JP3977767B2 - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3977767B2
JP3977767B2 JP2003106532A JP2003106532A JP3977767B2 JP 3977767 B2 JP3977767 B2 JP 3977767B2 JP 2003106532 A JP2003106532 A JP 2003106532A JP 2003106532 A JP2003106532 A JP 2003106532A JP 3977767 B2 JP3977767 B2 JP 3977767B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pole
upper lid
cylindrical member
substrate processing
processing apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003106532A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004311887A (ja
Inventor
利治 田中
逸史 飯尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP2003106532A priority Critical patent/JP3977767B2/ja
Priority to KR10-2004-0021091A priority patent/KR100535690B1/ko
Priority to US10/820,732 priority patent/US7361905B2/en
Publication of JP2004311887A publication Critical patent/JP2004311887A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3977767B2 publication Critical patent/JP3977767B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67126Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67751Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a single workpiece
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67757Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a batch of workpieces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67772Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving removal of lid, door, cover

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体ウェハなどの基板の処理を行うためのチャンバを備えた基板処理装置及びそのメンテナンス方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子ビームを利用した露光装置は、真空チャンバを備えている。真空チャンバは、容器本体とこの容器本体の上部開口を覆う上蓋とを有している。上蓋には電子線を照射する照射部が設けられており、容器本体内にはマスクや基板の位置決めを行うためのアライメント機構が設けられている(例えば、非特許文献1を参照)。
【0003】
このような露光装置において、大規模なメンテナンスは、ジブクレーンや門型クレーンのようなメンテナンス治具を使い、上蓋を吊り上げると共に側方に引き出して、容器本体の上部開口を完全に開放した状態で行っていた。
【0004】
【非特許文献1】
野末寛、外4名、「次世代電子線露光装置の開発」、2002年、応用物理、第71巻、第4号、p.421−424
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記したようなメンテナンス治具を利用したメンテナンスでは、大きなメンテナンススペースを要し、また、このようなメンテナンス治具の保管にも相応のスペースが必要であるため、所有コスト(COO : Cost of Ownership)が高くなるという問題があった。また、メンテナンスの際にこれらの治具の設置に相当の時間を要することから、処理停止の期間(ダウンタイム)が長くなって、処理効率の低下を招くという問題もあった。
【0006】
本発明は、上記した課題を解決するために為されたものであり、所有コストの低減と基板処理効率の向上を図ることが可能な基板処理装置及びそのメンテナンス方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る基板処理装置は、容器本体と容器本体の上部開口を塞ぐ上蓋とを有するチャンバを備えた基板処理装置であって、上蓋を昇降させる昇降装置を、チャンバの上部にチャンバと一体に設けたことを特徴とする。
【0008】
この基板処理装置では、上蓋を昇降させる昇降装置がチャンバの上部に設けられているため、従来よりもメンテナンススペースが小さくなると共に、昇降装置を保管するためのスペースも不要となって、所有コストの低減が図られる。また、昇降装置はチャンバと一体に設けられているため、メンテナンスに際して従来必要であった治具の設置のための時間が不要になり、処理停止の期間(ダウンタイム)が短くなって、基板処理効率の向上が図られる。
【0009】
本発明に係る基板処理装置では、昇降装置は、容器本体の上部に立設されており、鉛直方向に沿って延びる第1のポールと、上蓋に設けられており、所定の回転力を出力する駆動源と、駆動源から出力される回転力を、第1のポールに沿って上蓋を昇降させるための鉛直方向の力に変換する動力変換機構と、を有することを特徴としてもよい。このようにすれば、駆動源から出力された回転力が、動力変換機構により鉛直方向の力に変換されることで、第1のポールに沿って上蓋が昇降される。
【0010】
本発明に係る基板処理装置では、動力変換機構は、第1のポールに挿通されると共に、第1のポールの周りで回転可能に上蓋に保持された第1の筒状部材と、第1の筒状部材の内面に設けられた第1ネジ部と、第1のポールの表面に設けられており、第1ネジ部と噛合する第2ネジ部と、を含むことを特徴としてもよい。このようにすれば、第1の筒状部材が第1のポールの周りで回転されることで、第1ネジ部と第2ネジ部との噛合関係により、第1の筒状部材が第1のポールに沿って昇降し、これにより第1の筒状部材を保持する上蓋が昇降される。
【0011】
本発明に係る基板処理装置では、昇降装置は、容器本体の上部に立設されており、鉛直方向に沿って延びる第2のポールと、第2のポールに挿通されると共に、第2のポールの周りで回転可能に上蓋に保持された第2の筒状部材と、第2の筒状部材の内面に設けられた第3ネジ部と、第2のポールの表面に設けられており、第3ネジ部と噛合する第4ネジ部と、第1の筒状部材と第2の筒状部材との間に設けられており、第2の筒状部材を第1の筒状部材と同期して回転させる動力伝達機構と、を有することを特徴としてもよい。このようにすれば、駆動源からの回転力により第1の筒状部材が回転され、その回転が動力伝達機構を介して第2の筒状部材に伝達されて、第1の筒状部材と第2の筒状部材とが同期して回転する。従って、第1筒状部材は第1ネジ部と第2ネジ部との噛合関係により、また第2の筒状部材は第3ネジ部と第4ネジ部との噛合関係により、それぞれ第1及び第2のポールに沿って鉛直方向に同じペースで昇降する。その結果、上蓋が安定した状態で昇降される。
【0012】
本発明に係る基板処理装置は、第1のポールの表面を被覆するように、第1のポールに着脱可能に取り付けられる筒状のカバーを備えることを特徴としてもよい。このようにすれば、第1のポールのグリース塗布された表面を保護できる。また、上蓋上昇後に第1のポールの下部、即ち上蓋より下の部分をカバーで被覆することにより、カバーが支え部材として機能して、上蓋の落下防止を図ることができる。
【0013】
本発明に係る基板処理装置では、チャンバは、基板を位置決め保持するための基板保持部と、基板上に電子ビームを照射するための電子ビーム照射部と、を有することを特徴としてもよい。本発明は、このような電子ビームを利用した描画装置や転写装置に好適である。
【0014】
本発明に係る基板処理装置のメンテナンス方法は、容器本体と容器本体の上部開口を塞ぐ上蓋とを有するチャンバを備えた基板処理装置のメンテナンス方法であって、鉛直方向に沿って上蓋を上昇させ、容器本体の上方に所定距離だけ離れた位置で上蓋を保持した状態で、容器本体内のメンテナンスを行うことを特徴とする。
【0015】
この方法では、上蓋を上昇させ、容器本体の上方に所定距離だけ離れた位置で保持した状態で、容器本体内のメンテナンスを行っているため、チャンバの上部空間を有効利用することでメンテナンススペースが小さくなり、所有コストの低減が図られる。また、容器本体の上方で上蓋を昇降させるだけでメンテナンスが開始され終了されるため、処理停止の期間(ダウンタイム)が短くなって、基板処理効率の向上が図られる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【0017】
図1は、本実施形態に係る基板処理装置としての電子ビーム露光装置(以下、単に「露光装置」ともいう)の構成を示す斜視図である。図1に示すように、露光装置10は、真空チャンバ12と昇降装置14とを備えている。
【0018】
真空チャンバ12は、上端が開口した容器本体16と、この容器本体16の上部開口を塞ぐ上蓋18とを有している。
【0019】
上蓋18は、平断面が矩形状をなし、中央に電子ビームを照射するための電子ビーム照射部20が設けられている。電子ビーム照射部20は、図2に示すように、上壁部と側壁部とを含む電子鏡筒22と、電子鏡筒22内で上壁部に設けられた電子銃24と、電子銃24から出射された電子ビームをコリメートするレンズ26と、偏光器28とを有している。これら電子銃24、レンズ26、及び偏光器28は、鉛直下方に向かってこの順に配置されており、電子銃24から出射された電子ビームは、レンズ26によりコリメートされ、偏光器28により走査されて半導体ウェハW上に照射される。
【0020】
容器本体16は、図1及び図2に示すように、平断面が矩形状をなす底壁部16aとこの底壁部16aの縁部に立設された2組の側壁部16bとを有する。この容器本体16内には、露光処理を行うための半導体ウェハWを保持するウェハステージ(基板保持部)30が収容されている。ウェハステージ30は、半導体ウェハWの位置決めを行う位置決めステージ32と、この位置決めステージ32上に搭載され半導体ウェハWを吸着して保持する静電チャック34とを有している。位置決めステージ32は、水平面内で直交する2軸方向(XY方向)の粗い位置決めを行う粗動ステージと、この粗動ステージに搭載されておりXY方向、XY方向と直交する鉛直方向(Z方向)、水平面内における回転方向(θ方向)、及び傾きを微細に調整する微動ステージとを含んでいる。そして、静電チャック34はこの微動ステージに搭載されている。従って、半導体ウェハWは静電チャック34により吸着された状態で、位置決めステージ32により位置決めがなされる。
【0021】
また容器本体16内には、図2に示すように、所望パターンが形成されたマスクMを位置決め保持するためのマスクステージ36が収容されている。マスクステージ36は、水平面内における回転方向(θ方向)、鉛直方向(Z方向)、及び傾きの細かい位置決めを行う。このマスクステージ36は、真空チャンバ12内に固定された基準ベース35上に搭載されている。
【0022】
また容器本体16内には、マスクM上及び半導体ウェハW上に光を照射し、図示しないアライメントマークによって散乱された光を検出する白色光顕微鏡などの光検出器37が設けられている。この光検出器37は、基準ベース35上に搭載されている。この光検出器37により検出されたデータは、図示しない画像処理装置に送られて処理され、アライメントマークの重なり具合からマスクMと半導体ウェハWとの位置関係が求められる。そして、マスクMと半導体ウェハWとに位置ズレがあるときには、マスクM及び/又は半導体ウェハWの位置を修正する信号が生成され、この信号に基づいてマスクM及び/又は半導体ウェハWの位置が微修正される。このようにして、マスクMと半導体ウェハWとの精密な位置決めがなされる。なお本実施形態では、マスクMは半導体ウェハWに近接(マスクMと半導体ウェハWとの間隙が50μm程度)して配置される。
【0023】
この真空チャンバ12は、図示しない真空ポンプにより内部空間が減圧される。この減圧環境下において、電子ビーム照射部20から出射された電子ビームによりマスクMの全面を走査することで、所望パターンが半導体ウェハW上のレジストに等倍で転写される。
【0024】
この真空チャンバ12は、図1及び図2に示すように、底壁部16aの下方に設けられた除震台38上に搭載されている。また、真空チャンバ12の右側壁部には、図3に示すように、開閉可能な扉40が設けられている。従って、この扉40を開き、ウェハステージ30を水平方向にスライドさせて引き出すことで、ウェハステージ30のメンテナンスを行うことが可能となっている。
【0025】
昇降装置14は、真空チャンバ12の上部に真空チャンバ12と一体に設けられている。ここで、図4は、上蓋18を取り外した状態の真空チャンバ12の構成を示す斜視図である。図4に示すように、昇降装置14は、鉛直方向に沿って延びる4本のガイドポスト42を有している。これらのガイドポスト42は、図4に示すように、容器本体16の前壁部上縁と後壁部上縁とにそれぞれ一対設けられたフランジ部44上に立設されている。なお、これらガイドポスト42の上端の間には連結リブ46が横架されており、ガイドポスト42の剛性が高められている。
【0026】
また昇降装置14は、後述するモータ(駆動源)48から供給される回転力を、ガイドポスト42に沿って上蓋18を昇降させるための鉛直方向の力に変換する4つの動力変換機構50を有している。これら動力変換機構50は、図1及び図5に示すように、容器本体16上でガイドポスト42が立設されている位置と対応するように、上蓋18の四隅とガイドポスト42とに設けられている。
【0027】
また昇降装置14は、所定の回転力を出力するモータ48を有している。このモータ48は、一の動力変換機構50が設けられた部位に上蓋18と一体に設けられている。
【0028】
図6は、モータ48とこのモータ48が設けられた部位の動力変換機構50の構成を詳細に説明するための一部断面図である。モータ48は、出力軸52が鉛直方向と直交するように配置される。動力変換機構50は、筒状部材(第1の筒状部材)54を有している。筒状部材54は、回転筒56とこの回転筒56の外周面に一体回転可能に設けられたスリーブ58とを含んでいる。この筒状部材54は、ガイドポスト(第1のポール)42に挿通されると共に、ガイドポスト42の周りで回転可能に上蓋18に保持されている。筒状部材54の回転筒56の内面には、ネジ部(第1ネジ部)57が設けられている。一方、ガイドポスト42の表面には、回転筒56のネジ部57と噛合するネジ部(第2ネジ部)60が設けられている。従って、筒状部材54がガイドポスト42の回りを回転することで、ネジ部57とネジ部60との噛合関係により、筒状部材54はガイドポスト42に沿って昇降可能となる。そして、筒状部材54のスリーブ58と上蓋18との間にはベアリング62が設けられており、筒状部材54はベアリング62を介してガイドポスト42の周りで回転可能な状態で、上蓋18に保持されている。
【0029】
筒状部材54のスリーブ58の外周面には、傘歯車64が固着されている。そして、モータ48の出力軸52には、スリーブ58に設けられた傘歯車64と噛合する傘歯車66が設けられている。従って、モータ48の出力軸52が図6の矢印A方向に回転することで、出力軸52の回転運動が、筒状部材54のガイドポスト42を中心とした図6の矢印B方向の回転運動に変換される。そして、筒状部材54がガイドポスト42の周りを回転することで、ネジ部57とネジ部60との噛合関係により、筒状部材54はガイドポスト42に沿って上昇する。このとき、筒状部材54はベアリング62を介して上蓋18に保持されているため、筒状部材54がガイドポスト42に沿って上昇することで、上蓋18がガイドポスト42に沿って上昇される。
【0030】
図7は、モータ48が設けられていない部位の動力変換機構50の構成を詳細に説明するための一部断面図である。この動力変換機構50は、筒状部材(第2の筒状部材)68を有している。筒状部材68は、回転筒70とこの回転筒70の外周面に一体回転可能に設けられたスリーブ72とを含んでいる。この筒状部材68は、ガイドポスト(第2のポール)42に挿通されると共に、ガイドポスト42の周りで回転可能に上蓋18に保持されている。筒状部材68の回転筒70の内面には、ネジ部(第3ネジ部)73が設けられている。一方、ガイドポスト42の表面には、回転筒70のネジ部73と噛合するネジ部(第4ネジ部)74が設けられている。従って、筒状部材68がガイドポスト42の回りを回転することで、ネジ部73とネジ部74との噛合関係により、筒状部材68はガイドポスト42に沿って昇降可能となる。そして、筒状部材68のスリーブ72と上蓋18との間にはベアリング76が設けられており、筒状部材68はベアリング76を介してガイドポスト42の周りで回転可能な状態で、上蓋18に保持されている。
【0031】
ここで、モータ48が設けられた部位における動力変換機構50の筒状部材54と、モータ48が設けられていない部位における動力変換機構50の筒状部材68との間には、図6及び図7に示すように、モータ48の回転力を伝達するための動力伝達機構78が設けられている。この動力伝達機構78は、各筒状部材54,68のスリーブ58,72の上部外周面上に一体回転可能に設けられたプーリ80と、これらプーリ80の間に横架されたタイミングベルト82とを含んでいる。タイミングベルト82は、内面に所定間隔で設けられた複数の突起82aを有しており、この突起82aがプーリ80と係合している。従って、モータ48が駆動されてモータ48が設けられている部位の筒状部材54が回転すると、この回転がタイミングベルト82を介してモータ48が設けられていない部位における筒状部材68に伝達され、これら筒状部材54,68が同期して回転してガイドポスト42に沿って昇降する。これにより、上蓋18がガイドポスト42に沿って安定した状態で昇降されるようになっている。
【0032】
また本実施形態に係る露光装置10は、図1に示すように、ガイドポスト42の表面を被覆する筒状のカバー90を備えている。このカバー90は、図8及び図9に示すように、ガイドポスト42の長さと略同一の長さを有する筒状の部材であり、長手方向に沿って分割された二つのパーツ90a,90bから構成されている。これら二つのパーツ90a,90bは、蝶番92により開閉可能に連結されており、開閉される面にはロックのための鍵部94が設けられている。なお、これら二つのパーツ90a,90bの側面には、カバー90の開閉を容易にするための把持部96が設けられている。このカバー90は、図1に示すように、上蓋18が最下限に位置して真空チャンバ12が閉塞されている状態で、それぞれのガイドポスト42に着脱可能に取り付けられる。これにより、ガイドポスト42表面に塗布されたグリースが、メンテナンス作業中に人体へ付着するのを防止することができる。
【0033】
一般的に、ガイドポスト42のネジ部60,74に塗布されたグリースの保護、あるいはグリースが他へ(例えば人体)付着するのを防止するため、ジャバラ等の伸縮式カバーが用いられるが、これには縮時のカバー納り代が可動ストロークの1/3〜1/2近く必要とされ、スペース上の問題があった。これに対し、本実施形態においては、カバーの納り代を全く必要としないため、上蓋18の昇降ストロークを大きく取ることができる。
【0034】
次に、上記した構成を有する露光装置10及びそのメンテナンス方法の作用及び効果について説明する。
【0035】
露光処理時には、図10に示すように、真空チャンバ12の上蓋18は最下限に位置して、容器本体16の上部開口を閉塞している。そして、4本のガイドポスト42それぞれの表面は、カバー90により被覆され保護されている。この状態で、図2に示すように、容器本体16内に半導体ウェハWが供給され、静電チャック34上に吸着されて、位置決めステージ32により位置決めがなされる。また、容器本体16内にマスクMが供給され、マスクステージ36により位置決めされる。これにより、マスクMと半導体ウェハWが近接した状態で位置決めされる。
【0036】
そして、電子ビーム照射部20の電子銃24から出射された電子ビームは、レンズ26によりコリメートされ、偏光器28により走査されてマスクM全面が走査される。これにより、所望のマスクパターンが半導体ウェハW上のレジストに等倍で転写される。
【0037】
上記工程を繰り返し、所定回数の露光処理が行われるが、定期的或いは突発的なトラブル時に、真空チャンバ12内のメンテナンスを行う。このとき、図11に示すように、真空チャンバ12の上蓋18を上昇させ、容器本体16の上部開口を開放してメンテナンスを行う。また、図3に示すように、真空チャンバ12の右側壁部に設けられた扉40を開き、ウェハステージ30を引き出してメンテナンスを行う場合もある。
【0038】
上蓋18を上昇させる際には、まず、4つのガイドポスト42の表面を覆うカバー90を取り外す。次に、図6に示すように、モータ48を駆動させて出力軸52を矢印A方向に回転させる。すると、出力軸52の回転運動が、傘歯車66,64を介して筒状部材54のガイドポスト42を中心とした矢印B方向の回転運動に変換される。そして、筒状部材54がガイドポスト42の周りを回転することで、ネジ部57とネジ部60との噛合関係により、筒状部材54はガイドポスト42に沿って上昇する。筒状部材54はベアリング62を介して上蓋18に保持されているため、筒状部材54がガイドポスト42に沿って上昇することで、上蓋18がガイドポスト42に沿って上昇される。
【0039】
また、モータ48が設けられた部位における筒状部材54の回転は、図6及び図7に示すように、タイミングベルト82及びプーリ80を介して、モータ48が設けられていない部位における筒状部材68に伝達される。すなわち、モータ48が設けられた部位における筒状部材54が図6の矢印B方向に回転することで、タイミングベルト82が図6及び図7の矢印C方向に回転する。これにより、図7に示すように、モータ48が設けられていない部位における筒状部材68が、ガイドポストの回りを矢印D方向に回転することで、ネジ部73とネジ部74との噛合関係により、筒状部材68はガイドポスト42に沿って上昇する。筒状部材68はベアリング76を介して上蓋18に保持されているため、筒状部材68がガイドポスト42に沿って上昇することで、上蓋18がガイドポスト42に沿って上昇される。このとき、モータ48が設けられた部位における筒状部材54の回転と、モータ48が設けられていない部位における筒状部材68の回転とは、タイミングベルト82及びプーリ80を介して同期されているため、すべての筒状部材54,68は同じペースで上昇することになる。従って、上蓋18は上昇時に傾くことなく、安定した状態で上昇する。
【0040】
図11に示すように、上蓋18がガイドポスト42の上端に達したとき、モータ48を停止させる。上蓋18の最上限の位置は、最下限の位置よりも1m弱の高さになるよう調節すると好ましい。そして、取り外したカバー90をガイドポスト42それぞれに再度取り付ける。これにより、上蓋18が最上限に位置するときは、カバー90が支え部材として機能して、上蓋18の不意の落下を防止することができる。このようにカバー90に支え部材としての機能を付与する場合は、カバー90の強度を高くする必要があることから、カバー90はステンレス、鋼板等の材料から形成すると好ましい。このように、上蓋18が最上限に位置した状態で、容器本体16内部のマスクステージ36や光検出器37を含むアライメントステージ、及び電子ビーム照射部20などのメンテナンスを行う。
【0041】
メンテナンスが終了すると、ガイドポスト42からカバー90を取り外し、上蓋18の上昇時とは逆方向にモータ48を回転させ、上蓋18を下降させる。そして、上蓋18が最下限位置まで下降したときに、モータ48を停止させる。そして、ガイドポスト42にカバー90を取り付ける。
【0042】
以上説明したように、本実施形態に係る露光装置10では、上蓋18を昇降させる昇降装置14が真空チャンバ12の上部に設けられているため、従来よりもメンテナンススペースが小さくなると共に、昇降装置14を保管するためのスペースも不要となって、設置面の有効利用を図ることが可能となって所有コストの低減を図ることが可能となる。また、昇降装置14は真空チャンバ12と一体に設けられているため、メンテナンスに際して従来必要であった治具の設置のための時間が不要になり、処理停止の期間(ダウンタイム)が短くなって、基板処理効率の向上が図られる。
【0043】
なお、本発明は上記した実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、モータ48は出力軸52が鉛直方向と直交するように配置されていたが、出力軸52が鉛直方向に沿うようにモータ48を配置してもよい。この場合は、動力伝達のための傘歯車64,66の替わりに、平歯車を用いると好ましい。
【0044】
また、上記実施形態では、基板処理装置として電子ビーム露光装置10の実施形態について説明したが、本発明はマスクを介することなく基板上に直接描画を行う電子ビーム描画装置にも適用可能である。
【0045】
また本発明は、真空チャンバ12を備える成膜装置(例えば、CVD装置やPVD装置)やエッチング装置にも適用可能である。
【0046】
更に、本発明は半導体ウェハWの処理装置のみならず、液晶パネル形成においてガラス基板上にITO膜などの成膜処理等を行う液晶パネル製造装置にも適用可能である。
【0047】
【発明の効果】
本発明によれば、所有コストの低減と基板処理効率の向上を図ることが可能な基板処理装置及びそのメンテナンス方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態に係る基板処理装置として、電子ビーム露光装置の構成を示す斜視図である。
【図2】真空チャンバの構成を示す断面図である。
【図3】真空チャンバの側壁に設けられた扉からウェハステージを引き出した様子を示す断面図である。
【図4】ガイドポストが容器本体に立設されている様子を説明するための斜視図である(説明の便宜上、上蓋を外した状態を示している)。
【図5】上蓋の構成を説明するための斜視図である。
【図6】上蓋の一の角に設けられたモータ、及び動力変換機構を説明するための図である。
【図7】上蓋の他の三つの角に設けられた動力変換機構を説明するための図である。
【図8】ガイドポストの表面を被覆して保護するカバーの構成を示す図である(開いた状態)。
【図9】ガイドポストの表面を被覆して保護するカバーの構成を示す図である(閉じた状態)。
【図10】上蓋が最下限に位置する状態での電子ビーム露光装置を示す正面図である。
【図11】上蓋が最上限に位置する状態での電子ビーム露光装置を示す正面図である。
【符号の説明】
10…電子ビーム露光装置、12…真空チャンバ、14…昇降装置、16…容器本体、18…上蓋、20…電子ビーム照射部、30…ウェハステージ、42…ガイドポスト、48…モータ、50…動力変換機構、54,68…筒状部材、57,60,73,74…ネジ部、80…プーリ、82…タイミングベルト、90…カバー。

Claims (7)

  1. 容器本体と該容器本体の上部開口を塞ぐ上蓋とを有するチャンバを備えた基板処理装置であって、
    前記チャンバの上部に該チャンバと一体に設けられた、前記上蓋を昇降させる昇降装置を備え、
    前記昇降装置は、
    前記容器本体の上部に立設されており、鉛直方向に沿って延びる第1のポールと、
    前記上蓋に設けられており、所定の回転力を出力する駆動源と、
    前記駆動源から出力される回転力を、前記第1のポールに沿って前記上蓋を昇降させるための前記鉛直方向の力に変換する動力変換機構と、
    を有し、
    前記動力変換機構は、
    前記第1のポールに挿通されると共に、該第1のポールの周りで回転可能に前記上蓋に保持された第1の筒状部材と、
    前記第1の筒状部材の内面に設けられた第1ネジ部と、
    前記第1のポールの表面に設けられており、前記第1ネジ部と噛合する第2ネジ部と、を含み、
    さらに前記昇降装置は、
    前記容器本体の上部に立設されており、鉛直方向に沿って延びる第2のポールと、
    前記第2のポールに挿通されると共に、該第2のポールの周りで回転可能に前記上蓋に保持された第2の筒状部材と、
    前記第2の筒状部材の内面に設けられた第3ネジ部と、
    前記第2のポールの表面に設けられており、前記第3ネジ部と噛合する第4ネジ部と、
    前記第1の筒状部材と前記第2の筒状部材との間に設けられており、該第2の筒状部材を該第1の筒状部材と同期して回転させる動力伝達機構と、
    を有することを特徴とする基板処理装置。
  2. 前記動力伝達機構は、
    前記第1及び第2の筒状部材の各々に一体回転可能に設けられたプーリと、
    前記プーリの間に横架されたタイミングベルトと、
    を有することを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
  3. 前記昇降装置は、前記第1のポールと前記第2のポールとの上端間に横架された連結リブを有することを特徴とする請求項1又は2に記載の基板処理装置。
  4. 前記駆動源は、出力軸が鉛直方向と直交するように配置されたモータを含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の基板処理装置。
  5. 前記第1のポールの表面を被覆するように、該第1のポールに着脱可能に取り付けられる筒状のカバーを備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の基板処理装置。
  6. 前記チャンバは、
    基板を位置決め保持するための基板保持部と、
    前記基板上に電子ビームを照射するための電子ビーム照射部と、
    を有することを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
  7. 容器本体と該容器本体の上部開口を塞ぐ上蓋とを有するチャンバを備えた基板処理装置であって、
    前記チャンバの上部に該チャンバと一体に設けられた、前記上蓋を昇降させる昇降装置を備え、
    前記昇降装置は、
    前記容器本体の上部に立設されており、鉛直方向に沿って延びる第1のポールと、
    前記上蓋に設けられており、所定の回転力を出力する駆動源と、
    前記駆動源から出力される回転力を、前記第1のポールに沿って前記上蓋を昇降させるための前記鉛直方向の力に変換する動力変換機構と、
    を有し、
    前記第1のポールの表面を被覆するように、該第1のポールに着脱可能に取り付けられる筒状のカバーを備えることを特徴とする基板処理装置。
JP2003106532A 2003-04-10 2003-04-10 基板処理装置 Expired - Fee Related JP3977767B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003106532A JP3977767B2 (ja) 2003-04-10 2003-04-10 基板処理装置
KR10-2004-0021091A KR100535690B1 (ko) 2003-04-10 2004-03-29 기판 처리장치 및 그 유지보수 방법
US10/820,732 US7361905B2 (en) 2003-04-10 2004-04-09 Substrate processing apparatus and maintenance method therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003106532A JP3977767B2 (ja) 2003-04-10 2003-04-10 基板処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004311887A JP2004311887A (ja) 2004-11-04
JP3977767B2 true JP3977767B2 (ja) 2007-09-19

Family

ID=33295843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003106532A Expired - Fee Related JP3977767B2 (ja) 2003-04-10 2003-04-10 基板処理装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7361905B2 (ja)
JP (1) JP3977767B2 (ja)
KR (1) KR100535690B1 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100585022B1 (ko) * 2004-08-20 2006-06-01 주식회사 에이디피엔지니어링 플라즈마 처리장치 및 그 보수방법
KR100648403B1 (ko) * 2004-10-20 2006-11-24 주식회사 에이디피엔지니어링 플라즈마 처리장치
KR100856679B1 (ko) 2004-12-08 2008-09-04 주식회사 에이디피엔지니어링 평판표시소자 제조장치
KR100667165B1 (ko) * 2004-11-08 2007-01-12 삼성전자주식회사 반도체 제조용 공정챔버
KR100682738B1 (ko) 2005-07-01 2007-02-15 주식회사 아이피에스 반도체 처리 장치
US7883579B2 (en) 2005-12-14 2011-02-08 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and lid supporting apparatus for the substrate processing apparatus
KR101490451B1 (ko) * 2008-07-29 2015-02-09 주성엔지니어링(주) 기판처리장치용 지그 및 이를 이용한 유지보수 방법
JP5315100B2 (ja) * 2009-03-18 2013-10-16 株式会社ニューフレアテクノロジー 描画装置
KR101180842B1 (ko) * 2010-08-06 2012-09-10 주성엔지니어링(주) 기판 처리장치 및 기판 처리장치의 제어방법
CN103370655B (zh) * 2010-12-14 2016-03-16 迈普尔平版印刷Ip有限公司 光刻系统和在该光刻系统中处理基板的方法
JP5048853B2 (ja) * 2011-03-07 2012-10-17 シャープ株式会社 昇降機構を有する気相成長装置
JP2013229373A (ja) * 2012-04-24 2013-11-07 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及びそのメンテナンス方法
NL2010624C2 (en) 2013-04-08 2014-10-09 Mapper Lithography Ip Bv Cabinet for electronic equipment.
TWI596692B (zh) * 2016-06-08 2017-08-21 漢民科技股份有限公司 應用於半導體設備之組裝裝置
JP7092959B1 (ja) 2022-03-23 2022-06-28 Sppテクノロジーズ株式会社 基板処理装置
JP7245378B1 (ja) 2022-03-23 2023-03-23 Sppテクノロジーズ株式会社 基板処理装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3968885A (en) * 1973-06-29 1976-07-13 International Business Machines Corporation Method and apparatus for handling workpieces
JPH10303099A (ja) 1997-04-24 1998-11-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
US5831272A (en) * 1997-10-21 1998-11-03 Utsumi; Takao Low energy electron beam lithography
JPH11255489A (ja) 1998-03-09 1999-09-21 Yoshio Suzuki ねじを利用した昇降機構とその動作の制御方法
US6497239B2 (en) * 1999-08-05 2002-12-24 S. C. Fluids, Inc. Inverted pressure vessel with shielded closure mechanism
US6602349B2 (en) * 1999-08-05 2003-08-05 S.C. Fluids, Inc. Supercritical fluid cleaning process for precision surfaces
US6529260B2 (en) * 2001-05-03 2003-03-04 Nikon Corporation Lifting support assembly for an exposure apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR100535690B1 (ko) 2005-12-09
US20040211924A1 (en) 2004-10-28
JP2004311887A (ja) 2004-11-04
KR20040089477A (ko) 2004-10-21
US7361905B2 (en) 2008-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3977767B2 (ja) 基板処理装置
JP4799325B2 (ja) 基板受け渡し装置,基板処理装置,基板受け渡し方法
KR102294107B1 (ko) 수평 다관절 로봇 및 수평 다관절 로봇의 제조 방법
CN1294658C (zh) 用于smif和开启容器的通用工具接口和/或工件传送装置
JP2013157561A (ja) 搬送ロボット
CN1825535A (zh) 真空处理装置
US6559461B1 (en) Wafer scanning support unit of ion implantation apparatus
JPH10139159A (ja) カセットチャンバ及びカセット搬入搬出機構
KR100515955B1 (ko) 상부 커버를 개폐할 수 있는 개폐장치가 구비된평판표시소자 제조장치의 공정챔버
WO2018019226A1 (zh) 可调平的版库设备
JP3981038B2 (ja) 基板処理システム
JP5585238B2 (ja) 基板処理装置
KR101003725B1 (ko) 진공처리장치
JP4635998B2 (ja) ステージ装置
JP2603191B2 (ja) 薄板傾動装置
JP3830041B2 (ja) ステージベース、及び基板処理装置
JP3782795B2 (ja) 基板処理装置及びそのメンテナンス方法
JP2001189282A (ja) レーザアニール方法及び装置
JPH0982780A (ja) 基板搬送装置
KR102314093B1 (ko) 대면적 노광 장치
WO2019038902A1 (ja) レーザ照射装置
JP2008303427A (ja) 基板処理装置
JPH11156772A (ja) 薄型基板の搬送ロボット
JP2007266033A (ja) 基板搬送ロボットの基準位置教示方法
KR20060090906A (ko) 노광기의 스테이지 구동장치

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050906

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051102

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070619

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070621

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100629

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100629

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100629

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110629

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110629

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120629

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120629

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130629

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees