JPS6197953A - 集積回路部品パツケ−ジの伝導冷却構造 - Google Patents

集積回路部品パツケ−ジの伝導冷却構造

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JPS6197953A
JPS6197953A JP59219801A JP21980184A JPS6197953A JP S6197953 A JPS6197953 A JP S6197953A JP 59219801 A JP59219801 A JP 59219801A JP 21980184 A JP21980184 A JP 21980184A JP S6197953 A JPS6197953 A JP S6197953A
Authority
JP
Japan
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package
printed circuit
melting point
circuit board
low melting
Prior art date
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Pending
Application number
JP59219801A
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English (en)
Inventor
Kiyotaka Seyama
清隆 瀬山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP59219801A priority Critical patent/JPS6197953A/ja
Publication of JPS6197953A publication Critical patent/JPS6197953A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • H01L23/4332Bellows
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント基板に実装された集積回路部品(L
 S I )の素子のパッケージを液体の冷却媒体を用
い間接的に強制冷却する伝導冷却構造に関するものであ
る。
近年、プリント基板におけるLSIの実装密度を上げる
ため、例えば1パツケージ内に複数個のLSIを収容し
てマルチチップLSI化される傾向にあるが、実装密度
が高(なると各パッケージにおける放熱対策が大きな問
題になる。
〔従来技術〕
そこで、従来かかる放熱対策として各パッケージに放熱
用のフィンを一体的に取付けた空冷方式、ヒートパイプ
等を用いた液冷方式が提案されているが、前者の場合は
冷却能力に限度があり、後者の場合はプリント基板に導
体パターンと液体通路の層が少なくとも2重に設けられ
るので構造が複雑になり、且つシールド等に対して特殊
な技術が要求される。
ところで、上記放熱対策を考えるに当っては、プリント
基板の全体を冷却する必要はなく、発熱源であるパンケ
ージ毎に局部的に冷却すれば良い。
また、空冷方式に比べて液冷方式の方が冷却効果が大き
くて好ましいが、液体通路はプリント5仮と別個に設け
た方が構造、伝導性等の点で有利になる。
このような点を考慮して液体の冷却媒体を用い、パッケ
ージ毎に熱伝導により強制冷却する伝導冷却方式が新た
に考えられている。そして、この伝導冷却構造としては
、プリント基板と略同じ大きさで冷媒が循環する冷媒通
路を有するコールドプレートを用いて、このコールドプ
レートの冷媒通路と連通した伝導端子を立設する。そし
て、伝導端子をプリント基板に実装された各パッケージ
に接触させ、パッケージの発熱をコールドプレートの冷
媒により間接的に冷却することが考えられている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、上記伝導冷却構造にあっては、プリント基板
のパッケージと、そこに接触するコールドプレートの伝
導端子の密着性、即ち熱抵抗が冷却効果に多大に影響す
る。伝導端子はパヶージの種々の高さに適応可能にベロ
ーズを有し、このベローズのばね力で伝導端子先端の接
触片をパッケージに圧接することが考えられるが、単な
る圧接のみでは点接触の状態になって熱抵抗が大きい。
また、プリント基板に対しコールドプレートを下にして
配置する場合は、伝導端子及び内部の冷媒の荷重により
ベローズのばね力が相殺されて圧接不良を生じることが
ある。
そこで、伝導端子とパッケージを一体的に密着すること
が望まれるが、ペースト等の接着材を用いるとその材質
によりかえって熱抵抗の増大を招くことがある。また、
密着するに隙しては保守、交換の場合に容易に分離し、
且つ新たな密着も容易に行われることが望まれる。尚、
冷却能率を上げるために冷媒の流量、圧力を増すと、伝
導端子を破損したり、接合部の信頼性を害することにな
って好ましくない。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記問題点に鑑み、プリント基板のパッケー
ジとコールドプレートの伝導端子とを良好に密着して熱
抵抗の低下を図り、且つ容易に密着、分離し得るように
したLSIパッケージの伝導冷却装置を提供することを
目的とする。その手段は、プリント基板と略同じ大きさ
で、冷媒が循環する冷媒通路を有すると共に、上記プリ
ント基板に搭載されたパッケージに対応し設けられ、上
記冷媒通路と連通して立設される伝導端子を有し構成さ
れるコールドプレートと、上記プリント基板とを対向配
置してなる構造において、上記伝導端子とパッケージを
低融点金属により一体的に回着固化した集積回路部品パ
ッケージの伝導冷却構造によってなされる。
〔作用〕
上記伝導冷却構造は、低融点金属の加熱によりパッケー
ジと伝導端子を容易に密着同化又は分離することができ
、且つ密着固化した状態では金属接触により熱抵抗が低
下して良好に熱伝導することで、冷却効率を向上し得る
ものである。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
第1図において、符号1はプリント基板、2はそのプリ
ント基板1に実装されるペアチップ等を含むLSIパッ
ケージである。そこで、上記プリント基板1に対しそれ
と略同じ大きさのコールドプレート3を有し、このコー
ルドプレート3の内部に冷媒通路4が設けられて冷媒を
循環するようになっている。また、コールドプレート3
の各パッケージ2と一致する個所には伝導端子5の伸縮
自在なベローズ6が通路4と連通して立設され、ベロー
ズ6の先端には熱伝導の良好な接触片7が固着されてい
る。
そして、上記パッケージ2と接触片7の表面には低融点
金属8.8′が付着されており、加熱により一体化し、
又は分離するようになっている。    lまた、低融
点金属8.8′を融解分離する場合に、パッケージ2側
に引張り力が作用して導体パターンとのポンディング部
を破損する恐れがあり、これに対してパッケージ、2の
プリント基板1と反対側に押え9がばね10を介して弾
性接触されている。ここで、押え9はプリント基板1の
電源供給に利用することも可能である。
更に、低融点金属8,8′の加熱手段として、例えば冷
媒を高温化して用いることが考えられ、この場合には冷
媒系路中に図示しない加熱部等が設けられている。
次いで、このように構成された伝導冷却構造の作用につ
いて説明する。先ず、プリント基板1の回路動作の前に
、コールドプレート3の冷媒通路4に冷媒を低融点金属
8,8′の融点より高い温度にして流すと、伝導端子5
の接触片7における低融点金属8が熱せられて融解する
。このとき、融解した金属8は表面張力等により落下す
ることなくとどまっており、この状態でコールドプレー
ト3又はプリント基板1を動かして両低融点金属8.8
′を接触させる。すると、パッケージ2の方の金属8′
も融解して両金属8,8′は一体的に密着することにな
り、その後冷媒の温度を通常の低い温度に戻して流すこ
とで、第2図に示すように金属8.8′は冷えて固化す
る。こうして、パッケージ2と接触片7は金属8,8′
により広い範囲で完全に面接触して直結し、熱抵抗が非
常に小さくなり、且つ強固に結合保持される。
以上の作業によりプリント基板1に対しコールドプレー
ト3が冷却可能に装備されることになり、この後実際に
プリント基板1が回路動作される。すると、コールドプ
レート3の通路4及び伝導端子5の内部を流れる冷媒に
より接触片7の裏側が常に冷やされるため、パンケージ
2が発熱すると両者の間に温度差を生じる。ここで、金
属8゜8′等により熱抵抗が非常に小さいことから、上
記温度差が小さい状態にお゛いてもパッケージ2の熱が
円滑に接触片7の側に伝導して放出されるのであり、こ
うしてパンケージ2は効率良(冷却される。
尚、このとき低融点金属8,8′は熱が順次通過してこ
もることがないため、低温の固化した状態に保持される
。このことから、その融点はかなり低いものでも使用可
能であり、熱伝導の良いものの選択の自由度が増し、加
熱の点でも有利である。
また、保守、交換時には再び冷媒を高温化することで、
金属8,8′は融解する。そこで、この状態でプリント
基板1とコールドプレート3を引離すと、パッケージ2
と接触片7は分離し、このときパッケージ押え9とばね
10によりパッケージ2の剥離が阻止される。
以上、本発明の一実施例について述べたが、本発明はこ
れに限定されるものではない。即ち、低融点金属8.8
′の加熱においては外部から加熱しても良く、パッケー
ジ2と接触片7のいずれか一方に低融点金属を付着して
おいても良い。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明の伝導冷却構造
によれば、プリント基板のパッケージとコールドプレー
トの伝導端子接触片が、低融点金属により広範囲で面接
触されて熱抵抗が小さくなるので、熱伝導性と共に冷却
効率が向上する。
コールドプレートの装着又は分離を加熱により容易に行
い得る。更に、コールドプレート装着状態でのプリント
基板との結合剛性も増して好ましい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による伝導冷却構造の一実施例を示すも
ので、コールドプレート装着前の状態を一部断面して示
す側面図、第2図はコールドプレート装着後の状態を一
部断面して示す側面図である。 図中、1はプリント基板、  2はパンケージ、3はコ
ールドプレート、 4は冷媒通路、  5は伝導端子、
 6はベローズ、 7は接触片、8.8′は低融点金属
、をそれぞれ示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  プリント基板と略同じ大きさで、冷媒が循環する冷媒
    通路を有すると共に、上記プリント基板に搭載されたパ
    ッケージに対応し設けられ上記冷媒通路と連通して立設
    される伝導端子を有し構成されるコールドプレートと、
    上記プリント基板とを対向配置してなる構造において、
    上記伝導端子とパッケージを低融点金属により一体的に
    密着固化したことを特徴とする集積回路部品パッケージ
    の伝導冷却構造。
JP59219801A 1984-10-19 1984-10-19 集積回路部品パツケ−ジの伝導冷却構造 Pending JPS6197953A (ja)

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JP59219801A JPS6197953A (ja) 1984-10-19 1984-10-19 集積回路部品パツケ−ジの伝導冷却構造

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JPS6197953A true JPS6197953A (ja) 1986-05-16

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ID=16741246

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JP59219801A Pending JPS6197953A (ja) 1984-10-19 1984-10-19 集積回路部品パツケ−ジの伝導冷却構造

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0246657A2 (en) * 1986-05-23 1987-11-25 Hitachi, Ltd. Integrated circuit chips cooling module having coolant leakage prevention device
EP0293297A2 (en) * 1987-05-25 1988-11-30 Fujitsu Limited A system for cooling solid circuit components and a method for providing thermally conductive compound means therefor
US5325265A (en) * 1988-11-10 1994-06-28 Mcnc High performance integrated circuit chip package
JP2008173245A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Polytec Design:Kk クッション体およびその製造方法

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