JPS6159848A - リ−ドレスチツプキヤリアを用いたフリツプチツプ実装方法 - Google Patents
リ−ドレスチツプキヤリアを用いたフリツプチツプ実装方法Info
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- JPS6159848A JPS6159848A JP18192384A JP18192384A JPS6159848A JP S6159848 A JPS6159848 A JP S6159848A JP 18192384 A JP18192384 A JP 18192384A JP 18192384 A JP18192384 A JP 18192384A JP S6159848 A JPS6159848 A JP S6159848A
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- H01L2924/16195—Flat cap [not enclosing an internal cavity]
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、集積回路(以下、LSIと称する)チップを
プリント基板に実装するに際し、LSIチップをバンプ
接合でボンディングするフリップチップにし、且つリー
ドレス・チップ・キャリア(LCC)を用いて実装する
実装方法に関するものである。
プリント基板に実装するに際し、LSIチップをバンプ
接合でボンディングするフリップチップにし、且つリー
ドレス・チップ・キャリア(LCC)を用いて実装する
実装方法に関するものである。
LSIチップを実装する場合に、LSIチップをフリッ
プチップにしてバンプ接合でボンディングする方法を用
いると、実装密度を上げ得ることが知られている。また
、フリップチップをペアチップのまま実装すると、実装
密度が上がり、且つフリップチップを直接冷却できて、
好ましい。しかし、実際には汚染、取扱い上の問題があ
るため、LSIチップをフリップチップにした場合には
、そのチップを何らかの方法で封止するのが一般的であ
る。
プチップにしてバンプ接合でボンディングする方法を用
いると、実装密度を上げ得ることが知られている。また
、フリップチップをペアチップのまま実装すると、実装
密度が上がり、且つフリップチップを直接冷却できて、
好ましい。しかし、実際には汚染、取扱い上の問題があ
るため、LSIチップをフリップチップにした場合には
、そのチップを何らかの方法で封止するのが一般的であ
る。
このごとから、LSIチップをフリップチップにした場
合には、そのチップをLCCを用いて1:l止し、この
LCCにより基板に実装することが考えられ、これによ
り実質的にはLCCを実装することになる。
合には、そのチップをLCCを用いて1:l止し、この
LCCにより基板に実装することが考えられ、これによ
り実質的にはLCCを実装することになる。
そこで、上記LCCを用いたフリップチップの実装に関
しては、第4図(a)、 (b)に示す方法が考えら
れる。即ち、箱形のLCC2の内部にLSIのフリップ
チップ1をバンプ3の接合でボンディングして搭載し、
LCC2にはM5を被ぶせて封止する。そして、LCC
2の底部のバンプブ4により基(反6にボンディングし
て実装するものである。
しては、第4図(a)、 (b)に示す方法が考えら
れる。即ち、箱形のLCC2の内部にLSIのフリップ
チップ1をバンプ3の接合でボンディングして搭載し、
LCC2にはM5を被ぶせて封止する。そして、LCC
2の底部のバンプブ4により基(反6にボンディングし
て実装するものである。
しかるに上記方法によると、フリップチップIとLCC
2の内部の隙間により熱ストレスの逃げが設けられてい
るが、一般に気体は熱抵抗が大きいため、LCC2の内
部空間に熱気がこもって放熱性が悪くなり、フリップチ
ップlに熱的に多大な損傷を与える恐れがある。
2の内部の隙間により熱ストレスの逃げが設けられてい
るが、一般に気体は熱抵抗が大きいため、LCC2の内
部空間に熱気がこもって放熱性が悪くなり、フリップチ
ップlに熱的に多大な損傷を与える恐れがある。
また、第5図(a)、 (b)に示すように、LSI
のチップl′のボンディングパノドと反対側の面で接着
する構造にすると、LSIチップ1′の発熱による上記
熱ストレス、熱抵抗の問題は改善される。しかし、この
場合はLCC2か額縁のように形成されることから、(
b)に示すように実装面積が増大するという不具合があ
る。
のチップl′のボンディングパノドと反対側の面で接着
する構造にすると、LSIチップ1′の発熱による上記
熱ストレス、熱抵抗の問題は改善される。しかし、この
場合はLCC2か額縁のように形成されることから、(
b)に示すように実装面積が増大するという不具合があ
る。
本発明は、このような事情に鑑み、LCCを用いてLS
Iのフリップチップを封止した状態で実装する場合にお
いて、チップ発熱に対する冷却効果を向上し、実装面積
を少なくするようにした実装方法を提供することを目的
とするもので、その手段は、LCCにLSIのフリップ
チップをバンプ接合して搭載し、該L CCの底部中心
のバンプにより基板に実装し、上記LCCに被着される
熱伝専率の良い封止部材を、上記フリップチップのバン
プと反対側に面接触する。また、LCC内部のフリ・ノ
ブチップ周囲とバンプ接合部にのみ樹脂封止したLCC
を用いたフリップチップ実装方法によってなされる。
Iのフリップチップを封止した状態で実装する場合にお
いて、チップ発熱に対する冷却効果を向上し、実装面積
を少なくするようにした実装方法を提供することを目的
とするもので、その手段は、LCCにLSIのフリップ
チップをバンプ接合して搭載し、該L CCの底部中心
のバンプにより基板に実装し、上記LCCに被着される
熱伝専率の良い封止部材を、上記フリップチップのバン
プと反対側に面接触する。また、LCC内部のフリ・ノ
ブチップ周囲とバンプ接合部にのみ樹脂封止したLCC
を用いたフリップチップ実装方法によってなされる。
上記実装方法は、LSIチップをフリップチップにし、
且つLCCを用いて封止することで確実に封止され、こ
の状態でLCCの封止部材を利用し、又はフリップチッ
プの一部樹脂封止しない露出面により放熱して充分冷却
され得るものである。
且つLCCを用いて封止することで確実に封止され、こ
の状態でLCCの封止部材を利用し、又はフリップチッ
プの一部樹脂封止しない露出面により放熱して充分冷却
され得るものである。
以下、図面を参照して本発明の方法に適した実施例につ
いて詳細に説明する。
いて詳細に説明する。
第1図(a)、 (b)において本発明の第1の実施
例について説明すると、箱形のLCC2の内部にLSI
のフリップチップ1をバンプ3の接合でボンディングし
て搭載する。そして、菫5を熱伝専率の大きい材料で板
状に成形し、この蓋5をLCC2に被ぶせて封止し、こ
のとき蓋5をフリップチップlのバンプ3ど反対側に直
接面接触させる。また、LCC2は基板6と同−材料又
は同じか同程度の熱膨張率を有する材料で成形し、この
LCC底部の中心部に設けたバンプ4の接合でボンディ
ングして)i、1反6に実装するものである。
例について説明すると、箱形のLCC2の内部にLSI
のフリップチップ1をバンプ3の接合でボンディングし
て搭載する。そして、菫5を熱伝専率の大きい材料で板
状に成形し、この蓋5をLCC2に被ぶせて封止し、こ
のとき蓋5をフリップチップlのバンプ3ど反対側に直
接面接触させる。また、LCC2は基板6と同−材料又
は同じか同程度の熱膨張率を有する材料で成形し、この
LCC底部の中心部に設けたバンプ4の接合でボンディ
ングして)i、1反6に実装するものである。
ここで、上記フリップチップ1とLCC2のバンプ3に
用いられる半田の融点は、LCC2と基板6のバンプ4
の半[−El融点に比べて大きいものを使用し、フリッ
プチップ1とLCC2を接合したままでLCC2を基板
6から低い)品度で溶解して脱着し得るようになってい
る。
用いられる半田の融点は、LCC2と基板6のバンプ4
の半[−El融点に比べて大きいものを使用し、フリッ
プチップ1とLCC2を接合したままでLCC2を基板
6から低い)品度で溶解して脱着し得るようになってい
る。
上記実装方法により、フリップチップ1は確実に封止さ
れ、フリップチップ1の動作中の発熱はそこに面接触す
る熱伝Ff、率の良い蓋5により直ちに放熱される。ま
た、LCC2と基板6は略同−の材料により同一に熱膨
張することで、フリップチップ発熱時のバンプ4による
接合が確保される。
れ、フリップチップ1の動作中の発熱はそこに面接触す
る熱伝Ff、率の良い蓋5により直ちに放熱される。ま
た、LCC2と基板6は略同−の材料により同一に熱膨
張することで、フリップチップ発熱時のバンプ4による
接合が確保される。
第2図において本発明の第2の実施例について説明する
と、LCC2を板状に成形してこの上に第1図同ト°ル
にLSIのフリップチップ1をバンプ3により接合して
塔載し、底部のバンプ4により基1反6に実装する。ま
た、Be、Cu等の熱伝導率の良い薄い材料にによりカ
バー7を帽子状に成形L、このカバー7の側部全域又は
一部にヘローズ8を形成して上記L CC2に被着し、
このとき第1口開(良にカバー7とフリップチップ1を
面接触する。そして、カバー7のフリップチップ1との
接触部外側には必要に応じてヒートシンク9を設けるも
のである。
と、LCC2を板状に成形してこの上に第1図同ト°ル
にLSIのフリップチップ1をバンプ3により接合して
塔載し、底部のバンプ4により基1反6に実装する。ま
た、Be、Cu等の熱伝導率の良い薄い材料にによりカ
バー7を帽子状に成形L、このカバー7の側部全域又は
一部にヘローズ8を形成して上記L CC2に被着し、
このとき第1口開(良にカバー7とフリップチップ1を
面接触する。そして、カバー7のフリップチップ1との
接触部外側には必要に応じてヒートシンク9を設けるも
のである。
上記実装方法により、第1図の実施例に加えてフリップ
チップ1の動作中の発熱によりカバー7のへローズ8が
伸長することで、熱ストレスが1段載される。また、ヒ
ートシンク9の使用により放熱面積が拡大して冷却効果
が向上する。
チップ1の動作中の発熱によりカバー7のへローズ8が
伸長することで、熱ストレスが1段載される。また、ヒ
ートシンク9の使用により放熱面積が拡大して冷却効果
が向上する。
第3図において本発明の第3の実施例について説明する
と、箱形のLCC2の内部に上記実施例と同様にLSI
のフリップチップ1を搭載し゛、このフリップチップ1
の周囲とバンプ3による接合部にポリアミド、ポリイミ
ド等の不活性熱ストレス吸収剤から成る樹脂1oをコー
ティングするものである。
と、箱形のLCC2の内部に上記実施例と同様にLSI
のフリップチップ1を搭載し゛、このフリップチップ1
の周囲とバンプ3による接合部にポリアミド、ポリイミ
ド等の不活性熱ストレス吸収剤から成る樹脂1oをコー
ティングするものである。
上記実装方法により、フリップチップ1は上面を除いて
樹脂10により封止され、その動作中の発熱は露出する
上面から直接放熱される。
樹脂10により封止され、その動作中の発熱は露出する
上面から直接放熱される。
以上、本発明の実装方法の実施例について述べたが、本
発明は上記実施例のみに限定されるものではない。
発明は上記実施例のみに限定されるものではない。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、LS
Iチップを実装する場合に、LSIチップをフリップチ
ップにし且つLCCを用いて封1トした状態で実装する
ので、実装面積が少なく、実際の取扱いの際の汚染等の
問題が無くなる。LCCに被着して封止する蓋やカバー
をフリップチップに面接触して放熱するので冷却効果が
大きく、第2の実施例の場合はフリップチップに対する
熱的損傷が低減して一層有効である。第3の実施例では
フリップチップの一部が露出しているので、放熱性が良
く、一部露出することに伴う不具合は通常の取扱いにお
いてあまり問題にならない。フリップチップ発熱時のL
CCと基板の接合性が確保されて好ましく、LCCのみ
を基板に容易に着脱し得る。
Iチップを実装する場合に、LSIチップをフリップチ
ップにし且つLCCを用いて封1トした状態で実装する
ので、実装面積が少なく、実際の取扱いの際の汚染等の
問題が無くなる。LCCに被着して封止する蓋やカバー
をフリップチップに面接触して放熱するので冷却効果が
大きく、第2の実施例の場合はフリップチップに対する
熱的損傷が低減して一層有効である。第3の実施例では
フリップチップの一部が露出しているので、放熱性が良
く、一部露出することに伴う不具合は通常の取扱いにお
いてあまり問題にならない。フリップチップ発熱時のL
CCと基板の接合性が確保されて好ましく、LCCのみ
を基板に容易に着脱し得る。
第1図(a)、 (b)は本発明の実装方法の第1の
実施例を示す断面図と底面図、第2図は同第2の実施例
を示す断面図、第3図は同第3の実施例を示す断面図、
第4図(a)、 (b)は従来例を示す断面図と底面
図、第5図(a)、 (b)は他の従来例を示す断面
図と底面図である。 図中、 ■はフリップチップ、 2はLCC。 3.4はバンプ、 5は蓋、 6は基板、 7ば
カバー、 8はベロτズ、 10は樹脂、 をそれぞ
れ示す。 、出願人 富士通株式会社 第1図 第2図 第3図 n
実施例を示す断面図と底面図、第2図は同第2の実施例
を示す断面図、第3図は同第3の実施例を示す断面図、
第4図(a)、 (b)は従来例を示す断面図と底面
図、第5図(a)、 (b)は他の従来例を示す断面
図と底面図である。 図中、 ■はフリップチップ、 2はLCC。 3.4はバンプ、 5は蓋、 6は基板、 7ば
カバー、 8はベロτズ、 10は樹脂、 をそれぞ
れ示す。 、出願人 富士通株式会社 第1図 第2図 第3図 n
Claims (3)
- (1)リードレスチップキャリアに集積回路部品のフリ
ップチップをバンプ接合して搭載し、該リードレスチッ
プキャリアの底部中心のバンプにより基板に実装し、上
記リードレスチップキャリアに被着される熱伝導率の良
い封止部材を、上記フリップチップのバンプと反対側に
面接触したことを特徴とするリードレスチップキャリア
を用いたフリップチップ実装方法。 - (2)上記封止部材は側部に伸縮可能なベローズが形成
されることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載
のリードレスチップキャリアを用いたフリップチップ実
装方法。 - (3)リードレスチップキャリアに集積回路部品のフリ
ップチップをバンプ接合して搭載し、該リードレスチッ
プキャリアの底部中心のバンプにより基板に実装し、上
記リードレスチップキャリア内部のフリップチップ周囲
とバンプ接合部にのみ樹脂封止したことを特徴とするリ
ードレスチップキャリアを用いたフリップチップ実装方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18192384A JPS6159848A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | リ−ドレスチツプキヤリアを用いたフリツプチツプ実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18192384A JPS6159848A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | リ−ドレスチツプキヤリアを用いたフリツプチツプ実装方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6159848A true JPS6159848A (ja) | 1986-03-27 |
Family
ID=16109266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18192384A Pending JPS6159848A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | リ−ドレスチツプキヤリアを用いたフリツプチツプ実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6159848A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63204633A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-24 | Hitachi Ltd | 半導体の冷却装置 |
JPS63258048A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP18192384A patent/JPS6159848A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63204633A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-24 | Hitachi Ltd | 半導体の冷却装置 |
JPS63258048A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
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