CN110519516B - 一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备，方法包括：获得成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；其中，所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像；对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。可见，本申请在对成像器件在当前成像管线下的非线性成像位置进行获取之后，由于非线性成像位置对应于图像中的噪点位置，由此，通过对这些非线性成像位置对应的像素点进行去噪处理，就可以实现对图像实现去噪点处理，由此使得图像更加清晰，达到增强图像画质的目的。
Description
技术领域
本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备。
背景技术
生活中，用户通常使用手机或者pad拍摄照片。而手机等终端的摄像头在光线环境较差时，可能导致所拍摄的照片中存在不清晰的地方，如明显的噪点等。
因此，亟需一种能够对图片噪点进行处理的技术方案。
发明内容
有鉴于此，本申请提供一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备，用以对图像中噪点位置进行有效判断并进行处理。
本申请提供了一种图像噪点的处理方法，包括：
获得成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；其中，所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像；
对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
上述方法，可选的，获得成像器件的至少一个非线性成像位置，包括：
在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号；
基于所述输出电压信号，在所述至少一个成像位置中，确定至少一个非线性成像位置。
上述方法，可选的，基于所述输出电压信号，在所述至少一个成像位置中，确定至少一个非线性成像位置，包括：
对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征；
在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下，确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
上述方法，可选的，对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征，包括：
获得正向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的正向判定值；
获得负向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的负向判定值；
基于所述正向判定值和所述负向判定值，获得所述输出电压信号的信号变化特征。
上述方法，可选的，所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化，包括：
所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性放大或非线性缩小。
上述方法，可选的，基于所述正向判定值和所述负向判定值，获得所述输出电压信号的信号变化特征，包括：
如果所述正向判定值和所述负向判定值相一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为非线性变化；
如果所述正向判定值和所述负向判定值不一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为线性变化。
上述方法，可选的，所述正向扰动信号的信号幅值大于所述输出电压信号的信号幅值；
所述负向扰动信号的信号幅值小于所述输出电压信号的信号幅值。
本申请还提供了一种图像噪点的处理装置，包括：
位置获得单元，用于获得成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；其中，所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像；
去噪处理单元，用于对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
本申请还提供了一种电子设备，包括：
成像器件，用于对图像中至少一个像素进行成像；
处理器，用于获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
从上述技术方案可以看出，本申请公开的一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备，在对成像器件在当前成像管线下的非线性成像位置进行获取之后，由于非线性成像位置对应于图像中的噪点位置，由此，通过对这些非线性成像位置对应的像素点进行去噪处理，就可以实现对图像实现去噪点处理，由此使得图像更加清晰，达到增强图像画质的目的。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例一提供的一种图像噪点的处理方法流程图；
图2为本申请实施例中成像器件的示意图；
图3为本申请实施例一的部分流程图；
图4-图6分别为本申请实施例的实现示例图；
图7为本申请实施例二提供的一种图像噪点的处理装置的结构示意图；
图8为本申请实施例三提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
如图1所示，为本申请实施例一的一种图像噪点的处理方法的流程图，该方法适用于具有成像器件的电子设备中，如手机、pad或相机等终端设备中。本实施例中的方法主要用于对成像器件所成像的图像进行噪点处理。
具体的，本实施例中的方法可以包括以下步骤：
步骤101：获得成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置。
其中，成像器件能够用于对图像中至少一个像素进行成像。例如，成像器件可以为光电成像元件等器件，在电子设备中用于对成像场景中的光信号进行采集，将光信号转换成电信号，并进行成像，如图2中所示。
需要说明的是，在当前成像光线下，成像器件采集光信号后会在图像中成像，而每个成像位置可能会由于当前成像光线的强度不同而存在成像失败的情况，即噪点位置。例如，光信号的波段不同(如绿光波段短，红光波段长，蓝光波段更短等)，在不同的光线强度下，光线中具有不同的光能量，成像器件在从光信号到电信号的转换过程中，相应在进行量子跃迁时会因为光线中能量的强弱存在差别，而光线强度较差时，光信号能量不足，量子跃迁发生异变，在成像时呈现噪点。
据此，本实施例中通过对成像器件在当前成像光线下的非线性成像位置进行获取，以此来作为噪点位置。例如，本实施例中可以对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置；或者，本实施例中可以对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置的像素进行像素分析，以判断出每个成像位置的像素是否为噪点像素，由此判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置，等等。
需要说明的是，本实施例中的非线性成像位置即噪点位置可能有一个，也可能有多个，此时，在进行非线性成像位置获取时，本实施例中可以对所有成像位置并行进行非线性成像位置的判断进程，从而可以同时获得多个非线性成像位置；或者，本实施例中也可以单进程的对每个成像位置进行非线性成像位置的判定，依次获得多个非线性成像位置。
例如，本实施例中可以同时对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以同时得到至少一个非线性成像位置；
或者，本实施例中可以依次对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以分别得到相应的非线性成像位置，等等。
步骤102：对图像中与非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
其中，本实施例中可以针对非线性成像位置，可以利用该非线性成像位置的周边成像位置上的像素进行去噪处理。具体例如，首先获取周边的成像位置上的像素(线性成像位置的像素)，然后基于这些获取的像素对非线性成像位置对应的像素进行去噪处理，例如，对这些获取的像素的像素值取平均值作为非线性成像位置对应的像素的像素值；或者，对这些获取的像素取像素值最值或中间值作为非线性成像位置对应的像素的像素值，等等。
由上述方案可知，本申请实施例一提供的一种图像噪点的处理方法，在对成像器件在当前成像管线下的非线性成像位置进行获取之后，由于非线性成像位置对应于图像中的噪点位置，由此，通过对这些非线性成像位置对应的像素点进行去噪处理，就可以实现对图像实现去噪点处理，由此使得图像更加清晰，达到增强图像画质的目的。
在一种实现方式中，本实施例的步骤101在获得非线性成像位置时，可以通过对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析来实现，具体可以通过以下方式实现，如图3中所示：
步骤301：在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，获得成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号。
结合图2中所示，本实施例中可以选择对图像中部分成像位置进行线性分析，也可以对所有成像位置进行线性分析，相应的，本实施例中在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，可以选择获取成像器件在部分成像位置上的输出电压信号，也可以选择获取成像器件在所有成像位置上的输出电压信号。
也就是说，本实施例中可以获取当前成像光线下的光信号进入成像器件中对应的一个或多个成像位置时各成像位置上的输出电压信号。
其中，成像位置的输出电压信号即为当前成像光线下的光信号进入到该成像位置时，成像位置上发生量子跃迁，从光信号转换电信号时的输出电压信号。该输出电压信号与进入到成像位置上的光信号相对应，且，成像位置上的光信号影响成像位置上的像素的成像，可见，输出电压信号的不同对应于成像位置上的像素的成像的不同。
例如，在不同的光线强度下，光线中具有不同的光能量，成像器件在从光信号到电信号的转换过程中，相应在进行量子跃迁时会因为光线中能量的强弱在输出电压信号上存在差别，而光线强度较差时，光信号能量不足，量子跃迁发生异变，相应输出电压信号发生异变，如突降等，由此在成像时呈现异变，如噪点。
步骤302：基于输出电压信号，在至少一个成像位置中，确定至少一个非线性成像位置。
其中，本实施例中可以通过对输出电压信号进行线性分析，根据线性分析结果来确定成像位置中的非线性成像位置，例如，如果成像位置上的输出电压信号为线性信号，那么该成像位置为线性成像位置，如果成像位置上的输出电压信号为非线性信号，那么该成像位置为非线性成像位置，由此，确定在该非线性信号下所形成的像素成像为噪点像素，此时确定非线性成像位置，即噪点位置。
具体的，本实施例中步骤302可以通过以下方式实现：
通过对输出电压信号进行信号扰动，得到输出电压信号的信号变化特征，进而在信号信号变化特征表征输出电压信号为非线性变化的情况下，确定信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
其中，输出电压信号的信号变化特征能够表征输出电压信号是在扰动下线性变化的，还是非线性变化的，由此，如果输出电压信号是线性变化的，那么表明光信号在转换成电信号成像时的量子跃迁时没有发生异变，此时，对应的成像位置为线性成像位置，该位置上没有噪点；如果输出电压信号是非线性变化的，那么表明光信号在转换成电信号成像时的量子跃迁发生异变，此时对应的成像位置为非线性成像位置，该位置上有噪点。
具体的，输出电压信号的信号变化特征表征输出电压信号为非线性变化，可以体现为：信号变化特征表征输出电压信号为非线性放大或非线性缩小等情况。如输出电压信号激增或突降等非线性变化状态等。
可见，本实施例中可以通过对每个成像位置的输出电压信号分别进行信号扰动，得到每个成像位置的输出电压信号的信号变化特征，由此，确定表征输出电压信号为非线性变化的信号变化特征所对应的成像位置为非线性成像位置。
具体的，本实施例中在对输出电压信号进行信号扰动时，可以通过以下方式得到信号变化特征，如下：
首先，获得正向扰动信号叠加到输出电压信号所对应的正向判定值；例如，将信号幅值大于输出电压信号的信号幅值的正向扰动信号叠加到输出电压信号上，输出电压信号在正向扰动信号的扰动下发生信号变化，此时对发生变化变化的输出电压信号与原来没有加入正向扰动信号的输出电压信号进行比较，得到正向判定值，例如，如果叠加正向扰动信号的输出电压信号在幅值上高于没有叠加正向扰动信号的输出电压信号，那么正向判定值取1，如果叠加正向扰动信号的输出电压信号在幅值上低于没有叠加正向扰动信号的输出电压信号，那么正向判定值取0；
之后，获得负向扰动信号叠加到输出电压信号所对应的负向判定值；例如，将信号幅值小于输出电压信号的信号幅值的负向扰动信号叠加到输出电压信号上，输出电压信号在负向扰动信号的扰动下发生信号变化，此时对发生变化变化的输出电压信号与原来没有加入负向扰动信号的输出电压信号进行比较，得到负向判定值，例如，如果叠加负向扰动信号的输出电压信号在幅值上高于没有叠加正向扰动信号的输出电压信号，那么负向判定值取1，如果叠加负向扰动信号的输出电压信号在幅值上低于没有叠加负向扰动信号的输出电压信号，那么负向判定值取0；
最后，基于正向判定值和负向判定值，获得输出电压信号的信号变化特征。本实施例中可以对正向判定值和负向判定值进行数值计算，如相加或相减，以得到信号变化特征；或者，本实施例中可以对正向判定值和负向判定值之间进行大小判断，以得到信号变化特征；或者，本实施例中可以对正向判定值和负向判定值进行异或运算，以得到信号信号特征。
例如，如果正向判定值和负向判定值相一致，那么获得输出电压信号的信号变化特征，其表征输出电压信号为非线性变化，也就是说，在正向扰动信号和负向扰动信号的叠加下，输出电压信号所对应的信号变化是一致的，也就是说，在正向扰动下输出电压信号的信号变化与负向扰动下的输出电压信号的信号变化是完全相同，明显的，此时输出电压信号为非线性变化，由此得到表征输出电压信号为非线性变化的信号变化特征；
如果所述正向判定值和所述负向判定值不一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为线性变化，也就是说，在正向扰动信号和负向扰动信号的叠加下，不管输出电压信号本身是正向还是负向，输出电压信号所对应的信号变化都是不一致的，在正向扰动下输出电压信号的信号变化与负向扰动下的输出电压信号的信号变化是不同的，因此，此时输出电压信号为线性变化，由此得到表征输出电压信号为线性变化的信号变化特征。
具体的，如图4中所示，本实施例中步骤302在通过扰动信号对输出电压信号进行线性判断时，可以通过搭建电路实现，如下：
首先，对输出电压信号分别通过放大器进行幅值放大，如10倍或100倍的放大器，使得输出电压信号能够在幅值上的比较更具直观性，进一步使得输出电压信号在后续比较判断时的准确性更高；
之后，对放大的输出电压信号的基础上分别叠加正向扰动信号和负向扰动信号，再将叠加扰动信号的输出电压信号分别与原放大的输出电压通过比较器进行比较，得到正向判定值和负向判定值，如0和0，或1和0，或0和1的正向判定值和负向判定值；
最后，将正向判定值和负向判定值通过异或门进行异或运算，得到信号变化特征的0或1，如果为0，那么说明正向判定值和负向判定值相同，此时输出电压信号的信号变化特征表征输出电压信号为非线性变化，叠加正向扰动和负向扰动之后的两路输出电压信号呈非线性变化，如图5中所示，如果为1，那么说明正向判定值和负向判定值不同，此时输出电压信号的信号变化特征表征输出电压信号为线性变化，相应的，叠加正向扰动和负向扰动之后的输出电压信号呈线性关系，如图6中所示。
在另一种实现中，电路中除了可以如图4中先设置放大器再设置比较器，也可以下设置比较，对叠加扰动信号的输出电压信号分别与原放大的输出电压通过比较器进行减法运算，再设置放大器做放大及量化(二值化)处理，得到正向判定值和负向判定值，具体实现可以结合以上本实施例中的技术方案，此处不再详述。
参考图7，为本申请实施例二提供的一种图像噪点的处理装置的结构示意图，该装置可以设置在具有成像器件的电子设备中，如手机、pad、相机或摄像机等设备终端，主要用于对成像器件所成像的图像进行噪点处理。
具体的，本实施例中的装置可以包括以下功能单元：
位置获得单元701，用于获得成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置。
其中，成像器件能够用于对图像中至少一个像素进行成像。例如，成像器件可以为光电成像元件等器件，在电子设备中用于对成像场景中的光信号进行采集，将光信号转换成电信号，并进行成像，如图2中所示。
需要说明的是，在当前成像光线下，成像器件采集光信号后会在图像中成像，而每个成像位置可能会由于当前成像光线的强度不同而存在成像失败的情况，即噪点位置。例如，光信号的波段不同(如绿光波段短，红光波段长，蓝光波段更短等)，在不同的光线强度下，光线中具有不同的光能量，成像器件在从光信号到电信号的转换过程中，相应在进行量子跃迁时会因为光线中能量的强弱存在差别，而光线强度较差时，光信号能量不足，量子跃迁发生异变，在成像时呈现噪点。
据此，本实施例中通过对成像器件在当前成像光线下的非线性成像位置进行获取，以此来作为噪点位置。例如，本实施例中可以对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置；或者，本实施例中可以对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置的像素进行像素分析，以判断出每个成像位置的像素是否为噪点像素，由此判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置，等等。
需要说明的是，本实施例中的非线性成像位置即噪点位置可能有一个，也可能有多个，此时，在进行非线性成像位置获取时，本实施例中可以并行进行非线性成像位置的获取进程，从而可以同时获得多个非线性成像位置；或者，本实施例中也可以单进程进行非线性成像位置的获取，依次获得多个非线性成像位置。
例如，本实施例中可以同时对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以同时得到至少一个非线性成像位置；
或者，本实施例中可以依次对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以分别得到相应的非线性成像位置，等等。
去噪处理单元702，用于对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
其中，本实施例中可以针对非线性成像位置，可以利用该非线性成像位置的周边成像位置上的像素进行去噪处理。具体例如，首先获取周边的成像位置上的像素(线性成像位置的像素)，然后基于这些获取的像素对非线性成像位置对应的像素进行去噪处理，例如，对这些获取的像素的像素值取平均值作为非线性成像位置对应的像素的像素值；或者，对这些获取的像素取像素值最值或中间值作为非线性成像位置对应的像素的像素值，等等。
由上述方案可知，本申请实施例二提供的一种图像噪点的处理装置，在对成像器件在当前成像管线下的非线性成像位置进行获取之后，由于非线性成像位置对应于图像中的噪点位置，由此，通过对这些非线性成像位置对应的像素点进行去噪处理，就可以实现对图像实现去噪点处理，由此使得图像更加清晰，达到增强图像画质的目的。
在一种实现方式中，位置获得单元701在获得成像器件的至少一个非线性成像位置时，可以通过以下方式实现：
在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号；
基于所述输出电压信号，在所述至少一个成像位置中，确定至少一个非线性成像位置。
具体的，位置获得单元701在基于所述输出电压信号，在所述至少一个成像位置中，确定至少一个非线性成像位置时，通过对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征；在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下，确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
其中，所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化，包括：所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性放大或非线性缩小。
例如，位置获得单元701获得正向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的正向判定值；获得负向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的负向判定值；基于所述正向判定值和所述负向判定值，获得所述输出电压信号的信号变化特征：如果所述正向判定值和所述负向判定值相一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为非线性变化；如果所述正向判定值和所述负向判定值不一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为线性变化。
其中，所述正向扰动信号的信号幅值大于所述输出电压信号的信号幅值；所述负向扰动信号的信号幅值小于所述输出电压信号的信号幅值。
需要说明的是，本实施例中数据处理装置的各单元的具体实现可以参考前文中相应描述，此处不再赘述。
参考图8，为本申请实施例三提供的一种电子设备的结构示意图，该电子设备可以为手机、pad、相机或摄像机等具有成像器件801的设备终端，该电子设备中具体可以包括以下结构：
成像器件801，用于对图像中至少一个像素进行成像；例如，成像器件可以为光电成像元件等器件，在电子设备中用于对成像场景中的光信号进行采集，将光信号转换成电信号，并进行成像，如图2中所示。
处理器802，用于获得所述成像器件801在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
需要说明的是，在当前成像光线下，成像器件采集光信号后会在图像中成像，而每个成像位置可能会由于当前成像光线的强度不同而存在成像失败的情况，即噪点位置。例如，光信号的波段不同(如绿光波段短，红光波段长，蓝光波段更短等)，在不同的光线强度下，光线中具有不同的光能量，成像器件在从光信号到电信号的转换过程中，相应在进行量子跃迁时会因为光线中能量的强弱存在差别，而光线强度较差时，光信号能量不足，量子跃迁发生异变，在成像时呈现噪点。
据此，本实施例中处理器802通过对成像器件在当前成像光线下的非线性成像位置进行获取，以此来作为噪点位置。例如，本实施例中可以对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置，如搭建如图4中所示的电路，对每个成像位置上的输出电压信号进行线性分析，以判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置；或者，本实施例中可以对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置的像素进行像素分析，以判断出每个成像位置的像素是否为噪点像素，由此判断出每个成像位置是否为线性或非线性成像位置，等等。
需要说明的是，本实施例中的非线性成像位置即噪点位置可能有一个，也可能有多个，此时，在进行非线性成像位置获取时，本实施例中可以并行进行非线性成像位置的获取进程，从而可以同时获得多个非线性成像位置；或者，本实施例中也可以单进程进行非线性成像位置的获取，依次获得多个非线性成像位置。
例如，处理器802可以同时对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以同时得到至少一个非线性成像位置；
或者，处理器802可以依次对成像器件在当前成像光线下的每个成像位置进行线性分析，以分别得到相应的非线性成像位置，等等。
其中，本实施例中处理器802可以针对非线性成像位置，可以利用该非线性成像位置的周边成像位置上的像素进行去噪处理。具体例如，首先获取周边的成像位置上的像素(线性成像位置的像素)，然后基于这些获取的像素对非线性成像位置对应的像素进行去噪处理，例如，对这些获取的像素的像素值取平均值作为非线性成像位置对应的像素的像素值；或者，对这些获取的像素取像素值最值或中间值作为非线性成像位置对应的像素的像素值，等等。
由上述方案可知，本申请实施例三提供的一种电子设备，在对成像器件在当前成像管线下的非线性成像位置进行获取之后，由于非线性成像位置对应于图像中的噪点位置，由此，通过对这些非线性成像位置对应的像素点进行去噪处理，就可以实现对图像实现去噪点处理，由此使得图像更加清晰，达到增强图像画质的目的。
需要说明的是，本实施例中处理器802的具体实现可以参考前文中相应描述，此处不再赘述。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (7)
1.一种图像噪点的处理方法，包括：
通过对成像器件在当前成像光线下的至少一个成像位置进行线性分析获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；其中，所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像；所述非线性成像位置对应于噪点位置；
对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理；
获得成像器件的至少一个非线性成像位置，包括：
在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号；
对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征；
在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下，确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
2.根据权利要求1所述的方法，对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征，包括：
获得正向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的正向判定值；
获得负向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的负向判定值；
基于所述正向判定值和所述负向判定值，获得所述输出电压信号的信号变化特征。
3.根据权利要求1所述的方法，所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化，包括：
所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性放大或非线性缩小。
4.根据权利要求2所述的方法，基于所述正向判定值和所述负向判定值，获得所述输出电压信号的信号变化特征，包括：
如果所述正向判定值和所述负向判定值相一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为非线性变化；
如果所述正向判定值和所述负向判定值不一致，获得所述输出电压信号的信号变化特征，其表征所述输出电压信号为线性变化。
5.根据权利要求2所述的方法，所述正向扰动信号的信号幅值大于所述输出电压信号的信号幅值；
所述负向扰动信号的信号幅值小于所述输出电压信号的信号幅值。
6.一种图像噪点的处理装置，包括：
位置获得单元，用于通过对成像器件在当前成像光线下的至少一个成像位置进行线性分析获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；其中，所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像；所述非线性成像位置对应于噪点位置；获得成像器件的至少一个非线性成像位置，包括：在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号；对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征；在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下，确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置；
去噪处理单元，用于对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
7.一种电子设备，包括：
成像器件，用于对图像中至少一个像素进行成像；
处理器，用于通过对成像器件在当前成像光线下的至少一个成像位置进行线性分析获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置；所述非线性成像位置对应于噪点位置；对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理；其中，获得成像器件的至少一个非线性成像位置，包括：在当前成像光线下的光信号进入成像器件时，获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号；对所述输出电压信号进行信号扰动，得到所述输出电压信号的信号变化特征；在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下，确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
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