JP3878901B2 - 半導体素子収納用パッケージの製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は高周波の電気信号を送受信する半導体素子を収納する半導体素子収納用パッケージの製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、電気信号を送受信する半導体素子を収容するための半導体素子収納用パッケージは、一般に、酸化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、ガラスセラミックス、窒化アルミニウム質焼結体等の電気絶縁材料から成り、上面に半導体素子の搭載部が形成された基体と、タングステン、モリブデン、マンガン、銅、銀等の金属材料から成り、基体の半導体素子搭載部から下面にかけて被着導出された複数の電気信号の入出力用およびグランド用の配線導体と、この配線導体と電気的に接続するようにして基体の下面に形成された複数個のグランド用パッドおよび入出力用パッドと、基体の搭載部より上面もしくは側面にかけて導出されている出入力用の配線導体と、導電性の線材と絶縁性の外囲体とから成り、線材の一端が出入力用配線導体に接続され、他端が外部に導出されているコネクターとにより構成されている。
【0003】
かかる半導体素子収納用パッケージは、その搭載部に電気信号を送受信する半導体素子がAu−Snろう材あるいは半田等の接合材を介して接着固定されるとともに、半導体素子の電極が入出力配線導体、グランド用配線導体および出入力配線導体にボンディングワイヤや接続用リボン、半田等の導電性接続材を介して接続され、その後、必要に応じて蓋体等で半導体素子を封止することによって半導体装置となる。
【0004】
また前記半導体装置は基体の下面に形成されているグランド用パッドおよび入出力用パッドを外部電気回路基板の回路導体に半田バンプ等を介し接続させることによって内部に収容する半導体素子が外部電気回路に接続され、同時にコネクターに同軸ケーブル等を介し外部の通信装置等の外部機器を接続させることによって半導体素子と外部機器とが接続するようになっている。
【0005】
なお、前記半導体装置に使用されている半導体素子は複数の電気信号を合成して一つの電気信号に変換する、或いは一つの電気信号を分離して複数の電気信号に変換する機能を有しており、第1配線導体を介して入力される複数の周波数帯域が低い電気信号は半導体素子で合成されて一つの周波数帯域が高い電気信号となり、この周波数帯域の高い電気信号は第2配線導体を介してコネクターに伝送されるとともにコネクターより外部の通信装置等の外部機器に伝送され、またコネクターを介して外部機器より伝送された周波数帯域の高い電気信号は半導体素子で複数の周波数帯域が低い電気信号に変換され、各々の周波数帯域の低い電気信号は第1配線導体を介して外部電気回路に伝送されることとなる。
【0006】
また前記第2配線導体はタングステン、モリブデン、マンガン等の金属粉末に有機溶剤、溶媒を添加混合して得た導電ペーストを従来周知のスクリーン印刷法等の厚膜形成技術を採用することによって所定パターンに印刷するとともにこれを所定温度で焼き付けることによって形成されている。
【0007】
更に前記コネクターは鉄−ニッケル−コバルト合金等の金属の線材の周囲をガラス等の絶縁性材料から成る外囲体で取り囲んだ構造を有しており、コネクターの線材と第2配線導体とは、通常、2mm(2000μm)以上の長さにわたって接続されている。
【0008】
【特許文献1】
特開2002−164466号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来の半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置においては、第2配線導体が導電ペーストをスクリーン印刷法等の厚膜形成技術を採用し、所定パターンに印刷することによって形成されており導電ペーストを所定パターンに印刷する際、にじみが発生し、第2配線導体の外表面、特に側面において深さが100μm以上の凹凸が多数形成されている。そのためこの第2配線導体に40GHz〜80GHzの高周波の電気信号を伝送させた場合、高周波の電気信号は第2配線導体の表面に形成されている凹凸で反射を起こし、伝送特性が大きく劣化してしまうという欠点を有していた。
【0010】
本発明は上記欠点に鑑み案出されたもので、その目的は、配線導体の外表面で高周波電気信号が反射することを低減させた伝送特性の優れた半導体素子収納用パッケージを得ることにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明は、40GHz〜80GHzの電気信号を送信または受信する半導体素子を搭載するための搭載部を有する基体と、該基体の前記搭載部から導出され、導電性の線材を含むコネクターの該線材が電気的に接続される配線導体とを備える半導体素子収納用パッケージの製造方法であって、前記配線導体の表面にブラスト処理または化学エッチング処理を施すことによって、前記配線導体の表面の凹凸を50μm以下の大きさとすることを特徴とするものである。
【0012】
【発明の実施の形態】
次に、本発明を添付図面に基づき詳細に説明する。
【0013】
図1は本発明により得られる半導体素子収納用パッケージの一実施例を示し、1は基体、2aは第1配線導体、2bはグランド配線導体、3aは入出力用パッド、3bはグランド用パッド、4は第2配線導体、5はコネクターである。これら基体1、第1配線導体2a、グランド配線導体2b、入出力用パッド3a、グランド用パッド3b、第2配線導体4およびコネクター5により半導体素子6を収納するための半導体素子収納用パッケージ7が基本的に構成される。
【0014】
前記基体1は酸化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、ガラスセラミックス、窒化アルミニウム質焼結体等の電気絶縁材料から成り、例えば、酸化アルミニウム質焼結体から成る場合、酸化アルミニウム、酸化ケイ素、酸化マグネシウム、酸化カルシウム等の原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒、可塑剤、分散剤を添加混合して泥漿物を作り、この泥漿物を従来周知のドクターブレード法やカレンダーロール法等のシート形成法を採用しシート状に形成してセラミックグリーンシート(セラミック生シート)を得、しかる後、それらセラミックグリーンシートに適当な打ち抜き加工を施すとともにこれを必要に応じて複数枚積層し、約1600℃の高温で焼成することによって製作される。
【0015】
また前記基体1は、半導体素子の搭載部1aから下面にかけて複数個の第1配線導体2aおよびグランド用配線導体2bが形成されており、該各配線導体2a、2bは半導体素子の電気信号入出力用、接地用の各電極を、入出力用パッド3aやグランド用パッド3bに接続するための導電路として作用し、搭載部1a側の一端には半導体素子6の電気信号入出力用、接地用の各電極が導電性接続材を介して電気的に接続される。
【0016】
前記第1配線導体2aおよびグランド用配線導体2b、入出力用パッド3aおよびグランド用パッド3bは、銅、銀、金、パラジウム、タングステン、モリブデン、マンガン等の金属材料から成り、例えば銅から成る場合であれば、銅粉末に有機溶剤等を添加して成る金属ペーストを基体1となるセラミックグリーンシートの表面に所定パターンに印刷しておくことにより形成される。
【0017】
この第1配線導体2aおよびグランド用配線導体2bの基体1下面側の一端は、それぞれ対応する入出力用パッド3aおよびグランド用パッド3bと電気的に接続しており、これらの入出力用パッド3a、グランド用パッド3bを外部電気回路の所定の信号用や接地用等の回路導体に接続することにより、半導体素子6の電気信号入出力用、接地用の各電極が外部電気回路と電気的に接続される。
【0018】
また前記基体1は、半導体素子の搭載部1aから上面や側面等にかけて第2配線導体4が形成されており、該第2配線導体4は半導体素子6の電極をコネクター5の線材5aに接続するための導電路として作用し、搭載部1a側の一端には半導体素子6の電極が導電性接続材8を介して電気的に接続される。
【0019】
前記第2配線導体4は、上述の第1配線導体2a等と同様に、銅、銀、金、パラジウム、タングステン、モリブデン、マンガン等の金属材料から成り、例えば銅から成る場合であれば、銅粉末に有機溶剤等を添加して成る金属ペーストを基体1となるセラミックグリーンシートの表面に所定パターンに印刷しておくことにより形成される。
【0020】
この第2配線導体4の基体1外表面側の一端はコネクター5の線材5aと電気的に接続しており、このコネクター5を同軸ケーブル等を介して通信装置等の外部機器に接続することにより半導体素子6と外部機器との間で高周波信号の送受信が行われる。
【0021】
前記コネクター5は、半導体素子収納用パッケージ7の第2配線導体4を同軸ケーブル等を介して外部機器に接続するための接続体として作用し、例えば、鉄−ニッケル−コバルト合金等の金属の線材の周囲を、絶縁性の外囲体5bで取り囲んだ構造である。
【0022】
前記線材5aと外囲体5bとから成るコネクター5は、例えば、鉄−ニッケル−コバルト合金から成る線材5aを、鉄−ニッケル−コバルト合金等の金属から成る円筒状の容器の中央にセットし、容器内にホウ珪酸ガラス等のガラス粉末を充填した後、ガラス粉末を加熱溶融させて線材5aの周囲に被着させることによって製作される。
【0023】
かくして上述の半導体素子収納用パッケージによれば、基体1の搭載部1aに半導体素子6を搭載するとともにガラス、樹脂、ロウ材等の接着材を介して固定し、しかる後、半導体素子6の各電極を第1配線導体2aおよびグランド用配線導体2bに、例えば、ボンディングワイヤ8を介して接続し、最後に蓋体10を基体1の上面に封止材を介して接合させ、半導体素子6を気密に封入することによって半導体装置11となる。
【0024】
この半導体装置11は基体1下面の入出力用パッド3aおよびグランド用パッド3bが外部電気回路基板の所定の信号用や接地用等の回路導体に半田バンプ等の外部端子を介して接続され、これによって半導体素子6の信号用、接地用の各電極は外部電気回路と電気的に接続される。
【0025】
また、この半導体装置11に取着されているコネクター5の線材5aに同軸ケーブル等の外部接続用の導線を接続することにより、半導体素子6の電極が通信装置等の外部機器に接続される。
【0026】
そしてかかる半導体装置11は、外部電気回路から供給される複数の周波数帯域が低い(5〜10GHz)電気信号を第1配線導体2aを介して半導体素子6に入力させ、半導体素子6でこれら入力された電気信号を合成して、一つの周波数帯域が高い(40〜80GHz)電気信号とするとともにこれを第2配線導体4を介してコネクター5に出力し、該コネクター5の線材5aを介して外部の通信装置等の外部機器に伝送する、或いは、外部の通信装置等の外部機器から伝送された一つの周波数帯域が高い(40〜80GHz)電気信号をコネクター5の線材5a及び第2配線導体4を介して半導体素子6に入力し、半導体素子6で入力された周波数帯域が高い(40〜80GHz)電気信号を複数の周波数帯域が低い(5〜10GHz)電気信号に変換するとともにこれらの個々の周波数帯域が低い電気信号を第1配線導体2aを介して外部電気回路に供給することとなる。
【0027】
本発明の半導体素子収納用パッケージおよびこれを用いた半導体装置においては、第2配線導体4の外表面に形成されている凹凸の深さを50μm以下としておくことが重要である。
【0028】
前記第2配線導体4の外表面に形成されている凹凸の深さを50μm以下とすると第2配線導体4に40GHz〜80GHzの高周波の電気信号を伝送させた際、高周波の電気信号は第2配線導体4の外表面に形成されている凹凸で反射することはほとんどなく、その結果、第2配線導体4での伝送特性が極めて優れたものとなる。
【0029】
前記第2配線導体4はその外表面に形成されている凹凸の深さが50μmを超えると第2配線導体4に40GHz〜80GHzの高周波の電気信号を伝送させた場合、高周波の電気信号は第2配線導体4の表面に形成されている凹凸で反射を起こし、伝送特性が大きく劣化してしまう。従って、前記第2配線導体4はその外表面に形成されている凹凸の深さを50μm以下にしておく必要がある。
【0030】
前記第2配線導体4の外表面に形成されている凹凸を50μm以下の大きさとするには、例えば、第2配線導体4の外表面にブラスト処理や化学エッチング処理を施すことによって行なわれ、ブラスト処理で第2配線導体4の外表面の凹凸を50μm以下とする場合には、第2配線導体4以外の領域を予めエポキシ樹脂等の有機樹脂でコーティングし、しかる後、第2配線導体4の表面に液体と研磨粒子を混合した混合物を空気圧で吹き付けて対象物の表面を平滑にすることによって行われる。
【0031】
なお、前記液体としては水が使用され、前記研磨剤粒子としてはアルミナ、窒化珪素、ガラス等の無機物粒子が使用される。
【0032】
また前記第2配線導体4が銅の場合、水と平均粒径が5μm乃至50μmのアルミナ粒子を混合したものを0.05MPa乃至0.3MPaの圧力で、0.05秒乃至0.3秒の時間吹き付けることによって好適に行なわれる。
【0033】
前記研磨剤粒子はその平均粒径が5μm未満となると第2配線導体4の外表面を平滑にする効果がなくなり、また50μmを超えると第2配線導体4の外表面の凹凸を50μm以下の小さな凹凸とすることができなくなることから前記研磨剤粒子は5μm乃至50μmの範囲とすると良い。
【0034】
更に、液体と研磨剤粒子を混合した混合物を吹き付ける空気圧は0.05MPa未満となると第2配線導体4の外表面を平滑にする研磨効果がなくなり、また0.3MPaを超えると第2配線導体4の外表面を研磨しすぎて平滑にする効果がなくなることから前記空気圧は0.05MPa乃至0.3MPaの範囲とすると良い。
【0035】
更に液体と研磨剤粒子とを混合した混合物を空気圧で吹き付ける吹き付け時間は0.05秒未満であると第2配線導体4の外表面を平滑にする研磨効果がなくなり、また0.3秒を超えると第2配線導体4の外表面を研磨しすぎて平滑にする効果がなくなることから前記吹き付け時間は0.05秒乃至0.3秒の範囲とすると良い。
【0036】
また更に、化学エッチング処理を施すことによって第2配線導体4の外表面の凹凸を50μm以下とする場合には、第2配線導体4以外の領域を予めエポキシ樹脂等の有機樹脂でコーティングした後、第2配線導体4の外表面を化学エッチングすることによって行なわれる。
【0037】
前記第2配線導体4が銅の場合、1.2mol/l乃至1.8mol/lの濃度で、温度30℃乃至50℃の塩化第二鉄溶液を0.05MPa乃至0.2MPaの圧力で吹き付け、第2配線導体4の外表面を化学エッチングすることによって行なわれる。
【0038】
前記塩化第二鉄溶液はその濃度が1.2mol/l未満となると第2配線導体4の外表面を平滑にする効果がなくなり、また1.8mol/lを超えるとエッチング速度が大きくなり第2配線導体4の外表面の凹凸を50μm以下の小さな凹凸とすることができなくなることから前記塩化第二鉄の濃度は1.2mol/l乃至1.8mol/lの範囲とすると良い。
【0039】
また前記塩化第二鉄の温度は30℃未満となると第2配線導体4の外表面を平滑にするエッチング効果がなくなり、また50℃を超えるとエッチング速度が大きくなり第2配線導体4の外表面の凹凸を50μm以下の小さな凹凸とすることができなくなることから前記温度は30℃乃至50℃の範囲とすると良い。
【0040】
更に前記塩化第二鉄の吹き付け圧力は0.05MPa未満となると第2配線導体4の外表面を平滑にするエッチング効果がなくなり、また0.2MPaを超えると第2配線導体4の外表面のエッチングが激しくなりすぎて第2配線導体4の外表面の凹凸を50μm以下の小さな凹凸とすることができなくなることから前記圧力は0.05MPa乃至0.2MPaの範囲とすると良い。
【0041】
なお、本発明は上述の実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能である。
【0042】
【発明の効果】
本発明の半導体素子収納用パッケージの製造方法は、配線導体の表面にブラスト処理または化学エッチング処理を施すことによって、前記配線導体の表面の凹凸を50μm以下の大きさとすることにより、配線導体に40GHz〜80GHzの高周波の電気信号を伝送させたとしても、電気信号が配線導体で反射を起こすことがほとんどない伝送特性に優れた半導体素子収納用パッケージを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明により得られる半導体素子収納用パッケージおよびこの半導体素子収納用パッケージを用いた半導体装置の一実施例を示す断面図である。
【符号の説明】
1・・・・・基体
1a・・・・搭載部
2a・・・・第1配線導体
2b・・・・グランド配線導体
3a・・・・入出力用パッド
3b・・・・グランド用パッド
4・・・・・第2配線導体
5・・・・・コネクター
5a・・・・線材
5b・・・・外囲体
6・・・・・半導体素子
7・・・・・半導体素子収納用パッケージ
8・・・・・ボンディングワイヤ
10・・・・蓋体
11・・・・半導体装置
Claims (12)
- 40GHz〜80GHzの電気信号を送信または受信する半導体素子を搭載するための搭載部を有する基体と、該基体の前記搭載部から導出され、導電性の線材を含むコネクターの該線材が電気的に接続される配線導体とを備える半導体素子収納用パッケージの製造方法であって、
前記配線導体の表面にブラスト処理または化学エッチング処理を施すことによって、前記配線導体の表面の凹凸を50μm以下の大きさとすることを特徴とする、半導体素子収納用パッケージの製造方法。 - 前記ブラスト処理は、処理対象以外の領域を有機樹脂によりコーティングする工程と、前記処理対象に液体および研磨粒子を混合してなる混合物を吹き付ける工程とを含む、請求項1に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記液体は水であり、前記研磨粒子は無機物粒子である、請求項2に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記無機物粒子は、アルミナ、窒化珪素およびガラスからなる群より選択される材料により構成される、請求項3に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記研磨粒子の平均粒径は5〜50μmである、請求項2から4のいずれかに記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記混合物を吹き付ける圧力は0.05〜0.3MPaである、請求項2から5のいずれかに記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記混合物の吹き付け時間は0.05〜0.3秒である、請求項6に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記化学エッチング処理は、処理対象以外の領域を有機樹脂によりコーティングする工程と、前記処理対象に化学エッチング用溶液を吹き付ける工程とを含む、請求項1に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記配線導体は銅からなり、前記化学エッチング用溶液は塩化第二鉄溶液である、請求項8に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記塩化第二鉄溶液の濃度は1.2〜1.8mol/lである、請求項9に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記塩化第二鉄の温度は30〜50℃である、請求項9または10に記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
- 前記塩化第二鉄の吹き付け圧力は0.05〜0.2MPaである、請求項9から11のいずれかに記載の半導体素子収納用パッケージの製造方法。
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