JPS633236A - 光フアイバの波長分散測定器 - Google Patents
光フアイバの波長分散測定器Info
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- JPS633236A JPS633236A JP14769886A JP14769886A JPS633236A JP S633236 A JPS633236 A JP S633236A JP 14769886 A JP14769886 A JP 14769886A JP 14769886 A JP14769886 A JP 14769886A JP S633236 A JPS633236 A JP S633236A
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 50
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 42
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/338—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring dispersion other than PMD, e.g. chromatic dispersion
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、シングルモード光ファイバの波長分散を簡
を更かつ精度よく測定するための妄:淀に関する。
を更かつ精度よく測定するための妄:淀に関する。
従来、シングルモード光ファイバの波長分散を測定する
方法のfつに、干渉法がある。
方法のfつに、干渉法がある。
この干渉法による波長分散の測定は、例えば、第3図に
示すような測定器によって行わnる。キセノンランプな
どの白色光gtから出た光は、チョッパ2で時間的に断
続さnて光パルスとなって分光器8に送らnる。分光器
3は、プリズム式、回折格子式などの分光器であって光
パルスを単色光の光パルスとする。この単色光は第1の
ノ・−7ミラー4に送られ、2つの光束に分けら几る。
示すような測定器によって行わnる。キセノンランプな
どの白色光gtから出た光は、チョッパ2で時間的に断
続さnて光パルスとなって分光器8に送らnる。分光器
3は、プリズム式、回折格子式などの分光器であって光
パルスを単色光の光パルスとする。この単色光は第1の
ノ・−7ミラー4に送られ、2つの光束に分けら几る。
−方の光束は波長分散を求めようとする被測定ファイバ
5を通過し、ミラー6、第2のハーフミラ−7を経て受
光08に送られる。他方の光束は、ミラー9を経て多重
反射ミラー10に入り、ここからミラー11、光路長微
調器12を通り、第2のハーフミラ−7で先の被測定フ
ァイバ5を通過した光束と合流し、受光器8に送らnる
。ここで、第1のハーフミラ−4から被測定ファイバ5
を経て第2のハーフミラ−7に至るまでの光′Nrは、
マツハツエンダ型干渉計の一方の光路を構成し、第tの
ハーフミラ−4から多重反射ミラー10を経て第2のハ
ーフミラ−7に至る壕での光路は、マツハツエンダ型干
渉計の他方の光路を構成する。
5を通過し、ミラー6、第2のハーフミラ−7を経て受
光08に送られる。他方の光束は、ミラー9を経て多重
反射ミラー10に入り、ここからミラー11、光路長微
調器12を通り、第2のハーフミラ−7で先の被測定フ
ァイバ5を通過した光束と合流し、受光器8に送らnる
。ここで、第1のハーフミラ−4から被測定ファイバ5
を経て第2のハーフミラ−7に至るまでの光′Nrは、
マツハツエンダ型干渉計の一方の光路を構成し、第tの
ハーフミラ−4から多重反射ミラー10を経て第2のハ
ーフミラ−7に至る壕での光路は、マツハツエンダ型干
渉計の他方の光路を構成する。
受光器8はアバランシェホトダイオード(APD)など
が用いらn、ここからの測定信号は、チョッパ2からの
同期信号とともに処理装置【8に送らnlここで演算処
理さnるようになっている。
が用いらn、ここからの測定信号は、チョッパ2からの
同期信号とともに処理装置【8に送らnlここで演算処
理さnるようになっている。
次に、この測定器による波長分散の測定方法を具体的に
説明する。まず、ある波長で、受光器8受光面での干渉
が最大となるように光路長微調器12を調節し、その時
の光路長微調器12の調節目盛の位置を記録する。光路
長@囲器12は、光路長をμm単位で工弯節できるよう
なものが用いらnる。ついで、分光器8を操作し、単色
光の波長を変化させ、各波長ごとに最大干渉点の光路長
機 。
説明する。まず、ある波長で、受光器8受光面での干渉
が最大となるように光路長微調器12を調節し、その時
の光路長微調器12の調節目盛の位置を記録する。光路
長@囲器12は、光路長をμm単位で工弯節できるよう
なものが用いらnる。ついで、分光器8を操作し、単色
光の波長を変化させ、各波長ごとに最大干渉点の光路長
機 。
調器の目盛の位置を求める。
−そして、測定光の波長の微少・変化量Δλに対する光
路長微調器12の最大干渉位置の変位量;すなわちコつ
の光路の光路長差Δdを求め、このΔdを空気中での光
速度Cで除して遅延時間Δτを求める。
路長微調器12の最大干渉位置の変位量;すなわちコつ
の光路の光路長差Δdを求め、このΔdを空気中での光
速度Cで除して遅延時間Δτを求める。
Δd/c −Δτ ・・・・・・(勺この遅延時
間ΔrVi、多重反射ミラー10側の光路を通る光には
波長分散がないので、被測定ファイバ5の波長分散に起
因した波長変化碕Δλに対応する光の伝播時間の変化量
になる。この遅延時間Δτから、波長分散Sは、 S−一Δr/lλ/L ・・・・・・(2)で求めらn
る。
間ΔrVi、多重反射ミラー10側の光路を通る光には
波長分散がないので、被測定ファイバ5の波長分散に起
因した波長変化碕Δλに対応する光の伝播時間の変化量
になる。この遅延時間Δτから、波長分散Sは、 S−一Δr/lλ/L ・・・・・・(2)で求めらn
る。
ここでLは被測定ファイバの長さでおる。
ところで、このよつな従来の測定装置にあっては、干渉
計の一方の光路が多重反射ミラーで構成さnているため
、fc貴全全体大型化し、かつ機械的芸動に非常に鋭敏
である欠点があった。すなわち、被測定ファイバ5の長
さは、通常l〜31とさnることから、こnに対応する
多重反射ミラー10の光路長は約lり〜IAり1となっ
てしまい、多重反射ミラー10を非常に大型とする必要
が生じる。また、被測定ファイバ10のコア径、伝播モ
ードの広がり、ファイバlO端面から放射さnる元の広
がり角(NA)などが小さいので、二つの光を十分に干
渉させるには、測定系の取扱が極めて面倒であり、被測
定ファイバlOの端面状態なども測定種度に大きな影4
を与えるなどの問題がめつ九。 ゛ 〔問題点を解決するための手段〕 そこで、この発明にあっては、多重反射ミラーに代えて
波長分散既知の光ファイバを用い、こnを基準として被
測定ファイバの波長分散を相対的に求めるようにし、測
定器全体の光路の多くを光フアイバ化するようにして上
記問題点を解決しt0第1図は、この発明の波長分散測
定器の一列を示すもので、第g図に示し7E従来のもの
と同一溝部分には同一符号を付してその説明を省略する
。
計の一方の光路が多重反射ミラーで構成さnているため
、fc貴全全体大型化し、かつ機械的芸動に非常に鋭敏
である欠点があった。すなわち、被測定ファイバ5の長
さは、通常l〜31とさnることから、こnに対応する
多重反射ミラー10の光路長は約lり〜IAり1となっ
てしまい、多重反射ミラー10を非常に大型とする必要
が生じる。また、被測定ファイバ10のコア径、伝播モ
ードの広がり、ファイバlO端面から放射さnる元の広
がり角(NA)などが小さいので、二つの光を十分に干
渉させるには、測定系の取扱が極めて面倒であり、被測
定ファイバlOの端面状態なども測定種度に大きな影4
を与えるなどの問題がめつ九。 ゛ 〔問題点を解決するための手段〕 そこで、この発明にあっては、多重反射ミラーに代えて
波長分散既知の光ファイバを用い、こnを基準として被
測定ファイバの波長分散を相対的に求めるようにし、測
定器全体の光路の多くを光フアイバ化するようにして上
記問題点を解決しt0第1図は、この発明の波長分散測
定器の一列を示すもので、第g図に示し7E従来のもの
と同一溝部分には同一符号を付してその説明を省略する
。
分光53からの単色光は、集光レンズ14で集光さn念
のち、第1のファイバ型カプラー15の入力端の一方の
ボートに人力さnる。ファイバ型カプラー15は、@2
図に示すように、2本のシングルモード光ファイバA、
Aを平行に接近させて融着してなるものである。第1の
カプラー15で分岐された一方の光束は、カプラー15
の出力端の一方のボートから波長分散が既知の光ファイ
バ(以下、基準ファイバと云う。)16に送らnる。カ
プラー15と基準ファイバ16との接、吠は、原則とし
て基準ファイバ16の取外しがないことから融着接続す
ることが好ましい。基準ファイバ16は、従来の干渉法
によって波長分散が正確に測定さt″L之ものが用いら
nる。ま之、カプラー15の出力端の他方のボートから
の光は、集光レンズ17を経て、波長分散が未知の被測
定ファイバ18に送られる。基準ファイバ16と被測定
ファイバ18との長さはほぼ同じとさn、いずnも約l
〜31程度とさnる。、被測定ファイバ18からの測定
光は光路長微1凋器12に送らnる。被測定ファイバ1
8と集光レンズ17および光路長微調器12との接続は
、コネクターを用いるのが好ましい。
のち、第1のファイバ型カプラー15の入力端の一方の
ボートに人力さnる。ファイバ型カプラー15は、@2
図に示すように、2本のシングルモード光ファイバA、
Aを平行に接近させて融着してなるものである。第1の
カプラー15で分岐された一方の光束は、カプラー15
の出力端の一方のボートから波長分散が既知の光ファイ
バ(以下、基準ファイバと云う。)16に送らnる。カ
プラー15と基準ファイバ16との接、吠は、原則とし
て基準ファイバ16の取外しがないことから融着接続す
ることが好ましい。基準ファイバ16は、従来の干渉法
によって波長分散が正確に測定さt″L之ものが用いら
nる。ま之、カプラー15の出力端の他方のボートから
の光は、集光レンズ17を経て、波長分散が未知の被測
定ファイバ18に送られる。基準ファイバ16と被測定
ファイバ18との長さはほぼ同じとさn、いずnも約l
〜31程度とさnる。、被測定ファイバ18からの測定
光は光路長微1凋器12に送らnる。被測定ファイバ1
8と集光レンズ17および光路長微調器12との接続は
、コネクターを用いるのが好ましい。
基準ファイバ16からの光および被測定ファイバ[8か
らの光は、第2のファイバ型カプラー【9の入力端の2
つのボートに入力さnる。基準ファイバ16と第2のカ
プラー19との接続は同様に融着接続することが好まし
い。第2のファイバ型カプラー19は第1のファイバ型
カプラー15と同様の形式のものである。第2のカプラ
ー19の出力端の一方のボートは、無反射終端とするた
めにマツチングオイル20中に浸漬さCており、他方の
ボートは受光器8の受光面に接続さnている。
らの光は、第2のファイバ型カプラー【9の入力端の2
つのボートに入力さnる。基準ファイバ16と第2のカ
プラー19との接続は同様に融着接続することが好まし
い。第2のファイバ型カプラー19は第1のファイバ型
カプラー15と同様の形式のものである。第2のカプラ
ー19の出力端の一方のボートは、無反射終端とするた
めにマツチングオイル20中に浸漬さCており、他方の
ボートは受光器8の受光面に接続さnている。
次に、この測定器を用いて被測定ファイバ18の波長分
散を求める方法を述べる。
散を求める方法を述べる。
まず、ある波長において光路長微調器12を調節して受
光器8受光面での測定光と基準光との干渉が最大となる
光路長*−J4器12のツマミの位置を記録する。この
ツマミの変化に対する受光器8の出力は第3図に示すよ
うに変化する。
光器8受光面での測定光と基準光との干渉が最大となる
光路長*−J4器12のツマミの位置を記録する。この
ツマミの変化に対する受光器8の出力は第3図に示すよ
うに変化する。
ついで、分光器3を操作して単色光の波長を例えば//
−17μ島の範囲で変えて同様に最大干渉点が生ずる光
路長微調器12のツマミの位置を求めてゆく。多数の波
長に対して最大干渉点を示す光路長微調器L2の位置を
プロットすると、第9図に示すようなグラフが得らnる
。この光路長機v14器12の位置は、被測定ファイバ
18中の光の伝送時間が基準ファイバ16のそれに比べ
て相対的にどのaK、!!S延しているかを、空気中の
光の伝播時間を基準として見たものに相当している。
−17μ島の範囲で変えて同様に最大干渉点が生ずる光
路長微調器12のツマミの位置を求めてゆく。多数の波
長に対して最大干渉点を示す光路長微調器L2の位置を
プロットすると、第9図に示すようなグラフが得らnる
。この光路長機v14器12の位置は、被測定ファイバ
18中の光の伝送時間が基準ファイバ16のそれに比べ
て相対的にどのaK、!!S延しているかを、空気中の
光の伝播時間を基準として見たものに相当している。
第9図のグラフから、波長の変化量Δλに対応する光路
長微調512の位置の変位漬Δdを求め、こnから(1
)式を用いて、相対遅延時間Δr′を求める。相対遅延
時間Δτ′を波長に対してプロットすると第j図に示す
グラフが得らnる。相対遅延時間Δr′に基準ファイバ
16の遅延時間Δτ。を加算し、被測定ファイバL8の
遅延時間Δτの波長依存性を求め、第6図に示すような
グラフを得る。
長微調512の位置の変位漬Δdを求め、こnから(1
)式を用いて、相対遅延時間Δr′を求める。相対遅延
時間Δτ′を波長に対してプロットすると第j図に示す
グラフが得らnる。相対遅延時間Δr′に基準ファイバ
16の遅延時間Δτ。を加算し、被測定ファイバL8の
遅延時間Δτの波長依存性を求め、第6図に示すような
グラフを得る。
最後に、遅延時間Δτの波長依存性を波長で微分して、
第7図に示すような波長分散が求めらnる。
第7図に示すような波長分散が求めらnる。
このような波長分散71411定器にあっては、その光
路の大部分がファイバ化さnているので、光軸等の狂い
が生じることがなく、測定系全体が振動や外乱に対して
非常に強いものとなゆ、測定系の大幅な安定化が図nる
。特に、単色光の分岐および 4合流にファイバ廻カ
プラーを用いたことにより安定で低損失の分岐、合流が
可能であり、さらに基準ファイバとM着接続できること
から接続損失等が少なく、高感反の測定も可能となる。
路の大部分がファイバ化さnているので、光軸等の狂い
が生じることがなく、測定系全体が振動や外乱に対して
非常に強いものとなゆ、測定系の大幅な安定化が図nる
。特に、単色光の分岐および 4合流にファイバ廻カ
プラーを用いたことにより安定で低損失の分岐、合流が
可能であり、さらに基準ファイバとM着接続できること
から接続損失等が少なく、高感反の測定も可能となる。
ま九、基準ファイバは、−旦測定系に装着した後はほと
んど経時変化がなく、半永久的に便用可能である。
んど経時変化がなく、半永久的に便用可能である。
なお、光路長微調器L2は、基準ファイバ16測の光路
に設けることもできる。この場合、基準ファイバ16と
被測定ファイバ18との長さを微かに調整する必要が生
じる。
に設けることもできる。この場合、基準ファイバ16と
被測定ファイバ18との長さを微かに調整する必要が生
じる。
以上説明したように、この発明の波長分散測定器は、マ
ツハツエンダ型干渉計の一方の光路に波長分散特性既刊
の光ファイバを、他方の光路に波長分散特性未知の光フ
ァイバを配し、いず汎か一方の光路に光路長微調器を設
けたものであるので、測定糸の光路の多くの部分が光フ
アイバ化さn。
ツハツエンダ型干渉計の一方の光路に波長分散特性既刊
の光ファイバを、他方の光路に波長分散特性未知の光フ
ァイバを配し、いず汎か一方の光路に光路長微調器を設
けたものであるので、測定糸の光路の多くの部分が光フ
アイバ化さn。
こ1によって測定系が機成的振動や外乱に対して、極め
て強いものとなυ、安定した測定が行える。
て強いものとなυ、安定した測定が行える。
第1図はこの発明の波長分散測定器の一例を示す概略構
成図、第2図は、この発明の波長分散測定器に用いらn
るファイバ型カプラーの例を示すa略斜視図、第3図は
、光路長微調器の實位肴と干渉光の強夏を示すグラフ、
第9図は、光路長微調器の最大干渉点を示す位置の波長
依存性を示すグラフ、第夕図は、相対遅延時間の波長依
存性を示すグラフ、第6図は被測定ファイバの遅延時間
の波長依存性を示すグラフ、第7図は被測定ファイバの
波長分散の波長依存性を示すグラフ、第3図は従来の波
長分散測定器の例を示す概略構成図である。 ■・・・・・・白色光源、8・・・・・・分光23.8
・川・・受光2ま、【2・・・・・・光路長機A5.1
5・・・・・・第1のファイバ型カプラー、16・・・
・・・基工πファイバ、18・・川・破d用定ファイバ
、19・・・・・・第2のファイバラ慧カプラー〇
成図、第2図は、この発明の波長分散測定器に用いらn
るファイバ型カプラーの例を示すa略斜視図、第3図は
、光路長微調器の實位肴と干渉光の強夏を示すグラフ、
第9図は、光路長微調器の最大干渉点を示す位置の波長
依存性を示すグラフ、第夕図は、相対遅延時間の波長依
存性を示すグラフ、第6図は被測定ファイバの遅延時間
の波長依存性を示すグラフ、第7図は被測定ファイバの
波長分散の波長依存性を示すグラフ、第3図は従来の波
長分散測定器の例を示す概略構成図である。 ■・・・・・・白色光源、8・・・・・・分光23.8
・川・・受光2ま、【2・・・・・・光路長機A5.1
5・・・・・・第1のファイバ型カプラー、16・・・
・・・基工πファイバ、18・・川・破d用定ファイバ
、19・・・・・・第2のファイバラ慧カプラー〇
Claims (2)
- (1)マツハツエンダ型干渉計を有してなる波長分散測
定器において、このマツハツエンダ型干渉計の一方の光
路に波長分散特性既知の光ファイバを、他方の光路に波
長分散特性未知の光ファイバをそれぞれ配し、いずれか
一方の光路に光路長微調器を設けたことを特徴とする光
ファイバの波長分散測定器。 - (2)マツハツエンダ型干渉計の光の分岐、合流用素子
にファイバ型カプラーを用いたことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の光ファイバの波長分散測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14769886A JPS633236A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 光フアイバの波長分散測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14769886A JPS633236A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 光フアイバの波長分散測定器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS633236A true JPS633236A (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15436237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14769886A Pending JPS633236A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 光フアイバの波長分散測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS633236A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63285442A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-22 | Anritsu Corp | 波長分散測定器 |
US5973816A (en) * | 1997-08-28 | 1999-10-26 | Fujitsu Limited | Method and apparatus of driving an optical modulator to measure, and compensation for dispersion in an optical transmission line |
US6081335A (en) * | 1997-06-25 | 2000-06-27 | Nec Corporation | Phase difference measuring device with visible light source for providing easy alignment of optical axes and method therefor |
CN108692749A (zh) * | 2018-04-27 | 2018-10-23 | 天津大学 | 基于偏振干涉的马赫-曾德干涉仪光程差测量装置及方法 |
-
1986
- 1986-06-24 JP JP14769886A patent/JPS633236A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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