JP3980262B2 - SiC質熱処理用治具 - Google Patents

SiC質熱処理用治具 Download PDF

Info

Publication number
JP3980262B2
JP3980262B2 JP2000332574A JP2000332574A JP3980262B2 JP 3980262 B2 JP3980262 B2 JP 3980262B2 JP 2000332574 A JP2000332574 A JP 2000332574A JP 2000332574 A JP2000332574 A JP 2000332574A JP 3980262 B2 JP3980262 B2 JP 3980262B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat treatment
jig
sic
treatment jig
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000332574A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002137929A (ja
Inventor
寿治 木下
繁 小倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
NGK Adrec Co Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
NGK Adrec Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd, NGK Adrec Co Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP2000332574A priority Critical patent/JP3980262B2/ja
Priority to CNB011365390A priority patent/CN1203026C/zh
Priority to TW090126057A priority patent/TW587995B/zh
Priority to KR10-2001-0065592A priority patent/KR100441823B1/ko
Priority to DE10153556A priority patent/DE10153556B4/de
Priority to US09/984,366 priority patent/US6649270B2/en
Publication of JP2002137929A publication Critical patent/JP2002137929A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3980262B2 publication Critical patent/JP3980262B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/28Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with organic material
    • C03C17/32Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with organic material with synthetic or natural resins
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B38/00Porous mortars, concrete, artificial stone or ceramic ware; Preparation thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/515Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics
    • C04B35/56Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on carbides or oxycarbides
    • C04B35/565Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on carbides or oxycarbides based on silicon carbide
    • C04B35/573Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on carbides or oxycarbides based on silicon carbide obtained by reaction sintering or recrystallisation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/622Forming processes; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/626Preparing or treating the powders individually or as batches ; preparing or treating macroscopic reinforcing agents for ceramic products, e.g. fibres; mechanical aspects section B
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2217/00Gas-filled discharge tubes
    • H01J2217/38Cold-cathode tubes
    • H01J2217/49Display panels, e.g. not making use of alternating current
    • H01J2217/492Details
    • H01J2217/49264Vessels
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/30Self-sustaining carbon mass or layer with impregnant or other layer

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Products (AREA)
  • Furnace Charging Or Discharging (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラズマディスプレイパネル用ガラス基板のように、表面に所定の機能を生じる膜が形成されたガラス質板を熱処理するに際して、当該ガラス質板を載置するために使用される熱処理用治具に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、壁掛けテレビやマルチメディア用ディスプレイとして利用できる大画面フラットパネルディスプレイ(以下、「FPD」という。)の実用化が着々と進行しつつある。このような大画面FPDとしては、自発光型で広い視野角を持ち、品質表示が良いという品質面のメリットと、作製プロセスが簡単で大型化が容易という製造面でのメリットを兼ね備えた、プラズマディスプレイパネル(以下、「PDP」という。)が有力候補の一つとして挙げられている。
【0003】
PDPの製造は、前面ガラス、背面ガラスと称する大型ガラス基板の表面に、印刷、乾燥、焼成の工程を複数回繰り返す厚膜法により、電極、誘導体、蛍光体等の所定の機能を生じる膜を逐次形成して行き、最終的に前面ガラスと背面ガラスとを封着することにより行われる。
【0004】
このPDP用ガラス基板のような表面に所定の機能を生じる膜が形成されたガラス質板は、製膜、ガラスの歪み除去、ガラス同士の封着などのために500〜900℃で熱処理が施されるが、その熱処理の際には、当該ガラス質板を載置して熱処理炉内で搬送するためのセッターと呼ばれる熱処理用治具が必要となる。従来、このような熱処理用治具として、一般的にはアルミナ質のものや結晶化ガラス質のものが使用されてきた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、アルミナ質の熱処理用治具は、その熱膨張係数が約8×10-6/℃と大きいため、熱処理時の加熱・冷却の繰り返しにより、経時的に治具自体に反りが生じて平坦度が失われ、その結果、被熱処理体であるガラス質板の反りやガラス質板の表面に形成された膜の欠陥が生じるという問題があった。この問題はガラス質板の大型化に伴いより大きな問題となっている。例えば前述のPDPは、従来のブラウン管等の表示媒体との差別化のために、42〜60インチ程度のより大きなサイズの製品が製品化されているので、このような治具自体の反りに起因する欠陥が生じやすい。
【0006】
また、結晶化ガラス質の熱処理用治具は、熱膨張係数は−0.4×10-6/℃と小さく、治具自体の反りは生じにくいが、前記のPDP用ガラス基板のようなFPDに用いられるガラス質板は、約8×10-6/℃という大きな熱膨張係数を有するため、両者の熱膨張差から熱処理中に摩擦が生じ、均熱化を十分に行わなければ、熱処理炉の進行方向に向かってガラス質板が台形状に変形してしまうという問題があった。更に、結晶化ガラス質の熱処理用治具は、熱伝導率が約1W/mKと小さいため、当該治具上に載置されたガラス質板に均一な熱処理を施すためには、昇温及び冷却の時間を十分にとる必要があり非効率であった。
【0007】
また、結晶化ガラス質の熱処理用治具は、見掛気孔率が極めてゼロに近く、前記のPDP用ガラス基板のようなFPDに用いられるガラス質板を載せた場合、ガラス質板が治具上を滑り位置が定まるのに時間がかかるとともに、熱処理後、ガラス質板を結晶化ガラス質の熱処理用治具から取り去る際には、吸着作用により作業が容易に行えず、これを解決するためには、熱処理用治具に例えば空気を流し込むための細かな孔を空けておく必要があった。この問題もガラス質板の大型化に伴いより大きな問題となっている。
【0008】
本発明は、このような従来の事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、42〜60インチ程度の大型化するガラス質板の熱処理にあたり、治具自体の経時的な反りや、熱処理中の摩擦によるガラス質板の変形を抑制できるような適切な熱膨張係数を有するとともに、ガラス質板の均一な熱処理を比較的短時間で効率よく行えるような優れた熱伝導性を有し、更にガラス質板の積載や取り外しの際の取り扱い性が改善された熱処理用治具を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、表面に所定の機能を生じる膜が形成されたガラス質板を熱処理する際に、当該ガラス質板を載置するために用いる熱処理用治具であって、SiCからなる相を50重量%以上含有し、熱伝導率が10W/mK以上、見掛気孔率が〜25%、熱膨張係数が3.8×10−6/℃〜5.5×10−6/℃であることを特徴とするSiC質熱処理用治具(第一の熱処理用治具)、が提供される。
【0010】
また、本発明によれば、表面に所定の機能を生じる膜が形成されたガラス質板を熱処理する際に、当該ガラス質板を載置するために用いる熱処理用治具であって、粒径が3.5mm以下のSiC粒子を50重量%以上含有し、熱伝導率が10W/mK以上、見掛気孔率が〜25%、熱膨張係数が3.8×10−6/℃〜5.5×10−6/℃であることを特徴とするSiC質熱処理用治具(第二の熱処理用治具)、が提供される。
【0013】
【発明の実施の形態】
本発明に係る前記第一〜第の熱処理用治具は、何れも熱膨張係数を5.5×10−6/℃以下に制御したことにより、熱処理時の加熱・冷却による経時的な治具自体の反りを抑制できる。また。熱膨張係数を3.8×10−6/℃以上に制御したことにより、従来の結晶化ガラス質の治具に比べて、FPDに用いられるガラス質板との熱膨張差が小さくなり、このため当該ガラス質板と治具との熱膨張差に起因する熱処理中の摩擦で、ガラス質板が台形状に変形するのを抑制することができる。更に、熱伝導率を10W/mK以上としたことにより、治具自体が均一に加熱されやすくなるため、ガラス質板に均一な熱処理を施すための昇温時間及び冷却時間が短縮でき、生産効率が向上する。
【0014】
また、第一及び第二の熱処理用治具について掛気孔率を3〜25%にそれぞれ制御したことにより、前記の作用効果に加えて、ガラス質板を積載した際の空気を気孔から速やかに排出し位置を素早く決められるとともに、ガラス質板を取り外す際には気孔から空気を供給できるため取り外しが容易となるという作用効果が得られる。更にまた、第一及び第二の熱処理用治具については見掛気孔率を3〜25%に制御したことにより、切削時での砥石の法線方向の切削抵抗が減少し、結果的に加工時間を短縮できるため、生産性を向上することができる。
【0015】
第一及び第の熱処理用治具は、SiCからなる相を50重量%以上含有するものであり、このようにSiCを主要構成成分とすることにより、前述のようなガラス質板の熱処理に好適な熱膨張係数と熱伝導率とを有する治具が得られる。SiCからなる相は、網の目のように構成された連続な多孔質構造で、SiC粒子自体の再結晶反応により自己結合した状態となっていてもよいし、CとSiとの反応により構成されたものでもよい。
【0016】
なお、SiC以外の構成成分としては、副相として金属Siを含有することが好ましい。副相として金属Siを含有することにより、気孔を金属Siで埋めることができ、熱伝導率を改善することができる。また、気孔への金属Siの充填量を制御することにより、見掛気孔率を所定の値に制御することができる。
【0017】
の熱処理用治具は、粒径が3.5mm以下のSiC粒子を50重量%以上含有するものでありSiCを主要構成成分とすることにより、ガラス質板の熱処理に好適な熱膨張係数と熱伝導率とを有する治具が得られる。また、粒径が3.5mm以下のSiC粒子を使用したことにより、焼結体の強度を維持し、4〜7mmが標準的である薄肉の熱処理用治具の製造が可能である。
【0018】
前記SiC粒子は、酸化物や窒化物や酸窒化物、あるいは金属Siからなる副相によってSiC粒子間が結合された状態となっていてもよい。例えば、副相としてSiO2質を含有したものや、Si34質及びSi2ON2質を含有したものは、製造時において、前記第一又は第三の熱処理用治具のようなSiC粒子自体の再結晶反応により自己結合した状態にさせたもの、又はCと金属Siの反応により構成させたものと比較して、低温度でSiC粒子同士の結合を生じさせることができ、製造コストや歩留りの点で有利である。
【0019】
また、前記第の熱処理用治具に、副相としてSiO2質や、Si質及びSiON質を含有させ、そのSiO質相の存在量や、Si質相及びSiON質相の存在量を制御する事により設計値まで気孔を副相で埋めることができ、見掛気孔率の制御を行うことができる。
【0020】
SiC粒子同士が再結晶反応により自己結合した熱処理用治具は、例えばSiC粉末を所定の治具形状に成形し、得られた成形体を、Ar等の不活性雰囲気中において2000〜2400℃の高温で焼成することにより製造することができる。すなわち、このような高温で焼成を行うと、SiC粒子表面からSiC成分が蒸発し、これが粒子間の接触部(ネック部)にて再結晶化することで、ネック部が成長し結合状態が得られる。
【0021】
副相としてSiO2質を含有した熱処理用治具は、例えばSiC粉末に粘土等のSiO2源と、必要に応じて添加剤を添加し混合して得た成形原料を、所定の治具形状に成形し、得られた成形体を、大気中において1300〜1500℃で焼成することにより製造することができる。
【0022】
また、副相としてSi34質及びSi2ON2質を含有した熱処理用治具は、例えばSiC粉末にSiと、必要に応じて各種助剤を添加し混合して得た成形原料を、所定の治具形状に成形し、得られた成形体を、N2雰囲気中において1300〜1500℃で焼成することにより製造することができる。すなわち、成形体中のSiは、その大部分が窒化されてSi34を生成するとともに、一部は成形体に含まれるO2によってSi2ON2となり、これらにより骨材となるSiC粒子が結合される。
【0023】
副相として金属Siを含有した熱処理用治具は、例えばSiC粉末を所定の治具形状に成形し、得られた成形体を、金属Siが存在する減圧の不活性ガス雰囲気又は真空中において、1450〜1800℃で金属Siを含浸させながら焼成することにより製造することができる。焼成中に溶融して成形体中に含浸された金属Siは、気孔中に充填されて骨材となるSiC粒子を結合するとともに、成形体を緻密化する。また、充填量の制御により見掛気孔率を制御することができる。
【0024】
また、副相として金属Siを含有した熱処理用治具の他の製造方法として、予めSiC粒子を再結晶反応により自己結合したものを、金属Siが存在する減圧の不活性ガス雰囲気又は真空中において焼成することにより、前記のような再結晶SiCの気孔中に金属Siを充填する方法も挙げられる。
【0025】
【実施例】
以下、本発明を実施例に基づいて更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
【0026】
(実施例1)
平均粒径100μmのSiC粒子50重量%と平均粒径1μmのSiC粒子50重量%とを混合した粉末に、ポリカルボン酸系分散剤、アクリル系エマルジョン及びイオン交換水を添加して所定の治具形状に成形した成形体を、40℃の乾燥機中で1晩乾燥した後、Ar雰囲気で2200℃で1時間焼成して実施例1の熱処理用治具を得た。
【0027】
(実施例2及び実施例3
前記実施例1の熱処理用治具を、金属Siが存在する絶対圧力50mBarの真空雰囲気において、1500℃で1時間加熱して気孔に金属Siを含浸させ、それぞれ表1に示すように見掛気孔率を制御した実施例2及び実施例3の熱処理用治具を得た。
【0028】
(実施例
粒径5〜20mmのSiCの塊を粉砕し、最大粒径を3.5mm以下に篩い分けしたSiC粒子45重量%と、平均粒径10μmのSiC粒子45重量%と、蛙目粘土10重量%とを混合した粉末に、メチルキシセルロースとイオン交換水を添加して所定の治具形状に成形した成形体を、40℃の乾燥機中で1晩乾燥した後、大気雰囲気で1400℃で1時間焼成して実施例の熱処理用治具を得た。
【0029】
(実施例
粒径5〜20mmのSiCの塊を粉砕し、最大粒径を3.5mm以下に篩い分けしたSiC粒子40重量%と、平均粒径10μmのSiC粒子40重量%と、蛙目粘土10重量%と、金属Si10重量%とを混合した粉末に、メチルキシセルロースとイオン交換水を添加して所定の治具形状に成形した成形体を、40℃の乾燥機中で1晩乾燥した後、N雰囲気で1400℃で1時間焼成して実施例の熱処理用治具を得た。
【0031】
(実施例
粒径5〜20mmのSiCの塊を粉砕し、最大粒径を3.5mm以下に篩い分けしたSiC粒子25重量%と、平均粒径10μmのSiC粒子25重量%と、蛙目粘土20重量%と、平均粒径10μmのアルミナ粉末30重量%とを混合した粉末に、メチルキシセルロースとイオン交換水を添加して所定の治具形状に成形した成形体を、40℃の乾燥機中で1晩乾燥した後大気雰囲気で1400℃で1時間焼成して実施例の熱処理用治具を得た。
【0032】
(実施例
粒径5〜20mmのSiCの塊を粉砕し、最大粒径を3.5mm以下に篩い分けしたSiC粒子25重量%と、平均粒径10μmのSiC粒子25重量%と、金属Si50重量%とを混合した粉末に、メチルキシセルロースとイオン交換水を添加して所定の治具形状に成形した成形体を、40℃の乾燥機中で1晩乾燥した後、N雰囲気で1400℃で1時間焼成して実施例の熱処理用治具を得た。
【0034】
(熱処理用治具の特性)
前記実施例1〜の各熱処理用治具の特性を測定した結果を表1に示す。また、比較例として、従来使用されているアルミナ質材料の熱処理用治具(比較例1)と、結晶化質材料の熱処理用治具(比較例2)の特性を測定した結果についても同表に示す。
【0035】
【表1】
Figure 0003980262
【0036】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の熱処理用治具は、治具自体の経時的な反りや、熱処理中の摩擦によるガラス質板の変形を抑制できるような適切な熱膨張係数を有する。また、熱伝導に優れ、ガラス質板の均一な熱処理を比較的短時間で効率よく行うことができる。更に、見掛気孔率を所定の値に制御することにより、治具に孔を空けなくても、治具上でのガラス質板の位置決めや、治具からのガラス質板の取り外しを容易に行うことができる。

Claims (6)

  1. 表面に所定の機能を生じる膜が形成されたガラス質板を熱処理する際に、当該ガラス質板を載置するために用いる熱処理用治具であって、
    SiCからなる相を50重量%以上含有し、熱伝導率が10W/mK以上、見掛気孔率が3〜25%、熱膨張係数が3.8×10−6/℃〜5.5×10−6/℃であることを特徴とするSiC質熱処理用治具。
  2. 副相として金属Siを含有する請求項記載のSiC質熱処理用治具。
  3. 表面に所定の機能を生じる膜が形成されたガラス質板を熱処理する際に、当該ガラス質板を載置するために用いる熱処理用治具であって、
    粒径が3.5mm以下のSiC粒子を50重量%以上含有し、熱伝導率が10W/mK以上、見掛気孔率が3〜25%、熱膨張係数が3.8×10−6/℃〜5.5×10−6/℃であることを特徴とするSiC質熱処理用治具。
  4. 副相としてSiO質を含有する請求項記載のSiC質熱処理用治具。
  5. 副相としてSi質及びSiON質を含有する請求項記載のSiC質熱処理用治具。
  6. 副相として金属Siを含有する請求項記載のSiC質熱処理用治具。
JP2000332574A 2000-10-31 2000-10-31 SiC質熱処理用治具 Expired - Fee Related JP3980262B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000332574A JP3980262B2 (ja) 2000-10-31 2000-10-31 SiC質熱処理用治具
CNB011365390A CN1203026C (zh) 2000-10-31 2001-10-16 碳化硅材质热处理用工具
TW090126057A TW587995B (en) 2000-10-31 2001-10-22 SiC jig for use in heat treatment
KR10-2001-0065592A KR100441823B1 (ko) 2000-10-31 2001-10-24 SiC질 열처리용 지그
DE10153556A DE10153556B4 (de) 2000-10-31 2001-10-30 Verwendung einer SiC-Vorrichtung als Wärmebehandlungshaltevorrichtung
US09/984,366 US6649270B2 (en) 2000-10-31 2001-10-30 SiC jig for use in heat treatment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000332574A JP3980262B2 (ja) 2000-10-31 2000-10-31 SiC質熱処理用治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002137929A JP2002137929A (ja) 2002-05-14
JP3980262B2 true JP3980262B2 (ja) 2007-09-26

Family

ID=18808765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000332574A Expired - Fee Related JP3980262B2 (ja) 2000-10-31 2000-10-31 SiC質熱処理用治具

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6649270B2 (ja)
JP (1) JP3980262B2 (ja)
KR (1) KR100441823B1 (ja)
CN (1) CN1203026C (ja)
DE (1) DE10153556B4 (ja)
TW (1) TW587995B (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2872072B1 (fr) * 2004-06-24 2006-09-29 Snecma Propulsion Solide Sa Procede de brasage de pieces en materiau composite thermostructural siliciure
US7446066B1 (en) * 2005-11-07 2008-11-04 Jai-Lin Sun Reverse reaction sintering of Si3N4/SiC composites
JP4327190B2 (ja) * 2006-10-11 2009-09-09 日本碍子株式会社 Si−SiC質焼結体及びその製造方法
FR2917405B1 (fr) * 2007-06-18 2010-12-10 Vibro Meter France Procede de preparation d'une ceramique frittee, ceramique ainsi obtenue et bougie d'allumage la comportant
CN116041068B (zh) * 2023-03-07 2023-12-08 宜兴金君耐火炉料有限公司 一种低氧铜杆冶炼熔炉用的抗氧化氧氮化硅结合碳化硅砖

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE635375A (ja) * 1962-07-24
DE3116801C2 (de) * 1981-04-28 1985-01-24 Rosenthal Technik Ag, 8672 Selb Ventilscheibe
JP2535480B2 (ja) 1992-06-25 1996-09-18 日本碍子株式会社 耐クリ―プ性Si−SiC質焼結体
JP3437194B2 (ja) 1992-09-07 2003-08-18 日本碍子株式会社 耐酸化性Si−SiC質焼結体
JPH0867581A (ja) * 1994-08-30 1996-03-12 Sumitomo Metal Ind Ltd 半導体用治工具及びその製造方法
JP4355375B2 (ja) * 1997-06-18 2009-10-28 日本碍子株式会社 高電気抵抗及び高熱伝導再結晶SiC焼結体及びその製造方法
JP4390872B2 (ja) * 1997-06-20 2009-12-24 株式会社ブリヂストン 半導体製造装置用部材および半導体製造装置用部材の製造方法
US6210786B1 (en) * 1998-10-14 2001-04-03 Northrop Grumman Corporation Ceramic composite materials having tailored physical properties
JP3468358B2 (ja) * 1998-11-12 2003-11-17 電気化学工業株式会社 炭化珪素質複合体及びその製造方法とそれを用いた放熱部品
JP4647053B2 (ja) * 1999-02-09 2011-03-09 日本碍子株式会社 SiC−C/Cコンポジット複合材料、その用途、およびその製造方法
JP3496816B2 (ja) * 1999-06-25 2004-02-16 電気化学工業株式会社 金属−セラミックス複合体とそれを用いた放熱部品

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002137929A (ja) 2002-05-14
US6649270B2 (en) 2003-11-18
DE10153556B4 (de) 2008-10-09
US20020076560A1 (en) 2002-06-20
DE10153556A1 (de) 2002-07-18
KR20020033525A (ko) 2002-05-07
TW587995B (en) 2004-05-21
CN1350997A (zh) 2002-05-29
CN1203026C (zh) 2005-05-25
KR100441823B1 (ko) 2004-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000058631A5 (ja)
JP4987238B2 (ja) 窒化アルミニウム焼結体、半導体製造用部材及び窒化アルミニウム焼結体の製造方法
CN112219273B (zh) 静电吸盘及其制造方法
TWI773497B (zh) 複合燒結體、半導體製造裝置構件及複合燒結體的製造方法
JP2001351966A (ja) サセプタ及びサセプタの製造方法
KR102124766B1 (ko) 플라즈마 처리 장치 및 그 제조방법
CN112912356B (zh) 氮化硅基板的制造方法以及氮化硅基板
JP3980262B2 (ja) SiC質熱処理用治具
JP2004521052A (ja) 高純度・低比抵抗の静電チャック
KR102234171B1 (ko) 저저항 실리콘카바이드계 복합체의 제조방법
JP4382919B2 (ja) シリコン含浸炭化珪素セラミックス部材の製造方法
JP2025028348A (ja) 複合焼結体および複合焼結体の製造方法
JP4593062B2 (ja) 窒化アルミニウム焼結体及びその製造方法
JP3716386B2 (ja) 耐プラズマ性アルミナセラミックスおよびその製造方法
JP4049545B2 (ja) SiC質熱処理用治具
JP4268450B2 (ja) ディスプレー用大型ガラス基板吸着装置
JP4060822B2 (ja) セラミックス複合材
US20240290583A1 (en) Electrostatic chuck, electrostatic chuck heater comprising same, and semiconductor holding device
KR102744090B1 (ko) 플라즈마 에칭용 전극 및 그 제조방법
JP2001233676A (ja) プラズマ耐食部材及びその製造方法
JP4823486B2 (ja) 耐ペスト性に優れたMoSi2を主成分とするヒーター及びその製造方法
WO2019092894A1 (ja) 焼成用セッターおよびその製造方法
RU2278438C1 (ru) Способ изготовления импрегнированного катода
JP3298283B2 (ja) 窒化アルミニウム基板の焼成方法
JP2004251484A (ja) ローラーハース炉、その搬送用ローラー、及び搬送用ローラーの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040713

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070313

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070511

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070626

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070627

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100706

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100706

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110706

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees