JP4093426B2 - 検査装置、検査方法 - Google Patents
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Description
検査対象物は、例えば、印刷物である。印刷用紙に貼付物(シール等)や塗布物(印字等)や蒸着物が付されたものも検査対象物とすることができる。
配置単位とは、図柄や文字列等の1単位を示す。検査対象物(印刷物等)に、同一の配置単位(図柄等)が所定の規則に従って配置されるものとする。例えば極力多数の配置単位を配置するために、配置単位の方向を反転あるいは回転(180°回転等)させた配置単位を混在させ、密接させて配置するようにしても良い。
類似度は、画像領域間の類似性を示す指標である。例えば相関係数等を類似度として利用する。
類似度が所定の基準を満たすとは、相関係数が極大、60%以上、80%以上等の基準を満たすことを示す。
第1類似領域画像は、第1基準領域画像との相関係数が所定値(相関係数が極大、60%以上、80%以上)となる領域である。
尚、差分演算は飽和モードで行い、差分演算の結果が負(マイナス)になるときは、値を「0」(0クリップ)とする。
マスク領域は、配置単位(図柄等)を含まない領域を除外するための領域である。マスク領域を検査対象から除外することにより、配置単位を抽出する際の相関係数を大きく設定し、抽出精度の向上を図ることができる。
即ち、領域枠に外接しない差異を除去することにより、検査対象物の欠陥(欠けや汚れ等)の影響を除去した高精度のマスク領域を得ることができる。
また、膨張処理を施してマスク領域を作成してもよい。
即ち、マスク領域を拡張することにより、類似領域画像として配置単位(図柄等)を抽出する際の位置ズレ等を吸収することができる。
即ち、複数の配置単位が同一方向あるいは所定の角度に回転あるいは反転させて近接配置される場合であっても検査精度を維持することができる。
所定の角度とは、例えば180°、90°等である。複数の配置単位の配置角度を混在させて検査対象物に配置することにより、検査対象物の配置密度を上げることができる。
また、検査装置は、第2類似領域画像から第2基準領域画像の差分処理を行い、所定の閾値で2値化して所定の画素数を超える領域を欠け欠陥として判定する。
即ち、検査装置は、第2類似領域画像の画素を、対応する第2基準領域画像の画素と比較し、第2基準領域画像よりも濃度値(2値化差分値)が低い(暗い)画素を検査対象物の汚れ欠陥として判定し、第2基準領域画像よりも濃度値(2値化差分値)が高い(明るい)画素を検査対象物の欠け欠陥として判定する。
尚、画素の差分を所定の閾値で2値化することで、余分な情報をフィルタリングして特徴を強調する。
第2の発明は、第1の発明の検査装置が実行する検査方法に関する発明である。
最初に、図1を参照しながら、本発明の実施の形態に係る検査装置1の構成について説明する。
図1は、検査装置1の概略構成図である。
尚、画像処理部9の構成及び動作については、後述する。
画像記憶部13は、画像データ等を記憶する装置である。画像記憶部13は、例えば、ハードディスク、記憶媒体ドライブである。
操作部15は、オペレータからの操作指示を受け付ける装置である。操作部15は、例えば、キーボード、マウス等のポインティングデバイスである。
次に、図2を参照しながら、画像処理部9のハードウェア構成について説明する。
図2は、画像処理部9のハードウェア構成を示す図である。
また、画像処理部9は、ネットワークインタフェース(図示しない。)等を介してラインカメラ3と接続され、ビデオアダプタ(図示しない。)等を介して表示部11と接続される。
尚、図2のハードウェア構成は一例であり、用途、目的に応じて様々な構成を採ることが可能である。
尚、基準領域画像メモリ25、類似領域画像メモリ27、表示メモリ29、印刷物撮像メモリ等は、画像処理部9に独立して設けるようにしてもよいし、RAM上に適宜領域を割り当てるようにしてもよい。
CPU21は、撮像データから基準領域画像26及び類似領域画像28を抽出し、当該基準領域画像26及び類似領域画像28に基づいて、検査対象の印刷物7における良否を判定し、検査結果を表示メモリ29に出力する。
表示メモリ29の内容は、表示部11に入力されて表示される。
次に、図3〜図12を参照しながら、本実施の形態の検査装置1の処理手順について説明する。
図3は、本実施の形態の検査装置1の検査処理手順を示すフローチャートである。
この検査処理は、画像処理部9のCPU21が、メモリ23のROM等に格納された所定のプログラム等をRAM上のワークメモリ領域に呼び出して実行する。CPU21は、この処理を実行することにより、本発明の(基準領域画像)指定手段、第1及び第2(類似領域画像)抽出手段、マスク生成手段、欠陥判定手段等としてそれぞれ機能する。
図3(ステップ1001〜ステップ1007)及び図4〜図9を参照しながら、検査装置1が実行するマスク作成処理について説明する。
図4は、類似領域画像b35の抽出を示す図である。
図5は、180°反転した類似領域画像b35の抽出を示す図である。
図6は、基準領域画像a33及び抽出した類似領域画像b35を示す図である。
図7は、基準領域画像a33と類似領域画像b35との差異を示す図である。
本実施の形態では、検査装置1は、閾値よりも差分演算結果(差分値)が大きい画素の2値化差分値を「255」(グレースケールにおける白)とし、閾値よりも差分演算結果(差分値)が小さい画素の2値化差分値を「0」(グレースケールにおける黒)として差異41を作成する(図7参照)。
尚、差分演算は飽和モードで行い、差分演算の結果が負(マイナス)になるときは、値を「0」(0クリップ)とする。
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−1)、
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−2)、
(類似領域画像b35−1)−(基準領域画像a33)、
(類似領域画像b35−2)−(基準領域画像a33)、
(類似領域画像b35−6)−(基準領域画像a33)、
(類似領域画像b35−7)−(基準領域画像a33)、
(類似領域画像b35−8)−(基準領域画像a33)、
の差分演算結果として抽出される。
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−4)、
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−5)、
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−6)、
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−7)、
(基準領域画像a33)−(類似領域画像b35−8)、
の差分演算結果として抽出される。
差異41−4は、
(類似領域画像b35−3)−(基準領域画像a33)、
(類似領域画像b35−5)−(基準領域画像a33)、
の差分演算結果として抽出される。
差異41−5は、(類似領域画像b35−4)−(基準領域画像a33)の差分演算結果として抽出される。
次に、検査装置1は、ステップ1003及びステップ1004で算出された差異41のOR処理を行う(ステップ1005)。検査装置1は、差異41−1〜41−5の和を算出し、図8に示す合成差異43を得る。図8に示す合成差異43は、外接差異47−1、47−2、及び非外接差異44−1、44−2を有する。外接差異とは、矩形領域枠に外接する領域である。
更に、検査装置1は、白黒反転処理を行って、合成差異49からマスク53を作成してメモリ23に格納する。所定の領域に対してマスク53をかけると(AND処理)、マスク53の領域枠左右上角に位置するマスク領域が除外される。
図3(ステップ1008〜ステップ1014)及び図10〜図12を参照しながら、検査装置1が実行する不良の検出処理及び判定処理について説明する。
図10は、マスク領域を除外した基準領域画像am55及び類似領域画像bm57の抽出を示す図である。
図11は、不良の検出処理及び判定処理における、検査装置1の動作の流れを示す図である。
尚、図11では、類似領域画像28には、欠陥として、汚れ画像37と欠け画像39があるものとする。
基準領域画像am55から類似領域画像bm57を差分した差分結果で、汚れ候補を抽出する。基準領域画像am55と類似領域画像bm57の対応する全画素について、基準領域画像am55から類似領域画像bm57を差分処理し、RGB成分を合成してMAX処理を行い、汚れ候補画像59を抽出する(図11のステップ2001)。
これとは逆に、類似領域画像bm57から基準領域画像am55を差分した差分結果で欠け候補を抽出する。基準領域画像am55と類似領域画像bm57の対応する全画素について、類似領域画像bm57から基準領域画像am55を差分処理し、RGB成分を合成してMAX処理を行い、欠け候補画像61を抽出する(図11のステップ3001)。
尚、所定の閾値により2値化処理を行うことで、全ての画素値を、最大濃度(濃度値「255」:白)または、最小濃度(濃度値「0」:黒)の何れかにする。2値化処理により、余分な情報を除去するので差異の特徴(欠陥)を強調することができる。
検査装置1は、ステップ2002の処理で抽出した汚れ不良画素数が所定の汚れ用画素数を超える領域を汚れ不良として検出する。検査装置1は、汚れ検出画像63を作成し、検出した汚れ不良を検出汚れ67として表示する(ステップ2003)。
検査装置1は、ステップ3002の処理で抽出した欠け不良画素数が所定の欠け用画素数を超える領域を欠け不良として検出する。検査装置1は、欠け検出画像65を作成し、検出した欠け不良を検出欠け69として表示する(ステップ3003)。
所定の画素数を超える領域を、汚れ不良又は欠け不良として検出するので、検出画素数を指定することで不良検出精度を調整することができる。
検査装置1は、結果を表示部11に表示させて処理を終了する(図3のステップ1014)。
図12に、検査装置1は、結果表示画像71に、例えば、汚れ不良として検出された検出汚れ67を「赤」で表示し、欠け不不良として検出された検出欠け69を「青」で表示する。
以上の過程を経て、検査装置1は、繰り返し絵柄等の中から基準となる絵柄等を含む基準領域画像を指定し、この基準領域画像と類似する類似領域画像を抽出し、基準領域画像と各類似領域画像との差異からマスク領域を作成し、上記マスク領域を検査から除外して、各絵柄等を含む領域の検査を行う。
尚、検査装置1は、マスク領域に関しては検査対象外及び類似度の算出に関与しない領域とし、改めて類似領域画像を抽出し、基準領域画像と類似領域画像との比較を行い、検査対象物の良否を判定する。尚、マスク作成に関しては、領域枠に外接する差異の和に膨張処理を施してマスク領域を作成する。
以上説明したように、本発明の実施の形態では、検査対象となる印刷物が、例えば絵柄の向きが反転したものが混在し密接して配置されているような印刷形態であっても印刷の不良を高精度で検出することが可能である。
繰り返し絵柄等が密接配置された印刷物においても、高精度に不良を検出することが可能なので、歩留まり、印刷効率、印刷コスト等を向上させることができる。
尚、上述の実施の形態では、方向が0°と180°の絵柄が混在する印刷物の良否を判定する場合について説明したが、他の角度(例えば90°等)で配置される絵柄が混在する印刷物についても、本発明は対応することができる。即ち、事前に基準領域画像a33を回転させる角度(例えば90°等)を設定しておき、基準領域画像a33を設定する所定の角度(例えば90°等)だけ回転させて、印刷物に配置される絵柄の抽出を行い、良否を判定することができる。
また、カメラ等による撮像あるいはスキャン等により印刷物画像データ31を取得してもよいし、これに限らず、CTP(Computer To Plate)により印刷を行う場合、基準領域画像a33については、刷版等に出力するためのデジタルデータを基準領域画像a33の画像データとして用いるようにしてもよい。
3………ラインカメラ
5………照明器
7………印刷物
9………画像処理部
11………表示部
13………画像記憶部
15………操作部
17………移動方向
21………CPU
23………メモリ
25………基準領域画像メモリ
26………基準領域画像
27………類似領域画像メモリ
28………類似領域画像
29………表示メモリ
31………印刷物画像データ
33………基準領域画像a
35−1〜35−8………類似領域画像b
37………汚れ画像
39………欠け画像
41−1〜41−5………差異
43、45、49………合成差異
44−1、44−2………非外接差異
47−1、47−2、51−1、51−2………マスク領域(外接差異)
53………マスク
55………基準領域画像am
57−1〜57−8………類似領域画像bm
59………汚れ候補画像
61………欠け候補画像
63………汚れ検出画像
65………欠け検出画像
67………検出汚れ
69………検出欠け
71………結果表示画像
Claims (12)
- 同一の配置単位が複数配置される検査対象物を撮像して取得した検査画像に対して画像処理を行い良否を検査する検査装置であって、
前記取得された検査画像において、オペレータによる前記検査装置の操作部からの操作指示によって、基準となる1つの配置単位を含む第1基準領域画像を指定する指定手段と、
前記検査画像において、前記第1基準領域画像との類似度が所定の基準を満たす少なくとも1つの第1類似領域画像を抽出する第1抽出手段と、
前記第1基準領域画像と前記各第1類似領域画像との差異からマスク領域を作成するマスク作成手段と、
を具備し、
前記配置単位を含む領域の検査において、前記マスク領域を検査から除外することを特徴とする検査装置。 - 前記マスク作成手段は、領域枠に外接する前記差異の和を前記マスク領域とすることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記マスク作成手段は、膨張処理を施して前記マスク領域を作成することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の検査装置。
- 前記複数の配置単位は、それぞれ、同一方向あるいは所定の角度に回転させて前記検査対象物に配置されることを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかに記載の検査装置。
- 前記検査画像において、前記第1基準領域画像から前記マスク領域が除外された第2基準領域画像との類似度が所定の基準を満たす少なくとも1つの第2類似領域画像を抽出する第2抽出手段と、
前記第2基準領域画像と前記第2類似領域画像とを比較して前記検査対象物の良否を判定する判定手段と、
を具備することを特徴とする請求項1から請求項4までのいずれかに記載の検査装置。 - 前記判定手段は、前記第2基準領域画像から前記第2類似領域画像の差分処理を行い、所定の閾値で2値化して所定の画素数を超える領域を汚れ欠陥として判定することを特徴とする請求項5に記載の検査装置。
- 前記判定手段は、前記第2類似領域画像から前記第2基準領域画像の差分処理を行い、所定の閾値で2値化して所定の画素数を超える領域を欠け欠陥として判定することを特徴とする請求項5または請求項6に記載の検査装置。
- 同一の配置単位が複数配置される検査対象物を撮像して取得した検査画像に対して画像処理を行い良否を検査する検査装置における検査方法であって、
前記取得された検査画像において、オペレータによる前記検査装置の操作部からの操作指示によって、基準となる1つの配置単位を含む第1基準領域画像を指定する指定工程と、
前記検査画像において、前記第1基準領域画像との類似度が所定の基準を満たす少なくとも1つの第1類似領域画像を抽出する第1抽出工程と、
前記第1基準領域画像と前記各第1類似領域画像との差異からマスク領域を作成するマスク作成工程と、
を具備し、
前記配置単位を含む領域の検査において、前記マスク領域を検査から除外することを特徴とする検査方法。 - 前記マスク作成工程は、領域枠に外接する前記差異の和を前記マスク領域とすることを特徴とする請求項8に記載の検査方法。
- 前記マスク作成工程は、膨張処理を施して前記マスク領域を作成することを特徴とする請求項8または請求項9に記載の検査方法。
- 前記複数の配置単位は、それぞれ、同一方向あるいは所定の角度に回転させて前記検査対象物に配置されることを特徴とする請求項8から請求項10までのいずれかに記載の検査方法。
- 前記検査画像において、前記第1基準領域画像から前記マスク領域が除外された第2基準領域画像との類似度が所定の基準を満たす少なくとも1つの第2類似領域画像を抽出する第2抽出工程と、
前記第2基準領域画像と前記第2類似領域画像とを比較して前記検査対象物の良否を判定する判定工程と、
を具備することを特徴とする請求項8から請求項11までのいずれかに記載の検査方法。
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