JP2003303856A - 半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法 - Google Patents

半導体チップボンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 冷却効果が高く、タクトタイムの短縮が図れ
る半導体チップボンディング用ヘッドを提供する。 【解決手段】 ヘッド本体部12と、該ヘッド本体部1
2に取りつけられたヒーター板13と、吸引孔14を有
し、ヒーター板13下面に当接して取りつけられた吸着
ツール15と、冷却部とを有し、前記冷却部は、ヘッド
本体部12およびヒーター板13を貫通する冷却風供給
路16と、吸着ツール15上面に形成されて吸着ツール
15側壁面に開口し、冷却風供給路16と連通する、吸
着ツール15およびヒーター板13冷却用の冷却風通路
23とを具備することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体チップボンデ
ィング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】金バンプを形成した半導体チップを実装
基板にはんだによりフリップチップボンディングする場
合には、図5に示すようなボンディング用ヘッド10を
用いている。このボンディング用ヘッド10は、ヘッド
本体部12と、該ヘッド本体部12に取りつけられたヒ
ーター板13と、吸引孔14を有し、ヒーター板13下
面に当接して取りつけられた吸着ツール15と、冷却部
とを有する。冷却部は、ヘッド本体部12およびヒータ
ー板13を貫通して設けられた冷却風供給路16と(図
6)、ヒーター板13下面に形成されてヒーター板13
側壁面に開口し、冷却風供給路16と連通する冷却風通
路17とを有する(図7)。18は冷却エアポートであ
る。
【0003】そして、吸着ツール15に吸引保持された
半導体チップを吸着ツール15を介してヒータ板13に
より加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板に
押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して実
装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部に
より前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導体
チップを実装基板上にフリップチップボンディングする
のである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかるに上記半導体チ
ップのボンディング方法には次のような課題がある。す
なわち、上記ヒーター板は、パルスヒーター等により対
象物(吸着ツール、半導体チップ)を短時間に加熱可能
である。しかしながら、昇温は比較的短時間で行えるも
のの、冷却は容易でなく、溶融したはんだを冷却、凝固
させるまで、吸着ツールにより半導体チップを長時間押
圧していなければならず、タクトタイム短縮のために、
上記のように冷却部により急冷するようにしているが、
冷却効果が十分でなく、望むようなタクトタイム短縮が
得られていない。そこで本発明は上記課題を解決すべく
なされたものであり、その目的とするところは、冷却効
果が高く、タクトタイムの短縮が図れる半導体チップボ
ンディング用ヘッドおよび半導体チップボンディング方
法を提供するにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために次の構成を有する。すなわち、本発明に係る
半導体チップボンディング用ヘッドは、ヘッド本体部
と、該ヘッド本体部に取りつけられたヒーター板と、吸
引孔を有し、前記ヒーター板下面に当接して取りつけら
れた吸着ツールと、冷却部とを有し、吸着ツールに吸引
保持された半導体チップを吸着ツールを介してヒータ板
により加熱し、この加熱された半導体チップを実装基板
に押圧して、半導体チップに設けられたバンプを介して
実装基板に設けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部
により前記溶融はんだを冷却凝固させることにより半導
体チップを実装基板上にフリップチップボンディングす
る半導体チップボンディング用ヘッドにおいて、前記冷
却部は、前記ヘッド本体部および前記ヒーター板を貫通
する冷却風供給路と、前記吸着ツール上面に形成されて
吸着ツール側壁面に開口し、前記冷却風供給路と連通す
る、吸着ツールおよびヒーター板冷却用の冷却風通路と
を具備することを特徴とする。
【0006】前記冷却風通路が、前記吸着ツールに設け
られた吸引孔を囲む広い面積で形成されていることを特
徴とする。前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面に当
接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設され、下面
に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、該柱状部に、
柱状部側壁に開口する通孔が設けられていることを特徴
とする。また、前記吸着ツール下面に冷却フィンが突設
されていることを特徴とする。さらに前記冷却部が、前
記吸着ツールに吸着ツール外部から冷風を吹きつける冷
却ノズルを有することを特徴とする。
【0007】また本発明に係る半導体チップボンディン
グ用ヘッドは、ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取り
つけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター
板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部
とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを
吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱さ
れた半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップ
に設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはん
だ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷
却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフ
リップチップボンディングする半導体チップボンディン
グ用ヘッドにおいて、前記吸着ツールは、前記ヒーター
板下面に当接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設
され、下面に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、前
記冷却部は、前記柱状部に設けられ、柱状部側壁に開口
する通孔を有することを特徴とする。
【0008】さらに本発明に係る半導体チップボンディ
ング用ヘッドは、ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取
りつけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒータ
ー板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却
部とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップ
を吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱
された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チッ
プに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたは
んだ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを
冷却凝固させることにより半導体チップを実装基板上に
フリップチップボンディングする半導体チップボンディ
ング用ヘッドにおいて、前記冷却部は、前記吸着ツール
下面に突設された冷却フィンであることを特徴とする。
【0009】また本発明に係る半導体チップボンディン
グ方法では、上記ボンディングヘッドを用い、吸着ツー
ルによって半導体チップを吸着保持し、ヒーター板によ
って吸着ツールを介して半導体チップを加熱し、該加熱
された半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チッ
プに設けられたバンプを介して実装基板に設けられたは
んだ層を溶融し、次いで冷却部の冷却風供給路から前記
吸着ツールに形成された冷却風通路に冷風を供給し、前
記溶融したはんだを冷却、凝固させて半導体チップを実
装基板にフリップチップボンディングすることを特徴と
している。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は、ボンデ
ィングヘッド20の正面図である。図5に示す従来ヘッ
ド10と同一の部材は同一符号で示した。ヘッド本体1
2に断熱ブロック12aを介してヒーター板13が取り
つけられている。ヒーター板13はパルスヒーターが組
み込まれて、対象物を短時間に加熱可能である。ヒータ
ー板13は断熱ブロック12aに取り付けネジ(図示せ
ず)によって固定されている。ヒーター板13はセラミ
ック板を用いることができる。
【0011】ヒーター板13に、吸着ツール15が図示
しない取り付けネジによって固定されている。吸着ツー
ル15もセラミック製とすることができるが、これに限
定されるものではない。吸着ツール15は、図2に示す
ように、ヒーター板13とほぼ同じ大きさに形成され、
ヒーター板13下面に当接する板状部15aと、この板
状部15a下面に突設され、吸引孔14を有する柱状部
15bとからなる。吸着ツール15には、半導体チップ
21を吸着可能な吸引孔14が上下方向に開口されてい
る。この吸引孔14は、ヘッド本体12、ヒーター板1
3を貫通して設けられた吸引孔22と連通している。吸
引孔22は図示しない真空吸引装置に接続される。
【0012】吸着ツール15の上面には、図2(a)に
示すように、吸着ツール15の板状部15bの側壁面に
開口する凹部からなる冷却風通路23が設けられてい
る。この冷却風通路23は、吸引孔14を囲むようにし
て、吸着ツール15の上面に広い面積で設けるとよい。
冷却風通路23は、ヘッド本体12およびヒーター板1
3を貫通して設けられた冷却風供給路16と連通する。
冷却風供給路16には接続口18に冷風供給パイプ(図
示せず)が接続されて冷風が供給される。
【0013】なお、ボンディングヘッド20は、図示し
ない3次元駆動装置に搭載され、半導体チップ21をボ
ンディングする実装基板24の上方空間内で自在に移動
可能に配設される。
【0014】本実施の形態は上記のように構成されてい
る。半導体チップ21を実装基板24にボンディングす
るには次のようになされる。まず、半導体チップ21が
収容されているトレー(図示せず)から、吸着ツール1
5によって半導体チップ21を吸着して保持する。次い
でヘッド20は実装基板24上の所定位置に移動され
る。ヒーター板13に所要時間通電され、ヒーター板1
3によって吸着ツール15を介して半導体チップ21が
加熱される。次いでヘッド20が下降され、加熱された
半導体チップ21が実装基板24上の所要実装箇所に押
圧される。半導体チップ21に設けられたバンプ(図示
せず)を介して実装基板24に設けられたはんだ層(図
示せず)が溶融される。次いで冷却風供給路16から吸
着ツール15に形成された冷却風通路23に冷風が供給
され、溶融したはんだが冷却、凝固され、これにより半
導体チップ21が実装基板24にフリップチップボンデ
ィングされる。次いでヘッド20が上昇され、次の半導
体チップ21のボンディングがなされる。
【0015】本実施の形態では、上記のように、ヒータ
ー板13下面と接する吸着ツール15の上面に、広い面
積の冷却風通路23を設け、多量の冷風を供給できるよ
うにしたので、吸着ツール15が素早く冷却され、これ
に保持されている半導体チップ21も冷却され、したが
ってはんだも素早く冷却、凝固されて半導体チップ21
がボンディングされることになる。したがって、タクト
タイムの短縮化が図れる。従来では、前記のように、冷
却風通路がヒーター板13下面に設けられ、ヒーター板
13の構造上の制約から広い面積あるいは断面積の冷却
風通路が設けられなかったので、冷却効率が悪く、タク
トタイムの短縮が図れなかったのである。本実施の形態
では、従来に比して、冷却時間を76%(2.6秒から
1.98秒)に短縮できた。
【0016】図3は他の実施の形態を示す。本実施の形
態では、吸着ツール15の柱状部15bに、柱状部15
bの側壁面に開口する通孔25を設けている。この通孔
25は、吸着ツール15の大気との接触面積を大きくす
るためのもので、実施例では、柱状部15b内に格子状
に設けた。このように、本実施の形態では、吸着ツール
15の大気との接触面積を大きくしたので、それだけ吸
着ツール15ひいては半導体チップ21の冷却を早め、
はんだを素早く凝固させることができる。これにより、
冷却時間を88%(2.6秒から2.30秒)に短縮で
きた。
【0017】なお、本実施の形態では、図1に示すよう
に、吸着ツール15に吸着ツール外部から冷風を吹きつ
ける冷却ノズル27を設けるとさらに好適である。この
ように冷却ノズル27を設けて、通孔25内に強制的に
冷風を吹き込むことによってさらに冷却効率を高めるこ
とができる。また本実施の形態でも、図2に示す冷却部
(冷却風通路23等)を併用することで一層冷却効率を
高めることができる。
【0018】図4はさらに他の実施の形態を示す。本実
施の形態では、吸着ツール15の板状部15a下面に、
多数の冷却フィン29を突設している。本実施の形態で
も吸着ツール15の大気との接触面積(表面積)を増大
でき、それだけ冷却効率を高めることができる。従来例
に比して、冷却時間を90%(2.6秒から2.34
秒)に短縮できた。また本実施の形態でも、図1に示す
ように、冷却ノズル27を設けて、吸着ツール15に強
制的に冷風を吹き付けることでさらに冷却効率を高める
ことができる。また、図2、および/または図3に示す
態様を併用することで一層冷却効率を高めることができ
る。
【0019】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、簡単な
構造で、容易にはんだ凝固時間、したがってタクトタイ
ムを短縮できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】ヘッド全体の構造を示す概略図である。
【図2】第1の実施の形態を示す説明図である。
【図3】第2の実施の形態を示す説明図である。
【図4】第3の実施の形態を示す説明図である。
【図5】従来のヘッドの概略を示す説明図である。
【図6】冷却風供給路の説明図である。
【図7】ヒーター板の下面に設けた冷却風通路を示す説
明図である。
【符号の説明】
12 ヘッド本体 13 ヒーター板 14 吸引孔 15 吸着ツール 16 冷却風供給路 20 ヘッド 21 半導体チップ 22 吸引孔 23 冷却風通路 24 実装基板 25 通孔 27 冷却ノズル 29 冷却フィン

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取り
    つけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター
    板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部
    とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを
    吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱さ
    れた半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップ
    に設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはん
    だ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷
    却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフ
    リップチップボンディングする半導体チップボンディン
    グ用ヘッドにおいて、 前記冷却部は、前記ヘッド本体部および前記ヒーター板
    を貫通する冷却風供給路と、前記吸着ツール上面に形成
    されて吸着ツール側壁面に開口し、前記冷却風供給路と
    連通する、吸着ツールおよびヒーター板冷却用の冷却風
    通路とを具備することを特徴とする半導体チップボンデ
    ィング用ヘッド。
  2. 【請求項2】 前記冷却風通路が、前記吸着ツールに設
    けられた吸引孔を囲む広い面積で形成されていることを
    特徴とする請求項1記載の半導体チップボンディング用
    ヘッド。
  3. 【請求項3】 前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面
    に当接する板状部と、該板状部下面に柱状に突設され、
    下面に前記吸引孔が開口する柱状部とを有し、 該柱状部に、柱状部側壁に開口する通孔が設けられてい
    ることを特徴とする請求項1または2記載の半導体チッ
    プボンディング用ヘッド。
  4. 【請求項4】 前記吸着ツール下面に冷却フィンが突設
    されていることを特徴とする請求項1、2または3記載
    の半導体チップボンディング用ヘッド。
  5. 【請求項5】 前記冷却部が、前記吸着ツールに吸着ツ
    ール外部から冷風を吹きつける冷却ノズルを有すること
    を特徴とする請求項3または4記載の半導体チップボン
    ディング用ヘッド。
  6. 【請求項6】 ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取り
    つけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター
    板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部
    とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを
    吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱さ
    れた半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップ
    に設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはん
    だ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷
    却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフ
    リップチップボンディングする半導体チップボンディン
    グ用ヘッドにおいて、 前記吸着ツールは、前記ヒーター板下面に当接する板状
    部と、該板状部下面に柱状に突設され、下面に前記吸引
    孔が開口する柱状部とを有し、 前記冷却部は、前記柱状部に設けられ、柱状部側壁に開
    口する通孔を有することを特徴とする半導体チップボン
    ディング用ヘッド。
  7. 【請求項7】 ヘッド本体部と、該ヘッド本体部に取り
    つけられたヒーター板と、吸引孔を有し、前記ヒーター
    板下面に当接して取りつけられた吸着ツールと、冷却部
    とを有し、吸着ツールに吸引保持された半導体チップを
    吸着ツールを介してヒータ板により加熱し、この加熱さ
    れた半導体チップを実装基板に押圧して、半導体チップ
    に設けられたバンプを介して実装基板に設けられたはん
    だ層を溶融し、次いで冷却部により前記溶融はんだを冷
    却凝固させることにより半導体チップを実装基板上にフ
    リップチップボンディングする半導体チップボンディン
    グ用ヘッドにおいて、 前記冷却部は、前記吸着ツール下面に突設された冷却フ
    ィンであることを特徴とする半導体チップボンディング
    用ヘッド。
  8. 【請求項8】 前記冷却部が、前記吸着ツールに吸着ツ
    ール外部から冷風を吹きつける冷却ノズルを有すること
    を特徴とする請求項6または7記載の半導体チップボン
    ディング用ヘッド。
  9. 【請求項9】 請求項1〜8いずれか1項記載の半導体
    チップボンディング用ヘッドを用い、 吸着ツールによって半導体チップを吸着保持し、ヒータ
    ー板によって吸着ツールを介して半導体チップを加熱
    し、該加熱された半導体チップを実装基板に押圧して、
    半導体チップに設けられたバンプを介して実装基板に設
    けられたはんだ層を溶融し、次いで冷却部の冷却風供給
    路から前記吸着ツールに形成された冷却風通路に冷風を
    供給し、前記溶融したはんだを冷却、凝固させて半導体
    チップを実装基板にフリップチップボンディングするこ
    とを特徴とする半導体チップボンディング方法。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009009996A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Shinko Electric Ind Co Ltd フリップチップボンディング方法およびフリップチップボンディング装置
KR20110081815A (ko) * 2008-09-09 2011-07-14 쿨리케 앤드 소파 다이 본딩 게엠베하 회전가능하고 가열가능한 배치 장치 및 이러한 배치 장치를 포함하는 칩 실장 시스템
JP2012015255A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Shinkawa Ltd 電子部品実装装置及び電子部品実装方法
US20120088362A1 (en) * 2010-10-08 2012-04-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal Compressive Bond Head
JP2012104693A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Shibuya Kogyo Co Ltd ボンディング装置
US8317077B2 (en) 2010-09-01 2012-11-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compressive bonding with separate die-attach and reflow processes
KR101228572B1 (ko) * 2010-11-30 2013-01-31 스테코 주식회사 열전달 지연부재가 구비된 칩 접합장치 및 이를 이용한 칩 접합방법
US8381965B2 (en) 2010-07-22 2013-02-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compress bonding
WO2013095362A1 (en) * 2011-12-20 2013-06-27 Intel Corporation High performance transient uniform cooling solution for thermal compression bonding process
US20140027068A1 (en) * 2012-07-30 2014-01-30 Kin Yik Hung Bond head for thermal compression die bonding
KR101543864B1 (ko) * 2013-11-13 2015-08-11 세메스 주식회사 본딩 헤드 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
JP2017050306A (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 株式会社イチネンジコー ヒータ
JP2017076757A (ja) * 2015-10-16 2017-04-20 東レエンジニアリング株式会社 ボンディングヘッドおよび実装装置
CN109872958A (zh) * 2017-12-04 2019-06-11 美光科技公司 半导体工具和用于形成半导体装置组合件的方法
CN112951757A (zh) * 2021-02-01 2021-06-11 苏州大学 一种用于mems摩阻传感器封装的多通道吸附装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014065199A1 (ja) 2012-10-23 2014-05-01 東レエンジニアリング株式会社 ボンディングツール冷却装置およびボンディングツール冷却方法
KR102252734B1 (ko) * 2019-07-18 2021-05-17 세메스 주식회사 다이 본딩 장치

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009009996A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Shinko Electric Ind Co Ltd フリップチップボンディング方法およびフリップチップボンディング装置
KR20110081815A (ko) * 2008-09-09 2011-07-14 쿨리케 앤드 소파 다이 본딩 게엠베하 회전가능하고 가열가능한 배치 장치 및 이러한 배치 장치를 포함하는 칩 실장 시스템
KR101658252B1 (ko) * 2008-09-09 2016-09-22 쿨리케 앤드 소파 다이 본딩 게엠베하 회전가능하고 가열가능한 배치 장치 및 이러한 배치 장치를 포함하는 칩 실장 시스템
CN102959695A (zh) * 2010-06-30 2013-03-06 株式会社新川 电子器件安装装置以及电子器件安装方法
JP2012015255A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Shinkawa Ltd 電子部品実装装置及び電子部品実装方法
US9398736B2 (en) 2010-06-30 2016-07-19 Shinkawa Ltd. Electronic component mounting apparatus and the same method thereof
TWI451509B (zh) * 2010-06-30 2014-09-01 Shinkawa Kk Electronic component assembly device and electronic component construction method
US8556158B2 (en) 2010-07-22 2013-10-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compress bonding
US8381965B2 (en) 2010-07-22 2013-02-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compress bonding
US8317077B2 (en) 2010-09-01 2012-11-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal compressive bonding with separate die-attach and reflow processes
US8177862B2 (en) * 2010-10-08 2012-05-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd Thermal compressive bond head
US20120088362A1 (en) * 2010-10-08 2012-04-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Thermal Compressive Bond Head
JP2012104693A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Shibuya Kogyo Co Ltd ボンディング装置
KR101228572B1 (ko) * 2010-11-30 2013-01-31 스테코 주식회사 열전달 지연부재가 구비된 칩 접합장치 및 이를 이용한 칩 접합방법
US9943931B2 (en) 2011-12-20 2018-04-17 Intel Corporation High performance transient uniform cooling solution for thermal compression bonding process
US9434029B2 (en) 2011-12-20 2016-09-06 Intel Corporation High performance transient uniform cooling solution for thermal compression bonding process
WO2013095362A1 (en) * 2011-12-20 2013-06-27 Intel Corporation High performance transient uniform cooling solution for thermal compression bonding process
US9281290B2 (en) * 2012-07-30 2016-03-08 Asm Technology Singapore Pte Ltd Bond head for thermal compression die bonding
US20140027068A1 (en) * 2012-07-30 2014-01-30 Kin Yik Hung Bond head for thermal compression die bonding
KR101543864B1 (ko) * 2013-11-13 2015-08-11 세메스 주식회사 본딩 헤드 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
US9620476B2 (en) 2013-11-13 2017-04-11 Semes Co., Ltd. Bonding head and die bonding apparatus having the same
JP2017050306A (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 株式会社イチネンジコー ヒータ
JP2017076757A (ja) * 2015-10-16 2017-04-20 東レエンジニアリング株式会社 ボンディングヘッドおよび実装装置
CN109872958A (zh) * 2017-12-04 2019-06-11 美光科技公司 半导体工具和用于形成半导体装置组合件的方法
CN112951757A (zh) * 2021-02-01 2021-06-11 苏州大学 一种用于mems摩阻传感器封装的多通道吸附装置
CN112951757B (zh) * 2021-02-01 2023-05-23 苏州大学 一种用于mems摩阻传感器封装的多通道吸附装置

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