JP4117594B2 - ビームスプリッタ装置 - Google Patents
ビームスプリッタ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4117594B2 JP4117594B2 JP2000061147A JP2000061147A JP4117594B2 JP 4117594 B2 JP4117594 B2 JP 4117594B2 JP 2000061147 A JP2000061147 A JP 2000061147A JP 2000061147 A JP2000061147 A JP 2000061147A JP 4117594 B2 JP4117594 B2 JP 4117594B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- beam splitter
- mirror
- partial
- laser
- splitter device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/106—Beam splitting or combining systems for splitting or combining a plurality of identical beams or images, e.g. image replication
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/144—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using partially transparent surfaces without spectral selectivity
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/145—Beam splitting or combining systems operating by reflection only having sequential partially reflecting surfaces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザビームを発生するレーザ、及びレーザビームを部分ビームに分割する部分反射ミラーが設けられており、部分ビームが、1つの平面内にあるようにビームスプリッタ装置から出て、検査すべき試料に導かれる、レーザ走査顕微鏡のためのビームスプリッタ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
ドイツ連邦共和国特許出願公開第19653413号明細書によれば、拡張されたレーザビームによって互いに並んだ複数のマイクロレンズ(マイクロレンズラスタ)を照明し、これらのマイクロレンズが、入射するビームから部分ビームを形成することは公知である。このことは、とくにそれぞれの部分ビームが、入射するビームのビームプロファイルの別の部分から出ていることを意味する。
【0003】
部分ビームは、マイクロレンズによってその焦点距離の間隔を置いて、マイクロレンズラスタの後における1つ又は互いに前後に密に配置された複数の平面において集束し、かつそれから対物レンズに広がり、それによりこれらの部分ビームは、試料に集束される。その際、部分ビームは、対物レンズの開口を一面に照射する。部分ビームの数と間隔は、公知の顕微鏡においてマイクロレンズラスタの性質によってあらかじめ固定的に与えられている。
【0004】
典型的にこのような光学装置においてレーザビームのための光源と試料との間に、部分ビームのビーム経路の分岐が設けられているので、試料から出た蛍光は、レーザビームの部分ビームの方向から側方にフォトセンサに転向される。フォトセンサへのレーザビームの転向のために、ビーム経路内に配置された部分透過転向ミラーが設けられている。
【0005】
公知の顕微鏡の問題は、部分ビームがかなりの程度まで異なった強さを有することにある。レーザビームは、ビーム横断面にわたって光強さの分布を有する。走査顕微鏡に使われるレーザは、典型的にガウス状のビームプロファイルを有する。すなわちマイクロレンズラスタによってレーザビームの中心から形成される部分ビームは、広がったビームの縁から形成された部分ビームよりも強力である。観察される信号は、部分ビームによって励起される蛍光である。この信号は、1光子励起の場合、励起を行なう部分ビームの強さと同様に異なっている。
【0006】
非直線顕微鏡技術(2、3又は多光子励起)の際、この効果は、2乗又は3乗になって現われる。例えば2つの部分ビームが、係数4だけ異なった強さを有する場合、これらのビームによって形成される信号は、係数4だけ(1光子励起)、16だけ(2光子励起)又は64だけ(3光子励起)相違している。このことは、とくに非直線走査顕微鏡におけるマイクロレンズによる部分ビームの形成の問題をなしている。
【0007】
周知の顕微鏡の別の問題は、達成される解像力が、利用される対物レンズの回折限界に相当するものより粗悪であるということにある。
【0008】
走査顕微鏡の横解像力は、試料に発生されるフォキ(Foki)の全半値幅によって与えられている。周知の顕微鏡においてフォキの大きさは、利用される対物レンズの開口によるだけでなく、マイクロレンズの形及び大きさによってもの決められる。なぜならマイクロレンズは、それぞれの部分ビームに対して制限する回折を生じる開口をなしているからである。このことは、とくに部分ビームの数が増加すると、この時にマイクロレンズの大きさが減少し、したがってフォキの直径が増加するので、解像力は常に粗悪になる。
【0009】
加えてマイクロレンズは、対称的に照明されるのではなく、一般に縁に向かって低下する広がったレーザビームのビームプロファイルの部分による照明される。このことは、試料におけるフォキが非対称強さ分布を受けるようになる。
【0010】
解像力は、顕微鏡におけるもっとも重要なパラメータの1つなので、このことは、些細ではない問題である。
【0011】
周知の顕微鏡の別の問題は、入射するレーザビームのエネルギーが完全には利用されないということにある。
【0012】
広げられたレーザビームの一部は、マイクロレンズラスタの縁により、かつここのマイクロレンズの縁により切取られる。これらの損失は累積するので、例えばレーザの1.4Wの初期出力のうち、ほぼ125mW(9%)しか試料に到達しない(Jorg Bewersdorf、Rainer Pick、Stefan W.Hell、“Multifocal multiphoton microscopy”、Optic Letters、第23巻、第9号(1998))。
【0013】
レーザエネルギーの損失は、必要な測定時間がレーザエネルギーの利用度に依存しているので、顕微鏡の効率をかなり低下する。
【0014】
生きた細胞における過程を研究するレーザ走査顕微鏡の生物学的な適用のために、画像のために必要な測定時間も、まだ観察可能な過程の最高の速度をあらかじめ与えるので、重要な判定基準である。神経細胞の刺激伝達の研究(R.Yuste、W.Denk、“Dentric spines as basic functional units of neuronal integration”、Nature 第375巻、第682−684頁、(1995))は、1つの例である。ここではレーザ走査顕微鏡は、完全な神経組織の深いところにある層から高解像力の画像を提供するために、必要になる。しかしレーザ走査顕微鏡のこの有利な使用にとって、ゆっくりとした画像撮影が、神経細胞内における刺激の伝達を、画像を与えるように追跡することを妨げることが対立している。それ故に画像撮影の速度を上昇することができるならば、このことは、レーザ走査顕微鏡の使用範囲の拡張をなしている。
【0015】
試料におけるレーザ出力が、画像撮影の速度にとって決定的である。試料を照明するビームにおける出力は、試料を破壊することなく任意に上昇できないので、試料における出力は、複数の点を同時に照明するために複数のビームを利用することによってしか、著しく増加することができない。
【0016】
ビーム分割の際の効率は、(レーザの所定の初期出力の際)部分ビームの最大の数を決定する。
【0017】
周知の顕微鏡の別の問題は、部分ビームの間隔と数が、マイクロレンズラスタの性質によってあらかじめ固定的に与えられているということにある。しかしながら用途に応じて、さらに小さい又はさらに大きいビーム間隔が有意義であることがある。
【0018】
研究しようとする1つの細胞にすべてのビームを向けることによって、ここの細胞は、最高の速度で研究することができる。この場合、ほぼ2μmの間隔が有意義である。生化学的な反応を解析するマイクロ構造化された基板(バイオチップ)を読み出すようにするとき、基板の構造大きさのビーム間隔が有意義である(ほぼ20μm)。周知のようなビーム倍増は、ビームの数と間隔を容易に変更する可能性を提供しない。
【0019】
さらに従来の技術によれば、ドイツ連邦共和国特許出願公開第3918412号明細書が公知であり、この明細書は、レーザビームを発生するレーザ、及びレーザビームを部分ビームに分割する部分反射ミラーが設けられており、その際、部分ビームが、1つの平面内にあるようにビームスプリッタ装置から出て、かつ検査すべき試料に導かれる、レーザ走査顕微鏡のためのビームスプリッタ装置を示している。
【0020】
ドイツ連邦共和国特許出願公開第19535525号明細書は、部分透過及び全反射反射器層を備えたビーム倍増器を示しており、その際、部分透過層は、ビーム経路内において全反射層の前に接続されており、かつこれに戻すように反射し、かつ生じる部分ビームに同じ強さを与えるために、反射番号の増加とともに上昇する透過率を有する。
【0021】
ドイツ連邦共和国特許出願公開第0386643号明細書は、部分透過及び全反射反射器層を備えたビーム倍増器を示しており、その際、部分透過層は、ビーム経路内において全反射層の前に接続されており、かつ構成において部分透過層に対して反転して又は段階的に形成されており、かつその際、2次元照明マトリクスを形成するために、別の構成において互いに90度だけ旋回された2つのビーム倍増器が設けられている。
【0022】
ドイツ連邦共和国特許第3876344T2号明細書に、2つの全反射層の間に一定の透過率を有する部分透過層を備えたオプト分配器が記載されており、その際、層は、互いに平行に配置されており、かつ部分透過層は、それぞれ同じ減衰で入射光を、一方の高反射ミラーに透過し、かつ他方の高反射ミラーに反射し、かつ改めてかつ繰返してそれぞれ同じ減衰で、一方の高反射ミラーに透過し、かつ他方の高反射ミラーに反射する。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、部分ビームの数と間隔を、互いに簡単に変更することができる、レーザ走査顕微鏡のためのビームスプリッタ装置を提供することにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば課題は、次のようにして解決される。すなわち部分透過ミラーが、一定の透過率を有し、かつ2つの高反射ミラーの間に配置されており、それぞれ同じ減衰でレーザビームを、一方の高反射ミラーに反射し、かつ他方の高反射ミラーに透過し、改めてかつ繰返してそれぞれ同じ減衰で、一方の高反射ミラーに反射し、かつ他方の高反射ミラーに透過し、部分反射ミラーが、両方の高反射ミラーから異なった間隔を有し、かつ/又は両方の高反射ミラーが、部分反射ミラーに対して異なった角度で傾斜しており、したがって部分反射ミラーから反射された部分ビームが、高反射ミラーから反射された部分ビームと一致せず、かつビームスプリッタ装置からの部分ビームの出口範囲において、部分反射ミラーの端部縁が、一方の高反射ミラーの端部縁に対して出口方向に後にずらされ、かつ他方の高反射ミラーの端部縁に対して前にずらされている。
【0025】
本発明のその他の有利な構成は、特許請求の範囲従属請求項から明らかである。
【0026】
ビームを部分ビームに分割するこの様式は、次のような利点を有する:
1.入射するレーザのエネルギーは、完全に利用され、かつ個々の部分ビームに分割され;
2.それぞれの部分ビームは、入射するビームと同じビームプロファイルを有し;
3.部分透過ミラーがビームの強さを比1:1に分割するとき、部分ビームも同じ強さであり;
4.ミラーが互いに平行であるとき、発生される部分ビームも平行であり、一方又は両方の高反射ミラーが部分透過ミラーに対して傾斜しているとき、発生される部分ビームは、互いに相対的に角度を有し、部分ミラーの角度は、対物レンズにより試料内に発生される焦点の間隔を確定し、すなわち高反射ミラーの傾斜により、焦点の間隔は可変であり;
5.レーザビームを部分ビームに分割する光学装置から出る際の部分ビームの間隔は、半透過転向ミラーに対する高反射ミラーの間隔の差によって与えられている。
【0027】
レーザ走査顕微鏡に使用する際にビーム分割のとくに高い効率及び部分ビームの均一な強さがきわめて有利であり、かつ画像撮影の促進に通じることは、一般的に成立つ。焦点の間隔を可変にする可能性は、それぞれの適用の要求に合わせるために必要な融通性を形成している。
【0028】
【発明の実施の形態】
図1によれば、入射するビーム1が8つの部分ビームに分割される構成が明らかである。ビーム5は、1つの線上に並んでいる。その際、3によって示される高反射ミラーは、段部を備え、すなわちこのミラーの間隔は、その際に高反射ミラー4又はその間にある部分反射ミラー2に対して、この段部3によって可変である。
【0029】
図2による構成において、レーザビームを分割する2つの光学装置の間に、ペリスコープ6が設けられている。このペリスコープ6に部分ビーム5が当たり、その際、1つの部分ビームは、ペリスコープにより、このビームを分割する第2の光学装置に導かれる。この第2の光学装置によりそれぞれのレーザビームは、再び複数の部分ビーム5に分割されるので、基本的に部分ビームの2次元のラスタが得られる。その他にレーザビームを分割する両方の光学装置をそれぞれ所定の角度だけ、とくに90度の角度だけ互いにずらせば、同じ結果が得られる。
【0030】
図3による表示において、レーザ走査顕微鏡におけるビームが示されている。ここでは試料9とフォトセンサ12との間に、部分透過性に形成された転向ミラー10が設けられている。すなわちこのミラーは、レーザビームを部分ビーム5に分割する光学装置から当たるビームを直接試料に反射し、試料から送出されるビームがその異なった波長に基づいて転向ミラー10を通してフォトセンサ12に通過するように、部分透過性に形成されている。フォトセンサ12の前に、−図3から明らかなように−チューブレンズ11がある。
【0031】
図4による表示は、図1によるものに対してわずかだけ相違しており;ここでは前後に配置された複数の個々のミラーへの高反射及び部分透過ミラーの分割だけが行なわれている。レーザビームのビーム分割に関する結果は、図1によるものと同じである。
【図面の簡単な説明】
【図1】2つの高反射ミラー及びその間に配置された1つの部分透過ミラーからなる光学装置を示す図である。
【図2】レーザビームを分割する2つの光学装置の直列配置を示し、その際に両方の光学装置の間においてビーム経路内にペリスコープが設けられた図である。
【図3】レーザ走査顕微鏡を含むビーム分割を示す図である。
【図4】その間に配置された複数の部分透過ミラーを有する直列接続された複数の高反射ミラーの配置を示す図である。
【符号の説明】
1 レーザビーム
2 部分透過ミラー
3 高反射ミラー
4 高反射ミラー
5 部分ビーム
Claims (5)
- レーザビーム(1)を発生するレーザ、及びレーザビーム(1)を部分ビーム(5)に分割する部分反射ミラー(2)が設けられており、部分ビーム(5)が、1つの平面内にあるようにビームスプリッタ装置から出て、検査すべき試料に導かれる、レーザ走査顕微鏡のためのビームスプリッタ装置において、
部分透過ミラー(2)が、一定の透過率を有し、かつ2つの高反射ミラー(3,4)の間に配置されており、それぞれ同じ減衰でレーザビーム(1)を、一方の高反射ミラー(3)に反射し、かつ他方の高反射ミラー(4)に透過し、改めてかつ繰返してそれぞれ同じ減衰で、一方の高反射ミラー(3)に反射し、かつ他方の高反射ミラー(4)に透過し、部分反射ミラー(2)が、両方の高反射ミラー(3,4)から異なった間隔を有し、かつ両方の高反射ミラー(3,4)が、部分反射ミラー(2)に対して異なった角度で傾斜しており、したがって部分反射ミラー(2)から反射された部分ビーム(5)が、高反射ミラー(3,4)から反射された部分ビーム(5)と一致せず、ビームスプリッタ装置からの部分ビーム(5)の出口範囲において、部分反射ミラー(2)の端部縁が、一方の高反射ミラー(3)の端部縁に対して出口方向に後にずらされ、かつ他方の高反射ミラー(4)の端部縁に対して前にずらされていることを特徴とする、レーザ走査顕微鏡のためのビームスプリッタ装置。 - 複数のビームスプリッタ装置が、互いに前後に接続されており、かつすべての部分ビーム(5)が、1つの平面にあるようにビームスプリッタ装置から出ることを特徴とする、請求項1に記載のビームスプリッタ装置。
- なるべく90度の角度だけ互いに傾斜した2つのビームスプリッタ装置が、互いに前後に接続されており、その際、それぞれのビームスプリッタ装置のすべての部分ビーム(5)が、1つの平面内にあるようにここから出て、かつその際、両方のビームスプリッタ装置の部分ビーム(5)が、全体として2次元の照明マトリクスを形成することを特徴とする、請求項1又は2に記載のビームスプリッタ装置。
- レーザ走査顕微鏡の対物レンズが、部分ビームを異なった焦点に集束することを特徴とする、請求項1ないし3の1つに記載のビームスプリッタ装置。
- レーザ走査顕微鏡の対物レンズの入口の前における部分ビームが、その直径について変化することを特徴とする、請求項1ないし4の1つに記載のビームスプリッタ装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904592A DE19904592C2 (de) | 1999-02-05 | 1999-02-05 | Strahlteilervorrichtung |
DE19904592.5 | 1999-02-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000275531A JP2000275531A (ja) | 2000-10-06 |
JP4117594B2 true JP4117594B2 (ja) | 2008-07-16 |
Family
ID=7896471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000061147A Expired - Fee Related JP4117594B2 (ja) | 1999-02-05 | 2000-02-01 | ビームスプリッタ装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6219179B1 (ja) |
JP (1) | JP4117594B2 (ja) |
DE (1) | DE19904592C2 (ja) |
FR (1) | FR2789498B1 (ja) |
GB (1) | GB2346453B (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10050540A1 (de) * | 2000-10-11 | 2002-05-02 | Lavision Biotec Gmbh | Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer Ebene |
FR2821678B1 (fr) * | 2001-03-02 | 2004-06-18 | Teem Photonics | Module de deflexion optique |
US6888148B2 (en) * | 2001-12-10 | 2005-05-03 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and /or back scattered light beam in a sample |
US6947127B2 (en) | 2001-12-10 | 2005-09-20 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample |
DE10215162B4 (de) | 2002-04-05 | 2006-01-05 | Lavision Biotec Gmbh | Strahlteilervorrichtung und Laserrastermikroskop |
DE10223911B4 (de) * | 2002-05-29 | 2007-05-10 | Lavision Biotec Gmbh | Verfahren zur Teilung eines Laserstrahles |
US6801299B2 (en) * | 2002-07-31 | 2004-10-05 | Asml Holding N.V. | System for laser beam expansion without expanding spatial coherence |
US7116400B2 (en) * | 2004-06-02 | 2006-10-03 | Asml Netherlands B.V. | Illumination assembly, method for providing a radiation beam, lithographic projection apparatus and device manufacturing method |
DE102004034987A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop und Verwendung |
DE102004034961A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung |
DE102004034959A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung |
DE102004039564B4 (de) * | 2004-08-13 | 2006-06-29 | Institut für Lasertechnologien in der Medizin und Meßtechnik an der Universität Ulm | Vorrichtung zum optischen Screening von Oberflächen biologischer Proben in zweidimensionaler Anordnung |
GB0428185D0 (en) * | 2004-12-23 | 2005-01-26 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
DE102005000840B4 (de) * | 2005-01-05 | 2007-12-27 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Elementanalyse mittels Laser-Emissionsspektrometrie |
JP5060733B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2012-10-31 | オリンパス株式会社 | 光パルス多重化ユニット、それを用いた光パルス発生器、及び光パルス多重化方法 |
JP2006275908A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Olympus Corp | 信号光パルス多重化ユニット及びそれを用いた時間分解計測装置 |
EP1710609A1 (en) * | 2005-04-08 | 2006-10-11 | Deutsches Krebsforschungszentrum Stiftung des öffentlichen Rechts | Optical scanning device and method of deriving same |
WO2006127967A2 (en) | 2005-05-25 | 2006-11-30 | Massachusetts Institute Of Technology | Multifocal scanning microscopy systems and methods |
JP4889417B2 (ja) * | 2006-09-13 | 2012-03-07 | オリンパス株式会社 | 光パルス多重化ユニット |
JP5004545B2 (ja) * | 2006-10-11 | 2012-08-22 | オリンパス株式会社 | 光パルス多重化ユニット |
KR100862448B1 (ko) * | 2007-04-11 | 2008-10-08 | 삼성전기주식회사 | 다중 빔 레이저 장치 |
KR100862522B1 (ko) | 2007-04-16 | 2008-10-08 | 삼성전기주식회사 | 레이저가공 장치 및 기판 절단 방법 |
KR100862449B1 (ko) | 2007-04-16 | 2008-10-08 | 삼성전기주식회사 | 다중 빔 레이저 장치 |
KR100900684B1 (ko) | 2007-07-19 | 2009-06-01 | 삼성전기주식회사 | 라인 빔 레이저 장치 및 이를 이용한 표면 측정 장치 |
EP2481132A2 (en) | 2009-09-24 | 2012-08-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A pulse splitter with dispersion compensation |
DE102010013829A1 (de) | 2010-03-26 | 2011-09-29 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur Erfassung von Probenlicht |
DE102011013613A1 (de) | 2010-10-01 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Mikroskop und Mikroskopierverfahren |
DE102010047353A1 (de) | 2010-10-01 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop mit umschaltbarer Betriebsweise |
DE102011109653B4 (de) | 2011-08-06 | 2021-11-25 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Beleuchtungsarray |
DE102011109999A1 (de) | 2011-08-11 | 2013-02-14 | Lavision Biotec Gmbh | Laseranordnung |
DE102011114754A1 (de) | 2011-09-29 | 2013-04-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | "Laser-Scanning-Mikroskop" |
DE102012019464A1 (de) | 2012-09-28 | 2014-04-03 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Konfokales Auflicht-Rastermikroskop zur Multifleck-Abtastung |
WO2015044819A1 (en) * | 2013-09-26 | 2015-04-02 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Optical prism for creating multiple views of an image |
DE102014003773B4 (de) | 2014-03-15 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Baugruppe zur Mehrstrahlabtastung |
WO2016145366A1 (en) | 2015-03-11 | 2016-09-15 | Timothy Ragan | System and methods for serial staining and imaging |
GB2616306B (en) * | 2022-03-04 | 2024-07-31 | Envisics Ltd | System and device |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2267948A (en) * | 1936-02-24 | 1941-12-30 | Kislyn Corp | Optical system |
US2359694A (en) * | 1943-02-22 | 1944-10-03 | Bausch & Lomb | Optical instrument |
US3449039A (en) * | 1965-07-02 | 1969-06-10 | Ibm | Non-parallel surfaced light-deflector selector |
FR2585480B1 (fr) * | 1985-07-24 | 1994-01-07 | Ateq Corp | Generateur de modeles a laser |
US4745591A (en) * | 1987-02-24 | 1988-05-17 | Gte Laboratories Incorporated | Multiple channel wavelength division multiplexer/demultiplexer |
GB8721472D0 (en) * | 1987-09-11 | 1987-10-21 | British Telecomm | Optical distributor |
US5165080A (en) * | 1987-09-11 | 1992-11-17 | British Telecommunications Public Limited Company | Optical distributor |
JPH0218518A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-22 | Think Lab Kk | 光ビーム分割器 |
DD274691A1 (de) * | 1988-08-03 | 1989-12-27 | Zeiss Jena Veb Carl | Rastermikroskop fuer durch- und auflicht |
JPH0315002A (ja) * | 1989-03-06 | 1991-01-23 | Toshihiro Kubota | 光分割器 |
US5214536A (en) * | 1991-03-11 | 1993-05-25 | International Business Machines Corporation | Illumination device for a document line scanner |
US5671047A (en) * | 1995-05-15 | 1997-09-23 | Bio-Rad Laboratories | Laser beamsplitter for generating a plurality of parallel beams |
DE19535525A1 (de) * | 1995-09-25 | 1997-03-27 | Lo Laseroptik Gmbh | Strahlvervielfacher |
DE19653413C2 (de) | 1996-12-22 | 2002-02-07 | Stefan Hell | Rastermikroskop, bei dem eine Probe in mehreren Probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird |
JP3816632B2 (ja) * | 1997-05-14 | 2006-08-30 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
-
1999
- 1999-02-05 DE DE19904592A patent/DE19904592C2/de not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-01-27 US US09/492,641 patent/US6219179B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-02-01 JP JP2000061147A patent/JP4117594B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-02-04 GB GB0002685A patent/GB2346453B/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-02-04 FR FR0001405A patent/FR2789498B1/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6219179B1 (en) | 2001-04-17 |
