JP3970334B2 - 光学的表面検査装置 - Google Patents
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Description
本発明は、独立請求項の上位概念に記載の光学的表面検査装置に関する。ドイツ連邦共和国特許出願DE 32 32 904により公知のこの種の装置によれば、加工品の孔内部の被検査表面に向けてレーザビームが配向され、表面からはね返されたビームは表面の特性に依存して変化する。入射ビームは中央光導波体を介してミラーへ案内され、このミラーは入射ビームをほぼ90°だけ偏向して孔の壁へ配向する。表面から反射したビームは、一方では中央光導体を介して、他方ではその中央光導体の周囲に同心円状に配置された別の光導体を介して、孔から取り出される。中央光導体と別の光導体との間に、光学的デッドゾーンが設けられている。このことで公知の装置によれば、表面からはね返されたビームについて明視野における測定も暗視野における測定も同時に行うことができる。
本発明の課題は、光学的表面検査装置において簡単に構成できるようにすることである。
この課題は、独立請求項に記載の特徴により解決される。
発明の利点
本発明による装置は、第1の表面と少なくとも第2の表面を同時に検査できるという利点をもっている。したがって測定結果を個別に求めるほかに両方の被検査表面の比較測定が可能となり、このために装置を移動させる必要がない。
本発明によれば、ビームスプリッタにより入射ビームから、第1の被検査表面に配向された第1の測定ビームと第2の被検査表面に配向された第2の測定ビームが出力結合される。表面から反射した測定ビームは、ビームスプリッタにおいて再び1つの出射ビームにまとめられ、これは測定装置へと案内されて、そこにおいて両方の測定ビームの別個の評価が行われる。本発明にとって重要であるのは、2つの測定ビームがそれぞれ違った特性をもっているということであり、これによって測定装置における別個の評価が可能となる。
本発明による装置はたとえば、孔殊に止まり孔内部の表面を検査するのに適している。本発明による装置の簡単な構造によって、孔直径の小さい孔の内部の表面を検査できるようになる。出射ビーム中に含まれる反射測定ビームの別個の評価により、たとえば孔の直線性または孔の丸みを求めることができる。また、2つの表面の測定結果が同時に存在しているので、たとえば孔のアライメントを求めることができる。
従属請求項には本発明による装置の有利な実施形態が示されている。
第1の実施形態によれば、測定ビームの特性として種々の偏光面が設けられている。
有利には、それぞれ異なる偏光面は、ビームスプリッタを偏光ビームスプリッタとして形成することにより達成される。入射ビームとして、たとえば偏光されていないまたは円偏光されたビームが適している。偏光ビームスプリッタの代わりに慣用のビームスプリッタも使用可能であり、これには両方の測定ビームのビーム路中にそれぞれ偏光フィルタが後置接続されている。
1つの実施形態によれば、入射ビームはすでに所定の偏光面で偏光されている。偏光面をたとえば偏光回転板によって変化させることにより、2つの表面を時間的にずらして検査することができる。この実施形態の場合には測定装置をきわめて簡単に実現することができる。それというのも、出射ビームは第1の反射測定ビームまたは第2の反射測定ビームに対応しているからである。偏光回転板を制御する信号は測定装置において、捕捉された信号とそのつど反射する測定ビームとの対応づけの役割を担う。
別の実施形態によれば、測定ビームのそれぞれ異なる特性がそれぞれ違った波長によってまえもって定められる。この場合、入射ビームは波長の異なる2つのビーム成分を有しており、その際、第1の測定ビームのビーム路と第2の測定ビームのビーム路中にそれぞれ波長選択性フィルタが配置されている。入射ビームが同時に2つのビーム成分を有していれば、対応する波長選択性フィルタを備えた測定装置において同時に各反射測定ビームを捕捉することができる。また、入射ビームが時間的に相前後してそれぞれ異なる波長を有しているならば、波長に依存することなく出射ビームを捕捉する測定装置で十分である。
1つの有利な実施形態によれば、ビームスプリッタは入射ビームの方向に対し少なくとも約90%の角度で第1の測定ビームを出力結合し、さらに第2の測定ビームを実質的に方向を変化させることなく通過させる。
さらに別の有利な実施形態によれば、第2の測定ビームのビーム路中にビーム偏向器が配置されており、これは測定ビームの向きを別の方向へ変える。方向の変化が少なくとも約90°であれば、2つの被検査表面を1つの平面内に存在させることができる。このようにして、1つの孔をそれぞれ異なる孔の深さについて同時に判定できるようになる。
従属請求項ならびに以下の説明には、本発明による装置の他の有利な実施形態が示されている。
図面
2つの図面には、表面検査装置のそれぞれ異なる実施形態が描かれている。
図1にはビーム源10が示されており、これは入射ビームAをビームスプリッタ11の方向へ送出する。ビーム源10とビームスプリッタとの間のビーム路中に偏光回転板12、第1のハーフミラー13ならびに第1のレンズ14が配置されている。ビームスプリッタ11は入射ビームAから、第1の測定ビームBおよび第2の測定ビームCを出力結合する。第1の測定ビームBのビーム路中に第1の偏光子15が配置されており、第2の測定ビームCのビーム路中に第2の偏光子16が配置されている。第1の測定ビームBは第1の被検査表面17へ投射され、第2の測定ビームCは第2の被検査表面18へ投射される。さらに第2の測定ビームCのビーム路中には、第2のレンズ19ならびにブーム偏向器20が配置されている。被検査表面17,18は図示の実施例の場合、加工品22における孔21の表面部分である。被検査表面17,18からはね返った測定ビームB′,C′は、ビームスプリッタ11によりまとめられて1つの出射ビームDが形成され、第1のハーフミラー13はこの出射ビームDを受光装置23へ向けて出力結合する。
