JP3754989B2 - センサ出力の補正方法 - Google Patents
センサ出力の補正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3754989B2 JP3754989B2 JP2002541352A JP2002541352A JP3754989B2 JP 3754989 B2 JP3754989 B2 JP 3754989B2 JP 2002541352 A JP2002541352 A JP 2002541352A JP 2002541352 A JP2002541352 A JP 2002541352A JP 3754989 B2 JP3754989 B2 JP 3754989B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- light
- output
- amount
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 59
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 53
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 46
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 238000009535 clinical urine test Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 238000003018 immunoassay Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 241001593710 Minolia Species 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004186 food analysis Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 210000002700 urine Anatomy 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/12—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using wholly visual means
- G01J1/122—Visual exposure meters for determining the exposure time in photographical recording or reproducing
- G01J1/124—Visual exposure meters for determining the exposure time in photographical recording or reproducing based on the comparison of the intensity of measured light with a comparison source or comparison illuminated surface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N2021/5915—Processing scan data in densitometry
- G01N2021/5949—Correcting nonlinearity of signal, e.g. in measurement of photomedium
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N2021/5957—Densitometers using an image detector type detector, e.g. CCD
Description
本発明は被測定物を光照射しその被検出部からの光をセンサで受光して測定する方法において、そこで用いられるセンサが受光量に対して出力の直線性をもたないものである場合におけるそのセンサ出力の補正方法に関するものである。
本発明で測定対象とする光は、反射光、透過光、蛍光、燐光、化学発光など、定量測定や定性測定に使用されるあらゆる光を含んでいる。
背景技術
光検出器にはフォトダイオードのような単素子の光検出素子、フォトダイオードアレイのような光検出素子がライン上に配列されたリニアセンサ、及びCCDセンサやCMOSセンサのように光検出素子が二次元に配列されたエリアセンサがある。
受光量に対するセンサの出力特性として、フォトダイオードのような直線性をもったものだけでなく、CCDセンサやCMOSセンサなどエリアセンサのように受光量の小さい領域と大きい領域で直線から外れた感度特性をもっているものがある。直線性をもたないセンサは定量には適さないと考えられてきた。
そこで、本発明は出力特性が直線性をもたないセンサを検出器に用いた場合に起こる直線性の問題を解決することにより、そのようなセンサを用いても測定を可能にすることを目的とするものである。
発明の開示
本発明は、被測定物に光を照射しその被検出部からの光をセンサで受光して測定する方法において、そのセンサとして受光量に対して出力が直線性をもたないものを使用する。そして、センサの受光量を変化させたときのセンサからの出力が受光量に比例するようにセンサの出力を補正する直線化処理工程を備えていることを特徴とするものである。
第1の局面では、直線化処理工程は次の工程(A)と(B)を含んでいる。
(A)受光量に対して出力が直線性をもつ光検出器を別途設け、センサに入射する光をその光検出器にも同時に入射させるとともに、その入射光量を変化させたときのセンサの出力とその光検出器の出力との関係を直線化データとして保持しておく工程、及び
(B)被測定物を測定したときのセンサの出力をその直線化データに基づいて光検出器の出力に比例するように補正する工程。
センサの出力は受光量に対して直線性をもっていないが、直線化データに基づいて、受光量に対して出力が直線性をもつ光検出器の出力に比例するように補正することにより、補正されたセンサ出力は受光量に対して直線性をもつようになる。
第2の局面では、直線化処理工程は次の工程(A)と(B)を含んでいる。
(A)発生する光が既知で互いに異なる複数の標準板を用意し、それらの標準板を測定したときのセンサの出力と標準板からの光との関係を直線化データとして保持しておく工程、
(B)被測定物を測定したときのセンサの出力を直線化データに基づいて標準板からの光に比例するように補正する工程。
この場合もセンサの出力は受光量に対して直線性をもっていないが、直線化データに基づいて、標準板からの光に比例するように補正することにより、補正されたセンサ出力は受光量に対して直線性をもつようになる。
第2の局面では、光量モニタ用に受光量に対して出力が直線性をもつ光検出器とその光検出器の計測器を別途設ける必要がない。この方法は、光源を光量調整した後、標準板を交換して測定するだけであるので、作業が簡単である。実際にセンサが受光したデータで補正するので、誤差要因を軽減することができる。
第3の局面では、直線化処理工程は次の工程(A)と(B)を含んでいる。
(A)センサは露光時間の設定が可変なものであり、1つの基準物を測定する露光時間を複数段階に異ならせて測定したときのセンサの出力と露光時間との関係を、露光時間に比例した基準物からの光に関する直線化データとして保持しておく工程、及び
(B)被測定物を測定したときのセンサの出力を直線化データに基づいて露光時間から導かれる基準物からの光に比例するように補正する工程。
基準物として、例えば面内の濃淡が均一な反射板又はブランク(被測定物を置かないで測定光を全てイメージセンサに入射させる状態)を用いる。
第3の局面では、センサの受光量は基準物を露光する露光時間に比例している。この場合もセンサの出力は受光量に対して直線性をもっていないが、直線化データに基づいて、露光時間から導かれる基準物からの光に比例するように補正することにより、補正されたセンサ出力は受光量に対して直線性をもつようになる。
第3の局面では、第2の局面で得られる利点の他に、複数の標準板を必要とせず、基準となる1枚の基準物のみで直線化データを構築することができるので、作業がより簡便になる。
この局面では、基準物として例えば基準白板を装置に内蔵しておけば、測定ごと、又は適当な間隔で直線化データを得ることが容易になる。また、自動で直線化データを得ることも容易であるため、測定精度を維持する上で好都合である。
本発明の対象とするセンサの1つの例はエリアセンサである。その場合、上で述べた直線化処理工程はピクセル(画素)ごとに行なうことができる。また、その直線化処理工程を画像内で最も明るいピクセル付近の幾つかのピクセルを選択して、それらのピクセルの出力の平均値を用いて行なうこともできる。
エリアセンサの例は、CCD型又はCMOS型センサである。
センサの出力は、受光量がゼロのときの出力をダークデータとして差し引いたオフセット処理後の値であることが好ましい。
センサを用いる分析計の1つとして反射率測定装置がある。反射率測定装置のセンサとしては、精度の良さ、コストパフォーマンス、技術的難易度の観点から主にフォトダイオードが用いられている。しかし、フォトダイオードを用いて複数項目の反射率を得ようとした場合、光学系あるいは試験片を移動させる必要がある。また、フォトダイオードはスポット径内の平均化されたデータを得るものであるため、斑発色検知に代表されるような発色具合の詳細検知を行なう場合には不向きである。
これらの問題を解消する一つの手段として、エリアセンサの採用が考えられる。エリアセンサのデータは対象領域の画像情報であるため、1フレームの情報から複数の項目の測定、斑発色の検知、試験片の位置ずれの補正等を行なうことができる。
エリアセンサによって対象物の形状や色彩を検出することは広く知られている。例えば、免疫測定用のテストストリップの画像をCCDカメラで取り込み、画像の面積又は縦と横の長さの比率に基づいて判定を行なう方法が提案されている(特開平9−257708号公報参照)。そこでは取り込んだ信号を輝度信号として二値化した後に画像の形状を測定しており、その画像内の濃淡を測定するものではない。
エリアセンサを用いて二次元的な測定を行なっている他の例としては、尿測定機がある。そこでは、尿試験紙の発色の濃淡(明度)ではなく、色調(色相)を判定することによって測定するのが一般的であり、カラーCCDが用いられている。
エリアセンサで被測定物の二次元的な濃淡分布を精度よく検出しようとすると、光の照射むら、レンズの収差などのほか、エリアセンサのピクセル間の感度差により面内の光むらが発生する。そのため、精度よく検出を行なうために、機械的な駆動系を用いてセンサ又は被測定物を移動させるのが一般的である。その場合、エリアセンサを用いていても、一次元のリニアセンサとして利用されているにすぎない。
エリアセンサを用いて、被測定物からの光をもとにした定量測定を行おうとすると、非直線性に基づく上のような問題の他に、次のような問題が生じる。すなわち、二次元的な測定を行おうとすると、光の照射むら、レンズの収差、場所によるピクセルの感度のバラツキなどに基づいて面内での光むらが発生するため、二次元的な測定を行なうと定量結果に場所的なバラツキが生じる。
そこで、エリアセンサを用いて、機械的な駆動系を必要としない簡便な二次元の測定方法を実現するためには、被測定物として基準物を測定し、そのときのエリアセンサの各ピクセルの出力を前述の直線化処理により補正したものが均一になるように各ピクセルの出力を補正する光むら補正処理をさらに含んでいることが好ましい。
エリアセンサを用いた測定装置で撮像した生の画像情報は、エリアセンサの各ピクセル感度の個体差、光源(例えばLED)の照射むら、レンズのコサイン4乗則(収差)などの影響をうける。「光むら」はこれらの全ての影響を受けて生じたものである。
直線化処理によりエリアセンサからの出力が直線性をもったものになるので、さらに光むら補正処理により面内での光むらがなくなれば、機械的な駆動系を用いなくても二次元の測定を精度よく行なうことができるようになる。
光むら補正処理の1つの方法は、被測定物として基準物を測定し、ピクセルの受光量が飽和光量に達したときの光量に対する一定割合の受光量での画像データに対して行なう方法である。その割合は、例えば0.8というような比較的飽和光量に近い値にすることにより、精度よく光むら補正処理を行なうことができるようになる。
エリアセンサとしては、CCD(電荷結合デバイス)型センサ又はCMOS型センサを用いることができる。
本発明により直線化処理を施すことにより、受光量に対して出力が直線性をもたないセンサを用いても、定量測定が可能になる。
さらに光むら補正処理まで施せば、エリアセンサを用いて測定を実施すれば、次のような効果を達成することができる。
(1)尿試験などを測定する際に、同じ色相で濃淡が変化する項目についても測定することができる。
(2)機械的な駆動型を必要とする装置に比べて全体画像を取り込む速度が早く、高速測定が可能になる。
(3)機械的な駆動型を必要としないので、安価に実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用される反射率測定装置の一例を一部ブロック図で示す概略構成図である。第2図は同反射率測定装置における光学系の具体例を示したものであり、(a)は光学系の外観図、(b)はその垂直断面図、(c)は(b)における円内の拡大図である。第3図はエリアセンサの出力特性を示す図である。第4図はエリアセンサにて白板を撮像したときの3次元等高面グラフである。第5図は本発明の補正処理の一実施例を示すフローチャート図である。第6図はデータ取得を行なうピクセルの位置を示す平面図である。第7図は補正の一例を示す図であり、(a)は白板を被測定物としたときのエリアセンサの各ピクセル出力のグラフ、(b)はPD電圧値変換した後の出力のグラフ、(c)はさらに(b)に対して光むら補正したグラフである。第8図はLED光量の暗いものから明るいものまで3段階に分けて白板を撮像し、その画情報を並べて3次元等高面グラフにしたものであり、(a)は光むら補正前の状態、(b)は(a)のグラフに対して光むら補正を行なったものである。第9図は1枚の画像を11×11の領域に分割する例を示す平面図である。第10図は1枚の画像を11×11の領域に分割する例を示す平面図である。第6図は光むら補正を行なうピクセルの位置を示す平面図である。第11図は第6図で示す各画像の5点を光むら補正してプロットした図である。第12図は実施例の反射率測定装置の主なユニットの時間経過と温度の関係を示す図である。第13図は10分おきに3回ずつ測定した反射率の結果をプロットした図である。第14図は本発明が適用される反射率測定装置の他の例を一部ブロック図で示す概略構成図である。第15図は第2の実施例において反射率の異なる標準板を測定した結果をエリアセンサの出力とともに示したものである。第16図は第15図の結果をエリアセンサの1つのピクセルについて示したものである。第17図は同実施例で直線化データを得るための手順を示したフローチャート図である。第18図は未知試料の反射率測定手順を示したフローチャート図である。第19図は第3の実施例において露光時間を減少させていったときのエリアセンサの出力と露光時間の関係を示した図である。第20図は第19図の結果をエリアセンサの1つのピクセルについて示したものである。第21図は同実施例で直線化データを得るための手順を示したフローチャート図である。第22図は未知試料の反射率測定手順を示したフローチャート図である。第23図は同実施例において補正後のデータの精度を確認するためのデータ取得ピクセル位置を示す平面図である。第24図はそれぞれのピクセルにおける補正された出力と反射率の関係を示すグラフである。
発明を実施するための最良の形態
以下では反射率を測定する場合を例として説明するが、本発明は反射率に代えて透過率、蛍光、燐光、化学発光などを測定する場合には同様に適用することができる。
[実施例1]
第1の実施例として、センサとしてエリアセンサを使用し、本発明の第1の局面による出力補正方法を適用した二次元の反射率測定装置の一例の概要を第1図に示す。
2は被測定物であり、試料台(図示略)に保持されて所定の位置に載置される。臨床検査などの実際の測定では、被測定物2は尿試験紙や免疫測定用試験紙などの試験紙、化学分析における薄層クロマトなどであるが、エリアセンサを補正する場合には表面での反射率が均一な白板が該当する。被測定物2を照射するために、光源として3つのLED(発光ダイオード)4が被測定物2の周囲上方に互いに120度間隔で同じ高さに配置され、被測定物2の中心に向って45度の入射角で被測定物2を照射する。LED4はいずれも発光の中心波長が635nmのものである。
被測定物2の上方には結像レンズ6を介してCMOSエリアセンサ8が配置されている。被測定物2の反射光がそのレンズ6によりエリアセンサ8に結像されることにより、被測定物2の画情報がエリアセンサ8により検出される。
LED4の光量を感知でき、かつエリアセンサ8の画角外の場所に光検出器(PD)10が配置されている。光検出器10はフォトダイオードであり、受光する光量に対して出力が直線性をもっており、被測定物2への照射光量を電圧に変換する。12はその光検出器10が受光した光量を電圧に変換する電圧計である。
破線のブロック14は、LED4、レンズ6、エリアセンサ8及び光検出器10がこの反射率測定装置の光学系を構成していることを示している。
破線のブロック20はエリアセンサドライブ回路であり、エリアセンサ8の出力を増幅する増幅器22、増幅されたアナログ出力をデジタル信号に変換するA/D変換器24及び取り込んだデジタル信号を一時的に保持するRAM(ランダム・アクセス・メモリ)26を備えている。エリアセンサドライブ回路20は、撮像時間などのレジスタ設定、画像データ取込み等、エリアセンサ8を制御するものである。また、エリアセンサドライブ回路20は、LED4の光量を調節したり、パソコン(パーソナルコンピュータ)28とシリアル通信(56000bps)を行なったり、パソコン28からの命令を実行したりする。
パソコン28は、エリアセンサ8の各種レジスタ設定を行なったり、エリアセンサドライブ回路20に命令を与えたり、画像情報を取り込み、モニタに表示したりする。また、適宜の形式のフォーマットでデータを保存する。パソコン28は、上に示したオフセット処理、直線化処理及び光むら補正処理も実現するものである。
第2図は光学系14の具体例を示したものである。(a)は光学系の外観図であり、(b)はその垂直断面図、(c)は(b)における円内の拡大図である。
この光学系は、レンズ6から被測定物2までの距離、及びレンズ6からエリアセンサ8までの距離を自在に微調整できる構造になっており、焦点あわせ、倍率の変更などが容易にできる。また、被測定物2は試料台のベースプレート3ごと交換できるようになっている。
エリアセンサ8として三菱製CMOSイメージセンサ(H64283FP)を使用して反射率測定を行なった結果について説明する。
まず、エリアセンサ8の補正処理について説明する。
(1)オフセット処理(ダーク処理):
LED4の電流値を0(mV)としたときの、エリアセンサ8の出力(A/Dカウント値)をダーク(オフセット)とした。以降に記述する全ての演算結果(補正処理、反射率演算等)は、LED4照射時のエリアセンサ8の出力(A/Dカウント値)とダーク成分の差をエリアセンサ8の生出力(A/Dカウント値)とした。
(2)光量とエリアセンサ出力の関係(直線化補正):
被測定物2に対してLED4が放つ光の量とエリアセンサ8の出力(VoutをA/D変換したカウント値)とは正比例の関係にはない。
第3図のグラフは、白板(ND(ニュートラル・デンシティ)9.5、反射率実測値87.00%(反射率実測値は分光測色計(MINOLIA CM−503c)により測定した(以下も同じ))を被測定物2とし、LED4の光量を変化させたときのエリアセンサ8の出力を示している。横軸は光学系14内に配置した光検出器10の出力(mV)、縦軸はエリアセンサ8が最も強く光を受ける部分の連続して並ぶ適当な5ピクセルのデータを平均した値である。
光むら補正を行なうためには、エリアセンサ8の出力(A/Dカウント値)を光検出器10の出力(mV)に換算する処理を前処理として行なう必要がある。光むら補正を行なう前に、25℃の環境下で第3図の特性を測定し、その結果をもとにエリアセンサ8の各ピクセルの出力を補正演算する。
(3)画像のむら(光むら)補正:
この反射率測定装置を用いて撮像した生の画像情報は、エリアセンサ8の各ピクセル感度の個体差、LED4の照射むら、レンズ6のコサイン4乗則の影響などを受けて光むらを生じている。第4図は、白板(ND9.5、反射率実測値87.00%)を撮像し(画角範囲内は全て白板領域)、その画情報を3次元等高面グラフにしたものである。等高面は、画像を10×10の領域に分割し、各領域に含まれるピクセルの平均値から生成した。
白板のように濃淡具合の均一な平面を撮像した場合にも、光むらの影響を受けて画角内の濃淡情報がドーム状に変形してしまっていることが第4図のグラフから読み取れる。このドーム状に変形した画像情報を濃淡の一様な水平面に補正する処理は、エリアセンサ8を反射率測定装置の光検出器として用いる場合に必須である。本発明では、測定結果は、すべてこの光むら補正を施したものである。
本発明では、以下の手順によって補正処理を行なった。第5図を参照してその手順を説明する。
<補正参照データ獲得手順>
(1) 白板(ND9.5、反射率実測値87.00%)を被測定物2とし、撮像した画像内の最も明るいピクセルが飽和光量に達するときの光検出器(PD)10の電圧値を求める(ステップS1〜S5)。
(2) 0(mV)からピクセルが飽和光量に達したときの光検出器10の電圧値を20等分し、21段階の各電圧値を求め、低い方からP0〜P21とする(ステップS6)。
(3) LED4の光量を調整し、光検出器10の電圧値が各段階になるようにセットする。それそれの光量で白板を撮像しデータを記憶する(21枚の画像データが得られる。0(mV)のときの画像はダークデータである)(ステップS7〜S11)。
(4) 全ての画像のデータをオフセット処理する(ピクセルごとに各画像データからダークデータの値を引く)(ステップS12)。
(5) 画像内で最も明るいピクセル付近の連続して並ぶ5ピクセルの値を平均する。この処理を各画像に対して行ない、光検出器10の電圧値に対するエリアセンサ出力の関係(第3図)を獲得する(ステップS13)。
(6) 21枚の画像データのなかで、飽和光量×0.8あたりの画像データを光むら補正参照用白板データとする(ステップS14)。
<測定画像の光むら補正手順>
(7) 測定画像の128×128ピクセル分のA/Dデータを第3図の関係から光検出器10の電圧値に変換(PD電圧値変換:直線化処理)する(ステップS15)。変換は、第3図のグラフのサンプル点間を直線補間することにより行なう。
(8) (6)で獲得した光むら補正参照用白板データに対しても同様に、PD電圧値変換を行なう。
(9) 光むら補正参照用白板データ(PD電圧値変換後)に対する測定画像のデータ(PD電圧値変換後)の比を128×128の各ピクセルに対して求める。この比を光むら補正データとする(ステップS16)。
(ピクセル補正例)
前述までの補正方法により、生の各ピクセルの出力から反射光量を導いた例を示す。補正するピクセルは第6図に示す5点であり、それぞれ点1(32,32)、点2(96,32)、点3(64,64)、点4(32,96)、点5(96,96)とした。
第7図(a)のグラフは、白板(ND9.5、反射率実測値87.00%)を被測定物2として、LED4の光量を変化させたときの、第6図で示す5点のエリアセンサの出力である。
これを第3図のグラフの関係からエリアセンサ出力(A/Dカウント値)を光検出器の電圧値に変換(PD電圧値変換)すると、第7図(b)のように補正される。第7図(b)では各点の反射光量に、光むらの影響なとを受けて差異が生じているが、各点はLED4の光量に対して正比例の関係を持つようになる。
第7図(c)は(b)に対して光むら補正データを用いて光むらを補正したグラフである。各点はほぼ同一線上にプロットされている。(c)でエリアセンサの補正出力が1のときに完全に5点が一致するのは、この明るさの白板データから光むらを補正しているためである。(c)からは光量が下がるほど各点がばらつき、補正精度が悪くなっていることも読み取ることができる。
(領域補正例)
第8図(a)のグラフは、LED光量の暗いものから明るいものまで3段階に分けて白板(ND9.5、反射率実測値87.00%)を撮像し(画角範囲内は全て白板領域)、その画情報を並べて3次元等高面グラフにしたものである。等高面は、画像を10×10の領域に分割し、各領域に含まれるピクセルの出力の平均値から生成している。3つのドーム状の白板データのうち、左端のものが最も光量が少なく、右端のものが最も光量が多い。
右端の白板データは、真中の白板データに比べて光量が多いにもかかわらず最大値と最小値の差が狭くなっている。これは白板の明るい部分のピクセル光量が飽和量に近づいているためである。
第8図(a)のグラフに対して光むら補正を行なうと、第8図(b)のグラフのように平坦になる。
(同時再現性1)
同一ピクセルを対象に異なる反射率のNDペーパを撮像し、それらの濃淡値の比を反射率として演算した場合の同時再現性を検証した。
手順は次の通りである。
(1)LED4の電流値を0mAにし、ダーク(オフセット)画像を撮像する。
(2)ND9.5(反射率実測値87.00%)とND6.5(反射率実測値36.21%)をそれそれベースプレートに貼り付けたものを用意し、これらを交互に10回撮像する。
(3)各ピクセルを光むら補正した後で、1枚の画像を第9図のように11×11の領域(1つの領域は10×10=100ピクセル)に分割し、各領域の光量の平均値を算出する。この光量の平均値のND9.5とND6.5の比を反射率として、各領域について演算する。
表1は、10回測定したうちの1回分の測定結果である。表の上段はND9.5を撮像したときの各領域の光量の平均、中段はND6.5を撮像したときの各領域の光量の平均、下段は各々同じ領域の比を反射率として求めたものである。
表中で、AVE.は平均値、C.V.(%)は変化率で、(標準偏差/平均値)を表わしている。Δは領域内の最大値と最小値との差を表わす。
表2は、10回測定した結果の各領域の反射率の平均値(上段)と各領域の反射率のばらつき(下段)を示したものである。
表1、表2から各領域の反射率を比較すると、レンズ8の光軸付近(あるいはLED4の照射光が最も集光している部分)のばらつきが最も少なく、そこから同心円状に離れていくほどばらつきが多くなる傾向がみられる。これは、光軸から遠いほど補正量が多くなるためであると考えられる。
また、エリアセンサを用いて反射率を測定する場合の特徴として、濃淡が一様なはずの被測定物を測定しても、各領域別に得られる反射率にかなりの差異があることがわかる。原因としては、光むら補正精度が場所によって異なることや、もともと被測定物にある濃淡むらの影響が考えられる。
(同時再現性2)
同一画像内に異なる反射率のNDペーパを配置し、それらの濃淡値の比を反射率として演算した場合の同時再現性を検証した。手順は次の通りである。
(1)LED4の電流値を0mVにし、ダーク(オフセット)画像を撮像する。
(2)ND9.5(反射率実測値87.00%)とND6.5(反射率実測値36.21%)が画角に半分づつ入るようにベースプレートに貼り付けたものを用意し、これを10回撮像する。
(3)各ピクセルを光むら補正した後で、1枚の画像を第10図のように11×11の領域(1つの領域は10×10=100ピクセル)に分割し、各領域の光量の平均値を算出する。この光量の平均値のND9.5とND6.5の比を反射率として、各領域の反射率を演算する。
表3は、10回測定したうちの1回分の測定結果である。表3の上段左側ND9.5、上段右側はND6.5の各領域の光量の平均である。下段の左側は、画像内でND9.5とND6.5の交わる部分を中心線とし、これから線対称に求めた比を反射率としたものである(対称反射率と記述)。また、下段の右側は、その中心線で領域をND9.5とND6.5の領域に分割し、それぞれの同じ領域(例:横軸10の領域と50の領域、横軸50の領域と110の領域)の比を反射率としたものである(一方向反射率と記述)。
表4は、表3下段のような演算を10測定分行なった場合の平均値(上段)とばらつき(下段)を示している。
同時再現性1の結果に比べて、同時再現性2の結果はC.V.(%)(変化率:標準偏差/平均値)で約2倍程度良好である。これは同時再現性1の測定では、測定毎に被写体を手で交換しなければならないのに対して、同時再現性2の測定では全く手を触れる必要がなかったためであると考えられる。つまり、同時再現性2の結果は純粋なCMOSエリアセンサの撮像再現性に近いものであると考えられる。
(反射率直線性)
精度管理された既存の分光色計測(MINOLTA CM−503c:エリアセンサを用いたものではない)にて、異なる反射率のNDペーパを複数種類測定し、本発明の実施例の反射率測定装置との相関を検証した。
あらかじめ、分光色測計により対象とする複数種のNDペーパの反射率を測定しておく。反射率はNDペーパ上の無作為な位置5点について測定し、平均したものを用いる。
(1)LED4の電流値を0mAにし、ダーク(オフセット)画像を撮像する。
(2)あらかじめ分光色測計にて計測しておいたNDペーパを撮像する。
(3)第6図に示されるように、各画像の一様に分布した5点(ピクセル)について光むら補正を行なう。
第11図のグラフは、横軸が分光測計で測定した値、縦軸が本発明により第6図で示す各画像の5点(ピクセル)を光むら補正してプロットしたものである。
第11図のグラフの結果は領域平均ではなくピクセル単位での結果を示しているが、光軸に近いピクセル点3(96,32)などの直線性は良好であるといえる。点1(32,32)は5つのピクセルの中では最も暗い値を示す(生データにて)ピクセルであるが、直線性は5つのピクセルの中で最も劣っている。この実験からも、光軸から離れた部分の光むら補正が難しいことが読み取れる。
(温度特性)
実施例の反射率測定装置の温度特性を把握するための測定を行なった。
以下の操作を10℃、20℃、30℃の各環境でシステム(電源ON状態)を十分になじませた後行なう。ND9.5(反射率実測値87.00%)とND6.5(反射率実測値36.21%)が画角に半分づつ入るようにベースプレートに貼り付けたものを被測定物とする。
(1)LED4の電流値を0mAにし、ダーク(オフセット)画像を撮像する。
(2)各環境温度でLED4の電流値を(10℃:16.52(mV)、20℃:17.20(mA)、30℃:17.95(mA))にセットし、光検出器10が検知するLED光量が(10℃:0.788(V)、20℃:0.786(V)、30℃:0.783(V))を超えるのを待つ。
(3)(2)の条件を満たした直後、撮像する。以上の作業を10回繰り返す。
表5は各10回の測定による各温度での全領域平均反射率の結果を示したものである。S.D.は標準偏差を表わす。
この結果から、環境温による影響はほとんどなく、およそ0.28(%/10℃)の程度の温度傾向であった。
(ドリフト特性)
使用状態(時間、温度を含む)における、実施例の反射率測定装置のドリフト傾向を把握するための測定を行なった。
(1)実施例の反射率測定装置の主なユニット(ドライブ回路20内、LED4付近、エリアセンサ8付近)に熱電対を装着して温度をモニタできるようにする。
(2)反射率測定装置を電源OFFの状態で十分に環境になじませる。
(3)LED4の電流値を0mVにし、ダーク(オフセット)画像を撮像する。
(4)LED4の電流値を17.3(mV)にセットし、光検出器10が検知するLED光量が0.789(V)を超えるのを待つ。
(5)(2)の条件を満たした直後、3回撮像する。
(6)(3)〜(5)の処理を10分おきに繰り返し、モニタしているユニット温度が全て平衡になるまで行なう。
第12図のグラフは、実施例の反射率測定装置の主なユニット(ドライブ回路20付近、LED4付近、エリアセンサ8付近)の時間経過(10分おき)と温度の関係を示している。
第13図のグラフは10分おきに3回ずつ測定した反射率の結果をプロットしたものである。
第12図、第13図の結果から、使用環境(温度、時間を含む)におけるドリフト現象は確認できず、仮りに存在するとしても、同時測定毎に発生するばらつきの中に包含される程度である。
以上の検証の結果、実施例の反射率測定装置は、同時再現性(n=10)では、C.V.=0.23%(反射率45%付近にて)、温度特性としては反射率45%付近において、およそ0.28(%/10℃)、使用状態(時間、温度を含む)においてドリフトの傾向はほとんど見られないことが確認された。
実施例で使用したCMOSエリアセンサは、尿試験紙の測定機など半定量レベルの測定には十分適用できることが判明した。
[実施例2]
第2の実施例として、センサとしてエリアセンサを使用し、本発明の第2の局面による出力補正方法を適用した二次元の反射率測定装置の一例の概要を第14図に示す。
第1図の反射率測定装置と比較すると、光量をモニタする光検出器10が配置されていない点で異なる。他の構成は基本的に同じである。被測定物2の反射光が反射板5を介してレンズ6によりエリアセンサ8aに結像される。エリアセンサ8aは第1図における増幅器22まで含んだものを示している。エリアセンサ8aの検出信号はA/D変換器24を経て演算部28aに取り込まれる。演算部28aは、第1図におけるRAM26とパソコン28に該当するものである。演算部28aには、表示器30、キーボード32、プリンタ34が接続されている。36は取り込んだ画像データを保存するイメージ保存部であり、例えばハードディスク装置により構成される。演算部28aで算出された反射率を濃度に変換するために検量線データ40がハードディスク装置やフロッピーディスク装置に保存されている。
演算部28aのデータ処理結果は外部出力38として必要な外部機器に取り出すことができる。
この実施例ではエリアセンサ8aの出力と被測定物2の反射率との関係を直線化データとして取得するために、被測定物2として反射率が既知の標準板を測定する。標準板としてはNDペーパーを使用し、反射率が最も大きいものから最も小さいものまで11段階のものを用意する。
それらの標準板を被測定物2として測定した結果をエリアセンサ8aの出力とともに示したものが第15図である。縦軸は出力を表わし、横軸は各標準板を反射率の大きいものから順に並べたものである。各標準板の出力データは光むら補正処理を施していないので湾曲したものとなっている。
エリアセンサ8aの1つのピクセルについて反射率と出力の関係を示したものが第16図である。縦軸エリアセンサ8aの出力を表わし、横軸は標準板の既知の反射率を表している。エリアセンサ8aは受光量に対して出力が非直線性を持っているので、この曲線はS字型を示しており、第3図に示したものと同じことを意味している。
エリアセンサ8aの各ピクセルについて第16図に示されるようなデータをピクセルごとの直線化データとして保持しておく。
反射率が未知の試料を測定したとき、各ピクセルについてそれぞれの直線化データを用いてその出力から第16図中に矢印で示されるように反射率を求める。反射率はこの直線化データの実測点の間を補間することにより得られる。
このようにして得られた未知試料の反射率は、光源による照射むらやレンズ、エリアセンサ8aの非直線性を含めて補正された反射率データとなり、直線性を持った反射率的データとなる。
この動作を第17図と第18図により改めて説明する。
第17図は直線化データを得るための手順を示したものである。基準板として反射率の異なるN種類のものを用意する。反射率は100%から0まで10%単位で変化している11種類である。1つの基準板を被測定物2の位置に置き、エリアセンサ8aにより撮像する。そのときのその基準板の既知の反射率rと撮像データを記憶する。この動作を全ての基準板について繰り返す。
これにより撮像データの各ピクセルの出力と反射率の関係を示す第16図の直線化データがピクセルごとに得られる。
第18図の操作では、反射率が未知の試料を被測定物の位置に置き、エリアセンサ8aで撮像する。その撮像結果から、ピクセルの位置を示す座標(x,y)について、各ピクセルの出力データから第16図に矢印で示されるように反射率を求める。この動作を全ピクセルについて行う。
[実施例3]
第3の実施例として、本発明の第3の局面による出力補正方法をセンサとしてエリアセンサを使用して説明する。
用いる反射率測定装置は第14図に示されたものと同じである。
この実施例ではエリアセンサ8aとして受光する露光時間がプログラム可能なものを使用する。そのようなエリアセンサとしては、例えば、第1図の実施例で使用した三菱製CMOSイメージセンサ(H64283FP)を使用する。しかし、用いるエリアセンサ8aは、CMOSイメージセンサに限らず、CCDイメージセンサでも露光時間がプログラム可能なものであれば、使用することができる。
エリアセンサ8aの出力は受光量に対して直線性を持っていないが、受光量は露光時間に比例する。また、受光量は反射率に比例するので、1つの基準板を使用して露光時間を異ならせることにより、基準板を共通に使用しても露光時間を変えることによって反射率の異なる基準板を用いた測定と等価な結果を得ることができる。
第14図における被測定物2の位置に基準板となる白板を載置する。まず基準の露光時間で測定する。次に被測定物の白板はそのままにして、露光時間を基準の露光時間の90%に下げて同じ測定を行う。同様にして80%、70%…というように露光時間を変化させていく。
第19図はそのように露光時間を減少させていったときのエリアセンサ8aの出力(縦軸)と露光時間(横軸。右側ほど露光時間が短い)を示したものである。この場合もエリアセンサ8a内での光むら補正を行っていないので、ピクセル間での出力は変動している。
各ピクセルについて出力と露光時間の関係を図示すると、第20図のようになり、この結果第16図及び第3図と同じものである。各ピクセルについて第20図のデータを直線化データとして記憶しておく。
第21図はこの直線化データを取得する手順をまとめて示したものである。基準白板を被測定物2としてセットし、基準露光時間tをセットする。その露光時間で照射し、エリアセンサ8aによる撮像を行ない、露光時間tと撮像データを記憶する。
次に、露光時間を10%減少して同じ測定を繰り返す。このように、露光時間が順次減少するように設定して繰り返して測定していき、各ピクセルについてセンサ出力と露光時間の関係を図示したものが第20図である。横軸の露光時間は反射率に該当している。
第22図は反射率が未知の試料を測定したときの手順を示したものであり、第18図に示した手順と同じである。この実施例ではピクセルごとに反射率に該当する露光時間が得られる。
この実施例において補正後のデータの精度を確認した。反射率が既知の複数の被写体を測定した。エリアセンサ8aの中央部と周辺部の各位置でのピクセルを第23図のように選び出し、それぞれのピクセルにおける補正された出力と反射率の関係を第24図に示す。各位置でのピクセルの出力は、1個のピクセルの出力であってもよく、その位置周辺での幾つかのピクセルの出力の平均値であってもよい。直線は全ピクセルの平均値である。第24図で、横軸は既知の反射率、縦軸は補正された出力である。
第24図の結果から、エリアセンサ8a内のピクセルの位置にかかわらず、照射むらやレンズ、エリアセンサの非直線性を含めて直線的な反射率的値に補正されていることがわかる。
産業上の利用可能性
本発明の補正方法は、試薬部を支持体に設けた試験片を用いるドライケミストリ分析計を初め、種々の分析計におけるセンサ出力の補正方法として、臨床検査、食品分析、化学分析などの多くの分野で利用することができる。
Claims (9)
- 受光する光量に対して出力が直線性をもたないセンサを用い、被測定物に光を照射しその被検出部からの光を前記センサで受光して測定する際に、前記センサの受光量を変化させたときの前記センサからの出力が受光量に比例するように前記センサの出力を補正する直線化処理工程を備えているセンサ出力の補正方法において、
前記直線化処理工程は次の工程(A)と(B)を含んでいることを特徴とするセンサ出力の補正方法。
(A)受光する光量に対して出力が直線性をもつ光検出器を別途設け、前記センサに入射する光をその光検出器にも同時に入射させるとともに、その入射光量を変化させたときの前記センサの出力と前記光検出器の出力との関係を直線化データとして保持しておく工程、及び
(B)被測定物を測定したときの前記センサの出力を前記直線化データに基づいて前記光検出器の出力に比例するように補正する工程。 - 前記センサがエリアセンサであり、前記直線化処理工程をピクセルごとに行なう請求の範囲第1項に記載のセンサ出力の補正方法。
- 前記センサがエリアセンサであり、前記直線化処理工程を画像内で最も明るいピクセル付近の幾つかのピクセルを選択して、それらのピクセルの出力の平均値を用いて行なう請求の範囲第1項に記載のセンサ出力の補正方法。
- 前記エリアセンサとしてCCD型又はCMOS型センサを用いる請求の範囲第2項又は第3項に記載のセンサ出力の補正方法。
- 前記センサの出力は、受光量がゼロのときの出力をダークデータとして差し引いたオフセット処理後の値である請求項第1項から第4項のいずれかに記載のセンサ出力の補正方法。
- 被測定物として基準物を測定し、そのときの前記エリアセンサの各ピクセルの出力を前記直線化処理により補正したものが均一になるように各ピクセルの出力を補正する光むら補正処理をさらに含んでいる請求の範囲第2項から第5項のいずれかに記載のセンサ出力の補正方法。
- 被測定物として基準物を測定し、前記光むら補正処理はピクセルが飽和光量に達したときの受光量に対する飽和光量に近い一定割合の受光量での画像データに対して行なう請求の範囲第6項に記載のセンサ出力の補正方法。
- 前記基準物は面内の濃淡が均一な反射板又はブランクである請求の範囲第6項又は第7項に記載のセンサ出力の補正方法。
- 受光する光量に対して出力が直線性をもつ前記光検出器としてフォトダイオードを用いる請求の範囲第1項に記載のセンサ出力の補正方法
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000343365 | 2000-11-10 | ||
JP2000343365 | 2000-11-10 | ||
PCT/JP2001/009850 WO2002039076A1 (fr) | 2000-11-10 | 2001-11-09 | Procede de correction de sortie de capteur |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2002039076A1 JPWO2002039076A1 (ja) | 2004-03-18 |
JP3754989B2 true JP3754989B2 (ja) | 2006-03-15 |
Family
ID=18817743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002541352A Expired - Lifetime JP3754989B2 (ja) | 2000-11-10 | 2001-11-09 | センサ出力の補正方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7110901B2 (ja) |
EP (1) | EP1333258B1 (ja) |
JP (1) | JP3754989B2 (ja) |
CN (1) | CN1241000C (ja) |
AU (1) | AU2002214275A1 (ja) |
WO (1) | WO2002039076A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011128089A (ja) * | 2009-12-20 | 2011-06-30 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | リニアリティ検査装置及びリニアリティ検査方法 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
PL3026874T3 (pl) | 2005-04-01 | 2020-05-18 | Polymer Technology Systems, Inc. | Składnik do badania płynu ustrojowego do detekcji analitu |
US7208735B2 (en) * | 2005-06-08 | 2007-04-24 | Rosemount, Inc. | Process field device with infrared sensors |
DE102007002106B3 (de) * | 2007-01-09 | 2008-07-03 | Wolfgang Weinhold | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung eines Gegenstandes |
EP2073055A1 (en) * | 2007-12-20 | 2009-06-24 | TPO Displays Corp. | Detection of an incident light distribution |
JP5275956B2 (ja) * | 2009-10-15 | 2013-08-28 | 株式会社ジャパンディスプレイウェスト | 情報入力装置、情報入力プログラムおよび電子機器 |
US20140152771A1 (en) * | 2012-12-01 | 2014-06-05 | Og Technologies, Inc. | Method and apparatus of profile measurement |
CN103925992B (zh) * | 2013-01-16 | 2016-03-16 | 光宝电子(广州)有限公司 | 具有背光的装置的亮度测量方法及系统 |
CN104019902B (zh) * | 2014-06-16 | 2016-09-28 | 武汉工程大学 | 家用试纸阅读器装置及其检测方法 |
CN106197667A (zh) * | 2016-07-12 | 2016-12-07 | 江苏浦亚照明科技股份有限公司 | 一种微型多通道光谱仪及其探测器的非线性修正方法 |
JP6841406B2 (ja) | 2016-09-09 | 2021-03-10 | 大塚電子株式会社 | 光学測定方法および光学測定装置 |
DE102017110269A1 (de) * | 2017-05-11 | 2018-11-15 | B. Braun Avitum Ag | Online Linearisierung eines optischen Sensors |
US10429174B2 (en) * | 2017-12-20 | 2019-10-01 | Texas Instruments Incorporated | Single wavelength reflection for leadframe brightness measurement |
CN109668847A (zh) * | 2019-02-14 | 2019-04-23 | 杭州霆科生物科技有限公司 | 一种具有光学自校准功能的农残速测仪 |
US11733605B2 (en) * | 2019-06-20 | 2023-08-22 | Kla Corporation | EUV in-situ linearity calibration for TDI image sensors using test photomasks |
CN110519516B (zh) * | 2019-08-30 | 2020-09-25 | 联想(北京)有限公司 | 一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备 |
CN111256744B (zh) * | 2020-02-27 | 2021-06-29 | 苏州海之博电子科技有限公司 | 一种线性输出位置传感器标定方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03204285A (ja) | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Nec Corp | 固体撮像素子感度むら補正回路 |
JPH03289777A (ja) | 1990-04-05 | 1991-12-19 | Nec Corp | 赤外線撮像装置 |
US5229838A (en) * | 1992-01-21 | 1993-07-20 | The Perkin-Elmer Corporation | Photodetector amplitude linearity |
JPH05297142A (ja) | 1992-04-21 | 1993-11-12 | Toshiba Corp | シンチレ―ションカメラ |
JPH06225143A (ja) | 1993-01-27 | 1994-08-12 | Tokyo Electric Co Ltd | 画像読取装置 |
JPH08128922A (ja) | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Asahi Optical Co Ltd | デジタルデータ処理装置 |
GB2314227B (en) | 1996-06-14 | 1998-12-23 | Simage Oy | Calibration method and system for imaging devices |
US5902994A (en) | 1997-05-06 | 1999-05-11 | Eastman Kodak Company | Apparatus for calibrating a linear image sensor |
JPH11249004A (ja) | 1998-03-02 | 1999-09-17 | Nikon Corp | イメージセンサ |
US6147702A (en) | 1998-04-17 | 2000-11-14 | Intel Corporation | Calibration of digital cameras |
JP3863290B2 (ja) | 1998-05-12 | 2006-12-27 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光量検出装置 |
JP2000013807A (ja) | 1998-06-24 | 2000-01-14 | Seiko Epson Corp | デジタルカメラ |
US7274829B2 (en) * | 2000-11-10 | 2007-09-25 | Arkray, Inc. | Measuring method and instrument comprising image sensor |
-
2001
- 2001-11-09 US US10/415,991 patent/US7110901B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-09 WO PCT/JP2001/009850 patent/WO2002039076A1/ja active Application Filing
- 2001-11-09 CN CN01818683.1A patent/CN1241000C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-09 EP EP01982755.9A patent/EP1333258B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-09 AU AU2002214275A patent/AU2002214275A1/en not_active Abandoned
- 2001-11-09 JP JP2002541352A patent/JP3754989B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011128089A (ja) * | 2009-12-20 | 2011-06-30 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | リニアリティ検査装置及びリニアリティ検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1333258B1 (en) | 2013-08-21 |
CN1474937A (zh) | 2004-02-11 |
WO2002039076A1 (fr) | 2002-05-16 |
US20040034494A1 (en) | 2004-02-19 |
EP1333258A1 (en) | 2003-08-06 |
EP1333258A4 (en) | 2011-04-06 |
JPWO2002039076A1 (ja) | 2004-03-18 |
CN1241000C (zh) | 2006-02-08 |
US7110901B2 (en) | 2006-09-19 |
AU2002214275A1 (en) | 2002-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3754989B2 (ja) | センサ出力の補正方法 | |
US7443508B1 (en) | Spectrophotometric scanner | |
JP3774192B2 (ja) | イメージセンサを用いた測定方法及び装置 | |
US7928354B2 (en) | Methods and systems for in situ calibration of imaging in biological analysis | |
EP1914529B1 (en) | Method for analyzing the apparent colour and the gonio reflectance of an object | |
JP2004191232A5 (ja) | ||
US4408883A (en) | Apparatus for inspecting average size of fundamental patterns | |
TWI719610B (zh) | 以彩色相機進行光譜分析之方法 | |
KR20040039344A (ko) | 광원 방출의 컴퓨터 제어에 의한 광 측정 디지털화 방법및 장치 | |
JP2001289732A (ja) | 表示画面の色情報検出方法及び表示色評価方法及びその装置並びに表示装置の製造方法及び表示装置 | |
Liu | The development of a portable spectrophotometer for noncontact color measurement | |
JP2015178995A (ja) | 色調校正装置、撮像装置及び色調検査装置 | |
JPH0599746A (ja) | 光強度補償手段を有する工業用測色計 | |
JPH0599747A (ja) | ランプの老化を補償した工業用測色計及び測色方法 | |
JPS6034699B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
RU85228U1 (ru) | Нейроколориметр | |
JP2005195365A (ja) | 白色校正方法及び2次元測光装置 | |
JP2009222607A (ja) | 試料分析装置の照明制御方法および試料分析装置 | |
JPH0540422Y2 (ja) | ||
CN115097135A (zh) | 荧光试纸定量分析仪 | |
JPH0554883B2 (ja) | ||
CN115406531A (zh) | 一种多光谱传感器颜色表征能力的评估方法及系统 | |
JP2001242092A (ja) | 評価装置 | |
Mahmoud et al. | Measurement of normalized spectral response of digital imaging sensors using a LED-based tunable uniform source | |
JPH0783095B2 (ja) | 固体撮像素子の検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050726 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050922 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051115 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3754989 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090106 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100106 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110106 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120106 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130106 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130106 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |