JPH0674867A - 光ネットワークアナライザ - Google Patents
光ネットワークアナライザInfo
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- JPH0674867A JPH0674867A JP4225817A JP22581792A JPH0674867A JP H0674867 A JPH0674867 A JP H0674867A JP 4225817 A JP4225817 A JP 4225817A JP 22581792 A JP22581792 A JP 22581792A JP H0674867 A JPH0674867 A JP H0674867A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明の目的は、被測定光回路装置の振幅分
散及び群遅延時間分散の特性を測定し、かつ特定の周波
数での特性を高精度に測定することにある。 【構成】この発明に係る光ネットワークアナライザは、
第１の光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変調信
号で強度変調した後、一部分岐して基準光信号とすると
共に被測定光回路装置に通して被測定光信号を取り込
む。そして、これらの被測定光信号及び基準光信号をそ
れぞれ光電変換し、変調信号成分を取り出して比較する
ことでその振幅比及び位相差を求める。さらに、光源の
光周波数を一定周期で掃引し、この掃引制御に同期して
振幅／位相比較結果を表示器に表示する。また、第２の
光源から指定した光周波数の光を送出させ、第１の光源
の光出力と合流させて、指定光周波数でピークを作り、
そのピーク位置を電気的に取り出して、上記表示器にマ
ーカとして重畳表示する。
散及び群遅延時間分散の特性を測定し、かつ特定の周波
数での特性を高精度に測定することにある。 【構成】この発明に係る光ネットワークアナライザは、
第１の光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変調信
号で強度変調した後、一部分岐して基準光信号とすると
共に被測定光回路装置に通して被測定光信号を取り込
む。そして、これらの被測定光信号及び基準光信号をそ
れぞれ光電変換し、変調信号成分を取り出して比較する
ことでその振幅比及び位相差を求める。さらに、光源の
光周波数を一定周期で掃引し、この掃引制御に同期して
振幅／位相比較結果を表示器に表示する。また、第２の
光源から指定した光周波数の光を送出させ、第１の光源
の光出力と合流させて、指定光周波数でピークを作り、
そのピーク位置を電気的に取り出して、上記表示器にマ
ーカとして重畳表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光回路装置の振幅特
性及び群遅延時間の分散特性を測定する光ネットワーク
アナライザに関する。
性及び群遅延時間の分散特性を測定する光ネットワーク
アナライザに関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、光通信路に利用される光
ファイバは、知的情報化社会の通信インフラストラクチ
ャ構成に重要な役割を果たすべく、技術の高度化が必要
とされている。特に、より経済的な光通信路の要求に応
えるべく、使用光の伝送速度を増大させ、中継間隔も拡
大可能な光ファイバの実現が期待されている。
ファイバは、知的情報化社会の通信インフラストラクチ
ャ構成に重要な役割を果たすべく、技術の高度化が必要
とされている。特に、より経済的な光通信路の要求に応
えるべく、使用光の伝送速度を増大させ、中継間隔も拡
大可能な光ファイバの実現が期待されている。
【０００３】最近の技術としては、Ｅｒ（エルビウム）
をドープした光ファイバを用いた光増幅器の開発が進め
られている。このＥｒドープファイバ光増幅器は、光伝
送路の損失を補償することができ、これによって従来損
失制限されていた中継間隔を飛躍的に拡大できるという
可能性がある。また、コヒーレント通信方式等、複数の
光周波数をキャリアとして多重化し、大容量の光波通信
回線を実現する研究開発も盛んである。
をドープした光ファイバを用いた光増幅器の開発が進め
られている。このＥｒドープファイバ光増幅器は、光伝
送路の損失を補償することができ、これによって従来損
失制限されていた中継間隔を飛躍的に拡大できるという
可能性がある。また、コヒーレント通信方式等、複数の
光周波数をキャリアとして多重化し、大容量の光波通信
回線を実現する研究開発も盛んである。
【０００４】これらの次世代光通信方式では、群遅延分
散を補償する光回路や光多重分離回路など、高度に伝達
特性が規定された光回路装置が不可欠となる。さらに、
光ファイバ伝送路や光回路装置を含めた全光伝送系の群
遅延時間分散特性や振幅分散特性の評価測定の高精度化
が必要となる。
散を補償する光回路や光多重分離回路など、高度に伝達
特性が規定された光回路装置が不可欠となる。さらに、
光ファイバ伝送路や光回路装置を含めた全光伝送系の群
遅延時間分散特性や振幅分散特性の評価測定の高精度化
が必要となる。
【０００５】ところが、現在の技術では、光回路装置等
の群遅延時間分散特性の測定を高い光周波数分解能で、
かつ数百ＧＨｚの光周波数帯域に渡って行うことは極め
て困難であり、被測定光回路装置の中心光周波数などの
ように、重要な特性の光周波数を正確に測定する手段が
なかった。
の群遅延時間分散特性の測定を高い光周波数分解能で、
かつ数百ＧＨｚの光周波数帯域に渡って行うことは極め
て困難であり、被測定光回路装置の中心光周波数などの
ように、重要な特性の光周波数を正確に測定する手段が
なかった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、次
世代光通信方式では群遅延分散補償光回路装置や光多重
分離回路装置など高度に伝達特性が規定された光回路装
置が不可欠となるが、その伝達特性として特に群遅延時
間分散特性の高精度な測定を可能とすることが重要な課
題となっている。
世代光通信方式では群遅延分散補償光回路装置や光多重
分離回路装置など高度に伝達特性が規定された光回路装
置が不可欠となるが、その伝達特性として特に群遅延時
間分散特性の高精度な測定を可能とすることが重要な課
題となっている。
【０００７】この発明は上記の課題を解決するためにな
されたもので、光回路装置の振幅分散特性及び群遅延時
間分散特性を高い光周波数分解能でかつ広い周波数帯域
で測定し、かつ中心光周波数など、光回路装置の重要な
周波数での特性を精度良く測定可能な光ネットワークア
ナライザを提供することを目的とする。
されたもので、光回路装置の振幅分散特性及び群遅延時
間分散特性を高い光周波数分解能でかつ広い周波数帯域
で測定し、かつ中心光周波数など、光回路装置の重要な
周波数での特性を精度良く測定可能な光ネットワークア
ナライザを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明に係る光ネットワークアナライザは、光周波
数を可変可能な第１の光源と、この光源からの光出力を
一定周波数一定振幅の変調信号で強度変調する光変調部
と、この光変調部の光出力の一部を分岐して基準光信号
とする光分岐部と、前記光変調部の光出力を被測定光回
路装置に通しその光出力を取り込む接続部と、この接続
部で得られる被測定光回路装置の光出力及び前記基準光
信号をそれぞれ光電変換する第１の光電変換部と、この
光電変換部で得られる２つの電気信号についてそれぞれ
前記変調信号成分を取り出し比較することでその振幅比
及び位相差を求める振幅／位相比較部と、前記光源の光
周波数を一定周期で掃引する光源制御部と、この光源制
御部の掃引制御に同期して前記振幅／位相比較部の比較
結果を表示する表示部とを具備して構成される。
にこの発明に係る光ネットワークアナライザは、光周波
数を可変可能な第１の光源と、この光源からの光出力を
一定周波数一定振幅の変調信号で強度変調する光変調部
と、この光変調部の光出力の一部を分岐して基準光信号
とする光分岐部と、前記光変調部の光出力を被測定光回
路装置に通しその光出力を取り込む接続部と、この接続
部で得られる被測定光回路装置の光出力及び前記基準光
信号をそれぞれ光電変換する第１の光電変換部と、この
光電変換部で得られる２つの電気信号についてそれぞれ
前記変調信号成分を取り出し比較することでその振幅比
及び位相差を求める振幅／位相比較部と、前記光源の光
周波数を一定周期で掃引する光源制御部と、この光源制
御部の掃引制御に同期して前記振幅／位相比較部の比較
結果を表示する表示部とを具備して構成される。
【０００９】また、さらに前記光源と同等の第２の光源
と、外部入力操作により指定される光周波数の光を前記
第２の光源に発生させる光周波数制御部と、前記光源の
光出力に前記測定用の光源の光出力の一部を分岐合流さ
せる光合流部と、この光合流部の光出力を光電変換する
第２の光電変換部と、この変換部の出力から不要な低域
成分及びノイズ成分を除去するフィルタ部と、このフィ
ルタ部の出力のピークを検波する検波部と、この検波部
の出力を前記表示器にマーカとして表示させるマーカ処
理部とを備えることを特徴とする。
と、外部入力操作により指定される光周波数の光を前記
第２の光源に発生させる光周波数制御部と、前記光源の
光出力に前記測定用の光源の光出力の一部を分岐合流さ
せる光合流部と、この光合流部の光出力を光電変換する
第２の光電変換部と、この変換部の出力から不要な低域
成分及びノイズ成分を除去するフィルタ部と、このフィ
ルタ部の出力のピークを検波する検波部と、この検波部
の出力を前記表示器にマーカとして表示させるマーカ処
理部とを備えることを特徴とする。
【００１０】
【作用】上記構成による光ネットワークアナライザで
は、第１の光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変
調信号で強度変調した後、一部分岐して基準光信号とす
ると共に被測定光回路装置に通して被測定光信号を取り
込む。そして、これらの被測定光信号及び基準光信号を
それぞれ光電変換し、変調信号成分を取り出して比較す
ることでその振幅比及び位相差を求める。さらに、光源
の光周波数を一定周期で掃引し、この掃引制御に同期し
て振幅／位相比較結果を表示器に表示することで、光回
路装置の振幅分散特性及び群遅延時間分散特性を高い光
周波数分解能でかつ広い周波数帯域で測定する。
は、第１の光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変
調信号で強度変調した後、一部分岐して基準光信号とす
ると共に被測定光回路装置に通して被測定光信号を取り
込む。そして、これらの被測定光信号及び基準光信号を
それぞれ光電変換し、変調信号成分を取り出して比較す
ることでその振幅比及び位相差を求める。さらに、光源
の光周波数を一定周期で掃引し、この掃引制御に同期し
て振幅／位相比較結果を表示器に表示することで、光回
路装置の振幅分散特性及び群遅延時間分散特性を高い光
周波数分解能でかつ広い周波数帯域で測定する。
【００１１】また、第２の光源から指定した光周波数の
光を送出させ、第１の光源の光出力と合流させて、指定
光周波数でピークを作り、そのピーク位置を電気的に取
り出して、上記表示器にマーカとして重畳表示すること
で、特定周波数での特性を精度良く測定する。
光を送出させ、第１の光源の光出力と合流させて、指定
光周波数でピークを作り、そのピーク位置を電気的に取
り出して、上記表示器にマーカとして重畳表示すること
で、特定周波数での特性を精度良く測定する。
【００１２】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。
説明する。
【００１３】図１はこの発明に係る光ネットワークアナ
ライザの構成を示すものである。１は第１のＤＦＢレー
ザで、その発振波長帯は今後の光波通信回線に使用され
る１．５５μｍ帯に設定される。このＤＦＢレーザ１は
ＡＰＣ（オート・パワー・コントロール）回路２により
駆動され、モニタフォトダイオード（ＰＤ）３の光強度
が光周波数にかかわらず一定となるように制御される。
ライザの構成を示すものである。１は第１のＤＦＢレー
ザで、その発振波長帯は今後の光波通信回線に使用され
る１．５５μｍ帯に設定される。このＤＦＢレーザ１は
ＡＰＣ（オート・パワー・コントロール）回路２により
駆動され、モニタフォトダイオード（ＰＤ）３の光強度
が光周波数にかかわらず一定となるように制御される。
【００１４】ＤＦＢレーザ１はペルチエ素子４上に載置
される。このペルチエ素子４は多機能発振器５で発生さ
れる超低周波数の三角波（約１００秒の周期）で温度を
三角波状に変化させる。すなわち、ＤＦＢレーザ１はペ
ルチエ素子４の温度変化に応じて発振周波数が三角波状
に制御され、約２００ＧＨｚの間で光周波数掃引が行わ
れる。
される。このペルチエ素子４は多機能発振器５で発生さ
れる超低周波数の三角波（約１００秒の周期）で温度を
三角波状に変化させる。すなわち、ＤＦＢレーザ１はペ
ルチエ素子４の温度変化に応じて発振周波数が三角波状
に制御され、約２００ＧＨｚの間で光周波数掃引が行わ
れる。
【００１５】ＤＦＢレーザ１で発生された光出力は、光
アイソレータ６を介して、第１の光分岐器７で一部分岐
されてマーカ発生器８に導かれ、主たる光信号は光変調
器９に導かれる。光変調器９にはＬｉＮｂＯ3 を用いた
マッハチェンダ干渉計が利用可能である。この光変調器
９は変調信号発生源１０で発生される周波数ｆｍ（約１
ＧＨｚ）の正弦波変調信号を電力増幅器（１Ｗａｔｔ）
１１を介して取り込み、入力した光信号を変調信号で直
接的に変調する。
アイソレータ６を介して、第１の光分岐器７で一部分岐
されてマーカ発生器８に導かれ、主たる光信号は光変調
器９に導かれる。光変調器９にはＬｉＮｂＯ3 を用いた
マッハチェンダ干渉計が利用可能である。この光変調器
９は変調信号発生源１０で発生される周波数ｆｍ（約１
ＧＨｚ）の正弦波変調信号を電力増幅器（１Ｗａｔｔ）
１１を介して取り込み、入力した光信号を変調信号で直
接的に変調する。
【００１６】この光変調器９の光出力は第２の光分岐器
１２で２系統に分岐され、一方は基準光信号となって第
１の光電変換器１３に導かれ、他方は被測定光回路装置
１４を通り、被測定光信号となって第２の光電変換器１
５に導かれ、それぞれ基準信号、被測定信号なる電気信
号に変換される。
１２で２系統に分岐され、一方は基準光信号となって第
１の光電変換器１３に導かれ、他方は被測定光回路装置
１４を通り、被測定光信号となって第２の光電変換器１
５に導かれ、それぞれ基準信号、被測定信号なる電気信
号に変換される。
【００１７】第１、第２の光電変換器１３，１５で得ら
れた基準信号、被測定信号は振幅／位相比較器１６に供
給される。この振幅／位相比較器１６は、入力した基準
信号及び被測定信号について、それぞれ変調周波数ｆｍ
の正弦波信号成分を取り出し、両者の振幅比と位相差を
求める。この比較器１６で求められた振幅比及び位相差
は表示器１７に送られる。
れた基準信号、被測定信号は振幅／位相比較器１６に供
給される。この振幅／位相比較器１６は、入力した基準
信号及び被測定信号について、それぞれ変調周波数ｆｍ
の正弦波信号成分を取り出し、両者の振幅比と位相差を
求める。この比較器１６で求められた振幅比及び位相差
は表示器１７に送られる。
【００１８】この表示器１７は上記多機能発振器５から
出力される同期信号（上記ＤＦＢレーザ１の光周波数掃
引を行う三角波を形成するためのクロック）を入力し、
この同期信号に基づいて比較器１６からの振幅比及び位
相差をＤＦＢレーザ１の光周波数に対応するグラフ形式
で表示する。
出力される同期信号（上記ＤＦＢレーザ１の光周波数掃
引を行う三角波を形成するためのクロック）を入力し、
この同期信号に基づいて比較器１６からの振幅比及び位
相差をＤＦＢレーザ１の光周波数に対応するグラフ形式
で表示する。
【００１９】上記表示器１７には光周波数マーカ処理器
１８が取り付けられる。このマーカ処理器１８は任意の
光周波数を指定するための操作入力部を備え、この操作
入力部の入力操作により光周波数が指定されると、その
指定情報をマーカ発生器８に送出する。そして、マーカ
発生器８で発生されたマーカ信号を表示器１７に重畳表
示する。
１８が取り付けられる。このマーカ処理器１８は任意の
光周波数を指定するための操作入力部を備え、この操作
入力部の入力操作により光周波数が指定されると、その
指定情報をマーカ発生器８に送出する。そして、マーカ
発生器８で発生されたマーカ信号を表示器１７に重畳表
示する。
【００２０】上記マーカ発生器８はマーカ処理器１８か
ら受け取った光周波数情報を光周波数制御器８１にセッ
トし、温度安定化を施した第２のＤＦＢレーザ８２にそ
の光周波数の光信号を発生させる。このＤＦＢレーザ８
２の出力光は第２の光分岐器８３で一部分岐され、光周
波数測定器８４で光周波数が測定されて光周波数制御器
８１に帰還される。光周波数制御器８１はこの帰還ルー
プによりＤＦＢレーザ８２の発振周波数を設定された光
周波数に一致させる。
ら受け取った光周波数情報を光周波数制御器８１にセッ
トし、温度安定化を施した第２のＤＦＢレーザ８２にそ
の光周波数の光信号を発生させる。このＤＦＢレーザ８
２の出力光は第２の光分岐器８３で一部分岐され、光周
波数測定器８４で光周波数が測定されて光周波数制御器
８１に帰還される。光周波数制御器８１はこの帰還ルー
プによりＤＦＢレーザ８２の発振周波数を設定された光
周波数に一致させる。
【００２１】上記第２の光分岐器８３を通過した主たる
光信号は光合流器８５で第１の光分岐器７からの周波数
掃引光信号と合流される。このとき、光周波数が一致し
た時点でピークが生じる。このようなピークを持った光
信号は第３の光電変換器８６で光電変換された後、バン
ドパスフィルタ（ＢＰＦ）８７で不要な低域成分及びノ
イズ成分が除去され、ピーク成分のみが検波器８８に送
られる。この検波器８８はピーク成分の直流分を検波
し、その検波信号をマーカ信号としてマーカ処理部１８
に送出する。上記構成において、以下その動作を説明す
る。
光信号は光合流器８５で第１の光分岐器７からの周波数
掃引光信号と合流される。このとき、光周波数が一致し
た時点でピークが生じる。このようなピークを持った光
信号は第３の光電変換器８６で光電変換された後、バン
ドパスフィルタ（ＢＰＦ）８７で不要な低域成分及びノ
イズ成分が除去され、ピーク成分のみが検波器８８に送
られる。この検波器８８はピーク成分の直流分を検波
し、その検波信号をマーカ信号としてマーカ処理部１８
に送出する。上記構成において、以下その動作を説明す
る。
【００２２】まず、第１のＤＦＢレーザ１の出力光は、
ＡＰＣ回路２により、光周波数にかかわらず光強度一定
に維持され、光変調器９にて正弦波による変調を受け
る。この変調光は第２の光分岐器１２で２系統に分岐さ
れ、一方は基準光信号となり、被測定光回路装置１４を
通って被測定光信号となる。
ＡＰＣ回路２により、光周波数にかかわらず光強度一定
に維持され、光変調器９にて正弦波による変調を受け
る。この変調光は第２の光分岐器１２で２系統に分岐さ
れ、一方は基準光信号となり、被測定光回路装置１４を
通って被測定光信号となる。
【００２３】これら基準光信号及び被測定光信号はそれ
ぞれ第１、第２の光電変換器１３，１５で電気信号に変
換され、振幅／位相比較器１６に入力される。この振幅
／位相比較器１６では、入力した基準信号及び被測定信
号について、変調周波数ｆｍの正弦波信号成分の振幅比
と位相差が求められる。ここで、振幅比の大きさは被測
定光回路装置１４のある周波数での伝送損失量に対応
し、位相差は被測定光回路装置１４のある周波数での遅
延量に対応する。
ぞれ第１、第２の光電変換器１３，１５で電気信号に変
換され、振幅／位相比較器１６に入力される。この振幅
／位相比較器１６では、入力した基準信号及び被測定信
号について、変調周波数ｆｍの正弦波信号成分の振幅比
と位相差が求められる。ここで、振幅比の大きさは被測
定光回路装置１４のある周波数での伝送損失量に対応
し、位相差は被測定光回路装置１４のある周波数での遅
延量に対応する。
【００２４】一方、ペルチエ素子２の温度制御により、
第１のＤＦＢレーザ１の光周波数は約２００ＧＨｚの間
で三角波状に掃引される。よって、比較器１５で求めら
れた振幅比及び位相差は光周波数に対応している。そこ
で、表示器１６に多機能発振器５から三角波同期信号を
送り、この同期信号に基づいて振幅比及び位相差を時系
列的に表示することにより、ＤＦＢレーザ１の光周波数
に対応した振幅比及び位相差の特性を表示することがで
きる。
第１のＤＦＢレーザ１の光周波数は約２００ＧＨｚの間
で三角波状に掃引される。よって、比較器１５で求めら
れた振幅比及び位相差は光周波数に対応している。そこ
で、表示器１６に多機能発振器５から三角波同期信号を
送り、この同期信号に基づいて振幅比及び位相差を時系
列的に表示することにより、ＤＦＢレーザ１の光周波数
に対応した振幅比及び位相差の特性を表示することがで
きる。
【００２５】このように、光信号に重畳した正弦波の振
幅比を光周波数変化に対応づけて表示することにより、
被測定光回路装置１４の伝送損失特性、すなわち振幅分
散特性を高い光周波数分解能でかつ広い周波数帯域で測
定することができる。また、正弦波の基準信号と被測定
信号との位相差を光周波数変化に対応づけて表示するこ
とにより、被測定光回路装置１４の群遅延特性も高い光
周波数分解能でかつ広い周波数帯域で測定することがで
きる。ところで、上記実施例では、特定周波数について
の伝送損失、群遅延量を測定するために、マーカ発生器
８と光周波数マーカ処理部１８が設けられている。
幅比を光周波数変化に対応づけて表示することにより、
被測定光回路装置１４の伝送損失特性、すなわち振幅分
散特性を高い光周波数分解能でかつ広い周波数帯域で測
定することができる。また、正弦波の基準信号と被測定
信号との位相差を光周波数変化に対応づけて表示するこ
とにより、被測定光回路装置１４の群遅延特性も高い光
周波数分解能でかつ広い周波数帯域で測定することがで
きる。ところで、上記実施例では、特定周波数について
の伝送損失、群遅延量を測定するために、マーカ発生器
８と光周波数マーカ処理部１８が設けられている。
【００２６】すなわち、マーカ処理部１８で任意の光周
波数を指定すると、その指定情報はマーカ発生器８に送
出され、光周波数制御器８１にセットされる。温度安定
化を施した第２のＤＦＢレーザ８２にその光周波数の光
信号を発生させると、このＤＦＢレーザ８２の出力光は
第２の光分岐器８３、光周波数測定器８４を介して光周
波数制御器８１に帰還され、これによってＤＦＢレーザ
８２の発振周波数は設定された光周波数に維持される。
波数を指定すると、その指定情報はマーカ発生器８に送
出され、光周波数制御器８１にセットされる。温度安定
化を施した第２のＤＦＢレーザ８２にその光周波数の光
信号を発生させると、このＤＦＢレーザ８２の出力光は
第２の光分岐器８３、光周波数測定器８４を介して光周
波数制御器８１に帰還され、これによってＤＦＢレーザ
８２の発振周波数は設定された光周波数に維持される。
【００２７】上記第２の光分岐器８３を通過した主たる
光信号は光合流器８５で第１の光分岐器７からの周波数
掃引光信号と合流される。このとき、両者の光周波数が
一致した時点でピークが生じるので、その光信号を第３
の光電変換器８６で光電変換し、バンドパスフィルタ８
７を介してピーク成分のみを検波器８８に送る。そし
て、この検波器８８でピーク成分の直流分を検波し、そ
の検波信号をマーカ信号としてマーカ処理部１８に送出
する。
光信号は光合流器８５で第１の光分岐器７からの周波数
掃引光信号と合流される。このとき、両者の光周波数が
一致した時点でピークが生じるので、その光信号を第３
の光電変換器８６で光電変換し、バンドパスフィルタ８
７を介してピーク成分のみを検波器８８に送る。そし
て、この検波器８８でピーク成分の直流分を検波し、そ
の検波信号をマーカ信号としてマーカ処理部１８に送出
する。
【００２８】これによって、マーカ処理部１８は表示器
１７の表示画面上の指定された光周波数位置にマーカを
重畳表示するようになり、このマーカと重なる振幅比特
性波形、位相差特性波形を読むことで、その光周波数で
の伝送損失量及び群遅延量を高精度に測定することがで
きる。
１７の表示画面上の指定された光周波数位置にマーカを
重畳表示するようになり、このマーカと重なる振幅比特
性波形、位相差特性波形を読むことで、その光周波数で
の伝送損失量及び群遅延量を高精度に測定することがで
きる。
【００２９】尚、この発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、例えば比較器１６で得られた振幅比及び位
相差をデジタル値に変換し、これらを光周波数に対応づ
けて伝送損失量及び遅延量に換算し、表示器１７に数値
表示するようにすれば、さらに高精度な測定が可能とな
る。その他、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変
形しても実施可能であることはいうまでもない。
のではなく、例えば比較器１６で得られた振幅比及び位
相差をデジタル値に変換し、これらを光周波数に対応づ
けて伝送損失量及び遅延量に換算し、表示器１７に数値
表示するようにすれば、さらに高精度な測定が可能とな
る。その他、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変
形しても実施可能であることはいうまでもない。
【００３０】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、光回路
装置の振幅分散特性及び群遅延時間分散特性を高い光周
波数分解能でかつ広い周波数帯域で測定し、かつ中心光
周波数など、光回路装置の重要な周波数での特性を精度
良く測定可能な光ネットワークアナライザを提供するこ
とができる。
装置の振幅分散特性及び群遅延時間分散特性を高い光周
波数分解能でかつ広い周波数帯域で測定し、かつ中心光
周波数など、光回路装置の重要な周波数での特性を精度
良く測定可能な光ネットワークアナライザを提供するこ
とができる。
【図１】この発明に係る光ネットワークアナライザの一
実施例を示すブロック構成図。
実施例を示すブロック構成図。
１…ＤＦＢレーザ、２…ＡＰＣ回路、３…フォトダイオ
ード、４…ペルチエ素子、５…多機能発振器、６…光ア
イソレータ、７…光分岐器、８…マーカ発生器、８１…
光周波数制御器、８２…ＤＦＢレーザ、８３…光分岐
器、８４…光周波数測定器、８５…光合流器、８６…光
電変換器、８７…バンドパスフィルタ、８８…検波器、
９…光変調器、１０…変調信号発生源、１１…電力増幅
器、１２…光分岐器、１３…光電変換器、１４…被測定
光回路装置、１５…光電変換器、１６…振幅／位相比較
器、１７…表示器、１８…マーカ処理器。
ード、４…ペルチエ素子、５…多機能発振器、６…光ア
イソレータ、７…光分岐器、８…マーカ発生器、８１…
光周波数制御器、８２…ＤＦＢレーザ、８３…光分岐
器、８４…光周波数測定器、８５…光合流器、８６…光
電変換器、８７…バンドパスフィルタ、８８…検波器、
９…光変調器、１０…変調信号発生源、１１…電力増幅
器、１２…光分岐器、１３…光電変換器、１４…被測定
光回路装置、１５…光電変換器、１６…振幅／位相比較
器、１７…表示器、１８…マーカ処理器。
Claims (2)
- 【請求項１】光周波数を可変可能な第１の光源と、この
光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変調信号で強
度変調する光変調部と、この光変調部の光出力の一部を
分岐して基準光信号とする光分岐部と、前記光変調部の
光出力を被測定光回路装置に通しその光出力を取り込む
接続部と、この接続部で得られる被測定光回路装置の光
出力及び前記基準光信号をそれぞれ光電変換する第１の
光電変換部と、この光電変換部で得られる２つの電気信
号についてそれぞれ前記変調信号成分を取り出し比較す
ることでその振幅比及び位相差を求める振幅／位相比較
部と、前記光源の光周波数を一定周期で掃引する光源制
御部と、この光源制御部の掃引制御に同期して前記振幅
／位相比較部の比較結果を表示する表示部とを具備する
光ネットワークアナライザ。 - 【請求項２】さらに、前記光源と同等の第２の光源と、
外部入力操作により指定される光周波数の光を前記第２
の光源に発生させる光周波数制御部と、前記光源の光出
力に前記測定用の光源の光出力の一部を分岐合流させる
光合流部と、この光合流部の光出力を光電変換する第２
の光電変換部と、この変換部の出力から不要な低域成分
及びノイズ成分を除去するフィルタ部と、このフィルタ
部の出力のピークを検波する検波部と、この検波部の出
力を前記表示器にマーカとして表示させるマーカ処理部
とを備えることを特徴とする請求項１記載の光ネットワ
ークアナライザ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22581792A JP3222562B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 光ネットワークアナライザ |
| US08/111,002 US5390017A (en) | 1992-08-25 | 1993-08-24 | Optical network analyzer for measuring the amplitude characteristics and group delay time dispersion characteristics of an optical circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22581792A JP3222562B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 光ネットワークアナライザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0674867A true JPH0674867A (ja) | 1994-03-18 |
| JP3222562B2 JP3222562B2 (ja) | 2001-10-29 |
Family
ID=16835267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22581792A Expired - Fee Related JP3222562B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 光ネットワークアナライザ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5390017A (ja) |
| JP (1) | JP3222562B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007086086A (ja) * | 1997-02-14 | 2007-04-05 | Jds Fitel Inc | 光学的構成要素を試験するためのシステムおよび方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5801830A (en) * | 1996-02-14 | 1998-09-01 | Wavelinq, Inc. | Apparatus and associated methods of detecting optical carriers and measuring characteristics thereof |
| DE19724678A1 (de) * | 1997-06-11 | 1999-06-10 | Siemens Ag | Meßanordnung und Verfahren zur Bestimmung der Gruppengeschwindigkeit und der Gruppengeschwindigkeits-Dispersionssteigung von Signalen in optischen Komponenten |
| DE19808601A1 (de) * | 1998-02-28 | 1999-09-09 | Deutsche Telekom Ag | Messverfahren für Einzelfasern von Kabeln |
| KR100607943B1 (ko) * | 1999-11-15 | 2006-08-03 | 삼성전자주식회사 | 광 모듈 정합을 위한 버스 인터페이스 장치 및 그 방법 |
| US7116848B2 (en) | 2000-04-07 | 2006-10-03 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Optical spectrum analyzer using a diffraction grating and multi-pass optics |
| US6819429B2 (en) | 2000-04-07 | 2004-11-16 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Multi-pass optical spectrum analyzer having a polarization-dependent tunable filter |
| US6486961B1 (en) | 2001-05-08 | 2002-11-26 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for measuring group delay based on zero-crossings |
| US6914681B2 (en) * | 2001-08-22 | 2005-07-05 | Agilent Technologies, Inc. | Interferometric optical component analyzer based on orthogonal filters |
| US6900895B2 (en) * | 2001-12-06 | 2005-05-31 | Agilent Technologies, Inc. | Phase noise compensation in an interferometric system |
| US6750973B2 (en) * | 2002-02-20 | 2004-06-15 | Agilent Technologies, Inc. | Test structure for simultaneously characterizing two ports of an optical component using interferometer-based optical network analysis |
| ES2216690A1 (es) * | 2002-10-02 | 2004-10-16 | Universitat Politecnica De Catalunya | Caracterizacion frecuencial de redes opticas con portadora optica fija y barrido en radiofrecuencia usando medidas de amplitud y de fase. |
| JP2004361170A (ja) * | 2003-06-03 | 2004-12-24 | Agilent Technol Inc | 網特性解析装置、網特性解析方法および網特性解析プログラム |
| US20060212555A1 (en) * | 2003-06-03 | 2006-09-21 | Agilent Technologies, Inc. | Network analyzing method and a network analyzing apparatus |
| JP4065229B2 (ja) * | 2003-11-26 | 2008-03-19 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路の電源ノイズ解析方法 |
| ES2388233B1 (es) * | 2009-07-23 | 2013-08-27 | Universitat Politècnica De Catalunya | Técnica de medida y de monitorización en tiempo real de dispersión cromática basada en control de fase y detección de ceros. |
| JP7146483B2 (ja) * | 2018-06-27 | 2022-10-04 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 受光装置およびその制御方法、並びに電子機器 |
| CN113049227B (zh) * | 2021-03-15 | 2024-04-02 | 深圳市杰普特光电股份有限公司 | 激光波长调制测量装置及其测量方法、测量系统 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4750833A (en) * | 1985-12-03 | 1988-06-14 | Princeton Applied Research Corp. | Fiber optic dispersion method and apparatus |
| JPH079386B2 (ja) * | 1988-05-18 | 1995-02-01 | 国際電信電話株式会社 | 光ファイバ分散特性測定方式 |
-
1992
- 1992-08-25 JP JP22581792A patent/JP3222562B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-08-24 US US08/111,002 patent/US5390017A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007086086A (ja) * | 1997-02-14 | 2007-04-05 | Jds Fitel Inc | 光学的構成要素を試験するためのシステムおよび方法 |
| JP4567653B2 (ja) * | 1997-02-14 | 2010-10-20 | ジェイディーエス ファイテル インコーポレイテッド | 光学的構成要素を試験するためのシステムおよび方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5390017A (en) | 1995-02-14 |
| JP3222562B2 (ja) | 2001-10-29 |
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