JP3966738B2 - 多孔質セラミック材の製造方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材の製造技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
混合ガス中から目的のガス成分（気体分子）を分離するためのガス分離材、液体を濾過・浄化するための濾過材、あるいは、触媒その他の機能性化合物を固定するための担体として、種々の多孔質セラミック材が用いられている。特にガス分離用途や分子篩い等の高性能濾過用途として、平均孔径がｎｍレベルにある極めて微細なミクロ細孔を有するセラミック材が必要である。
従来、かかる要求を満たす多孔質セラミック材として、シリカ質のものが用いられている。例えば特開平１０−８５５６８号公報には、高いガス透過速度とガス選択透過性を有する平均孔径が１ｎｍ内外の多孔質シリカ膜が開示されている。
【０００３】
ところで、そのようなミクロ細孔を主体とする多孔質性のセラミック材をガス分離材（例えばガス分離膜）、濾過器等に適用する場合、その使用環境によっては、高レベルの耐熱性（熱的強度）が要求される。
例えば、自動車の排ガスその他の高温燃焼ガス中から所定の気体分子（ＮＯＸ等）を除去するためのガス分離材としては、高温条件下（例えば４００℃以上、好ましくは６００℃以上）においても常温（典型的には１００℃以下）で使用したときと同様の高いガス分離特性（即ち高いガス透過速度やガス選択透過性）が必要である。
また、メタン等の水素元素を含む気体分子を改質した混合ガスから水素を選択的に分離し得る水素分離用セラミック材（水素分離膜）として、耐熱性の高いもの即ち高温条件下（例えば４００℃以上、好ましくは６００℃以上）においても常温時と同様の高い水素分離特性を備えたものが望まれている。高温条件下での改質及び水素分離プロセスをきわめて効率的に行うためである。
しかし、上述のシリカから成る多孔質セラミック材は、このような高温条件下での使用に不向きである。すなわち、シリカから成る多孔質膜は、６００℃以上の高温条件下において細孔が消失し易く、スチームリフォーミングに使用する場合には水分によって劣化し易いという欠点がある。なお、水素分離膜としてはパラジウム膜が利用されているが、コスト高であり、耐熱性及び耐久性も十分ではない。
【０００４】
一方、かかる高温条件下での使用に好ましいものとして、Ｓｉ−Ｃ結合、Ｓｉ−Ｎ結合等を主体に構成された非酸化物系の耐熱性セラミックスから成る多孔質セラミック材が開発されている。
例えば特開平８−１０４５８０号公報（米国特許第５,６４３,９８７号）、特開平８−１６５１７７号公報（米国特許第５,５６３,２１２号）、特表平１０−５００６５５号公報（米国特許第５,６９６,２１７号）、特表２０００−５０７１９８号公報（米国特許第５,８７２,０７０号）には、比較的高温（４００〜５００℃）で使用可能なミクロ細孔に富む非酸化物系多孔質セラミック材及びその製造方法が記載されている。そして、上記の各公報に記載されている従来の多孔質セラミック材よりも高温条件下（例えば６００〜７００℃）で効率よくガス分離や高性能濾過を実現し得る多孔質セラミック材が要望されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、かかる要望に応えるべく創出されたものであり、高温条件下（典型的には４００〜８００℃、特に６００〜７００℃又はそれ以上）においてもミクロ細孔に富む多孔質構造を維持し得る多孔質セラミック材、及びそのような多孔質セラミック材を安定的に製造し得る製造方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
本発明によって提供されるミクロ細孔に富み高耐熱性の多孔質セラミック材を好適に製造し得る方法は、(a).ケイ素を主体とする非酸化物セラミック前駆体を主成分とする焼成用材料であって、実質的にポリシラザン、ポリカルボシラザンおよびポリカルボシランのうちから選択される１種又は２種類以上のケイ素系セラミック前駆体から成る焼成用材料を準備（即ち調製又は入手）する工程と、(b).少なくとも１mol％の水素ガスを含み水素ガス以外のガス成分は不活性ガスから成る雰囲気中で最高焼成温度が４００〜１０００℃の範囲内に設定された条件で上記焼成用材料の上記ケイ素系セラミック前駆体を熱分解し、該ケイ素系セラミック前駆体の熱分解産物から成るＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が２ｎｍ以下である多孔質セラミックスを生成する工程とを包含する。
本発明者は、反応性ガスの一種である水素ガスの存在下で上記焼成用材料を焼成（上記非酸化物セラミック前駆体即ちケイ素系セラミック前駆体の熱分解を伴う）することによって、単位重量当たりの表面積が広く、且つ、ミクロ細孔（ここでは孔径が概ね２ｎｍ以下の開気孔をいう。以下同じ。）に富む多孔質セラミックスを安定して生成し得ることを見出し、本発明を完成した。本発明の製造方法によると、４００℃以上（例えば４００〜８００℃、特に６００〜７００℃）の高温条件下において構造安定性に優れる多孔質セラミック材を製造することができる。
【０００７】
本発明の多孔質セラミック材製造方法として好ましい一つの方法では、上記(b).工程において、焼成用材料の昇温が焼成開始温度域から最高焼成温度まで１０℃／分以下の昇温速度で行われることを特徴とする。
このように昇温速度が制御された焼成プロセスによると、いわゆるメソ細孔（孔径が２ｎｍよりも大きく５０ｎｍ程度までの気孔をいう。）及びそれよりも大きい気孔の生成を抑止し、ミクロ細孔に富む表面積の広い多孔質セラミック材を製造することができる。
【０００８】
また、本発明の多孔質セラミック材製造方法としてさらに好ましい方法は、上記(b).工程において最高焼成温度が４００〜８００℃の範囲内に設定される。より好ましくは最高焼成温度が６００〜７００℃の範囲内（典型的には６５０℃±２０℃）で設定される。
またさらに好ましい方法では、焼成用材料は、その設定された最高焼成温度に至る前の中間温度域（例えば２００〜４００℃）まで昇温された後、その温度域で少なくとも１時間保持されることを特徴とする。より好ましくは２００〜３００℃の温度域で３〜１２時間程度保持される。
かかる焼成プロセスによると、ミクロ細孔に富み全体に均質な多孔質セラミック材を製造することができる。
【０００９】
また、本発明の多孔質セラミック材製造方法としてさらに好ましい方法は、上記(b).工程において生成された多孔質セラミックスを、上記最高焼成温度から１〜２℃／分の冷却速度で１００℃以下（典型的には室温）まで冷却することを特徴とする。
この方法によると、広範囲に欠陥の認められないミクロ細孔構造を有する多孔質セラミック材を安定的に製造することができる。
【００１０】
また、本発明の多孔質セラミック材製造方法として特に好ましい方法では、上記ケイ素系セラミック前駆体として種々のポリシラザン（即ちＳｉ−Ｎ結合を主体に構成された化合物）を用いる。前駆体としてポリシラザン（有機ポリシラザン及び／又は無機ポリシラザン）やその誘導体を使用すると、熱的に安定なＳｉ−Ｎ結合を基本骨格とする多孔質セラミックスを容易に生成することができる。このため、耐熱衝撃性に優れ、ガス分離や高性能濾過（分子篩い等）に適する多孔質セラミック材を製造することができる。
【００１１】
また、本発明は、上述した本発明の製造方法のいずれかにより製造された、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を提供する。本発明によって提供される多孔質セラミック材の一つは、Ｓｉ−Ｎ結合を主体に構成されている。典型的には、ＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が２ｎｍ以下である。
本発明の製造方法によって得られる多孔質セラミック材では、最高焼成温度を６００〜７００℃（好ましくは６５０〜７００℃）又はそれ以上とした場合であっても、表面積が１００ｍ2／ｇ以上（好ましくは３００ｍ2／ｇ以上、典型的には３００〜５００ｍ2／ｇ）であり得、さらにはミクロ細孔の容積（以下、単に「細孔容積」という。）が０．０８ｃｍ3／ｇ以上（好ましくは０．１ｃｍ3／ｇ以上、典型的には０．１５〜０．３ｃｍ3／ｇ）であり得る。
このような構造の多孔質セラミック材は、高温条件下（最高焼成温度付近）でのガス分離処理や高性能濾過処理（分子篩い等）あるいは触媒担体として好適に用いることができる。
本発明によって提供される多孔質セラミック材として好ましいものは、６００〜７００℃で使用するのに適しており、その表面積が３５０ｍ2／ｇ以上（好ましくは４００ｍ2／ｇ以上）である。また、ＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が０．２ｎｍ〜２ｎｍにあり、細孔容積が０．１５ｃｍ3／ｇ以上である。
【００１２】
また、本発明は、積層構造タイプの多孔質セラミック材（以下「多孔質セラミック積層体」という。）を提供する。すなわち、本発明によって提供される多孔質セラミック積層体は、膜状多孔質セラミック層と、該セラミック層を支持する多孔質セラミック支持体とを有している。その膜状セラミック層は典型的にはＳｉ−Ｎ結合を主体に構成されている。好ましくは、その膜状セラミック層における細孔径分布のピーク値又は平均孔径は０．２ｎｍ〜２ｎｍである。さらに好ましくは、その膜状セラミック層における細孔容積は少なくとも０．０５ｃｍ3／ｇ（さらに好ましくは０．１ｃｍ3／ｇ以上）である。
この構成の多孔質セラミック積層体では、膜状セラミック層がＳｉ−Ｎ結合を主体に構成されている結果、４００℃を超えるような高温条件下（典型的には６００〜７００℃）においてもそのミクロ細孔構造を安定に保つことができる。このため、そのような高温条件下でのガス分離処理や高性能濾過処理（分子篩い等）に適している。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施形態を説明する。なお、本明細書において特に言及している内容以外の技術的事項であって本発明の実施に必要な事項は、従来技術に基づく当業者の設計事項として把握され得る。本発明は、本明細書及び図面によって開示されている技術内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。
【００１４】
本発明では、少なくとも１mol％の水素ガスを含み水素ガス以外のガス成分は不活性ガスから成る雰囲気中で、ケイ素を主体とする非酸化物セラミック前駆体を主成分とする焼成用材料を焼成することにより、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を製造する。
ここでケイ素を主体とする非酸化物セラミック前駆体とは、基本骨格（又は主鎖）がＳｉを主体に構成された無機又は有機の化合物であって、高温（例えば４００〜８００℃）で熱分解されることにより、Ｓｉ−Ｎ結合、Ｓｉ−Ｃ結合、Ｓｉ−Ｓｉ結合、Ｓｉ−Ｃ−Ｎ結合、Ｓｉ−Ｎ−Ｂ結合のようなＳｉを主体とする結合によってその基本骨格（主鎖）が構成される非酸化物セラミックスを生成し得る無機又は有機の化合物をいう（以下「ケイ素系セラミック前駆体」と略称する。）。
【００１５】
焼成用材料に含ませるケイ素系セラミック前駆体は、１種のみでもよく或いは２種類以上の前駆体を適宜組み合わせて用いてもよい。
好ましくは、熱分解後に生成されるセラミックスの基本骨格（主鎖）がＳｉ−Ｎ結合の繰返しによって構成され、かかるＳｉ−Ｎ結合に対してＳｉ−Ｃ結合、Ｓｉ−Ｏ結合、Ｓｉ−Ｈ結合等が一部付加されることによって当該生成セラミックスの全体構造（三次元構造）が形成されるように、使用するケイ素系セラミック前駆体を選択する。
特に好ましくは、熱分解によって生成するセラミックス（即ち多孔質セラミック材）中に存在するＳｉ原子数に対するＳｉ−Ｎ結合を形成しているＳｉ原子数の割合が１０％以上であり、好ましくは２０％以上となるように、使用するケイ素系セラミック前駆体の種類や存在比を調節する。かかるＳｉ−Ｎ結合の形成割合が１０％よりも低すぎると、耐熱性又は高温条件下における化学的安定性が低下するため、好ましくない。特に高温且つ水蒸気雰囲気下での使用に適さなくなる虞がある。
【００１６】
本発明の実施に好ましいケイ素系セラミック前駆体としては、種々のポリシラザン、ポリカルボシラザン、ポリカルボシラン等が挙げられる。特に好ましい前駆体は、以下の一般式によって表されるポリシラザンである。典型的には式中のＲ１，Ｒ２，Ｒ３は、それぞれ、水素または炭素数が１〜１０である脂肪族系若しくは芳香族系の炭化水素基である。
【００１７】
【化１】
【００１８】
ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を製造するのに好適なポリシラザンは、一例を挙げれば以下のように調製することができる。すなわち、ジハロシラン（Ｒ１ＳｉＨＸ２）或いは当該ジハロシランと他のジハロシラン（Ｒ２Ｒ３ＳｉＸ２）との混合物をアンモニアと反応させることによってシラザンオリゴマーを得る。次いで、塩基性触媒の存在下で当該シラザンオリゴマーの脱水素反応を起こさせる。これにより、ケイ素原子に隣接する窒素原子の脱水素が行われ、結果、シラザンオリゴマーが相互に脱水素架橋して成るポリシラザンを生成することができる。なお、この生成プロセスに使用されるジハロシランの好ましいものは、上記Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３が、それぞれ、水素、炭素数が１〜６の低級アルキル基、置換アリル基、非置換アリル基、炭素数が６〜１０の非置換アリール基、トリアルキルアミノ基、ジアルキルアミノ基のいずれかである。或いは、Ｒ１は水素であり、Ｒ２およびＲ３が上記列挙した官能基のいずれかである。このときＲ１、Ｒ２およびＲ３は全て同じ基でもよく、相互に異なる基でもよい。なお、上記ジハロシランの式中のＸはハロゲン基である。
また、市販されているポリシラザン（例えばチッソ（株）から購入できる）を好適に使用することができる。ポリシラザンの熱分解によって、Ｓｉ−Ｎ結合主体の繰返し構造を基本骨格とする耐熱性の高い（ミクロ細孔に富むがメソ細孔以上の孔径の細孔は顕著に少ない）多孔質セラミック材を容易に形成することができる。
【００１９】
なお、使用するポリシラザン等のケイ素系セラミック前駆体の分子量に特に制限はないが、粘性制御等の観点から、重量平均分子量で２００〜１００,０００程度のものが好ましい。重量平均分子量が略１,０００〜２０,０００のケイ素系セラミック前駆体が特に好ましい。
【００２０】
本発明の製造方法で用いられる焼成用材料は、その主成分たるケイ素系セラミック前駆体を含むものであればよく、その形態について特に限定はない。用いるケイ素系セラミック前駆体の性状に応じて焼成用材料の形態は適宜異なり得る。例えば、溶融したケイ素系セラミック前駆体のみから実質的に構成されたものであってもよい。典型的には、焼成用材料は、ケイ素系セラミック前駆体を所定の溶媒に溶解又は分散した形態に調製される。上述したようなポリシラザンを溶解するための溶媒として種々の有機溶媒が用いられる。ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族系溶媒、ジオキサン、テトラヒドロフラン、ジブチルエーテル等のエーテル系溶媒が適当である。溶液（焼成用材料）中のポリシラザンの濃度は特に限定されないが、粒状やフレーク状の多孔質セラミック材を製造する場合には、１０質量％〜８０質量％程度が適当であり、２０質量％〜７０質量％程度が好ましい。また、後述するようなディップコーティング法等によって支持体表面にポリシラザンから成る被膜を形成するには、溶液（焼成用材料）中のポリシラザンの濃度は０．５質量％〜４０質量％程度が適当であり、１質量％〜２５質量％程度が好ましい。
【００２１】
所望する形状の多孔質セラミック材を製造するため、熱分解する前に焼成用材料を目的の形状に成形する。典型的には粒状や膜状（種々の多孔質支持体の表面に形成される）に製造されるが、これらの他にも用途に応じてシート状、プレート状、管状その他の立体的形状をとり得る。例えば本発明に従って製造された多孔質セラミック材をガス分離用モジュールとしてリアクター（反応器）に適用する場合、とり得る形状としては膜形状（支持体付き）、管形状、モノリス形状、ハニカム形状、多角形平板形状等が挙げられる。なお、かかる成形を行う手段は、当該分野で従来から普通に採用されている手段を適宜用いればよい。例えば、押出し成形、鋳込み成形、テープ成形、ＣＩＰ成形のような周知の成形技法によって得ることができる。また、溶融状態のケイ素系セラミック前駆体又はペースト若しくはスラリー状に調製された焼成用材料と適当な押出機や紡績機を用いることによって、繊維状に成形することができる。また、ディップコーティング法等により適当な多孔質支持体の表面に焼成用材料を付着させることによって、膜状に成形することができる。
【００２２】
粒状、フレーク状、その他所望する形状に成形された焼成用材料（ケイ素系セラミック前駆体から成る成形体）を次に焼成（熱分解）する。
本発明では、焼成処理（熱分解のための加熱を開始したときから熱分解後に生成したセラミックスの冷却が完了するまでの期間）の間中、或いは、少なくとも最高焼成温度まで加熱して冷却を開始するまでの間、水素ガス（Ｈ2）の存在下にケイ素系セラミック前駆体成形体及び／又は生成セラミックスを配置しておく。かかる雰囲気中の水素ガスの濃度は少なくとも１mol％であり、典型的には５mol％以上（５〜１００mol％）である。１０mol％以上が好ましく、２０mol％以上が特に好ましい。１０〜６０mol％程度の水素ガスを含む雰囲気中で前駆体を焼成することにより、十分な表面積とミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を製造し得る。
【００２３】
焼成処理を行う際の雰囲気の水素ガス以外のガス成分としては不活性ガスが好ましい。例えば窒素（Ｎ2）、ネオン（Ｎｅ）、ヘリウム（Ｈｅ）、アルゴン（Ａｒ）が挙げられる。例えば、水素ガス１５〜５０mol％、窒素、ヘリウム等の不活性ガス５０〜８５mol％の混合ガス雰囲気中でポリシラザン等のケイ素系セラミック前駆体を焼成するのが好ましい。
【００２４】
水素ガス存在下で行うケイ素系セラミック前駆体の熱分解を伴う焼成では、概ね４００〜８００℃の範囲内で最高焼成温度を設定するのがよい。セラミック前駆体として、ポリシラザン類を用いる場合には、７００℃以下、好ましくは６００〜７００℃（例えば６５０±２０℃）の範囲に最高焼成温度を設定することが好ましい。かかる範囲に最高焼成温度があると、耐熱性が高く、且つ、ミクロ細孔に富む（即ち細孔容積が大きい）多孔質セラミック材を形成することができる。このような多孔質セラミック材は、当該最高焼成温度付近（例えば６５０〜７００℃）で使用するガス分離材、濾過材又は触媒担体として好適である。
【００２５】
ケイ素系セラミック前駆体の熱分解は、水素ガス含有雰囲気中、好ましくは一定の昇温速度（典型的には１０℃／分以下）で当該前駆体（成形体）を徐々に加熱することにより行われる。０．５〜３．０℃／分程度が好ましく、１〜２℃／分程度（多少の誤差は許容される）の昇温速度がさらに好ましい。昇温速度が速すぎると、メソ細孔の成長を促すため、好ましくない。他方、昇温速度が遅すぎると、焼成プロセスに時間がかかりすぎて効率的でない。
【００２６】
また、例示したような昇温速度でセラミックス前駆体（成形体）の加熱を行っている途中において、最高焼成温度に達する以前の中間温度域で当該前駆体を一時的に保持することが好ましい。これにより、全体に均質にミクロ細孔に富むセラミック材を安定して製造することができる。
例えば、室温から６５０℃程度の最高焼成温度まで約１℃／分の昇温速度で前駆体（成形体）を加熱する場合、２００〜４００℃（ポリシラザンの場合２５０±２５℃が特に好適である。）の間で設定される中間保持温度で少なくとも１時間（好ましくは３〜１２時間、特に好ましくは８〜１２時間）当該前駆体を保持する。かかる焼成プロセスによると、ミクロ細孔に富み全体に均質な多孔質セラミック材を製造することができる。
なお、中温温度域での保持は、１回に限られない。２回又は３回以上行ってもよい。例えば、最高焼成温度を８００℃に設定した場合、室温から２５０℃まで約１℃／分の昇温速度で前駆体（成形体）を加熱し、その温度で約３時間保持する。次いで、５００℃まで約１℃／分の昇温速度で当該前駆体を加熱し、その温度で約３時間保持させた後に最高焼成温度まで同様の昇温速度で加熱してもよい。
【００２７】
最高焼成温度に達した後は、その温度域（典型的には最高焼成温度±２５℃）で対象物（即ち熱分解により生成したセラミックス）を所定時間保持する。これにより、熱分解の結果生じた生成物の緩やかな拡散を促すことができる。好ましい保持時間は、０．５〜５時間（典型的には１〜２時間）である。
最高焼成温度域で所定時間保持した後、１００℃以下、典型的には室温域（５〜３５℃）まで生成セラミックスを冷却する。実質的に欠陥の認められないミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を得るためには、徐々に冷却するとよい。例えば、０．５〜５．０℃／分程度の冷却速度が適当であり、１〜２℃／分程度（多少の誤差は許容される）の冷却速度が好ましい。
【００２８】
以下、図面を参照しつつ、多孔質セラミック材製造方法の一好適例を説明する。本実施形態に係る多孔質セラミック材製造方法を実施するための製造装置１００を図１に模式的に示す。
この製造装置１００は円筒形状の焼成用加熱炉（マッフル炉）１０１を備えており、その炉内には水素ガスと不活性ガスとから成る混合ガスが連続的に所定の流量（流速）で供給される（図中の矢印参照）。すなわち、加熱炉１０１のガス導入側には、混合バルブ１０６を介して、不活性ガス供給源（ここではＮ2タンク又はＨｅタンク）１０２と水素ガス供給源（ここではＨ2タンク）１０４とが接続されている。これらガス供給源１０２，１０４にはそれぞれ電磁バルブ１０３ａ，１０３ｂと流量計１０８ａ，１０８ｂが接続されている。これら電磁バルブ１０３ａ，１０３ｂと流量計１０８ａ，１０８ｂは、制御部１０５と電気的に接続されている。一方、加熱炉１０１のガス排出側には、制御部１０５と電気的に接続されたポンプ１１０が接続されている。
この構成によって本製造装置１００では、制御部１０５を作動させ、流量計１０８ａ，１０８ｂからの入力データに基づいて各ガス供給源１０２，１０４からのガス流量を調整し（即ち電磁バルブ１０３ａ，１０３ｂの開閉制御を行う）、所定のモル比及び流量（流速）の混合ガスを加熱炉１０１内に導入することができる。また、制御部１０５は加熱炉１０１に装備される加熱器１０１ａ（典型的にはガス燃焼装置）とも電気的に接続されており、制御部１０５からの操作信号によって加熱器１０１ａをオンオフ制御して炉内の温度を適宜調節することができる。
【００２９】
このような製造装置１００を用いて、例えば粒状の多孔質セラミック材を製造する場合の一例を以下に説明する。
ポリシラザンその他のケイ素系セラミック前駆体を適当な溶媒（トルエン等）中に溶解又は分散させて成る焼成用材料１２０を加熱炉１０１内に収容する。焼成処理（熱分解処理）中はポンプ１１０を作動させ、水素を含む混合ガス（例えばＨ2５０mol％、Ｎ2５０mol％）を所定の流量（典型的には５〜１０００ｍｌ／分）で炉内に供給し続ける。
【００３０】
そして、制御部１０５からの操作信号によって加熱器１０１ａを作動し、その加熱の程度を制御する。例えば、室温状態にある加熱炉１０１内を略１℃／分の割合で２５０℃まで昇温する。その後、その温度で３〜１０時間保持する。次いで、加熱炉１０１内を略１℃／分の割合で最高焼成温度（例えば６５０〜７００℃）まで昇温し、炉内のセラミック前駆体１２０を熱分解する。好ましくは、最高焼成温度を１〜２時間保持する。そして、略１℃／分の割合で炉内を徐々に冷却する。この冷却速度による冷却は、炉内が１００℃以下（典型的には室温）になるまで行う。
このような焼成プロセスの実施によって、平均孔径又はＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値が２ｎｍ以下（好ましくは０．５〜１ｎｍ）、表面積が３５０ｍ2／ｇ以上（好ましくは４００ｍ2／ｇ以上）、細孔容積が０．１５ｃｍ3／ｇ以上の粒状多孔質セラミック材が得られ得る。
【００３１】
次に、ミクロ細孔に富む多孔質膜が多孔質支持体の表面に層状に形成された多孔質セラミック積層体の好適な製造例を説明する。
本発明の実施によって製造される多孔質セラミック積層体は、ケイ素系セラミック前駆体の熱分解産物から成る膜状多孔質セラミック層とそれを支持する多孔質セラミック支持体とを有する他、耐熱性や耐熱衝撃性を損なわない限りにおいて、さらなる層位を有するものであってもよい。例えば、上記セラミック層と多孔質セラミック支持体との間に、他の多孔質膜層を形成してもよい。かかる膜層を支持体中に浸透させずに多層化することにより、ガス分離能を向上させることができる。例えば、水素／窒素の透過係数（比）を１５以上にし得る。
【００３２】
セラミック支持体の孔径はガス分離や濾過性能に影響を与えない限り特に限定されないが、膜状セラミック層における平均孔径よりも大きな平均孔径を有するものが適当である。０．０１μｍ〜１０μｍ程度の細孔径分布のピーク値及び／又は平均孔径を有する多孔質体が支持体として好ましい。また、孔隙率は３０〜６０％が適当であり、好ましくは３５〜５０％である。
また、製造される多孔質セラミック積層体における支持体（支持層）の厚みは、所定の機械的強度を保持しつつ膜状セラミック層を支持し得る限り、限定されない。例えば、膜状多孔質セラミック層の厚みが０．５〜５μｍである場合には、多孔質セラミック支持体の厚みとしては１００μｍ〜１０ｍｍ程度が好適である。なお、支持体の機械的強度は形状によって変化するし、当該機械的強度に対する要求も用途に応じて異なるため特に限定するものではないが、６００〜８００℃における３点曲げ強度（ＪＩＳ Ｒ１６０１に準じる）が３０ＭＰａ以上（より好ましくは６０ＭＰａ以上、さらに好ましくは９０ＭＰａ以上）である機械的強度を具備するように、支持体の平均孔径や孔隙率を設定するのが好ましい。また、所望する機械的強度を保持し得る限り、支持体の材質や形状（即ち積層体全体の形状を規定する）は特に限定されない。用途に応じて種々の形状をとり得る。例えばセラミック積層体をガス分離用モジュールとして改質器等のリアクターに適用する場合の形状としては、薄板形状、管形状、モノリス形状、ハニカム形状、多角形平板形状その他の立体形状が包含される。これら形状はいずれも押出し成形、鋳込み成形、テープ成形、ＣＩＰ成形のような周知の成形技法によって得ることができる。
【００３３】
好ましい多孔質セラミック積層体は、窒化ケイ素から成る多孔質支持体の表面にポリシラザンから成る多孔質膜の膜が形成されたものである。この組み合わせによると、支持体とその表面の膜とが共にＳｉ−Ｎ結合主体の繰返し構造（即ちシラザン骨格）を基本骨格とする。このため、６００℃を越えるような高温条件下においてもそのミクロ細孔構造を安定に保つことができる。さらに、支持体と膜との間で熱収縮率／熱膨張率に顕著な差異がなく、高い耐熱衝撃性を実現し得る。すなわち、急激な温度変化に曝された場合であっても、膜状多孔質セラミック層の熱的剥離やクラックの発生の頻度を顕著に低減させることができる。従って、かかる耐熱性及び耐熱衝撃性を実現した多孔質セラミック積層体は、高温条件下や使用環境の温度が変動するような条件下でのガス分離処理や高性能濾過処理（分子篩い等）に適している。
【００３４】
このように、本発明によって提供され得る多孔質セラミック積層体は、高温条件下における分子篩い等の高性能濾過或いはガス分離用途に好適に用いられる。特に限定するものではないが、ガス分離に用いる場合にはセラミック膜の厚さは１００μｍ以下が適当である。かかる膜厚が０．０１〜５０μｍのものが好ましく、０．０５〜５０μｍのものが特に好ましい。
また、改質ガスその他の混合ガスから水素ガスを分離するのに使用する膜としては、４００℃（好ましくは６００℃、より好ましくは８００℃）における水素／窒素分離係数が少なくとも２（好ましくは２．５以上）であり、同温度における水素透過率が少なくとも１×１０-10モル／m2・s・Pa（特に好ましくは１×１０-7モル／m2・s・Pa以上）となる膜厚のものが好ましい。かかる性状の多孔質セラミック膜によると、高温腐食環境条件下においても比較的高い水素透過速度及び水素分離能（水素選択性）を保持しつつ、効率よく水素分離処理を行うことができる。
特に好適な水素分離膜は、６００℃における水素／窒素分離係数が３．０以上（典型的には３．０〜２００,０００の範囲にある）であり、且つ、同温度における水素透過率が１×１０-10モル／m2・s・Pa以上（典型的には１×１０-10〜１×１０-7の範囲にある）のものである。また、２０℃〜８００℃の温度条件における水素／窒素分離係数がいずれも３．０以上（典型的には３．０〜２００,０００の範囲にある）、且つ、同温度範囲における水素透過率がいずれも１×１０-10モル／m2・s・Pa以上（典型的には１×１０-10〜１×１０-7の範囲にある）のものが更に好ましい。本発明によると、これらの条件を満たす水素分離膜を提供することが可能である。
ここで「水素／窒素分離係数」とは、同条件下における水素透過率と窒素透過率との比率、即ち同条件下での水素ガス透過量の窒素ガス透過量に対する比（モル比）をいう。ここで「水素透過率（モル／m2・s・Pa）」及び「窒素透過率（モル／m2・s・Pa）」は、それぞれ、差圧（多孔質セラミック膜を挟んでガス供給側圧力とガス透過側圧力との差）が１Ｐａであるときの単位時間（１秒）及び単位膜表面積（１m2）当りの水素ガス透過量（モル）および窒素ガス透過量（モル）で表される。
【００３５】
窒化ケイ素、アルミナ等から成る多孔質セラミック支持体の表面にポリシラザンその他のケイ素系セラミック前駆体の被膜を形成する方法としては、従来の薄膜形成プロセスにおいて用いられる各種の方法を採用することができる。例えば、ディップコーティング法、スピンコーティング法、スクリーン印刷法、スプレー法が挙げられる。
特にディップコーティング法では、ケイ素系セラミック前駆体を含む溶液（焼成用材料）の多孔質セラミック支持体内部への浸透を抑制でき、さらには熱分解に伴うガス発生、キャピラリー圧力、焼成収縮等による微細構造の破壊を抑制するのに寄与し得る。このため、特にディップコーティング法は、欠陥の無い多孔質セラミック層を支持体表面に直接的に形成するのに好適な方法である。
【００３６】
このようにして支持体表面にケイ素系セラミック前駆体の被膜を形成して乾燥（典型的には空気、窒素ガス、水素ガス雰囲気中で行う）した後、例えば上述した製造装置１００の加熱炉１０１内に当該被膜形成支持体を配置する。而して、上記のような焼成プロセスに従って支持体ごと焼成し、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック膜を形成することができる。
一例を挙げると、１００ｎｍ程度の平均孔径を有するアルミナ、窒化ケイ素等のセラミック多孔質体を、ポリシラザンの濃度が１〜２５質量％であり残部がトルエンから成る分散液又は溶液（焼成用材料）中にディップ（浸漬）する。かかるディップコーティングの処理時間は、数秒乃至１分程度でよい。５〜３０秒程度が好ましい。そして、ディップ処理された支持体は、乾燥後、水素ガス存在下で上述したような焼成プロセスに基づき焼成（熱分解）処理される。上述したような製造装置１００が好適に使用し得る。
【００３７】
【実施例】
以下に説明する実施例によって、本発明を更に詳細に説明するが、本発明をかかる実施例に示すものに限定することを意図したものではない。
【００３８】
＜実施例１：粒状多孔質セラミック材の製造（１）＞
市販のポリシラザン含有スラリー（チッソ（株）製品「ＮＣＰ２０１」、ポリシラザン６０質量％、トルエン４０質量％、ポリシラザンの数平均分子量：１３００）を使用して、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
すなわち、上述の図１に示す製造装置１００の加熱炉１０１内に、アルミナ製容器に入れた上記ポリシラザン含有スラリーを配置し、室温で３０分間保持した。なお、ポリシラザン含有スラリーを炉内に配置後、以下の焼成プロセスが終了するまで、加熱炉１０１内にはＨ2５mol％とＮ2９５mol％とから成る混合ガスを１００ｍｌ／分の流量で供給し続けた。次いで、以下のスケジュールで炉内のポリシラザン含有スラリーを熱処理（焼成処理）し、トルエンを蒸発させると共にポリシラザンを熱分解した。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で１０時間保持し、(3).２５０℃から６５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).６５０℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).６５０℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。
これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００３９】
＜実施例２：粒状多孔質セラミック材の製造（２）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、焼成スケジュールは以下のとおりである。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で３時間保持し、(3).２５０℃から７００℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).７００℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).７００℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４０】
＜実施例３：粒状多孔質セラミック材の製造（３）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2６mol％及びＮ2９４mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４１】
＜実施例４：粒状多孔質セラミック材の製造（４）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2１５mol％及びＮ2８５mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４２】
＜実施例５：粒状多孔質セラミック材の製造（５）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2２０mol％及びＨｅ８０mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４３】
＜実施例６：粒状多孔質セラミック材の製造（６）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2５０mol％及びＮ2５０mol％とした。また、焼成スケジュールは以下のとおりである。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で１０時間保持し、(3).２５０℃から７００℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).７００℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).７００℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４４】
＜実施例７：粒状多孔質セラミック材の製造（７）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2５０mol％及びＮ2５０mol％とした。また、焼成スケジュールは以下のとおりである。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で１０時間保持し、(3).２５０℃から７００℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).７００℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).７００℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４５】
＜実施例８：粒状多孔質セラミック材の製造（８）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2５０mol％及びＮ2５０mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４６】
＜試験例：表面積、細孔容積及び細孔径の測定＞
実施例１〜８で得られた粒状多孔質セラミック材の表面積、細孔容積及び細孔径を次のようにして測定した。
すなわち、上記焼成スケジュールに従って焼成処理を行った後、得られた粒状多孔質セラミック材１００ｇを気密容器内に移し、いわゆる窒素吸着法を実施した。具体的には、液体窒素温度（約７７°Ｋ）でセラミック材の表面に単分子吸着した窒素分子のモル数を求め、その値に基づいて供試セラミック材の表面積（ＢＥＴ比表面積）および細孔容積を算出した。また、ケルビンの式（毛細管凝縮理論）を用いて細孔径分布を求め、そのピーク値を算出した。結果を表１に示す。
【００４７】
【表１】
【００４８】
表１から明らかなように、各実施例で得られた粒状多孔質セラミック材は、その細孔径ピーク値が０．５〜１．０ｎｍにあり、表面積が広い。すなわち、ミクロ細孔に富む。特に最高焼成温度が６５０〜７００℃という高温であるにも関わらず、細孔容積０．１ｃｍ3／ｇ以上であるものが殆どであった。このことは、これら粒状多孔質セラミック材が特にミクロ細孔に富み、６００〜７００℃、典型的には６５０〜７００℃という高温条件下で効率のよいガス分離や高性能濾過を実現し得るセラミック材料であることを示すものである。また、高温条件下で使用するのに好適な触媒担体となり得ることを示すものである。一方、上述した公報に開示されている非酸化物系多孔質セラミック材製造技術では、最高焼成温度を６５０〜７００℃程度にまで高く設定すると、ミクロ細孔の生成が減少し、表１に示すような細孔容積の値を実現できない。
なお、表１から明らかなように、焼成時のガス雰囲気中の水素ガス濃度を高く設定するほど、表面積及び細孔容積が大きい多孔質セラミック材が容易に生成され得る（実施例４〜８）。少なくとも１５mol％の水素ガスを含む雰囲気中でポリシラザンその他のケイ素系セラミック前駆体を焼成することにより、表面積が略４００ｍ2／ｇ又はそれ以上であり、細孔容積が略０．２ｃｍ3／ｇ又はそれ以上である粒状多孔質セラミック材を製造することができる。
【００４９】
＜実施例９：ガス分離膜(ガス分離モジュール)の製造＞
９０重量部の窒化ケイ素粉末と、５重量部のアルミナ粉末と、５重量部のイットリア粉末と、６０重量部の水をアルミナ製ポットに投入し、直径３０ｍｍの玉石を使用して２４時間混合することによってスラリーを調製した。次いで、このスラリーに１５重量部のワックス系有機バインダーと、２重量部のワックスエマルジョンを添加して１６時間混合し、その後スプレードライにより顆粒体を作製した。
得られた窒化ケイ素を主体とするセラミック顆粒体をＣＩＰ（冷間静水圧プレスによる）成形し、管形状（外径：１０ｍｍ、内径：７ｍｍ、長さ：２５０ｍｍ）に生加工した。そして、当該生加工チューブを脱脂後、空気中で１４００℃（最終焼成温度）で焼成し、管形状の窒化ケイ素多孔質体、即ち本実施例に係る多孔質セラミック支持体を得た（後述する図２の符号１４参照）。得られた窒化ケイ素多孔質体の平均孔径は約６０ｎｍ（水銀圧入法による）であった。
【００５０】
一方、ポリシラザン粉末をトルエンに溶解し、超音波攪拌処理を約１時間行い、固形分濃度が２０質量％であるポリシラザン溶液（コーティング液）を調製した。次いで、上記窒化ケイ素多孔質体をディップ法に基づき上記コーティング溶液に約３０秒浸漬した。なお、このディップ処理の際には管形状窒化ケイ素多孔質体の外周面にのみコーティング液が付着するように、当該管形状窒化ケイ素多孔質体の両端開放部を合成樹脂フィルムでラップしておいた。
ディップ処理後、一定の速度で窒化ケイ素多孔質体をコーティング溶液から引き上げ、６０℃で乾燥した。その後、ポリシラザン被膜が外周面に形成された管形状窒化ケイ素多孔質体を上述の図１に示す製造装置１００の加熱炉１０１内に収容した。加熱炉１０１内にＨ2２０mol％とＮ2８０mol％とから成る混合ガスを１００ｍｌ／分の流量で供給し続けた。そして、実施例１と同じ焼成スケジュールで焼成処理を行った。
【００５１】
上記の一連の処理によって、管形状窒化ケイ素多孔質体（多孔質セラミック支持層）の外周面に多孔質セラミック膜（膜状多孔質セラミック層）が形成された多孔質セラミック積層体が得られた。走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）による測定では、この多孔質セラミック膜には、少なくともサブミクロンオーダーの表面欠陥は認められなかった。また、一般的なアルゴン吸着法によって多孔質セラミック膜に存在する細孔の孔径を測定したところ、その細孔径のピーク値は約０．５ｎｍであった。また、その膜厚は、約０．３μｍであった。
【００５２】
＜実施例１０：管形状多孔質セラミック積層体（ガス分離モジュール）のガス分離特性の評価＞
次に、実施例９で得られた管形状多孔質セラミック積層体１０（以下「ガス分離モジュール１０」という。）を用いて改質器１を構築し、当該ガス分離モジュール１０のガス分離特性、即ち水素透過率及び窒素透過率ならびに水素／窒素分離係数を評価した。
先ず、図２に示すような改質器１を作製した。この図に示すように、本実施例に係る改質器１は、大まかにいって、筒状のステンレス製チャンバー２と、ポリシラザン由来の膜状多孔質セラミック層（多孔質セラミック膜）１２を備えた多孔質支持体（窒化ケイ素多孔質体）１４を本体とするガス分離モジュール１０と、改質用触媒１８とから構成されている。
チャンバー２には、別途、ガス供給管３と、ガス排出管４とが設けられている。また、チャンバー２の周囲には図示しないヒーターおよび断熱材が設けられており、チャンバー２内部の温度を室温〜１２００℃の範囲でコントロールすることができる。また、かかるチャンバー２の内部には、ガス分離モジュール１０が配置されており、その周囲の空間部（改質器では水素生成部に相当する部位）２０には、種々の改質用触媒１８を充填することができる。なお、本実施例に係る評価試験では、触媒１８をチャンバー２内に充填せずに行った。
【００５３】
図示されるように、ガス分離モジュール１０の一端は金属製キャップ５によってシールされており、当該端部から中空部１６へのガスの流入を防止している。また、ガス分離モジュール１０の他端側には、ジョイント管３０が取り付けられている。図示するように、ジョイント管３０の開口先端部（透過ガス排出口６）はチャンバー２の外部に露出した状態とした。さらに、ガス分離モジュール１０の外周面における膜状多孔質セラミック層（即ちガス分離膜）１２の端の部分（即ちジョイント管取付部分の近傍）には、高温シール材を挿入してメカニカルシールした。
ジョイント管３０の透過ガス排出口６と接続するガス排出側流路には図示しないガスクロマトグラフが装備されており、そこを流れるガス濃度を測定し、その測定データをコンピュータシステムによって自動バッチ処理で解析することができる。
チャンバー２のガス供給管３は外部ガス又は水蒸気等の供給源に接続しており、当該ガス供給管３を介してチャンバー内の空間部２０に水素、窒素等の測定用ガスや水蒸気を供給することができる。なお、空間部２０のガスはガス排出管４から外部に排出される。
【００５４】
而して、かかる系において、ガス分離モジュール１０の水素透過率、窒素透過率ならびに水素／窒素分離係数を次のようにして評価した。
すなわち、図示しない水素供給源および窒素供給源から所定の流量で水素及び窒素をチャンバー２内に供給した。このとき、ガス分離膜１２の内外の差圧が約２×１０４Ｐａ（約０．２ａｔｍ）となるようにした。なお、かかる評価試験は、先ず室温（約３０℃）で実施し、その後所定の間隔でチャンバー２内の温度を５０℃、１００℃、そして１５０℃へと順次上げていった。このように温度を変更させつつ連続的に試験することで、本実施例に係る改質器１のガス分離モジュール１０について高温時における水素分離特性を評価することができる。
【００５５】
具体的には、適宜ヒーターを作動させてチャンバー２内の温度制御（室温〜１５０℃）を行いつつ、上記差圧を生じさせた状態で水素及び窒素をそれぞれチャンバー２内に供給した。而して、セッケン膜流量計（図示せず）によって透過側（即ち透過ガス排出口６と接続するガス排出側流路）の流速を測定した。なお、水素および窒素それぞれのガス透過率は次の式「Ｑ＝Ａ／（（Ｐｒ−Ｐｐ）・Ｓ・ｔ）」から算出した。ここでＱはガス透過率（permeation:モル/m2・s・Pa）、Ａは透過量（ｍｏｌ）、Ｐｒは供給側即ちチャンバー２内の空間部２０の圧力（Ｐａ）、Ｐｐは透過側即ちガス分離モジュール１０の中空部１６の圧力（Ｐａ）、Ｓは断面積（ｍ２）、ｔは時間（秒：ｓ）を表す。また、水素／窒素透過係数(H2/N2 selectivity)は、水素透過率と窒素透過率との比率すなわち式「α＝ＱＨ２／ＱＮ２」から算出できる。ここでαは水素／窒素透過係数（透過率比）、ＱＨ２は水素透過率、ＱＮ２は窒素透過率を表す。
【００５６】
室温（約３０℃）、５０℃、１００℃及び１５０℃で測定した水素透過率（グラフ中の菱形のプロット）、窒素透過率（グラフ中の丸のプロット）および水素／窒素分離係数（グラフ中の三角のプロット）を図３に示す。
この図（グラフ）から明らかなように、本実施例に係るガス分離モジュール１０は、いずれも２×１０−８モル/m2・s・Paを上回る水素透過率を示すとともに、３．０以上の水素／窒素分離係数を示した。また、本実施例に係るガス分離モジュール１０は、温度の上昇と共に水素透過率が向上した。他方、窒素透過率は僅かに減少した。その結果、１００℃を越える高温条件下（例えば１５０℃）では、５．０以上（ほぼ６）の高い水素／窒素分離係数を示した。この結果は、本発明の多孔質セラミック材（膜）および多孔質セラミック積層体が１５０℃以上（例えば４００℃以上、さらには６００℃以上）の高温条件下でも高い水素ガス分離特性を有することを示唆するものである。
【００５７】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の製造方法を実施する為の製造装置の一例を模式的に示すブロック図である。
【図２】 一実施例に係るガス分離膜（モジュール）を備えた改質器の構造を模式的に示す説明図である。
【図３】 一実施例に係るガス分離膜（モジュール）のガス分離特性を示すグラフである。
【符号の説明】
１ 改質器
１０ ガス分離モジュール（管形状多孔質セラミック積層体）
１２ ガス分離膜（膜状多孔質セラミック層）
１４ 多孔質支持体
１００ 製造装置
１０１ 加熱炉
１０１ａ 加熱器
１０２ 不活性ガス供給源
１０４ 水素ガス供給源
１０５ 制御部
１１０ ポンプ
【発明の属する技術分野】
本発明は、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材の製造技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
混合ガス中から目的のガス成分（気体分子）を分離するためのガス分離材、液体を濾過・浄化するための濾過材、あるいは、触媒その他の機能性化合物を固定するための担体として、種々の多孔質セラミック材が用いられている。特にガス分離用途や分子篩い等の高性能濾過用途として、平均孔径がｎｍレベルにある極めて微細なミクロ細孔を有するセラミック材が必要である。
従来、かかる要求を満たす多孔質セラミック材として、シリカ質のものが用いられている。例えば特開平１０−８５５６８号公報には、高いガス透過速度とガス選択透過性を有する平均孔径が１ｎｍ内外の多孔質シリカ膜が開示されている。
【０００３】
ところで、そのようなミクロ細孔を主体とする多孔質性のセラミック材をガス分離材（例えばガス分離膜）、濾過器等に適用する場合、その使用環境によっては、高レベルの耐熱性（熱的強度）が要求される。
例えば、自動車の排ガスその他の高温燃焼ガス中から所定の気体分子（ＮＯＸ等）を除去するためのガス分離材としては、高温条件下（例えば４００℃以上、好ましくは６００℃以上）においても常温（典型的には１００℃以下）で使用したときと同様の高いガス分離特性（即ち高いガス透過速度やガス選択透過性）が必要である。
また、メタン等の水素元素を含む気体分子を改質した混合ガスから水素を選択的に分離し得る水素分離用セラミック材（水素分離膜）として、耐熱性の高いもの即ち高温条件下（例えば４００℃以上、好ましくは６００℃以上）においても常温時と同様の高い水素分離特性を備えたものが望まれている。高温条件下での改質及び水素分離プロセスをきわめて効率的に行うためである。
しかし、上述のシリカから成る多孔質セラミック材は、このような高温条件下での使用に不向きである。すなわち、シリカから成る多孔質膜は、６００℃以上の高温条件下において細孔が消失し易く、スチームリフォーミングに使用する場合には水分によって劣化し易いという欠点がある。なお、水素分離膜としてはパラジウム膜が利用されているが、コスト高であり、耐熱性及び耐久性も十分ではない。
【０００４】
一方、かかる高温条件下での使用に好ましいものとして、Ｓｉ−Ｃ結合、Ｓｉ−Ｎ結合等を主体に構成された非酸化物系の耐熱性セラミックスから成る多孔質セラミック材が開発されている。
例えば特開平８−１０４５８０号公報（米国特許第５,６４３,９８７号）、特開平８−１６５１７７号公報（米国特許第５,５６３,２１２号）、特表平１０−５００６５５号公報（米国特許第５,６９６,２１７号）、特表２０００−５０７１９８号公報（米国特許第５,８７２,０７０号）には、比較的高温（４００〜５００℃）で使用可能なミクロ細孔に富む非酸化物系多孔質セラミック材及びその製造方法が記載されている。そして、上記の各公報に記載されている従来の多孔質セラミック材よりも高温条件下（例えば６００〜７００℃）で効率よくガス分離や高性能濾過を実現し得る多孔質セラミック材が要望されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、かかる要望に応えるべく創出されたものであり、高温条件下（典型的には４００〜８００℃、特に６００〜７００℃又はそれ以上）においてもミクロ細孔に富む多孔質構造を維持し得る多孔質セラミック材、及びそのような多孔質セラミック材を安定的に製造し得る製造方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
本発明によって提供されるミクロ細孔に富み高耐熱性の多孔質セラミック材を好適に製造し得る方法は、(a).ケイ素を主体とする非酸化物セラミック前駆体を主成分とする焼成用材料であって、実質的にポリシラザン、ポリカルボシラザンおよびポリカルボシランのうちから選択される１種又は２種類以上のケイ素系セラミック前駆体から成る焼成用材料を準備（即ち調製又は入手）する工程と、(b).少なくとも１mol％の水素ガスを含み水素ガス以外のガス成分は不活性ガスから成る雰囲気中で最高焼成温度が４００〜１０００℃の範囲内に設定された条件で上記焼成用材料の上記ケイ素系セラミック前駆体を熱分解し、該ケイ素系セラミック前駆体の熱分解産物から成るＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が２ｎｍ以下である多孔質セラミックスを生成する工程とを包含する。
本発明者は、反応性ガスの一種である水素ガスの存在下で上記焼成用材料を焼成（上記非酸化物セラミック前駆体即ちケイ素系セラミック前駆体の熱分解を伴う）することによって、単位重量当たりの表面積が広く、且つ、ミクロ細孔（ここでは孔径が概ね２ｎｍ以下の開気孔をいう。以下同じ。）に富む多孔質セラミックスを安定して生成し得ることを見出し、本発明を完成した。本発明の製造方法によると、４００℃以上（例えば４００〜８００℃、特に６００〜７００℃）の高温条件下において構造安定性に優れる多孔質セラミック材を製造することができる。
【０００７】
本発明の多孔質セラミック材製造方法として好ましい一つの方法では、上記(b).工程において、焼成用材料の昇温が焼成開始温度域から最高焼成温度まで１０℃／分以下の昇温速度で行われることを特徴とする。
このように昇温速度が制御された焼成プロセスによると、いわゆるメソ細孔（孔径が２ｎｍよりも大きく５０ｎｍ程度までの気孔をいう。）及びそれよりも大きい気孔の生成を抑止し、ミクロ細孔に富む表面積の広い多孔質セラミック材を製造することができる。
【０００８】
また、本発明の多孔質セラミック材製造方法としてさらに好ましい方法は、上記(b).工程において最高焼成温度が４００〜８００℃の範囲内に設定される。より好ましくは最高焼成温度が６００〜７００℃の範囲内（典型的には６５０℃±２０℃）で設定される。
またさらに好ましい方法では、焼成用材料は、その設定された最高焼成温度に至る前の中間温度域（例えば２００〜４００℃）まで昇温された後、その温度域で少なくとも１時間保持されることを特徴とする。より好ましくは２００〜３００℃の温度域で３〜１２時間程度保持される。
かかる焼成プロセスによると、ミクロ細孔に富み全体に均質な多孔質セラミック材を製造することができる。
【０００９】
また、本発明の多孔質セラミック材製造方法としてさらに好ましい方法は、上記(b).工程において生成された多孔質セラミックスを、上記最高焼成温度から１〜２℃／分の冷却速度で１００℃以下（典型的には室温）まで冷却することを特徴とする。
この方法によると、広範囲に欠陥の認められないミクロ細孔構造を有する多孔質セラミック材を安定的に製造することができる。
【００１０】
また、本発明の多孔質セラミック材製造方法として特に好ましい方法では、上記ケイ素系セラミック前駆体として種々のポリシラザン（即ちＳｉ−Ｎ結合を主体に構成された化合物）を用いる。前駆体としてポリシラザン（有機ポリシラザン及び／又は無機ポリシラザン）やその誘導体を使用すると、熱的に安定なＳｉ−Ｎ結合を基本骨格とする多孔質セラミックスを容易に生成することができる。このため、耐熱衝撃性に優れ、ガス分離や高性能濾過（分子篩い等）に適する多孔質セラミック材を製造することができる。
【００１１】
また、本発明は、上述した本発明の製造方法のいずれかにより製造された、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を提供する。本発明によって提供される多孔質セラミック材の一つは、Ｓｉ−Ｎ結合を主体に構成されている。典型的には、ＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が２ｎｍ以下である。
本発明の製造方法によって得られる多孔質セラミック材では、最高焼成温度を６００〜７００℃（好ましくは６５０〜７００℃）又はそれ以上とした場合であっても、表面積が１００ｍ2／ｇ以上（好ましくは３００ｍ2／ｇ以上、典型的には３００〜５００ｍ2／ｇ）であり得、さらにはミクロ細孔の容積（以下、単に「細孔容積」という。）が０．０８ｃｍ3／ｇ以上（好ましくは０．１ｃｍ3／ｇ以上、典型的には０．１５〜０．３ｃｍ3／ｇ）であり得る。
このような構造の多孔質セラミック材は、高温条件下（最高焼成温度付近）でのガス分離処理や高性能濾過処理（分子篩い等）あるいは触媒担体として好適に用いることができる。
本発明によって提供される多孔質セラミック材として好ましいものは、６００〜７００℃で使用するのに適しており、その表面積が３５０ｍ2／ｇ以上（好ましくは４００ｍ2／ｇ以上）である。また、ＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が０．２ｎｍ〜２ｎｍにあり、細孔容積が０．１５ｃｍ3／ｇ以上である。
【００１２】
また、本発明は、積層構造タイプの多孔質セラミック材（以下「多孔質セラミック積層体」という。）を提供する。すなわち、本発明によって提供される多孔質セラミック積層体は、膜状多孔質セラミック層と、該セラミック層を支持する多孔質セラミック支持体とを有している。その膜状セラミック層は典型的にはＳｉ−Ｎ結合を主体に構成されている。好ましくは、その膜状セラミック層における細孔径分布のピーク値又は平均孔径は０．２ｎｍ〜２ｎｍである。さらに好ましくは、その膜状セラミック層における細孔容積は少なくとも０．０５ｃｍ3／ｇ（さらに好ましくは０．１ｃｍ3／ｇ以上）である。
この構成の多孔質セラミック積層体では、膜状セラミック層がＳｉ−Ｎ結合を主体に構成されている結果、４００℃を超えるような高温条件下（典型的には６００〜７００℃）においてもそのミクロ細孔構造を安定に保つことができる。このため、そのような高温条件下でのガス分離処理や高性能濾過処理（分子篩い等）に適している。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施形態を説明する。なお、本明細書において特に言及している内容以外の技術的事項であって本発明の実施に必要な事項は、従来技術に基づく当業者の設計事項として把握され得る。本発明は、本明細書及び図面によって開示されている技術内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。
【００１４】
本発明では、少なくとも１mol％の水素ガスを含み水素ガス以外のガス成分は不活性ガスから成る雰囲気中で、ケイ素を主体とする非酸化物セラミック前駆体を主成分とする焼成用材料を焼成することにより、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を製造する。
ここでケイ素を主体とする非酸化物セラミック前駆体とは、基本骨格（又は主鎖）がＳｉを主体に構成された無機又は有機の化合物であって、高温（例えば４００〜８００℃）で熱分解されることにより、Ｓｉ−Ｎ結合、Ｓｉ−Ｃ結合、Ｓｉ−Ｓｉ結合、Ｓｉ−Ｃ−Ｎ結合、Ｓｉ−Ｎ−Ｂ結合のようなＳｉを主体とする結合によってその基本骨格（主鎖）が構成される非酸化物セラミックスを生成し得る無機又は有機の化合物をいう（以下「ケイ素系セラミック前駆体」と略称する。）。
【００１５】
焼成用材料に含ませるケイ素系セラミック前駆体は、１種のみでもよく或いは２種類以上の前駆体を適宜組み合わせて用いてもよい。
好ましくは、熱分解後に生成されるセラミックスの基本骨格（主鎖）がＳｉ−Ｎ結合の繰返しによって構成され、かかるＳｉ−Ｎ結合に対してＳｉ−Ｃ結合、Ｓｉ−Ｏ結合、Ｓｉ−Ｈ結合等が一部付加されることによって当該生成セラミックスの全体構造（三次元構造）が形成されるように、使用するケイ素系セラミック前駆体を選択する。
特に好ましくは、熱分解によって生成するセラミックス（即ち多孔質セラミック材）中に存在するＳｉ原子数に対するＳｉ−Ｎ結合を形成しているＳｉ原子数の割合が１０％以上であり、好ましくは２０％以上となるように、使用するケイ素系セラミック前駆体の種類や存在比を調節する。かかるＳｉ−Ｎ結合の形成割合が１０％よりも低すぎると、耐熱性又は高温条件下における化学的安定性が低下するため、好ましくない。特に高温且つ水蒸気雰囲気下での使用に適さなくなる虞がある。
【００１６】
本発明の実施に好ましいケイ素系セラミック前駆体としては、種々のポリシラザン、ポリカルボシラザン、ポリカルボシラン等が挙げられる。特に好ましい前駆体は、以下の一般式によって表されるポリシラザンである。典型的には式中のＲ１，Ｒ２，Ｒ３は、それぞれ、水素または炭素数が１〜１０である脂肪族系若しくは芳香族系の炭化水素基である。
【００１７】
【化１】
ミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を製造するのに好適なポリシラザンは、一例を挙げれば以下のように調製することができる。すなわち、ジハロシラン（Ｒ１ＳｉＨＸ２）或いは当該ジハロシランと他のジハロシラン（Ｒ２Ｒ３ＳｉＸ２）との混合物をアンモニアと反応させることによってシラザンオリゴマーを得る。次いで、塩基性触媒の存在下で当該シラザンオリゴマーの脱水素反応を起こさせる。これにより、ケイ素原子に隣接する窒素原子の脱水素が行われ、結果、シラザンオリゴマーが相互に脱水素架橋して成るポリシラザンを生成することができる。なお、この生成プロセスに使用されるジハロシランの好ましいものは、上記Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３が、それぞれ、水素、炭素数が１〜６の低級アルキル基、置換アリル基、非置換アリル基、炭素数が６〜１０の非置換アリール基、トリアルキルアミノ基、ジアルキルアミノ基のいずれかである。或いは、Ｒ１は水素であり、Ｒ２およびＲ３が上記列挙した官能基のいずれかである。このときＲ１、Ｒ２およびＲ３は全て同じ基でもよく、相互に異なる基でもよい。なお、上記ジハロシランの式中のＸはハロゲン基である。
また、市販されているポリシラザン（例えばチッソ（株）から購入できる）を好適に使用することができる。ポリシラザンの熱分解によって、Ｓｉ−Ｎ結合主体の繰返し構造を基本骨格とする耐熱性の高い（ミクロ細孔に富むがメソ細孔以上の孔径の細孔は顕著に少ない）多孔質セラミック材を容易に形成することができる。
【００１９】
なお、使用するポリシラザン等のケイ素系セラミック前駆体の分子量に特に制限はないが、粘性制御等の観点から、重量平均分子量で２００〜１００,０００程度のものが好ましい。重量平均分子量が略１,０００〜２０,０００のケイ素系セラミック前駆体が特に好ましい。
【００２０】
本発明の製造方法で用いられる焼成用材料は、その主成分たるケイ素系セラミック前駆体を含むものであればよく、その形態について特に限定はない。用いるケイ素系セラミック前駆体の性状に応じて焼成用材料の形態は適宜異なり得る。例えば、溶融したケイ素系セラミック前駆体のみから実質的に構成されたものであってもよい。典型的には、焼成用材料は、ケイ素系セラミック前駆体を所定の溶媒に溶解又は分散した形態に調製される。上述したようなポリシラザンを溶解するための溶媒として種々の有機溶媒が用いられる。ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族系溶媒、ジオキサン、テトラヒドロフラン、ジブチルエーテル等のエーテル系溶媒が適当である。溶液（焼成用材料）中のポリシラザンの濃度は特に限定されないが、粒状やフレーク状の多孔質セラミック材を製造する場合には、１０質量％〜８０質量％程度が適当であり、２０質量％〜７０質量％程度が好ましい。また、後述するようなディップコーティング法等によって支持体表面にポリシラザンから成る被膜を形成するには、溶液（焼成用材料）中のポリシラザンの濃度は０．５質量％〜４０質量％程度が適当であり、１質量％〜２５質量％程度が好ましい。
【００２１】
所望する形状の多孔質セラミック材を製造するため、熱分解する前に焼成用材料を目的の形状に成形する。典型的には粒状や膜状（種々の多孔質支持体の表面に形成される）に製造されるが、これらの他にも用途に応じてシート状、プレート状、管状その他の立体的形状をとり得る。例えば本発明に従って製造された多孔質セラミック材をガス分離用モジュールとしてリアクター（反応器）に適用する場合、とり得る形状としては膜形状（支持体付き）、管形状、モノリス形状、ハニカム形状、多角形平板形状等が挙げられる。なお、かかる成形を行う手段は、当該分野で従来から普通に採用されている手段を適宜用いればよい。例えば、押出し成形、鋳込み成形、テープ成形、ＣＩＰ成形のような周知の成形技法によって得ることができる。また、溶融状態のケイ素系セラミック前駆体又はペースト若しくはスラリー状に調製された焼成用材料と適当な押出機や紡績機を用いることによって、繊維状に成形することができる。また、ディップコーティング法等により適当な多孔質支持体の表面に焼成用材料を付着させることによって、膜状に成形することができる。
【００２２】
粒状、フレーク状、その他所望する形状に成形された焼成用材料（ケイ素系セラミック前駆体から成る成形体）を次に焼成（熱分解）する。
本発明では、焼成処理（熱分解のための加熱を開始したときから熱分解後に生成したセラミックスの冷却が完了するまでの期間）の間中、或いは、少なくとも最高焼成温度まで加熱して冷却を開始するまでの間、水素ガス（Ｈ2）の存在下にケイ素系セラミック前駆体成形体及び／又は生成セラミックスを配置しておく。かかる雰囲気中の水素ガスの濃度は少なくとも１mol％であり、典型的には５mol％以上（５〜１００mol％）である。１０mol％以上が好ましく、２０mol％以上が特に好ましい。１０〜６０mol％程度の水素ガスを含む雰囲気中で前駆体を焼成することにより、十分な表面積とミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を製造し得る。
【００２３】
焼成処理を行う際の雰囲気の水素ガス以外のガス成分としては不活性ガスが好ましい。例えば窒素（Ｎ2）、ネオン（Ｎｅ）、ヘリウム（Ｈｅ）、アルゴン（Ａｒ）が挙げられる。例えば、水素ガス１５〜５０mol％、窒素、ヘリウム等の不活性ガス５０〜８５mol％の混合ガス雰囲気中でポリシラザン等のケイ素系セラミック前駆体を焼成するのが好ましい。
【００２４】
水素ガス存在下で行うケイ素系セラミック前駆体の熱分解を伴う焼成では、概ね４００〜８００℃の範囲内で最高焼成温度を設定するのがよい。セラミック前駆体として、ポリシラザン類を用いる場合には、７００℃以下、好ましくは６００〜７００℃（例えば６５０±２０℃）の範囲に最高焼成温度を設定することが好ましい。かかる範囲に最高焼成温度があると、耐熱性が高く、且つ、ミクロ細孔に富む（即ち細孔容積が大きい）多孔質セラミック材を形成することができる。このような多孔質セラミック材は、当該最高焼成温度付近（例えば６５０〜７００℃）で使用するガス分離材、濾過材又は触媒担体として好適である。
【００２５】
ケイ素系セラミック前駆体の熱分解は、水素ガス含有雰囲気中、好ましくは一定の昇温速度（典型的には１０℃／分以下）で当該前駆体（成形体）を徐々に加熱することにより行われる。０．５〜３．０℃／分程度が好ましく、１〜２℃／分程度（多少の誤差は許容される）の昇温速度がさらに好ましい。昇温速度が速すぎると、メソ細孔の成長を促すため、好ましくない。他方、昇温速度が遅すぎると、焼成プロセスに時間がかかりすぎて効率的でない。
【００２６】
また、例示したような昇温速度でセラミックス前駆体（成形体）の加熱を行っている途中において、最高焼成温度に達する以前の中間温度域で当該前駆体を一時的に保持することが好ましい。これにより、全体に均質にミクロ細孔に富むセラミック材を安定して製造することができる。
例えば、室温から６５０℃程度の最高焼成温度まで約１℃／分の昇温速度で前駆体（成形体）を加熱する場合、２００〜４００℃（ポリシラザンの場合２５０±２５℃が特に好適である。）の間で設定される中間保持温度で少なくとも１時間（好ましくは３〜１２時間、特に好ましくは８〜１２時間）当該前駆体を保持する。かかる焼成プロセスによると、ミクロ細孔に富み全体に均質な多孔質セラミック材を製造することができる。
なお、中温温度域での保持は、１回に限られない。２回又は３回以上行ってもよい。例えば、最高焼成温度を８００℃に設定した場合、室温から２５０℃まで約１℃／分の昇温速度で前駆体（成形体）を加熱し、その温度で約３時間保持する。次いで、５００℃まで約１℃／分の昇温速度で当該前駆体を加熱し、その温度で約３時間保持させた後に最高焼成温度まで同様の昇温速度で加熱してもよい。
【００２７】
最高焼成温度に達した後は、その温度域（典型的には最高焼成温度±２５℃）で対象物（即ち熱分解により生成したセラミックス）を所定時間保持する。これにより、熱分解の結果生じた生成物の緩やかな拡散を促すことができる。好ましい保持時間は、０．５〜５時間（典型的には１〜２時間）である。
最高焼成温度域で所定時間保持した後、１００℃以下、典型的には室温域（５〜３５℃）まで生成セラミックスを冷却する。実質的に欠陥の認められないミクロ細孔に富む多孔質セラミック材を得るためには、徐々に冷却するとよい。例えば、０．５〜５．０℃／分程度の冷却速度が適当であり、１〜２℃／分程度（多少の誤差は許容される）の冷却速度が好ましい。
【００２８】
以下、図面を参照しつつ、多孔質セラミック材製造方法の一好適例を説明する。本実施形態に係る多孔質セラミック材製造方法を実施するための製造装置１００を図１に模式的に示す。
この製造装置１００は円筒形状の焼成用加熱炉（マッフル炉）１０１を備えており、その炉内には水素ガスと不活性ガスとから成る混合ガスが連続的に所定の流量（流速）で供給される（図中の矢印参照）。すなわち、加熱炉１０１のガス導入側には、混合バルブ１０６を介して、不活性ガス供給源（ここではＮ2タンク又はＨｅタンク）１０２と水素ガス供給源（ここではＨ2タンク）１０４とが接続されている。これらガス供給源１０２，１０４にはそれぞれ電磁バルブ１０３ａ，１０３ｂと流量計１０８ａ，１０８ｂが接続されている。これら電磁バルブ１０３ａ，１０３ｂと流量計１０８ａ，１０８ｂは、制御部１０５と電気的に接続されている。一方、加熱炉１０１のガス排出側には、制御部１０５と電気的に接続されたポンプ１１０が接続されている。
この構成によって本製造装置１００では、制御部１０５を作動させ、流量計１０８ａ，１０８ｂからの入力データに基づいて各ガス供給源１０２，１０４からのガス流量を調整し（即ち電磁バルブ１０３ａ，１０３ｂの開閉制御を行う）、所定のモル比及び流量（流速）の混合ガスを加熱炉１０１内に導入することができる。また、制御部１０５は加熱炉１０１に装備される加熱器１０１ａ（典型的にはガス燃焼装置）とも電気的に接続されており、制御部１０５からの操作信号によって加熱器１０１ａをオンオフ制御して炉内の温度を適宜調節することができる。
【００２９】
このような製造装置１００を用いて、例えば粒状の多孔質セラミック材を製造する場合の一例を以下に説明する。
ポリシラザンその他のケイ素系セラミック前駆体を適当な溶媒（トルエン等）中に溶解又は分散させて成る焼成用材料１２０を加熱炉１０１内に収容する。焼成処理（熱分解処理）中はポンプ１１０を作動させ、水素を含む混合ガス（例えばＨ2５０mol％、Ｎ2５０mol％）を所定の流量（典型的には５〜１０００ｍｌ／分）で炉内に供給し続ける。
【００３０】
そして、制御部１０５からの操作信号によって加熱器１０１ａを作動し、その加熱の程度を制御する。例えば、室温状態にある加熱炉１０１内を略１℃／分の割合で２５０℃まで昇温する。その後、その温度で３〜１０時間保持する。次いで、加熱炉１０１内を略１℃／分の割合で最高焼成温度（例えば６５０〜７００℃）まで昇温し、炉内のセラミック前駆体１２０を熱分解する。好ましくは、最高焼成温度を１〜２時間保持する。そして、略１℃／分の割合で炉内を徐々に冷却する。この冷却速度による冷却は、炉内が１００℃以下（典型的には室温）になるまで行う。
このような焼成プロセスの実施によって、平均孔径又はＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値が２ｎｍ以下（好ましくは０．５〜１ｎｍ）、表面積が３５０ｍ2／ｇ以上（好ましくは４００ｍ2／ｇ以上）、細孔容積が０．１５ｃｍ3／ｇ以上の粒状多孔質セラミック材が得られ得る。
【００３１】
次に、ミクロ細孔に富む多孔質膜が多孔質支持体の表面に層状に形成された多孔質セラミック積層体の好適な製造例を説明する。
本発明の実施によって製造される多孔質セラミック積層体は、ケイ素系セラミック前駆体の熱分解産物から成る膜状多孔質セラミック層とそれを支持する多孔質セラミック支持体とを有する他、耐熱性や耐熱衝撃性を損なわない限りにおいて、さらなる層位を有するものであってもよい。例えば、上記セラミック層と多孔質セラミック支持体との間に、他の多孔質膜層を形成してもよい。かかる膜層を支持体中に浸透させずに多層化することにより、ガス分離能を向上させることができる。例えば、水素／窒素の透過係数（比）を１５以上にし得る。
【００３２】
セラミック支持体の孔径はガス分離や濾過性能に影響を与えない限り特に限定されないが、膜状セラミック層における平均孔径よりも大きな平均孔径を有するものが適当である。０．０１μｍ〜１０μｍ程度の細孔径分布のピーク値及び／又は平均孔径を有する多孔質体が支持体として好ましい。また、孔隙率は３０〜６０％が適当であり、好ましくは３５〜５０％である。
また、製造される多孔質セラミック積層体における支持体（支持層）の厚みは、所定の機械的強度を保持しつつ膜状セラミック層を支持し得る限り、限定されない。例えば、膜状多孔質セラミック層の厚みが０．５〜５μｍである場合には、多孔質セラミック支持体の厚みとしては１００μｍ〜１０ｍｍ程度が好適である。なお、支持体の機械的強度は形状によって変化するし、当該機械的強度に対する要求も用途に応じて異なるため特に限定するものではないが、６００〜８００℃における３点曲げ強度（ＪＩＳ Ｒ１６０１に準じる）が３０ＭＰａ以上（より好ましくは６０ＭＰａ以上、さらに好ましくは９０ＭＰａ以上）である機械的強度を具備するように、支持体の平均孔径や孔隙率を設定するのが好ましい。また、所望する機械的強度を保持し得る限り、支持体の材質や形状（即ち積層体全体の形状を規定する）は特に限定されない。用途に応じて種々の形状をとり得る。例えばセラミック積層体をガス分離用モジュールとして改質器等のリアクターに適用する場合の形状としては、薄板形状、管形状、モノリス形状、ハニカム形状、多角形平板形状その他の立体形状が包含される。これら形状はいずれも押出し成形、鋳込み成形、テープ成形、ＣＩＰ成形のような周知の成形技法によって得ることができる。
【００３３】
好ましい多孔質セラミック積層体は、窒化ケイ素から成る多孔質支持体の表面にポリシラザンから成る多孔質膜の膜が形成されたものである。この組み合わせによると、支持体とその表面の膜とが共にＳｉ−Ｎ結合主体の繰返し構造（即ちシラザン骨格）を基本骨格とする。このため、６００℃を越えるような高温条件下においてもそのミクロ細孔構造を安定に保つことができる。さらに、支持体と膜との間で熱収縮率／熱膨張率に顕著な差異がなく、高い耐熱衝撃性を実現し得る。すなわち、急激な温度変化に曝された場合であっても、膜状多孔質セラミック層の熱的剥離やクラックの発生の頻度を顕著に低減させることができる。従って、かかる耐熱性及び耐熱衝撃性を実現した多孔質セラミック積層体は、高温条件下や使用環境の温度が変動するような条件下でのガス分離処理や高性能濾過処理（分子篩い等）に適している。
【００３４】
このように、本発明によって提供され得る多孔質セラミック積層体は、高温条件下における分子篩い等の高性能濾過或いはガス分離用途に好適に用いられる。特に限定するものではないが、ガス分離に用いる場合にはセラミック膜の厚さは１００μｍ以下が適当である。かかる膜厚が０．０１〜５０μｍのものが好ましく、０．０５〜５０μｍのものが特に好ましい。
また、改質ガスその他の混合ガスから水素ガスを分離するのに使用する膜としては、４００℃（好ましくは６００℃、より好ましくは８００℃）における水素／窒素分離係数が少なくとも２（好ましくは２．５以上）であり、同温度における水素透過率が少なくとも１×１０-10モル／m2・s・Pa（特に好ましくは１×１０-7モル／m2・s・Pa以上）となる膜厚のものが好ましい。かかる性状の多孔質セラミック膜によると、高温腐食環境条件下においても比較的高い水素透過速度及び水素分離能（水素選択性）を保持しつつ、効率よく水素分離処理を行うことができる。
特に好適な水素分離膜は、６００℃における水素／窒素分離係数が３．０以上（典型的には３．０〜２００,０００の範囲にある）であり、且つ、同温度における水素透過率が１×１０-10モル／m2・s・Pa以上（典型的には１×１０-10〜１×１０-7の範囲にある）のものである。また、２０℃〜８００℃の温度条件における水素／窒素分離係数がいずれも３．０以上（典型的には３．０〜２００,０００の範囲にある）、且つ、同温度範囲における水素透過率がいずれも１×１０-10モル／m2・s・Pa以上（典型的には１×１０-10〜１×１０-7の範囲にある）のものが更に好ましい。本発明によると、これらの条件を満たす水素分離膜を提供することが可能である。
ここで「水素／窒素分離係数」とは、同条件下における水素透過率と窒素透過率との比率、即ち同条件下での水素ガス透過量の窒素ガス透過量に対する比（モル比）をいう。ここで「水素透過率（モル／m2・s・Pa）」及び「窒素透過率（モル／m2・s・Pa）」は、それぞれ、差圧（多孔質セラミック膜を挟んでガス供給側圧力とガス透過側圧力との差）が１Ｐａであるときの単位時間（１秒）及び単位膜表面積（１m2）当りの水素ガス透過量（モル）および窒素ガス透過量（モル）で表される。
【００３５】
窒化ケイ素、アルミナ等から成る多孔質セラミック支持体の表面にポリシラザンその他のケイ素系セラミック前駆体の被膜を形成する方法としては、従来の薄膜形成プロセスにおいて用いられる各種の方法を採用することができる。例えば、ディップコーティング法、スピンコーティング法、スクリーン印刷法、スプレー法が挙げられる。
特にディップコーティング法では、ケイ素系セラミック前駆体を含む溶液（焼成用材料）の多孔質セラミック支持体内部への浸透を抑制でき、さらには熱分解に伴うガス発生、キャピラリー圧力、焼成収縮等による微細構造の破壊を抑制するのに寄与し得る。このため、特にディップコーティング法は、欠陥の無い多孔質セラミック層を支持体表面に直接的に形成するのに好適な方法である。
【００３６】
このようにして支持体表面にケイ素系セラミック前駆体の被膜を形成して乾燥（典型的には空気、窒素ガス、水素ガス雰囲気中で行う）した後、例えば上述した製造装置１００の加熱炉１０１内に当該被膜形成支持体を配置する。而して、上記のような焼成プロセスに従って支持体ごと焼成し、ミクロ細孔に富む多孔質セラミック膜を形成することができる。
一例を挙げると、１００ｎｍ程度の平均孔径を有するアルミナ、窒化ケイ素等のセラミック多孔質体を、ポリシラザンの濃度が１〜２５質量％であり残部がトルエンから成る分散液又は溶液（焼成用材料）中にディップ（浸漬）する。かかるディップコーティングの処理時間は、数秒乃至１分程度でよい。５〜３０秒程度が好ましい。そして、ディップ処理された支持体は、乾燥後、水素ガス存在下で上述したような焼成プロセスに基づき焼成（熱分解）処理される。上述したような製造装置１００が好適に使用し得る。
【００３７】
【実施例】
以下に説明する実施例によって、本発明を更に詳細に説明するが、本発明をかかる実施例に示すものに限定することを意図したものではない。
【００３８】
＜実施例１：粒状多孔質セラミック材の製造（１）＞
市販のポリシラザン含有スラリー（チッソ（株）製品「ＮＣＰ２０１」、ポリシラザン６０質量％、トルエン４０質量％、ポリシラザンの数平均分子量：１３００）を使用して、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
すなわち、上述の図１に示す製造装置１００の加熱炉１０１内に、アルミナ製容器に入れた上記ポリシラザン含有スラリーを配置し、室温で３０分間保持した。なお、ポリシラザン含有スラリーを炉内に配置後、以下の焼成プロセスが終了するまで、加熱炉１０１内にはＨ2５mol％とＮ2９５mol％とから成る混合ガスを１００ｍｌ／分の流量で供給し続けた。次いで、以下のスケジュールで炉内のポリシラザン含有スラリーを熱処理（焼成処理）し、トルエンを蒸発させると共にポリシラザンを熱分解した。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で１０時間保持し、(3).２５０℃から６５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).６５０℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).６５０℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。
これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００３９】
＜実施例２：粒状多孔質セラミック材の製造（２）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、焼成スケジュールは以下のとおりである。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で３時間保持し、(3).２５０℃から７００℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).７００℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).７００℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４０】
＜実施例３：粒状多孔質セラミック材の製造（３）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2６mol％及びＮ2９４mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４１】
＜実施例４：粒状多孔質セラミック材の製造（４）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2１５mol％及びＮ2８５mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４２】
＜実施例５：粒状多孔質セラミック材の製造（５）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2２０mol％及びＨｅ８０mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４３】
＜実施例６：粒状多孔質セラミック材の製造（６）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2５０mol％及びＮ2５０mol％とした。また、焼成スケジュールは以下のとおりである。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で１０時間保持し、(3).２５０℃から７００℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).７００℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).７００℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４４】
＜実施例７：粒状多孔質セラミック材の製造（７）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2５０mol％及びＮ2５０mol％とした。また、焼成スケジュールは以下のとおりである。すなわち、(1).室温から２５０℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(2).２５０℃で１０時間保持し、(3).２５０℃から７００℃まで１℃／分の昇温速度で加熱し、(4).７００℃（最高焼成温度）で１時間保持し、そして(5).７００℃から室温まで１℃／分の冷却速度で冷却した。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４５】
＜実施例８：粒状多孔質セラミック材の製造（８）＞
実施例１と同じ焼成用材料及び製造装置を用いて、粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。但し、炉内に供給する混合ガスの組成はＨ2５０mol％及びＮ2５０mol％とした。焼成スケジュールは実施例１と同じである。これにより、ミクロ細孔に富む粒状多孔質セラミック材（窒化ケイ素）を製造した。
【００４６】
＜試験例：表面積、細孔容積及び細孔径の測定＞
実施例１〜８で得られた粒状多孔質セラミック材の表面積、細孔容積及び細孔径を次のようにして測定した。
すなわち、上記焼成スケジュールに従って焼成処理を行った後、得られた粒状多孔質セラミック材１００ｇを気密容器内に移し、いわゆる窒素吸着法を実施した。具体的には、液体窒素温度（約７７°Ｋ）でセラミック材の表面に単分子吸着した窒素分子のモル数を求め、その値に基づいて供試セラミック材の表面積（ＢＥＴ比表面積）および細孔容積を算出した。また、ケルビンの式（毛細管凝縮理論）を用いて細孔径分布を求め、そのピーク値を算出した。結果を表１に示す。
【００４７】
【表１】
表１から明らかなように、各実施例で得られた粒状多孔質セラミック材は、その細孔径ピーク値が０．５〜１．０ｎｍにあり、表面積が広い。すなわち、ミクロ細孔に富む。特に最高焼成温度が６５０〜７００℃という高温であるにも関わらず、細孔容積０．１ｃｍ3／ｇ以上であるものが殆どであった。このことは、これら粒状多孔質セラミック材が特にミクロ細孔に富み、６００〜７００℃、典型的には６５０〜７００℃という高温条件下で効率のよいガス分離や高性能濾過を実現し得るセラミック材料であることを示すものである。また、高温条件下で使用するのに好適な触媒担体となり得ることを示すものである。一方、上述した公報に開示されている非酸化物系多孔質セラミック材製造技術では、最高焼成温度を６５０〜７００℃程度にまで高く設定すると、ミクロ細孔の生成が減少し、表１に示すような細孔容積の値を実現できない。
なお、表１から明らかなように、焼成時のガス雰囲気中の水素ガス濃度を高く設定するほど、表面積及び細孔容積が大きい多孔質セラミック材が容易に生成され得る（実施例４〜８）。少なくとも１５mol％の水素ガスを含む雰囲気中でポリシラザンその他のケイ素系セラミック前駆体を焼成することにより、表面積が略４００ｍ2／ｇ又はそれ以上であり、細孔容積が略０．２ｃｍ3／ｇ又はそれ以上である粒状多孔質セラミック材を製造することができる。
【００４９】
＜実施例９：ガス分離膜(ガス分離モジュール)の製造＞
９０重量部の窒化ケイ素粉末と、５重量部のアルミナ粉末と、５重量部のイットリア粉末と、６０重量部の水をアルミナ製ポットに投入し、直径３０ｍｍの玉石を使用して２４時間混合することによってスラリーを調製した。次いで、このスラリーに１５重量部のワックス系有機バインダーと、２重量部のワックスエマルジョンを添加して１６時間混合し、その後スプレードライにより顆粒体を作製した。
得られた窒化ケイ素を主体とするセラミック顆粒体をＣＩＰ（冷間静水圧プレスによる）成形し、管形状（外径：１０ｍｍ、内径：７ｍｍ、長さ：２５０ｍｍ）に生加工した。そして、当該生加工チューブを脱脂後、空気中で１４００℃（最終焼成温度）で焼成し、管形状の窒化ケイ素多孔質体、即ち本実施例に係る多孔質セラミック支持体を得た（後述する図２の符号１４参照）。得られた窒化ケイ素多孔質体の平均孔径は約６０ｎｍ（水銀圧入法による）であった。
【００５０】
一方、ポリシラザン粉末をトルエンに溶解し、超音波攪拌処理を約１時間行い、固形分濃度が２０質量％であるポリシラザン溶液（コーティング液）を調製した。次いで、上記窒化ケイ素多孔質体をディップ法に基づき上記コーティング溶液に約３０秒浸漬した。なお、このディップ処理の際には管形状窒化ケイ素多孔質体の外周面にのみコーティング液が付着するように、当該管形状窒化ケイ素多孔質体の両端開放部を合成樹脂フィルムでラップしておいた。
ディップ処理後、一定の速度で窒化ケイ素多孔質体をコーティング溶液から引き上げ、６０℃で乾燥した。その後、ポリシラザン被膜が外周面に形成された管形状窒化ケイ素多孔質体を上述の図１に示す製造装置１００の加熱炉１０１内に収容した。加熱炉１０１内にＨ2２０mol％とＮ2８０mol％とから成る混合ガスを１００ｍｌ／分の流量で供給し続けた。そして、実施例１と同じ焼成スケジュールで焼成処理を行った。
【００５１】
上記の一連の処理によって、管形状窒化ケイ素多孔質体（多孔質セラミック支持層）の外周面に多孔質セラミック膜（膜状多孔質セラミック層）が形成された多孔質セラミック積層体が得られた。走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）による測定では、この多孔質セラミック膜には、少なくともサブミクロンオーダーの表面欠陥は認められなかった。また、一般的なアルゴン吸着法によって多孔質セラミック膜に存在する細孔の孔径を測定したところ、その細孔径のピーク値は約０．５ｎｍであった。また、その膜厚は、約０．３μｍであった。
【００５２】
＜実施例１０：管形状多孔質セラミック積層体（ガス分離モジュール）のガス分離特性の評価＞
次に、実施例９で得られた管形状多孔質セラミック積層体１０（以下「ガス分離モジュール１０」という。）を用いて改質器１を構築し、当該ガス分離モジュール１０のガス分離特性、即ち水素透過率及び窒素透過率ならびに水素／窒素分離係数を評価した。
先ず、図２に示すような改質器１を作製した。この図に示すように、本実施例に係る改質器１は、大まかにいって、筒状のステンレス製チャンバー２と、ポリシラザン由来の膜状多孔質セラミック層（多孔質セラミック膜）１２を備えた多孔質支持体（窒化ケイ素多孔質体）１４を本体とするガス分離モジュール１０と、改質用触媒１８とから構成されている。
チャンバー２には、別途、ガス供給管３と、ガス排出管４とが設けられている。また、チャンバー２の周囲には図示しないヒーターおよび断熱材が設けられており、チャンバー２内部の温度を室温〜１２００℃の範囲でコントロールすることができる。また、かかるチャンバー２の内部には、ガス分離モジュール１０が配置されており、その周囲の空間部（改質器では水素生成部に相当する部位）２０には、種々の改質用触媒１８を充填することができる。なお、本実施例に係る評価試験では、触媒１８をチャンバー２内に充填せずに行った。
【００５３】
図示されるように、ガス分離モジュール１０の一端は金属製キャップ５によってシールされており、当該端部から中空部１６へのガスの流入を防止している。また、ガス分離モジュール１０の他端側には、ジョイント管３０が取り付けられている。図示するように、ジョイント管３０の開口先端部（透過ガス排出口６）はチャンバー２の外部に露出した状態とした。さらに、ガス分離モジュール１０の外周面における膜状多孔質セラミック層（即ちガス分離膜）１２の端の部分（即ちジョイント管取付部分の近傍）には、高温シール材を挿入してメカニカルシールした。
ジョイント管３０の透過ガス排出口６と接続するガス排出側流路には図示しないガスクロマトグラフが装備されており、そこを流れるガス濃度を測定し、その測定データをコンピュータシステムによって自動バッチ処理で解析することができる。
チャンバー２のガス供給管３は外部ガス又は水蒸気等の供給源に接続しており、当該ガス供給管３を介してチャンバー内の空間部２０に水素、窒素等の測定用ガスや水蒸気を供給することができる。なお、空間部２０のガスはガス排出管４から外部に排出される。
【００５４】
而して、かかる系において、ガス分離モジュール１０の水素透過率、窒素透過率ならびに水素／窒素分離係数を次のようにして評価した。
すなわち、図示しない水素供給源および窒素供給源から所定の流量で水素及び窒素をチャンバー２内に供給した。このとき、ガス分離膜１２の内外の差圧が約２×１０４Ｐａ（約０．２ａｔｍ）となるようにした。なお、かかる評価試験は、先ず室温（約３０℃）で実施し、その後所定の間隔でチャンバー２内の温度を５０℃、１００℃、そして１５０℃へと順次上げていった。このように温度を変更させつつ連続的に試験することで、本実施例に係る改質器１のガス分離モジュール１０について高温時における水素分離特性を評価することができる。
【００５５】
具体的には、適宜ヒーターを作動させてチャンバー２内の温度制御（室温〜１５０℃）を行いつつ、上記差圧を生じさせた状態で水素及び窒素をそれぞれチャンバー２内に供給した。而して、セッケン膜流量計（図示せず）によって透過側（即ち透過ガス排出口６と接続するガス排出側流路）の流速を測定した。なお、水素および窒素それぞれのガス透過率は次の式「Ｑ＝Ａ／（（Ｐｒ−Ｐｐ）・Ｓ・ｔ）」から算出した。ここでＱはガス透過率（permeation:モル/m2・s・Pa）、Ａは透過量（ｍｏｌ）、Ｐｒは供給側即ちチャンバー２内の空間部２０の圧力（Ｐａ）、Ｐｐは透過側即ちガス分離モジュール１０の中空部１６の圧力（Ｐａ）、Ｓは断面積（ｍ２）、ｔは時間（秒：ｓ）を表す。また、水素／窒素透過係数(H2/N2 selectivity)は、水素透過率と窒素透過率との比率すなわち式「α＝ＱＨ２／ＱＮ２」から算出できる。ここでαは水素／窒素透過係数（透過率比）、ＱＨ２は水素透過率、ＱＮ２は窒素透過率を表す。
【００５６】
室温（約３０℃）、５０℃、１００℃及び１５０℃で測定した水素透過率（グラフ中の菱形のプロット）、窒素透過率（グラフ中の丸のプロット）および水素／窒素分離係数（グラフ中の三角のプロット）を図３に示す。
この図（グラフ）から明らかなように、本実施例に係るガス分離モジュール１０は、いずれも２×１０−８モル/m2・s・Paを上回る水素透過率を示すとともに、３．０以上の水素／窒素分離係数を示した。また、本実施例に係るガス分離モジュール１０は、温度の上昇と共に水素透過率が向上した。他方、窒素透過率は僅かに減少した。その結果、１００℃を越える高温条件下（例えば１５０℃）では、５．０以上（ほぼ６）の高い水素／窒素分離係数を示した。この結果は、本発明の多孔質セラミック材（膜）および多孔質セラミック積層体が１５０℃以上（例えば４００℃以上、さらには６００℃以上）の高温条件下でも高い水素ガス分離特性を有することを示唆するものである。
【００５７】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の製造方法を実施する為の製造装置の一例を模式的に示すブロック図である。
【図２】 一実施例に係るガス分離膜（モジュール）を備えた改質器の構造を模式的に示す説明図である。
【図３】 一実施例に係るガス分離膜（モジュール）のガス分離特性を示すグラフである。
【符号の説明】
１ 改質器
１０ ガス分離モジュール（管形状多孔質セラミック積層体）
１２ ガス分離膜（膜状多孔質セラミック層）
１４ 多孔質支持体
１００ 製造装置
１０１ 加熱炉
１０１ａ 加熱器
１０２ 不活性ガス供給源
１０４ 水素ガス供給源
１０５ 制御部
１１０ ポンプ
Claims (5)
- 多孔質セラミック材を製造する方法であって、
(a).実質的にポリシラザン、ポリカルボシラザンおよびポリカルボシランのうちから選択される１種又は２種類以上のケイ素系セラミック前駆体から成る焼成用材料を準備する工程と、
(b).少なくとも１mol％の水素ガスを含み水素ガス以外のガス成分は不活性ガスから成る雰囲気中で最高焼成温度が４００〜１０００℃の範囲内に設定された条件で前記焼成用材料の前記ケイ素系セラミック前駆体を熱分解し、該ケイ素系セラミック前駆体の熱分解産物から成るＢＥＴ法に基づく細孔径分布のピーク値又は平均孔径が２ｎｍ以下である多孔質セラミックスを生成する工程と、
を包含する製造方法。 - 前記(b).工程において、
前記焼成用材料の昇温は、焼成開始温度域から最高焼成温度まで１０℃／分以下の昇温速度で行われる、請求項１に記載の多孔質セラミック材製造方法。 - 前記(b).工程において、
最高焼成温度が４００〜８００℃の範囲内に設定される、請求項２に記載の多孔質セラミック材製造方法。 - 前記(b).工程において生成された多孔質セラミックスを、前記最高焼成温度から１〜２℃／分の冷却速度で１００℃以下まで冷却する、請求項２又は３に記載の多孔質セラミック材製造方法。
- 前記ケイ素系セラミック前駆体がポリシラザンである、請求項１〜４のいずれかに記載の多孔質セラミック材製造方法。
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