JP3809125B2 - 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法 - Google Patents

半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3809125B2
JP3809125B2 JP2002109290A JP2002109290A JP3809125B2 JP 3809125 B2 JP3809125 B2 JP 3809125B2 JP 2002109290 A JP2002109290 A JP 2002109290A JP 2002109290 A JP2002109290 A JP 2002109290A JP 3809125 B2 JP3809125 B2 JP 3809125B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
cooling
suction tool
chip bonding
heater plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002109290A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003303856A (ja
Inventor
浩正 羽生田
清明 飯田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP2002109290A priority Critical patent/JP3809125B2/ja
Publication of JP2003303856A publication Critical patent/JP2003303856A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3809125B2 publication Critical patent/JP3809125B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/75252Means for applying energy, e.g. heating means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
金バンプを形成した半導体チップを実装基板にはんだによりフリップチップボンディングする場合には、図5に示すようなボンディング用ヘッド10を用いている。
このボンディング用ヘッド10は、ヘッド本体部12と、該ヘッド本体部12に取りつけられたヒーター板13と、吸引孔14を有し、ヒーター板13下面に当接して取りつけられた吸着ツール15と、冷却部とを有する。
冷却部は、ヘッド本体部12およびヒーター板13を貫通して設けられた冷却風供給路16と(図6)、ヒーター板13下面に形成されてヒーター板13側壁面に開口し、冷却風供給路16と連通する冷却風通路17とを有する(図7)。18は冷却エアポートである。
【0003】
そして、吸着ツール15に吸引保持された半導体チップを吸着ツール15を介してヒータ板13により加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフリップチップボンディングするのである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかるに上記半導体チップのボンディング方法には次のような課題がある。
すなわち、上記ヒーター板は、パルスヒーター等により対象物(吸着ツール、半導体チップ)を短時間に加熱可能である。しかしながら、昇温は比較的短時間で行えるものの、冷却は容易でなく、溶融したはんだを冷却、凝固させるまで、吸着ツールにより半導体チップを長時間押圧していなければならず、タクトタイム短縮のために、上記のように冷却部により急冷するようにしているが、冷却効果が十分でなく、望むようなタクトタイム短縮が得られていない。
そこで本発明は上記課題を解決すべくなされたものであり、その目的とするところは、冷却効果が高く、タクトタイムの短縮が図れる半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法を提供するにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するために次の構成を有する。
すなわち、本発明に係る半導体チップボンディング用ヘッドは、ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取りつけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフリップチップボンディングする半導体チップボンディング用ヘッドにおいて、前記冷却部は、前記ヘッド本体部および前記ヒーター板を貫通する冷却風供給路と、前記吸着ツール上面に形成されて吸着ツール側壁面に開口し、前記冷却風供給路と連通する、吸着ツールおよびヒーター板冷却用の冷却風通路とを具備することを特徴とする。
【0006】
前記冷却風通路が、前記吸着ツールに設けられた吸引孔を囲む広い面積で形成されていることを特徴とする。
前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面に当接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設され、下面に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、該柱状部に、柱状部側壁に開口する通孔が設けられていることを特徴とする。
また、前記吸着ツール下面に冷却フィンが突設されていることを特徴とする。
さらに前記冷却部が、前記吸着ツールに吸着ツール外部から冷風を吹きつける冷却ノズルを有することを特徴とする。
【0007】
また本発明に係る半導体チップボンディング用ヘッドは、ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取りつけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフリップチップボンディングする半導体チップボンディング用ヘッドにおいて、前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面に当接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設され、下面に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、前記冷却部は、前記柱状部に設けられ、柱状部側壁に開口する通孔を有することを特徴とする。
【0008】
また本発明に係る半導体チップボンディング方法では、上記ボンディングヘッドを用い、吸着ツールによって半導体チップを吸着保持し、ヒーター板によって吸着ツールを介して半導体チップを加熱し、該加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部の冷却風供給路から前記吸着ツールに形成された冷却風通路に冷風を供給し、前記溶融したはんだを冷却、凝固させて半導体チップを実装基板にフリップチップボンディングすることを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、ボンディングヘッド20の正面図である。図5に示す従来ヘッド10と同一の部材は同一符号で示した。
ヘッド本体12に断熱ブロック12aを介してヒーター板13が取りつけられている。ヒーター板13はパルスヒーターが組み込まれて、対象物を短時間に加熱可能である。ヒーター板13は断熱ブロック12aに取り付けネジ(図示せず)によって固定されている。ヒーター板13はセラミック板を用いることができる。
【0010】
ヒーター板13に、吸着ツール15が図示しない取り付けネジによって固定されている。吸着ツール15もセラミック製とすることができるが、これに限定されるものではない。
吸着ツール15は、図2に示すように、ヒーター板13とほぼ同じ大きさに形成され、ヒーター板13下面に当接する板状部15aと、この板状部15a下面に突設され、吸引孔14を有する柱状部15bとからなる。
吸着ツール15には、半導体チップ21を吸着可能な吸引孔14が上下方向に開口されている。この吸引孔14は、ヘッド本体12、ヒーター板13を貫通して設けられた吸引孔22と連通している。吸引孔22は図示しない真空吸引装置に接続される。
【0011】
吸着ツール15の上面には、図2(a)に示すように、吸着ツール15の板状部15bの側壁面に開口する凹部からなる冷却風通路23が設けられている。
この冷却風通路23は、吸引孔14を囲むようにして、吸着ツール15の上面に広い面積で設けるとよい。
冷却風通路23は、ヘッド本体12およびヒーター板13を貫通して設けられた冷却風供給路16と連通する。冷却風供給路16には接続口18に冷風供給パイプ(図示せず)が接続されて冷風が供給される。
【0012】
なお、ボンディングヘッド20は、図示しない3次元駆動装置に搭載され、半導体チップ21をボンディングする実装基板24の上方空間内で自在に移動可能に配設される。
【0013】
本実施の形態は上記のように構成されている。
半導体チップ21を実装基板24にボンディングするには次のようになされる。
まず、半導体チップ21が収容されているトレー(図示せず)から、吸着ツール15によって半導体チップ21を吸着して保持する。次いでヘッド20は実装基板24上の所定位置に移動される。ヒーター板13に所要時間通電され、ヒーター板13によって吸着ツール15を介して半導体チップ21が加熱される。
次いでヘッド20が下降され、加熱された半導体チップ21が実装基板24上の所要実装箇所に押圧される。半導体チップ21に設けられたバンプ(図示せず)を介して実装基板24に設けられたはんだ層(図示せず)が溶融される。
次いで冷却風供給路16から吸着ツール15に形成された冷却風通路23に冷風が供給され、溶融したはんだが冷却、凝固され、これにより半導体チップ21が実装基板24にフリップチップボンディングされる。
次いでヘッド20が上昇され、次の半導体チップ21のボンディングがなされる。
【0014】
本実施の形態では、上記のように、ヒーター板13下面と接する吸着ツール15の上面に、広い面積の冷却風通路23を設け、多量の冷風を供給できるようにしたので、吸着ツール15が素早く冷却され、これに保持されている半導体チップ21も冷却され、したがってはんだも素早く冷却、凝固されて半導体チップ21がボンディングされることになる。
したがって、タクトタイムの短縮化が図れる。
従来では、前記のように、冷却風通路がヒーター板13下面に設けられ、ヒーター板13の構造上の制約から広い面積あるいは断面積の冷却風通路が設けられなかったので、冷却効率が悪く、タクトタイムの短縮が図れなかったのである。
本実施の形態では、従来に比して、冷却時間を76%(2.6秒から1.98秒)に短縮できた。
【0015】
図3は他の実施の形態を示す。
本実施の形態では、吸着ツール15の柱状部15bに、柱状部15bの側壁面に開口する通孔25を設けている。この通孔25は、吸着ツール15の大気との接触面積を大きくするためのもので、実施例では、柱状部15b内に格子状に設けた。
このように、本実施の形態では、吸着ツール15の大気との接触面積を大きくしたので、それだけ吸着ツール15ひいては半導体チップ21の冷却を早め、はんだを素早く凝固させることができる。
これにより、冷却時間を88%(2.6秒から2.30秒)に短縮できた。
【0016】
なお、本実施の形態では、図1に示すように、吸着ツール15に吸着ツール外部から冷風を吹きつける冷却ノズル27を設けるとさらに好適である。
このように冷却ノズル27を設けて、通孔25内に強制的に冷風を吹き込むことによってさらに冷却効率を高めることができる。
また本実施の形態でも、図2に示す冷却部(冷却風通路23等)を併用することで一層冷却効率を高めることができる。
【0017】
図4はさらに他の実施の形態を示す。
本実施の形態では、吸着ツール15の板状部15a下面に、多数の冷却フィン29を突設している。本実施の形態でも吸着ツール15の大気との接触面積(表面積)を増大でき、それだけ冷却効率を高めることができる。従来例に比して、冷却時間を90%(2.6秒から2.34秒)に短縮できた。
また本実施の形態でも、図1に示すように、冷却ノズル27を設けて、吸着ツール15に強制的に冷風を吹き付けることでさらに冷却効率を高めることができる。
また、図2、および/または図3に示す態様を併用することで一層冷却効率を高めることができる。
【0018】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、簡単な構造で、容易にはんだ凝固時間、したがってタクトタイムを短縮できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 ヘッド全体の構造を示す概略図である。
【図2】 第1の実施の形態を示す説明図である。
【図3】 第2の実施の形態を示す説明図である。
【図4】 第3の実施の形態を示す説明図である。
【図5】 従来のヘッドの概略を示す説明図である。
【図6】 冷却風供給路の説明図である。
【図7】 ヒーター板の下面に設けた冷却風通路を示す説明図である。
【符号の説明】
12 ヘッド本体
13 ヒーター板
14 吸引孔
15 吸着ツール
16 冷却風供給路
20 ヘッド
21 半導体チップ
22 吸引孔
23 冷却風通路
24 実装基板
25 通孔
27 冷却ノズル
29 冷却フィン

Claims (8)

  1. ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取りつけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフリップチップボンディングする半導体チップボンディング用ヘッドにおいて、
    前記冷却部は、前記ヘッド本体部および前記ヒーター板を貫通する冷却風供給路と、前記吸着ツール上面に形成されて吸着ツール側壁面に開口し、前記冷却風供給路と連通する、吸着ツールおよびヒーター板冷却用の冷却風通路とを具備することを特徴とする半導体チップボンディング用ヘッド。
  2. 前記冷却風通路が、前記吸着ツールに設けられた吸引孔を囲む広い面積で形成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体チップボンディング用ヘッド。
  3. 前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面に当接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設され、下面に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、
    該柱状部に、柱状部側壁に開口する通孔が設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の半導体チップボンディング用ヘッド。
  4. 前記吸着ツール下面に冷却フィンが突設されていることを特徴とする請求項1、2または3記載の半導体チップボンディング用ヘッド。
  5. 前記冷却部が、前記吸着ツールに吸着ツール外部から冷風を吹きつける冷却ノズルを有することを特徴とする請求項3または4記載の半導体チップボンディング用ヘッド。
  6. ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取りつけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフリップチップボンディングする半導体チップボンディング用ヘッドにおいて、
    前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面に当接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設され、下面に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、
    前記冷却部は、前記柱状部に設けられ、柱状部側壁に開口する通孔を有することを特徴とする半導体チップボンディング用ヘッド。
  7. 前記冷却部が、前記吸着ツールに吸着ツール外部から冷風を吹きつける冷却ノズルを有することを特徴とする請求項6記載の半導体チップボンディング用ヘッド。
  8. 請求項1〜7いずれか1項記載の半導体チップボンディング用ヘッドを用い、
    吸着ツールによって半導体チップを吸着保持し、ヒーター板によって吸着ツールを介して半導体チップを加熱し、該加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部の冷却風供給路から前記吸着ツールに形成された冷却風通路に冷風を供給し、前記溶融したはんだを冷却、凝固させて半導体チップを実装基板にフリップチップボンディングすることを特徴とする半導体チップボンディング方法。
JP2002109290A 2002-04-11 2002-04-11 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法 Expired - Fee Related JP3809125B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002109290A JP3809125B2 (ja) 2002-04-11 2002-04-11 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002109290A JP3809125B2 (ja) 2002-04-11 2002-04-11 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003303856A JP2003303856A (ja) 2003-10-24
JP3809125B2 true JP3809125B2 (ja) 2006-08-16

Family

ID=29392795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002109290A Expired - Fee Related JP3809125B2 (ja) 2002-04-11 2002-04-11 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3809125B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150074118A (ko) 2012-10-23 2015-07-01 토레이 엔지니어링 컴퍼니, 리미티드 본딩 툴 냉각 장치 및 본딩 툴 냉각 방법
KR20210009849A (ko) * 2019-07-18 2021-01-27 세메스 주식회사 다이 본딩 장치

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4879828B2 (ja) * 2007-06-26 2012-02-22 新光電気工業株式会社 フリップチップボンディング方法およびフリップチップボンディング装置
WO2010029075A1 (de) * 2008-09-09 2010-03-18 Kulicke And Soffa Die Bonding Gmbh Drehbares, beheizbares platzierwerkzeug und chipmontageautomat mit einem solchen platzierwerzeug
JP4808283B1 (ja) * 2010-06-30 2011-11-02 株式会社新川 電子部品実装装置及び電子部品実装方法
US8381965B2 (en) 2010-07-22 2013-02-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compress bonding
US8104666B1 (en) 2010-09-01 2012-01-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compressive bonding with separate die-attach and reflow processes
US8177862B2 (en) * 2010-10-08 2012-05-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd Thermal compressive bond head
JP5713157B2 (ja) * 2010-11-11 2015-05-07 澁谷工業株式会社 ボンディング装置
KR101228572B1 (ko) * 2010-11-30 2013-01-31 스테코 주식회사 열전달 지연부재가 구비된 칩 접합장치 및 이를 이용한 칩 접합방법
WO2013095362A1 (en) * 2011-12-20 2013-06-27 Intel Corporation High performance transient uniform cooling solution for thermal compression bonding process
US9281290B2 (en) * 2012-07-30 2016-03-08 Asm Technology Singapore Pte Ltd Bond head for thermal compression die bonding
KR101543864B1 (ko) * 2013-11-13 2015-08-11 세메스 주식회사 본딩 헤드 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
JP6529865B2 (ja) * 2015-08-31 2019-06-12 株式会社イチネンジコー ヒータ
JP6836317B2 (ja) * 2015-10-16 2021-02-24 東レエンジニアリング株式会社 ボンディングヘッドおよび実装装置
US10312126B1 (en) * 2017-12-04 2019-06-04 Micron Technology, Inc. TCB bond tip design to mitigate top die warpage and solder stretching issue
CN112951757B (zh) * 2021-02-01 2023-05-23 苏州大学 一种用于mems摩阻传感器封装的多通道吸附装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150074118A (ko) 2012-10-23 2015-07-01 토레이 엔지니어링 컴퍼니, 리미티드 본딩 툴 냉각 장치 및 본딩 툴 냉각 방법
KR20210009849A (ko) * 2019-07-18 2021-01-27 세메스 주식회사 다이 본딩 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003303856A (ja) 2003-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3809125B2 (ja) 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法
KR101183824B1 (ko) 가열 결합 헤드를 사용하는 직접적인 다이 부착 방법
US7362580B2 (en) Electronic assembly having an indium wetting layer on a thermally conductive body
US8745841B2 (en) Aluminum bonding member and method for producing same
JP2002158257A (ja) フリップチップボンディング方法
JP3303832B2 (ja) フリップチップボンダー
US20230282611A1 (en) Semiconductor device manufacturing method
JP2889399B2 (ja) テープ自動化ボンディング法
JPH06244548A (ja) 回路部品の着脱装置および回路部品の着脱方法
JP3172942B2 (ja) ボンディング装置
JP2000349099A (ja) はんだ接合方法および、半導体装置の製造方法
JP3714118B2 (ja) 電子部品の熱圧着装置
JPH07176553A (ja) チップの実装装置および実装方法
JP2002057190A (ja) 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置
JP2004158491A (ja) ダイボンディング装置
JP2823010B1 (ja) バンプ付き電子部品の実装方法
JPH10335392A (ja) バンプ付きワークのボンディング装置
JP3808746B2 (ja) 樹脂パッケージ型半導体装置の製造方法
JP2011044530A (ja) はんだ接合方法およびはんだ接合装置
JP2004193539A (ja) 半導体素子の接合方法および装置
JP2970009B2 (ja) バンプの成形方法
JPS6197953A (ja) 集積回路部品パツケ−ジの伝導冷却構造
JPH09205104A (ja) 半導体素子のマウント方法およびその装置
JP2005209864A (ja) 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
JPH098185A (ja) 電子部品冷却構造を備えたパッケージ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050127

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060214

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060410

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060516

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060519

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees