JP4215798B2 - 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 - Google Patents
測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4215798B2 JP4215798B2 JP2006340098A JP2006340098A JP4215798B2 JP 4215798 B2 JP4215798 B2 JP 4215798B2 JP 2006340098 A JP2006340098 A JP 2006340098A JP 2006340098 A JP2006340098 A JP 2006340098A JP 4215798 B2 JP4215798 B2 JP 4215798B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- signal generator
- signal
- power
- reflection coefficient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
- G01R27/32—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
20 接続回路
22 選択部
24 発生制御部
26 電力測定装置
28 特性算出部
30 校正部
32 出力反射係数算出部
34 出力伝送係数算出部
42 出力信号分離器
44 反射信号分離器
46 第1ダウンコンバータ
48 第2ダウンコンバータ
50 出力信号検出部
52 反射信号検出部
54 入力反射係数算出部
56 電力測定部
100 信号発生器
110 出力端子
202 RF信号源
204 スイッチマトリクス
206 パワーセンサ
Claims (12)
- 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器の出力反射係数を測定する測定装置であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路と、
前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続する選択部と、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させる発生制御部と、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において前記信号発生器から出力された出力信号の電力を順次に測定する電力測定装置と、
前記所定の電力、前記電力測定装置により測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力反射係数を算出する出力反射係数算出部と
を備える測定装置。 - 前記出力反射係数算出部は、以下の式(1)により前記信号発生器の前記出力反射係数を算出する
請求項1に記載の測定装置。
- 前記式(1)において左式の左側の行列に対応する行列式の値が、予め定められた値より小さい場合において、
前記発生制御部は、前記所定の周波数より高い第1周波数の出力信号および前記所定の周波数より低い第2周波数の出力信号を前記信号発生器から出力させ、
前記電力測定装置は、前記第1周波数の出力信号および前記第2周波数の出力信号のそれぞれについて、前記第1から第kの接続回路が前記信号発生器に接続されたそれぞれの状態において電力を測定し、
前記出力反射係数算出部は、
前記第1周波数を前記所定の周波数として、前記信号発生器の前記第1周波数における出力反射係数を前記式(1)により算出し、
前記第2周波数を前記所定の周波数として、前記信号発生器の前記第2周波数における出力反射係数を前記式(1)により算出し、
前記信号発生器の前記第1周波数における出力反射係数および前記信号発生器の前記第2周波数における出力反射係数を補間して、前記所定の周波数における出力反射係数を算出する
請求項2に記載の測定装置。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器の出力反射係数を測定する測定装置であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路と、
前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続する選択部と、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させる発生制御部と、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられ、前記信号発生器から前記接続回路へ向かう方向に伝播する前記出力信号の一部を分離した出力分離信号を出力する出力信号分離器と、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられ、前記接続回路から前記信号発生器へ向かう方向に伝播する反射信号の一部を分離した反射分離信号を出力する反射信号分離器と、
前記出力分離信号をアナログ/デジタル変換して検出する出力信号検出部と、
前記反射分離信号をアナログ/デジタル変換して検出する反射信号検出部と、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記反射分離信号に対する前記出力分離信号の割合に基づき、前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数を算出する入力反射係数算出部と、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記出力分離信号に基づき、前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において出力された前記出力信号の電力を順次に測定する電力測定部と、
前記所定の電力、前記電力測定部により測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力反射係数を算出する出力反射係数算出部と
を備える測定装置。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器の出力反射係数を測定する測定方法であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続し、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させ、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において前記信号発生器から出力された出力信号の電力を電力測定装置により順次に測定し、
前記所定の電力、前記電力測定装置により測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力反射係数を算出する
測定方法。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器の出力反射係数を測定する測定方法であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続し、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させ、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられた出力信号分離器により、前記信号発生器から前記接続回路へ向かう方向に伝播する前記出力信号の一部を分離した出力分離信号を出力し、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられた反射信号分離器により、前記接続回路から前記信号発生器へ向かう方向に伝播する反射信号の一部を分離した反射分離信号を出力し、
前記出力分離信号をアナログ/デジタル変換して検出し、
前記反射分離信号をアナログ/デジタル変換して検出し、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記反射分離信号に対する前記出力分離信号の割合に基づき、前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数を算出し、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記出力分離信号に基づき、前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において出力された前記出力信号の電力を順次に測定し、
前記所定の電力、測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力反射係数を算出する
測定方法。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器を校正する校正装置であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路と、
前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続する選択部と、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させる発生制御部と、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において前記信号発生器から出力された出力信号の電力を順次に測定する電力測定装置と、
前記所定の電力、前記電力測定装置により測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力伝送係数を算出する特性算出部と、
与えられた前記設定値に応じた電力を出力するように算出した前記出力伝送係数に基づき前記信号発生器を校正する校正部と
を備える校正装置。 - 前記特性算出部は、
以下の式(1)により、前記信号発生器の出力反射係数を算出する出力反射係数算出部と、
以下の式(2)により前記出力伝送係数を算出する出力伝送係数算出部と
を有する請求項7に記載の校正装置。
- 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器を校正する校正装置であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路と、
前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続する選択部と、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させる発生制御部と、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられ、前記信号発生器から前記接続回路へ向かう方向に伝播する前記出力信号の一部を分離した出力分離信号を出力する出力信号分離器と、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられ、前記接続回路から前記信号発生器へ向かう方向に伝播する反射信号の一部を分離した反射分離信号を出力する反射信号分離器と、
前記出力分離信号をアナログ/デジタル変換して検出する出力信号検出部と、
前記反射分離信号をアナログ/デジタル変換して検出する反射信号検出部と、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記反射分離信号に対する前記出力分離信号の割合に基づき、前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数を算出する入力反射係数算出部と、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記出力分離信号に基づき、前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において出力された前記出力信号の電力を順次に測定する電力測定部と、
前記所定の電力、前記電力測定部により算出された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前前記信号発生器の出力伝送係数を算出する特性算出部と、
与えられた前記設定値に応じた電力を出力するように算出した前記出力伝送係数に基づき前記信号発生器を校正する校正部と
を備える校正装置。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器を校正する校正方法であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続し、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させ、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において前記信号発生器から出力された出力信号の電力を電力測定装置により順次に測定し、
前記所定の電力、前記電力測定装置により測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力伝送係数を算出し、
与えられた前記設定値に応じた電力を出力するように算出した前記出力伝送係数に基づき前記信号発生器を校正する
校正方法。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器を校正する校正方法であって、
互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも4つの接続回路のそれぞれを順次に前記信号発生器に接続し、
前記信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させ、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられた出力信号分離器により、前記信号発生器から前記接続回路へ向かう方向に伝播する前記出力信号の一部を分離した出力分離信号を出力し、
前記信号発生器と当該信号発生器に接続された前記接続回路との間に設けられた反射信号分離器により、前記接続回路から前記信号発生器へ向かう方向に伝播する反射信号の一部を分離した反射分離信号を出力し、
前記出力分離信号をアナログ/デジタル変換して検出し、
前記反射分離信号をアナログ/デジタル変換して検出し、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記反射分離信号に対する前記出力分離信号の割合に基づき、前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数を算出し、
前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において検出された前記出力分離信号に基づき、前記少なくとも4つの接続回路が前記信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において出力された前記出力信号の電力を順次に測定し、
前記所定の電力、測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの接続回路のそれぞれの前記所定の周波数における入力反射係数に基づき、前前記信号発生器の出力伝送係数を算出し、
与えられた前記設定値に応じた電力を出力するように算出した前記出力伝送係数に基づき前記信号発生器を校正する
校正方法。 - 与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器の出力反射係数を測定する測定装置であって、
前記信号発生器に接続される接続回路が、互いに異なる少なくとも4つの入力反射係数のそれぞれの入力反射係数を有する状態において前記信号発生器から所定の電力で出力された出力信号の電力を、前記接続回路を介して測定する電力測定装置と、
前記所定の電力、前記電力測定装置により測定された電力測定値、および前記少なくとも4つの入力反射係数に基づき、前記信号発生器の出力反射係数を算出する出力反射係数算出部と
を備える測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006340098A JP4215798B2 (ja) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 |
PCT/JP2007/073977 WO2008075602A1 (ja) | 2006-12-18 | 2007-12-12 | 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 |
TW96148192A TW200831917A (en) | 2006-12-18 | 2007-12-17 | Measuring apparatus, measuring method, calibration apparatus, and calibration method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006340098A JP4215798B2 (ja) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008151652A JP2008151652A (ja) | 2008-07-03 |
JP2008151652A5 JP2008151652A5 (ja) | 2008-08-14 |
JP4215798B2 true JP4215798B2 (ja) | 2009-01-28 |
Family
ID=39536233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006340098A Expired - Fee Related JP4215798B2 (ja) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4215798B2 (ja) |
TW (1) | TW200831917A (ja) |
WO (1) | WO2008075602A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200063018A (ko) * | 2018-11-27 | 2020-06-04 | 삼성전자주식회사 | 안테나 반사 계수를 측정하기 위한 방법 및 장치 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014048063A (ja) | 2012-08-29 | 2014-03-17 | Advantest Corp | 測定装置および測定方法 |
CN103645454B (zh) * | 2013-12-17 | 2016-03-23 | 国家电网公司 | 一种直流输电系统中直流电流测量设备极性的校验方法 |
US9632122B2 (en) | 2014-06-23 | 2017-04-25 | Keysight Technologies, Inc. | Determining operating characteristics of signal generator using measuring device |
CN110412496B (zh) * | 2019-07-29 | 2021-05-07 | 中电科思仪科技股份有限公司 | 集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5467021A (en) * | 1993-05-24 | 1995-11-14 | Atn Microwave, Inc. | Calibration method and apparatus |
JPH11211766A (ja) * | 1998-01-26 | 1999-08-06 | Advantest Corp | 自動キャリブレーション装置 |
JP2001272428A (ja) * | 1999-02-05 | 2001-10-05 | Advantest Corp | ネットワークアナライザ、ネットワーク分析方法およびネットワーク分析プログラムを記録した記録媒体 |
US6826506B2 (en) * | 2000-09-18 | 2004-11-30 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT |
JP3510866B2 (ja) * | 2001-05-14 | 2004-03-29 | アンリツ株式会社 | 半導体デバイステストシステム |
JP4255017B2 (ja) * | 2002-04-17 | 2009-04-15 | 株式会社アドバンテスト | 自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体 |
-
2006
- 2006-12-18 JP JP2006340098A patent/JP4215798B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-12-12 WO PCT/JP2007/073977 patent/WO2008075602A1/ja active Application Filing
- 2007-12-17 TW TW96148192A patent/TW200831917A/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200063018A (ko) * | 2018-11-27 | 2020-06-04 | 삼성전자주식회사 | 안테나 반사 계수를 측정하기 위한 방법 및 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200831917A (en) | 2008-08-01 |
WO2008075602A1 (ja) | 2008-06-26 |
TWI364546B (ja) | 2012-05-21 |
JP2008151652A (ja) | 2008-07-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4215798B2 (ja) | 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法 | |
JP5498217B2 (ja) | 高周波測定装置、および、高周波測定装置の校正方法 | |
US8280667B2 (en) | Test apparatus, performance board and calibration board | |
JP5246172B2 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
WO2011151856A1 (ja) | 測定装置および測定方法 | |
CN106773786B (zh) | 一种rvdt信号仿真电路、方法及装置 | |
CN1892246B (zh) | 用于校准自动电路测试系统的系统、方法和装置 | |
JP2008304450A (ja) | ベクトルネットワークアナライザ/雑音指数測定 | |
JP2008157911A (ja) | インピーダンス測定装置 | |
JP2008151652A5 (ja) | ||
IL233537A (en) | Identify faulty electrical cables | |
JP2001201524A (ja) | 電気信号の比率測定装置、電気素子測定装置、電気素子測定装置の校正方法及び電気信号の比率測定方法 | |
JP3965701B2 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP5177904B2 (ja) | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力測定装置、入力測定装置 | |
JP2008014781A (ja) | ネットワーク・アナライザの校正方法、および、ネットワーク・アナライザ | |
JP4996992B2 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
WO2012097558A1 (zh) | 终端工作电流调试系统及方法 | |
JP2006242799A (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
KR20160114681A (ko) | 측정 오차의 보정 방법 및 전자부품 특성 측정 장치 | |
CN110361602A (zh) | 一种手机天线驻波测试仪及利用其进行驻波测试的方法 | |
JP5458817B2 (ja) | 電子部品の電気特性測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP2009156580A (ja) | 入力容量測定回路 | |
JP4972386B2 (ja) | 試験装置および測定装置 | |
JP6315273B2 (ja) | 絶縁状態測定装置 | |
JP4799307B2 (ja) | 電力測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080619 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080619 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20080619 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20080708 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080715 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081028 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081104 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111114 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131114 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |