JP4136658B2 - 液体金属溶液及び溶液中のナノサイズ粒子から生成されたレーザプラズマから生成されるeuv、xuv、及びx線波長源 - Google Patents

液体金属溶液及び溶液中のナノサイズ粒子から生成されたレーザプラズマから生成されるeuv、xuv、及びx線波長源 Download PDF

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Description

【0001】
本発明はレーザ点源に関し、特に、室温で液体金属溶液及び溶液中のナノ粒子から生成されるレーザプラズマからEUV、XUV、及びX線放射を発生させるための装置及び方法に関する。2001年6月14日に出願の出願番号09/881,620及び2000年10月20日に出願の米国仮出願第60/242,102号の恩典を請求するものである。
【0002】
背景及び従来技術
高水準コンピュータチップ製造用の次世代リソグラフィー(NGL)には、潜在的な解決策としての極紫外線(EUV)などの技術の開発が必要である。このリソグラフィー法は、一般に、従来の透過性光学素子が機能しないスペクトル領域の狭い通過帯域幅を有する多層コートされた反射光学素子の使用に依存する。レーザプラズマ及び放電型プラズマは現在、EUVの開発におけるソースとして重要な候補である。出力性能においてこのソースに必要なものは安定性であり、動作寿命は極めて重要である。現在は、約13nmと約11.7nmの波長が用いられている。このタイプのソースには、コンパクトで高繰返し数レーザ及び長期に亘って動作可能で交換可能なターゲットシステムが必要である。例えば、生産ライン設備には、3ヶ月かそれ以上に亘って連続運転できるシステムが要求される。これには、約10回から11回の連続したショットが必要であり、標準サイズのステッパーが1時間当たり約40枚から約80枚のウエハレベルで動作できるようにするためには、−6に対して単位ショット材料のコストが10ドル付近である必要がある。これらの動作パラメータが、従来のレーザプラズマ設備を制限するものである。
【0003】
一般に、レーザプラズマは、固有の問題をもつ様々な固体或いは準固体ターゲット上にミクロの単位で集光された高出力のパルスレーザにより生成される。例えば、Hiroseによる米国特許第5,151,928号では、ターゲットソースとしてフィルム型固体ターゲットテープが開示されている。しかしながら、これらのテープ駆動ターゲットは、製造が困難であり壊れやすく、高コストであり、使用しにくく、更にレーザシステムで一般的に使用されるミラーなどの光学素子を損傷し得る低速度のデブリを発生し得ることが知られている。
【0004】
他の既知の固体ターゲットソースには、Sn即ちスズ、銅、または金などの固体材料からなる回転車がある。しかしながら、テープターゲットと同じ或いはそれよりも悪く、これらの固体材料は、プラズマから様々な方向に放射され得る様々な弾道粒子サイズのデブリを生成し、これによりシステムの光学部品に重大な損傷を与える恐れがあることが知られている。更に、これらのソースは、レーザ光からEUV光の帯域幅内への変換効率が僅か1〜3%と低い。
【0005】
小型材料である固体ディスクなどの固体亜鉛粒子及び固体銅粒子は、短い波長の光を放射すると報告されている。例えば、T.P. Donaldson他著、「Soft X-ray Spectroscopy of Laser-produced Plasma」, J. Physics, B:Atom. Molec. Phys., 第9巻、第10号、1976年、p.1645−1655を参照。図1A及び図1Bはそれぞれ、この参照文献で開示された固体銅(Cu)及び固体亜鉛(Zn)ターゲットのスペクトル放射を示す。しかしながら、この参照文献では、周りの光学素子や部品に損傷を与える微小な高速度の放射物の生成などの問題がある固体ターゲットを使用しなければならない。例えば、この参照文献の1649頁の33−34行目に、「放射されたターゲット材料から損傷を受けないようにするために、レンズとターゲットとの間に、------マイラーからなるシートを配置する」と記されている。従って、既に分かっている固体の問題と同様に、固体銅及び固体亜鉛ターゲットもまた、使用時に破壊性のデブリを生成する。剛性及びソースの効率が犠牲になるが、マイラーなどのシールド或いは他の薄い保護フィルムを用いて、X線範囲におけるソースに対してデブリから保護する。しかしながら、このようなシールドは、XUV及びEUVの範囲のより長い波長では全く使用することができない。
【0006】
クリプトン、キセノン、及びアルゴンなどの凍結ガスもターゲットソースとしてテストしたが殆んど成功しなかった。汚染に対して必要な法外なコストに加えて、これらのガスはかなり高価であり、−6に対して10ドルを遥かに超えるコストがかかる連続的な高い繰返し数を有する。加えて、凍結ガスは破壊性デブリも生成し、更に低い変換効率因子を有することも知られている。
【0007】
本発明の発明者は以前に、氷滴がターゲット点源になるウォーターレーザプラズマ点源を開発した。Richardsonらによる米国特許第5,459,771号、及び同第5,577,091号を参照されたい。また、これらの特許に言及することを以って本明細書の一部とする。これらの特許において、約11.6nm及び約13nmのライン放射(line radiation)にとって酸素が好適なエミッタであることが実証されている。ここでは、ターゲットの横方向のサイズをレーザ集束サイズに小さくすることで、レーザ物質相互作用プロセスに関係する物質量を最小にしている。小滴は、真空室内における気化により凍結し得る小滴の流れを生成する液滴インジェクターによって生成される。利用されなかった凍結した小滴を極低温回収システムで収集して、ターゲット材料を再使用できるようにする。しかしながら、このソースは、転換効率が約1%未満の他のソースと同様に転換効率が低いため、1時間当たり約40から約80のウエハレベルで動作する300mmのフルサイズのステッパーに必要なレーザの大きさ及びコストが障害となる。
【0008】
他の提案されたシステムには、微小な粒子を含むガススプレイ及びジェット流体を生成するジェットノズルが含まれている。例えば、Hertz他による米国特許第6,002,744号、及びMatsui他による同第5,991,360号を参照。しかしながら、これらのジェットはより多くの粒子を利用し、かつ定義が十分でなく、ジェットの使用により制御及び点源干渉効率などの問題がある。Kulakによる米国特許第5,577,092号には、キセノンなどの稀少で高価なガスを用いるクラスターターゲットソース(cluster target sources)が必要であろうと記載されている。
【0009】
一連の不連続な小滴として固体液体ターゲット材料を用いる試みが行われた。Nodaによる米国特許第4,723,262号を参照。しかしながら、この特許には、液体ターゲット材料が、例として「好ましくは水銀」などの単一の液体に制限されると抽象的に記載されている。更に、Nodaは、第6段落の12〜19行目で「-----、水銀が好ましい液体金属ターゲットであると記載したが、好適な加熱源を用いれば、融点が100℃未満のあらゆる金属も液体金属ターゲットとして使用可能である。温度を高めたインジウム、ガリウム、セシウム、またはカリウムの任意の1つを用いて、-----」と述べている。従って、この特許は単一の金属材料に制限され、水銀以外の材料の場合は「用いる好適な加熱源-----」が必要である。
【0010】
発明者は、対象となる他の特許も認識している。例えば、Mochizukiによる米国特許第4,866,517号、Schusterによる同第5,052,034号、Wangによる同第5,317,574号、Oshinoによる同第6,069,937号、Hassによる同第6,180,952号、及びHardingによる同第6,185,277号を参照されたい。Mochizukiによる米国特許第4,866,517号は、極低温ベルトに供給されるターゲットガス及びターゲット液体を用いなければならない。Schusterによる米国特許第5,052,034号には、レーザプラズマソースのためではなく、電気的にソースを放電するための液体アノードX線生成器が開示されている。液体電極を用いることにより、より高い熱負荷(より大きな熱放散)及び電極表面の再生が可能となる。
【0011】
Wangによる米国特許第5,317,574号には、液体カソードからの原子がイオン化され、これにより液体カソードから長寸で柱状の放電プラズマが生成されるX線またはEUVレーザ計画が開示されている。Oshinoによる米国特許第6,069,937号には、EUV光源の照明として働く複数のレーザプラズマ及び光学素子を有するEUVLのためのレーザプラズマ照明システム、並びに液体若しくは気体を用いることができる融点の低いターゲットが開示されている。
【0012】
Hassによる米国特許第6,180,952号には、ノズルが様々なタイプのガスに用いられるEUV光源のターゲットに対するノズルシステムが開示されている。Hardingによる米国特許第6,185,277号には、電極の1つが熱除去を高めるために液体を用い、これにより高いソース出力を実現し、金属がプラズマとして放射するスペクトル放射のために金属を用いない放電X線源が開示されている。Dingerによる米国特許第'717号には、EUV源と共に用いられる種々のEUV光学素子が開示されている。
【0013】
如何なる従来技術においても、スペクトル放射を発生するターゲットプラズマとして金属液体の小滴及びナノ粒子を用いることは開示されていない。
【0014】
本発明の要約
本発明の第1の目的は、EUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するためのレーザプラズマソースとして安価で効率的なターゲット小滴システムを提供することである。
【0015】
本発明の第2の目的は、ターゲットソースからデブリを発生させず損傷を与えることなくEUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するための該ターゲットソースを提供することである。
【0016】
本発明の第3の目的は、EUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するための、固体ターゲット、冷凍ガス、及び粒子ガス(particle gases)よりも高い帯域内変換効率を有するターゲットソースを提供することである。
【0017】
本発明の第4の目的は、熱源を必要としない金属液体を用いる、EUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0018】
本発明の第5の目的は、室温で液体状の金属を用いる、EUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0019】
本発明の第6の目的は、1種類の金属液体ではない液体の金属溶液を用いる、EUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0020】
本発明の第7の目的は、約0.1nm〜約100nmのスペクトル範囲のプラズマ放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0021】
本発明の第8の目的は、約11.7nmのプラズマ放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0022】
本発明の第9の目的は、約13nmのプラズマ放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0023】
本発明の第10の目的は、約0.5nm〜約1.5nmの範囲のプラズマ放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0024】
本発明の第11の目的は、約2.3nm〜約4.5nmの範囲のプラズマ放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0025】
本発明の第12の目的は、室温で液体状のナノ粒子金属を用いる、EUVスペクトル、XUVスペクトル、及びX線スペクトルの放射などの放射を生成するためのターゲットソースを提供することである。
【0026】
本発明の第13の目的は、X線放射、EUV放射、及びXUV放射を生成するべく、プラズマソースとしてナノサイズの小滴を用いるターゲットソースを提供することである。
【0027】
本発明の第1の好適な実施例は、効果的な液滴源として金属溶液を用いる。金属溶液は金属成分を含み、約10℃〜約30℃の範囲の室温で液体状である。金属溶液には、分子性液体、または元素状態で存在する液体(elemental liquid)と分子性液体の混合物が含まれる。様々な金属の顕微鏡的液滴はそれぞれ、直径が約10μm〜約100μmである。
【0028】
分子性液体、または元素状態で存在する液体と分子性液体の混合物には、ZnCl(塩化亜鉛)、CuCl(塩化銅)、SnCl(塩化スズ)、AlCl(塩化アルミニウム)、BiCl(塩化ビスマス)を含む金属塩化物溶液、及び他の塩化物溶液を含み得る。更に金属溶液は、CuBr、ZnBr、AlBr、または室温で臭化物溶液中に存在し得る他のあらゆる遷移金属などの金属臭化物溶液でもよい。
【0029】
他の金属溶液は、液体溶媒中において以下に示す物質から作製できる。例えば、CuSO4(硫酸銅)、ZnSO4(硫酸亜鉛)、SnSO4(硫酸スズ)、または硫酸塩として存在し得るその他の遷移金属。また、CuNO3(硝酸銅)、ZnNO3(硝酸亜鉛)、SnNO3(tin nitrate)、または硝酸塩として存在し得る他のあらゆる遷移金属。
【0030】
更に金属溶液には、限定するものではないがCHBr3(ブロモホルム)、及びCH2I2(ジヨードメタン)などの有機金属溶液が含まれる。更に、限定するものではないが約38gm/100ccのSeO2(二酸化セレン)、及び約447gm/100ccのZnBr2(臭化亜鉛)などの他の金属溶液も用いることができる。
【0031】
第2の好適な実施例は、約10℃〜約30℃の範囲の室温で液体状の溶液中のナノ粒子を用い得る。
【0032】
金属溶液には、スズ(Sb)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、金(Au)、アルミニウム(Al)、及び/またはビスマス(Bi)などの液体中の金属ナノ粒子と、H2O、オイル、オレアート剤、石鹸溶液、及びアルコールなどの液体との混合物を含み得る。
【0033】
好適な実施例の金属溶液は、プラズマ中で生成される電離状態によりX線スペクトル、EUVスペクトル、及びXUVスペクトルの幅広い領域に亘るプラズマ放射を生成し得るレーザを放出するターゲットソースとして有用である。
【0034】
本発明の更なる目的及び利点は、添付の図面に模式的な例が示されている、後述する現在において好適な実施例の詳細な説明から明らかになるであろう。
【0035】
好適な実施例の説明
本発明の開示する実施例を詳細に説明する前に、本発明の他の実施例も可能であることから、図示した特定の構成の細部に本発明が限定されるものではないことを理解されたい。また、本明細書で用いる用語は説明することが目的であって本発明を限定するものではない。
【0036】
第1の実施例
図1−図5Bは、2001年6月14日に出願の原特許出願第09/881,620号で説明されており、参照することを以って本明細書の一部とする。
【0037】
図2は、本発明の実施例1の構成を示す。真空室10は、アルミニウム、ステンレス鋼、または鉄から、更には固体の非金属材料からも形成することができる。真空室10の真空は、例えば、約133パスカル(約1トル)未満であって、それ未満では空気のレーザ破壊が生じないあらゆる真空にし得る。小滴の精密調整部20は、小滴ディスペンサの位置を高精度(μm)で直交3次元に調整できる3軸位置制御装置とすることができる。小滴ディスペンサ30は、本発明と同一の譲受人であるRichardsonによる米国特許第5,459,771号及び同第5,577,091号に開示されている、要求に応じて連続的な小滴の流れ或いは1つの小滴を生成する装置に類似のものとすることができる。また、これらの特許に言及することを以って本明細書の一部とする。レーザ源50には、小滴を気化させてプラズマを生成するのに十分な集光強度を有するあらゆるパルスレーザを用いることができる。レンズ60は、小滴上にレーザビームを集光させるあらゆる集光素子とすることができる。
【0038】
集光ミラー70は、プラズマから生成される点源プラズマからの放射を集光する任意のEUV、XUV、またはX線光学素子とすることができる。例えば、集光ミラー70は、多層コーティングを有する或いは有しない直入射ミラーやかすめ入射ミラー、または或る種のフリースタンディング型X線集束装置(ゾーンプレートや透過型回折格子など)とすることができる。参照符号80は、集光されたEUV光を示す。極低温トラップ90は、使用されなかったターゲット材料を収集し、これをターゲットディスペンサで再使用するべく、戻すことが可能な装置とすることができる。このシステムに用いられる液体ターゲットの多くが真空システムを通る際に凍結するため、真空内でこのトラップがこのターゲット材料を収集し、この材料が除去されるまで冷却され続ける。この材料が凍結状態に維持されるため、真空室内での気化が妨げられ、従ってバックグランド圧力が上昇しない。バックグランド圧力の上昇は、レーザ‐ターゲット相互作用に悪影響を及ぼし、プラズマ源によって生成される放射の一部または全てが吸収され得る。例えば水をベースにしたターゲットの場合の極低温トラップの単純な構造は、極低温に冷却される「バケツ」即ち容器であってよく、この中に使用されなかった小滴がスプレイされる。このような小滴は真空室から除去されるまで容器の側面に及び互いに付着している。
【0039】
レーザビームの焦点領域を小滴が通過する時にレーザビームが小滴と相互作用するようにレーザビームを同期させることが重要である。精密調整装置により小滴の軌跡がレーザ軸と一致するように調整することができる。レーザパルスのタイミングは、レーザの電気的トリガパルスと小滴ディスペンサを作動させる電気的パルスとを電気的に同期させて調整することができる。小滴のオンデマンド動作は、レーザの焦点領域に入る小滴を検出してレーザを発射するトリガ信号を送る別のフォトダイオード検出システムを配置することで効果的にすることができる。
【0040】
図2を参照すると、レーザ50の焦点領域に小滴がくるように小滴システム1を調整した後、レーザが発射される。約1〜約100kHzの率でレーザが発射される高繰返し数モードでは、全て或いは一部の小滴が40'でプラズマになる。小さなプラズマから放射されるEUV、XUV、及び/またはX線80を、集光ミラー70によって集光してシステムの外側に透過させることができる。集光素子を用いない場合は、光は装置の外側に直接透過する。
【0041】
図3Aは、図2に用いられる同軸型曲面集光ミラー100を示す。ミラー110は、球面、放物面、楕円、または双曲面の反射ミラーなどの同軸型高Na EUV集光ミラーとすることができる。例えば、ハロゲンランプのリフレクタの様に、レーザ軸に対して対称或いは非対称の1つのミラーを用いることができる。EUV放射の場合、集光ミラーを、構造的に光即ち特定の波長(例えば、約13nm、約11nm、約15nm、または約17nmなど)を反射するモリブデン層とシリコン層とが交互するような多層コーティングで被覆し得る。レーザ照射されたプラズマ源から放射される放射線をこのミラーで集光して、システムの外側に透過させることができる。
【0042】
図3Bは、図2の実施例に用いられる複数のEUVミラーを示す。ミラー210は、曲面多層コーティングミラー、球面ミラー、放物面ミラー、楕円ミラー、または双曲面ミラーなどの別々の高NA EUV集光ミラーとすることができる。2つのミラーが図示されているが、適用例によっては1つにしたり、3つ以上にしてミラーアレイのようにしてもよい。
【0043】
図3Bのミラー210は、例えばハロゲンランプのリフレクタのように、レーザ軸に対して対称或いは非対称の1つのミラーを用いることができる。EUV放射の場合、構造的に光即ち特定の波長(例えば、約13nm、11nm、15nm、または17nmなど)を反射するモリブデン層とシリコン層とが交互するような多層コーティングで被覆し得る。レーザ照射されたプラズマ源から放射される放射線をこのミラーで集光して、システムの外側に透過させることができる。
【0044】
図4は、金属溶液の小滴を拡大した図である。様々な種類の金属溶液の液滴を、以下の表1A−表1Fに示すように定義する。これらの表は、室温で液体である金属成分を含む様々な金属溶液のリストである。
【0045】
【表1】
Figure 0004136658
【0046】
【表2】
Figure 0004136658
【0047】
【表3】
Figure 0004136658
【0048】
【表4】
Figure 0004136658
【0049】
【表5】
Figure 0004136658
【0050】
【表6】
Figure 0004136658
【0051】
表1A−表1Fの全ての溶液において、金属溶液は約10℃〜約30℃の室温で液体状であり得る。各小滴の直径は約10μm〜約100μmの範囲とすることができ、個々の金属成分の直径は、化合物中の1原子の直径にほぼ近い。ターゲットは、EUV、XUV、及びX線の波長を放出する。
【0052】
図5Aは、レーザで照射された純水の液滴ターゲットから放射されるEUVスペクトルである。この図は、約11.6nm、約13nm、約15nm、及び約17.4nmの波長を有する特徴的なリチウム様酸素(lithium like oxygen)の輝線を示す。図示されているように、この範囲外の輝線も放射される。
【0053】
図5Bは、類似の条件で照射された約25%のSnCl溶液から生成された液滴から放射されたスペクトルを示す。酸素の輝線に加えて、約13nm〜15nmの波長領域で示される励起されたスズイオンから放射された強い帯域がある。この領域の強い放射は、特にEUVリソグラフィーの光源としての利用に適している。図5A及び図5Bのスペクトルから、表1A−表1Fに示されている他のターゲット溶液の使用についても分かる。
【0054】
上記したように、新規の発明では、液滴ターゲット固有の大きさの制限からデブリが発生しない。液滴は、レーザ源が各液滴ターゲットを完全にイオン化(気化)される大きさであるため、粒状のデブリが生成される可能性がなくなる。従って、新規の発明は、限定するものではないがマイラーやデブリキャッチャーなどのシールドのような保護用部品を用いなくとも、ターゲットからのデブリによる損傷を全く受けない。
【0055】
各実施例は、金属溶液の個々の表について説明するが、本発明は必要に応じてこれらの金属溶液を組み合わせて実施することもできる。
【0056】
第2の実施例−ナノ粒子
様々な液体中にナノ粒子が含まれている金属溶液を、効果的な液滴点源として用いることができる。図2、図3A、及び図3Bを参照して説明した第1の実施例の構成を利用して、液体中のナノ粒子を点源として用いることができる。このタイプの点源を用いると、X線領域、EUV波長領域、及びXUV波長領域の光放射を生じさせることができる。
【0057】
液体に混合する様々な種類のナノ粒子を表2A、用いる液体を表2Bに列記する。
【0058】
【表7】
Figure 0004136658
【0059】
ナノ粒子は殆んど全ての固体材料から生成することができ、限定するものではないがスモークテクニック(smoke techniques)、爆発性ワイヤ(explosive wires)、または化学反応などの技術を用いて生成することができる。ナノ粒子は、直径が数十ナノメートルの小さな粒として形成することができ、個々の大きさは、約5nm〜約100nmの範囲とすることができる。
【0060】
【表8】
Figure 0004136658
【0061】
使用できるオイルとして、限定するものではないが脂肪油、脂肪酸油、アマニ油、キリ油、麻実油、オリーブ油、ラッカセイ油、綿実油、大豆油、及びトウモロコシ油が挙げられる。オイルの種類は通常、そのコンシステンシー、並びにナノ粒子の均一な混和を可能とする要領から選択される。或る種の粒子は、特定のオイルを使用するとより均等に混和する。
【0062】
オレイン酸剤及び石鹸溶液は、限定するものではないが金属塩、石鹸、及びオレイン酸エステルを含み得、脂肪酸や、グリセリン及びその他の炭水化物を含み得るmono-or ply-ethelinoic unsaturated fatty acidsを含み得る。第1に、粒子は混和性であってオレイン酸剤及び石鹸溶液と均一に混ぜられ得るべきである。
【0063】
限定するものではないがアルコール剤として、エチル、メタノール、プロピル、イソプロピル、及びトリメチルなどの一般的なアルコールが挙げられる。第1に、粒子は混和性であってアルコール剤と均一に混ぜられ得るべきである。
【0064】
表2A及び表2Bを参照すると、新規の点源には、例えばH2O(水)、詳細は既に上記したオイル、アルコール、オレイン酸剤、及び石鹸溶液などの内の少なくとも1つの種々の溶液中のスズ(Sn)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、金(Au)、アルミニウム(Al)、及び/またはビスマス(Bi)などの金属ナノ粒子の混合物が含まれる。
【0065】
ナノ粒子液体のX線スペクトル、EUVスペクトル、及びXUVスペクトルは、ナノ粒子液体の構成金属からの複数種のイオンの合成スペクトルである。
【0066】
好適な実施例の説明において様々な波長の放射が記載されているが、本発明は、広い帯域でEUV、XUV、及びX線の全てを放射し得る金属ターゲットを包含する。検査により本発明のターゲットが、例えば、約1nm〜約100nmの範囲、具体的には例えば、約11.7nm、約13nmの波長、約0.5nm〜約1.5nmの範囲の波長、約2.3nm〜約4.5nmの範囲の波長を包含することが分かった。
【0067】
好適な液体の種類を上記のように記載したが、本発明は他の種類の液体も用いることが可能である。例えば、スズ及びスズ粒子、並びにアルミニウム及びアルミニウム粒子などの金属を他の液体と混合できる。
【0068】
本発明を、実施可能と推定される特定の実施例または変更の様々な点について図を用いて例を示し、説明及び開示したが、これによって本発明の範囲が限定されることを意図したものでも限定されるものでもなく、本発明の開示により想到し得るその他の変更や実施例、特に本請求の範囲内の変更や実施例は留保されるものである。
【0069】
【図面の簡単な説明】
【図1A】 固体銅ターゲットが照射されて得られる従来技術のスペクトルを示す図。
【図1B】 亜鉛ターゲットが照射されて得られる従来技術のスペクトルを示す図。
【図2】 本発明の一実施例の構成を示す図。
【図3A】 図1の実施例に用いられる同軸型曲面集光ミラー(coaxial curved collecting mirror)を示す図。
【図3B】 図1の実施例に用いられる複数のEUVミラーを示す図。
【図4】 前記実施例の図に用いることができる分子性液体の小滴或いは元素状態で存在する液体及び分子性液体の混合物の小滴の拡大図。
【図5A】 水滴ターゲットのEUVスペクトルを示す図。
【図5B】 SnCl:H2O小滴ターゲット(約23%溶液)のEUVスペクトルを示す図。

Claims (14)

  1. 金属点源からEUV、XUV、又はX線の波長の光放射を生じさせる方法であって、
    室温で金属の粒子が均一に混和された液体の小滴を生成する過程であって、前記金属の粒子のそれぞれの直径が5nm〜100nmの範囲であり、前記小滴のそれぞれの直径が10μm〜100μmの範囲である、該過程と、
    前記小滴をそれぞれのターゲットソースの中に通す過程と、
    前記各小滴に実質的に等しい直径のレーザビームで前記それぞれのターゲットソースを照射する過程と、
    照射された前記ターゲットソースからEUV、XUV、又はX線の波長の光放射を生じさせる過程とを含むことを特徴とする方法。
  2. 前記液体が、HO、オイル、オレイン酸剤、石鹸溶液、及びアルコールの少なくとも1つから選択されることを特徴とする請求項に記載の方法。
  3. 前記金属がスズを含むことを特徴とする請求項に記載の方法。
  4. 前記金属が銅を含むことを特徴とする請求項に記載の方法。
  5. 前記金属が亜鉛を含むことを特徴とする請求項に記載の方法。
  6. 前記金属が金を含むことを特徴とする請求項に記載の方法。
  7. 前記金属がアルミニウムを含むことを特徴とする請求項に記載の方法。
  8. 前記金属がビスマスを含むことを特徴とする請求項に記載の方法。
  9. 前記室温が、約10℃〜約30℃の範囲であることを特徴とする請求項に記載の方法。
  10. 前記光放射が約11.7nmの波長の光放射であることを特徴とする請求項に記載の方法。
  11. 前記光放射が約13nmの波長の光放射であることを特徴とする請求項に記載の方法。
  12. 前記光放射が約0.1nm〜約100nmの範囲の波長の光放射であることを特徴とする請求項に記載の方法。
  13. 前記光放射が約0.5nm〜約1.5nmの範囲の波長の光放射であることを特徴とする請求項に記載の方法。
  14. 前記光放射が約2.3nm〜約4.5nmの範囲の波長の光放射であることを特徴とする請求項に記載の方法。
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