DE102007045567A1 - Sonde und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Oberflächen - Google Patents
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Abstract
Es wird eine optische Sonde (1) zum optischen Prüfen von Oberflächen (5) vorgeschlagen, wobei diese umfasst: einen Eingang (10) zur Einführung eines Eingangsstrahls in die Sonde (1), einen Ausgang (20) zur Beleuchtung der zu prüfenden Oberflächen (5), optische Elemente (8) zur Überführung des Eingangsstrahls in einen Messtrahl, der in einem Austrittswinkel alpha, bezogen auf die Richtung (7) des Eingangsstrahls, aus der Sonde (1) austritt, wobei ein Mittel (15) zur variablen Steuerung des Austrittswinkels alpha vorgesehen ist. Weiter wird eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung von Oberflächen (5) beschrieben, wobei in der Vorrichtung ein Interferometer mit der optischen Sonde (1) verbunden ist.
Description
- Stand der Technik
- Die Erfindung betrifft eine optische Sonde zum optischen Prüfen von Oberflächen gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung von Oberflächen mit der Sonde.
- Um Oberflächen eines Messobjektes, z. B. eines Bauteils, zu überprüfen, können optische Sonden eingesetzt werden. So wird in
DE 100 57 539 A1 eine interferometrische Messvorrichtung beschrieben, die mit einem optischen Sondenteil verbunden ist. Dabei ist sein vorderer, dem Messobjekt zugekehrter Bereich als Messkopf ausgebildet. Der Messkopf ist mit einer dünnen, als Messfaser ausgebildeten Lichtleitfaser versehen, deren freier Endbereich als Endstück zum Beleuchten einer Messstelle des Messobjektes und Aufnehmen von reflektiertem Messlicht ausgebildet ist. Hierfür ist das Endstück abgeschrägt und verspiegelt. - Ebenso ist aus
DE 197 14 202 A1 eine weitere Vorrichtung zum optischen Prüfen einer Oberfläche bekannt, wobei das zu prüfende Messobjekt gleichzeitig an zwei verschiedenen Stellen mittels zweier Messstrahlen beleuchtet werden kann. Insbesondere wird in einem Ausführungsbeispiel durch zwei nicht zueinander parallel verlaufenden Messstrahlen ermöglicht, zwei Stellen gleichzeitig senkrecht zu beleuchten, die nicht in einer Ebene liegen. Diese Sonde bietet also zwei unterschiedliche Blickrichtungen. - Die bisher beschriebenen Messvorrichtungen mit optischen Sonden haben jedoch den Nachteil, dass bei zu prüfenden Messobjekten mit Oberflächen unterschiedlicher Geometrien bestimmte optische Komponenten der Sonde ausgetauscht werden müssen, um eine geeignete Blickrichtung der Sonde zu erreichen.
- Vorteile der Erfindung
- Die erfindungsgemäße optische Sonde oder die erfindungsgemäße Vorrichtung mit der Sonde hat den Vorteil, dass jede Blickrichtung der Sonde ermöglicht wird. Dabei ist es nicht notwendig, die Sonde umzubauen oder Teile der optischen Komponenten auszuwechseln.
- Auch kann die Sonde nun für Messobjekte mit beliebiger Oberflächenform, insbesondere auch mit vielen Winkeländerungen der Oberflächenform, eingesetzt werden. Weiter ist es vorteilhaft, dass hierzu nur ein Messstrahl für unterschiedliche Geometrien ausreichend ist. Ist nur ein Messstrahl notwendig, können auch schwächere, preisgünstigere Lichtquellen eingesetzt werden verglichen mit Sonden mit mehreren Messstrahlen wie aus dem Stand der Technik bekannt.
- Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben und in der Beschreibung beschrieben.
- Zeichnung
- Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der Zeichnungen und der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigen:
-
1 ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Sonde und -
2 ein zu prüfendes Messobjekt mit mehreren, zueinander schrägen Ebenen, die alle von einem Messstrahl nacheinander optimal beleuchtet werden können. - Beschreibung der Ausführungsbeispiele
- In
1 ist ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen optischen Sonde1 zum optischen Prüfen von Oberflächen dargestellt. Die optische Sonde1 wird hier als ein optischer Tastarm vorgeschlagen. Zunächst wird der Aufbau der Sonde1 erläutert. - Am Eingang
10 der Sonde1 wird ein Eingangsstrahl in die Sonde1 eingeführt. Vorteilhaft wird der Eingangsstrahl mittels einer Lichtleitfaser11 in die Sonde1 eingeführt. Die Lichtleitfaser11 selbst kann durch eine Ferrule13 am Eingang10 in die Sonde1 eingeführt werden. Optische Elemente8 , die in1 aus Übersichtlichkeitsgründen nur schematisch durch einen Block dargestellt sind, überführen den Eingangsstrahl in einen Messstrahl. Der Messstrahl tritt in einem Austrittswinkel α bezogen auf die Richtung7 des Eingangsstrahls aus der Sonde1 aus. Typischerweise umfassen die optischen Elemente8 mindestens eine Linse. Zwischen der Ferrule13 und den optischen Elementen8 kann ein Abstandshalter3 angeordnet sein. Während die Ferrule13 und der Abstandshalter3 zusammengehalten werden durch einen Haltestift2 , sind gleichzeitig der Abstandshalter3 und die optischen Elemente8 angeordnet innerhalb eines Röhrchens4 . - Zu den wesentlichen Komponenten der Sonde
1 zählen der Eingang10 zur Einführung eines Eingangsstrahls in die Sonde1 , der Ausgang20 zur Beleuchtung der zu prüfenden Oberflächen, optische Elemente8 zur Überführung des Eingangsstrahls in einen Messstrahl, der in einem Austrittswinkel α bezogen auf die Richtung7 des Eingangsstrahls aus der Sonde1 austritt. Erfindungsgemäß ist weiter ein Mittel15 zur variablen Steuerung des Austrittswinkels α vorgesehen. - Dadurch, dass die Sonde
1 ein Mittel15 zur variablen Steuerung des Austrittswinkels α umfasst, kann vorteilhaft die Blickrichtung der optischen Sonde1 praktisch beliebig gewählt werden, ohne irgendwelche Komponenten der Sonde1 auszutauschen oder die gesamte Sonde1 zu kippen. Insbesondere kann der Austrittwinkel α nicht nur 90° betragen, sondern auch deutlich weniger oder mehr. Die Möglichkeit zur stufenlosen Einstellung des Austrittwinkels α erlaubt einen flexiblen Einsatz der Sonde1 auch bei Messobjekten mit vielfältiger Oberflächengestaltung. - So zeigt
2 ein zu prüfendes Messobjekt6 mit mehreren, zueinander schrägen Oberflächen5 . Das Messobjekt6 weist neben flachen Oberflächen5 auch zylindrische und kegelförmige Flächen auf. Obwohl die Oberflächen5 mehrere Ebenen mit unterschiedlichen Winkeln aufweisen, können sie alle von einem Messstrahl der erfindungsgemäßen Sonde1 nacheinander optimal beleuchtet werden. Hierfür wird der variabel steuerbare Austrittwinkel α je nach vorliegender Situation so gewählt, dass der Messstrahl senkrecht auf die zu prüfende Oberfläche5 auftrifft. Je nach Bedarf kann aber natürlich der Austrittwinkel α gerade so gewählt werden, dass der Messstrahl mit einem bestimmten Winkel kleiner oder größer als 90° auf die zu prüfende Oberfläche5 auftrifft. In2 ist aus Übersichtlichkeitsgründen nicht die gesamte Sonde1 , sondern nur das Mittel15 der optischen Sonde1 in verschiedenen Zuständen dargestellt. - Das Mittel
15 kann ebenfalls ein optisches Element sein. Durch eine kontrollierte Kippung oder Drehung des optischen Elementes gegenüber der Richtung7 des Eingangsstrahls wird eine Änderung des Austrittswinkels α herbeigeführt. In1 und2 ist es beispielsweise durch einen Spiegel ausgebildet. Auch ist es vorteilhaft, wenn das Mittel15 ein elektrisch steuerbares Element ist. So wird eine schnelle, bequeme und präzise Einstellung des Austrittswinkels α gewährleistet. Wie in1 erkennbar, kann das Mittel15 mit einer elektrischen Leitung14 zur elektrischen Steuerung verbunden sein. Damit wird eine Fernsteuerung des Mittels15 ermöglicht. Zudem kann durch die elektrische Leitung14 gleichzeitig die Energieversorgung des Mittels15 erfolgen. - Es wird weiter vorgeschlagen, dass das Mittel
15 bevorzugt am Ausgang20 der Sonde1 angeordnet wird. So wird die unmittelbare Steuerung des Austrittswinkels α gewährleistet. Grundsätzlich reicht es jedoch aus, dass das Mittel 15 im Strahlengang des Eingangs- oder Messstrahls angeordnet ist. - In einem weiteren, in Figuren nicht dargestellten Ausführungsbeispiel ist das Mittel
15 ebenfalls ein optisches Element, aber nicht durch einen Spiegel, sondern durch ein Prisma ausgebildet. - Übrigens wird der an der Oberfläche
5 des Messobjektes reflektierte Messstrahl wieder durch die Sonde1 aufgenommen. Typischerweise durchläuft der reflektierte Messstrahl nun den bisherigen Strahlengang in umgekehrter Richtung, d. h. er wird am Ausgang20 der Sonde1 wieder in die Sonde1 eingeführt und verlässt die Sonde1 am Eingang10 . Die Begriffe „Eingang" und „Ausgang" beziehen sich, wie für einen Fachmann geläufig, nicht auf den reflektierten Messstrahl. Der wieder aus der Sonde1 herausgeführte Messstrahl wird sodann einer Detektionseinheit zugeführt, an der eine Auswerteeinheit angeschlossen ist. So wird eine Analyse der mit der Sonde1 beleuchteten Oberfläche5 ermöglicht. - Alle bisher beschriebenen Ausführungsformen der Sonde
1 sind übrigens geeignet, mit einem an sich bekannten Interferometer verbunden zu werden. Zusammen bilden sie dann eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung von Oberflächen5 . Idealerweise ist das Interferometer mit der Sonde1 mittels der bereits genannten Lichtleitfaser11 verbunden. Der Aufbau eines typischen Interferometers wird nicht weiter erläutert, da dieser bereits z. B. in eingangs zitierten SchriftenDE 100 57 539 A1 oderDE 197 14 202 A1 ausführlich beschrieben wurde. Es sei nur betont, dass das Interferometer neben einer Detektionseinheit auch eine Auswerteeinheit umfassen kann. - Zusammenfassend wird festgestellt, dass eine optische Sonde
1 beschrieben wurde, bei der der Austrittwinkel α des Messstrahls variabel steuerbar ist. Hierdurch wird eine leichte Anpassung an unterschiedlichen Geometrien der zu prüfenden Oberflächen5 erzielt. Weiter wurde eine Vorrichtung vorgeschlagen, die ein an sich bekanntes Interferometer und die beschriebene Sonde1 umfasst. Insgesamt wird eine sehr flexible, präzise und schnelle Abtastung von unterschiedlichen Oberflächen erzielt. - ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- - DE 10057539 A1 [0002, 0020]
- - DE 19714202 A1 [0003, 0020]
Claims (10)
- Optische Sonde (
1 ) zum optischen Prüfen von Oberflächen (5 ), umfassend einen Eingang (10 ) zur Einführung eines Eingangsstrahls in die Sonde (1 ), einen Ausgang (20 ) zur Beleuchtung der zu prüfenden Oberflächen (5 ), optische Elemente (8 ) zur Überführung des Eingangsstrahls in einen Messstrahl, der in einem Austrittswinkel α bezogen auf die Richtung (7 ) des Eingangsstrahls aus der Sonde (1 ) austritt, dadurch gekennzeichnet, dass ein Mittel (15 ) zur variablen Steuerung des Austrittswinkels α vorgesehen ist. - Sonde (
1 ) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (15 ) ein optisches Element ist. - Sonde (
1 ) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (15 ) ein elektrisch steuerbares Element ist. - Sonde (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (15 ) durch einen Spiegel ausgebildet ist. - Sonde (
1 ) nach, einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (15 ) durch ein Prisma ausgebildet ist. - Sonde (
1 ) nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (15 ) mit einer elektrischen Leitung (14 ) zur elektrischen Steuerung verbunden ist. - Sonde (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (15 ) am Ausgang (20 ) angeordnet ist. - Vorrichtung zur interferometrischen Messung von Oberflächen (
5 ), wobei ein Interferometer verbunden ist mit einer Sonde (1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 7. - Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Interferometer mit der Sonde (
1 ) mittels einer Lichtleitfaser (11 ) verbunden ist. - Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtleitfaser (
11 ) durch eine Ferrule (13 ) am Eingang (10 ) in die Sonde (1 ) eingeführt wird.
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