GB2346453A (en) | 2000-08-09 |
DE19904592C2 (de) | 2001-03-08 |
GB2346453B (en) | 2001-04-11 |
DE19904592A1 (de) | 2000-09-28 |
FR2789498B1 (fr) | 2001-05-11 |
JP2000275531A (ja) | 2000-10-06 |
GB0002685D0 (en) | 2000-03-29 |
FR2789498A1 (fr) | 2000-08-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4117594B2 (ja) | ビームスプリッタ装置 | |
JP6810167B2 (ja) | 4dハイパースペクトル撮像のためのシステムおよび方法 | |
JP6282706B2 (ja) | 物体の2次元または3次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法 | |
EP1789828B1 (en) | Microscope system and method | |
US8773760B2 (en) | Multi-point scan architecture | |
JP6035019B2 (ja) | Sted光シートを用いるspim顕微鏡 | |
JP5055292B2 (ja) | 共焦点イメージング方法および装置 | |
JP4670031B2 (ja) | 試料内で励起および/または後方散乱を経た光ビームの光学的検出のための装置 | |
US7701632B2 (en) | Method and arrangement for changing the spectral composition and/or intensity of illumination light and/or specimen light in an adjustable manner | |
US7196339B2 (en) | Light-receiving unit and measuring apparatus including the same | |
JP2004170977A (ja) | 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置 | |
US20090080194A1 (en) | Fluorescence filtering system and method for molecular imaging | |
JP4920918B2 (ja) | 位相フィルタ、光学装置及びラスタ顕微鏡 | |
US20190293562A1 (en) | Apparatus for characterizing luminescent entities | |
JP2007233370A (ja) | 試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡 | |
JP2007506955A (ja) | エバネッセント波照明を備えた走査顕微鏡 | |
CN111879740A (zh) | 基于光子复位技术的全光学超分辨显微装置 | |
US6995902B2 (en) | Microscopic imaging apparatus with flat-top distribution of light | |
US20030161039A1 (en) | Illumination system for microscopy and observation or measuring method using the same | |
CN107941777B (zh) | 一种抗漂白单分子定位三维超分辨显微系统 | |
JP2002543370A (ja) | 光学スキャナ用の画像形成システム | |
Yang et al. | Parallel confocal systems for biomedical application | |
JP2001208688A (ja) | マルチスポット光形成方法及び共焦点検出方法及び蛍光検出方法及びdna検査方法 | |
CN116410852A (zh) | 一种光学装置、照明方法、照明装置及测序仪 | |
EP4334674A1 (en) | Systems and methods to acquire three dimensional images using spectral information |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040216 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20060928 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070711 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070724 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20071016 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20071119 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080123 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080401 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080410 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130502 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140502 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |