JP4169027B2 - 測距装置及び測距方法 - Google Patents

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Description

本発明は、位相差センサを用いて測定対象までの距離を測定する測距装置及び測距方法に関する。
スクリーン上に任意の画像を投影する投影装置(プロジェクタ)において、スクリーンに対する装置の設置具合などによって、スクリーン上に投影された画像の四片が台形状に歪むことがある。
このような投影画像の歪みを自動補正する方法として、投影光学系からスクリーンまでの距離を3点以上測定することにより、これらの測定点までの距離の位相差に基づいてスクリーン投影面の傾き角度を検出し、そこに投影された画像の歪みを補正することが行われている(例えば、特許文献1参照)。
なお、測定対象までの距離を測定することを「測距」と呼び、その測距結果に基づいて投影画像の歪みを補正することを、歪みの形状が台形であることから「台形補正」と呼ばれている。
ここで、測距用のセンサとして、プロジェクタなどに一般的に用いられている位相差センサは、環境温度や光源の熱などの影響を受けて、形状が経時的に変化することがある。この形状変化は微小ではあるものの、センサ自体のサイズが小さいため、測定精度に大きな影響を与える。
従来、プロジェクタに関して、位相差センサを用いた測定誤差を軽減する技術としては、特許文献2に開示されているものがある。
この特許文献2では、チャート画像(測距用のパターン画像)を複数回シフトしながら投影して測定を行うことにより、その複数回分の測定結果を平均化するといった技術が開示されている。しかしながら、複数回の測定によって誤差を軽減するといった方法であり、位相差センサ自体の形状変化による測定精度の誤差を解消することはできない。
また、位相差センサを用いたカメラの分野において、特許文献3に開示されているものがある。
この特許文献3のカメラは、測定を阻害する外的要因の発生を検出し、再測定が必要であることを促す機能を備える。例えば、位相差センサを撮影者の指で覆ったままで撮影を行った場合に、撮影者に警告するといったものである。しかしながら、単に測定不可の状態を警告するだけであり、前記特許文献2と同様に、位相差センサの形状変化による測定誤差を解消することはできない。
特開2005−006228号公報 特開2005−061925号公報 特開2005−307934号公報
上述したように、プロジェクタでは、位相差センサを用いてスクリーンまでの距離を複数箇所測定し、これらの点の距離データからスクリーンの傾き角度を算出している。この場合、例えば水平方向の傾きであれば、左右2点の距離の比率から算出される。
ところが、位相差センサの特性ばらつきにより、前記左右の距離の比率が経時的な形状変化に伴い誤差を含むようになる。それが傾き角度の検出に影響を与え、結果的に台形補正機能の信頼性の低下を招くといった問題があった。
本発明は前記のような点に鑑みなされたもので、位相差センサの測定誤差を軽減して精度の高い測距を行うことのできる測距装置及び測距方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に係る測距装置は、1列に配置される複数の光検出部を有し、測定対象までの距離を位相差方式により測定する位相差センサと、この位相差センサを、前記位相差センサの中心から前記光検出部が配置される列方向と直交するとともに測定方向に延ばした直線であるセンサ光軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転する検出範囲回転手段と、この検出範囲回転手段によって前記位相差センサの検出範囲を少なくとも第1の角度とその第1の角度から180度回転させた第2の角度に設定した場合に得られる測定結果の平均を、最終的な距離データとして算出する測距処理手段とを具備したことを特徴とする。
本発明の請求項2は、前記請求項1記載の測距装置において、前記測距処理手段は、前記位相差センサの検出範囲を前記第1の角度から90度回転させた第3の角度と前記第1の角度から270度回転させた第4の角度に設定した場合に得られる測定結果の平均を、最終的な距離データとして算出する処理を含むことを特徴とする。
本発明の請求項3は、前記請求項1記載の測距装置において、前記位相差センサの前面に配置された光学系部材を備え、前記検出範囲回転手段は、前記位相差センサを前記測定対象に向けた状態で前記光学系部材を前記センサ光軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする。
本発明の請求項4は、前記請求項3記載の測距装置において、前記光学系部材は、ダブプリズムであることを特徴とする。
本発明の請求項5は、前記請求項1記載の測距装置において、前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に所定角度で傾けて配置されたハーフミラーと、このハーフミラーを介して前記測定対象に向けて配置された直角鏡対とを備え、前記検出範囲回転手段は、前記直角鏡対をセンサ視野の中心軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする。
本発明の請求項6は、前記請求項1記載の測距装置において、前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に所定角度で傾けて配置されたハーフミラーと、このハーフミラーを介して前記位相差センサに向けて配置された直角鏡対とを備え、前記検出範囲回転手段は、前記直角鏡対を前記センサ光軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする。
本発明の請求項7は、前記請求項1記載の測距装置において、前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に所定角度で傾けて配置されたハーフミラーと、このハーフミラーを介して前記測定対象に向けて配置された直角プリズムミラーとを備え、前記検出範囲回転手段は、前記直角プリズムミラーをセンサ視野の中心軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする。
本発明の請求項8は、前記請求項1記載の測距装置において、前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に配置されたキューブ型ビームスプリッターと、このキューブ型ビームスプリッターを介して前記測定対象に向けて配置された直角プリズムミラーとを備え、前記検出範囲回転手段は、前記直角プリズムミラーをセンサ視野の中心軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする。
本発明の請求項9は、前記請求項5乃至8のいずれか1つに記載の測距装置において、前記位相差センサの設置方向を前記センサ光軸周りに所定角度回転させたことを特徴とする。
本発明の請求項10は、前記請求項1乃至9のいずれか1つに記載の測距装置を用いた投影装置である。
本発明の請求項11は、前記請求項1乃至9のいずれか1つに記載の測距装置を用いた撮像装置である。
本発明の請求項12に係る測距方法は、1列に配置される複数の光検出部を有する位相差センサを用いて測定対象までの距離を位相差方式により測定する第1のステップと、前記位相差センサの検出範囲を、前記位相差センサの中心から前記光検出部が配置される列方向と直交するとともに測定方向に延ばした直線であるセンサ光軸を中心に前記第1のステップで測定した状態から180度回転する第2のステップと、この第2のステップによる検出範囲の回転後に前記位相差センサを用いて測定対象までの距離を測定する第3のステップと、少なくとも前記第1のステップによって得られた測定結果と前記第3のステップによって得られた測定結果の平均を、最終的な距離データとして算出する第4のステップとを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、位相差センサの検出範囲(視野角)を回転(変更)可能な構成とし、その回転前後の測定結果に基づいて最終的な距離を算出するようにしたため、位相差センサの特性ばらつきなどを要因とした測定誤差を軽減して、精度の高い測距を行うことができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
なお、以下の各実施形態では、本発明の測距装置を投影装置(以下、プロジェクタと称す)に適用した場合を想定して説明する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態は、位相差センサを測定対象に向けた状態でセンサ光軸を中心に回転させることで、測定対象に対する位相差センサの検出範囲を回転させて、視野角を変更し、その変更前後の測定結果を用いて最終的な距離を算出するものである。なお、前記センサ光軸とは、位相差センサの中心からセンサ列と直交する方向かつ測定方向に延ばした直線を言う。また、前記視野角とは、位相差センサを測定対象に向けた状態でセンサ光軸を中心に回転させたときに変化する測定範囲の傾き角度のことを言う。
図1および図2は本発明の第1の実施形態に係る測距装置をプロジェクタに適用した場合の外観構成を示す図であり、図1は上から見た場合の斜視図、図2は下から見た場合の斜視図である。
図1に示すように、プロジェクタ10は、直方体状の本体ケーシング11の前面に投影レンズ12、位相差センサ13、Ir受信部14が設けられている。
投影レンズ12は、後述するマイクロミラー素子等の空間的光変調素子で形成された光像を投影するためのものであり、合焦位置及びズーム位置(投影画角)を任意に可変できる。位相差センサ13は、三角測距の原理に基づいて測定対象までの距離、具体的には画像投影面までの距離を測定するものである。なお、この位相差センサ13の構成については、後に詳しく説明する。
Ir受信部14は、図示せぬプロジェクタ10のリモートコントローラからのキー操作信号が重畳された赤外光を受信する。
また、本体ケーシング11の上面には、本体メインキー/インジケータ15、スピーカ16及びカバー17が配設される。
本体メインキー/インジケータ15は、例えば電源キー、ズームキー、フォーカスキーなどの各種操作キーと、電源のオン/オフ状態や、光源の温度状態などを表示する各種インジケータからなる。スピーカ16は、動画の再生時等の音声を拡声出力する。カバー17は、図示せぬサブキーを操作する際に開閉する。該サブキーは、プロジェクタ10のリモートコントローラを使用せずに、本体メインキー/インジケータ15のキーでは設定指示できない詳細な各種動作等を操作する。
さらに、図2に示すように、本体ケーシング11の背面には、入出力コネクタ部18、Ir受信部19、及びACアダプタ接続部20が配設される。
入出力コネクタ部18は、例えばパーソナルコンピュータ等の外部機器との接続のためのUSB端子、映像入力用のミニD−SUB端子、S端子、及びRCA端子と、音声入力用のステレオミニ端子等からなる。Ir受信部19は、前記Ir受信部14と同様に、図示しないリモートコントローラからのキー操作信号が重畳された赤外光を受信する。ACアダプタ接続部20は、電源となる図示しないACアダプタからのケーブルを接続する。
また、本体ケーシング11の下面には、背面側に一対の固定脚部21,21が取り付けられると共に、前面側に高さ調節が可能な調整脚部22が取り付けられる。調整脚部22は、そのねじ回転位置を手動で操作することにより、正確には投影レンズ12の投影方向の鉛直方向成分、すなわち仰角を調整する。
図3はプロジェクタの電子回路の機能構成を示すブロック図である。図中、前記入出力コネクタ部18より入力された各種規格の画像信号が、入出力インタフェース(I/F)31、システムバスSBを介して画像変換部32で所定のフォーマットの画像信号に統一された後に表示エンコーダ33へ送られる。
表示エンコーダ33は、画像信号をビデオRAM34に展開記憶させた上で、このビデオRAM34の記憶内容からビデオ信号を発生して表示駆動部35に出力する。
表示駆動部35は、画像信号に対応して適宜フレームレート、例えば30[フレーム/秒]で空間的光変調素子(SOM)36を表示駆動する。この空間的光変調素子36に対して、例えば超高圧水銀灯等の光源ランプ37が出射する高輝度の白色光を照射することで、その反射光で光像が形成され、投影レンズ12を介して不図示のスクリーンに投影表示される。前記投影レンズ12は、レンズモータ(M)38により駆動されることで、ズーム位置及びフォーカス位置を適宜移動する。
前記各回路のすべての動作制御を司るのが制御部39である。この制御部39は、マイクロコンピュータからなり、CPUと、該CPUで実行される動作プログラムを固定的に記憶したROM、及びワークメモリとして使用されるRAM等を備える。
また、この制御部39には、システムバスSBを介して画像記憶部40、音声処理部41が接続される。
画像記憶部40は、例えばフラッシュメモリ等からなり、測距用のチャート画像(横チャート画像及び縦チャート画像)やユーザロゴ画像の画像データを記憶する。これらの画像データは、前記表示エンコーダ33へ送出され、投影レンズ12を介してスクリーン上に投影表示させる。
音声処理部41は、PCM音源等の音源回路を備え、投影表示動作時に与えられる音声データをアナログ化し、前記スピーカ16を駆動して拡声放音させる。
なお、前記本体メインキー/インジケータ15とカバー17内に備えられる図示せぬ本体サブキーからキー入力部42が構成される。このキー入力部42は、本体メインキー/インジケータ部15におけるキー操作信号が直接制御部39に入力される。前記Ir受信部14及びIr受信部19での赤外光受信信号も直接制御部39に入力される。
また、このプロジェクタ10には、測距装置50が備えられる。この測距装置50は、位相差センサ13、駆動機構51、駆動制御部52、測距処理部53からなる。
位相差センサ13は、一列に配列された一対の光検出部13a,13bからなり、測定対象までの距離を位相差方式により検出するものである。光検出部13a,13bは、それぞれにフォントセンサアレイ131,132と、その前面に並行に設けられたレンズ133,134とを備える。レンズ133,134は、測定対象をフォントセンサアレイ131,132の検出面上に結像させる。フォントセンサアレイ131,132は、検出面上に結像された測定対象の像を検出して、電気信号として出力する。測定対象とは、ここではスクリーン上に投影される画像のことである。
この位相差センサ13は、プロジェクタ10の本体ケーシング11の前面に縦置き、または、横置きに設置される。「縦置き」とは、位相差センサ13内に一列に組み込まれた光検出部13a,13bを上下に配置した状態、つまり、一対の光検出部13a,13bの配列方向(以下、センサ列方向と称す)を垂直方向に向けて配置することを言う。これに対し、「横置き」とは、一対の光検出部13a,13bを左右に配置した状態、つまり、センサ列方向を水平方向に向けて配置することを言う。
なお、図1の例では、位相差センサ13を縦置きにした場合が示されているが、本発明では、その設置方向に特に限定されるものではない。
駆動機構51は、位相差センサ13の検出範囲を回転させて視野角を変更するための検出範囲回転手段として用いられる。この駆動機構51は、位相差センサ13を測定対象に向けた状態で、センサ光軸を中心に少なくとも180度回転自在に支持する。具体的には、この駆動機構51は、例えばモータと、そのモータの軸に取り付けられたウォームギアと、このウォームギアに連結され、位相差センサ13を回転させるリンクギアなどから構成され、前記モータを回転駆動することで位相差センサ13をセンサ光軸周りに回転させる。
駆動制御部52は、制御部39の制御の下で駆動機構51を駆動する。また、測距処理部53は、位相差センサ13を用いて測定対象までの距離を測定する。
ここで、本発明の理解を容易にするため、図4乃至図6を参照して位相差方式による測距方法について説明する。図4は位相差センサの測距方法を説明するための図、図5は位相差センサのマルチ測距機能を説明するための図である。また、図6は位相差センサによる傾き角度の算出方法を説明するための図である。
図4に示すように、測定対象61までの距離を測定する場合において、図示せぬ発光部からの光が測定対象61に向けて照射される。この測定対象61に対して照射された光の反射光は、一方のレンズ133を通じてフォトセンサアレイ131に結像する。また、その反射光は、他方のレンズ134を通じてフォトセンサアレイ132に結像する。図中の62及び63がその結像部分を示している。
また、レンズ133,134の光軸と結像間のそれぞれ距離をx1、x2とし、レンズ133,134間の距離をB、フォトセンサアレイ131,132とレンズ133,134間の距離をfとすると、測定対象61までの距離dは、以下のように式(1)で求められる。
d=B*f/(x1+x2) …(1)
前記式(1)において、B、fはセンサ固有の値である。よって、測定対象61までの距離dはフォトセンサアレイ131,132の位相(x1,x2)で求められることになる。
また、この位相差センサ13は、図5に示すように、レンズ光軸方向Kからセンサ列方向Hに±10程度の範囲で傾けた向きの距離を同時に測定可能な機能を持つ。これをマルチ測距機能と呼ぶ。
プロジェクタ10では、図6に示すように、この位相差センサ13のマルチ測距機能を利用して複数方向の距離データを取得することにより、これらの距離データに基づいてセンサ列方向Hに対する測定対象61(スクリーン)の傾き角θを算出する。今、2つの測定ポイントP1,P2までのレンズ光軸方向の距離をLとR、レンズ光軸方向Kからの傾きを±Wとすると、測定対象61の傾き角θは、下記の式(2)のように表わされる。
Figure 0004169027
次に、本発明の第1の実施形態における測距方法について説明する。
図7は第1の実施形態における測距方法を説明するための図であり、位相差センサ13と測定対象61との位置関係を表している。図中のθpはセンサ仰角を表し、フロントプロジェクタでは通常正の値をとる。また、測定対象61はスクリーンである。
位相差センサ13は、駆動機構51を介してセンサ光軸を中心に回転可能である。この場合、位相差センサ13は測定対象61に向けて支持されているので、センサ光軸はセンサ視野の中心軸Uと一致する。位相差センサ13がセンサ光軸周りに回転すると、センサ列の向きが変わるので、位相差センサ13の測定対象61に対するセンサ視野Dも同じように回転する。すなわち、位相差センサ13が測定対象61に向かって右方向に90度回転すれば、センサ視野Dも同様に右方向に90度回転する。また、位相差センサ13が180度回転すれば、センサ視野Dも同様に180度回転することになる。
図8は位相差センサ13を横から見た図であり、位相差センサ13の回転角とセンサ視野Dの回転角との関係を表している。図8(a)はセンサ回転角が0度の場合、同図(b)はセンサ回転角が+90度の場合、同図(c)はセンサ回転角が+180度の場合、同図(d)はセンサ回転角が+270度の場合であり、センサ視野角はセンサ回転角と一致する。
なお、図中の位相差センサ13に付されている矢印は測定方向を示すものである。実際には、測定対象61に対して図示せぬ送光器により光が照射され、その反射光を位相差センサ13で受けることで、測定対象61までの距離を位相差方式により測定する。
ここで、位相差センサ13のマルチ測距機能を利用して、センサ視野角が0度と+180度のときに上下方向(垂直方向)の距離を測定でき、センサ視野角が+90度と+270度のときに左右方向(水平方向)の距離を測定できる。ただし、センサ視野角が0度と+180度のとき、+90度と+270度のときには、センサ視野Dは反転している。
今、例えばセンサ回転角が0度のときに得られた距離をL1、R1、センサ回転角が+180度のときに得られた距離をR2,L2とすると、位相差センサ13から測定対象61の上側までの距離はL1とR2の平均値として求められる。また、測定対象61の下側までの距離はR1とL2の平均値として求められる。
このように、位相差センサ13を180度回転させてセンサ視野角を変更し、その変更前後の測定結果を平均化することで、位相差センサ13によって得られる左右あるいは上下の測定距離の比が時間経過に伴い変動して誤差を含むような場合であっても、その誤差を軽減して正確な測定結果を得ることができる。
図9および図10を用いて詳しく説明する。
図9は位相差センサ13による測定距離の比S(L/R)と測定対象61の傾き角度θとの関係を説明するための図である。なお、図9の例では、前記(2)式におけるWを4度、cotWを14.3としている。図10は位相差センサ13の回転前後の測定状態を示す図である。
位相差センサ13によって得られる左右(水平方向)あるいは上下(垂直方向)の測定距離LとRの比をSとすると、S=L/Rとして表させる。図9に示すように、このSの値が1.00の場合、つまり、LとRの値が同じであれば、測定対象61の傾き角度θは0度である。一方、LとRの値が異なれば、測定対象61が傾いていることであり、そのときの傾き角度θは前記(2)式によって求められる。
既に述べたように、位相差センサ13の特性ばらつきにより、LとRの測定距離の比Sが経時的な形状変化に伴い誤差を含むと、それが傾き角度θの検出精度に影響を与え、正確な値を得ることができなくなる。その結果、プロジェクタ10での投影画像の歪みを正しく補正できなくなるといった問題が生じる。
ここで、図10に示すように、位相差センサ13の回転前の測定結果をL1,R1、回転後の測定結果をR2,L2とすれば、Sは以下のような式(3)で表される。これにより、位相差センサ13の経時的な形状変化による誤差を軽減して、傾き角度θの検出精度を上げることができる。
Figure 0004169027
次に、このような位相差センサ13を搭載したプロジェクタ10の投影画像の処理について説明する。
図11はプロジェクタの投影画像の処理動作を示すフローチャートである。なお、以下のフローチャートで示される処理は、マイクロコンピュータである制御部(CPU)39がプログラムを読み込むことにより実行される。
プロジェクタ10の正面に設置されたスクリーン上に画像を投影する際に、制御部39は、まず、投影レンズ12を含む投影系により画像記憶部40に記憶されている画像データに基づいて、測距用のチャート画像を投影表示する(ステップS11)。前記チャート画像は、例えば白黒の横ストライプを有するパターン画像からなる。このようなチャート画像を表示するのは、スクリーンが通常白一色であるため、位相差センサ13にて測定点の読取りができないためである。
次に、チャート画像を投影表示させた状態で、制御部39は、図3に示す駆動制御部52に駆動指令を出し、駆動機構51を介して位相差センサ13を初期位置に設定する(ステップS12)。ここでは、図8(a)に示すように、センサ回転角が0度の位置を初期位置とする。
位相差センサ13を初期位置に設定すると、制御部39は、測距処理部53を通じて第1の測距処理を実行し、チャート画像に対するL1,R1の距離を求める(ステップS13)。ここで得られたL1,R1の距離データは、制御部39に設けられた測距結果記憶部39aに記憶保持される。
続いて、制御部39は、図3に示す駆動制御部52に駆動指令を出し、駆動機構51を介して位相差センサ13を180度回転させて、センサ回転角が+180度の位置に設定する(ステップS14)。この位相差センサ13の回転動作により、視野角Dは図8(c)に示すように反転する。
このような状態で、制御部39は、測距処理部53を通じて第2の測距処理を実行し、チャート画像に対するR2,L2の距離を求める(ステップS15)。ここで得られたR2,L2の距離データは、制御部39に設けられた測距結果記憶部39aに記憶保持される。
このようにして、位相差センサ13を180度回転させて2回の測距を行うと、制御部39は、前記測距結果記憶部39aからL1,R1とR2,L2の各距離データを読み出し、これらを平均化した値を最終的な距離データとして求める(ステップS16)。
次に、制御部39は、前記最終的な距離データを用いて投影光軸に対するスクリーン投影面の傾き角度θを前記(2)式に従って算出する(ステップS17)。この場合、L=(L1+R2)/2,R=(L2+R1)/2であり、その測定距離の比Sは前記(3)式のような値を取る。
そして、制御部39は、前記ステップS16で得られた傾き角度θに基づいて、投影画像の台形補正処理を行う(ステップS17)。詳しくは、スクリーン投影面が全体でどの方向にどれだけの角度で斜めになっており、投影画像を入力される画像信号と同一の適正なアスペクト比の矩形とすればよいのか、必要な台形補正の角度を算出する。そして、表示エンコーダ33にビデオRAM34で展開記憶させる画像データの上辺と下辺の比、及び左辺と右辺の比を補正させるように設定する。ここでは、垂直方向の傾き角度のみを求めているので、台形補正としては、その傾き角度θに基づいて上辺と下辺の比が補正されることになる。
このように、位相差センサ13をセンサ光軸周りに180度回転させて視野角を変更し、その変更前後で得られた測定結果を平均化することで、より正確な測定結果を得ることができる。したがって、プロジェクタ10において、この距離結果を用いて投影画像の傾き角度を検出して台形補正処理を行えば、画像の歪みを補正して矩形状に綺麗に投影することが可能となる。
なお、前記第1の実施形態では、測定結果として得られた距離データの平均値を求めるようにしたが、位相差の平均値を求めることでも良い。
また、この位相差センサ13を用いて、垂直方向の傾きだけでなく、水平方向の傾き角度についても同様に検出することが可能である。この場合、図8(b),(d)に示すように、センサ回転角が+90度の位置と位相差センサ回転後の+270度の位置で測距処理を行って、各位置で得られた測定結果を平均化するといった処理を行えば良い。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
前記第1の実施形態では、位相差センサ自体を回転させる構成としたが、第2の実施形態では、位相差センサの前面に光学部材を配置し、その光学部材を回転させることでセンサの検出範囲を回転(視野角を変更)することを特徴とするものである。前記光学部材としては、ダブプリズムを用いる。
なお、プロジェクタ10としての回路構成や処理動作については、基本的には前記第1の実施形態と同様であるため、ここではその説明を省略するものとする。
図12は本発明の第2の実施形態における測距方法を説明するための図であり、位相差センサと光学部材と測定対象との位置関係を表している。図中のθpはセンサ仰角を表し、フロントプロジェクタでは通常正の値をとる。また、測定対象61はスクリーンである。
位相差センサ13は、プロジェクタ10の本体ケーシング11内に縦置きで固定設置されている。この位相差センサ13の前面にダブプリズム71が配設されている。なお、ダブプリズムとは、像回転プリズムとも言われ、プリズムを回転させると、透過像は2倍の早さで回転する。入射角45度で入射した光はプリズム底面で全反射されてプリズムを透過する。
ここで、第2の実施形態では、このダブプリズム71の第1の面71aを位相差センサ13側、第2の面71bを測定対象61側に向けて配置し、センサ光軸を中心に少なくとも180度回転自在に支持するものとする。この場合も前記第1の実施形態と同様に、位相差センサ13は測定対象61に向けて支持されているので、センサ光軸はセンサ視野の中心軸Uと一致する。
なお、このダブプリズム71の駆動機構については、特に図示していないが、例えばモータと、そのモータの軸に取り付けられたウォームギアと、このウォームギアに連結され、ダブプリズム71を回転させるリンクギアなどからなる。
このダブプリズム71をセンサ光軸周りに右方向あるいは左方向に回転させると、測定対象61に対するセンサ視野Dも同じ方向に回転する。ただし、センサ視野角の方は、ダブプリズム71の回転角の2倍で変化する。この様子を図13に示す。
図13はセンサ周辺を横から見た図であり、ダブプリズム71の回転角とセンサ視野Dの回転角との関係を表している。図13(a)はプリズム回転角が0度の場合、同図(b)はプリズム回転角が+45度の場合、同図(c)はプリズム回転角が+90度の場合、同図(d)はプリズム回転角が+135度の場合であり、センサ視野角はプリズム回転角の2倍で変化する。
なお、図中の位相差センサ13に付されている矢印は測定方向を示すものである。実際には、図4で説明したように、測定対象61に対して図示せぬ送光器により光が照射され、その反射光をダブプリズム71を介して位相差センサ13で受けることで、測定対象61までの距離を位相差方式により測定する。
このような構成にあっては、位相差センサ13を固定した状態でダブプリズム71を回転させることにより、そのダブプリズム71の光学特性によってセンサ視野角を2倍の早さで変化させることができる。したがって、ダブプリズム71の回転角を制御し、センサ視野角を反転させて測距を2度行う構成とすれば、前記第1の実施形態と同様に、位相差センサ13の特性ばらつきによる誤差を軽減して、傾き角度θを正しく求めることができる。
具体的には、例えば測定対象61の垂直方向の傾きを求める場合であれば、図13(a),(c)に示すように、ダブプリズム71を0度の位置と+90度の位置に設定して、測定対象61の垂直ライン上の2点を測距する。そして、0度の位置で得られた2点の距離データと+90度の位置で得られた2点の距離データの平均値を最終的な測距結果として用いて傾き角度を算出すれば良い。
同様に、測定対象61の水平方向の傾きを求める場合であれば、図13(b),(d)に示すように、ダブプリズム71を+45度の位置と+135度の位置に設定して、測定対象61の水平ライン上の2点を測距する。そして、+45度の位置で得られた2点の距離データと+135度の位置で得られた2点の距離データの平均値を最終的な測距結果として用いて傾き角度を算出すれば良い。
なお、図13の例では、ダブプリズム71を0度,+45度,+90度,+135度の位置に回転させる場合を示したが、さらに45度ずつ回転させて、+180度,+225度,+270度,+315度の位置でも測定を行う構成としても良い。
この場合、例えば0度の位置と+180度の位置では、ダブプリズム71は反対向きとなるが、センサ視野Dの向きは同じである。同様に、+45度の位置と+225度の位置、+90度の位置と+270度の位置、+135度の位置と+315度の位置では、それぞれにダブプリズム71は反対向きとなるが、センサ視野Dの向きは同じである。
したがって、これらの位置で測距を行い、その平均値を取るようにすれば、ダブプリズム71の製造誤差や取付け誤差、回転ずれなどによる測定誤差などについても軽減することができる。
(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
第3の実施形態では、位相差センサの周辺に直角鏡対、ハーフミラー、光吸収体からなる光学系群を配置することで、測定対象に対するセンサ視野角を変更することを特徴とするものである。
図14は本発明の第3の実施形態における測距方法を説明するための図であり、位相差センサと光学系部材群と測定対象との位置関係を表している。図中のθpはセンサ仰角を表し、フロントプロジェクタでは通常正の値をとる。また、測定対象61はスクリーンである。
位相差センサ13は、プロジェクタ10の本体ケーシング11内に縦置きで固定設置されている。この位相差センサ13の視野角を変更するための光学系部材として、ハーフミラー72、直角鏡対73a,73b、光吸収体74が位相差センサ13の周辺に配設されている。
ハーフミラー72は、センサ光軸と直交する方向を測定対象61に対するセンサ視野の中心軸Uの方向とし、その中心軸Uとセンサ光軸との交点に位相差センサ13に向けて45度傾けて配置される。また、直角鏡対73a,73bは、一対の反射鏡の反射面を内側にして直角に組み合わせたものであり、ハーフミラー72を介して測定対象61に向けて配置される。また、光吸収体74は、外部に光が漏れるのを防ぐためのものであり、ハーフミラー72の裏面側に配置される。
ここで、第3の実施形態では、直角鏡対73a,73bをハーフミラー72を介して測定対象61に向けた状態とし、センサ視野の中心軸Uを中心に少なくとも180度回転自在に支持するものとする。なお、この直角鏡対73a,73bの駆動機構については、特に図示していないが、例えばモータと、そのモータの軸に取り付けられたウォームギアと、このウォームギアに連結され、直角鏡対73a,73bを回転させるリンクギアなどからなる。
この直角鏡対73a,73bをセンサ視野の中心軸U周りに右方向あるいは左方向に回転させると、測定対象61に対するセンサ視野Dも同じ方向に回転する。ただし、センサ視野角の方は、直角鏡対73a,73bの回転角の2倍で変化する。この様子を図15に示す。
図15はセンサ周辺を横から見た図であり、直角鏡対73a,73bの回転角とセンサ視野Dの回転角との関係を表している。図15(a)は直角鏡対回転角が0度の場合、同図(b)は直角鏡対回転角が+45度の場合、同図(c)は直角鏡対回転角が+90度の場合、同図(d)は直角鏡対回転角が+135度の場合であり、センサ視野角は直角鏡対角の2倍で変化する。
なお、図中の位相差センサ13に付されている矢印は測定方向を示すものである。実際には、図4で説明したように、測定対象61に対して図示せぬ送光器により光が照射され、その反射光をハーフミラー72および直角鏡対73a,73bを介して位相差センサ13で受けることで、測定対象61までの距離を位相差方式により測定する。
このような構成にあっては、位相差センサ13を固定した状態で直角鏡対73a,73bを回転させることにより、その直角鏡対73a,73bとハーフミラー72の光学特性によってセンサ視野角を2倍の早さで変化させることができる。したがって、直角鏡対73a,73bの回転角を制御し、センサ視野角を反転させて測距を2度行う構成とすれば、前記第1の実施形態と同様に、位相差センサ13の特性ばらつきによる誤差を軽減して、傾き角度θを正しく求めることができる。
具体的には、例えば測定対象61の垂直方向の傾きを求める場合であれば、図15(a),(c)に示すように、直角鏡対73a,73bを0度の位置と+90度の位置に設定して、測定対象61の垂直ライン上の2点を測距する。そして、0度の位置で得られた2点の距離データと+90度の位置で得られた2点の距離データの平均値を最終的な測距結果として用いて傾き角度を算出すれば良い。
同様に、測定対象61の水平方向の傾きを求める場合であれば、図15(b),(d)に示すように、直角鏡対73a,73bを+45度の位置と+135度の位置に設定して、測定対象61の水平ライン上の2点を測距する。そして、+45度の位置で得られた2点の距離データと+135度の位置で得られた2点の距離データの平均値を最終的な測距結果として用いて傾き角度を算出すれば良い。
(変形例)
第3の実施形態の変形例を図16(a)〜(e)に示す。なお、図中の矢印はセンサ視野の中心軸方向を表す。
図16(a)に示す構成は、図15の構成と同じである。すなわち、位相差センサ13の周辺にハーフミラー72、直角鏡対73a,73b、光吸収体74を配置して、直角鏡対73a,73bをセンサ視野の中心軸周りに回転させる構成としたものである。
このような構成によれば、前記第2の実施形態のようなダブプリズムを用いた構成に比べ、装置を小型化できるといったメリットがある。
図16(b)に示す構成は、図16(a)の直角鏡対73a,73bと光吸収体74の位置を入れ替えたものである。すなわち、センサ光軸と直交する方向をセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸とセンサ光軸との交点にハーフミラー72を45度傾けて配置する。また、このハーフミラー72を介して直角鏡対73a,73bを位相差センサ13に向けて配置する。この場合、ハーフミラー72の反射と透過の関係が図16(a)とは逆になる。
このような構成によれば、装置内部の各種デバイスの配置を考慮して、直角鏡対73a,73bの駆動機構(モータなど)を同図のように配置することができる。
図16(c)に示す構成は、図16(a)の直角鏡対73a,73bを直角プリズムミラー75に変更したものである。すなわち、センサ光軸と直交する方向をセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸とセンサ光軸との交点にハーフミラー72を45度傾けて配置する。また、このハーフミラー72を介して直角プリズムミラー75を測定対象に向けて配置し、センサ視野の中心軸周りに回転させる。
このような構成によれば、直角鏡対73a,73bを用いた構成に比べて直角方向の反射精度を上げることができる。
図16(d)に示す構成は、図16(a)のハーフミラー72をキューブ型ビームスプリッター76に変更したものである。すなわち、センサ光軸と直交する方向をセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸とセンサ光軸との交点にキューブ型ビームスプリッター76を配置する。このキューブ型ビームスプリッター76は、2つの直角プリズムの斜面に部分反射コーティングを施して貼り合わせたものである。また、このキューブ型ビームスプリッター76を介して直角鏡対73a,73bを測定対象に向けて配置する。
このような構成によれば、ハーフミラー72は厚みがあるために、その表面と裏面で2重反射するが、キューブ型ビームスプリッター76は2つの直角プリズムの境界面だけで反射する。したがって、直角鏡対73a,73bを回転させた場合でも、所定の方向に光を反射させて正確な測距を行うことができる。
図16(e)に示す構成は、図16(a)の位相差センサ13を90度回転させて配置したものである。この角度は45度や22.5度、またはその他の角度でも、直角鏡対73a,73bの回転角度とのマッチングが取れていれば良い。
このような構成によれば、光学部材群による測定誤差があっても、位相差センサ13の設置方向をその光軸を中心に変えることで、その測定誤差を軽減することができる。
なお、これらの変形例は適宜組み合わせて構成することができる。例えば、図16(b),(c),(d)の構成において、図16(e)のように位相差センサ13の設置方向をその光軸を中心に変えるようにしても良い。
以上のように本発明によれば、位相差センサの視野角を変更可能な構成とし、その変更前後で得られた測定結果を用いて最終的な距離データを算出するので、位相差センサの特性ばらつきによる誤差を軽減して正確な測定結果を得ることができる。これにより、プロジェクタであれば、投影画像の傾き角度を正確に検出でき、さらに、その傾き角度から投影画像の歪みを正しく補正できるといった効果が奏せられる。
特に、第1の実施形態のように、位相差センサ自体をセンサ光軸を中心に回転させる構成とすれば、光学系部材を介在させずに視野角を変更できる。よって、設計構造が簡易になるといったメリットがある。
また、第2の実施形態のように、位相差センサの前面に光学部材を配置し、その光学部材をセンサ視野の中心軸を中心に回転させる構成とすれば、位相差センサを固定した状態で視野角を変更できる。よって、例えば衝撃などにより位相差センサの配置がずれて、測定精度が低下することを防止できるといったメリットがある。
さらに、前記光学部材としてダブプリズムを用いれば、センサ視野角をプリズム回転角の2倍で変化させることができるので、回転効率が良くなる。
また、第3の実施形態のように、位相差センサの周囲にハーフミラーや直角鏡対などの複数の光学部材を組み合わせて配置することでも、位相差センサを固定した状態で視野角を変更できる。この場合、既に述べたように、図16(a)〜(e)のような構成とすることで、以下のような効果が奏せられる。
すなわち、図16(a)の構成では、ダブプリズムを用いた構成に比べ、装置を小型化できるといったメリットがある。
図16(b)の構成では、装置内部の各種デバイスの配置を考慮して、モータ等の駆動機構を同図のように配置することができる。
図16(c)の構成では、直角方向の反射精度を上げることができる。
図16(d)の構成では、所定の方向に光を反射させて正確な測距を行うことができる。
図16(e)の構成では、光学部材群による測定誤差があっても、その測定誤差を軽減することができる。
なお、前記第1〜第3の実施形態では、プロジェクタを例にして説明したが、本発明の測距装置はこれに限るものではなく、例えばデジタルカメラ等の撮像装置の他、測距処理を必要とする機器であれば、その全てに適用可能であり、同様の効果を得ることができる。
図17にデジタルカメラに適用した場合の一例を示す。図中の100は小型のデジタルカメラであり、そのカメラ本体101の上面に電源キー102、シャッターキー103などの各種操作キーを有する。また、カメラ本体101の正面には、光学ファインダ窓104、撮影レンズ105などが配設されている。
ここで、撮影レンズ105の近傍に、1つの位相差センサ106が設置される。この位相差センサ106の視野角は、前記各実施形態のいずれかの手法を用いて変更可能である。このような構成のデジタルカメラでは、位相差センサ106を用いて被写体に対する多点測距を行い、各測定点までの距離データに基づいて合焦処理を行う。
要するに、本発明は、前述した各実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、前述した実施形態で実行される機能は、可能な限り適宜組合せて実施しても良い。前述した各実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜の組合せにより種々の発明が抽出され得る。例えば、各実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除されても、効果が得られるのであれば、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
図1は本発明の第1の実施形態に係る測距装置をプロジェクタに適用した場合の外観構成を示す図であり、上から見た場合の斜視図である。 図2は同実施形態におけるプロジェクタの外観構成を示す図であり、から見た場合の斜視図である。 図3は同実施形態におけるプロジェクタの電子回路の機能構成を示すブロック図である。 図4は同実施形態における位相差センサの測距方法を説明するための図である。 図5は同実施形態における位相差センサのマルチ測距機能を説明するための図である。 図6は同実施形態における位相差センサによる傾き角度の算出方法を説明するための図である。 図7は同実施形態における測距方法を説明するための図であり、位相差センサと測定対象との位置関係を表している。 図8は同実施形態における位相差センサを横から見た図であり、センサ回転角とセンサ視野角との関係を表している。 図9は同実施形態における位相差センサによる測定距離の比Sと測定対象の傾き角度θとの関係を説明するための図である。 図10は同実施形態における位相差センサの回転前後の測定状態を示す図である。 図11は同実施形態におけるプロジェクタの投影画像の処理動作を示すフローチャートである。 図12は本発明の第2の実施形態における測距方法を説明するための図であり、位相差センサと光学部材と測定対象との位置関係を表している。 図13は第2の実施形態におけるセンサ周辺を横から見た図であり、ダブプリズムの回転角とセンサ視野角との関係を表している。 図14は本発明の第3の実施形態における測距方法を説明するための図であり、位相差センサと光学系部材群と測定対象との位置関係を表している。 図15は第3の実施形態におけるセンサ周辺を横から見た図であり、直角鏡対の回転角とセンサ視野角との関係を表している。 図16は第3の実施形態の変形例としての構成を示す図である。 図17は本発明の測距装置をデジタルカメラに適用した場合の構成を示す図である。
符号の説明
10…プロジェクタ、11…本体ケーシング、12…投影レンズ、13…位相差センサ、13a,13b…光検出部、131,132…フォントセンサアレイ、133,134…レンズ、14…Ir受信部、15…本体メインキー/インジケータ、16…スピーカ、17…カバー、18…入出力コネクタ部、19…Ir受信部、20…ACアダプタ接続部、21…固定脚部、22…調整脚部、31…入出力インタフェース(I/F)、32…画像変換部、33…表示エンコーダ、34…ビデオRAM、35…表示駆動部、36…空間的光変調素子(SOM)、37…光源ランプ、38…レンズモータ(M)、39…制御部、39a…測距結果記憶部、40…画像記憶部、41…音声処理部、42…キー入力部、50…測距装置、51…駆動機構、52…駆動制御部、53…測距処理部、61…測定対象、62,63…結像部分、71…ダブプリズム、71a…第1の面、71b…第2の面、73a,73b…直角鏡対、74…光吸収体、75…直角プリズムミラー、76…キューブ型ビームスプリッター、100…デジタルカメラ、101…カメラ本体、102…電源キー、103…ャッターキー、104…光学ファインダ窓、105…撮影レンズ、106…位相差センサ。

Claims (12)

  1. 1列に配置される複数の光検出部を有し、測定対象までの距離を位相差方式により測定する位相差センサと、
    この位相差センサを、前記位相差センサの中心から前記光検出部が配置される列方向と直交するとともに測定方向に延ばした直線であるセンサ光軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転する検出範囲回転手段と、
    この検出範囲回転手段によって前記位相差センサの検出範囲を少なくとも第1の角度とその第1の角度から180度回転させた第2の角度に設定した場合に得られる測定結果の平均を、最終的な距離データとして算出する測距処理手段と
    を具備したことを特徴とする測距装置。
  2. 前記測距処理手段は、前記位相差センサの検出範囲を前記第1の角度から90度回転させた第3の角度と前記第1の角度から270度回転させた第4の角度に設定した場合に得られる測定結果の平均を最終的な距離データとして算出する処理を含むことを特徴とする請求項1記載の測距装置。
  3. 前記位相差センサの前面に配置された光学系部材を備え、
    前記検出範囲回転手段は、前記位相差センサを前記測定対象に向けた状態で前記光学系部材を前記センサ光軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする請求項1記載の測距装置。
  4. 前記光学系部材は、ダブプリズムであることを特徴とする請求項3記載の測距装置。
  5. 前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に所定角度で傾けて配置されたハーフミラーと、
    このハーフミラーを介して前記測定対象に向けて配置された直角鏡対とを備え、
    前記検出範囲回転手段は、前記直角鏡対をセンサ視野の中心軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする請求項1記載の測距装置。
  6. 前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に所定角度で傾けて配置されたハーフミラーと、
    このハーフミラーを介して前記位相差センサに向けて配置された直角鏡対とを備え、
    前記検出範囲回転手段は、前記直角鏡対を前記センサ光軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする請求項1記載の測距装置。
  7. 前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に所定角度で傾けて配置されたハーフミラーと、
    このハーフミラーを介して前記測定対象に向けて配置された直角プリズムミラーとを備え、
    前記検出範囲回転手段は、前記直角プリズムミラーをセンサ視野の中心軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする請求項1記載の測距装置。
  8. 前記位相差センサの光軸と直交する方向を前記測定対象に対するセンサ視野の中心軸方向とし、そのセンサ視野の中心軸と前記センサ光軸との交点に配置されたキューブ型ビームスプリッターと、
    このキューブ型ビームスプリッターを介して前記測定対象に向けて配置された直角プリズムミラーとを備え、
    前記検出範囲回転手段は、前記直角プリズムミラーをセンサ視野の中心軸を中心に回転させることで、前記位相差センサの検出範囲を回転することを特徴とする請求項1記載の測距装置。
  9. 前記位相差センサの設置方向を前記センサ光軸周りに所定角度回転させたことを特徴とする請求項5乃至8のいずれか1つに記載の測距装置。
  10. 前記請求項1乃至9のいずれか1つに記載の測距装置を用いた投影装置。
  11. 前記請求項1乃至9のいずれか1つに記載の測距装置を用いた撮像装置。
  12. 1列に配置される複数の光検出部を有する位相差センサを用いて測定対象までの距離を位相差方式により測定する第1のステップと、
    前記位相差センサの検出範囲を、前記位相差センサの中心から前記光検出部が配置される列方向と直交するとともに測定方向に延ばした直線であるセンサ光軸を中心に前記第1のステップで測定した状態から180度回転する第2のステップと、
    この第2のステップによる検出範囲の回転後に前記位相差センサを用いて測定対象までの距離を測定する第3のステップと、
    少なくとも前記第1のステップによって得られた測定結果と前記第3のステップによって得られた測定結果の平均を、最終的な距離データとして算出する第4のステップと
    を備えたことを特徴とする測距方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101588905B (zh) * 2007-02-07 2012-08-22 艾萨帕克控股公司 生产多层物品的方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4169026B2 (ja) * 2005-09-27 2008-10-22 カシオ計算機株式会社 測距装置及び測距方法
US20070182936A1 (en) * 2006-02-08 2007-08-09 Canon Kabushiki Kaisha Projection display apparatus
US8100541B2 (en) * 2007-03-01 2012-01-24 Taylor Alexander S Displaying and navigating digital media
JP4609734B2 (ja) * 2007-09-05 2011-01-12 カシオ計算機株式会社 距離測定装置及びこの距離測定装置を備えたプロジェクタ
JP5348449B2 (ja) * 2007-12-25 2013-11-20 カシオ計算機株式会社 距離測定装置及びプロジェクタ
DE102011000863A1 (de) 2011-02-22 2012-08-23 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten
WO2013045699A1 (de) * 2011-09-30 2013-04-04 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Nachführvorrichtung für einen lichtstrahl
JP2013101207A (ja) * 2011-11-08 2013-05-23 Ricoh Co Ltd プロジェクタ
JP2013190671A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Ricoh Co Ltd 画像投影装置、明暗処理方法及びプログラム
JP6269239B2 (ja) * 2013-05-28 2018-01-31 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP6246911B2 (ja) 2014-05-02 2017-12-20 富士フイルム株式会社 測距装置、測距方法、及び測距プログラム
KR20210123059A (ko) * 2020-04-02 2021-10-13 삼성전자주식회사 영상 투사 장치 및 영상 투사 장치의 제어 방법

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02222806A (ja) 1989-02-23 1990-09-05 Ricoh Co Ltd 多点測距装置
JP2937397B2 (ja) 1990-03-30 1999-08-23 株式会社トプコン 光波距離計
JP3463130B2 (ja) 1994-06-22 2003-11-05 オムロン株式会社 距離測定装置
JPH08178648A (ja) 1994-12-26 1996-07-12 Nippon Soken Inc 車間距離検出装置
JPH1123261A (ja) * 1997-07-03 1999-01-29 Minolta Co Ltd 測距装置
US6476943B1 (en) * 1999-02-23 2002-11-05 Virtual Pro, Inc. Distance measurement apparatus
US6621063B2 (en) * 2001-06-21 2003-09-16 Psc Scanning, Inc. Omni-directional optical code reader using scheimpflug optics
US6575577B2 (en) * 2001-10-05 2003-06-10 Richard S. Beliveau Multiple light valve lighting device or apparatus with wide color palette and improved contrast ratio
JP2003207580A (ja) 2002-01-16 2003-07-25 Yokogawa Denshikiki Co Ltd レーザ式積雪深計
GB0219808D0 (en) * 2002-08-23 2002-10-02 Univ Manchester Interferometer optical element alignment
JP3711973B2 (ja) * 2002-10-09 2005-11-02 株式会社日立製作所 投射型表示装置
JP2005006228A (ja) 2003-06-13 2005-01-06 Casio Comput Co Ltd プロジェクタ
JP4131214B2 (ja) 2003-08-08 2008-08-13 カシオ計算機株式会社 傾斜角度検出装置及び傾斜角度検出方法
JP2005147959A (ja) 2003-11-18 2005-06-09 Seiko Precision Inc 測距方法及び測距装置
JP2005223393A (ja) * 2004-02-03 2005-08-18 Casio Comput Co Ltd 投影装置、投影方法、及び投影プログラム
JP4301028B2 (ja) 2004-02-16 2009-07-22 カシオ計算機株式会社 投影装置、角度検出方法及びプログラム
JP2005307934A (ja) 2004-04-26 2005-11-04 Aisan Ind Co Ltd エンジンの吸気制御装置
JP2006242833A (ja) 2005-03-04 2006-09-14 Nidec Copal Corp 光学式角度検出装置
JP2006317795A (ja) 2005-05-13 2006-11-24 Toshiba Corp 投射装置と投射装置の測距方法
JP4169026B2 (ja) 2005-09-27 2008-10-22 カシオ計算機株式会社 測距装置及び測距方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101588905B (zh) * 2007-02-07 2012-08-22 艾萨帕克控股公司 生产多层物品的方法

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