JPH11271179A - 光ファイバの波長分散測定装置 - Google Patents
光ファイバの波長分散測定装置Info
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- JPH11271179A JPH11271179A JP9661898A JP9661898A JPH11271179A JP H11271179 A JPH11271179 A JP H11271179A JP 9661898 A JP9661898 A JP 9661898A JP 9661898 A JP9661898 A JP 9661898A JP H11271179 A JPH11271179 A JP H11271179A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 構成が簡単で調整が容易で波長分散特性を正
確に測定できるようにする。 【解決手段】 送信部２０は、第１の光源部２１から出
射される波長固定の第１の光信号と、第２の光源部２２
から出射される波長可変の第２の光信号とを光合波手段
２３によって合波し、合波された光に対して光変調手段
２５で所定信号によって強度変調し、この強度変調され
た光を被測定ファイバ１に入射する。受信部３０は被測
定ファイバ１から出射される光を受光して、波長分散特
性を測定する。
確に測定できるようにする。 【解決手段】 送信部２０は、第１の光源部２１から出
射される波長固定の第１の光信号と、第２の光源部２２
から出射される波長可変の第２の光信号とを光合波手段
２３によって合波し、合波された光に対して光変調手段
２５で所定信号によって強度変調し、この強度変調され
た光を被測定ファイバ１に入射する。受信部３０は被測
定ファイバ１から出射される光を受光して、波長分散特
性を測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバの波長
分散特性を測定する波長分散測定装置において、測定精
度を向上させるための技術に関する。
分散特性を測定する波長分散測定装置において、測定精
度を向上させるための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバ中を光信号が伝搬する速度は
波長依存性があるため、波長拡がりのある光を光ファイ
バに入射した場合、その入射光の各波長成分が異なる速
度で伝搬して、光ファイバの出射後の光信号波形に劣化
を生じる。この光ファイバの伝搬速度の波長依存性は光
信号の伝送容量を制限する要因となるため、光ファイバ
の波長分散特性を測定する必要がある。
波長依存性があるため、波長拡がりのある光を光ファイ
バに入射した場合、その入射光の各波長成分が異なる速
度で伝搬して、光ファイバの出射後の光信号波形に劣化
を生じる。この光ファイバの伝搬速度の波長依存性は光
信号の伝送容量を制限する要因となるため、光ファイバ
の波長分散特性を測定する必要がある。
【０００３】この目的のために従来では、図４に示す構
成の波長分散測定装置が用いられていた。
成の波長分散測定装置が用いられていた。
【０００４】この波長分散測定装置は、送信部１０と受
信部１５とによって構成されている。送信部１０には、
レーザダイオードからなり波長がそれぞれ異なる複数Ｎ
のレーザ光源１１1 〜１１n が設けられており、これら
のレーザ光源１１1 〜１１nのレーザダイオードには、
発振器１２から出力される所定周波数の信号Ｍが印加さ
れており、各レーザ光源１１1 〜１１n からは、この信
号Ｍによって強度変調された光がそれぞれの波長で出力
される。
信部１５とによって構成されている。送信部１０には、
レーザダイオードからなり波長がそれぞれ異なる複数Ｎ
のレーザ光源１１1 〜１１n が設けられており、これら
のレーザ光源１１1 〜１１nのレーザダイオードには、
発振器１２から出力される所定周波数の信号Ｍが印加さ
れており、各レーザ光源１１1 〜１１n からは、この信
号Ｍによって強度変調された光がそれぞれの波長で出力
される。
【０００５】レーザ光源１１1 から出力される光はベー
スバンド信号の位相測定の基準となる第１の変調光とし
て合波器１３に入力され、他の複数のレーザ光源１１2
〜１１n から出力される変調光は切換回路１４に入力さ
れ、そのいずれか一つの変調光が第２の変調光として合
波器１３に入力され第１の変調光と合波されて、出力端
子１０ａを介して被測定光ファイバ１の一端側に入射さ
れる。
スバンド信号の位相測定の基準となる第１の変調光とし
て合波器１３に入力され、他の複数のレーザ光源１１2
〜１１n から出力される変調光は切換回路１４に入力さ
れ、そのいずれか一つの変調光が第２の変調光として合
波器１３に入力され第１の変調光と合波されて、出力端
子１０ａを介して被測定光ファイバ１の一端側に入射さ
れる。
【０００６】一方、受信部１５は、被測定光ファイバ１
の他端側から出射される光を入力端子１５ａを介して受
け、分波器１６によって第１の変調光成分と第２の変調
光成分に分波し、それぞれ光電変換器１７ａ、１７ｂに
よって電気信号に変換する。そして、光電変換器１７
ａ、１７ｂの出力信号を波形整形回路１８ａ、１８ｂに
よって位相検出用の信号に変換し、２つの位相検出用の
信号の位相差φを位相比較器１９によって検出する。
の他端側から出射される光を入力端子１５ａを介して受
け、分波器１６によって第１の変調光成分と第２の変調
光成分に分波し、それぞれ光電変換器１７ａ、１７ｂに
よって電気信号に変換する。そして、光電変換器１７
ａ、１７ｂの出力信号を波形整形回路１８ａ、１８ｂに
よって位相検出用の信号に変換し、２つの位相検出用の
信号の位相差φを位相比較器１９によって検出する。
【０００７】位相比較器１９によって検出される位相差
φは、第１の変調光と第２の変調光との位相差であり、
第１の変調光の位相を基準とした各波長での第２の変調
光の位相差（φ1 、φ2 、…、φn ）を測定し、この位
相差（φ1 、φ2 、…、φn）と変調信号の周波数とか
ら、波長に対する相対的な伝搬遅延時間差が判る。
φは、第１の変調光と第２の変調光との位相差であり、
第１の変調光の位相を基準とした各波長での第２の変調
光の位相差（φ1 、φ2 、…、φn ）を測定し、この位
相差（φ1 、φ2 、…、φn）と変調信号の周波数とか
ら、波長に対する相対的な伝搬遅延時間差が判る。
【０００８】したがって、送信部１０の切換回路１４に
よって第２の変調光の波長を変えながら上記位相差（φ
1 、φ2 、…、φn ）を求めるによって、各波長毎の相
対群遅延特性が求まり、さらにこの相対群遅延特性から
光ファイバ１の波長分散特性が判る。
よって第２の変調光の波長を変えながら上記位相差（φ
1 、φ2 、…、φn ）を求めるによって、各波長毎の相
対群遅延特性が求まり、さらにこの相対群遅延特性から
光ファイバ１の波長分散特性が判る。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
た波長分散測定装置のように、レーザ光源のレーザダイ
オードに正弦波信号Ｍを直接印加して変調光を得る方法
では、この正弦波信号Ｍによってレーザ光源の出力光に
波長揺らぎが発生してしまい、この波長揺らぎによって
伝搬遅延時間にも揺らぎが生じ、波長分散特性を正確に
測定できないという問題があった。
た波長分散測定装置のように、レーザ光源のレーザダイ
オードに正弦波信号Ｍを直接印加して変調光を得る方法
では、この正弦波信号Ｍによってレーザ光源の出力光に
波長揺らぎが発生してしまい、この波長揺らぎによって
伝搬遅延時間にも揺らぎが生じ、波長分散特性を正確に
測定できないという問題があった。
【００１０】また、各波長において発振器１２から合波
器１３までの光路長に差があると、その光路長差に応じ
た位相差が発生し、各波長間の位相差が１周期以上回転
する現象やその位相差を補正する際の誤差が生じた。従
来、各波長間の位相差が大きい場合には、発振器１２か
ら各レーザ光源１１1 〜１１n までの光路長を調整しな
ければならなかった。
器１３までの光路長に差があると、その光路長差に応じ
た位相差が発生し、各波長間の位相差が１周期以上回転
する現象やその位相差を補正する際の誤差が生じた。従
来、各波長間の位相差が大きい場合には、発振器１２か
ら各レーザ光源１１1 〜１１n までの光路長を調整しな
ければならなかった。
【００１１】また、各レーザ光源１１1 〜１１n に同一
の信号Ｍを印加しても、レーザ光源個々の変調度が異な
るため、受信部において光電変換した信号の振幅が波長
によって異なり、この振幅差によって波形整形回路１８
ｂから出力される位相検出用の信号の位相が変化して、
誤差を生じるという問題もあった。
の信号Ｍを印加しても、レーザ光源個々の変調度が異な
るため、受信部において光電変換した信号の振幅が波長
によって異なり、この振幅差によって波形整形回路１８
ｂから出力される位相検出用の信号の位相が変化して、
誤差を生じるという問題もあった。
【００１２】本発明は、これらの問題を解決し、構成が
簡単で調整が容易で波長分散特性を正確に測定できる光
ファイバの波長分散測定装置を提供することを目的して
いる。
簡単で調整が容易で波長分散特性を正確に測定できる光
ファイバの波長分散測定装置を提供することを目的して
いる。
【００１３】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１の光ファイバの波長分散測定装置
は、所定信号で強度変調された波長固定の第１の変調光
と、前記所定信号で強度変調された波長可変の第２の変
調光とを被測定ファイバの一端側に入射する送信部と、
前記被測定ファイバの他端側から出力される前記第１の
変調光と前記第２の変調光を分波してそれぞれ電気信号
に変換し、該２つの電気信号の位相差を検出する受信部
とからなる光ファイバの波長分散測定装置において、前
記送信部は、波長固定の第１の光信号を出射する第１の
光源部と、波長可変の第２の光信号を出射する第２の光
源部と、前記第１の光信号と第２の光信号を合波する光
合波手段と、前記光合波手段によって合波された光を前
記所定信号で強度変調する光変調手段とを有し、前記光
変調手段によって変調された光を前記第１の変調光およ
び第２の変調光として前記被測定ファイバに入射するよ
うに構成されている。
に、本発明の請求項１の光ファイバの波長分散測定装置
は、所定信号で強度変調された波長固定の第１の変調光
と、前記所定信号で強度変調された波長可変の第２の変
調光とを被測定ファイバの一端側に入射する送信部と、
前記被測定ファイバの他端側から出力される前記第１の
変調光と前記第２の変調光を分波してそれぞれ電気信号
に変換し、該２つの電気信号の位相差を検出する受信部
とからなる光ファイバの波長分散測定装置において、前
記送信部は、波長固定の第１の光信号を出射する第１の
光源部と、波長可変の第２の光信号を出射する第２の光
源部と、前記第１の光信号と第２の光信号を合波する光
合波手段と、前記光合波手段によって合波された光を前
記所定信号で強度変調する光変調手段とを有し、前記光
変調手段によって変調された光を前記第１の変調光およ
び第２の変調光として前記被測定ファイバに入射するよ
うに構成されている。
【００１４】また、本発明の請求項２の光ファイバの波
長分散測定装置は、請求項１の光ファイバの波長分散測
定装置において、前記第２の光源部は、波長の異なる光
をそれぞれ出射する複数の光源と、該複数の光源の出射
光のいずれかを任意に選択して前記光合波手段へ入射す
る光スイッチとによって構成されている。
長分散測定装置は、請求項１の光ファイバの波長分散測
定装置において、前記第２の光源部は、波長の異なる光
をそれぞれ出射する複数の光源と、該複数の光源の出射
光のいずれかを任意に選択して前記光合波手段へ入射す
る光スイッチとによって構成されている。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。図１、図２は、一実施形態の波長
分散測定装置の構成を示す図である。
実施形態を説明する。図１、図２は、一実施形態の波長
分散測定装置の構成を示す図である。
【００１６】この波長分散測定装置は送信部２０と受信
部３０とによって構成されており、送信部２０には、図
１に示すように、波長固定の光信号を出射する第１の光
源部２１と波長可変の第２の光信号を出射する第２の光
源部２２とが設けられている。
部３０とによって構成されており、送信部２０には、図
１に示すように、波長固定の光信号を出射する第１の光
源部２１と波長可変の第２の光信号を出射する第２の光
源部２２とが設けられている。
【００１７】第１の光源部２１は、半導体レーザ素子か
らなるレーザ光源２１ａとバイアス設定回路２１ｂとか
らなり、バイアス設定回路２１ｂによって設定されたバ
イアス電流に対応した波長λ0 （例えば１．５２μｍ）
の高純度の光信号を第１の光信号として出力する。な
お、バイアス設定回路２１ｂはレーザ光源２１ａに対す
るバイアス電流のオンオフが可能に形成され、バイアス
電流オフ時には、レーザ光源２１ａの発振が停止してレ
ーザ光は出力されない。
らなるレーザ光源２１ａとバイアス設定回路２１ｂとか
らなり、バイアス設定回路２１ｂによって設定されたバ
イアス電流に対応した波長λ0 （例えば１．５２μｍ）
の高純度の光信号を第１の光信号として出力する。な
お、バイアス設定回路２１ｂはレーザ光源２１ａに対す
るバイアス電流のオンオフが可能に形成され、バイアス
電流オフ時には、レーザ光源２１ａの発振が停止してレ
ーザ光は出力されない。
【００１８】第２の光源部２２は、波長可変レーザ光源
２２ａと波長可変制御回路２２ｂとからなり、波長可変
制御回路２２ｂによって設定された波長設定信号に対応
した波長λv （例えば１．５３〜１．６μｍの範囲）の
高純度の光信号を第２の光信号として出力する。
２２ａと波長可変制御回路２２ｂとからなり、波長可変
制御回路２２ｂによって設定された波長設定信号に対応
した波長λv （例えば１．５３〜１．６μｍの範囲）の
高純度の光信号を第２の光信号として出力する。
【００１９】第１、第２の光源部２１、２２から出射さ
れる第１、第２の光信号は、偏波保存型の光合波手段２
３に入力されて合波されて２方向に分岐出力される。こ
の光合波手段２３は、例えば偏波保存ファイバカプラや
偏光ビームスプリッタ等で構成され、第１、第２の光信
号を同じ偏光状態で合波して出力する。このような偏波
保存型の光合波手段２３を用いることにより、偏波に依
存する測定誤差を抑圧することができる。
れる第１、第２の光信号は、偏波保存型の光合波手段２
３に入力されて合波されて２方向に分岐出力される。こ
の光合波手段２３は、例えば偏波保存ファイバカプラや
偏光ビームスプリッタ等で構成され、第１、第２の光信
号を同じ偏光状態で合波して出力する。このような偏波
保存型の光合波手段２３を用いることにより、偏波に依
存する測定誤差を抑圧することができる。
【００２０】光合波手段２３の分岐出力の一方は波長検
出手段２４に入力される。波長検出手段２４は、第１、
第２の光信号の波長を校正するためのものであり、例え
ば吸収セル等によって構成され、波長校正時には、前記
したバイアス設定回路２１ｂのオンオフによって一方の
レーザ光源２１ａの発振を停止して波長可変レーザ光源
２２ａの光信号の波長を検出する。
出手段２４に入力される。波長検出手段２４は、第１、
第２の光信号の波長を校正するためのものであり、例え
ば吸収セル等によって構成され、波長校正時には、前記
したバイアス設定回路２１ｂのオンオフによって一方の
レーザ光源２１ａの発振を停止して波長可変レーザ光源
２２ａの光信号の波長を検出する。
【００２１】光合波手段２３の分岐出力の他方は光変調
手段２５のＬＮ（リチュウムナイオベート）型の変調器
２５ａに入力される。変調器２５ａには、バイアス回路
２５ｂからのバイアス電圧（直流）と、発振器２６から
出力される所定周波数（例えば１ＭＨｚ〜８００ＭＨ
ｚ）の正弦波信号Ｍ（交流）とが印加されており、変調
器２５ａに入射された合波光は、正弦波信号Ｍによって
強度変調される。この変調によって、合波光に含まれる
第１の光信号成分が正弦波信号Ｍで強度変調（これを第
１の変調光と記す）され、合波光に含まれる第２の光信
号成分が正弦波信号Ｍで同様に強度変調（これを第１の
変調光と記す）される。
手段２５のＬＮ（リチュウムナイオベート）型の変調器
２５ａに入力される。変調器２５ａには、バイアス回路
２５ｂからのバイアス電圧（直流）と、発振器２６から
出力される所定周波数（例えば１ＭＨｚ〜８００ＭＨ
ｚ）の正弦波信号Ｍ（交流）とが印加されており、変調
器２５ａに入射された合波光は、正弦波信号Ｍによって
強度変調される。この変調によって、合波光に含まれる
第１の光信号成分が正弦波信号Ｍで強度変調（これを第
１の変調光と記す）され、合波光に含まれる第２の光信
号成分が正弦波信号Ｍで同様に強度変調（これを第１の
変調光と記す）される。
【００２２】変調器２５ａから出射される変調光は、ハ
ーフミラー等の分岐手段２５ｃによって２方向に分岐さ
れ、その一方（例えば９０パーセント以上）は後述する
光レベル設定手段２７へ出射され、他方は光電変換器２
５ｄで受光されて電気信号に変換される。光電変換器２
５ｄの出力信号はバイアス制御回路２５ｅに入力され
る。バイアス制御回路２５ｅは、光電変換器２５ｄの出
力信号に基づいてバイアス回路２５ｅのバイアス電圧を
可変制御し、変調器２５ａの動作点を常に最適な状態に
保持する。例えば、光電変換器２５ｄの出力信号のピー
クとボトムの中間値が一定となるように制御する。
ーフミラー等の分岐手段２５ｃによって２方向に分岐さ
れ、その一方（例えば９０パーセント以上）は後述する
光レベル設定手段２７へ出射され、他方は光電変換器２
５ｄで受光されて電気信号に変換される。光電変換器２
５ｄの出力信号はバイアス制御回路２５ｅに入力され
る。バイアス制御回路２５ｅは、光電変換器２５ｄの出
力信号に基づいてバイアス回路２５ｅのバイアス電圧を
可変制御し、変調器２５ａの動作点を常に最適な状態に
保持する。例えば、光電変換器２５ｄの出力信号のピー
クとボトムの中間値が一定となるように制御する。
【００２３】レベル可変設定手段２７は、光変調手段２
５によって変調された変調光を光増幅器２７ａによって
増幅し、光アッテネータ２７ｂに入力する。光アッテネ
ータ２７ｂは、入力された変調光を任意の強度に減衰し
て出射する。
５によって変調された変調光を光増幅器２７ａによって
増幅し、光アッテネータ２７ｂに入力する。光アッテネ
ータ２７ｂは、入力された変調光を任意の強度に減衰し
て出射する。
【００２４】レベル可変設定手段２７から出射された変
調光は、送信部２０の出力端子２０ａを介して被測定光
ファイバ１の一端側に入射される。
調光は、送信部２０の出力端子２０ａを介して被測定光
ファイバ１の一端側に入射される。
【００２５】一方、受信部３０は、図２に示すように、
被測定光ファイバ１の他端側から出射される光を入力端
子３０ａを介して受けて光アッテネータ３１に入射さ
せ、任意の強度に減衰してから、光分波手段３２に入射
させる。
被測定光ファイバ１の他端側から出射される光を入力端
子３０ａを介して受けて光アッテネータ３１に入射さ
せ、任意の強度に減衰してから、光分波手段３２に入射
させる。
【００２６】光分波手段３２は、例えば干渉膜フィルタ
等によって構成され、入力光を送信部２０の第１の光源
部２１の出力波長λ0 の成分とそれ以外の波長成分とに
分離して出射する。
等によって構成され、入力光を送信部２０の第１の光源
部２１の出力波長λ0 の成分とそれ以外の波長成分とに
分離して出射する。
【００２７】光分波手段３２によって分離された光は、
それぞれ光電変換器（例えばアバランシェフォトダイオ
ード）３３ａ、３３ｂで受光されて電気信号に変換さ
れ、前記送信部２０の正弦波信号Ｍの周波数成分のみを
通過させる帯域通過フィルタ３４ａ、３４ｂを介して周
波数変換器３５ａ、３５ｂに入力される。
それぞれ光電変換器（例えばアバランシェフォトダイオ
ード）３３ａ、３３ｂで受光されて電気信号に変換さ
れ、前記送信部２０の正弦波信号Ｍの周波数成分のみを
通過させる帯域通過フィルタ３４ａ、３４ｂを介して周
波数変換器３５ａ、３５ｂに入力される。
【００２８】周波数変換器３５ａ、３５ｂは、帯域通過
フィルタ３４ａ、３４ｂを通過した信号を、発振器３６
から出力される局発信号によって低い周波数に変換す
る。
フィルタ３４ａ、３４ｂを通過した信号を、発振器３６
から出力される局発信号によって低い周波数に変換す
る。
【００２９】周波数変換器３５ａ、３５ｂによって周波
数変換された信号は、それぞれ波形整形回路３７ａ、３
７ｂに入力されて矩形波信号に波形整形され、位相比較
器３８に入力される。
数変換された信号は、それぞれ波形整形回路３７ａ、３
７ｂに入力されて矩形波信号に波形整形され、位相比較
器３８に入力される。
【００３０】位相比較器３８は、波形整形回路３７ａ、
３７ｂから出力される矩形波信号の位相差φを検出す
る。
３７ｂから出力される矩形波信号の位相差φを検出す
る。
【００３１】処理部３９は、位相比較器３８によって検
出された位相差φに対応する伝搬遅延時間差を求める。
出された位相差φに対応する伝搬遅延時間差を求める。
【００３２】なお、波長の切り換え時の送信部２０と受
信部３０との同期は、図示しない送受信間インタフェー
スによって行なう。
信部３０との同期は、図示しない送受信間インタフェー
スによって行なう。
【００３３】この実施形態の波長分散測定装置では、送
信部２０の第１の光源部２１から出射した波長λ0 の第
１の光信号と第２の光源２２から出射した波長λv の第
２の光信号とを光合波手段２３によって合波し、その合
波光を光変調手段２５によって所定周波数の正弦波信号
Ｍで強度変調して第１の変調光と第２の変調光とを被測
定光ファイバ１の一端側に入射している。
信部２０の第１の光源部２１から出射した波長λ0 の第
１の光信号と第２の光源２２から出射した波長λv の第
２の光信号とを光合波手段２３によって合波し、その合
波光を光変調手段２５によって所定周波数の正弦波信号
Ｍで強度変調して第１の変調光と第２の変調光とを被測
定光ファイバ１の一端側に入射している。
【００３４】そして受信部３０では被測定光ファイバ１
の他端側から出射される光を光分波手段３２によって第
１の変調光成分と第２の変調光成分とに分けて光電変換
し、その出力信号の位相差を検出している。
の他端側から出射される光を光分波手段３２によって第
１の変調光成分と第２の変調光成分とに分けて光電変換
し、その出力信号の位相差を検出している。
【００３５】したがって、送信部２０の第２の光源部２
２の出力波長λv をλ0 と異なる範囲で、λ1 、λ2 、
λ3 、…、と変えながら位相差φ1 、φ2 、φ3 、…、
を検出すれば、各波長間の伝搬遅延時間差が判り、この
被測定光ファイバ１の波長分散特性が把握できる。
２の出力波長λv をλ0 と異なる範囲で、λ1 、λ2 、
λ3 、…、と変えながら位相差φ1 、φ2 、φ3 、…、
を検出すれば、各波長間の伝搬遅延時間差が判り、この
被測定光ファイバ１の波長分散特性が把握できる。
【００３６】また、この実施形態の波長分散測定装置で
は、第１の光源部２１および第２の光源部２２のレーザ
光源に直接変調をかけずに、第１の光信号と第２の光信
号を合波してから光変調手段によって強度変調して被測
定光ファイバ１へ入射しているので、変調による第１の
光信号および第２の光信号の波長揺らぎが発生せず、受
信部において位相差を格段に正確に検出することがで
き、高精度な波長分散測定が行なえる。
は、第１の光源部２１および第２の光源部２２のレーザ
光源に直接変調をかけずに、第１の光信号と第２の光信
号を合波してから光変調手段によって強度変調して被測
定光ファイバ１へ入射しているので、変調による第１の
光信号および第２の光信号の波長揺らぎが発生せず、受
信部において位相差を格段に正確に検出することがで
き、高精度な波長分散測定が行なえる。
【００３７】また、第２の光源部２２の波長を変えて
も、光変調手段２５の変調特性はほぼ一定で変調振幅は
変わらず、受信部において光電変換した信号の振幅が波
長を変えても変化せず、この振幅の変化による誤差も生
じない。
も、光変調手段２５の変調特性はほぼ一定で変調振幅は
変わらず、受信部において光電変換した信号の振幅が波
長を変えても変化せず、この振幅の変化による誤差も生
じない。
【００３８】また、この実施形態の受信部３０では、各
光電変換器３３ａ、３３ｂの前段にそれぞれ光アッテネ
ータを設けずに、１つの光アッテネータ３１によって被
測定光ファイバ１から入射される光のレベルを可変し
て、光電変換器３３ａ、３３ｂに入射される光のレベル
を調整できるようにしており、１つのアッテネータで済
むのでコストも低くなり、機器を小型化することができ
る。
光電変換器３３ａ、３３ｂの前段にそれぞれ光アッテネ
ータを設けずに、１つの光アッテネータ３１によって被
測定光ファイバ１から入射される光のレベルを可変し
て、光電変換器３３ａ、３３ｂに入射される光のレベル
を調整できるようにしており、１つのアッテネータで済
むのでコストも低くなり、機器を小型化することができ
る。
【００３９】
【他の実施の形態】前記実施形態では、第２の光源部２
２を、１つの波長可変レーザ光源２２ａで出力波長を可
変する構成にしていたが、図３に示すように、第２の光
源部４２を、複数Ｎのレーザ光源４３1 〜４３n と、バ
イアス設定回路４４1 〜４４n と、各レーザ光源４３1
〜４３n から出射されるレーザ光のいずれか一つを任意
に選択して光合波手段２３に入射する光スイッチ４５と
によって構成してもよい。
２を、１つの波長可変レーザ光源２２ａで出力波長を可
変する構成にしていたが、図３に示すように、第２の光
源部４２を、複数Ｎのレーザ光源４３1 〜４３n と、バ
イアス設定回路４４1 〜４４n と、各レーザ光源４３1
〜４３n から出射されるレーザ光のいずれか一つを任意
に選択して光合波手段２３に入射する光スイッチ４５と
によって構成してもよい。
【００４０】このように構成した場合でも、光合波手段
２３で合波された合波光に対して変調をかけるようにし
ているから、たとえ、各レーザ光源４３1 〜４３n から
光合波手段２３までの光路長が不均一であっても、その
光路長の差が受信部における位相差の誤差とはならな
い。このため、各波長間での光路差の補正といった煩雑
な調整も不要になる。
２３で合波された合波光に対して変調をかけるようにし
ているから、たとえ、各レーザ光源４３1 〜４３n から
光合波手段２３までの光路長が不均一であっても、その
光路長の差が受信部における位相差の誤差とはならな
い。このため、各波長間での光路差の補正といった煩雑
な調整も不要になる。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
の光ファイバの波長分散測定装置は、送信部の第１の光
源部から出射した波長固定の第１の光信号と第２の光源
２２から出射した波長可変の第２の光信号とを光合波手
段によって合波し、その合波光を光変調手段によって所
定信号で強度変調して第１の変調光と第２の変調光とを
被測定光ファイバの一端側に入射し、受信部では被測定
光ファイバの他端側から出射される光を光分波手段によ
って第１の変調光成分と第２の変調光成分とに分けて光
電変換し、その出力信号の位相差を検出している。
の光ファイバの波長分散測定装置は、送信部の第１の光
源部から出射した波長固定の第１の光信号と第２の光源
２２から出射した波長可変の第２の光信号とを光合波手
段によって合波し、その合波光を光変調手段によって所
定信号で強度変調して第１の変調光と第２の変調光とを
被測定光ファイバの一端側に入射し、受信部では被測定
光ファイバの他端側から出射される光を光分波手段によ
って第１の変調光成分と第２の変調光成分とに分けて光
電変換し、その出力信号の位相差を検出している。
【００４２】このため、変調による第１の光信号および
第２の光信号の波長揺らぎが発生せず、受信部において
位相差を格段に正確に検出することができ、高精度な波
長分散測定が行なえる。
第２の光信号の波長揺らぎが発生せず、受信部において
位相差を格段に正確に検出することができ、高精度な波
長分散測定が行なえる。
【００４３】また、第２の光源部の波長を変えても、光
変調手段の変調特性はほぼ一定で変調振幅は変わらず、
受信部において光電変換した信号の振幅は変化せず、こ
の振幅の変化による誤差も生じない。
変調手段の変調特性はほぼ一定で変調振幅は変わらず、
受信部において光電変換した信号の振幅は変化せず、こ
の振幅の変化による誤差も生じない。
【００４４】また、第２の光源部を複数の光源と光スイ
ッチとで構成した場合でも、前記したように、第１の光
信号と第２の光信号との合波光に対して変調をかけるよ
うにしているから、前記効果の他に、各光源から光合波
手段までの光路長が不均一であっても、その光路長の差
が受信部における位相差の誤差とはならず、従来のよう
な各波長間での光路差の補正の必要もなく、その煩雑な
調整も不要になる。
ッチとで構成した場合でも、前記したように、第１の光
信号と第２の光信号との合波光に対して変調をかけるよ
うにしているから、前記効果の他に、各光源から光合波
手段までの光路長が不均一であっても、その光路長の差
が受信部における位相差の誤差とはならず、従来のよう
な各波長間での光路差の補正の必要もなく、その煩雑な
調整も不要になる。
【図１】本発明の一実施形態の送信部の構成を示す図
【図２】本発明の一実施形態の受信部の構成を示す図
【図３】他の実施形態の要部を示す図
【図４】従来装置の構成を示す図
【符号の説明】 １ 被測定光ファイバ ２０ 送信部 ２１ 第１の光源部 ２２ 第２の光源部 ２３ 光合波手段 ２５ 光変調手段 ３０ 受信部 ３２ 光分波手段 ３３ａ、３３ｂ 光電変換器 ３５ａ、３５ｂ 周波数変換器 ３６ａ、３６ｂ 波形整形回路 ３８ 位相比較器
Claims (2)
- 【請求項１】所定信号で強度変調された波長固定の第１
の変調光と、前記所定信号で強度変調された波長可変の
第２の変調光とを被測定ファイバの一端側に入射する送
信部と、前記被測定ファイバの他端側から出力される前
記第１の変調光と前記第２の変調光を分波してそれぞれ
電気信号に変換し、該２つの電気信号の位相差を検出す
る受信部とからなる光ファイバの波長分散測定装置にお
いて、 前記送信部は、 波長固定の第１の光信号を出射する第１の光源部と、 波長可変の第２の光信号を出射する第２の光源部と、 前記第１の光信号と第２の光信号を合波する光合波手段
と、 前記光合波手段によって合波された光を前記所定信号で
強度変調する光変調手段とを有し、 前記光変調手段によって変調された光を前記第１の変調
光および第２の変調光として前記被測定ファイバに入射
するように構成されていることを特徴とする光ファイバ
の波長分散測定装置。 - 【請求項２】前記第２の光源部は、 波長の異なる光をそれぞれ出射する複数の光源と、 該複数の光源の出射光のいずれかを任意に選択して前記
光合波手段へ入射する光スイッチとによって構成されて
いることを特徴とする請求項１記載の光ファイバの波長
分散測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9661898A JPH11271179A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 光ファイバの波長分散測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9661898A JPH11271179A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 光ファイバの波長分散測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271179A true JPH11271179A (ja) | 1999-10-05 |
Family
ID=14169847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9661898A Pending JPH11271179A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 光ファイバの波長分散測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11271179A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002022610A (ja) * | 2000-07-04 | 2002-01-23 | Advantest Corp | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
| JP2002365165A (ja) * | 2001-06-08 | 2002-12-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長分散測定装置および方法 |
| JP2006054660A (ja) * | 2004-08-11 | 2006-02-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光送信装置および光伝送システム |
| JP2006266797A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Anritsu Corp | 光ヘテロダイン干渉装置 |
-
1998
- 1998-03-25 JP JP9661898A patent/JPH11271179A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002022610A (ja) * | 2000-07-04 | 2002-01-23 | Advantest Corp | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
| JP2002365165A (ja) * | 2001-06-08 | 2002-12-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長分散測定装置および方法 |
| JP2006054660A (ja) * | 2004-08-11 | 2006-02-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光送信装置および光伝送システム |
| JP2006266797A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Anritsu Corp | 光ヘテロダイン干渉装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040224 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20041005 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |