JPH11249004A - イメージセンサ - Google Patents

イメージセンサ

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JPH11249004A
JPH11249004A JP10049571A JP4957198A JPH11249004A JP H11249004 A JPH11249004 A JP H11249004A JP 10049571 A JP10049571 A JP 10049571A JP 4957198 A JP4957198 A JP 4957198A JP H11249004 A JPH11249004 A JP H11249004A
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JP
Japan
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sensitivity
image sensor
foreign matter
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correction
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Application number
JP10049571A
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Inventor
Hiroaki Takahara
宏明 高原
Takayuki Haruyama
隆行 春山
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、イメージセンサに関し、特にイメ
ージセンサに装着する光学系の異物の有無を確実に判定
することができるイメージセンサを提供することを目的
とする。 【解決手段】 受光素子を複数有するイメージセンサ1
において、受光素子毎における受光感度のばらつきに関
するデータを記憶する補正データ記憶手段5を備えて構
成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、イメージセンサに
関し、特に、イメージセンサの受光感度のばらつきを補
正することができるイメージセンサに関する。
【0002】
【従来の技術】カメラの自動焦点検出における焦点検出
方式の1つとして、被写体からの光束を左右に分割し、
2つのイメージセンサ各々に結像させ、この2つの像の
相対位置に基づいて焦点を検出する位相差検出方式が知
られている。この方式を図8、図9を用いて説明する。
【0003】図8は、カメラに搭載されるAFモジュー
ルの構成図である。AFモジュールは、光学系ユニット
とイメージセンサとが接着固定されて構成される。光学
系ユニットは、バンドパスフィルタ53、視野マスク5
4、フィールドレンズ55、絞りマスク56および再結
像レンズ57a、57bから構成され、イメージセンサ
は、イメージセンサアレイ58a、58bから構成され
る。
【0004】このような構成において、対物レンズ51
の領域51aを通過した光束は、フィルム等価面52上
で焦点を結んだ後、バンドパスフィルタ53、視野マス
ク54、フィールドレンズ55、絞りマスク56の開口
部56aおよび再結像レンズ57aを介してイメージセ
ンサアレイ58a上に結像する。同様に、対物レンズ5
1の領域51bを通過した光束は、フィルム等価面52
上で焦点を結んだ後、バンドパスフィルタ53、視野マ
スク54、フィールドレンズ55、絞りマスク56の開
口部56bおよび再結像レンズ57bを介してイメージ
センサアレイ58b上に結像する。
【0005】イメージセンサアレイ58a、58b上に
結像した一対の被写体像は、対物レンズ51が予定焦点
面よりも前に被写体の鮮鋭像を結ぶ、いわゆる前ピン状
態では互いに近づき、逆に予定焦点面よりも後ろに被写
体の鮮鋭像を結ぶ、いわゆる後ピン状態では互いに遠ざ
かる。そして、予定焦点面に被写体の鮮鋭像を結ぶ合焦
時には、イメージセンサアレイ58a、58b上の被写
体像は相対的に一致する。したがって、この一対の被写
体像をイメージセンサアレイ58a、58bで光電変換
し、これら信号を相関演算処理して一対の被写体像の相
対位置を求めることにより対物レンズ51の焦点状態、
ここでは合焦状態からのずれ量とその方向(以下、「デ
フォーカス量」という)が検出できる。
【0006】次に、デフォーカス量算出の相関演算処理
について説明する。イメージセンサアレイ58a、58
bはそれぞれ複数の受光素子から構成されており、図9
(1)、(2)に示すように画素出力a1,・・・,an、
b1,・・・,bnを出力する。これらのデータ列a1,・・
・,anとb1,・・・,bnとを相対的に所定量Lずつシフ
トさせながら相関演算を行う。具体的には、以下の
(1)式により相関量C(L)を算出する。
【数1】 但し、j−i=L、L=−lmax,・・・,−2,−1,0,
1,2,・・・,lmaxである。Lはデータ列のシフト量に
当たる整数であり、初項kと最終項rはシフト量Lに依
存して変化させてもよい。
【0007】このようにして得られた相関量C(L)の中
で、極小値となる相関量を与えるシフト量を求め、光学
系ユニットおよびイメージセンサアレイ58a、58b
の受光素子のピッチ幅によって決まる定数を掛けたもの
がデフォーカス量となる。なお、このときの相関量C
(L)は、図9(3)に示すように離散的な値であり、検
出可能なデフォーカス量の最小単位はイメージセンサア
レイ58a、58bの受光素子のピッチ幅によって制限
されてしまう。そこで、離散的な相関量C(L)に対し補
間演算を行うことによって、より正確な極小値を算出
し、より綿密な焦点検出を行う方法も提案されている
(特開昭60−37513号公報)。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光学系ユニ
ットには異物が付着することがあり、この異物によって
イメージセンサの出力信号に部分的な信号レベルの低下
が起こった。例えば、イメージセンサに到達するまでの
光路上、特に光学系ユニット内のバンドパスフィルタ5
3付近には、ゴミ、指紋、溶剤等の本来不要となる異物
が付着することが多々あり、この異物によりイメージセ
ンサアレイ58a、58bに入射する光が部分的に遮光
され、画素出力が低下した。
【0009】図10(1)に、このときのイメージセン
サアレイ58aの出力を示す。異物によって画素出力
(ここでは、画素a10)に部分的な信号レベルの低下が
起こり、偽コントラストが発生している。なお、両端の
画素出力が低下して全体が山形のグラフになっているの
はレンズの周辺光量の低下に起因するものである。前述
したように焦点検出は、(1)式の相関演算によって行
われるが、このとき偽コントラスト部分で焦点検出の判
定が行われてしまうため、偽合焦を引き起こす要因とな
っていた。
【0010】このためAFモジュールの製造工程におい
ては、信号の部分的なレベル低下の有無によって光学系
ユニットに異物が付着しているか否かを判断し、異物が
付着していた場合にはその異物を除去する、または光学
系ユニット自体を交換する作業を行っていた。
【0011】ところが、イメージセンサには、センサを
構成する受光素子(画素)毎に受光感度にばらつきが存
在した。以下、これを受光素子の感度不均一性という。
この感度不均一性により、イメージセンサの出力は画素
毎にばらつき、それが固定パターンノイズとなって現れ
た。これを図10(2)に示す。図中の小さな凹凸が感
度不均一性に起因する固定パターンノイズである。
【0012】AFモジュールの出力信号は、光学系ユニ
ットに異物があった場合には、部分的な信号レベルの低
下を有する信号に、感度不均一性の固定パターンノイズ
が積算された信号(図10(3))になる。このような信
号では、異物による信号レベルの低下と固定パターンノ
イズとが判別できないため、光学系ユニットに異物が付
着しているどうかを正確に判断することができず、異物
の検出精度の低下を招くという問題点があった。
【0013】そこで本発明は、光学系ユニットに付着す
る異物を確実に検出することができるイメージセンサを
提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、受光素子を複数有するイメージセンサにおいて、受
光素子毎における受光感度のばらつきに関するデータを
記憶する補正データ記憶手段を備えて構成する。
【0015】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のイメージセンサにおいて、補正データ記憶手段に記憶
されたデータに基づいて、受光素子各々の画素出力の信
号レベルを調節し、受光感度のばらつきを補正する補正
手段を備えて構成する。このような構成では、イメージ
センサから出力される信号には、受光素子の感度不均一
性のノイズが除去されており、異物による出力信号のレ
ベル低下を確実に検出することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
形態を説明する。図1は、第1の実施形態であるイメー
ジセンサの構成ブロック図である。なお、本実施形態
は、請求項1、2に記載の発明に対応する。図1におい
て、イメージセンサ1内部には、CCD撮像素子である
光電変換部2が配置される。光電変換部2は、データバ
ス3を介して感度補正部4および感度補正データ記憶回
路5と接続され、感度補正データ記憶回路5は、データ
バス6を介して感度補正部4と接続される。
【0017】イメージセンサ1内部に配置される制御回
路7は、制御バス8を介して光電変換部2と接続され、
制御バス9を介して感度補正データ記憶回路5と接続さ
れる。なお、感度補正データ記憶回路5は、A/D変換
や補正係数を算出する演算部と補正係数を記憶するメモ
リ部(例えば、EEPROM)とから構成される。感度
補正部4はデータバス10を介してイメージセンサ1外
部の異物検出部11と接続される。
【0018】なお、本発明の補正データ記憶手段は感度
補正データ記憶回路5に対応し、補正手段は感度補正部
4に対応する。以下、第1の実施形態の動作を図1〜図
5を用いて説明する。 (補正係数記憶動作)まず光学系ユニットを取り付けて
いない状態で、イメージセンサ1内部の光電変換部2に
均一な光で一様照明する。光電変換部2のCCD撮像素
子を構成する画素a1〜anは、照明光を受光すると光電
信号を生成し蓄積する(ステップS1)。このとき感度
不均一性より画素出力は、図4(1)に示すように出力
信号レベルにばらつきが生じる。
【0019】制御回路7は、制御バス8を介してCCD
撮像素子の走査部に転送パルスを送出し、走査部は転送
パルスに同期して、蓄積される信号電荷を順次読み出
す。信号電荷は、データバス3を介して感度補正データ
記憶回路5に転送され、感度補正データ記憶回路5にお
いてA/D変換され、メモリ部にデジタル信号として記
憶される(ステップS2)。
【0020】感度補正データ記憶回路5は、i番目の画
素の補正係数Hiを、以下の(2)式により求める。 Hi=max(a1,・・・,an)/ai (2) なお、iは1,・・・,nであり、max(a1,・・・,a
n)はa1からanまでの出力中の最大値である。
【0021】感度補正データ記憶回路5は、記憶された
a1〜anの画素出力から最大値を選出する。そして、
(2)式から、感度不均一性を補正するための補正係数
Hiを算出し、補正係数Hiをメモリ部に記憶する(ステ
ップS3)。 (感度不均一性補正動作)次に、光学系ユニットをイメ
ージセンサ1に取り付け、光学系ユニットを介して光電
変換部2を一様照明する。CCD撮像素子の画素a1〜
anは、均一な照明光を受光すると光電信号を生成し蓄
積する(ステップS10)。このとき光学系ユニットに
異物が付着しているとする。図4(2)に示すように、
この異物により画素出力(ここでは、画素a10)に部分
的な信号レベルの低下が起こる。なお、両端の画素出力
が低下しているのはレンズの周辺光量の低下に起因する
ものである。
【0022】制御回路7は、制御バス8を介してCCD
撮像素子の走査部に転送パルスを送出し、走査部は転送
パルスに同期して、蓄積される信号電荷を順次読み出
す。信号電荷は、データバス3を介して感度補正部4に
転送される(ステップS11)。このとき感度補正デー
タ記憶回路5は、制御回路7からの制御信号に同期し
て、感度補正部4に転送される画素aiに対応する補正
係数HiをD/A変換し、データバス6を介して感度補
正部4に伝達する(ステップS12)。
【0023】感度補正部4はアナログ演算回路であり、
光電変換部2から順次送られてくる画素出力aiに、そ
の画素出力aiに対応する補正係数Hiを乗算して感度不
均一性を補正する(ステップS13)。その出力を図4
(3)に示す。異物検出部11は、感度補正部4からの
出力信号をA/D変換する。そして、隣接する画素出力
同士の差をとり、その総和を求める(積分する)。異物
検出部11は、総和が所定のしきい値を超えると、「異
物が付着している」と判断する(ステップS14)。
【0024】一方、光学系ユニットに異物が付着してい
ないときには、光電変換部2の出力は、図5(1)に示
すように、異物による部分的な信号レベルの低下は発生
しない。したがって、感度補正部4において感度不均一
性の補正を行うと、図5(2)に示す出力になる。異物
検出部11は、この出力信号をA/D変換し、隣接する
画素出力同士の差をとり、その総和を求める。このと
き、総和は所定のしきい値を超えないため、「異物が付
着していない」と判断される。
【0025】「異物が付着していない」と判断された光
学系ユニットとイメージセンサとが接着固定され、AF
モジュールが製作される。このように第1の実施形態の
イメージセンサでは、感度補正部4において、光電変換
部2の感度不均一性に起因する固定パターンノイズを除
去することができる。したがって、光学系ユニットに異
物が付着していた場合には、異物による信号レベルの低
下を確実に検出することができ、異物の付着を正確に検
出することができる。
【0026】さらに、第1の実施形態のイメージセンサ
では、センサ内部において感度不均一性の補正を実行し
ているが、このとき、光電変換部2、感度補正部4およ
び感度補正データ記憶回路5が近接しているため、デー
タ転送にかかる時間を短縮化することができ、感度不均
一性の補正動作を高速化することができる。また、デー
タ転送時に外部から受けるノイズも最小限に抑えること
ができる。
【0027】(第2の実施形態)第2の実施形態では別
の構成例を示す。なお、第2の実施形態は、請求項1、
2に記載の発明に対応する。図6に示すように、イメー
ジセンサ1内部に配置される光電変換部2は、データバ
ス12を介してA/D変換回路13と接続され、A/D
変換回路13は、データバス14を介して感度補正デー
タ記憶回路15と接続される。感度補正データ記憶回路
15は、補正係数の算出や感度不均一性の補正を行う演
算部と補正係数を記憶するメモリ部とから構成される。
【0028】感度補正データ記憶回路15は、データバ
ス16を介してイメージセンサ1外部の異物検出部17
と接続される。一方、イメージセンサ1内部に配置され
る制御回路7は、制御バス8を介して光電変換部2と接
続される。なお、本発明の補正データ記憶手段および補
正手段は、感度補正データ記憶回路15に対応する。
【0029】(補正係数記憶動作)まず光学系ユニット
を取り付けていない状態で、イメージセンサ1内部の光
電変換部2に均一な光で一様照明する。光電変換部2の
画素a1〜anは、照明光を受光すると光電信号を生成し
蓄積する。制御回路7は、制御バス8を介してCCD撮
像素子の走査部に転送パルスを送出し、走査部は転送パ
ルスに同期して、信号電荷を順次読み出す。
【0030】信号電荷は、データバス12を介してA/
D変換回路13に転送され、デジタル信号に変換され
る。デジタル信号は、データバス14を介して感度補正
データ記憶回路15に転送され、メモリ部に記憶され
る。感度補正データ記憶回路15は、記憶されたa1〜
anの画素出力から最大値を選出する。そして、前述し
た(2)式から、感度不均一性を補正するための補正係
数Hiを算出し、この補正係数Hiをメモリ部に記憶す
る。
【0031】(感度不均一性補正動作)次に、光学系ユ
ニットをイメージセンサ1に取り付け、光学系ユニット
を介して光電変換部2を一様照明する。光電変換部2の
画素a1〜anは、均一な照明光を受光すると光電信号を
生成し蓄積する。制御回路7は、CCD撮像素子の走査
部に転送パルスを送出し、走査部は転送パルスに同期し
て、蓄積される信号電荷を順次読み出す。信号電荷は、
データバス12を介してA/D変換回路13に転送さ
れ、デジタル信号に変換される。デジタル信号は、デー
タバス14を介して感度補正データ記憶回路15に転送
される。感度補正データ記憶回路15は、順次転送され
る画素出力aiに、その画素出力aiに対応する補正係数
Hiをメモリ部から読み出し、乗算して感度不均一性を
補正する。
【0032】異物検出部17は、感度補正データ記憶回
路15からの出力信号に対し、隣接する画素出力同士の
差をとり、総和を求める。その総和が所定のしきい値を
超えると「異物が付着している」と判断し、超えない場
合には「異物が付着していない」と判断する。なお、第
2の実施形態の効果は、第1の実施形態と同様の効果を
有するが、第2の実施形態では、イメージセンサ1から
出力される信号がデジタル信号であるため、異物検出部
17に転送する際に受けるノイズの影響を低減すること
ができる。
【0033】(第3の実施形態)次に、第3の実施形態
を図7を参照して説明する。なお、第3の実施形態は、
請求項1に記載の発明に対応する。第3の実施形態は、
第1の実施形態においてイメージセンサ1内部に配置さ
れた感度補正部4をイメージセンサ1外部に配置した構
成例を示したものである。
【0034】イメージセンサ1から出力される信号は、
アナログ信号でもデジタル信号でも構わない。なお、第
3の実施形態の動作については、第1の実施形態と同一
であるため、ここでの説明は省略する。また、第3の実
施形態の効果としては、イメージセンサ1の内部構成回
路を簡略化することができる。
【0035】なお、第1〜第3の実施形態では、感度補
正データ記憶回路5に感度不均一性を補正するためのデ
ータを記憶させたが、それのみならず、周辺光量の減光
による信号レベルの低下を補正するためのデータを記憶
させてもよい。また、第2の実施形態では、感度不均一
性を補正するためのデータを、各画素出力と最大値との
差に基づいて算出したが、それに限定されず、補正デー
タとしては最大値そのものであってもよい。この場合、
感度補正データ記憶回路15は、各画素出力を最大値に
置き換えることで感度不均一性の補正を行う。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
イメージセンサでは、受光素子の感度不均一性を補正す
るためのデータが、イメージセンサ内部に記憶されてい
る。したがって、このデータを取り出して外部の補正回
路により補正を行えば、感度不均一性による固定パター
ンノイズを除去した信号を得ることができる。
【0037】また、イメージセンサに光学系を取り付け
た際には、イメージセンサの固定パターンノイズが除去
されているため、光学系に異物が付着していた場合に
は、その異物による信号レベルの低下を確実に検出する
ことができ、異物の検出精度を向上させることができ
る。請求項2に記載のイメージセンサでは、受光感度の
ばらつきを補正する補正手段を備えているため、イメー
ジセンサの出力から感度不均一性の固定パターンノイズ
を確実に除去することができる。したがって、イメージ
センサに光学系を取り付けた際に、異物による信号レベ
ルの低下を確実に検出することができる。
【0038】このように本発明を適用したイメージセン
サでは、イメージセンサに取り付けられる光学系の異物
を確実に検出することができ、AFモジュールの歩留ま
りを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態のイメージセンサの構成ブロッ
ク図である。
【図2】補正データ記憶動作のフローチャートである。
【図3】感度不均一性の補正動作のフローチャートであ
る。
【図4】感度不均一性の補正動作を説明する図(1)で
ある。
【図5】感度不均一性の補正動作を説明する図(2)で
ある。
【図6】第2の実施形態の構成ブロック図である。
【図7】第3の実施形態の構成ブロック図である。
【図8】AFモジュールの構成図である。
【図9】相関演算処理を説明する図である。
【図10】解決する課題を説明する図である。
【符号の説明】
1 イメージセンサ 2 光電変換部 3 データバス 4 感度補正部 5、15 感度補正データ記憶回路 6、10、12、14、16 データバス 7 制御回路 8、9 制御バス 11、17 異物検出部 13 A/D変換回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 受光素子を複数有するイメージセンサに
    おいて、 前記受光素子毎における受光感度のばらつきに関するデ
    ータを記憶する補正データ記憶手段を備えたことを特徴
    とするイメージセンサ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のイメージセンサにおい
    て、 前記補正データ記憶手段に記憶された前記データに基づ
    いて、前記受光素子各々の画素出力の信号レベルを調節
    し、前記受光感度のばらつきを補正する補正手段を備え
    たことを特徴とするイメージセンサ。
JP10049571A 1998-03-02 1998-03-02 イメージセンサ Pending JPH11249004A (ja)

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