JP4211702B2 - 鋳巣計測方法 - Google Patents
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鋳造品をX線CTで実測してこの鋳造品の鋳巣データを取得し、取得した鋳巣データに基づく所定の測定値とその測定値の大きさに応じた輝度値の最適閾値とを関連づける最適閾値関数を定め、この最適閾値関数を用いて各鋳巣ごとに輝度値の最適閾値を求めるとともに、この最適閾値と一の輝度値との差を輝度値補正量として鋳巣データを補正し、補正された鋳巣データを該一の輝度値を閾値として2値化処理することを特徴とする。
なお、MinMaxフィルタ処理は、前記断面画像データの各画素位置の画素について該画素を中心とする所定範囲内の画素の最大画素値と最小画素値との差を該画素の画素値とする処理である。
Claims (8)
- 検査対象の鋳造品をX線CTで実測し該鋳造品の内部欠陥である鋳巣を計測する鋳巣計測方法において、
前記鋳造品をX線CTで実測して該鋳造品の鋳巣データを取得し、取得した該鋳巣データに基づく所定の測定値と該測定値の大きさに応じた輝度値の最適閾値とを関連づける最適閾値関数を定め、
該最適閾値関数を用いて該鋳巣ごとに輝度値の最適閾値を求めるとともに、
該最適閾値と一の輝度値との差を輝度値補正量として前記鋳巣データを補正し、補正された該鋳巣データを該一の輝度値を閾値として2値化処理することを特徴とする鋳巣計測方法。 - 前記鋳造品をX線CTで実測し、得られたCTデータに基づいて第1の輝度値を閾値として2値化処理し前記鋳造品の第1の2値化画像を作成する第1の画像作成工程と、
前記第1の2値化画像内を探索して全ての鋳巣データを取得する鋳巣探索工程と、
前記鋳巣データに基づく鋳巣の径と該径の大きさに応じた輝度値の最適閾値とを関連づける最適閾値関数を定め、該最適閾値関数を用いて鋳巣ごとに最適閾値を求めるとともに、該最適閾値と第2の輝度値との差を輝度値補正量として前記鋳巣データに補正を加える画像フィルタ処理工程と、
前記補正された鋳巣データについて前記第2の輝度値を閾値として再度2値化処理し第2の2値化画像を作成する第2の画像作成工程と、を有する請求項1に記載の鋳巣計測方法。 - 前記第1の輝度値は前記第2の輝度値よりも大きい請求項2に記載の鋳巣計測方法。
- 前記第2の輝度値は前記鋳造品の外形形状計測に最適な閾値である請求項3に記載の鋳巣計測方法。
- 前記第2の輝度値をV0、前記鋳巣の大きさをd、該鋳巣の大きさの最適閾値関数をf(d)として、前記各鋳巣の大きさに対する輝度値の補正量VcがVc=f(d)−V0で表される請求項2〜4に記載の鋳巣計測方法。
- 前記鋳造品をX線CTで実測し、得られた断面画像データにMinMaxフィルタ処理を施して鋳巣を探索し、各鋳巣ごとの輝度値の変化量を求める変化量計測工程と、
該鋳巣の輝度値変化量と該輝度値変化量の大きさに応じた輝度値の最適閾値とを関連づける最適閾値関数を定め、該最適閾値関数を用いて該鋳巣ごとに最適閾値を求めるとともに、該最適閾値と所定の輝度値との差を輝度値補正量として前記鋳巣データに補正を加えるデータ補正工程と、
前記補正された鋳巣データについて前記所定の輝度値を閾値として2値化処理し2値化画像を作成する画像作成工程と、を有する請求項1に記載の鋳巣計測方法。 - 前記所定の輝度値をV0、前記輝度値の変化量をΔV、該輝度値の変化量の最適閾値関数をf(ΔV)として、前記輝度値の変化量に対する輝度値の補正量VcがVc=f(ΔV)−V0で表される請求項6に記載の鋳巣計測方法。
- 前記MinMaxフィルタ処理は、前記断面画像データの各画素位置の画素について該画素を中心とする所定範囲内の最大画素値と最小画素値との差を該画素の画素値とする処理である請求項6又は7に記載の鋳巣計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004214345A JP4211702B2 (ja) | 2004-05-12 | 2004-07-22 | 鋳巣計測方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004142471 | 2004-05-12 | ||
JP2004214345A JP4211702B2 (ja) | 2004-05-12 | 2004-07-22 | 鋳巣計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005351875A JP2005351875A (ja) | 2005-12-22 |
JP4211702B2 true JP4211702B2 (ja) | 2009-01-21 |
Family
ID=35586469
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004214345A Expired - Fee Related JP4211702B2 (ja) | 2004-05-12 | 2004-07-22 | 鋳巣計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4211702B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007271434A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査装置、検査方法、検査プログラムおよび検査システム |
JP5166909B2 (ja) * | 2008-02-25 | 2013-03-21 | 三菱重工業株式会社 | 検査装置と検査方法 |
JP5408659B2 (ja) * | 2009-11-26 | 2014-02-05 | 国立大学法人九州大学 | 複合容器の品質判定装置及び方法 |
DE102010043226A1 (de) * | 2010-11-02 | 2012-05-03 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Auswertungsvorrichtung zur Ermittlung der Lage einer in einem zu untersuchenden Objekt befindlichen Struktur mittels Röntgencomputertomografie |
JP6525837B2 (ja) * | 2015-09-25 | 2019-06-05 | 大同特殊鋼株式会社 | 製品の欠陥検出方法 |
JP7026478B2 (ja) * | 2017-10-19 | 2022-02-28 | 株式会社デンソー | ワーク検査装置及びワーク検査方法 |
CN109459451A (zh) * | 2018-12-13 | 2019-03-12 | 中国航空工业集团公司上海航空测控技术研究所 | 一种基于射线造影的金属内部微小裂纹检测方法 |
FR3111703B1 (fr) | 2020-06-18 | 2022-05-20 | Skf Svenska Kullagerfab Ab | Procédé de détection d’un défaut critique pour élément roulant en matériau céramique |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60207041A (ja) * | 1984-03-31 | 1985-10-18 | Toshiba Corp | 放射線断層検査装置 |
JPS6120845A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Toshiba Corp | 特異部分面積頻度測定装置 |
US4803639A (en) * | 1986-02-25 | 1989-02-07 | General Electric Company | X-ray inspection system |
JPH05154155A (ja) * | 1991-12-03 | 1993-06-22 | Toshiba Corp | 画像処理装置 |
JPH05192326A (ja) * | 1992-01-20 | 1993-08-03 | Toshiba Corp | 断層像輪郭線描画装置 |
JPH11296700A (ja) * | 1998-04-07 | 1999-10-29 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | 3次元画像表示装置 |
US6839457B1 (en) * | 1999-06-03 | 2005-01-04 | Teijin Limited | Bone measuring method |
EP1148333A1 (de) * | 2000-02-05 | 2001-10-24 | YXLON International X-Ray GmbH | Verfahren zur automatischen Gussfehlererkennung in einem Prüfling |
JP3700082B2 (ja) * | 2000-09-26 | 2005-09-28 | トヨタ自動車株式会社 | 3次元モデル化方法及び装置 |
JP2003099804A (ja) * | 2001-07-16 | 2003-04-04 | Toyota Motor Corp | 3次元構造モデル化装置 |
JP2004012407A (ja) * | 2002-06-11 | 2004-01-15 | Hitachi Ltd | 透過画像提供システムおよびx線ct・dr撮影サービスシステム |
JP4178854B2 (ja) * | 2002-07-08 | 2008-11-12 | トヨタ自動車株式会社 | 鋳造品内部欠陥検査支援装置及び方法 |
-
2004
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005351875A (ja) | 2005-12-22 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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