力端子の位置において加算処理される。その上で、各入力端子の位置の信号は誤差増幅器AMP3の内部で減算処理される。これを式で表すと以下のようになる。
SH1+SH4−(SH2+SH3)
=+G(VH +VOF)−G(−VH +VOF)−{−G(VH +VOF)+G(−VH +VOF)}
=4・G・VH
この式の結果から分かるように、端子OUTの位置に現れる出力信号は、オフセット成分がキャンセルされた、実質的にホール電圧成分のみの信号となる。
このように、図1に示す本発明の実施例によるセンサ回路は、ハイレベルに転換する時期を遅延回路で遅らせる等により、駆動信号S1から駆動信号S3〜S5を容易に生成することが可能である。また、基準電圧源からの固定された電圧信号を供給しているため、増幅率を変化させずとも誤差増幅器がノイズ入力に基づく過渡現象を生じない。従って、特殊な回路構成のパルス発生器や増幅率可変型の誤差増幅器などを必要としない。
なお、図1の回路は、誤差増幅器AMP1、AMP2に2出力型(2重差動出力型)の誤差増幅器を使用した場合の回路構成であるが、1出力型の誤差増幅器を使用して回路を構成しても良い。また、2出力型の誤差増幅器と併せてサンプルアンドホールド回路40、50の内部にそれぞれ反転側、非反転側の2系統のサンプルアンドホールド回路を設けているが、1系統のサンプルアンドホールド回路でも良いことは言うまでも無い。
本発明によるセンサ回路の実施例の回路図。 図1の回路に供給する各駆動信号のタイミングチャート。
符号の説明
10:第1のスイッチ回路網
20:第2のスイッチ回路網
30:第3のスイッチ回路網
40:第1のサンプルアンドホールド回路
50:第2のサンプルアンドホールド回路
60:信号合成処理回路
AMP1:第1の誤差増幅器
AMP2:第2の誤差増幅器
HAL:ホール素子
Vref:基準電圧源
X1、X2:端子(第1の端子対)
Y1、Y2:端子(第2の端子対)
OUT:端子(センサ回路の出力端子)

Claims (3)

  1. ホール素子の第1の端子対および第2の端子対の間に生じる第1の検出信号および第2の検出信号を順次検出し、該第1の検出信号と該第2の検出信号とを信号処理して実質的にホール電圧成分のみの出力信号を得るセンサ回路において、
    第1の期間には該ホール素子の該第2の端子対にバイアス電流を供給し、第2の期間には該第1の端子対にバイアス電流を供給する第1のスイッチ回路網と、
    実質的に特性の等しい第1および第2の誤差増幅器と、
    固定された電圧信号を発生させる基準電圧源と、
    該第1の期間内の第3の期間の間、該ホール素子の該第1の端子対の間に生じた該第1の検出信号を該第1の誤差増幅器に入力し、該第3の期間以外の時には該基準電圧源の該固定された電圧信号を該第1の誤差増幅器に入力する第2のスイッチ回路網と、
    該第3の期間内の所定の時点における該第1の誤差増幅器の出力信号を参照して、該出力信号に応じた第1のホールド信号を出力する第1のサンプルホールド回路と、
    該第2の期間内の第4の期間の間、該ホール素子の該第2の端子対の間に生じた該第2の検出信号を該第2の誤差増幅器に入力し、該第4の期間以外の時には該基準電圧源の該固定された電圧信号を該第2の誤差増幅器に入力する第3のスイッチ回路網と、
    該第4の期間内の所定の時点における該第2の誤差増幅器の出力信号を参照して、該出力信号に応じた第2のホールド信号を出力する第2のサンプルアンドホールド回路と、
    該第1および該第2のサンプルアンドホールド回路から該第1および第2のホールド信号を受け取り、実質的にホール電圧成分のみの出力信号を生成する信号合成処理回路と、
    を具備することを特徴とするセンサ回路。
  2. 前記第3の期間は、前記第1の期間の開始から所定時間だけ遅延して開始し、前記第4の期間は、前記第2の期間の開始から所定時間だけ遅延して開始することを特徴とする、請求項1に記載されたセンサ回路。
  3. 前記第1および第2の誤差増幅器は2重差動出力型であり、前記第1と第2のサンプルアンドホールド回路は、それぞれ内部に非反転側サンプルアンドホールド回路と反転側サンプルアンドホールド回路を具備することを特徴とする、請求項1あるいは請求項2に記載されたセンサ回路。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6153740B2 (ja) * 2012-07-30 2017-06-28 株式会社豊田中央研究所 磁気検出素子を利用する磁気検出回路
JP6297782B2 (ja) * 2013-02-28 2018-03-20 旭化成エレクトロニクス株式会社 ホール起電力信号検出回路及びその電流センサ
WO2014155908A1 (ja) 2013-03-28 2014-10-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 ホール起電力信号検出回路及びその電流センサ並びにホール素子の駆動方法
US10466311B2 (en) 2014-09-04 2019-11-05 The Timken Company Hall effect sensor circuit with offset compensation
JP6418965B2 (ja) * 2015-01-28 2018-11-07 日置電機株式会社 ホール素子駆動回路およびセンサ回路

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0232278A (ja) * 1988-07-21 1990-02-02 Stanley Electric Co Ltd ホール素子の駆動方法および装置
DE4431703C2 (de) * 1994-09-06 1997-01-30 Itt Ind Gmbh Deutsche Magnetfeldsensor mit Hallelement
US5621319A (en) * 1995-12-08 1997-04-15 Allegro Microsystems, Inc. Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit
JP3323446B2 (ja) * 1998-08-20 2002-09-09 大崎電気工業株式会社 磁気センサ回路
JP4123791B2 (ja) * 2001-03-05 2008-07-23 富士ゼロックス株式会社 発光素子駆動装置および発光素子駆動システム
JP4451577B2 (ja) * 2001-07-26 2010-04-14 パナソニック株式会社 磁界センサ
JP3887275B2 (ja) * 2002-07-03 2007-02-28 東光株式会社 センサ回路

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