受光装置23は第2のハーフミラー24を有しており、これは出射ビームDから、反射した第1の測定ビームB′と反射した第2の測定ビームC′を出力結合する。反射した第1の測定ビームB′は第3の偏光子25を通過し、これは第1のビーム受光器26に当射する。また、反射した第2の測定ビームC′は第4の偏光子27を通過した後、第2のビーム受光器28に当射する。
図1に示した本発明による装置は以下のように動作する。
ビームスプリッタ11はビーム源10から供給された入射ビームAから、第1の測定ビームBと第2の測定ビームCを出力結合する。これら2つの測定ビームB,Cは、図1に示した実施形態によれば異なる偏光面をもつそれぞれ違った特性を有している。ビームスプリッタ11に使用される材料の屈折率と角度関係に依存して、特別な措置をとらなくても偏光が発生する。完全な偏光は、ビームスプリッタ11を偏光ビームスプリッタとして実現することによって達成される。別のやり方によれば、両方の測定ビームB,Cのビーム路中に偏光子15,16が配置されている。
入射ビームAのビーム路中に配置されている第1のレンズ14によって、第1の測定ビームBを第1の被検査表面17上へフォーカシングさせることができる。また、第2の測定ビームCのビーム路中に配置されている第2のレンズ19によって、第2の測定ビームCを第2の被検査表面18へフォーカシングさせることができる。
図示の実施例の場合、ビームスプリッタ11により入射ビームAから第1の測定ビームBが、入射ビームAの方向に関して少なくとも約90°の角度で出力結合される一方、第2の測定ビームCは入射ビームAの方向におかれる。さらにビーム偏向器20によって第2の測定ビームCの向きをさらに変えることができ、この場合も少なくともほぼ90°偏向させることができ、その結果、両方の測定ビームB,Cは互いにほぼ平行して延在するようになる。このように構成することで、被検査表面17,18が孔の方向において互いに隔てられ、かつ同じ平面内に位置させることができ、したがってたとえば孔のアライメントを測定することができる。図示の実施例の場合には、ビーム偏向器20によって第2の測定ビームCの向きが約45°変えられており、それによって1つの平面内に配置していない表面を検査できるようにしている。
検査すべき表面17,18に当射する測定ビームB,Cは、表面特性に依存して一部は反射し一部は散乱する。その際、反射測定ビームB′,C′において、入射測定ビームB,Cとは逆方向の成分が常に発生する。反射測定ビームB′,C′はビームスプリッタ11によりまとめられ、出射ビームDが形成される。
第1のハーフミラー13は出射ビームDを出力結合し、それを受光装置23へと導く。最も簡単な実施形態の場合、受光装置23は、出射ビームDを捕捉する第1のビーム受光器26だけを有する。2つの測定ビームB,Cが時間的に相前後してそれぞれ異なる特性をもつような場合であれば、このような簡単な受光装置23の構成を実現できる。そしてこのような実現形態は、ビーム源10から送出されたビームを偏光回転板12により任意の面に偏光することによって可能となる。入射ビームAはすでに偏光されているので、ビームスプリッタ11は、すでに適正な偏光をもっている測定ビームB,Cだけをそのつど出力結合すればよい。偏光面の回転により、もっぱら第1の測定ビームBだけを、あるいはもっぱら第2の測定ビームCだけを供給することができる。しかし偏光面を回転させることで、測定ビームB,Cを任意の比で同時に発生させることもできる。入射ビームAの偏光に関する情報が既知であれば、個々のビーム受光器が出す信号を、検査すべき表面17,18に一義的に対応づけることができる。
図1に示した光学測定装置23の実施形態によれば、反射した測定ビームB′,C′を同時に捕捉することができる。その際、第2のハーフミラー24により出射ビームDが2つのビームに分割される。それら両方の部分ビームに偏光子25,27が配置されており、これらの偏光子は出射ビームDから所望の反射測定ビームB′,C′を出力結合する。なお、ハーフミラー24と両方の偏光子25,27を、1つの偏光ビームスプリッタに置き換えてもよい。反射した測定ビームB′,C′は、第1のビーム受光器26と第2のビーム受光器28によって別個に受け取られ、出力信号として供給される。これら両方のビーム受光器26,28から供給される信号は、図示されていない別の評価回路へ導かれ、その回路は個々の信号から、あるいは両方の信号の結合から測定結果を形成し、それによって検査すべき表面17,18の特性を推定することができる。表面に関してどのような情報が得られるかについての詳しい説明は、冒頭で挙げた従来技術に示されている。
図2には、本発明による表面検査装置の別の実施例が示されている。
図2中、図1に示した部材と一致する部材については同じ参照符号が付されている。
この場合、ビームスプリッタ41は、ビーム源40によって供給される入射ビームEから、第1の測定ビームFと第2の測定ビームGを出力結合する。第1の測定ビームFのビーム路中に第1の波長選択性フィルタ42が配置されており、第2の測定ビームGのビーム路中には第2の波長選択性フィルタ43が配置されている。
さらにビームスプリッタ41により、検査すべき表面17,18から反射した測定ビームF′,G′が1つにまとめられて、出射ビームHが形成される。
受光装置23は第2のハーフミラー24を有しており、これによって出射ビームHが2つの部分ビームに分割される。その際、第1の部分ビームにおいて第1の反射測定ビームF′を発生させるようにし、これは第3の波長選択性フィルタ44によるフィルタリングによって出射ビームHから取り出される。さらに他方のビーム路において第2の反射測定ビームG′を発生させるようにし、これは第4の波長選択性フィルタ45によるフィルタリングによって出射ビームHから取り出される。
入射ビームEのビーム路中には選択性フィルタバンク46が配置されている。
図2に示した装置は以下のように動作する。
図2に示した本発明による装置の実施例と図1のものとの基本的な相違点は、ここでは偏光面によって2つの測定ビームB,Cについて異なる特性が定められるのではなく、2つの測定ビームF,Gの波長が異なることでそれぞれ違った特性が定められていることである。図1に示したビームスプリッタ11の偏光特性について、図2に示したビームスプリッタ41の場合には問題にはならない。ここではビームスプリッタ41は、入射ビームEから各ビーム成分を出力結合する役割しかもっていない。
波長の選択は、第1の測定ビームFの場合には第1の波長選択性フィルタ42により行われ、第2の測定ビームGの場合にはそこに配置された第2の波長選択性フィルタ43により行われる。図1に基づき説明した本発明による装置の構成の場合と同様、図2による構成の場合にもビーム源40は、2つの測定ビームF,Gについてそれぞれ異なる2つの特性が同時に得られるように入射ビームEを供給することができる。このような場合、入射ビームEには2つの波長をもつビーム成分が含まれ、それらの波長に合わせて両方の波長選択性フィルタ42,43が整合されている。さらにここでも、入射ビームEが時間的に順を追ってそれぞれ異なる特性をもつようにしてもよい。これを実現する目的で、たとえば図2に示されているように選択性フィルタバンク46が設けられており、これは切り替えによって、入射ビームEがそのつどまえもって定められた波長だけしかもたないようにするものである。
同じことは受光装置23についてもあてはまり、これは出射ビームHにおいてそれぞれ異なる波長が時間的に順を追って生じる場合には、1つのビーム受光器だけを有していればよく、このとき波長選択性フィルタは不要である。両方の反射測定ビームF′,G′を同時に評価する必要があるときには、それぞれ異なる波長に従って分離を行う必要がある。その場合、受光装置23内に含まれている第3の波長選択性フィルタ44により第1の反射測定ビームF′が出力結合され、第4の波長選択性フィルタ45により第2の反射測定ビームGが出力結合される。
両方の反射測定ビームF′,G′は、2つのビーム受光器26,28により信号に変換され、それらの信号は既述のようにして引き続き処理される。
Claims (14)
- 表面(17,18)を検査する装置において、
ビームスプリッタ(11,41)により、入射ビーム(A,E)が第1の測定ビーム(B,F)と第2の測定ビーム(C,G)に分離され、
前記第1の測定ビーム(B,F)は、第1の被検査表面(17)に向けて配向され、
前記第2の測定ビーム(C,G)は、前記第1の表面(17)とは異なる第2の表面(18)に向けて配向され、
各表面(17,18)に配向された測定ビーム(B,F;C,G)はそれぞれ異なる特性を有しており、
ビームスプリッタ(11,41)は、前記第1の表面(17)から反射した測定ビーム(B′,F′)と、前記第2の表面(18)から反射した測定ビーム(C′,G′)をまとめて1つの出射ビーム(D,H)を形成し、該出射ビームは光学測定装置(23)へ導かれ、
該光学測定装置(23)は、前記第1の反射ビーム(B′,F′)を第1のビーム受光器(26)へ配向し、前記第2の反射ビーム(C′,G′)を第2のビーム受光器(28)へ配向することを特徴とする、
表面を検査する装置。 - 前記の2つの測定ビーム(B,C)のそれぞれ異なる特性はそれぞれ違った偏光面によって作られている、請求項1記載の装置。
- 前記ビームスプリッタ(11)は偏光ビームスプリッタとして形成されている、請求項2記載の装置。
- ビームスプリッタ(11)と第1の被検査表面(17)との間に第1の偏光フィルタ(15)が配置されており、ビームスプリッタ(11)と第2の被検査表面(18)との間に第2の偏光フィルタ(16)が配置されている、請求項2記載の装置。
- 入射ビーム(A)は偏光されている、請求項1〜4のいずれか1項記載の装置。
- 前記入射ビームから形成された前記第1の測定ビームは第1の波長を有しており、前記入射ビームから形成された前記第2の測定ビームは第2の波長を有しており、前記第1の波長と前記第2の波長はそれぞれ異なる長さである、請求項1記載の装置。
- 前記ビームスプリッタ(11,41)は、第1の測定ビーム(B,F)を入射ビーム(A,E)に対し少なくとも約90°の角度で出力結合し、第2の測定ビーム(C,G)を実質的に入射ビーム(A,E)の方向でさらに案内する、請求項1〜6のいずれか1項記載の装置。
- 前記第2の測定ビーム(C,G)のビーム路中にビーム偏向器(20)が配置されている、請求項1〜7のいずれか1項記載の装置。
- 前記ビーム偏向器(20)は第2の測定ビーム(C,G)を少なくとも約90°の角度で偏向する、請求項8記載の装置。
- 前記入射ビーム(A,E)のビーム路中に第1のレンズ(14)が配置されており、前記第2の測定ビーム(C,G)のビーム路中に第2のレンズ(19)が配置されている、請求項1〜9のいずれか1項記載の装置。
- 前記光学測定装置(23)内に、第1の反射ビームと第2の反射測定ビームの両方を出射ビーム(D)から出力結合する偏光ビームスプリッタが設けられている、請求項1〜5のいずれか1項記載の装置。
- 前記光学測定装置(23)内に、出射ビーム(D)から第1の反射測定ビーム(B′)を出力結合する偏光子(25)と、出射ビーム(D)から第2の反射測定ビーム(C′)を出力結合する偏光子(27)が設けられている、請求項1〜5のいずれか1項記載の装置。
- 前記光学測定装置(23)内に、出射ビーム(H)から第1の反射測定ビーム(F′)を出力結合する波長選択性フィルタ(44)と、出射ビーム(H)から第2の反射測定ビーム(G′)を出力結合する波長選択性フィルタ(45)が設けられている、請求項6記載の装置。
- 孔の内部の表面(17,18)を検査するために使用する、請求項1〜13のいずれか1項記載の装置の使用。
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Publications (2)
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Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7092102B2 (en) * | 2000-06-21 | 2006-08-15 | Joh. & Ernst Link Gmbh & Co. Kg | Measuring device for detecting the dimensions of test samples |
US6661506B2 (en) * | 2000-08-24 | 2003-12-09 | Og Technologies, Inc. | Engine bearing inspection system |
US20040189987A1 (en) * | 2000-11-15 | 2004-09-30 | Quest Integrated Inc. | A method for reformer tube in situ inspection radius calculation |
US6781699B2 (en) * | 2002-10-22 | 2004-08-24 | Corning-Tropel | Two-wavelength confocal interferometer for measuring multiple surfaces |
DE20321051U1 (de) * | 2003-03-13 | 2005-12-29 | Wente / Thiedig Gmbh | Optische Prüfeinrichtung für Hohlkörper |
US7075660B2 (en) * | 2003-11-18 | 2006-07-11 | Corning Incorporated | Multi-beam probe with adjustable beam angle |
EP1754018B1 (de) * | 2004-06-08 | 2018-07-11 | Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG | Vorrichtung und verfahren zum prüfen von oberflächen im inneren von löchern |
DE102004045808A1 (de) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Robert Bosch Gmbh | Optische Messvorrichtung zur Vermessung von mehreren Flächen eines Messobjektes |
JP4804057B2 (ja) * | 2005-07-28 | 2011-10-26 | オリンパス株式会社 | 内面計測装置 |
DE102005059550A1 (de) * | 2005-12-13 | 2007-06-14 | Siemens Ag | Optische Messvorrichtung zum Vermessen eines Hohlraums |
WO2007045696A2 (en) * | 2006-01-06 | 2007-04-26 | Phonak Ag | Method and system for reconstructing the three-dimensional shape of the surface of at least a portion of an ear canal and/or of a concha |
CN101241190B (zh) * | 2007-04-25 | 2011-05-11 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 基于泽尼克模式的激光大气湍流强度廓线测量系统和方法 |
CA2597891A1 (en) * | 2007-08-20 | 2009-02-20 | Marc Miousset | Multi-beam optical probe and system for dimensional measurement |
DE102007045567A1 (de) | 2007-09-24 | 2009-04-02 | Robert Bosch Gmbh | Sonde und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Oberflächen |
DE102007045571A1 (de) | 2007-09-24 | 2009-04-02 | Robert Bosch Gmbh | Sonde und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Messobjekten |
DE102007059903A1 (de) | 2007-12-12 | 2009-06-18 | Robert Bosch Gmbh | Sonde und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Messobjekten |
DE102009019459B4 (de) * | 2009-05-04 | 2012-02-02 | Hommel-Etamic Gmbh | Vorrichtung zur Abbildung der Innenfläche eines Hohlraumes in einem Werkstück |
KR20130004915A (ko) * | 2010-03-09 | 2013-01-14 | 페더럴-모걸 코오포레이숀 | 보어 검사 시스템 및 보어 검사 시스템에 의한 검사 방법 |
US8508743B2 (en) | 2011-03-04 | 2013-08-13 | Hommel-Etamic Gmbh | Crankshaft testing method |
US20150300811A1 (en) * | 2014-04-21 | 2015-10-22 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Apparatus for measuring inner diameter |
PT3156760T (pt) * | 2015-10-14 | 2019-10-11 | Sturm Maschinen & Anlagenbau Gmbh | Dispositivo sensor e método para a inspeção de superfície de um espaço oco cilíndrico |
JP6689083B2 (ja) * | 2016-01-22 | 2020-04-28 | リコーエレメックス株式会社 | 内面検査システムおよび導光部品 |
WO2019083009A1 (ja) * | 2017-10-26 | 2019-05-02 | 長野オートメーション株式会社 | 検査システムおよび検査方法 |
US10720354B2 (en) * | 2018-08-28 | 2020-07-21 | Axcelis Technologies, Inc. | System and method for aligning light-transmitting birefringent workpieces |
DE102021112120A1 (de) | 2021-05-10 | 2022-11-10 | Carl Mahr Holding Gmbh | Faseroptische Punktsonde und Distanzmesssystem mit einer faseroptischen Punktsonde |
WO2023135681A1 (ja) * | 2022-01-12 | 2023-07-20 | 株式会社日立ハイテク | 表面検査装置 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7501009A (nl) * | 1975-01-29 | 1976-08-02 | Skf Ind Trading & Dev | Apparaat voor het automatisch detecteren van oppervlaktefouten. |
FR2389883B1 (ja) * | 1977-05-05 | 1980-07-25 | Cselt Centro Studi Lab Telecom | |
US4225240A (en) * | 1978-06-05 | 1980-09-30 | Balasubramanian N | Method and system for determining interferometric optical path length difference |
US4355904A (en) * | 1978-09-25 | 1982-10-26 | Balasubramanian N | Optical inspection device for measuring depthwise variations from a focal plane |
DE2851750B1 (de) * | 1978-11-30 | 1980-03-06 | Ibm Deutschland | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Ebenheit der Rauhigkeit oder des Kruemmungsradius einer Messflaeche |
US4601575A (en) * | 1981-03-03 | 1986-07-22 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring the characteristics of an optical system |
JPS6054647B2 (ja) * | 1982-06-22 | 1985-11-30 | 清水建設株式会社 | ボアホ−ルスキヤナ− |
DE3232904A1 (de) * | 1982-09-04 | 1984-03-08 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Sonde zum automatischen pruefen von oberflaechen |
IT1198660B (it) * | 1983-08-02 | 1988-12-21 | Ottica Ist Naz | Profilometro ottico multifocale per dispersione |
US4725144A (en) * | 1986-02-25 | 1988-02-16 | R & D Associates | Optic element testing method and apparatus |
EP0248479B1 (en) * | 1986-06-04 | 1991-11-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Arrangement for optically measuring a distance between a surface and a reference plane |
US4709145A (en) * | 1986-08-20 | 1987-11-24 | Simmonds Precision Products, Inc. | Method and apparatus for compensating fiber optic lead and connector losses in a fiber optic sensor by using a dual wavelength optical source and matched polarizer |
GB8626812D0 (en) * | 1986-11-10 | 1986-12-10 | Sira Ltd | Surface inspection |
US4905311A (en) * | 1988-02-10 | 1990-02-27 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical surface roughness measuring apparatus with polarization detection |
FR2631697B1 (fr) * | 1988-05-17 | 1991-07-26 | Hispano Suiza Sa | Appareil pour le controle optique du profil interne d'un tube ou d'un alesage |
US5110211A (en) * | 1990-01-04 | 1992-05-05 | Shoji Niki | Optical interference signal extractor with device for reduced noise from optical light power variation |
US5270790A (en) * | 1990-04-18 | 1993-12-14 | Advantest Corporation | Moving reflector driving part of a Michelson inteferometer |
IL94429A (en) * | 1990-05-17 | 1993-06-10 | Andrei Brunfeld | Interferometric measurement |
JP2933736B2 (ja) | 1991-02-28 | 1999-08-16 | キヤノン株式会社 | 表面状態検査装置 |
US5210591A (en) * | 1991-08-02 | 1993-05-11 | Hughes Aircraft Company | Interferometric ball bearing test station |
DE4206609A1 (de) * | 1992-03-03 | 1993-09-09 | Optoelektronische Inspektions | Vorrichtung zur inspektion von rohren und kanaelen |
US5321497A (en) * | 1992-03-09 | 1994-06-14 | Wyko Corporation | Interferometric integration technique and apparatus to confine 2π discontinuity |
JP3259331B2 (ja) * | 1992-05-29 | 2002-02-25 | キヤノン株式会社 | 表面状態検査装置 |
DE19528513A1 (de) * | 1995-08-03 | 1997-02-06 | Haeusler Gerd | Verfahren zur berührungslosen, schnellen und genauen Erfassung der Oberflächengestalt von Objekten |
-
1997
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-
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