JP4006980B2 - マグネトロン装置 - Google Patents

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    • H01J25/587Multi-cavity magnetrons

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  • Microwave Tubes (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子レンジに用いられるマグネトロン装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
マグネトロン装置は、例えば2,450MHzの基本周波数で動作するものがあり、マイクロ波加熱器あるいはマイクロ波放電ランプなどのマイクロ波を用いた電気機器において高周波発生源として使用されている。このようなマグネトロン装置は、図6に示されるように、中心部には真空管部1があり、この真空管部1の外周に配設された複数枚の放熱用フィン2と、真空管部1と同軸に配設された一対の環状磁石3と、この環状磁石3を磁気的に継ぐ一対の枠状継鉄4と、フィルタ回路部5とで構成されている。真空管部1は、円筒状の陽極筒体6と、陽極筒体6と同軸上に配置された陰極7と、陽極筒体6の中心軸の周りに放射状に配置された複数枚の板状ベイン8と、これらを1枚おきに電気的に接続するための複数個の均圧環9,10と、一端がいずれか1枚の板状ベイン8に接続されたマイクロ波放出用のアンテナ11とを具備した構成となっている。ところで、板状ベイン8の両端面にはそれぞれ大小の均圧環9、10を接続させるために一方の端面に第1の凹み12が、他方の端面に第2の凹み13が形成されている。また、上記端面のいずれか一方側に、アンテナ11を固定する溝14が形成されている。そして、板状ベイン8は、第1の端面側と第2の端面側が隣り合うように1枚おきに交互に配設され陽極筒体6の内壁面に固定されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
近年、マグネトロン装置を用いた機器の分野では、新たな応用機器の開発および新たな市場の拡大を進めるにあたって、小型化されたマグネトロン装置の開発が望まれている。しかしながら従来のマグネトロン装置では、小型化を目的として陽極筒体の内径寸法を従来の略35mmよりも小さくすると、発振周波数が規定周波数よりも高く変化し、単純に内径寸法を変更することができないのが現状である。したがって、小型化技術の進展が阻まれている。
【0004】
本発明は上述した課題を解決し、小型化されたマグネトロン装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1のマグネトロン装置は、陽極筒体と、この陽極筒体の内壁面に固着されるとともに中心軸の周りに放射状に配置された複数枚の板状ベインと、これらの板状ベインを1枚おきに電気的に接続する第1及び第2の均圧環と、前記板状ベインの第1の端面に形成され前記第1の均圧環と接触しない寸法に形成された第1の均圧環と接触しない第1の凹みと、前記第1の端面に形成され前記第1の凹みの形成位置と異なる位置に形成されたマイクロ波放出用アンテナ固定溝と、前記第1の端面と反対側の第2の端面に形成され前記第2の均圧環と接触しない寸法に形成された第2の凹みと、前記第2の端面に形成され前記第2の凹みの形成位置と異なるとともに前記第1の凹みの形成位置とは前記陽極筒体の中心軸から前記陽極筒体の外周方向に向かって遠ざかる方向に完全にずれた位置に形成された第3の凹みとからなり、前記第1の凹みの凹み深さ寸法は前記第1の凹みの底辺から前記第2の端面までの距離よりも大きい寸法に形成され、前記第3の凹みの凹み深さ寸法は前記第3の凹みの底辺から前記第1の端面までの距離よりも大きい寸法に形成されている。
【0008】
また、前記第1の凹みの凹み深さ寸法と前記第3の凹みの凹み深さ寸法とは異なる寸法に形成されている。
【0009】
また、前記第1の凹みの凹み深さ寸法と前記第3の凹みの凹み深さ寸法とは略同一寸法に形成されている。
【0010】
このような構成によれば、従来よりも小さい内径の陽極筒体と小さな板状ベインとを使用しても、凹みの存在によって隣り合った板状ベインと陽極筒体とで構成される共振空洞を流れる高周波電流の通路が細長く確保されるところとなり、従来通りのインダクタンスが確保される。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0012】
図1(a)は、本発明の実施の形態であるマグネトロン装置を示し、図1(b)は、その要部断面図を示す。従来例と同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。図1(b)に示されるように、陽極筒体6の内壁面に固着された板状ベイン15には、アンテナ11側の第1の端面16側に、大小一対の第1の均圧環9および第2の均圧環10が配置され、第1の均圧環9と接触しない第1の凹み17が凹み深さD1寸法に形成され、第2の均圧環10が板状ベイン15と固着され、また、第1の端面16の反対側の第2の端面18側に、大小一対の第1の均圧環9および第2の均圧環10が配置され、第2の均圧環10と接触しない第2の凹み19が凹み深さD2寸法に形成され、第1の均圧環9が板状ベイン15と固着されている。第2の端面18には、第2の凹み19が形成された位置とは異なるとともに第1の凹み17の形成位置とは完全にずれた位置に第3の凹み20が凹み深さD3寸法に形成されている。そして、第1の凹み17の底辺と第2の端面18との間にできる距離をW1で示し、第1の端面16と第3の凹み20との間にできる距離をW2で示す。
【0013】
このとき、第1の凹みの凹み深さ寸法D1はW1よりも大きい寸法に形成されており、また、第3の凹みの凹み深さ寸法D3はW2よりも大きい寸法に形成されている。
【0014】
次に本発明について1実施例を説明する。第2の凹みを従来と同じ1.7mmにしたままで、第1の凹みの深さD1を5.8mmおよび第3の凹みの深さD3を7.5mmとしたときに、陽極筒体6の内径が22mmのときに2450MHzで発振した。陽極筒体6の内径は従来の35mmに比べて13mm小さくなり、陽極筒体6を大幅に小型化することができた。図2は陽極筒体6の内径と発振周波数との実験結果について示し、陽極筒体6の内径を上記以外の値にしたときの結果についても示す。また従来の場合の発振周波数が変化した結果を比較して示す。なお、図に示された結果において、発振周波数のばらつきは±10MHz内に収まっている。また、上述の寸法の実施例では第1の凹みの凹み深さ寸法D1と前記第3の凹みの凹み深さ寸法D3とは異なる寸法に形成されているが、第1の凹みの凹み深さ寸法D1と前記第3の凹みの凹み深さ寸法D3とは略同一寸法に形成されていても陽極筒体の内径を小さくすることができる。
【0015】
このように構成された本発明によるマグネトロン装置は、内径寸法が従来の陽極筒体よりも小さい陽極筒体を使用しても、隣り合った板状ベインと陽極筒体とで構成される共振空洞を流れる高周波電流の通路が短くなることがなく、従来と同等のインダクタンスが確保される。その結果、発振周波数が従来のマグネトロン装置と同じで小型化されたマグネトロン装置を得ることができる。
【0016】
なお、図1(b)において、第1の端面16側に、第1の均圧環9と接触しない第1の凹み17が凹み深さD1寸法に形成され、第2の均圧環10が板状ベイン15と固着され、また、第1の端面16の反対側の第2の端面18側に、大小一対の第1の均圧環9および第2の均圧環10が配置され、第2の均圧環10と接触しない第2の凹み19が凹み深さD2寸法に形成され、第1の均圧環9が板状ベイン15と固着されているが、図3に示されるように、第1の端面16側に、第1の凹み17が第2の均圧環10と接触しない位置に形成され、第1の均圧環9が板状ベイン15と固着され、第2の端面18側に、第2の凹み19が第1の均圧環9と接触しない位置に形成され、第2の均圧環10が板状ベイン15と固着されていても同等の効果が奏される。
【0017】
また、図4及び図5に示されるように、陽極筒体の内壁面にベインの一部23が突出して固着されていてもよく、或いは、陽極筒体の内壁面の一部24が凹んでいてもよく、同等の効果が奏される。
【0018】
さらにまた、本発明の実施の形態では、第1の凹み17と第3の凹み20の形状を矩形状として図示したが、この形状に代えて半円形状等他の形状としてもよく、同等の効果が奏される。
【0019】
【発明の効果】
以上、本発明によれば、内径寸法が従来の陽極筒体よりも小さい陽極筒体を使用しても、板状ベインに形成された凹みの存在により、隣り合った板状ベインと陽極筒体とで構成される共振空洞を流れる高周波電流の通路が短くなることがなく、従来と同等のインダクタンスが確保される。その結果、発振周波数が従来のマグネトロン装置と同じで小型化されたマグネトロン装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)本発明の実施の形態によるマグネトロン装置の断面図
(b)本発明の実施の形態によるマグネトロン装置の要部断面図
【図2】本発明の陽極筒体の内径と発振周波数との関係を従来と比較して示す図
【図3】本発明の他の実施の形態によるマグネトロン装置の要部断面図
【図4】本発明の他の実施の形態によるマグネトロン装置の要部断面図
【図5】本発明の他の実施の形態によるマグネトロン装置の要部断面図
【図6】従来のマグネトロン装置の断面図
【符号の説明】
6 陽極筒体
9 第1の均圧環
10 第2の均圧環
11 アンテナ
15 板状ベイン
16 第1の端面
17 第1の凹み
18 第2の端面
19 第2の凹み
20 第3の凹み
D1、D2、D3 凹みの深さ寸法
W1、W2 凹みの底辺から端面までの距離

Claims (3)

  1. 陽極筒体と、この陽極筒体の内壁面に固着されるとともに中心軸の周りに放射状に配置された複数枚の板状ベインと、これらの板状ベインを1枚おきに電気的に接続する第1及び第2の均圧環と、前記板状ベインの第1の端面に形成され前記第1の均圧環と接触しない寸法に形成された第1の均圧環と接触しない第1の凹みと、前記第1の端面に形成され前記第1の凹みの形成位置と異なる位置に形成されたマイクロ波放出用アンテナ固定溝と、前記第1の端面と反対側の第2の端面に形成され前記第2の均圧環と接触しない寸法に形成された第2の凹みと、前記第2の端面に形成され前記第2の凹みの形成位置と異なるとともに前記第1の凹みの形成位置とは前記陽極筒体の中心軸から前記陽極筒体の外周方向に向かって遠ざかる方向に完全にずれた位置に形成された第3の凹みとからなり、前記第1の凹みの凹み深さ寸法は前記第1の凹みの底辺から前記第2の端面までの距離よりも大きい寸法に形成され、前記第3の凹みの凹み深さ寸法は前記第3の凹みの底辺から前記第1の端面までの距離よりも大きい寸法に形成されていることを特徴とするマグネトロン装置。
  2. 前記第1の凹みの凹み深さ寸法と前記第3の凹みの凹み深さ寸法とは異なる寸法に形成されている請求項に記載のマグネトロン装置。
  3. 前記第1の凹みの凹み深さ寸法と前記第3の凹みの凹み深さ寸法とは略同一寸法に形成されている請求項に記載のマグネトロン装置。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100913145B1 (ko) * 2003-05-29 2009-08-19 삼성전자주식회사 마그네트론
KR20050026596A (ko) * 2003-09-09 2005-03-15 삼성전자주식회사 전자레인지용 마그네트론
JP2005259508A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Hokuto Electronics Corp 電子レンジ用マグネトロン
KR100651905B1 (ko) * 2005-03-29 2006-12-01 엘지전자 주식회사 마그네트론
GB2457046A (en) * 2008-01-30 2009-08-05 E2V Tech Anode structure for a magnetron
JP2009205963A (ja) * 2008-02-28 2009-09-10 Panasonic Corp マグネトロン
EP2096660A3 (en) * 2008-02-28 2010-04-14 Panasonic Corporation Magnetron
CN102334174B (zh) * 2009-02-27 2014-04-30 松下电器产业株式会社 磁控管及微波利用装置
CN104253008B (zh) * 2013-06-27 2017-05-31 乐金电子(天津)电器有限公司 微波炉用磁控管的阴极组件及其磁控管
CN108834301B (zh) * 2018-06-27 2020-03-24 中国原子能科学研究院 同步回旋加速器中旋转电容转子的电接触方法及其结构
CN110379692B (zh) * 2019-08-19 2024-01-26 电子科技大学 一种采用对称磁路的微波炉用扁平化磁控管

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1007440B (de) * 1955-10-27 1957-05-02 Deutsche Elektronik Gmbh Magnetfeldroehre der Radbauart
JPS58908Y2 (ja) * 1975-08-11 1983-01-08 三洋電機株式会社 ナイジガタマグネトロン
JPS53112052A (en) * 1977-03-11 1978-09-30 Toshiba Corp Magnetron
JPS5935497B2 (ja) * 1979-02-28 1984-08-29 株式会社東芝 マグネトロン
JPS61285641A (ja) * 1985-06-13 1986-12-16 Matsushita Electronics Corp マグネトロン陽極構体
EP0214611B1 (en) * 1985-09-09 1990-08-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Anode assembly of magnetron and method of manufacturing the same
US5003223A (en) * 1987-08-19 1991-03-26 Hitachi, Ltd. Structure of anode of magnetron and a method of manufacturing the same
JPH01307147A (ja) * 1988-06-02 1989-12-12 Sanyo Electric Co Ltd マグネトロン
JPH02242551A (ja) * 1989-03-15 1990-09-26 Matsushita Electron Corp マグネトロン用陽極構体
US6222319B1 (en) * 1997-04-11 2001-04-24 Matsushita Electronics Corporation Magnetron apparatus having a segmented anode edges and manufacturing method
JP2000173485A (ja) 1998-12-07 2000-06-23 Hitachi Ltd マグネトロン陽極空胴共振器

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KR100498564B1 (ko) 2005-07-01
DE60220874T2 (de) 2008-03-13
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DE60220874D1 (de) 2007-08-09
JP2003151451A (ja) 2003-05-23
US6670762B2 (en) 2003-12-30
CN1251275C (zh) 2006-04-12
KR20030038459A (ko) 2003-05-16
US20030090220A1 (en) 2003-05-15

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