JP3866776B2 - 半導体集積回路のデータ出力バッファ - Google Patents

半導体集積回路のデータ出力バッファ Download PDF

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明はデータ出力バッファに関し、特に、半導体集積回路におけるセルアレイから読出されたデータをチップ外部に出力するために設けられるデータ出力バッファに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路の集積度が増加して動作速度が高速化するのに伴い、信号雑音が大きな問題になってきている。この雑音問題は、半導体集積回路の高集積化及び高速化が更に進むにつれより深刻になっていくことが予想される。半導体集積回路で信号雑音が発生する要因は多様であるが、中でも、セルアレイ中の所定のメモリセルから読出されたデータがデータ入出力線に設けられた入出力線センスアンプを通過して最終的にデータ出力バッファからチップ外部に伝送されるときの、該データ出力バッファの出力端(通常、“データ出力ドライバ”といわれる)によるものが大きな要因である。
【0003】
すなわち、データ出力バッファの出力端を構成するトランジスタは、チップ外部と内部のインピーダンスを緩衝し、また、データアクセス動作の高速化のために、チップ内の他の構成素子に比べてかなり大きなチャネル幅を有している。したがって、所定の出力動作時(すなわち、論理“ハイ”から論理“ロウ”へ、又は、論理“ロウ”から論理“ハイ”へスイング動作するとき)に、瞬間的に多くの電流が流れて過度の消費電流が発生し、これが雑音の要因になる。
【0004】
そして特に、このような雑音のうちでも接地端雑音は、同じチップに形成されて接地電圧の供給を受けるすべての回路に対し大きな雑音を発生させてしまうので、一層深刻な問題となる。
【0005】
これに関連して図3に、従来における一般的なデータ出力バッファを示す。この図3に示す回路は、この分野でよく知られている技術によるものであって、DO、バーDOは所定のメモリセルから読出されたデータで、また、CLKは、データ出力バッファのプルアップ及びプルダウン制御部100の制御動作をエネーブルさせるクロック信号である。データ出力バッファの出力端を構成する出力用プルアップトランジスタ2及びプルダウントランジスタ4の制御信号として印加される信号PU、PDはプルアップ及びプルダウン制御部100から出力され、これに従って出力データDOUTがデータ出力パッド(PAD又はPIN:図示せず)に出力される。尚、プルアップ及びプルダウン制御部100の回路構成については、この分野ですでによく知られているものなので、その細部の説明は省略する。
【0006】
この図3に示す回路の動作特性を、その動作タイミング図である図4を参照して次に簡単に説明する。
【0007】
まず、出力されるデータDOUTが論理“ハイ”のデータである場合を説明する。最初に、データ出力バッファの出力動作がディスエーブルとされるとき、信号PU、PDがすべて論理“ロウ”となって出力用プルアップ、プルダウントランジスタ2、4はOFFになっている。この状態から、外部アドレス信号が変化し、信号CLKがアクティブ信号として供給されると、プルアップ及びプルダウン制御部100がエネーブルされてデータDO、バーDOに従って論理“ハイ”及び“ロウ”の信号PU、PDを出力し、これにより出力用プルアップトランジスタ2がON、プルダウントランジスタ4がOFFとなる。したがって、出力ノード6は論理“ハイ”のレベルにチャージアップされ、出力データDOUTは論理“ハイ”として出力される。このとき、プルアップトランジスタ2のチャネルを通して電源電圧Vcc端から多量の電流が一度に流れることになる。
【0008】
次に、出力データDOUTが論理“ロウ”のデータである場合を説明する。外部アドレス信号が変化し、信号CLKがアクティブ信号として印加されると、プルアップ及びプルダウン制御部100がエネーブルされてデータDO、バーDOに従って論理“ロウ”及び“ハイ”レベルの信号PU、PDを出力し、これにより出力用プルダウントランジスタ4がON、プルアップトランジスタ2がOFFとなる。したがって、出力ノード6にのっていた所定の電圧がプルダウントランジスタ4のチャネルを通して接地電圧Vss端に放電され、出力データDOUTは論理“ロウ”として出力される。このとき、プルダウントランジスタ4のチャネルを通して接地電圧Vss端へ多量の電流が一度に流れることになる。その際、図4に示すように、接地電圧Vss端へ流れる多量の電流により接地電圧Vss端に大きな雑音が発生する。
【0009】
このように、特に接地電圧Vss端へ流れる多量の電流から発生する接地端雑音は、図4に示すように、出力ノード6に好ましくない誤データを発生させてしまう。そしてこの誤データがシステムに認識されてしまうと誤動作を起こすことになる。このような現象は、データ出力バッファがデータを出力するたびにプルダウントランジスタ4の大きなチャネルを通じて発生するので、これを補うためにチップの動作速度が低下することになる。また、特にバイトワイド(byte wide)メモリのように、一つのチップ内に多数のデータ出力バッファを備える高集積半導体集積回路の場合にはより深刻な問題となり、チップの誤動作が発生しやすくなってしまう。加えて、図1のような構成では、データ出力バッファの出力端の負荷が大きくなると、それに従ってデータの遷移時間が相当に遅延することにもなる。
【0010】
一方、このような問題を解決するために本願出願人により1991年12月28日付で出願された韓国特許出願第1991−24802号に、出力端に設けられたプリセット回路を備えるデータ出力バッファについての技術が開示されている。この技術は、データ出力バッファのデータ出力動作時に予めデータ出力バッファの出力線を所定の電圧レベルにプリセットすることにより、出力動作時に発生する雑音を抑制する、という方法で雑音問題の解決を図っている。
【0011】
しかしながら、最近のバイトワイドメモリ化の傾向にあっては、同一のチップ内に多数のデータ出力バッファを備える必要があり、その多数のデータ出力バッファに対しそれぞれプリセット回路を設けなければならないことになる。さらに、各データ出力バッファごとに備えられるプリセット回路に対し、それぞれ制御信号が必要となるため、その制御信号を供給するための回路を必要とする。したがって、プリセット関連の回路によるチップ占有面積が超高集積化の制限要素となり得る。また、このような回路構成においても、論理“ロウ”のデータの出力動作時に発生する接地端雑音への対策について、従来よりは勝っているものの未だ満足のいくものではない。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
したがって本発明の目的は、論理“ロウ”のデータ出力動作時に接地端雑音から出力ノードを保護して安定させされるようなデータ出力バッファを提供することにある。また、本発明の他の目的は、論理“ロウ”のデータ出力動作時に発生し得る接地端雑音による誤データの出力を防止できるデータ出力バッファを提供することにある。さらに、本発明のまた他の目的は、論理“ロウ”のデータ出力動作時にプルダウンされた出力ノードの電圧レベルを維持するべく更なるプルダウン動作を遂行し、雑音の影響を減少させ得るデータ出力バッファを提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために本発明は、出力ノードを共有し、相補的な開閉動作によりその出力ノードからデータを出力するプルアップトランジスタ及び第1のプルダウントランジスタを備え、所定の制御信号に従って動作するようになったデータ出力バッファにおいて、セルアレイから読出されたデータ及び前記制御信号を入力とする入力手段と、この入力手段の出力信号を所定時間遅延させる遅延回路と、入力手段の出力信号及び遅延回路の出力信号を入力として前記第1のプルダウントランジスタを駆動する論理手段と、前記出力ノードと接地端との間にチャネルが形成され、遅延回路の出力信号により動作する第2のプルダウントランジスタと、第2のプルダウントランジスタに直列接続された抵抗と、を備え、遅延回路による遅延時間の間の前記第1のプルダウントランジスタの導通の終了に合わせて前記第2のプルダウントランジスタが導通するようにして出力ノードを2段階でプルダウンするようにしたことを特徴とする。
【0014】
また、遅延回路が、少なくとも3個のインバータで構成されることを特徴とする。
【0015】
本発明のデータ出力バッファの構成によれば、論理“ロウ”のデータを出力する際、まず1段目のプルダウン動作を通じて出力ノードをプルダウンして論理“ロウ”のデータを出力し、これに続いて2段目のプルダウン動作を行い、1段目のプルダウン動作による論理“ロウ”のデータ出力を保護、安定させ、維持することにより、従来の接地端雑音による問題を解決できるようになる。これは以下の説明から明らかになる。
【0016】
【実施例】
以下、本発明の好適な実施例を添付の図面を参照して詳細に説明する。以下の説明では、本発明のより全般的な理解のために、遅延回路、プルダウントランジスタ、プルアップ及びプルダウン制御部等について特定の詳細が示されている。しかしながら、当該技術分野における通常の知識を有する者ならば、これら特定の詳細でなくとも、あるいはこれら特定の詳細の変形によっても、本発明を実施し得ることを理解できるであろう。
【0017】
ここで使用される“データ出力バッファ”とは、メモリセルから読出されたデータをチップ外部に出力するための回路をいい、データ出力バッファの出力端を構成するデータ出力ドライバまでを含んでいる。また、“2段階プルダウン(two step pull-down)動作”とは、本発明によるデータ出力バッファが1回の論理“ロウ”データの出力を行う際に相互に連続して発生する動作で、連続した2回のプルダウン動作を通じて論理“ロウ”データの出力及びレベル維持を行う動作を意味している。
【0018】
図1は、本発明によるデータ出力バッファの実施例を示す回路図である。この例のデータ出力バッファは次のように構成されている。セルアレイから読出されてデータ入出力線により伝送される一方のデータDOとデータ出力バッファエネーブル信号CLKはNANDゲート22に入力され、このNANDゲート22の出力端にはインバータ24が接続される。そしてインバータ24の出力信号がプルアップトランジスタ40の制御信号であるプルアップ信号PUになる。すなわち、NANDゲート22、インバータ24によりプルアップ論理手段が構成されている。
【0019】
セルアレイから読出されデータ入出力線により伝送される他方のデータバーDOとデータ出力バッファエネーブル信号CLKは、入力手段であるNANDゲート26に入力される。このNANDゲート26の出力信号は、遅延回路36及び論理手段であるNORゲート28にそれぞれ入力される。遅延回路36は、相互に直列接続された3個のインバータ30、32、34で構成され、インバータ34の出力信号がNORゲート28に入力される。そして、NORゲート28の出力信号は、第1プルダウントランジスタ42の制御信号である第1プルダウン信号PD1となる。また、遅延回路36の出力信号は、第2プルダウントランジスタ44の制御信号である第2プルダウン信号PD2にもなる。これらNANDゲート26、NORゲート28、遅延回路36によりプルダウン論理手段が構成されている。
【0020】
このような構成におけるNANDゲート26及びNORゲート28が、前述した本発明の技術的思想での第1プルダウン制御手段としての役割を行い、また、NANDゲート26及び遅延回路36が第2プルダウン制御手段としての役割を行う。
【0021】
図1において一点鎖線のブロックで示す部分がプルアップ及びプルダウン制御部100′となる。そして、このプルアップ及びプルダウン制御部100′を駆動するための制御信号であるエネーブル信号CLKは、本願出願人により1993年3月31日付で出願された韓国特許出願第1993−5328号に開示された技術によるものであって、信号PITRSTにより容易に実現することができる。
【0022】
次に、この例のデータ出力バッファにおけるデータ出力時の動作特性を、そのデータ出力時の動作タイミング図である図2を参照して説明する。この図2に示す動作タイミング図は、出力データDOUTが論理“ハイ”のレベルから論理“ロウ”のレベルになる場合のものである。簡単に言うと、本実施例のデータ出力バッファは、論理“ロウ”のデータの出力動作時に2段階プルダウン動作を行うようになっている。
【0023】
まず、エネーブル信号CLKが論理“ハイ”にエネーブルされる前には、NANDゲート22、26はそれぞれ論理“ハイ”レベルの信号を出力しており、これにより遅延回路36が論理“ロウ”の信号を出力している。したがって、図2に示すように、信号PU及び信号PD1、PD2はそれぞれ論理“ロウ”の状態に維持され、プルアップトランジスタ40、第1プルダウントランジスタ42、及び第2プルダウントランジスタ44はOFF、つまり非導通状態にある。
【0024】
このような状態から、入力データDO、バーDOが論理“ロウ”、“ハイ”で入力されるとする。このとき、エネーブル信号CLKが論理“ハイ”に遷移することによりNANDゲート22、26がエネーブルされ、入力データDO、バーDOに従ってその各出力レベルが決定される。
【0025】
最初に、論理“ハイ”の出力データDOUTを出力するためにデータDO及びバーDOがそれぞれ論理“ハイ”及び“ロウ”で入力されると、信号PD1、PD2は論理“ロウ”に維持され、一方、信号PUが論理“ハイ”となる。すると、プルアップトランジスタ40がONして導通すると共に、第1プルダウントランジスタ42及び第2プルダウントランジスタ44がOFFとなり、したがって論理“ハイ”の出力データDOUTが発生される。
【0026】
その後、図2に示すように、入力データDO及びバーDOがそれぞれ論理“ロウ”及び“ハイ”になると、NANDゲート22は論理“ハイ”、NANDゲート26は論理“ロウ”の各信号を出力する。そして、論理“ロウ”の信号PUがインバータ24を通じて発生してプルアップトランジスタ40がOFFになる。
【0027】
一方、NANDゲート26の論理“ロウ”の信号によって信号線L1が論理“ロウ”の状態になる。このとき、信号線L2はその前の論理“ロウ”の状態に維持されているので、NORゲート28は一時的に論理“ハイ”の信号を出力する。このNORゲート28から出力される信号PD1が論理“ハイ”を維持する時間(パルス幅)を適切に調節できるようになっている点が重要である。すなわち、遅延回路36に備えられるインバータの数により信号PD1の論理“ハイ”の時間を決定できるようになっており、この時間は、データ出力ドライバを構成するトランジスタのサイズ及び電源電圧(Vcc)の電圧レベル等を考慮して適切に設定されるもので、これに合わせて遅延回路36に備えられるインバータの数が調整されている(この例の場合、インバータは3個とされている)。
【0028】
その後、信号線L2の論理“ロウ”の信号は、NANDゲート26の論理“ロウ”の出力がインバータ30、32、34を通過すると論理“ハイ”に遷移する。これによりNORゲート28の出力は論理“ロウ”になり、この時点で、図2に示すように信号PD2が論理“ハイ”になる。したがって、第1プルダウントランジスタ42が非導通状態になるとほぼ同時に第2プルダウントランジスタ44が導通する。
【0029】
つまり、信号PD1が論理“ハイ”を維持する時間で第1プルダウントランジスタ42が瞬間的な導通動作を遂行し、出力ノード48の電圧レベルを十分に論理“ロウ”へ降下させる1段目のプルダウン動作を行う。このとき、接地端、すなわち接地電圧Vss端に雑音が発生し得るが、前述のように信号PD1の論理“ハイ”時間が適切に調整され、第1プルダウントランジスタ42がタイミングよくOFFして非導通となるため、その雑音が第1プルダウントランジスタ42のチャネルを通過することはない。そして、この1段目のプルダウン動作に続いて、信号PD2により第2プルダウントランジスタ44がONとなり、継続して出力ノード48と接地電圧Vss端をつないで2段目のプルダウン動作を行う。このとき、第2プルダウントランジスタ44に直列接続された抵抗Rが備えられているので、接地電圧Vss端で発生した雑音から出力ノード48が効果的に保護され、出力ノード48のレベルが安定して維持されるようになっている。すなわち、2段目のプルダウン動作に際して、出力ノード48と接地電圧Vss端との間(この例では第2プルダウントランジスタ44と接地電圧Vss端との間)に抵抗Rを介在させることにより、2段階プルダウン動作の1段目のプルダウン動作により発生した接地端雑音の出力ノード48への伝達を効果的に防止できるようにされている。
【0030】
このように、この実施例におけるデータ出力バッファは、2段階プルダウン動作を遂行することにより、データ出力動作時に発生する接地端雑音から出力ノード48を保護し、誤データの出力を防止できるようになっている。
【0031】
本実施例で示したデータ出力バッファは、本発明の技術的な思想に立脚して実現した最適の実施例であって、これに限られるものではなく、本発明の技術的な範囲内で論理等を考慮して多様な変形例が可能である。例えば、遅延回路36のインバータ個数は、データ出力ドライバを構成するトランジスタ等のサイズ及び電源電圧の電圧レベルを考慮し、他の適当な数で実施可能である。また、本実施例のデータ出力バッファの出力端を構成する出力ドライバにおいて、プルアップトランジスタ40及びプルダウントランジスタ42をNMOSトランジスタで構成しているが、例えばプルアップトランジスタをPMOSトランジスタとし、それに従って信号PUの論理を適切に変更して実現する等も可能である。
【0032】
【発明の効果】
以上述べてきたように本発明は、データ出力動作時に、出力データを出力する出力ノードにおける電圧を論理“ロウ”レベルにする1段階と、この1段階より時間を長くし、1段階で発生し得る接地端雑音から出力ノードを保護しつつ電圧レベルを維持する2段階と、にわたって放電を行う2段階プルダウン動作を遂行するデータ出力バッファとしたことにより、特に出力動作時に問題になる接地端の雑音による影響を極力抑制することができるようになり、誤動作を防止できる。また、上述のようなプリセット回路の構成を不要とでき、より簡単な回路構成でデータ出力バッファを形成できるので、高集積化に適している。そして、論理“ロウ”のデータ出力動作時に接地端雑音から出力ノードを保護して安定なものとでき、誤データの出力を防止できるデータ出力バッファを実現可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるデータ出力バッファの実施例を示す回路図。
【図2】図1に示すデータ出力バッファのデータ出力動作時の要部電圧波形を示す動作タイミング図。
【図3】従来技術によるデータ出力バッファを示す回路図。
【図4】図3に示すデータ出力バッファのデータ出力動作時の要部電圧波形を示す動作タイミング図。
【符号の説明】
22、26 NANDゲート
24 インバータ
28 NORゲート
36 遅延回路
30、32、34 インバータ
40 プルアップトランジスタ
42 第1プルダウントランジスタ
44 第2プルダウントランジスタ
R 抵抗
PU プルアップ信号
PD1 第1プルダウン信号
PD2 第2プルダウン信号
CLK エネーブル信号(制御信号)

Claims (5)

  1. 出力ノードを共有し、相補的な開閉動作によりその出力ノードからデータを出力するプルアップトランジスタ及び第1のプルダウントランジスタを備え、所定の制御信号に従って動作するようになったデータ出力バッファにおいて、
    セルアレイから読出されたデータ及び前記制御信号を入力とする入力手段と、
    この入力手段の出力信号を所定時間遅延させる遅延回路と、
    入力手段の出力信号及び遅延回路の出力信号を入力として前記第1のプルダウントランジスタを駆動する論理手段と、
    前記出力ノードと接地端との間にチャネルが形成され、遅延回路の出力信号により動作する第2のプルダウントランジスタと、
    第2のプルダウントランジスタに直列接続された抵抗と、を備え、
    遅延回路による遅延時間の間の前記第1のプルダウントランジスタの導通の終了に合わせて前記第2のプルダウントランジスタが導通するようにして出力ノードを2段階でプルダウンするようにしたことを特徴とするデータ出力バッファ。
  2. 遅延回路が、少なくとも3個のインバータで構成されることを特徴とする請求項1記載のデータ出力バッファ。
  3. メモリセルの記憶に基づく入力データ及び外部へのデータ出力動作を制御する制御信号を受けて外部への出力データを発生するデータ出力バッファであって、
    入力データ及び制御信号の論理組合せによりプルアップ信号を発生するプルアップ論理手段、及び、入力データ及び制御信号の論理組合せにより所定のパルス幅の第1プルダウン信号を発生すると共に該第1プルダウン信号のパルス終了に合わせて第2プルダウン信号を発生するプルダウン論理手段を有するプルアップ及びプルダウン制御部と、
    電源電圧端と出力データを発生する出力ノードとの間に設けられてプルアップ信号により動作するプルアップトランジスタと、
    出力ノードと接地端との間に設けられて第1プルダウン信号により動作する第1プルダウントランジスタと、
    出力ノードと接地端との間に設けられて第2プルダウン信号により動作する第2プルダウントランジスタと、
    第2プルダウントランジスタに直列接続された抵抗と、を備えることを特徴とするデータ出力バッファ。
  4. プルアップ及びプルダウン制御部のプルダウン論理手段は、
    入力データ及び制御信号を入力とするNANDゲートと、
    このNANDゲートの出力を遅延及び反転させて第2プルダウン信号を発生する遅延回路と、
    NANDゲート及び遅延回路の各出力を入力として第1プルダウン信号を発生するNORゲートと、から構成されることを特徴とする請求項記載のデータ出力バッファ。
  5. プルダウン論理手段の遅延回路が、奇数個のインバータから構成されることを特徴とする請求項記載のデータ出力バッファ。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5534806A (en) * 1994-10-05 1996-07-09 Cypress Semiconductor Corp. Pull-down access for an output buffer
KR960043524A (ko) * 1995-05-23 1996-12-23 홍-치우 후 출력 버퍼링 장치
US5808492A (en) * 1996-03-28 1998-09-15 Industrial Technology Research Institute CMOS bidirectional buffer without enable control signal
GB2314709B (en) * 1996-06-24 2000-06-28 Hyundai Electronics Ind Skew logic circuit device
US5717343A (en) * 1996-07-23 1998-02-10 Pericom Semiconductor Corp. High-drive CMOS output buffer with noise supression using pulsed drivers and neighbor-sensing
US5963047A (en) * 1996-07-23 1999-10-05 Pericom Semiconductor Corp. Noise supression using neighbor-sensing for a CMOS output buffer with a large DC current sink
US5781050A (en) * 1996-11-15 1998-07-14 Lsi Logic Corporation Open drain output driver having digital slew rate control
US5926049A (en) * 1997-04-11 1999-07-20 Level One Communications, Inc. Low power CMOS line driver with dynamic biasing
US5945868A (en) * 1998-01-08 1999-08-31 Motorola, Inc. Power semiconductor device and method for increasing turn-on time of the power semiconductor device
JP3178666B2 (ja) * 1998-02-03 2001-06-25 日本電気株式会社 ダイナミック型駆動回路
US6040713A (en) 1998-04-22 2000-03-21 Micron Technology, Inc. Buffer with fast edge propagation
JP2001023367A (ja) * 1999-07-02 2001-01-26 Fujitsu Ltd タイミング信号発生回路、dll回路、半導体記憶装置及び可変遅延回路
KR100301068B1 (ko) * 1999-08-31 2001-11-01 윤종용 저 전력 소모형 버스 구동장치 및 방법
IT1313719B1 (it) * 1999-09-24 2002-09-17 St Microelectronics Srl Stadio d'uscita per circuiti comparatori ad alta velocita'
US6265914B1 (en) * 1999-11-19 2001-07-24 Lsi Logic Corporation Predriver for high frequency data transceiver
TW538612B (en) * 2001-12-13 2003-06-21 Via Tech Inc Power-saving method of physical device and the device thereof
DE10331059B4 (de) * 2003-07-09 2005-08-04 Siemens Ag Transceiver
JP4144523B2 (ja) * 2003-12-26 2008-09-03 セイコーエプソン株式会社 不意の書き込みを抑制する記憶装置を備える消耗品容器
JP4880436B2 (ja) * 2006-12-06 2012-02-22 ローム株式会社 半導体集積回路および電源装置
JP2009116684A (ja) * 2007-11-07 2009-05-28 Toshiba Corp 電圧発生回路
DE102008055051B4 (de) 2008-12-19 2014-05-08 Infineon Technologies Austria Ag Schaltungsanordnung und Verfahren zur Erzeugung eines Ansteuersignals für einen Transistor
KR20130045144A (ko) * 2011-10-24 2013-05-03 삼성전자주식회사 출력 드라이버와 이를 포함하는 장치들, 및 접지 터미네이션
KR101825114B1 (ko) * 2011-11-07 2018-03-14 삼성전자주식회사 출력 버퍼와 상기 출력 버퍼를 포함하는 장치들

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4928023A (en) * 1987-08-27 1990-05-22 Texas Instruments Incorporated Improved output buffer having reduced noise characteristics
JP2616142B2 (ja) * 1990-05-31 1997-06-04 日本電気株式会社 出力回路
US5122690A (en) * 1990-10-16 1992-06-16 General Electric Company Interface circuits including driver circuits with switching noise reduction

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