JP3794930B2 - 磁気ディスク用アルミニウム合金及び磁気ディスク用基板 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、リサイクル性が優れた磁気ディスク用アルミニウム合金及び磁気ディスク用基板に関し、特に表面平滑性を得るために下地処理層としてめっきが施され、研磨された後に、磁性膜が付着される磁気ディスク用アルミニウム合金及び磁気ディスク用基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、コンピューター等の記録媒体として使用される磁気ディスク等の基板材料としては、JIS5000系合金のAl−Mg合金が使用されてきた。これはJIS5000系アルミニウム合金が、ディスク基板材料として必要な特性を満足するからである。即ち、▲1▼軽量であること、▲2▼非磁性であること、▲3▼高速回転に耐えうる剛性を有すること、▲4▼精密加工及び研磨により良好な表面精度が簡単に得られること等の点で極めて優れているためである。このような背景から、磁気ディスクの基板用材料として、通常JIS A5086合金(Mg:3.5乃至4.5質量%、Fe≦0.50質量%、Si≦0.40質量%、Mn:0.20乃至0.70質量%、Cr:0.05乃至0.25質量%、Cu≦0.10質量%、Ti≦0.15質量%、Zn≦0.25質量%、Al:残部)及びその改良合金が使用されている。
【0003】
磁気ディスクは、以下のようにして製造される。即ち、アルミニウム合金板を所定の厚さに加工した後、円盤形状に打ち抜いて、所謂ディスクブランクを作成する。その後、このディスクブランクを平坦な定盤間に挟みながら、300℃以上の温度に加熱する所謂フラットベーキングを行う。このフラットベーキングは、後工程で行われる磁性層のスパッタリング時に、熱的な安定状態を作りだすためにも必要である。その後、サブストレート加工を行う。このサブストレート加工とは、アルミニウム合金基板を#4000番程度の砥石で研磨する工程(グラインド加工)であり、以下の目的がある。1つはブランクの厚さを所定の寸法に仕上げるためであり、2つ目としては、後工程で行うめっき・研磨工程のために、ブランク表面の酸化膜を除去すると共に、めっき前のブランクの表面粗度を低減させるためである。このグラインド加工により、得られたアルミニウム合金サブストレートの表面粗度は約300Åとなる。その後、このサブストレートに10μm以下の厚さでNi−Pめっきを施し、サブストレートに強度及び硬度を与え、ディスクが傷ついてデータエラーが発生することを防止する。更に、このNi−Pめっきには所謂めっき欠陥が生じているため、このような欠陥を除去し、またNi−Pめっき膜が平滑となるように、めっき膜の表面を研磨する。
【0004】
しかしながら、この研磨を行っても微細な欠陥を完全に除去しきれない場合がある。そうすると、そのようなNi−Pメッキ膜に欠陥を有するサブストレートは、ディスク素材原料として再利用することができず、そのままスクラップとなってしまう。
【0005】
そこで、そのような従来スクラップにしていた不良品をディスク素材原料として再利用するという観点と、Niがアルミニウム合金母材中に存在することでカソード反応を促進し、微細で均一なNi−Pめっき層を形成するという観点から、積極添加元素としてNiを添加したディスク基板用アルミニウム合金に関する発明が提案されている(特開平4−99144号公報)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来のディスク基板用アルミニウム合金では、研磨工程において、Ni−Pめっき層の表面粗度を、磁気ディスクとして要求される平滑度に仕上げることができないという問題点がある。
【0007】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、リサイクル性を確保すると共に、金属間化合物の形成に影響するFe、Si、Niの添加量を最適化することで、金属間化合物と晶出物のサイズを制御して、従来の磁気ディスク用アルミニウム合金基板と同程度の機械的性質を保ちながら所望の平滑度とすることができる磁気ディスク用アルミニウム合金及び磁気ディスク用基板を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る磁気ディスク用アルミニウム合金は、Cu:0.01乃至0.1質量%、Mg:3.0乃至6.0質量%、Cr:0.02乃至0.1質量%、Zn:0.04乃至0.7質量%、Ni:0.001乃至0.02質量%を含有し、残部がAl及び不純物からなり、この不純物のうちFeとSiを、Fe:0.02質量%以下、Si:0.02質量%以下に規制し、その他の不可避的不純物を個々で0.01質量%以下に規制すると共に、Fe+Niを0.03質量%以下とし、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが6μm以下で、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズが3μm以下であることを特徴とする。
【0009】
本発明に係る磁気ディスク用基板は、Cu:0.01乃至0.1質量%、Mg:3.0乃至6.0質量%、Cr:0.02乃至0.1質量%、Zn:0.04乃至0.7質量%、Ni:0.001乃至0.02質量%を含有し、残部がAl及び不純物からなり、この不純物のうちFeとSiを、Fe:0.02質量%以下、Si:0.02質量%以下に規制し、その他の不可避的不純物を個々で0.01質量%以下に規制すると共に、Fe+Niを0.03質量%以下とするアルミニウム合金からなり、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが6μm以下で、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズが3μm以下であることを特徴とする。
【0010】
本発明により、特にFe、Si、Niの添加量を最適化することで、金属間化合物及び晶出物のサイズ及び数を最適に制御することができ、従来と同程度の機械的性質を保ちながら、所望の平滑度を有する磁気ディスク用アルミニウム合金基板を得ることができる。また、本発明の磁気ディスク用アルミニウム合金基板はNiを含有しているので、Ni−Pめっき層が表面に形成された基板のスクラップを再溶解して原料として使用することが可能となり、ディスク素材のリサイクル性を高めることができる。
【0011】
また、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズを6μm以下、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズを3μm以下とすることにより、金属間化合物の脱落を少なくすることができ、また例え脱落したとしてもピット及び窪みが極めて小さいので、所謂不良品とはなりにくいという利点がある。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例について詳細に説明する。本発明者等は平滑度を向上させるべくその要因について鋭意研究した結果、Fe、Si、Niの添加量によって、形成されるAl−Fe系の金属間化合物及びMg−Si系晶出物のサイズと個数が変化し、上述の公報に記載の合金の成分組成では、めっき前処理工程及び研磨時にそれらが脱落し、ピット及び窪みとなって残存するために所望の平滑度が得られないこと、Al−Fe−Ni系の金属間化合物はめっき前処理工程の酸エッチングで溶解せず、ピットの要因とならないことを知見した。そして、本発明者等は、これらのFe、Si、Niの添加量を最適化することで、従来の磁気ディスク用アルミニウム合金基板と同程度の機械的性質を保ちながら、めっき面の平滑性を改善できることを見いだした。
【0013】
以下、本発明におけるリサイクル性が優れたアルミニウム合金基板の成分添加理由及び組成限定理由について説明する。
【0014】
Mg:3.0乃至6.0質量%
MgはAl基板の強度向上に有効な元素であり、通常の磁気ディスク用アルミニウム合金基板には、Mgが4質量%程度添加されている。Mg含有量が3.0質量%未満では十分な強度が得られず、一方Mg含有量が6.0質量%を超えると、Al−Mg系金属間化合物を生成し、ピットの要因になると共に、熱間圧延時に圧延割れが発生し、圧延加工が困難になる。このため、Mgの含有量を3.0乃至6.0質量%とする。
【0015】
Cr:0.02乃至0.1質量%
Crは再結晶粒の微細化に寄与し、強度向上に有効な元素である。このためには、Crを0.02質量%以上添加することが必要である。しかし、Cr含有量が0.1質量%を超えると、晶出物の粗大化が進行しやすいので、Cr量は0.02乃至0.1質量%の範囲とする。
【0016】
Cu:0.01乃至0.1質量%
Cuはめっき性改善のために有効な元素である。CuはAl合金中に均一に固溶し、ジンケート処理時に、ジンケート浴中のZnイオンを基板表面に、均一且つ微細に析出させる作用を有する。これによって、めっき面のノジュールの発生を抑制することができる。このために、Cuは0.01質量%以上の添加が必要である。しかし、Cuを0.1質量%を超えて添加すると、粒界にCuが析出して粒界部が過エッチングを受け、ノジュールの発生が多大となる。従って、Cu量は0.01乃至0.1質量%の範囲とする。
【0017】
Zn:0.04乃至0.7質量%
Znもめっき性改善のために有効な元素である。ZnもCuと同様に、Al合金中に均一に固溶し、ジンケート処理時に、ジンケート浴中のZnイオンを基板表面に、均一且つ微細に析出させる作用を有している。また、Zn添加量の増加に伴い、Znが合金中に均一に析出してめっき前処理時の酸エッチング工程でのエッチング起点、及びジンケート処理時のZnイオンの析出拠点になる。このため、Znの添加は結晶粒による段差を抑制する効果を有する。Znの添加によるめっき性改善効果は0.02質量%以上のZn添加で有効になるが、粒間段差を抑制する効果は0.04質量%以上のZn添加が必要である。このため、Znの添加量は0.04質量%以上とする。しかし、Znを0.7質量%を超えて添加すると、Znの析出核が大きくなるのに伴って、めっき前処理時に形成されるエッチングピットも大きくなり、めっき面のピットの原因となる。従って、Zn含有量は0.04乃至0.7質量%の範囲とする。
【0018】
Ni:0.001乃至0.02質量%
Niは、鋳造工程でAlとFeとの三元金属間化合物として存在する。この三元金属間化合物は、めっき前処理で溶解しないため、後述するAl−Fe金属間化合物と異なり、ピットとなることはない。このNiの増加にしたがって、三元金属間化合物の数量が増加する傾向が見られ、研削性を向上させるが、Ni含有量が0.001質量%未満の場合、添加の効果は認められないため、Niの下限値は0.001質量%とする。一方、Niはこれを0.02質量%以上添加した場合、粗大なNi3Al金属間化合物となり、この金属間化合物が研磨時に脱落し、基板表面の窪みになるため、Niの上限値は0.02質量%とする。従って、Niは0.001乃至0.02質量%添加する。
【0019】
Fe:0.02質量%以下
Feは通常地金不純物として混入し、鋳造工程等においてAl−Fe系の金属間化合物を生じやすい。この金属間化合物はディスク用基板としての加工工程、所謂サブストレート加工時の切削及び研磨・研削等の加工工程において、研削性を向上させる作用がある一方、金属間化合物が脱落して、基板表面に窪みが形成されたり、また、めっき前処理工程において脱落して、めっき面のピットの原因となる。そこで、Feの含有量は0.02質量%以下とする。Fe含有量の下限値は特に定めるものではないが、0.002質量%以下では極めて高価な地金を必要とするため、製造コストを上昇させるばかりでなく、打ち抜き性及びサブストレート加工性が低下し、更にめっきを施す場合の晶出物微細化の効果も飽和しており、めっきの密着性にも問題が生じる。そこで、Feは不純物として0.02質量%以下に規制すればよいが、必要に応じて0.002乃至0.02質量%の範囲となるように、Feを添加することもできる。
【0020】
Fe+Ni:0.03質量%以下
Fe+Niの含有量が0.03質量%を超えると、6μmを超える粗大なAl−Fe−Ni系の晶出物が発生し、これが研磨時に脱落することによってめっき後にピットが残る。そこで、Fe+Niの含有量は0.03質量%以下とする。
【0021】
Si:0.02質量%以下
Siも通常地金不純物として混入するものであり、鋳造工程等においてMg−Si系晶出物を生じる。このMg−Si系晶出物はめっき前処理工程において脱落し、ピットの原因となり、またSiの添加は研削レートを劣化させる傾向がある。このため、Siの含有量は0.02質量%以下とする。Siの下限値は特に定めるものではないが、0.002質量%以下では、純度99.99質量%等の極めて高価な地金を必要とするため、製造コストを上昇させるばかりでなく、打ち抜き性及びサブストレート加工性が低下し、更にめっきを施す場合に晶出物微細化の効果も飽和しており、めっきの密着性にも問題が生じる。そこで、Siは不純物として0.02質量%以下に規制すれば良いが、必要に応じて0.002乃至0.02質量%の範囲となるよう、Siを添加することもできる。
【0022】
また、他の不可避的不純物元素(例えばTi、V、B等)は、夫々0.01質量%以下であれば、本発明合金の特性を劣化させないため、許容される。
【0023】
次に、金属間化合物の最大サイズの限定理由について説明する。
【0024】
Al−Fe系金属間化合物の最大サイズ:6μm以下
Al−Fe系金属間化合物は、めっきの前処理工程で溶解し、ピットとなる。現状では、基板の片面で10μm程度めっきを施し、その後、研磨されるが、この際のAl−Fe系金属間化合物の最大サイズが6μmを超える場合には、研磨後にピットが残る。よって、めっき層の研磨後の表面のピットを避けるため、Al−Fe系金属間化合物は、6μm以下とする。
【0025】
Mg−Si系金属間化合物の最大サイズ:3μm以下
Mg−Si系金属間化合物は、めっきの前処理工程で溶解せず、その化合物表面からはめっき層が成長せず、周囲から成長しためっき層で覆われるため、めっき層とMg−Si系金属間化合物の密着性が弱い。このため、3μmを超えるような大きなMg−Si系金属間化合物が存在すると、めっき層を研磨した後に行われる磁性膜のスパッタリング時の加熱で、ブリスターが生じ易い。よって、めっき面のブリスターをさけるため、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズは3μm以下とする。
【0026】
次に、本発明のアルミニウム合金基板の製造方法について説明する。本発明のアルミニウム合金基板は、所定の組成を有するアルミニウム合金の溶湯を0.5乃至50℃/秒の冷却速度で鋳造し、得られたスラブを、540℃乃至560℃の温度範囲で4時間以上均質化熱処理し、引き続き熱間圧延及び冷間圧延することにより、所定の厚さの板を作製する。
【0027】
【実施例】
以下、本発明の特許請求の範囲に入る磁気ディスク用アルミニウム合金基板の実施例の効果について、本発明の範囲から外れる比較例と比較して、具体的に説明する。
【0028】
図1は横軸に晶出物サイズをとり、縦軸にAl−Fe系金属間化合物の1mm2あたりの個数をとって、Ni添加ディスク用アルミニウム合金基板と従来材とのAl−Fe系金属間化合物の晶出分布を示すグラフ図、図2は横軸に晶出物サイズをとり、縦軸にMg2Si金属間化合物の1mm2あたりの個数をとって、Ni添加ディスク用アルミニウム合金基板と従来材とのMg−Si系金属間化合物の晶出分布を示すグラフ図である。なお、図1及び図2に示す0.01NiはNi添加量が0.01質量%であることを示し、0.03NiはNi添加量が0.03質量%であることを示す。
【0029】
晶出物分布の測定にはSEM(走査型電子顕微鏡)を用い、組成像でマトリックスに比べて白く写る粒子として、Al−Fe系又はAl−Fe−Ni系の晶出物をカウントした。Ni添加により、晶出物は数及びサイズとも増加する。しかし、Al−Fe−Ni系化合物は、めっき前処理で溶解しないことから、粗大なものでもめっき欠陥の原因にはならない。また、Mg−Si系の晶出物分布には両者で差は見られない。
【0030】
下記表1は、実施例及び比較例合金のディスクのめっき面の各金属間化合物の最大サイズ、平滑性及び研削レートを示す。この平滑性の欄は、10μm以上のノジュール又はピット欠陥の数(個/3.5インチディスク両面)を示す。また、総合評価は、研磨性及び平滑性が現行合金と同等以上のものを◎とし、研磨性及び平滑性が現行合金と同等のものを○とし、平滑性又は研削レートが現行合金よりも劣るものを×とした。
【0031】
【表1】
【0032】
本発明の実施例11,12は平滑性が優れていると共に、研削レートも速く、磁気ディスク用アルミニウム合金として好適であった。これに対し、比較例1,2,5及び8は、Ni含有量が本願請求項1の下限値を下回るため、表面の平滑性及び研削性とも実施例に比べて劣るものであった。この比較例1は特開昭63−72848号公報の合金である。また、比較例3,4は、Fe含有量が高いので、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが6μmを超え、平滑性が悪い(欠陥が多い)ものであった。比較例6,7は、Si含有量が高いので、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズが3μmを超え、同様に平滑性が悪いものであった。比較例9は、Ni含有量及びFe+Niの含有量が過大であるので、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが大きく、平滑性が劣るものであった。比較例10は、Fe+Niの含有量が過大であるので、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが大きく、平滑性が劣るものであった。
【0033】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、金属間化合物の形成に影響するFe、Si、Niの含有量を最適化することで、金属間化合物と晶出物のサイズと数を制御し、従来の磁気ディスク用アルミニウム合金基板と同程度の機械的性質を保ちながら所望の平滑度を得ることができ、リサイクル性が優れた磁気ディスク用アルミニウム合金基板を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】横軸に晶出物サイズをとり、縦軸にAl−Fe系金属間化合物の1mm2あたりの個数をとって、Ni添加ディスク用アルミニウム合金基板と従来材とのAl−Fe系晶出物分布を示すグラフ図である。
【図2】横軸に晶出物サイズをとり、縦軸にMg2Si金属間化合物の1mm2あたりの個数をとって、Ni添加ディスク用アルミニウム合金基板と従来材とのMg−Si系晶出物分布を示すグラフ図である。
Claims (2)
- Cu:0.01乃至0.1質量%、Mg:3.0乃至6.0質量%、Cr:0.02乃至0.1質量%、Zn:0.04乃至0.7質量%、Ni:0.001乃至0.02質量%を含有し、残部がAl及び不純物からなり、この不純物のうちFeとSiを、Fe:0.02質量%以下、Si:0.02質量%以下に規制し、その他の不可避的不純物を個々で0.01質量%以下に規制すると共に、Fe+Niを0.03質量%以下とし、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが6μm以下で、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズが3μm以下であることを特徴とする磁気ディスク用アルミニウム合金。
- Cu:0.01乃至0.1質量%、Mg:3.0乃至6.0質量%、Cr:0.02乃至0.1質量%、Zn:0.04乃至0.7質量%、Ni:0.001乃至0.02質量%を含有し、残部がAl及び不純物からなり、この不純物のうちFeとSiを、Fe:0.02質量%以下、Si:0.02質量%以下に規制し、その他の不可避的不純物を個々で0.01質量%以下に規制すると共に、Fe+Niを0.03質量%以下とするアルミニウム合金からなり、Al−Fe系金属間化合物の最大サイズが6μm以下で、Mg−Si系金属間化合物の最大サイズが3μm以下であることを特徴とする磁気ディスク用基板。
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