JP3880360B2 - 偏波モード分散測定装置、方法、記録媒体 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光通信に用いられる光ファイバおよび光コンポーネントの偏波モード分散の測定に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ファイバの偏波モード分散を測定することは従来より行われている。例えば、特開平9−264814号公報にも、光ファイバの偏波モード分散測定装置についての記載がある。図3を参照して、特開平9−264814号公報に記載の光ファイバの偏波モード分散測定装置を説明する。
【0003】
まず、被測定光ファイバ104の偏波モード分散τPMDを式(1)のように定義する。
【0004】
【数1】
ただし、θは偏光角、ψ1は光の進行方向に垂直な面内のある方向の位相推移、ψ2はψ1に直交する方向の位相推移である。ここで、被測定光ファイバ104の伝達関数行列[T]を式(2)のように定義する。
【0005】
【数2】
ただし、|Tij|は各行列要素の振幅、φijは各行列要素の位相推移であり、ともに光角周波数ωの関数である。すると、式(1)のパラメータθ、ψ1、ψ2はそれぞれ式(3)、(4)、(5)のようにして求めることができる。
【0006】
θ(ω)=0.5cos-1(|T11|2−|T21|2) …(3)
ψ1(ω)=(φ11−φ22)/2 …(4)
ψ2(ω)=(φ21−φ12+π)/2 …(5)
よって、被測定光ファイバ104の伝達関数行列[T]を求めることにより、被測定光ファイバ104の偏波モード分散τPMDを求めることができる。
【0007】
被測定光ファイバ104の伝達関数行列[T]を求める方法を図3を参照して、説明する。まず、制御部109は偏波コントローラ103の出力光を偏光ビームスプリッタ105のp方向に一致する直線偏波として被測定光ファイバ104へ入射させる。このときの被測定光ファイバ104の出力光は以下の式(6)により表わされる。
【0008】
【数3】
上記の出力光は偏光ビームスプリッタ105によりs偏光成分およびp偏光成分に分離されてO/E変換器1061,1062に入射されて
【0009】
【数4】
が測定される。
【0010】
上記の測定が終了すると、制御部109は偏波コントローラ103の出力光を90゜回転させて偏光ビームスプリッタ105のs方向に一致する直線偏波として被測定光ファイバ104へ入射させる。このときの被測定光ファイバ104の出力光は以下の式(7)により表わされる。
【0011】
【数5】
上記の出力光は偏光ビームスプリッタ105によりs偏光成分およびp偏光成分に分離されてO/E変換器1061,1062に入射されて、
【0012】
【数6】
が測定される。
【0013】
ネットワークアナライザ107は上記のようにして測定された各パラメータと式(3)、(4)、(5)から、θ,ψ1,ψ2を求める。なお、ネットワークアナライザ107は、増幅器108を介して光強度変調器102における強度変調比を制御している。
【0014】
この後、上記の測定が波長可変光源101の出力波長を掃引して行われ、各測定結果からθ(ω),ψ1(ω),ψ2(ω)が求められる。そして、制御部109は式(1)から偏波モード分散τPMDを求める。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような方法では、制御部109により偏波コントローラ103の出力光の方向を、偏光ビームスプリッタ105のp方向あるいはs方向に切り替える必要がある。偏波コントローラ103の出力光の方向の切り替えは、波長可変光源101の波長掃引ごとに行う必要がある。よって、偏波モード分散τPMDの測定に時間がかかる。
【0016】
そこで、本発明は、偏波モード分散τPMDの測定にかかる時間を短縮した偏波モード分散の測定装置等を提供することを課題とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定装置であって、被測定物から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する偏波分離手段と、波長が共通の第一入射光および第二入射光を生成する光生成手段と、第一入射光を第一強度変調周波数で強度変調して出射する第一光変調手段と、第二入射光を、第一強度変調周波数とは異なる第二強度変調周波数で強度変調して出射する第二光変調手段と、強度変調された第一入射光および第二入射光を合成して合成入射光を出射する偏波合成手段と、第一入射光については偏波分離手段におけるp偏光軸、第二入射光については偏波分離手段におけるs偏光軸にあわせて、合成入射光を被測定物に入射する光入射手段と、偏波分離手段の出力における第一入射光成分の位相推移相当値を計測する第一計測手段と、偏波分離手段の出力における第二入射光成分の位相推移相当値を計測する第二計測手段と、第一計測手段および第二計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定手段と、を備えるように構成される。
【0018】
上記のように構成された偏波モード分散測定装置によれば、光入射手段により、第一入射光については偏波分離手段におけるp偏光軸にあわせて、合成入射光が被測定物に入射される。よって、第一計測手段が計測する偏波分離手段の出力における第一入射光成分の位相推移相当値は、被測定物の伝達関数行列を2×2の行列とすれば、第一列の位相推移相当値となる。
【0019】
また、光入射手段により、第二入射光については偏波分離手段におけるs偏光軸にあわせて、合成入射光が被測定物に入射される。よって、第二計測手段が計測する偏波分離手段の出力における第二入射光成分の位相推移相当値は、被測定物の伝達関数行列を2×2の行列とすれば、第二列の位相推移相当値となる。
【0020】
よって、第一計測手段および第二計測手段によって、被測定物の伝達関数行列の各要素の位相推移相当値を求めることができる。被測定物の伝達関数行列の各要素の位相推移相当値からは、直交する2つの成分の位相推移の差成分φ(ω)と同相成分ψ(ω)を求めることができる。さらに、φ(ω)とψ(ω)とに基づき被測定物の偏波モード分散を求めることができる。
【0021】
この場合、光入射手段が出射する光の方向の設定を切り替える必要はなく、設定を固定したままでよい。よって、偏波モード分散τPMDの測定にかかる時間を短縮した偏波モード分散の測定装置を提供できる。
【0022】
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明であって、位相推移相当値は、位相推移を光角周波数で微分したものである。
【0023】
請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の発明であって、第一入射光および第二入射光の波長は可変であり、第一計測手段が、さらに偏波分離手段の出力における第一入射光成分の振幅相当値を計測するように構成される。
【0024】
上記のように構成された偏波モード分散測定装置によれば、第一計測手段が、さらに偏波分離手段の出力における第一入射光成分の振幅相当値を計測する。そこで、第一入射光成分の振幅相当値と、第一入射光および第二入射光の波長とに基づき、被測定物から出射される光の偏光角を測定できる。
【0025】
請求項4に記載の発明は、請求項1または2に記載の発明であって、第一入射光および第二入射光の波長は可変であり、第二計測手段が、さらに偏波分離手段の出力における第二入射光成分の振幅相当値を計測するように構成される。
【0026】
請求項5に記載の発明は、請求項1または2に記載の発明であって、第一入射光および第二入射光の波長は可変であり、第一計測手段が、さらに偏波分離手段の出力における第一入射光成分の振幅相当値を計測し、第二計測手段が、さらに偏波分離手段の出力における第二入射光成分の振幅相当値を計測するように構成される。
【0027】
上記のように構成された偏波モード分散測定装置によれば、第一入射光成分の振幅相当値と、第一入射光および第二入射光の波長とに基づき、被測定物の偏光角を測定できる。しかも、第二入射光成分の振幅相当値と、第一入射光および第二入射光の波長とに基づき、被測定物の偏光角を測定できる。よって、第一入射光成分の振幅相当値に基づいて求めた偏光角と、第二入射光成分の振幅相当値に基づいて求めた偏光角と、の平均をとるなどして、偏光角の計測精度を向上させられる。
【0028】
請求項6に記載の発明は、請求項1または2に記載の発明であって、偏波モード分散測定手段は、第一計測手段および第二計測手段の計測結果に基づき被測定物の群遅延時間を測定するように構成される。
【0029】
被測定物の伝達関数行列の各要素の位相推移を光角周波数で微分したものに基づき被測定物の群遅延時間を測定することができる。
【0030】
請求項7に記載の発明は、請求項3ないし6のいずれか一項に記載の発明であって、振幅相当値は、振幅を二乗したものである。
【0031】
請求項8に記載の発明は、請求項1ないし7のいずれか一項に記載の発明であって、光生成手段は、単一の光源と、光源が生成する光を分岐して第一入射光および第二入射光を生成する光分岐手段と、を備えるように構成される。
【0032】
請求項9に記載の発明は、請求項1ないし7のいずれか一項に記載の発明であって、偏波分離手段の出力のp偏光成分を光電変換して第一計測手段および第二計測手段に出力する第一光電変換手段と、偏波分離手段の出力のs偏光成分を光電変換して第一計測手段および第二計測手段に出力する第二光電変換手段と、を備えるように構成される。
【0033】
請求項10に記載の発明は、被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定方法であって、被測定物から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する偏波分離工程と、波長が共通の第一入射光および第二入射光を生成する光生成工程と、第一入射光を第一強度変調周波数で強度変調して出射する第一光変調工程と、第二入射光を、第一強度変調周波数とは異なる第二強度変調周波数で強度変調して出射する第二光変調工程と、強度変調された第一入射光および第二入射光を合成して合成入射光を出射する偏波合成工程と、第一入射光については偏波分離工程におけるp偏光軸、第二入射光については偏波分離工程におけるs偏光軸にあわせて、合成入射光を被測定物に入射する光入射工程と、偏波分離工程の出力における第一入射光成分の位相推移相当値を計測する第一計測工程と、偏波分離工程の出力における第二入射光成分の位相推移相当値を計測する第二計測工程と、第一計測工程および第二計測工程の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定工程と、を備えた偏波モード分散測定方法である。
【0034】
請求項11に記載の発明は、被測定物から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する偏波分離手段と、波長が共通の第一入射光および第二入射光を生成する光生成手段と、第一入射光を第一強度変調周波数で強度変調して出射する第一光変調手段と、第二入射光を、第一強度変調周波数とは異なる第二強度変調周波数で強度変調して出射する第二光変調手段と、強度変調された第一入射光および第二入射光を合成して合成入射光を出射する偏波合成手段と、第一入射光については偏波分離手段におけるp偏光軸、第二入射光については偏波分離手段におけるs偏光軸にあわせて、合成入射光を被測定物に入射する光入射手段と、偏波分離手段の出力における第一入射光成分の位相推移相当値を計測する第一計測手段と、偏波分離手段の出力における第二入射光成分の位相推移相当値を計測する第二計測手段と、を備えた偏波モード分散測定装置における、被測定物の偏波モード分散を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、第一計測手段および第二計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【0035】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【0036】
図1は、本発明の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置は、被測定物(DUT)30の偏波モード分散τPMDを求めるためのものである。本発明の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置は、制御部(偏波モード分散測定手段)2、波長可変光源4、光分岐器6、第一光変調器8a、第二光変調器8b、偏波合成器10、偏波コントローラ(光入射手段)12、偏波分離器16、第一光電(O/E)変換器18a、第二光電(O/E)変換器18b、第一計測部20a、第二計測部20b、増幅器22a、22bを備える。
【0037】
制御部2は、波長可変光源4および偏波コントローラ12を制御する。また、第一計測部20aおよび第二計測部20bの計測結果に基づき、被測定物30の偏波モード分散τPMDを求める偏波モード分散測定手段としての機能も果たす。また、被測定物30の群遅延時間τを求めるようにしてもよい。
【0038】
波長可変光源4は、制御部2の制御を受け、波長を変化させながら、光を生成する。なお、光角周波数ω=2πf=2πc/λである。ただし、cは光速、λは波長である。よって、波長λを変化させることは、光角周波数ωを変化させることにつながる。
【0039】
光分岐器6は、波長可変光源4から出射された光を分岐して、第一入射光を第一光変調器8aに、第二入射光を第二光変調器8bに、出射する。なお、第一入射光および第二入射光は、双方とも波長可変光源4から出射された光であるため、波長が共通である。よって、光角周波数ωも共通である。波長可変光源4および光分岐器6が光生成手段に対応する。
【0040】
第一光変調器8aは、第一入射光の強度変調を行う。すなわち、第一入射光の強度が、数GHz程度の固定の第一強度変調周波数fm1の正弦波となるように強度変調して偏波合成器10へ出射する。
【0041】
第二光変調器8bは、第二入射光の強度変調を行う。すなわち、第二入射光の強度が、数GHz程度の固定の第二強度変調周波数fm2の正弦波となるように強度変調して偏波合成器10へ出射する。なお、第二強度変調周波数fm2は、第一強度変調周波数fm1とは異なる。
【0042】
偏波合成器10は、第一光変調器8aの出射光および第二光変調器8bの出射光を合成して合成入射光を出射する。
【0043】
偏波コントローラ(光入射手段)12は、合成入射光の偏波状態を、制御部2の制御を受けて、制御する。すなわち、第一入射光については偏波分離器16におけるp偏光軸、第二入射光については偏波分離器16におけるs偏光軸にあわせる。そして、偏波状態を制御した合成入射光を被測定物30に入射する。
【0044】
合成入射光を被測定物30に入射すると、合成入射光が被測定物30を透過する。偏波分離器16は、被測定物30を透過した光すなわち被測定物30から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する。
【0045】
第一光電(O/E)変換器18aは、偏波分離器16の出力のp偏光成分を光電変換して第一計測部20aおよび第二計測部20bに出力する。第二光電(O/E)変換器18bは、偏波分離器16の出力のs偏光成分を光電変換して第一計測部20aおよび第二計測部20bに出力する。
【0046】
第一計測部20aは、偏波分離器16の出力における第一入射光成分の位相推移相当値および振幅相当値を計測する。位相推移相当値とは、位相推移に相当する値である。位相推移相当値は、位相推移そのものでもよいが、例えば、位相推移を光各周波数で微分した値が、位相推移相当値である。振幅相当値とは、振幅に相当する値である。振幅相当値は、振幅そのものでもよいが、例えば、振幅を二乗した値が、振幅相当値である。
【0047】
また、第一計測部20aは、増幅器22aを介して、第一光変調器8aにおける強度変調比を制御している。なお、第一計測部20aは、正確な偏波モード分散τPMDを求めるために、予め測定された被測定物30を通さない波長可変光源4の各波長毎の出力光についてのs偏光成分およびp偏光成分の値を記憶しており、該記憶値に基づいて第一光電(O/E)変換器18a、第二光電(O/E)変換器18bの出力値を校正して測定精度の向上を図っている。
【0048】
第二計測部20bは、偏波分離器16の出力における第二入射光成分の位相推移相当値および振幅相当値を計測する。位相推移相当値とは、位相推移に相当する値である。例えば、位相推移を光各周波数で微分した値が、位相推移相当値である。振幅相当値とは、振幅に相当する値である。例えば、振幅を二乗した値が、振幅相当値である。
【0049】
また、第二計測部20bは、増幅器22bを介して、第二光変調器8bにおける強度変調比を制御している。なお、第二計測部20bは、正確な偏波モード分散τPMDを求めるために、予め測定された被測定物30を通さない波長可変光源4の各波長毎の出力光についてのs偏光成分およびp偏光成分の値を記憶しており、該記憶値に基づいて第一光電(O/E)変換器18a、第二光電(O/E)変換器18bの出力値を校正して偏波モード分散τPMDを求め、測定精度の向上を図っている。
【0050】
次に、本発明の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置の動作を図2のフローチャートを参照しながら説明する。
【0051】
まず、波長可変光源4の出力する光の光角周波数をωとする(S10)。図1を参照して、波長可変光源4は、光角周波数ωの光を出射する。この光は、光分岐器6により第一入射光と第二入射光とに分岐される。第一入射光は、第一光変調器8aにより、第一強度変調周波数fm1で強度変調され、偏波合成器10へ出射される。第二入射光は、第二光変調器8bにより、第二強度変調周波数fm2で強度変調され、偏波合成器10へ出射される。
【0052】
偏波合成器10は、強度変調された第一入射光および第二入射光を合成して合成入射光を出射する。合成入射光は偏波コントローラ(光入射手段)12により、第一入射光については偏波分離器16におけるp偏光軸、第二入射光については偏波分離器16におけるs偏光軸にあわせられる。そして、合成入射光は被測定物30に入射される。
【0053】
被測定物30を透過した合成入射光は、偏波分離器16によりp偏光およびs偏光に分離される。偏波分離器16が出力したp偏光成分は第一光電(O/E)変換器18aにより光電変換されて第一計測部20aおよび第二計測部20bに出力される。偏波分離器16が出力したs偏光成分は第二光電(O/E)変換器18bにより光電変換されて第一計測部20aおよび第二計測部20bに出力される。
【0054】
第一計測部20aおよび第二計測部20bは、第一光電(O/E)変換器18aおよび第二光電(O/E)変換器18bの出力に基づき、第一入射光成分(「fm1成分」という)および第二入射光成分(「fm2成分」という)の位相推移相当値および振幅相当値を求める(S12)(図2参照)。
【0055】
ここで、位相推移相当値の求め方および振幅相当値の求め方(S12)を説明する。
【0056】
まず、被測定物30の伝達関数行列[T]を式(10)のように定義する。
【0057】
【数7】
ただし、伝達関数行列[T]の各要素は以下の式(11)の通りである。
【0058】
【数8】
ただし、φ(ω)は直交する2つの成分ψ1(ω)、ψ2(ω)の位相推移の差成分であり、ψ(ω)は直交する2つの成分ψ1(ω)、ψ2(ω)の位相推移の同相成分である。なお、ψ1(ω)は光の進行方向に垂直な面内のある方向の位相推移、ψ2(ω)はψ1に直交する方向の位相推移である。具体的には、φ(ω)=(ψ1(ω)−ψ2(ω))/2、ψ(ω)=(ψ1(ω)+ψ2(ω))/2である。また、Θ(ω)は、被測定物30から出射される光の偏光角である。
【0059】
ここで、合成入射光の偏波状態を、第一入射光については偏波分離器16におけるp偏光軸にあわせてある。よって、偏波分離器16のfm1成分出力は、以下の式(12)のようになる。
【0060】
【数9】
fm1成分出力は、第一計測部20aが計測する。第一計測部20aには、第一光電(O/E)変換器18aを介して、T11(ω)の光が入射される。しかも、第一計測部20aには、第二光電(O/E)変換器18bを介して、T21(ω)の光が入射される。よって、第一計測部20aは、T11(ω)およびT21(ω)の位相推移Φ11、Φ21に相当する値、例えば位相推移Φ11、Φ21を光角周波数ωで微分した値、ならびに振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|に相当する値、例えば振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|を二乗した値、を計測できる。すなわち、第一計測部20aは、被測定物30の伝達関数行列の第一列の位相推移相当値および振幅相当値を計測できる。
【0061】
また、合成入射光の偏波状態を、第二入射光については偏波分離器16におけるs偏光軸にあわせてある。よって、偏波分離器16のfm2成分出力は、以下の式(13)のようになる。
【0062】
【数10】
fm2成分出力は、第二計測部20bが計測する。よって、第二計測部20bには、第一光電(O/E)変換器18aを介して、T12(ω)の光が入射される。しかも、第二計測部20bには、第二光電(O/E)変換器18bを介して、T22(ω)の光が入射される。よって、第二計測部20bは、T12(ω)およびT22(ω)の位相推移Φ12、Φ22に相当する値、例えば位相推移Φ12、Φ22を光角周波数ωで微分した値、ならびに振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|に相当する値、例えば振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|を二乗した値、を計測できる。すなわち、第二計測部20bは、被測定物30の伝達関数行列の第二列の位相推移相当値および振幅相当値を計測できる。
【0063】
よって、被測定物30の位相推移Φ11、Φ21、Φ12、Φ22に相当する値(位相推移を光角周波数ωで微分した値)、ならびに振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|、|T12(ω)|、|T22(ω)|に相当する値(振幅を二乗した値)を計測できる。
【0064】
次に、制御部2は、被測定物30の位相推移Φ11、Φ21、Φ12、Φ22に相当する値(位相推移を光角周波数ωで微分した値)、に基づき、φ(ω)、ψ(ω)を求める(S14)。
【0065】
まず、位相推移Φ11、Φ21、Φ12、Φ22を光角周波数で微分したものが群遅延時間である。群遅延時間は、式(14)のようになる。
【0066】
【数11】
また、φ(ω)、ψ(ω)をテイラー展開して、一次近似すると、式(15)のようになる。φ(ω)=φ0+β1(ω−ω0)、ψ(ω)=ψ0+γ1(ω−ω0) …(15)
ここで、β1はφ(ω)をωで微分したものであり、γ1はψ(ω)をωで微分したものである。よって、β1およびγ1は、式(16)のように求められる。
【0067】
【数12】
β1およびγ1を求めれば、β1およびγ1を式(15)に代入することにより、φ(ω)、ψ(ω)を求めることができる。
【0068】
次に、制御部2は波長可変光源4を制御して、光角周波数をΔω増やす(S16)。このとき、光角周波数はω+Δωとなる。そして、fm1成分およびfm2成分の振幅を求める(S18)。振幅の計測法自体は光角周波数がωであるときの振幅の計測(S12)と同様である。
【0069】
そこで、制御部2は、光角周波数がωであるときの振幅および光角周波数がω+Δωであるときの振幅を使用して、Θ(ω)を計測する(S20)。ただし、Θ(ω)は被測定物30から出射される光の偏光角である。
【0070】
まず、第一計測部20aにより求められる|T11(ω)|、|T21(ω)|の相当値(振幅を二乗した値)を使用して、Θ(ω)を式(17)のようにして求める。
【0071】
Θ(ω)=0.5cos-1(|T11(ω)|2−|T21(ω)|2) …(17)
また、|T11(ω+Δω)|、|T21(ω+Δω)|の相当値(振幅を二乗した値)を使用して、Θ(ω+Δω)を式(18)のようにして求める。
【0072】
Θ(ω+Δω)=0.5cos-1(|T11(ω+Δω)|2−|T21(ω+Δω)|2) …(18)
また、Θ(ω)をテイラー展開して、一次近似すると、Θ(ω)=Θ0+α1(ω−ω0) …(19)である。よって、α1は式(20)のようにして求められる。
【0073】
α1=(Θ(ω+Δω)−Θ(ω))/((ω+Δω)−ω) …(20)
α1を式(19)に代入してΘ(ω)を求める。すなわち、Θ(ω)を、振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|に相当する値(振幅を二乗した値)と、ω+Δω、ωといった光角周波数に基づき、求める。なお、光角周波数は波長と一定の関係があるので、振幅相当値と波長とに基づきΘ(ω)を求めることになる。
【0074】
次に、第二計測部20bにより求められる振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|の相当値(振幅を二乗した値)を使用して、Θ(ω)を式(21)のようにして求める。
【0075】
Θ(ω)=0.5cos-1(|T12(ω)|2−|T22(ω)|2) …(21)
また、|T12(ω+Δω)|、|T22(ω+Δω)|の相当値(振幅を二乗した値)を使用して、Θ(ω+Δω)を式(22)のようにして求める。
【0076】
Θ(ω+Δω)=0.5cos-1(|T12(ω+Δω)|2−|T22(ω+Δω)|2) …(22)
そこで、式(20)により、α1を求める。α1を式(19)に代入してΘ(ω)を求める。すなわち、Θ(ω)を、振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|に相当する値(振幅を二乗した値)と、ω+Δω、ωといった光角周波数に基づき、求める。なお、光角周波数は波長と一定の関係があるので、振幅相当値(振幅を二乗した値)と波長とに基づきΘ(ω)を求めることになる。
【0077】
このように、第一計測部20aにより求められる振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|の相当値(振幅を二乗した値)に基づきΘ(ω)を求め、第二計測部20bにより求められる振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|の相当値(振幅を二乗した値)に基づきΘ(ω)を求める。
【0078】
そして、制御部2は、|T11(ω)|、|T21(ω)|を二乗した値に基づき求められたΘ(ω)と、|T12(ω)|、|T22(ω)|を二乗した値に基づき求められたΘ(ω)とを平均するなどして、計測精度を向上して、Θ(ω)を求める(S22)。そして、fm1成分およびfm2成分の位相推移相当値と、fm1成分およびfm2成分の振幅相当値の計測(S12)に戻る。ただし、光角周波数ω+Δωのときの振幅相当値はすでに、S18で求めているので、S12における振幅相当値の計測は省略してもよい。そして、制御部2は、Θ(ω)、φ(ω)、ψ(ω)のテイラー展開の一次の係数α1、β1、γ1を使用して被測定物30の偏波モード分散τPMDを式(23)により求める(S24)。
【0079】
【数13】
なお、必要があれば、被測定物30の群遅延時間τを式(24)のように、制御部2に求めさせてもよい。ただし、(a)、(b)、(c)のいずれの式を用いても良い。
【0080】
【数14】
そして、任意の時点で電源を断つ事により終了する(S30)。
【0081】
本発明の実施形態によれば、偏波コントローラ(光入射手段)12により、第一入射光については偏波分離器16におけるp偏光軸にあわせて、合成入射光が被測定物30に入射される。よって、第一計測部20aが計測する偏波分離器16の出力における第一入射光成分の位相推移相当値および振幅相当値は、被測定物の伝達関数行列を2×2の行列とすれば、第一列T11、T21の位相推移Φ11、Φ21に相当する値、例えば位相推移Φ11、Φ21を光角周波数ωで微分した値、および振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|に相当する値、例えば振幅|T11(ω)|、|T21(ω)|を二乗した値、となる。
【0082】
また、偏波コントローラ(光入射手段)12により、第二入射光については偏波分離器16におけるs偏光軸にあわせて、合成入射光が被測定物30に入射される。よって、第二計測部20bが計測する偏波分離器16の出力における第二入射光成分の位相推移および振幅は、被測定物の伝達関数行列を2×2の行列とすれば、第二列T12、T22の位相推移Φ12、Φ22に相当する値、例えば位相推移Φ12、Φ22を光角周波数ωで微分した値、および振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|に相当する値、例えば振幅|T12(ω)|、|T22(ω)|を二乗した値、となる。
【0083】
よって、第一計測部20aおよび第二計測部20bによって、被測定物30の伝達関数行列の各要素の位相推移相当値および振幅相当値を求めることができる。被測定物30の伝達関数行列の各要素の位相推移相当値からは、直交する2つの成分の位相推移の差成分φ(ω)と同相成分ψ(ω)を求めることができる。また、被測定物30の伝達関数行列の各要素の振幅相当値からは、偏光角Θ(ω)を求めることができる。
【0084】
さらに、Θ(ω)、φ(ω)、ψ(ω)のテイラー展開の一次の係数α1、β1、γ1を使用して被測定物30の偏波モード分散τPMDを求めることができる。
【0085】
この場合、偏波コントローラ(光入射手段)12が出射する光の方向の設定を切り替える必要はなく、設定を固定したままでよい。よって、偏波モード分散τPMDの測定にかかる時間を短縮した偏波モード分散の測定装置を提供できる。
【0086】
しかも、第一入射光成分の振幅相当値と、第一入射光および第二入射光の波長(光角周波数)とに基づき、被測定物30の偏光角Θ(ω)を測定できる。しかも、第二入射光成分の振幅相当値と、第一入射光および第二入射光の波長とに基づき、被測定物30の偏光角Θ(ω)を測定できる。よって、第一入射光成分の振幅相当値に基づいて求めた偏光角と、第二入射光成分の振幅相当値に基づいて求めた偏光角と、の平均をとるなどして、偏光角Θ(ω)の計測精度を向上させられる。
【0087】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。CPU、ハードディスク、メディア(フロッピーディスク、CD−ROMなど)読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分、特に制御部2における、α1、β1、γ1などの各種パラメータの演算を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【0088】
【発明の効果】
本発明によれば、光入射手段により、第一入射光については偏波分離手段におけるp偏光軸にあわせて、合成入射光が被測定物に入射される。よって、第一計測手段が計測する偏波分離手段の出力における第一入射光成分の位相推移相当値は、被測定物の伝達関数行列を2×2の行列とすれば、第一列の位相推移相当値となる。
【0089】
また、光入射手段により、第二入射光については偏波分離手段におけるs偏光軸にあわせて、合成入射光が被測定物に入射される。よって、第二計測手段が計測する偏波分離手段の出力における第二入射光成分の位相推移相当値は、被測定物の伝達関数行列を2×2の行列とすれば、第二列の位相推移相当値となる。
【0090】
よって、第一計測手段および第二計測手段によって、被測定物の伝達関数行列の各要素の位相推移相当値を求めることができる。被測定物の伝達関数行列の各要素の位相推移相当値からは、直交する2つの成分の位相推移の差成分φ(ω)と同相成分ψ(ω)を求めることができる。さらに、φ(ω)とψ(ω)とに基づき被測定物の偏波モード分散を求めることができる。
【0091】
この場合、光入射手段が出射する光の方向の設定を切り替える必要はなく、設定を固定したままでよい。よって、偏波モード分散τPMDの測定にかかる時間を短縮した偏波モード分散の測定装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図3】従来技術の特開平9−264814号公報に記載の光ファイバの偏波モード分散測定装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
2 制御部(偏波モード分散測定手段)
4 波長可変光源
6 光分岐器
8a 第一光変調器
8b 第二光変調器
10 偏波合成器
12 偏波コントローラ(光入射手段)
16 偏波分離器
18a 第一光電(O/E)変換器
18b 第二光電(O/E)変換器
20a 第一計測部
20b 第二計測部
22a、22b 増幅器
30 被測定物(DUT)
Claims (11)
- 被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定装置であって、
前記被測定物から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する偏波分離手段と、
波長が共通の第一入射光および第二入射光を生成する光生成手段と、
前記第一入射光を第一強度変調周波数で強度変調して出射する第一光変調手段と、
前記第二入射光を、前記第一強度変調周波数とは異なる第二強度変調周波数で強度変調して出射する第二光変調手段と、
強度変調された前記第一入射光および前記第二入射光を合成して合成入射光を出射する偏波合成手段と、
前記第一入射光については前記偏波分離手段におけるp偏光軸、前記第二入射光については前記偏波分離手段におけるs偏光軸にあわせて、前記合成入射光を前記被測定物に入射する光入射手段と、
前記偏波分離手段の出力における前記第一入射光成分の位相推移相当値を計測する第一計測手段と、
前記偏波分離手段の出力における前記第二入射光成分の位相推移相当値を計測する第二計測手段と、
前記第一計測手段および前記第二計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定手段と、
を備えた偏波モード分散測定装置。 - 前記位相推移相当値は、位相推移を光角周波数で微分したものである、請求項1に記載の偏波モード分散測定装置。
- 前記第一入射光および前記第二入射光の波長は可変であり、
前記第一計測手段が、さらに前記偏波分離手段の出力における前記第一入射光成分の振幅相当値を計測する、
請求項1または2に記載の偏波モード分散測定装置。 - 前記第一入射光および前記第二入射光の波長は可変であり、
前記第二計測手段が、さらに前記偏波分離手段の出力における前記第二入射光成分の振幅相当値を計測する、
請求項1または2に記載の偏波モード分散測定装置。 - 前記第一入射光および前記第二入射光の波長は可変であり、
前記第一計測手段が、さらに前記偏波分離手段の出力における前記第一入射光成分の振幅相当値を計測し、
前記第二計測手段が、さらに前記偏波分離手段の出力における前記第二入射光成分の振幅相当値を計測する、
請求項1または2に記載の偏波モード分散測定装置。 - 前記偏波モード分散測定手段は、前記第一計測手段および前記第二計測手段の計測結果に基づき被測定物の群遅延時間を測定する、
請求項1または2に記載の偏波モード分散測定装置。 - 前記振幅相当値は、振幅を二乗したものである、請求項3ないし6のいずれか一項に記載の偏波モード分散測定装置。
- 前記光生成手段は、
単一の光源と、
前記光源が生成する光を分岐して前記第一入射光および前記第二入射光を生成する光分岐手段と、
を備えた請求項1ないし7のいずれか一項に記載の偏波モード分散測定装置。 - 前記偏波分離手段の出力のp偏光成分を光電変換して前記第一計測手段および前記第二計測手段に出力する第一光電変換手段と、
前記偏波分離手段の出力のs偏光成分を光電変換して前記第一計測手段および前記第二計測手段に出力する第二光電変換手段と、
を備えた請求項1ないし7のいずれか一項に記載の偏波モード分散測定装置。 - 被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定方法であって、
前記被測定物から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する偏波分離工程と、
波長が共通の第一入射光および第二入射光を生成する光生成工程と、
前記第一入射光を第一強度変調周波数で強度変調して出射する第一光変調工程と、
前記第二入射光を、前記第一強度変調周波数とは異なる第二強度変調周波数で強度変調して出射する第二光変調工程と、
強度変調された前記第一入射光および前記第二入射光を合成して合成入射光を出射する偏波合成工程と、
前記第一入射光については前記偏波分離工程におけるp偏光軸、前記第二入射光については前記偏波分離工程におけるs偏光軸にあわせて、前記合成入射光を前記被測定物に入射する光入射工程と、
前記偏波分離工程の出力における前記第一入射光成分の位相推移相当値を計測する第一計測工程と、
前記偏波分離工程の出力における前記第二入射光成分の位相推移相当値を計測する第二計測工程と、
前記第一計測工程および前記第二計測工程の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定工程と、
を備えた偏波モード分散測定方法。 - 被測定物から出射された光を受けて、p偏光およびs偏光に分離して出力する偏波分離手段と、
波長が共通の第一入射光および第二入射光を生成する光生成手段と、
前記第一入射光を第一強度変調周波数で強度変調して出射する第一光変調手段と、
前記第二入射光を、前記第一強度変調周波数とは異なる第二強度変調周波数で強度変調して出射する第二光変調手段と、
強度変調された前記第一入射光および前記第二入射光を合成して合成入射光を出射する偏波合成手段と、
前記第一入射光については前記偏波分離手段におけるp偏光軸、前記第二入射光については前記偏波分離手段におけるs偏光軸にあわせて、前記合成入射光を前記被測定物に入射する光入射手段と、
前記偏波分離手段の出力における前記第一入射光成分の位相推移相当値を計測する第一計測手段と、
前記偏波分離手段の出力における前記第二入射光成分の位相推移相当値を計測する第二計測手段と、
を備えた偏波モード分散測定装置における、
前記被測定物の偏波モード分散を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記第一計測手段および前記第二計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
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