JPH0599747A - ランプの老化を補償した工業用測色計及び測色方法 - Google Patents
ランプの老化を補償した工業用測色計及び測色方法Info
- Publication number
- JPH0599747A JPH0599747A JP3159454A JP15945491A JPH0599747A JP H0599747 A JPH0599747 A JP H0599747A JP 3159454 A JP3159454 A JP 3159454A JP 15945491 A JP15945491 A JP 15945491A JP H0599747 A JPH0599747 A JP H0599747A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- value
- light
- product
- stored
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000032683 aging Effects 0.000 title abstract description 13
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims 2
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 claims 1
- 238000012549 training Methods 0.000 abstract description 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 238000004801 process automation Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/502—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors using a dispersive element, e.g. grating, prism
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J2003/466—Coded colour; Recognition of predetermined colour; Determining proximity to predetermined colour
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/069—Supply of sources
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/069—Supply of sources
- G01N2201/0694—Microprocessor controlled supply
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ランプの老化による物体の色信号の変化を補
償する。 【構成】 電流測定回路が測色計の初期訓練期間中にラ
ンプへの電流を測定し、訓練時のランプ電流を表わす値
ＩT を記憶する。物体を測色計で走査すると、ランプ電
流が再び検知され、値ＩS が割当てられる。検知色標識
と記憶色標識との比較を行う。補償は二つの標識の一つ
をＩS およびＩT を含む比により修正することにより行
われる。
償する。 【構成】 電流測定回路が測色計の初期訓練期間中にラ
ンプへの電流を測定し、訓練時のランプ電流を表わす値
ＩT を記憶する。物体を測色計で走査すると、ランプ電
流が再び検知され、値ＩS が割当てられる。検知色標識
と記憶色標識との比較を行う。補償は二つの標識の一つ
をＩS およびＩT を含む比により修正することにより行
われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プロセスオートメーシ
ョンに使用する色標識検知器に関する。更に詳細には、
本発明は、識別、分類、または調和の目的で物体の色認
識を行う方法および装置である。
ョンに使用する色標識検知器に関する。更に詳細には、
本発明は、識別、分類、または調和の目的で物体の色認
識を行う方法および装置である。
【０００２】
【従来の技術】測色計は、物体に色の特性を明らかにし
たり，一つの物体の色を他の物体の色と比較したりする
のに使用される周知の装置である。測色計の内部または
外部光源のいずれかにあるランプが照明を行い、この照
明光が物体により反射または透過されて装置に逆伝達さ
れ、その装置で光を一連の波長成分に分解する。検出器
アレイは次に一連の波長成分を物体の色標識を表わす個
別信号に変換する。個別信号は次にアナログ・ディジタ
ル変換器に送られ、次いで処理装置に送られて処理され
る。処理には検知成分値を記憶成分値から成分ごとに差
し引いて相対標識差を発生することが含まれる。一般
に、相対標識差が所定限界内に入っている限り検知物体
の色は受容可能である。
たり，一つの物体の色を他の物体の色と比較したりする
のに使用される周知の装置である。測色計の内部または
外部光源のいずれかにあるランプが照明を行い、この照
明光が物体により反射または透過されて装置に逆伝達さ
れ、その装置で光を一連の波長成分に分解する。検出器
アレイは次に一連の波長成分を物体の色標識を表わす個
別信号に変換する。個別信号は次にアナログ・ディジタ
ル変換器に送られ、次いで処理装置に送られて処理され
る。処理には検知成分値を記憶成分値から成分ごとに差
し引いて相対標識差を発生することが含まれる。一般
に、相対標識差が所定限界内に入っている限り検知物体
の色は受容可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】測色計に関連する一つ
の問題は、照明ランプが老化するにつれて、ランプが発
生する光の色および強度が変化する可能性があるという
ことである。これによって今度は被検知物体の色標識が
ランプの老化とともに変化する。この色標識の変化によ
り多数の受容可能な物品が色検知の誤りのため捨てられ
ることがある。
の問題は、照明ランプが老化するにつれて、ランプが発
生する光の色および強度が変化する可能性があるという
ことである。これによって今度は被検知物体の色標識が
ランプの老化とともに変化する。この色標識の変化によ
り多数の受容可能な物品が色検知の誤りのため捨てられ
ることがある。
【０００４】ランプの老化の問題に対する一つの解決試
案は、強度および色出力を一定に保つためにランプの老
化につれてランプ電圧を上げることである。しかし、ラ
ンプ電圧を変えるとランプの寿命にかなりな影響を与え
ることがわかっている。 （実際の寿命／設計寿命）＝（設計電圧／実際電圧）10
〜14 このことは５パーセントの電圧増大によりほぼ５０パー
セントの寿命の減少が生ずることを意味している。
案は、強度および色出力を一定に保つためにランプの老
化につれてランプ電圧を上げることである。しかし、ラ
ンプ電圧を変えるとランプの寿命にかなりな影響を与え
ることがわかっている。 （実際の寿命／設計寿命）＝（設計電圧／実際電圧）10
〜14 このことは５パーセントの電圧増大によりほぼ５０パー
セントの寿命の減少が生ずることを意味している。
【０００５】ランプの老化の問題に対するもう一つの可
能な解決法は測色計を頻繁に校正することである。しか
し、これは研究室の環境でしか実行できない。工業環境
では、測色計に触れることは困難である。更に、頻繁に
校正すると走査の費用が増大する。
能な解決法は測色計を頻繁に校正することである。しか
し、これは研究室の環境でしか実行できない。工業環境
では、測色計に触れることは困難である。更に、頻繁に
校正すると走査の費用が増大する。
【０００６】したがって、ランプの寿命に悪影響を及ぼ
すことなくランプの老化を補償する測色計検知法を提供
するのが本発明の目的である。本発明の他の目的は頻繁
に校正を必要とせずにランプの老化を補償する測色計検
知法を提供することである。
すことなくランプの老化を補償する測色計検知法を提供
するのが本発明の目的である。本発明の他の目的は頻繁
に校正を必要とせずにランプの老化を補償する測色計検
知法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、測色計検知法
でのランプの老化の影響を除去する方法および装置であ
る。本発明の測色計は、ランプ、ランプが使用する電流
を測定する電流検知器、光をその成分波長に分解する回
折格子、成分波長を検知する検出器アレイ、および補償
手段を備えている処理装置から構成されている。処理装
置は検知成分値を記憶成分値と比較して標識差すなわち
デルタ（Δ）を発生する。補償手段は記憶成分値を検知
ランプ電流と記憶ランプ電流との比に基く係数で調節す
る。検知ランプ電流と記憶ランプ電流との比は最適結果
を得るように所定の指数まで上げることができる。
でのランプの老化の影響を除去する方法および装置であ
る。本発明の測色計は、ランプ、ランプが使用する電流
を測定する電流検知器、光をその成分波長に分解する回
折格子、成分波長を検知する検出器アレイ、および補償
手段を備えている処理装置から構成されている。処理装
置は検知成分値を記憶成分値と比較して標識差すなわち
デルタ（Δ）を発生する。補償手段は記憶成分値を検知
ランプ電流と記憶ランプ電流との比に基く係数で調節す
る。検知ランプ電流と記憶ランプ電流との比は最適結果
を得るように所定の指数まで上げることができる。
【０００８】
【実施例】本発明の測色計の好適実施例を図１に示す。
測色計１０は物体５の色標識を検出するのに使用され
る。
測色計１０は物体５の色標識を検出するのに使用され
る。
【０００９】照明手段１５は物体５を照明するのに使用
される。一つの実施例では、照明手段１５はランプ２
０、ミラー３０、および光ファイバ２２から構成されて
いる。ランプ１５は一般にハロゲン白熱灯である。電源
４０はランプ１５に接続されて電力を供給する。
される。一つの実施例では、照明手段１５はランプ２
０、ミラー３０、および光ファイバ２２から構成されて
いる。ランプ１５は一般にハロゲン白熱灯である。電源
４０はランプ１５に接続されて電力を供給する。
【００１０】第１の光ファイバ２２はランプ２０からの
光を物体５に伝えるのに使用される。第１の光ファイバ
２２には二つの端、すなわちランプ２０の近くにある受
光端２５および物体５のような物体を分析する場所の近
くにある出光端３５、がある。
光を物体５に伝えるのに使用される。第１の光ファイバ
２２には二つの端、すなわちランプ２０の近くにある受
光端２５および物体５のような物体を分析する場所の近
くにある出光端３５、がある。
【００１１】ミラー３０はランプ２０の近くに受光端２
５とは反対の側に設置されている。ミラー３０にはラン
プ２０に面して光を光ファイバ２２の受光端に収束する
凹面３２がある。このようなミラーおよび第１の光ファ
イバを使用することは随意であるが、ミラーおよび第１
の光ファイバを使用することにより、物体に伝達させる
光の強度を増大させることができる。総体的に、ミラー
および第１の光ファイバは既知の光収束手段である。
５とは反対の側に設置されている。ミラー３０にはラン
プ２０に面して光を光ファイバ２２の受光端に収束する
凹面３２がある。このようなミラーおよび第１の光ファ
イバを使用することは随意であるが、ミラーおよび第１
の光ファイバを使用することにより、物体に伝達させる
光の強度を増大させることができる。総体的に、ミラー
および第１の光ファイバは既知の光収束手段である。
【００１２】物体５は一般に照明手段１５により伝えら
れた光の一部を反射する。代りに、物体５は、測定され
る物体が液体である場合のように、光を透過させること
ができる。反射光または透過光の量および組成は物体の
表面および色によって変る。この実施例は反射光または
透過光を測定するのに等しく良好に利用することができ
るが、この説明では反射光に重点を置くことにする。反
射光は第２の光ファイバ４２により物体５から分解要素
５５まで運ばれる。第２の光ファイバ４２には二つの
端、すなわち物体の近くにある受光端４５および出光端
５０、がある。出光端５０を出る反射光は分解要素５５
に入射する。分解要素５５は回折格子とすることができ
る。反射光はその成分波長に分解され、検出器アレイ６
０に向けて反射される。この実施例の場合には、分解要
素５５は焦点が並んだスペクトル（４００ｎｍから８０
０ｎｍ）を検出器アレイ６０の上に供給する。焦点を結
んだスペクトルはアレイ検出器６０に、４００ｎｍの光
がＣ側に、８００ｎｍの光がＤ側になるようにして入
る。
れた光の一部を反射する。代りに、物体５は、測定され
る物体が液体である場合のように、光を透過させること
ができる。反射光または透過光の量および組成は物体の
表面および色によって変る。この実施例は反射光または
透過光を測定するのに等しく良好に利用することができ
るが、この説明では反射光に重点を置くことにする。反
射光は第２の光ファイバ４２により物体５から分解要素
５５まで運ばれる。第２の光ファイバ４２には二つの
端、すなわち物体の近くにある受光端４５および出光端
５０、がある。出光端５０を出る反射光は分解要素５５
に入射する。分解要素５５は回折格子とすることができ
る。反射光はその成分波長に分解され、検出器アレイ６
０に向けて反射される。この実施例の場合には、分解要
素５５は焦点が並んだスペクトル（４００ｎｍから８０
０ｎｍ）を検出器アレイ６０の上に供給する。焦点を結
んだスペクトルはアレイ検出器６０に、４００ｎｍの光
がＣ側に、８００ｎｍの光がＤ側になるようにして入
る。
【００１３】分解要素５５で分散され且つ反射された光
は検出器アレイ６０に向かう。検出器アレイ６０は直線
状に連続したＮ個の光検出器から構成することができ
る。ここでは、Ｎは１２０に等しい。各光検出器は所定
周波数の光が入射すると電気信号を発生するようになっ
ている。信号の大きさは光検出器に入射する光の強度に
正比例する。第２の光ファイバ、分解要素、および検出
器アレイを便宜上簡単に記したものが検出手段６５であ
る。
は検出器アレイ６０に向かう。検出器アレイ６０は直線
状に連続したＮ個の光検出器から構成することができ
る。ここでは、Ｎは１２０に等しい。各光検出器は所定
周波数の光が入射すると電気信号を発生するようになっ
ている。信号の大きさは光検出器に入射する光の強度に
正比例する。第２の光ファイバ、分解要素、および検出
器アレイを便宜上簡単に記したものが検出手段６５であ
る。
【００１４】検出器アレイは物体５の色標識を表わすア
ナログ信号を発生する。アナログ信号は増幅器７０で増
幅されてからＡ／Ｄ変換器７５によりディジタル化さ
れ、１×Ｎ列の検知成分値を生ずる。ディジタル化され
てから、検知値列は処理装置８０に送られて処理され
る。
ナログ信号を発生する。アナログ信号は増幅器７０で増
幅されてからＡ／Ｄ変換器７５によりディジタル化さ
れ、１×Ｎ列の検知成分値を生ずる。ディジタル化され
てから、検知値列は処理装置８０に送られて処理され
る。
【００１５】ディジタル値列の処理には列の成分の各々
と記憶成分列の各成分との比較が含まれる。記憶成分列
はすべての被検知物体をそれと比較する基準色標識であ
る。測色計を使用する前に検知手段に試料物体からの色
情報を検知、ディジタル化、および記憶を行わせて「訓
練する」。試料物体は分析すべきすべての物体に必要な
表面および色を備えていなければならない。記憶成分列
は記憶装置８５に格納されるがＮ個の記憶成分値から作
られている。測色計の動作モードの選択は入出力制御器
９０で制御することができる。
と記憶成分列の各成分との比較が含まれる。記憶成分列
はすべての被検知物体をそれと比較する基準色標識であ
る。測色計を使用する前に検知手段に試料物体からの色
情報を検知、ディジタル化、および記憶を行わせて「訓
練する」。試料物体は分析すべきすべての物体に必要な
表面および色を備えていなければならない。記憶成分列
は記憶装置８５に格納されるがＮ個の記憶成分値から作
られている。測色計の動作モードの選択は入出力制御器
９０で制御することができる。
【００１６】最後に、ハウジング１１０は測色計の幾つ
かの部分を収納するのに使用される。
かの部分を収納するのに使用される。
【００１７】既に示したように、検知波長成分列の各成
分は記憶成分列からの対応する成分と比較される。これ
は図３を参照すれば更に良く理解することができる。図
３で、曲線３０１は検知器の訓練期間中に記憶される色
標識を表わしている。曲線３０２は精査されてしまった
物体からの検知成分波長列である。一つの代表的成分を
見て、処理装置８０は記憶成分値の各々と検知成分波長
値との差を決定することから始動する。たとえば、処理
装置８０は、検知成分値Ｅ3Sを記憶成分値Ｅ3Tから差引
いてΔを発生する。Δの計算値が所定限界外にあれば、
この色信号を発生した物体の色は受容不能であると考え
られ、その物体は捨てられる。しかし、このΔは部分的
にはランプの老化によるものである。
分は記憶成分列からの対応する成分と比較される。これ
は図３を参照すれば更に良く理解することができる。図
３で、曲線３０１は検知器の訓練期間中に記憶される色
標識を表わしている。曲線３０２は精査されてしまった
物体からの検知成分波長列である。一つの代表的成分を
見て、処理装置８０は記憶成分値の各々と検知成分波長
値との差を決定することから始動する。たとえば、処理
装置８０は、検知成分値Ｅ3Sを記憶成分値Ｅ3Tから差引
いてΔを発生する。Δの計算値が所定限界外にあれば、
この色信号を発生した物体の色は受容不能であると考え
られ、その物体は捨てられる。しかし、このΔは部分的
にはランプの老化によるものである。
【００１８】他の構成では、各対の要素に対するΔを計
算してからΔを総計する。Δの和が所定限界外にあれ
ば、物体は受容不能と考えられる。
算してからΔを総計する。Δの和が所定限界外にあれ
ば、物体は受容不能と考えられる。
【００１９】Δを決定するときランプの老化の問題を考
慮するには、電流モニタ９５をランプ２０の電源線に設
置する。電流供給モニタの出力は増幅器１００に、次い
でアナログ・ディジタル変換器１０５に送られる。ディ
ジタル化された電流信号は処理装置８０に伝えられる
が、検知電流値と呼ばれる。検知電流値は訓練電流値と
の比で使用され、走査物体の色標識からランプ老化の影
響を除去する。上述の検知器の訓練期間中に、ランプ２
０により使用される電流も測定され、記憶装置８５に格
納される。便宜のため、この訓練電流をＩT または訓練
電流値と呼ぶことにする。
慮するには、電流モニタ９５をランプ２０の電源線に設
置する。電流供給モニタの出力は増幅器１００に、次い
でアナログ・ディジタル変換器１０５に送られる。ディ
ジタル化された電流信号は処理装置８０に伝えられる
が、検知電流値と呼ばれる。検知電流値は訓練電流値と
の比で使用され、走査物体の色標識からランプ老化の影
響を除去する。上述の検知器の訓練期間中に、ランプ２
０により使用される電流も測定され、記憶装置８５に格
納される。便宜のため、この訓練電流をＩT または訓練
電流値と呼ぶことにする。
【００２０】実験によれば、光強度は次の方程式により
ランプ電流と関連していることがわかっている。 （ＩC／ＩT）1.85＝（ＬC／ＬT）0.313
ランプ電流と関連していることがわかっている。 （ＩC／ＩT）1.85＝（ＬC／ＬT）0.313
【００２１】上の方程式を使用して、Δの計算時にラン
プの老化を補償することができる。これを行うのに二つ
の方法がある。第１に、記憶成分値に（ＩC／ＩT）
5.907 を掛けることができる。このようにすればΔの方
程式は ＥC−ＥT（ＩC／ＩT）5.907＝Δ になる。
プの老化を補償することができる。これを行うのに二つ
の方法がある。第１に、記憶成分値に（ＩC／ＩT）
5.907 を掛けることができる。このようにすればΔの方
程式は ＥC−ＥT（ＩC／ＩT）5.907＝Δ になる。
【００２２】ランプの老化を数学的に補正する第２の方
法は検知波長成分値に（ＩT／ＩC）5.907 を掛けること
である。こうすれば、ΔはＥT−ＥC（ＩT／ＩC）5.907
＝Δから計算される。
法は検知波長成分値に（ＩT／ＩC）5.907 を掛けること
である。こうすれば、ΔはＥT−ＥC（ＩT／ＩC）5.907
＝Δから計算される。
【００２３】一旦Δが計算されれば、これを使用するの
に少なくとも二つの方法が存在する。第１に、各Δが所
定限界内に入るか否かを見直し、確認することができ
る。第２に、Δの絶対値を総計し、この和を所定限界と
比較することができる。
に少なくとも二つの方法が存在する。第１に、各Δが所
定限界内に入るか否かを見直し、確認することができ
る。第２に、Δの絶対値を総計し、この和を所定限界と
比較することができる。
【００２４】もう一度図３を参照すると、Δの計算時に
補正係数を使用することの効果を示すことができる。曲
線３０１は記憶成分値を示すものである。曲線３０２は
検知波長成分値を表わすものである。曲線３０３は補償
を加えてからの色標識を表わしている。補償後の曲線は
訓練曲線に近いことに注目のこと。
補正係数を使用することの効果を示すことができる。曲
線３０１は記憶成分値を示すものである。曲線３０２は
検知波長成分値を表わすものである。曲線３０３は補償
を加えてからの色標識を表わしている。補償後の曲線は
訓練曲線に近いことに注目のこと。
【００２５】図２は処理装置８０の幾つかの部分を示し
ている。図２において、補償手段８１は上の方程式に使
用されている補正係数を計算するのに使用される。比較
手段８２は補正係数、記憶成分値、および検知波長成分
値を取り、これらからΔを作る。訓練手段８３は色標識
を表わす一連の記憶成分値を作るのに使用される。使用
することができる一つの処理装置はインテル８０Ｃ１９
６プロセッサである。
ている。図２において、補償手段８１は上の方程式に使
用されている補正係数を計算するのに使用される。比較
手段８２は補正係数、記憶成分値、および検知波長成分
値を取り、これらからΔを作る。訓練手段８３は色標識
を表わす一連の記憶成分値を作るのに使用される。使用
することができる一つの処理装置はインテル８０Ｃ１９
６プロセッサである。
【００２６】上に記したのはランプ老化に対して出力の
補償を行う新規で巧妙な測色計の説明である。本発明を
本出願書で図示し且つ説明した実施例のみに限定するつ
もりはない。その代り、出願人の発明の範囲を、付記し
た特許請求の範囲により確定することができる。
補償を行う新規で巧妙な測色計の説明である。本発明を
本出願書で図示し且つ説明した実施例のみに限定するつ
もりはない。その代り、出願人の発明の範囲を、付記し
た特許請求の範囲により確定することができる。
【図１】本発明の測色計の一実施例のブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明の測色計に用いられる処理装置のダイヤ
グラムである。
グラムである。
【図３】記憶された色特性を補正した及び補正しない計
測した色特性とを示すグラフ。
測した色特性とを示すグラフ。
５ 物体 １５ 照明手段 ２０ ランプ ２２，４２ 光ファイバ ３０ ミラー ５５ 分解要素 ６０ 検出器アレイ ８０ 処理装置
Claims (6)
- 【請求項１】 物体の色の受容性を決定する装置であっ
て、 物体を光で照明する照明手段と、 該照明手段と連絡して物体から受取った光の強度を表わ
す一連の検知成分値を発生する光検知手段と、 前記光を発生するのに使用される電流の量を決定し、該
電流を表わす検知電流値を発生する電流検知手段と、 前記照明手段、前記電流検知手段、および前記光検知手
段に接続された補償手段を有し、前記検知成分値の各々
と対応する記憶値に前記補償手段により発生された強度
補正係数を掛けた積との間の差である差値を発生する処
理装置と、 から構成されていることを特徴とする測色計。 - 【請求項２】 物体の色の受容性を決定する装置であっ
て、 物体を光で照明する照明手段と、 該照明手段と連絡して物体から受取った光の強度を表わ
す一連の検知波長成分値を発生する光検知手段と、 前記光を発生するのに使用される電流の量を決定し、前
記光を発生するのに使用される電流を表わす検知電流値
を発生する電流検知手段と、 前記照明手段、前記電流検知手段、および前記光検知手
段に接続された補償手段を有し、一連の記憶成分値の各
値と前記波長の成分値に前記補償手段により発生された
強度補正係数を掛けた積との間の差である差値を発生す
る処理装置と、 から構成されていることを特徴とする測色計。 - 【請求項３】 物体の色の受容性を決定する方法であっ
て、 物体を照明する段階と、 物体を照明するのに必要な電流の量を検知する段階と、 物体から受取った光を検知する段階と、 受取った光を検知成分値に分解する段階と、 検知電流値を記憶電流値で割って電流積を作る段階と、 前記電流積を所定の大きさまで上げて強度補正係数を作
る段階と、 前記検知成分の各々と、対応する記憶成分値と前記強度
補正係数との積との間の差値を決定する段階と、 から構成されることを特徴とする測色方法。 - 【請求項４】 物体の色の受容性を決定する方法であっ
て、 物体を照明する段階と、 物体を照明するのに必要な電流の量を検知する段階と、 物体から受取った光を検知する段階と、 受取った光を検知成分値に分解する段階と、 記憶電流値を検知電流値で割って電流積を作る段階と、 前記電流積を所定の大きさまで上げる段階と、 一連の記憶成分値の各々と、前記検知成分値の対応する
値と前記強度補正係数との積との間の差値を決定する段
階と、 から構成されることを特徴とする測色方法。 - 【請求項５】 物体を照明する照明手段と、物体から受
取った光を表わす検知成分値を発生する検知手段と、物
体を照明するのに使用される電流の量を決定する電流検
知手段とを備えている形式の、物体の色の受容性を測定
する装置であって、 前記検知手段および前記電流検知手段に接続され、検知
成分値と、記憶成分値と強度補正係数との積との間の差
である差値を発生するようになっており、更に前記差値
が所定限界外にあれば誤差出力を発生するようになって
いる処理装置を備えており、前記強度補正係数は記憶電
流値と検知電流値との関数であることを特徴とするよう
に改良された測色計。 - 【請求項６】 物体の色を記憶されている色標識と比較
する装置であって、 物体を照明する手段と、 物体から受取った光を表わす複数の検知光成分値を発生
する手段と、 照明手段に随伴する電流を測定する手段と、 複数の記憶光成分値を格納する手段と、 前記複数の記憶光成分値を前記複数の検知光成分値と比
較する手段と、 前記電流の大きさに応じて前記比較を修正する手段と、 から構成されていることを特徴とする測色計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/538,363 US5042948A (en) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | Industrial colorimeter having lamp aging compensation means |
| US538,363 | 1990-06-14 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0599747A true JPH0599747A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=24146609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3159454A Withdrawn JPH0599747A (ja) | 1990-06-14 | 1991-06-04 | ランプの老化を補償した工業用測色計及び測色方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5042948A (ja) |
| EP (1) | EP0461862A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0599747A (ja) |
| CA (1) | CA2044419A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5420682A (en) * | 1993-07-02 | 1995-05-30 | Honeywell Inc. | Method and apparatus for compensating spectral data with a color sensor |
| US5416577A (en) * | 1993-07-02 | 1995-05-16 | Honeywell Inc. | Color sensor for optically measuring consisting and brightness of materials |
| JP3180589B2 (ja) * | 1994-10-31 | 2001-06-25 | 松下電器産業株式会社 | 光ビーム加熱装置 |
| JP3314630B2 (ja) * | 1996-09-27 | 2002-08-12 | 株式会社日立製作所 | クロマトグラフ装置，及びクロマトグラフ分析方法 |
| DE19833793C2 (de) * | 1998-07-21 | 2000-12-07 | Inst Chemo Biosensorik | Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit eines Spektrometers und Spektrometer mit Fehlererkennungsvorrichtung |
| US7245373B2 (en) * | 2004-04-26 | 2007-07-17 | University Of Massachusetts | Spectrometer system for optical reflectance measurements |
| US7382454B1 (en) * | 2006-09-24 | 2008-06-03 | Carl Anthony Turner | System and method for optically assessing lamp condition |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4022534A (en) * | 1976-03-23 | 1977-05-10 | Kollmorgen Corporation | Reflectometer optical system |
| US4449821A (en) * | 1982-07-14 | 1984-05-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process colorimeter |
| DE3642922C2 (de) * | 1985-12-16 | 1998-01-15 | Minolta Camera Kk | Fotoelektrische Farbmeßeinrichtung |
-
1990
- 1990-06-14 US US07/538,363 patent/US5042948A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-06-04 JP JP3159454A patent/JPH0599747A/ja not_active Withdrawn
- 1991-06-11 EP EP91305266A patent/EP0461862A1/en not_active Withdrawn
- 1991-06-12 CA CA002044419A patent/CA2044419A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2044419A1 (en) | 1991-12-15 |
| EP0461862A1 (en) | 1991-12-18 |
| US5042948A (en) | 1991-08-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5771094A (en) | Film measurement system with improved calibration | |
| RU2400715C2 (ru) | Способ градуировки спектрометра | |
| US6107631A (en) | Self-calibration approach for tunable laser spectral absorption sensors | |
| US4627008A (en) | Optical quantitative analysis using curvilinear interpolation | |
| JPS63501098A (ja) | 光ファイバ分光計／比色計装置 | |
| US5742200A (en) | Environmentally rugged optical sensor with improved noise cancellation | |
| JPS635240A (ja) | 反射率測定装置内の試料の反射率を測定する方法及び分光光度計の較正方法 | |
| CA2026327C (en) | Spectrophotometric instrument with rapid scanning distortion correction | |
| KR0163788B1 (ko) | 에러요인에 의한 변동을 제거할 수 있는 분광분석방법 | |
| JPH10508984A (ja) | 特にオプトエレクトロニクス半導体デバイス用であるオプトエレクトロニクスデバイス用温度補償方法 | |
| EP0306337B1 (en) | Spectrophotometer | |
| JPWO2002039076A1 (ja) | センサ出力の補正方法 | |
| JPH0599747A (ja) | ランプの老化を補償した工業用測色計及び測色方法 | |
| EP0477300B1 (en) | Colour monitoring | |
| JPH0599746A (ja) | 光強度補償手段を有する工業用測色計 | |
| US6218666B1 (en) | Method of determining the concentration of a gas in a gas mixture and analyzer for implementing such a method | |
| EP0900365B1 (en) | An environmentally insensitive optical sensor with improved noise cancellation | |
| RU2334216C1 (ru) | Устройство для измерения количества химических веществ, содержащихся в газовой среде | |
| US5179423A (en) | Gain stabilized self-scanning photo-diode array | |
| US7589837B2 (en) | Multiple tile calibration method for color sensors | |
| JPH0915048A (ja) | 分光光度計 | |
| JP3694753B2 (ja) | 検量線の校正方法、反射率測定装置、および記憶媒体 | |
| JP2020094990A (ja) | 光学分析装置、並びに光学分析装置に用いられる機械学習装置及びその方法 | |
| JPH0540422Y2 (ja) | ||
| Chen et al. | Spectrophotometer Design Using Single-Grating, Single-Sensor, Double-Beam Spectroscope |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980903 |