JP4241361B2 - キャップ天面の検査方法 - Google Patents
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Description
図1は本発明に係る検査データ処理システムのフローチャート、図2は良品RGB画像データ取得処理に関するフローチャート、図3は検査基準データ設定処理に関するフローチャート、図4は被検査データ取得処理に関するフローチャート、図5はキャップ天面良否判定処理に関するフローチャート、図6は外周部分検査システムに関するフローチャート、図7はこの検査方法に係る検査装置の実施例を示す平面図、図8は説明のためのキャップ天面平面図、図9はRGBデータの処理方法を示すRGB濃度図表、図10はSVデータの処理方法を示すSVデータ分布図である。
C1 供給コンベヤ
C2 排出コンベヤ
C3 排除口
D 汚れ
DS 汚れ部分のR濃度値
E 許容範囲
F 良点
J 太線
K キャップ天面撮像位置
L1 左部分
L2 右部分
L1S R濃度値
L2S R濃度値
M 検査データ処理システム
N SVデータ許容領域
P ポケット
Q 画像データ処理装置
S10 良品RGB画像データ取得処理
S11 良品キャップサンプルの選定
S12 複数の良品キャップをカメラで撮像
S13 画像領域の限定処理
S14 良品RGB画像データの保存
S20 検査基準データ設定処理
S21 印刷の位置合わせ
S22 RGB濃度範囲算出
S23 RGBデータ許容値設定
S24 HSV空間への変換
S25 S,Vに関する重心位置の算出
S26 固有彩度値、固有輝度値の設定
S27 SVデータ分布図作成
S28 SVデータ許容領域検討と設定
S30 被検査データ取得処理
S31 被検査キャップをRGBカメラで撮像
S32 検査対象RGB画像データ取得
S33 被検査RGBデータの取得
S34 HSV空間への変換
S35 S,Vに関する重心位置の算出
S36 被検査SVデータの取得
S40 キャップ天面良否判定処理
S41 被検査RGBデータ判定
S42 被検査SVデータ判定
S43 キャップ天面総合判定
S50 不良キャップ排除信号処理
S60 検査データ蓄積処理
S70 外周部分検査システム
S71 検査しきい値設定
S72 被検査RGBデータの取込み
S73 外周部分被検査データの取込み
S74 回転外周部分被検査RGBデータ作成
S75 被検査差分値算出
S76 差分値の比較検査
S77 外周部分良否判定
T 不良点
W スターホイール
Claims (2)
- キャップ天面の印刷状態を検査する方法であって、
選定した複数の良品キャップの天面画像をRGBカメラにより撮像して複数の良品RGB画像データとして取込み、
前記良品RGB画像データをデータ処理してキャップ天面の印刷位置に対応した各画素に対する検査基準データとしてのRGBデータ許容値を設定するとともに、前記良品RGB画像データをHSV空間データに変換及びデータ処理して検査基準データとしてのSVデータ許容領域を予め設定し、
前記RGBカメラにより検査対象キャップ天面を撮像した検査対象RGB画像データをデータ処理して印刷位置に対応させた被検査RGBデータと前記RGBデータ許容値を画素ごとに比較検査するとともに、前記検査対象RGB画像データをHSV空間データに変換してデータ処理した被検査SVデータと前記SVデータ許容領域とを比較検査してキャップ天面の良否判定を行い、
前記検査対象RGB画像データの通常文字や模様が印刷されていないキャップ外周部分における外周部分被検査RGB画像データと、前記外周部分被検査RGB画像データをキャップ中心で所定角度回転させた回転外周部分被検査RGB画像データとの各画素における差分値を、予め設定した検査基準データとしての外周部分しきい値と比較検査してキャップ天面外周部分の良否判定を行う
ことを特徴とするキャップ天面の検査方法。 - 請求項1において、検査基準データの設定及び被検査データに関するデータ処理を、キャップ天面の内周部分と前記外周部分に分割して行い、前記内周部分では前記被検査RGBデータと前記RGBデータ許容値との画素ごとの比較検査を行うとともに前記被検査SVデータと前記SVデータ許容領域との比較検査を行い、前記外周部分では前記外周部分被検査RGB画像データと前記回転外周部分被検査RGB画像データとの各画素における差分値と前記外周部分しきい値との比較検査を行うことを特徴とするキャップ天面の検査方法。
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