CN110412496B - 集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法 - Google Patents

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Abstract

本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。

Description

集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法
技术领域
本公开涉及微波测试技术领域，特别涉及一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路、方法及多参数测试仪。
背景技术
本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术，并不必然构成现有技术。
随着微波半导体器件(集成电路)的产业化发展，对微波半导体器件多参数测试仪的需求和应用规模越来越大，同时对于微波半导体器件多参数测试仪的功能集成度、测试与应用规模及效率等要求也越来越高。为有效解决微波半导体器件多参数测试仪简易、经济、高效的测试功能自检问题，需要一种适用于微波半导体器件多参数测试仪的测试功能快速自检方法及电路，以最大限度地满足在微波半导体器件(集成电路)产线应用中实现仪器测试功能状态快速现场核查的应用需求和技术要求。由于传统的微波半导体器件测试设备大多采用的是基于通用测试仪器的集成方式，因此其测试功能自检方法采用的是借助外部标准测试仪器设备分别对其所配置通用测试仪器的相关测试功能进行检查的方式，存在效率较低、资源占用成本高且操作过程繁杂等问题。而微波半导体器件多参数测试仪内部设计方式并不同于传统基于通用测试仪器的集成方式，在测试与应用规模及效率等要求方面也与传统基于通用测试仪器的方式有很大不同。
基于传统方法，如图1所示，微波半导体器件多参数测试仪的测试功能自检需要参照传统微波半导体器件测试设备的测试功能自检方法借助外部标准测试仪器设备进行，需要将信号接收与分析类的标准测试设备手动逐一直接连接在测试端口(发射通道)或通过电缆连接至测试端口(发射通道)，以检查微波半导体器件多参数测试仪的“输出信号特性+多个发射通道”的测试功能正常性；需要将信号发生与激励类的标准测试设备手动逐一直接连接在测试端口(接收通道)或通过电缆连接至测试端口(接收通道)，以检查微波半导体器件多参数测试仪的“接收信号特性+多个接收通道”的测试功能正常性。由于要适应产线应用的测试需求，通常微波半导体器件多参数测试仪的功能集成度较高，测试规模较大，因此测试功能的自检就需要多次分别拆卸和装联加以实现，不仅操作过程繁杂，而且效率较低，难以有效满足微波半导体器件产线应用中在现场对仪器测试功能状态进行快速核查的测试应用需求。
根据实际应用的需求分析，参照传统微波半导体器件测试设备的测试功能自检方法进行微波半导体器件多参数测试仪的测试功能自检存在着明显不足，微波半导体器件多参数测试仪的测试功能自检需要多次分别拆卸和装联不同类型的标准测试设备(如信号接收与分析类、信号发生与激励类)加以实现，每次连接需要人工操作和干预，不仅操作过程繁杂，人为引入的不确定性较大，而且对资源的占用成本以及操作人员的技术和素质要求也都较高，总体测试及应用效率较低，不能满足微波半导体器件产线应用中在现场对仪器测试功能状态进行快速核查的测试需求。因此，目前参照传统微波半导体器件测试设备的测试功能自检方法已不能适应微波半导体器件多参数测试仪在产线应用的测试需求，需要创新提出或形成与应用需求相适应的测试功能自检方法与技术。
发明内容
为了解决现有技术的不足，本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，实现了微波半导体器件多参数测试仪的测试功能快速自检，一次性完成多路收发通道的测试功能核查，有效解决基于传统自检方法的测试效率较低、资源占用成本高以及操作过程繁杂等问题，在所支持测试规模范围内以通用化的方式提供简易、经济、高效的测试功能自检解决方案。
为了实现上述目的，本公开采用如下技术方案：
第一方面，本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路；
一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，所述通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；所述信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检。
作为可能的一些实现方式，所述通道矩阵为N×M通道矩阵，其中N和M均为大于或者等于1的正整数；根据所支持测试规模确定N×M通道矩阵中的N和M的取值。
作为可能的一些实现方式，还包括控制模块，所述控制模块分别与信号发生与激励类功能电路和信号接收与分析类的功能电路通信连接，用于协同控制所配置的信号发生与激励类电路和信号接收与分析类的功能电路正常工作。
作为进一步的限定，所述控制模块与通道矩阵通信连接，所述控制模块用于控制构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。
作为更进一步的限定，所述控制模块用于控制构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。
第二方面，本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法；
一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，步骤如下：
构建通道矩阵并与各个测试端口连接，通过控制模块协同控制所配置的信号发生与激励类、信号接收与分析类的功能电路正常工作；
构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；
如果信号发生与激励类功能电路自检测试正常，构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；
通过传递式的快速自检测试链完成仪器整机测试功能的完整核查测试。
作为可能的一些实现方式，对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈的测试数据信息包括“信号发生与激励类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。
作为可能的一些实现方式，对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈的测试数据信息包括“信号接收与分析类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。
作为可能的一些实现方式，如果信号发生与激励类功能电路自检测试异常，对信号发生与激励类功能电路进行校正，直至自检测试正常再进入下一步。
第三方面，本公开提供了一种多参数测试仪，包括本公开所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路。
第四方面，本公开提供了一种多参数测试仪，利用本公开所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法。
与现有技术相比，本公开的有益效果是：
本公开提出基于“任意N×M通道矩阵+信号分析模块+测试功能快速自检软件”等综合集成的微波半导体器件多参数测试仪测试功能的快速自检方法及电路，通过单次直接互连后的自动切换与执行，就可通过本公开的自检电路实现多路收发通道(如可达32路收/发通道)的测试功能(含信号接收与分析、信号发生与激励)核查，有效解决微波半导体器件多参数测试仪的传统自检需要多次分别拆卸和装联不同外部标准测试仪器设备才能实现相应测试功能自检的技术难题，大大缩短自检测试时间，降低操作成本和复杂度，提高测试及应用效率。
本公开所述的多参数测试仪测试功能的快速自检方法及电路，无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。
本公开提出基于适应现场快速应用的传递式测试功能自检的集成测控方法，不仅大大降低了进行测试功能的完整核查测试时对测试资源的占用成本，而且方便结合微波半导体器件多参数测试仪的应用特性将测试功能自检整合融入自动测试的完整能力中，实现微波半导体器件多参数测试仪在产线现场应用的高效集成测控与微波半导体器件产线的现场快速应用，满足实际需求对测试工程领域的现实技术要求。
附图说明
图1为本公开背景技术中所述的微波半导体器件多参数测试仪的传统测试功能自检方法原理示意图。
图2为本公开实施例1所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路结构示意图。
图3为本公开实施例2所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法流程图。
具体实施方式
应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本公开提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本公开所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本公开的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
实施例1：
如图2所述，本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，所述通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；所述信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检。
所述通道矩阵为N×M通道矩阵，其中N和M均为大于或者等于1的正整数，根据所支持测试规模确定N×M通道矩阵中的N和M的取值。
还包括控制模块，为微波半导体器件多参数测试仪所搭载的用于测试功能快速自检的软件模块，所述控制模块分别与信号发生与激励类功能电路和信号接收与分析类的功能电路通信连接，用于协同控制所配置的信号发生与激励类电路和信号接收与分析类的功能电路正常工作。
所述控制模块与通道矩阵通信连接，所述控制模块用于控制构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。
所述控制模块用于控制构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。
由于实施例所述的快速自检电路的端面和微波半导体器件多参数测试仪的测试端面是直接互连，同时内部N×M通道矩阵支持为测试规模范围内的不同仪器配置提供最大数量的测试通道构建能力，而且充分利用适应现场快速应用的传递式快速测试功能自检方法，因此可以在不借助外部标准测试仪器设备的条件下实现通过一次性连接即可完成多路收发通道(如可达32路收/发通道)的测试功能(含信号接收与分析、信号发生与激励)核查，在所支持测试规模范围内以通用化的方式提供简易、经济、高效的测试功能快速自检解决方案。
实施例2：
如图3所示，本公开实施例2提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，步骤如下：
构建通道矩阵并与各个测试端口连接，通过控制模块协同控制所配置的信号发生与激励类、信号接收与分析类的功能电路正常工作；
构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；所述测试数据信息包括“信号发生与激励类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。
如果信号发生与激励类功能电路自检测试正常，构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；所述测试数据信息包括“信号接收与分析类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。
通过传递式的快速自检测试链完成仪器整机测试功能的完整核查测试。
如果信号发生与激励类功能电路自检测试异常，对信号发生与激励类功能电路进行校正，直至自检测试正常再进入下一步。
实施例3：
本公开实施例3提供了一种多参数测试仪，包括本公开实施例1所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路。
实施例4：
本公开实施例4提供了一种多参数测试仪，利用本公开实施例2所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法。
以上所述仅为本公开的优选实施例而已，并不用于限制本公开，对于本领域的技术人员来说，本公开可以有各种更改和变化。凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，包括通道矩阵、信号分析模块、控制模块和多个测试端口，所述通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；所述信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检，所述控制模块用于控制构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。
2.如权利要求1所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，所述通道矩阵为N×M通道矩阵，其中N和M均为大于或者等于1的正整数；根据所支持测试规模确定N×M通道矩阵中的N和M的取值。
3.如权利要求1所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，所述控制模块分别与信号发生与激励类功能电路和信号接收与分析类的功能电路通信连接，用于协同控制所配置的信号发生与激励类电路和信号接收与分析类的功能电路正常工作。
4.如权利要求3所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，所述控制模块与通道矩阵通信连接，所述控制模块用于控制构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。
5.一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，步骤如下：
构建通道矩阵并与各个测试端口连接，通过控制模块协同控制所配置的信号发生与激励类、信号接收与分析类的功能电路正常工作；
构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；
如果信号发生与激励类功能电路自检测试正常，构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；
通过传递式的快速自检测试链完成仪器整机测试功能的完整核查测试。
6.如权利要求5所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈的测试数据信息包括“信号发生与激励类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。
7.如权利要求5所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈的测试数据信息包括“信号接收与分析类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。
8.如权利要求5所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，如果信号发生与激励类功能电路自检测试异常，对信号发生与激励类功能电路进行校正，直至自检测试正常再进入下一步。
9.一种多参数测试仪，其特征在于，包括权利要求1-4任一项所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路；
或，利用权利要求5-8任一项所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法。
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