JP3952189B2 - エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、特にノーフロー(No Flow)型アンダーフィル材として好適に用いられる、低揮発性及び半田ボールとの濡れ性・密着性に優れたエポキシ樹脂組成物、及びこの組成物にて封止された半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
エポキシ樹脂は接着性・耐熱性・耐湿性に優れており、その応用分野は接着剤や塗料はもとより、半導体装置の封止材というハイテク分野にも拡大されている。特に液状エポキシ樹脂は微細化・高速化が推し進められる半導体分野において、複雑・微細な設計のデバイスにも対応でき、近年その応用分野を著しく拡大している。フリップチップのアンダーフィル材はその最たるものである。
【0003】
近年、デバイスの高速化・高密度化に伴い、チップのデザインは薄型化・大型化しており、従来の様な毛細管現象を利用して液状エポキシ樹脂を狭ギャップに侵入させる方式(以下、Capillary Flow型(キャピラリーフロー型)と称する)では限界に達しており、これに代わる方式が提案されている。その1つがNo Flow型(ノーフロー型)である。これは基板にアンダーフィル材を塗布した後にチップを搭載し、加熱によりチップと基板の導通とアンダーフィル材の硬化を同時に行うものである。
【0004】
このNo Flow型の場合、Capillary Flow型の場合とは異なる性能がアンダーフィル材に求められ、このような例として低揮発性と半田ボールとの濡れ性・密着性が挙げられる。チップと基板の導通を得る際に、アンダーフィル材は半田ボールの融点以上、具体的には200℃以上の高温で加熱される為、揮発成分が極力少ないことが求められる。またアンダーフィル材と半田ボールの界面での未充填や剥離等がない良好な界面を得る為に、溶融した半田ボールとアンダーフィル材の濡れ性・密着性が十分であることが求められる。現行のCapillary Flow型のアンダーフィル材は、半田接合後に比較的低温で硬化させる為、低揮発性或いは半田ボールとの濡れ性が十分ではなく、この方式には対応できない。
【0005】
【非特許文献1】
Zhuqing Zhang, Lianhua Fan, C.P.Wong, IEEE Electronic Components and Technology Conference, 2001, p.1474
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記の問題を解決するために行われたものであり、低揮発性に優れ、半田ボールとの濡れ性・密着性に優れる、特にNo Flow型のアンダーフィル材として好適なエポキシ樹脂組成物、及びこの組成物にて封止された半導体装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記目的を達成する為に鋭意検討を重ねた結果、(A)エポキシ樹脂、(B)フェノール樹脂、(C)硬化促進剤、好ましくは下記一般式(5)で示される化合物、(D)フラックス有効成分として下記式(1)〜(4)で表されるアビエチン酸及びその誘導体から選ばれる1種又は2種以上の4成分を必須成分とするエポキシ樹脂組成物が、エポキシ樹脂の硬化剤としてフェノール樹脂を用いることで低揮発性に優れ、また半田ボールのフラックスとして有効に機能しうる有機酸を添加することで半田ボールとの濡れ性・密着性を発揮しうることを見出した。
即ち、このエポキシ樹脂組成物は、半導体装置の封止材、特にNo Flow型のアンダーフィル材として好適であることを知見し、本発明をなすに至った。
【0008】
従って、本発明は、下記に示すエポキシ樹脂組成物及び半導体装置を提供する。
〔I〕(A)エポキシ樹脂
(B)フェノール樹脂
(C)成分(A)と成分(B)の硬化促進剤として下記一般式(5)で表される化合物
【化3】
(式中、R 1 乃至R 8 は炭素数1乃至10の置換又は非置換の一価炭化水素基であり、ヒドロキシル基又はアルコキシ基を含んでいてもよい。)
(D)フラックス有効成分として下記式(1)〜(4)で表されるアビエチン酸及びその誘導体から選ばれる1種又は2種以上
を必須成分とすることを特徴とするノーフロー型のアンダーフィル材用エポキシ樹脂組成物。
【化4】
〔II〕下記一般式(7),(8)
【化36】
(但し、R 11 は水素原子又は下記式
【化37】
で示されるグリシジル基であり、R 12 は水素原子又はメチル基であり、Xは水素原子又は臭素原子である。nは0以上の整数である。)
で表されるフェノール樹脂又はエポキシ樹脂、及び下記一般式(9)〜(12)
【化38】
(但し、R 11 は水素原子又は下記式
【化39】
で示されるグリシジル基であり、R 12 は水素原子又はメチル基であり、R 13 は
【化40】
であり、分子内の各部位について任意に選択される。Xは水素原子又は臭素原子である。nは0以上の整数であり、mは0以上の整数である。)
で表されるアルケニル基含有フェノール樹脂又はエポキシ樹脂から選ばれる芳香族重合体と下記平均組成式(6)で示されるオルガノポリシロキサンとを反応させて得られる共重合体を配合した〔I〕に記載のエポキシ樹脂組成物。
(R9)a(R10)bSiO(4-a-b)/2 (6)
(式中、R9は水素原子、アミノ基,エポキシ基,ヒドロキシ基もしくはカルボキシ基を含有する有機基、又はアルコキシ基であり、R10は置換又は非置換の一価炭化水素基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、又はアルケニルオキシ基であり、a、bは、0.001≦a≦1、1≦b≦3、1≦a+b≦4を満足する正数である。また1分子中のケイ素原子数は1乃至1000であり、1分子中のケイ素原子に直結したR9数は1以上である。)
〔III〕〔I〕又は〔II〕に記載のエポキシ樹脂組成物の硬化物をノーフロー型のアンダーフィル材として封止したフリップチップ型半導体装置。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明に用いられる成分(A)のエポキシ樹脂は、構造、粘度等が特に限定されるものではなく、公知のものが用いられる。エポキシ樹脂の構造として具体的には、ノボラック型、ビスフェノール型、ビフェニル型、フェノールアラルキル型、ジシクロペンタジエン型、ナフタレン含有型、アミノ基含有型等が挙げられる。なかでもビスフェノールA型、ビスフェノールF型が好ましい。これらを単独で、或いは2種類以上を混合して用いてもよい。エポキシ樹脂の粘度は、室温で液状であること、具体的には25℃において100Pa・s以下、特に10Pa・s以下であることが望ましい。
【0010】
本発明に用いられる成分(B)のフェノール樹脂は、構造、粘度等が特に限定されるものではなく、公知のものが用いられる。フェノール樹脂の構造として具体的には、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック型、トリスヒドロキシフェニルメタン型、ナフタレン型、シクロペンタジエン型、フェノールアラルキル型等が挙げられる。これらを単独で、或いは2種類以上を混合して用いてもよい。また、フェノール樹脂の粘度は、150℃において10Pa・s以下、特に1Pa・s以下であることが望ましい。
【0011】
本発明において、エポキシ樹脂の硬化剤をフェノール樹脂に限定する理由は、揮発成分を低減させるためである。エポキシ樹脂の硬化剤としては、他にも酸無水物、芳香族アミン等が挙げられるが、これらはフェノール樹脂と比較すると分子量や粘度が同程度であっても、分子間引力が小さいために揮発性が大きく、組成物の硬化中、特に半田ボールを溶融させる工程において、この揮発成分によるボイドが発生するおそれがある。また、フェノール樹脂の中でも単量体を多く含むものは揮発性が大きく、従ってこの単量体を完全に含まないものであることが望ましく、具体的には単量体を完全に含まないフェノールノボラック樹脂或いはクレゾールノボラック樹脂が望ましい。
【0012】
本発明に用いられる成分(C)の硬化促進剤は、下記一般式(5)で表わされるものである。
【化5】
(式中、R1乃至R8は炭素数1乃至10の置換又は非置換の一価炭化水素基であり、ヒドロキシル基又はアルコキシ基を含んでいてもよい。)
【0013】
ここで、R1乃至R8の一価炭化水素基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、オクチル基、デシル基等のアルキル基、ビニル基、アリル基、プロペニル基、ブテニル基等のアルケニル基、フェニル基、トリル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基等のアラルキル基などや、これらの炭化水素基の水素原子の一部又は全部をフッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子等で置換したハロゲン置換一価炭化水素基、ヒドロキシル基で置換したヒドロキシル置換一価炭化水素基、メトキシ基、エトキシ基、フェノキシ基等のアルコキシ基で置換したアルコキシ置換一価炭化水素基などが挙げられ、またR1乃至R8のそれぞれは、これらの中から任意に選択される。
【0014】
成分(C)の具体例としては、下記に示す化合物が挙げられる。
【化6】
【0015】
硬化促進剤の添加量は、樹脂成分[成分(A),(B)及び後述する共重合体の合計]100重量部に対して、0.1乃至10重量部であることが望ましく、特に0.5乃至5重量部であることが望ましい。硬化促進剤が0.1重量部未満である場合は硬化不十分になるおそれがあり、また10重量部より多い場合は保存性に支障をきたすおそれがある。
【0016】
本発明に用いられる成分(D)のフラックス有効成分は、下記式(1)乃至(4)で表されるアビエチン酸及びその誘導体から選ばれる1種又は2種以上である。
【0017】
【化7】
【0018】
フラックス有効成分の添加量は、樹脂成分[成分(A),(B)及び後述する共重合体の合計]100重量部に対して、0.1乃至10重量部であることが望ましく、特に0.5乃至5重量部であることが望ましい。ここで、フラックス有効成分が0.1重量部未満である場合は、その効果が期待できない、即ち半田ボールとアンダーフィル材の濡れ性・密着性が十分でなく、界面で未充填や剥離等の不良が発生するおそれがある。またフラックス有効成分が10重量部より多い場合は硬化阻害を起こし、耐熱性・耐湿性が低下するおそれがある。
【0019】
また、フラックス有効成分の添加方法は特に限定されないが、全成分を混合する以前に予めエポキシ樹脂、或いはフェノール樹脂と加熱混合し、均一に分散させることが望ましい。
【0020】
本発明のエポキシ樹脂組成物には、必要に応じて芳香族重合体とオルガノポリシロキサンとを反応させて得られる共重合体を添加することができる。この共重合体は低応力剤として機能する。
【0021】
芳香族重合体としては、下記一般式(7)或いは(8)
【化8】
【0022】
(但し、R11は水素原子又は下記式
【化9】
で示されるグリシジル基であり、R12は水素原子又はメチル基であり、Xは水素原子又は臭素原子である。nは0以上の整数、好ましくは0乃至50の整数、特に好ましくは1乃至20の整数である。)
で表されるフェノール樹脂又はエポキシ樹脂、或いは下記一般式(9)乃至(12)
【0023】
【化10】
【0024】
(但し、R11は水素原子又は下記式
【化11】
で示されるグリシジル基であり、R12は水素原子又はメチル基であり、R13は
【化12】
であり、分子内の各部位について任意に選択される。Xは水素原子又は臭素原子である。nは0以上の整数、好ましくは0乃至50の整数、特に好ましくは1乃至20の整数であり、mは0以上の整数、好ましくは0乃至5の整数、特に好ましくは0又は1である。)
で表されるアルケニル基含有フェノール樹脂又はエポキシ樹脂が挙げられる。
【0025】
一方、オルガノポリシロキサンは、下記平均組成式(6)で示される。
(R9)a(R10)bSiO(4-a-b)/2 (6)
(式中、R9は水素原子、アミノ基,エポキシ基,ヒドロキシ基もしくはカルボキシ基を含有する有機基、又はアルコキシ基であり、R10は置換又は非置換の一価炭化水素基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、又はアルケニルオキシ基であり、a、bは、0.001≦a≦1、1≦b≦3、1≦a+b≦4を満足する正数である。また1分子中のケイ素原子数は1乃至1000であり、1分子中のケイ素原子に直結したR9数は1以上である。)
【0026】
ここで、R9のアミノ基含有有機基としては、下記のものが例示される。
【化13】
(但し、cは1、2又は3である。)
【0027】
エポキシ基含有有機基としては、下記のものが例示される。
【化14】
(但し、dは1、2又は3である。)
【0028】
ヒドロキシ基含有有機基としては、下記のものが例示される。
【化15】
(但し、eは0、1、2又は3であり、fは1、2又は3である。)
【0029】
カルボキシ基含有有機基としては、下記のものが例示される。
【化16】
(但し、gは0乃至10の整数である。)
【0030】
アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基等の炭素数1乃至4のものが挙げられる。
【0031】
また、R10の置換又は非置換の一価炭化水素基としては、炭素数1乃至10のものが好ましく、例えばメチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、オクチル基、デシル基等のアルキル基、ビニル基、アリル基、プロペニル基、ブテニル基等のアルケニル基、フェニル基、トリル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基等のアラルキル基などや、これらの炭化水素基の水素原子の一部又は全部をハロゲン原子等で置換したハロゲン置換一価炭化水素基などが挙げられる。
【0032】
更にa、bは上述した値であるが、好ましくは0.01≦a≦0.1、1.8≦b≦2、1.85≦a+b≦2.1を満足する正数であり、また一分子中のケイ素原子数は1乃至1000であるが、10乃至400であることが望ましく、特に20乃至210であることが望ましい。
【0033】
このようなオルガノポリシロキサンとしては、下記一般式(13)或いは(14)で表される化合物が挙げられる。
【化17】
(式中、R14はアミノ基、エポキシ基、ヒドロキシ基又はカルボキシ基を含有する一価炭化水素基であり、R15はR10と同様の置換又は非置換の一価炭化水素基、好ましくはメチル基又はフェニル基であり、pは0乃至1000の整数、好ましくは8乃至400の整数であり、qは0乃至20の整数、好ましくは0乃至5の整数である。)
【0034】
具体的には、下記式で表されるオルガノポロシロキサンを挙げることができる。
【化18】
【0035】
上記平均組成式(6)で示されるオルガノポリシロキサンの重量平均分子量は、特に限定されないが、100乃至70000が望ましい。オルガノポリシロキサンの分子量が100乃至70000である場合、得られた共重合体をエポキシ樹脂組成物に配合すると、マトリクス中に共重合体が相溶せず、かつ微細な海島構造を形成する。分子量が100未満であると、マトリクス中に共重合体が相溶し、海島構造が形成されず、分子量が70000より大きいと、海島が大きくなってしまい、いずれの場合も硬化物の低応力性が低下するおそれがある。
【0036】
上記の芳香族重合体とオルガノポリシロキサンとを反応させて共重合体を得る方法としては、公知の方法を採用することができる。
【0037】
なお、上記共重合体の添加量は、樹脂成分[成分(A),(B)及び共重合体の合計]全体の好ましくは0〜80重量%、特に好ましくは10〜50重量%である。共重合体の添加量が少なすぎると、硬化物の低応力性が損なわれるおそれがあり、添加量が多すぎると、未硬化物の粘度上昇、硬化物の耐熱性低下等を引き起こすおそれがある。
【0038】
本発明のエポキシ樹脂組成物において、エポキシ樹脂とフェノール樹脂の配合比は、当量比で0.8≦(エポキシ樹脂)/(フェノール樹脂)≦1.25であることが望ましく、特に0.9≦(エポキシ樹脂)/(フェノール樹脂)≦1.1であることが望ましい。当量比がこの範囲にない場合、一部未反応になり、硬化物の性能、更にはこれを用いる半導体装置の性能に支障をきたすおそれがある。この場合、エポキシ樹脂は、上記成分(A)のエポキシ樹脂と、上記共重合体がエポキシ基を有する場合はこれを加えた量であり、フェノール樹脂は、上記成分(B)のフェノール樹脂と、上記共重合体がフェノール性OH基を有する場合はこれを加えた量である。
【0039】
本発明のエポキシ樹脂組成物には、用途に応じてシリカ、アルミナ、タルク、マイカ、窒化ケイ素、窒化ホウ素、銀等の無機質充填剤、その他に難燃剤、イオントラップ剤、ワックス、着色剤、接着助剤等を本発明の目的を損なわない範囲において添加することができる。
【0040】
本発明のエポキシ樹脂組成物の各成分は、公知の方法により混合される。各種のミキサー、ロール、ルーダー等が用いられ、必要に応じて混合順序、時間、温度、気圧等の条件を制御することができる。
【0041】
本発明のエポキシ樹脂組成物は、150℃で1時間加熱したときの揮発分が、0.4重量%未満、特に0.2重量%以下であることが好ましい。揮発分が多いと組成物の硬化中、特に半田ボールを溶融させる工程において、この揮発成分によるボイドが発生するおそれがある。
また、エポキシ樹脂組成物の25℃における粘度は、100〜1000Pa・s、特に300〜600Pa・sであることが好ましい。
【0042】
また、本発明のエポキシ樹脂組成物の成形方法、成形条件は常法とすることができるが、好ましくは200℃以上の高温下で行われることが望ましい。加熱に際しては、温度制御が可能なフリップチップボンダー、或いはIRリフロー炉が用いられる。
【0043】
本発明のエポキシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂の硬化剤としてフェノール樹脂を用いることにより低揮発性に優れ、また半田ボールのフラックスとして有効に機能しうる有機酸を添加することにより半田ボールとの濡れ性・密着性を発揮しうるものであり、半導体装置の封止材、特にNo Flow型のアンダーフィル材として好適に用いられる。
【0044】
【実施例】
以下に実施例及び比較例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明は下記実施例に限定されるものではない。
【0045】
[実施例1〜12、比較例1〜3]
下記に示す各成分を表1乃至3に示す通りに配合し、ミキサーを用いて混合して、実施例1乃至12、比較例1乃至3の樹脂組成物を得た。ここで、フラックス成分については予め硬化剤に溶解させた。これらの樹脂組成物について、下記に示す(a)乃至(g)の各試験を行い、表1乃至3の結果を得た。
【0046】
エポキシ樹脂A(ビスフェノールA型エポキシ樹脂、当量170)
エポキシ樹脂B(ビスフェノールF型エポキシ樹脂、当量155)
エポキシ樹脂C(下記式(15)で表されるナフタレン型エポキシ樹脂、当量136)
【0047】
【化19】
【0048】
フェノール樹脂D(フェノールノボラック樹脂、当量110)
フェノール樹脂E(クレゾールノボラック樹脂、当量125)
硬化剤F(下記式(16)で表される4−メチルテトラヒドロ無水フタル酸/テトラヒドロ無水フタル酸=7/3、当量172)
【0049】
【化20】
【0050】
硬化剤G(下記式(17)で表されるビス−(4−アミノ−3,5−ジメチルフェニル)メタン、当量64)
【化21】
【0051】
硬化促進剤H(下記式(18)で表されるテトラフェニルホスフィン・テトラフェニルボレート)
【化22】
【0052】
硬化促進剤I(下記式(19)で表されるテトラトルイルホスフィン・テトラフェニルボレート)
【化23】
【0053】
硬化促進剤J(下記式(20)で表されるテトラフェニルホスフィン・テトラトルイルボレート)
【化24】
【0054】
低応力剤K(下記式(21)で表される芳香族重合体と下記式(22)で表されるオルガノポリシロキサンとの共重合体、白色固体、重量平均分子量3800、エポキシ当量291)
【化25】
(但し、r:s=19:1、r+sは平均で5、繰り返しの順序は任意である。)
【0055】
低応力剤L(下記式(23)で表される芳香族重合体と下記式(24)で表されるオルガノポリシロキサンとの共重合体、白色固体、重量平均分子量2600、フェノール性水酸基当量336)
【化26】
(但し、t:u=4:1、t+uは平均で3、繰り返しの順序は任意である。)
【0056】
フラックスM(下記式(1)で表されるアビエチン酸)
【化27】
【0057】
フラックスN(下記式(2)で表されるパラストリン酸)
【化28】
【0058】
フラックスO(下記式(3)で表されるレボピマール酸)
【化29】
【0059】
フラックスP(下記式(4)で表されるデヒドロアビエチン酸)
【化30】
【0060】
シリカ(球状溶融シリカ、平均粒径2μm、最大粒径10μm)
カーボンブラック(電化ブラック、電気化学工業製商品名)
KBM−403(信越化学工業製、シランカップリング剤、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)
【0061】
(a)未硬化物の粘度
JIS K7117に従い、25℃での未硬化物の粘度を測定した。
【0062】
(b)未硬化物の揮発分含有量
アルミニウム製のシャーレに樹脂組成物を3g滴下し、これを150℃のオーブン中で1時間加熱した。加熱前後の質量から揮発分含有量を算出した。
【0063】
(c)半田ボールとの濡れ性
図1(a)に示すように、銅板1上に樹脂組成物2を0.5g滴下し、半田ボール(Sn/Ag/Cu=96.5/3.0/0.5、0.76mm径)3を載せた。IRリフロー炉(最高温度260℃)を通過させ、図1(b)に示すように硬化後の断面写真から接触角4を算出した。
【0064】
(d)実装後のボイド
図2に示すように、銅電極5を施したBT基板6上に実施例1〜12、比較例1〜3の樹脂組成物2を滴下し、この上から半田ボール(Sn/Ag/Cu=96.5/3.0/0.5)3を施したチップ7を搭載し、230℃/0.1MPa/10秒の条件で半田ボール3を仮固定した。これをIRリフロー炉(最高温度260℃)を通過させて半導体装置を得た。
この半導体装置について、超音波探傷装置を用いて樹脂中のボイドの有無を観測し、ボイド発生チップ数/総チップ数(20個)を測定した。
【0065】
(e)耐冷熱サイクル試験
試験(d)において、樹脂中にボイドが見られなかったもの10個について、−60℃/10分と150℃/10分を500回、1000回、2000回往復させ、クラック・剥離発生チップ数/総チップ数を測定した。
【0066】
(f)吸湿リフロー試験
試験(d)において、樹脂中にボイドが見られなかったもの10個について、85℃/85%RH/168時間の条件で吸湿させた後に、IRリフロー炉(最高温度245℃)を通過させ、クラック・剥離発生チップ数/総チップ数を測定した。
【0067】
(g)実装後の導通試験
試験(d)と同様にして得られた半導体装置を用いて導通試験を行い、導通するチップ数/総チップ数(20個)を測定した。
【0068】
【表1】
【0069】
【表2】
【0070】
【表3】
【0071】
【発明の効果】
本発明のエポキシ樹脂組成物は、低揮発性に優れ、半田ボールとの濡れ性・密着性に優れるものであり、このエポキシ樹脂組成物を半導体素子の表面の被覆・封止、特にNo Flow型のアンダーフィル材として用いた半導体装置は、信頼性に優れるものである。
【0072】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における半田ボールとの濡れ性の測定方法の説明図であり、(a)は試験片の構成を示す概略斜視図であり、(b)は該試験片の接触角を示す概略断面図である。
【図2】本発明の実施例における試験に用いた半導体装置を示す概略断面図である。
【符号の説明】
1 銅板
2 樹脂組成物(アンダーフィル材)
3 半田ボール
4 接触角
5 銅電極
6 BT基板
7 チップ
Claims (3)
- 下記一般式(7),(8)
で表されるフェノール樹脂又はエポキシ樹脂、及び下記一般式(9)〜(12)
で表されるアルケニル基含有フェノール樹脂又はエポキシ樹脂から選ばれる芳香族重合体と下記平均組成式(6)で示されるオルガノポリシロキサンとを反応させて得られる共重合体を配合した請求項1記載のエポキシ樹脂組成物。
(R9)a(R10)bSiO(4-a-b)/2 (6)
(式中、R9は水素原子、アミノ基,エポキシ基,ヒドロキシ基もしくはカルボキシ基を含有する有機基、又はアルコキシ基であり、R10は置換又は非置換の一価炭化水素基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、又はアルケニルオキシ基であり、a、bは、0.001≦a≦1、1≦b≦3、1≦a+b≦4を満足する正数である。また1分子中のケイ素原子数は1乃至1000であり、1分子中のケイ素原子に直結したR9数は1以上である。) - 請求項1又は2記載のエポキシ樹脂組成物の硬化物をノーフロー型のアンダーフィル材として封止したフリップチップ型半導体装置。
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