JP3745514B2 - 中継基板 - Google Patents
中継基板 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3745514B2 JP3745514B2 JP27086097A JP27086097A JP3745514B2 JP 3745514 B2 JP3745514 B2 JP 3745514B2 JP 27086097 A JP27086097 A JP 27086097A JP 27086097 A JP27086097 A JP 27086097A JP 3745514 B2 JP3745514 B2 JP 3745514B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- relay board
- surface side
- relay
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 116
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 37
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 37
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 14
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 14
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 13
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 7
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 6
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 6
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- 229910020220 Pb—Sn Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 2
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001361 White metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920005594 polymer fiber Polymers 0.000 description 1
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000004071 soot Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 239000010969 white metal Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/303—Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3436—Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
Landscapes
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、一主平面上に複数の接続端子を有するBGA型やLGA型集積回路用基板等の基板と、この接続端子に対応する位置に同様に接続端子(取付端子)を備え、この基板を取付けるためのマザーボード等の取付基板との間に介在させる中継基板に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、一方の基板の一主平面に形成された端子と、熱膨張係数の異なる他方の基板の一主平面に形成された端子とを接続する場合に、この2つの基板の間に、中継基板を介在させ、熱膨張係数の差によって生じる応力を緩和するものが知られている。
【0003】
例えば、特公平2−45357号に開示されている基板の接続構造においては、図14(a)に示すような中継基板215が開示されている。この中継基板215は、アルミナからなる中継基板本体210に穿孔したスルーホール内に、メッキにより銅導体219を形成し、さらにPb−5wt%Snの高温ハンダからなるハンダ電極212形成して、両者からなるスルーホール電極214を形成してなるものである。
この中継基板15を、図14(b) に示すように、シリコン基板(シリコンチップ)211とガラスエポキシ製のプリント基板218との間に介在させて、シリコンとプリント基板の熱膨張係数の違いによる接続部の破壊を防止するのである。
【0004】
このような中継基板は、シリコンチップと樹脂製のプリント基板とを接続する場合に用いられるだけでなく、例えば、特開昭61−3497号公報に開示されているように、セラミック製基板と有機プリント板等との間に介在させる例もある。
即ち、特開昭61−3497号公報には、図15に示すように、セラミック基板222と有機プリント板221との間に、ポリウレタン樹脂等からなる接合フレーム(中継基板)225を介在させ、セラミック基板222のパッド229と有機プリント基板221のパッド226との間をIn−Pb等の低融点金属227で接続するものが開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年の技術の進歩により、集積回路チップ(以下、チップともいう)は、益々その集積度が大きくなり、入出力端子数も増大し、チップサイズも大きくなってきている。一方、チップを搭載する集積回路用基板等は、入出力端子数は同様に増大させながら、省スペースや信号伝達速度向上のため、小さなサイズを要求されている。
このような状況のため、チップを搭載する集積回路用基板においては、基板のうち、マザーボード等の他の基板と接続するための端子を形成する接続面には、端子(例えばパッド)が略全面にわたって格子状あるいは千鳥状に形成されることが多くなっている。それに伴い、中継基板も略全面に端子(上記従来例における、ハンダ電極212や低融点金属227等)を形成することが多くなる。
【0006】
ところが、上記したような中継基板(図14、図15参照)の上下面において、略全面に端子を形成した場合には、中継基板を所定位置に移動させる等のハンドリングにおいて、治工具で中継基板を吸着、引っかけ、把持等するためのエリアが確保し難くなる。例えば、基板表面の平坦面を吸着パッド等を用いた吸着治具で吸引し、基板をハンドリングすることは、しばしば行われている。しかし、上記したように上下面の略全面に端子を形成した場合には、吸着パッドで吸引するエリアが確保できなくなる。
また、吸着等のためのエリアを確保できたとしても、ハンドリングのための治工具と中継基板の端子との距離(間隔)を大きく確保できないため、ハンドリング等において、治工具が端子に接触した場合、端子が柔らかい金属で形成されているときには、抉られたり曲げられたりして変形し、接続の信頼性が低下する危険性がある。また、治工具の接触した部分では、汚れが付着する等の原因により、基板の端子との接続性(半田付け性等)が不安定になる危険性もある。
【0007】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、ハンドリングが容易な中継基板を提供することにある。また、他の目的は、中継基板のハンドリング後に、不要部を除去できる中継基板を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段及び効果】
まず、請求項1に記載の解決手段は、一主平面に接続端子を有する基板と、一主平面のうち該接続端子に対応する位置に取付端子を有する取付基板と、の間に介在させ、第1面側で上記接続端子と接続させ、第2面側で上記取付端子と接続させることにより上記基板と上記取付基板とを接続させるための中継基板であって、第1面と第2面とを有する板形状をなす本体部および該本体部の側方に延在してなる膨出部を有する中継基板本体と、上記第1面側に形成された第1面側端子と、上記第2面側のうち上記第1面側端子と対応する位置に、該第1面側端子と電気的に接続して形成された第2面側端子と、を有する中継基板である。
【0009】
本発明によれば、中継基板本体には、本体部の他に膨出部を有するので、中継基板のハンドリング、または、中継基板と基板とを接続した接続体のハンドリングにおいて、この膨出部を吸着したり把持したりして移動等させればよく、確実にハンドリングができる。また、第1、第2面側端子がハンドリングのための治具や工具に触れないため、端子の変形や汚染等を防止できる。さらに、この膨出部を基準として、例えば、膨出部の辺や角部を基準として、中継基板の位置や角度を算出し、基板や取付基板との接続等における位置合わせをすることもできる。
【0010】
ここで、中継基板本体の材質は、基板等との接続時の熱に耐えることができ、基板と取付基板との間に介在させて熱膨張係数の違い等に起因する応力を緩和し、あるいは応力を受けても破壊しない材質から選択するとよい。基板や取付基板の材質等を考慮して、基板または取付基板の材質と同程度、あるいはこれらの中間の熱膨張係数を有する材質が適当であり、具体的には、アルミナ、ムライト、窒化アルミニウム等のセラミックや、エポキシ、ポリイミド、BT、ポリウレタン等の樹脂、あるいはこれらの樹脂とガラスやポリエチレン等の繊維との複合材等が挙げられる。
なお、基板と取付基板の材質について、特に限定はない。この両者の熱膨張係数の違いに起因する応力が発生する関係となっている場合に、本発明の中継基板を適用することが望ましいが、両者の熱膨張係数が略同一の場合に、本発明の中継基板の適用してもよい。基板の接続端子あるいは取付基板の取付端子を形成するのにあたって、パッド上にハンダボール等を配置して、パッドに接続するのは面倒であるので、本発明の中継基板によって一挙に接続したい場合などもあるからである。
【0011】
また、第1面側端子は、中継基板本体の本体部(以下、単に本体部ともいう)の第1面側に形成された端子であって、基板の接続端子と接続するための端子を指す。なお、第1面側端子の具体的な形成場所として、本体部の第1面上に形成されているものが挙げられるが、これに限定されない。例えば、第1面より低位の凹部底面に形成されていても、また、このような凹部から盛り上がって形成されていてもよい。さらには、本体部に形成した貫通孔に貫挿して形成された導体の第1面側部分を第1面側端子としても良い。
同様に、第2面側端子は、本体部の第2面側に形成された端子であって、取付基板の取付端子と接続するための端子を指す。なお、第2面側端子の具体的な形成場所として、本体部の第2面上に形成されているものが挙げられるが、これに限定されない。例えば、第2面より低位の凹部底面に形成されていても、また、このような凹部から盛り上がって形成されていてもよい。さらには、本体部に形成した貫通孔に貫挿して形成された導体の第2面側部分を第2面側端子としても良い。
【0012】
また、基板の接続端子および取付基板の取付端子は、接続のための端子であれば、いずれの形式であってもよく、例えばパッド(ランド)、バンプ、ピン等の形状が挙げられる。
さらに、第1及び第2面側端子は、接続の相手方となる基板の接続端子あるいは取付基板の取付端子と適合する端子であれば、いずれの形式であってもよく、例えばパッド(ランド)、バンプ、ピン等の形状が挙げられる。
【0013】
膨出部は、中継基板をハンドリングするための治工具にあわせて、中継基板を吸着や把持等しやすい形状とすればよいが、例えば、吸着パッド等の吸着治具によって、吸着してハンドリングする場合には、膨出部に吸着に適する平面(吸着面)を形成しておくと良い。
即ち、請求項1に記載の中継基板であって、前記膨出部には、ハンドリングのための吸着に適する平面が形成されていることを特徴とすると良い。
この膨出部を吸着することで、中継基板をハンドリングすることができるようになるからである。
【0014】
なお、この吸着面は、第1面あるいは第2面と一致しているのがよい。しかし、一致せずに、膨出部の吸着面が、第1面と第2面との間に位置するようにしても良い。このようにすると、膨出部の厚さが薄くなるので、膨出部を除去しやすくなる。
【0015】
また、このように膨出部の吸着面が第1面と第2面の間に位置するようにする手法としては、中継基板本体を複数枚のセラミックグリーンシートを積層・焼成して形成する場合には、以下の方法が挙げられる。即ち、複数枚のセラミックグリーンシートを積層して中継基板本体を形成するときに、膨出部のみ、積層枚数を少なくして形成することで、膨出部の厚さが薄くなり、吸着面が第1面と第2面との間に形成される。
このようにして中継基板を形成すると、膨出部を形成しなかったセラミックグリーンシートについては、その分だけ面積が小さくなり、あるいはグリーンシートの打ち抜き間隔を密にできる。このため、同じ大きさの単位グリーンシートから多くの中継基板本体用グリーンシートを打ち抜くことができ、安価な中継基板にできる。
【0016】
さらに、請求項2に記載の解決手段は、請求項1に記載の中継基板であって、前記中継基板本体の本体部のうち、前記第1面の全面にわたって前記第1面側端子が形成され、前記第2面の全面にわたって前記第2面側端子が形成されていることを特徴とする中継基板である。
【0017】
第1、第2面側端子が、本体部の略全面にわたって形成されている中継基板においては、中継基板のハンドリングの際に、本体部の第1または第2面の一部を吸着することができず、側面を把持してハンドリングすることも難しい。
本発明によれば、中継基板本体に形成された膨出部で基板を吸着等してハンドリングできるので、全面にわたって端子が形成されていても、容易にハンドリングすることができる。
【0018】
さらに、請求項3に記載の解決手段は、請求項1または請求項2に記載の中継基板であって、前記第1面側端子および第2面側端子の少なくともいずれかが、前記第1面または第2面から盛り上がる軟質金属体で形成されていることを特徴とする中継基板である。
【0019】
第1面側端子および第2面側端子の少なくともいずれかが、第1面または第2面から盛り上がった軟質金属体で形成されている中継基板では、この第1、第2面側端子が、ハンドリングのための治具や工具に接触すると、曲がったり抉れたりする変形を特に生じやすく、このような変形は接続信頼性の低下を生じさせる。本発明では、膨出部で吸着等してハンドリングするので、このような端子の変形を確実に防止することができ、ハンドリングの容易な、信頼性の高い中継基板とすることができる。
【0020】
ここで、軟質金属体とは、柔らかい金属からなるものを指し、具体的な材質としては、鉛(Pb)やスズ(Sn)、亜鉛(Zn)やこれらを主体とする合金などが挙げられ、Pb−Sn系高温ハンダ(例えば、Pb90%−Sn10%合金、Pb95%−Sn5%合金等)やホワイトメタルなどが挙げられる。また、低融点とするため、BiやIn等の金属を添加、あるいは主成分とするものであっても良い。なお、鉛、ズス等は再結晶温度が常温にあるので、塑性変形をしても再結晶する。したがって、繰り返し応力がかかっても容易に破断(破壊)に至らないので都合がよい。その他、純度の高い銅(Cu)や銀(Ag)も柔らかいので用いることができる。
【0021】
さらに、請求項4に記載の解決手段は、請求項1から請求項3に記載の中継基板であって、前記膨出部は、折り取り可能とされていることを特徴とする中継基板である。
【0022】
本発明によれば、膨出部が折り取り可能とされているので、基板との接続のために中継基板をハンドリングした後、基板と中継基板とを接続して接続体とした後、あるいは、この接続体を取付基板との接続のためにハンドリングした後、さらには、基板と中継基板と取付基板とを接続した構造体とした後に、不要となった膨出部を除去することができる。
即ち、膨出部が折り取ることで、中継基板の外形寸法が小さくできるので、近年の小型化の要請に合致させ、他の部品等との高密度実装が可能となる。
【0023】
ここで、折り取り可能とする手法としては、具体的には、膨出部と本体部との間にブレーク溝を形成しておく方法や、膨出部のうち本体部付近(根元部分)を細く、例えばくさび状に、形成しておく方法が挙げられる。
【0024】
さらに、請求項5に記載の解決手段は、請求項4に記載の中継基板であって、前記中継基板本体の本体部と膨出部との間に、該膨出部を折り取り可能とするブレーク溝を有することを特徴とする中継基板である。
【0025】
本発明によれば、膨出部は、本体部との間のブレーク溝によって折り取り可能とされている。ブレーク溝が形成されていると、このブレーク溝に沿って膨出部を容易に折り取ることができる。また、ブレーク溝に沿って折り取れるので、折り取り後の中継基板本体(本体部)の形状が一定の形状となる。また、破面形状がきれいな状態で折り取り処理することができる。
なお、ブレーク溝の形成方法としては、公知の方法によればよく、具体的には、例えば、中継基板本体をセラミックで形成する場合には、その焼成前に、未焼成のシートにブレードを押しつけて、あるいはレーザ光線によって、V字状溝を形成し、その後焼成する方法が挙げられる。また、セラミックの焼成後、あるいは樹脂の硬化または成形後に、レーザ光線やカッターにより溝を形成する方法も挙げられる。
【0026】
【発明の実施の形態】
つぎに、発明の実施の形態を、図と共に説明する。
図1は、本実施形態にかかる中継基板10の正面図であり、図2は、この中継基板10の部分拡大断面図である。
即ち、図1に示すように、中継基板10は、厚さ0.3mm、一辺25mmの略正方形の平板形状の本体部1Aと、その4つの角部のうち対向する2つの角部(図1において、右上角部と左下角部)に、本体部1Aの側方にそれぞれ延在して形成された膨出部1B,1Cを有する中継基板本体1を有する。本体部1Aおよび膨出部1B,1Cは、いずれも、アルミナを主成分(90%)とするアルミナセラミックからなる。また、この膨出部1B,1Cは、いずれも12×3mmの矩形状とされている。
【0027】
本体部1Aは、図2に示すように、その上下面である第1面1aと第2面1bとの間を貫通する複数の貫通孔H(内径0.8mm)を有する。この貫通孔Hは、1.27mmピッチで格子状に縦横各19ヶ(合計361ヶ)穿孔されており、図1に示すように、本体部1Aのほぼ全面に配置され、本体部1Aの周縁部等には吸着等のためのエリアがほどんど無い状態とされている。
また、中継基板本体1の貫通穴Hの内周および貫通穴縁には、タングステン下地金属層2(厚さ約10μm)およびその上に形成された無電解Ni−Bメッキ層3(厚さ約2μm)が形成され、このNi−Bメッキ層3に軟質金属体6が溶着している。
【0028】
この軟質金属体6は、高温ハンダ(Pb90%−Sn10%)からなり、貫通孔H内に貫挿され、第1、第2面より突出した第1及び第2突出部6a、6bを備え、第2突出部6bの先端(図中下端)は平坦面6sとされている。
さらに、第1突出部6aの上部には共晶ハンダ(Pb37%−Sn63%)からなるハンダ層7(高さ0.08mm)を備えている。
これにより、中継基板10は、第1面1a側に、主として第1突出部6aとハンダ層7とからなる第1面側端子8を、第2面1b側に、主として第2突出部6bからなる第2面側端子9を備えることになる。
【0029】
なお、ここで、第1突出部6aの第1面1aからの突出高さ(第1突出高さ)Z1は0.012mmであり、第2突出部6bの第2面1bからの突出高さ(第2突出高さ)Z2は1.45mmとされている。即ち、突出高さZ1とZ2が異なるようにされており、更にいえば、突出高さはZ1<Z2とされている。また、略柱状とされた第2突出部6bの径は、0.88mmとされている。
【0030】
また、この膨出部1B,1Cと本体部1Aとの間には、例えば、図3に示すように、厚さ方向に厚さの約20〜70%の深さで、V字状のブレーク溝BRがそれぞれ形成されている。
【0031】
次いで、この中継基板10を、例えば以下のようにして基板および取付基板と接続する。
まず、中継基板10と接続する基板として、図4(a) に示すような、厚さ1.0mm、一辺25mmの略正方形状のLGA型基板20を用意した。このLGA型基板20は、中継基板本体1と同様のアルミナセラミックからなり、図中上面20aにICチップ(図示しない)をフリップチップ接続により載置するためのフリップチップパッド21を備え、図中下面20bに外部接続端子として接続パッド22を備えている。この接続パッド22は、直径0.86mmで、中継基板10の軟質金属体6の位置に適合するように、ピッチ1.27mmの格子状に縦横各19ヶ配列され、下地のモリブデン層上に無電解Ni−Bメッキが施され、さらに酸化防止のために薄く無電解金メッキが施されている。また、図示しない内部配線によって、フリップチップパッド21と接続パッド22とがそれぞれ接続している。
【0032】
また、取付基板として、図4(b) に示すようなプリント基板40を用意した。プリント基板40は、厚さ1.6mm、一辺30mmの略正方形板状で、ガラス−エポキシ樹脂複合材料(JIS:FR−4)からなり、主面40aには、LGA型基板20の接続パッド22と、したがって、中継基板10の軟質金属体6とも対応する位置に、取付パッド42が形成されている。この取付パッド42は、厚さ25μmの銅からなり、直径0.72mmで、ピッチ1.27mmで格子状に縦横各19ヶ、計361ヶ形成されている。
【0033】
まず、中継基板10とLGA型基板20とを重ねて最高温度220℃のリフロー炉を通過させ、第1面側端子8のうち、共晶ハンダからなるハンダ層7を溶融させて、第1面側端子8と接続パッド22とを接続し、図5(a) に示すように、接続体60を形成する。
【0034】
このとき、中継基板10とLGA型基板20とを治具Jに載せて、リフロー炉内を移動させるため、両者を治具J上にセットする必要がある。このため、中継基板10も治具Jの所定セット位置に移動させる必要がある。
本実施形態においては、図5(b) に示すように、膨出部1B,1Cのうち、本体部1Aの第1面1aと同じ平面に属する吸着面(図中上面)1Ba,1Caを、先端に吸着パッドを有する吸着治具K1,K2で吸着することで、中継基板10を持ち上げて、治具J上に移動させた。本実施形態では、膨出部1B,1Cを吸着して中継基板10を保持したので、吸着治具K1,K2のための吸着エリアを確保することもでき、確実に吸着することができた。さらに、本体部1Aよりも側方に延在して形成された膨出部1B,1Cで、吸着したので、吸着治具K1,K2が第1面側端子8に接触することもなく、第1面側端子8を変形させたり、汚染することがない。
【0035】
また、LGA型基板20と中継基板10とを、正しく位置決めして接続するには、中継基板10の位置(膨出部の位置)を計測する必要がある。本実施形態においては、膨出部1B,1Cを、本体部1Aの所定位置に所定の矩形状で形成したので、この膨出部1B,1Cを公知の画像認識技術で認識し、中継基板10の位置や角度を算出して治具J上にセットし、さらに、膨出部1B,1Cを認識して、LGA型基板20を中継基板10上にセットした。
中継基板10(本体部1A)とLGA型基板20とは、その平面形状が同じ25mm角であるため、中継基板10にLGA型基板20を重ねると、上方から見たときに、中継基板10がLGA型基板20に隠れてしまい、LGA型基板20の位置決めが不正確になりがちである。
しかし、本実施形態では、膨出部1B,1Cから中継基板10の位置が割り出せるので、LGA型基板20に本体部1Aが隠れてしまっても、容易に正しく位置決めすることができる。
【0036】
その後、予め取付パッド42上に低融点ハンダペースト(共晶ハンダペースト)Sを約250μmの厚さに塗布したプリント基板40と、接続体60とを接続する。
即ち、図6(a) に示すように、中継基板10の膨出部1B,1Cの吸着面1Ba,1Caを、吸着治具K1,K2で吸着することで、接続体60を持ち上げて、プリント基板40上に移動させる。その後、第2面側端子9(第2突出部6b)を取付パッド42と位置を合わせるようにして突き当てて、接続体60をプリント基板40上に載置する。ついで、これらを最高温度220℃のリフロー炉を通過させて加熱することにより、取付パッド42上の低融点ハンダペーストSを溶融させてハンダ層43とし、図6(b)に示すように、基板20−中継基板10−プリント基板40の三者を接続した構造体50を形成した。
【0037】
なお、第2面側端子9(第2突出部6a)の先端(図中下端)は、平坦面6sとされているので、リフロー時の振動等にって、第2面側端子9と取付パッド42とが位置ずれして接続されるのが防止される。平坦面6sがペーストSに密着するので、横ずれに対して抵抗となるからである。
【0038】
本実施形態では、膨出部1B,1Cを吸着して接続体60を保持したので、LGA型基板20の上面20aが吸着エリアを確保できる形状等にされているか否かに拘わらず、吸着治具K1,K2の吸着エリアを確保することができ、確実に吸着することができた。即ち、LGA型基板20の上面20aの形状等に拘わらず、膨出部1B,1Cを吸着することで、接続体60を吸着治具K1,K2で吸着して、ハンドリングすることができる。
【0039】
この構造体50では、基板20の下面20bと中継基板本体1の第1面1aとの間隔A1は0.10mmとなり、一方、中継基板本体1の第2面1bとプリント基板40の上面40aとの間隔A2は1.48mmとなった。
なお、本例では、ハンダ層7とハンダ層43(低融点ハンダペーストS)に同じ共晶ハンダを用いた例を示したが、例えば、ハンダ層7に融点の高いハンダを用いることにより、ハンダ層43を形成するときに、ハンダ層7が溶融しないようにするなど、ハンダ層7の融点をハンダ層43の融点より高くしてもよい。
【0040】
その後、膨出部1B,1Cは不要となり、むしろプリント基板40の上面40aへ、他の部品(基板、抵抗、コンデンサその他)を実装するのあたって、邪魔になるので、折り取って除去する。
この折り取りは、既に図3と共に説明したように、予め形成しておいたブレーク溝BRを用いて行う。即ち、膨出部1B,1Cを折り曲げようとすると、ブレーク溝BRに沿って本体部1Aと膨出部1B,1Cとの間が破断し、膨出部1B,1Cを折り取ることができる。
【0041】
なお、本実施形態では、膨出部1B,1Cの折り取りを、構造体50を形成した後に行った例を示したが、プリント基板40に接続体40を接続する前に、即ち、接続体60を形成した後に、膨出部1B,1Cを折り取っても良い。ただし、このようにした場合には、接続体60をプリント基板40上に載置するにあたっては、別の方法、例えば、LGA型基板20の上面20aを吸着する等によって、接続体60をハンドリングする必要がある。
【0042】
ついで、本実施形態の中継基板の製造方法について説明する。
まず、中継基板本体1を次のようにして形成する。即ち、周知のセラミックグリーンシート形成技術によって、アルミナセラミックを主成分とするグリーンシートを用意する。ついで、図7に示すように、略正方形状のシート本体部G1A,G2A,G3Aと、その対向する2つの角部に矩形状のシート膨出部G1B,G1C,G2B,G2C,G3B,G3Cとを、それぞれ有するシートG1,G2,G3を打ち抜き形成する。また、このシートG1,G2,G3には、それぞれ貫通孔H1,H2,H3が、各シートの打ち抜きと同時、あるいはその前または後に打ち抜かれて形成されている。この3枚のシートG1,G2,G3を重ねて圧着することで、貫通孔H1,H2,H3を積み重ねた貫通孔Hを有し、積層されたシートGとする。
【0043】
その後、図7に破線で示したように、V字状溝GBRをブレーク溝入れ用ブレードBBによって形成する。即ち、積層されたシート本体部G1A,G2A,G3Aとシート膨出部G1B,G2B,G3BおよびG1C,G2C,G3Cとの間の部分に、全体の厚さの約20〜70%の深さのV字状溝GBRができるように、ブレードBBをシートGに押しつける。
これにより、シートGの焼成後に、V字状の溝が形成され、ブレーク溝BRとなる。
なお、ブレーク溝BRは、他の方法によって形成してもよく、例えば、中継基板本体1を焼成した後に、レーザ光線やカッターによって溝を形成しても良い。ただし、レーザ光線でブレーク溝を形成する場合には、溝が連続して形成されていなくともよく、いわばミシン目状に点々と形成されていても良い。
また、ブレードBBによってV字状溝GBRを形成するのを、次述するタングステンペーストPの塗布後に行っても良い。
【0044】
次いで、図8(a)に示すように、貫通孔Hの内周面及び貫通孔周縁HPに、タングステンペーストPを塗布する。
さらに、このシートGを還元雰囲気中で最高温度約1550℃にて焼成し、図8(b) に示すようなセラミック製中継基板本体1およびタングステンを主成分とする下地金属層2を形成する。焼成後の中継基板本体(以下、本体ともいう)1の本体部1Aは、厚さ0.3mmで、一辺25mmの略正方板形状を有し、第1面1aと第2面1bとの間を貫通する貫通孔Hの内径はφ0.8mmで、1.27mmのピッチで格子状に、縦横各19ヶ、計361ヶ(=19×19) の貫通孔が形成されている(図1参照)。また、下地金属層2の厚さは約10μmである。
【0045】
さらに、この下地金属層2上に、図8(c) に示すように、厚さ約2μmの無電解Ni−Bメッキ層3を形成して、両者で後述するように軟質金属を溶着する金属層4を形成する。さらに、Ni−Bメッキ層3の酸化防止のため、Ni−Bメッキ層3上に厚さ0.1μmの無電解金メッキ層(図示しない)を形成する。
【0046】
次いで、貫通孔H内を貫くように軟質金属体6を形成する。本実施形態では溶融軟質金属受け治具Nを用いて柱状の軟質金属体6を形成する。即ち、図9(a) に示すように、耐熱性があり溶融した高温ハンダに濡れない材質であるカーボンからなるハンダ片保持治具Nの上面には、貫通孔Hにそれぞれ対応した位置に、直径0.9mm、深さ1.95mmで、先端が円錐状の凹部N1が形成されている。また、保持治具Nの凹部N1の頂部(図中最下部)には、保持治具Nを下方に貫通する小径(φ0.2mm)のガス抜き孔N2がそれぞれ形成されている。
【0047】
まず、この保持治具Nの各凹部N1に直径0.8mmの高温ハンダ(Pb90%−Sn10%ハンダ)ボールD1を投入しておく。本例では、各凹部にそれぞれ2ヶ投入した。
次いで、凹部N1の端部(上端)に直径1.0mmの高温ハンダ(Pb90%−Sn10%ハンダ)ボールD2を載置する。
このとき、凹部N1内に既に投入されているボールD1とボールD2とが接触しないで、かつ後述する高温ハンダの溶融時には両者が接触するように、間隔をわずかに空けておくのが好ましい。このようにするとボールD2が凹部N1の上端縁にぴったりと接触して動かなくなり(あるいは動き難くなり)、後述する中継基板本体1を載せるときの位置合わせが容易になるからである。
【0048】
その後、図9(b) に示すように、ボールD2の図中上方に中継基板本体1を載置する。このとき、貫通孔HにボールD2がはまるように位置決めをする。
さらに、中継基板本体1の上方、即ち、ボールD2のある側とは反対側から、耐熱性があり溶融した高温ハンダに濡れない材質であるステンレスからなる荷重治具Qの平面(図中下面)Q1を本体1の上面に押し当てるようにして載せて、下方に圧縮する。
【0049】
次いで、窒素雰囲気下で、最高温度360℃、最高温度保持時間1分のリフロー炉にこれらを投入し、高温ハンダボールD1、D2を溶融させる。
すると、溶融した高温ハンダD2は、荷重治具Qにより図中下方に押し下げられた本体1の貫通孔H内に貫挿されるとともに、貫通孔Hの内周の金属層4と溶着する。一方、貫通孔Hの上端部では、荷重治具Qの平面Q1に倣って平面状になる。また、高温ハンダD2は、保持治具Nの凹部N1内にも注入される。すると、溶融した高温ハンダD1と接触し、両者は表面張力により一体となろうとする。ところが、高温ハンダD2は、金属層4と溶着し本体1と一体となっているので、本体1から離れて下方に落下することができないため、重力に抗して高温ハンダD1を上方に引き上げる形で一体化する。なお、本体1は荷重治具Qにより保持治具Nの上面N3に押し当てられた状態まで押し下げられる。
【0050】
また、ガス抜き孔N2は、高温ハンダボールD1、D2を溶融させるときに、凹部N1内に閉じこめられた空気を逃がす役割をする。ただし、受け治具Nがハンダに濡れず、ガス抜き孔N2が小径であるので、ハンダがガス抜き孔N2に浸入することはない。
【0051】
その後、冷却して高温ハンダを凝固させると、図10に示すように、中継基板本体1の図中下方側には、側面は凹部N1の側壁の形状に倣い、図中下端即ち、頂部は略半球状となった第2突出部6bを有し、上方側にはほとんど突出しない形状の軟質金属体6を有する中継基板10が形成された。
【0052】
なお、Ni−Bメッキ層3上の金メッキ層は、溶融した高温ハンダ中に拡散して消滅するので、高温ハンダとNi−Bメッキ層3とが直接溶着し、高温ハンダからなる軟質金属体6は、中継基板本体1に固着される。
【0053】
ついで、図11に示すように、第2突出部6bの頂部(図中下端部)をラップ研磨により除去し、その先端を軟質金属体6の軸線に略垂直な平坦面6sとした。
これにより、本例では、第2突出部6b、即ち、第2面側端子9は、横断面の直径(最大径)0.88mm、突出高さZ2は1.45mmであり、その直径(最大径)よりも頂部までの高さの高い略円柱状となった。一方、図中上面側においては上面からの第1突出高さZ1は0.012mmであった。なお、研磨により各第2突出部6bの先端の平坦面6sが、いずれも略同一平面上に位置するようにしたので、第2面側端子9(第2突出部6b)の先端のコプラナリティを小さくできる。
【0054】
ついで、図12に示すように、軟質金属体6の上面に直径0.4mmの低融点ハンダボール(Pb−Sn共晶ハンダボール)Eyを載置する。なお、このボールEyを載置するには、軟質金属体の上方にボール規制板Rの透孔RHが位置するようにセットし、この規制板R上にボールEyを散播いて揺動し、透孔RHにボールEyを落とし込む方法によると容易に載置できる。本例においては、規制板Rの厚みは0.5mm、透孔RHの直径は0.6mmである。
なお、本実施形態においては、図12に示すように、第2突出部6bの先端がそれぞれはまりこむ凹部U1を有する軟質金属体保持治具Uを用い、この治具Uの凹部U1に第2突出部6bの先端をそれぞれ嵌め込んだ状態で行うと都合がよい。軟質金属体6は柔らかく変形しやすい高温ハンダから形成されているからである。
【0055】
しかる後、窒素雰囲気下で、最高温度220℃、最高温度保持時間1分のリフロー炉にこれらを投入し、低融点ハンダボールEyを溶融させる。なお、この温度条件では軟質金属体6は溶融しない。溶融した低融点ハンダは、軟質金属体6の図中上面に濡れて拡がり、ハンダ層7となり、第1突出部6aとハンダ層7とからなる第1面側端子8を有する中継基板10が完成する(図2参照)。
このハンダ層7は、低融点ハンダボールEyの体積が一定に規制されているので、一定量(体積)となり、高さも均一になる。本例においては、基板本体1の図中上面からハンダ層7の頂部(図中最上端)までの高さが0.08mmであった。
【0056】
このようにして、図1および図2に示すように、図中第1、第2面1a,1bの間を貫通する貫通孔Hを有する本体部1Aと、本体部1Aの側方に形成された膨出部1B,1Cとを有する中継基板本体1と、第1面側端子8と、第2面側9と、を有する中継基板10が形成できた。また、この中継基板10には、図3に示すように、ブレーク溝BRも形成できた。
なお、本実施形態においては、第2面側端子9(第2突出部6b)を軟質金属体である高温ハンダで、円柱状に形成した。これは、軟質金属の塑性変形によって、中継基板本体1とプリント基板40との熱膨張係数の違いに起因する熱応力を吸収して、両者間の接続信頼性を向上させるためである。また、さらに、第2突出部6b自身が撓み変形によっても応力を吸収できるように、第2突出部6bの長さ(高さ)を高くしている。
【0057】
上記実施形態においては、中継基板本体1に設けた膨出部は、2ヶ(2ヶ所)であったが、膨出部の位置や数、形状等は適宜選択できるものである。例えば、図13に、膨出部の位置及び数を変更した例を示す。例えば、図13(a) では、4つの膨出部1B〜1Eが、それぞれ本体部1Aの角部に形成されている。また、図13(b) では、2つの膨出部1B,1Cが、本体部1Aの図中上辺及び下辺の中央部に形成されている。図13(c) では、2つの膨出部1B,1Cが、本体部1Aの対向する角部付近に、図中左右の辺より膨出部が突出しないようにして形成されている。また、図13(d) では、3つの膨出部1B,1C,1Dが、上辺の2ヶ所と下辺の中央部に形成されている。
膨出部の数や大きさは、吸着や把持等する方法や使用する吸着パッドの大きさ等に応じて変えることができ、十分に中継基板を保持できるならば、1つ(1ヶ所)でも良い。
【0058】
また、上記実施形態及び図13に示す形状例では、膨出部の形状を矩形状(特に長方形)としたが、吸着治具の形状、製造のしやすさ等を考慮し、その他の形状としてもよく、例えば、略正方形、略半円形や略円形とすることが挙げられる。
【0059】
なお、図13(b)(c)(d) では、膨出部1B等と本体部1Aとの間にブレーク溝BRが、それぞれ形成されており、このブレーク溝BRに沿って折り取るようにされている。このようにブレーク溝BRを形成しておくと、破断する距離が長くとも、ブレーク溝に沿って破断させることができるため、折り取り後の形状を安定させることができる。
一方、図13(a) では、本体部1Aと膨出部1B〜1Eとのそれぞれの間は、くさび状に細く形成されており、容易に膨出部1B〜1Eが折り取れるようにされている。このようにするには、前記したように、グリーンシートを打ち抜くときに、抜き型の形状をくさび状にする。このように、本体部と膨出部との間を細くすることで、折り取りやすくする場合には、前記したブレーク溝BRの形成のための工程が不要であるので、安価に形成できる利点がある。
【0060】
さらに、本実施形態では、中継基板本体1に貫通孔Hを設け、軟質金属体を貫挿し、その両側を、それぞれ第1,第2面側端子とした。しかし、第1、第2面側端子としては、他の形態であっても良いことは明らかである。即ち、第1、第2面側端子は、その他に、パッド、バンプ、ピン、さらには、第1あるいは第2面より低位とした凹部の底面に形成したパッド、バンプ、ピンなどが挙げられる。また、第1面側端子と第2面側端子とを電気的に接続する手法としては、ビアやスルーホールによる手法が挙げられる。
【0061】
さらに、本実施形態では、本体部1Aも膨出部1B,1Cも、3枚のグリーンシートG1,G2,G3を積層して形成した。このため、本体部1Aの第1面1aと、膨出部1B,1Cの吸着面1Ba,1Caとは、略同一平面内に属していたが、第1面1aと吸着面1Ba,1Caとが同一平面内にある必要はない。例えば、図7において、シートG1,G3には、シート膨出部G1B,G1C,G3B,G3Cを形成しないようにし、シートG2のみシート膨出部G2B,G2Cを有するようにする。このようにすると、焼成後の中継基板本体1のうち、膨出部1B,1Cの厚さが薄くなり、膨出部の吸着面1Ba,1Caは、第1面1aとは異なる平面(第1面1aと第2面1bとの間の平面)に属することとなる。
【0062】
その他、シートG1のみに、あるいはG1とG2に、シート膨出部G1B等を形成するようにしても良い。この場合には、吸着面1Ba,1Caと第1面1aとは、略同一平面に属することになるが、膨出部1B,1Cに厚さは薄くできる。
【0063】
いずれにしても、膨出部1B,1Cを薄くすると、折り取り除去し易くなる。また、シート膨出部を形成しないシートについて見ると、シート膨出部G1B等の分だけ、面積の小さいシートで足りる。さらに言えば、ある単位の幅、または幅及び長さを有する単位グリーンシートから、一定の間隔を空けて打ち抜いて各シートG1等を形成するので、膨出部G1B、G1C等がある場合には、隣接して打ち抜くシートとの間隔を大きく取らなければならず、打ち抜き工程においてグリーンシートに無駄が生じやすい。従って、シート膨出部を形成するシートを少なくすると、同じ面積の単位グリーンシートから取れるシートG1等の数が増え、結果として安価な中継基板とすることができる。
【0064】
さらに、本実施形態では、セラミック製の中継基板本体1を用いたが、中継基板本体の材質は、前記したように、セラミックに限定されない。即ち、例えば、エポキシ、ポリイミド、BT、ポリウレタン等の樹脂や、ガラス−エポキシ樹脂複合材料のようなこれらの樹脂とガラス繊維やポリマー繊維等との複合材料等を用いることが出来る。
なお、このような樹脂を含んだ中継基板本体を用いる場合には、樹脂の耐熱性を考慮して、軟質金属体6や第1、第2面側端子8,9に、本実施形態で用いた高温ハンダに代えて、Pb−Sn共晶ハンダやさらに融点の低いBiやIn系のハンダを用いるのが好ましい。
【0065】
また、以上では、本発明を実施形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲を逸脱しない限り、適宜変更して適用することが出来ることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 中継基板の正面図である。
【図2】 中継基板の部分拡大断面図である。
【図3】 中継基板の本体部と膨出部の間に形成されたブレーク溝を説明するための説明図で、(a)は膨出部近傍の部分拡大正面図、(b) はそのTT’断面図である
【図4】 (a)は、LGA型基板の断面図、(b) は、プリント基板の断面図である。
【図5】 (a)は、接続体の断面図、(b) は、中継基板を吸着して移動させる様子を示す説明図である。
【図6】 (a)は、接続体を吸着して移動させる様子を示す説明図、(b) は、構造体の断面図である。
【図7】 中継基板の製造方法のうち、3枚のグリーンシートを積層する様子を示す説明図である。
【図8】 中継基板の製造工程のうち、中継基板本体の製造までを説明する説明図である。
【図9】 中継基板の製造工程のうち、高温ハンダボールを貫通穴に貫挿する工程を説明する説明図である。
【図10】 中継基板の製造工程のうち、軟質金属体を中継基板本体の貫通穴に貫挿した状態を説明する説明図である。
【図11】 第2突出部の先端を平坦化した状態を示す説明図である。
【図12】 中継基板の第1面側に、ハンダ層を形成する工程を説明する説明図である。
【図13】 中継基板の膨出部の位置や数を変えた場合の例を示す正面図である。
【図14】 従来例の中継基板について、(a) は中継基板の構造を、(b) は2つの基板間に中継基板を介在させた状態を示す説明図である。
【図15】 他の従来例の中継基板を、2つに基板間に介在させた状態を示す説明図である。
【符号の説明】
10:中継基板
1:中継基板本体 1A:本体部 1B,1C:膨出部
1a:第1面 1b:第2面
H:貫通孔
2:下地金属層
3:Ni−Bメッキ層
6:軟質金属体 6a:第1突出部 6b:第2突出部 6s:平坦面
7:ハンダ層
8:第1面側端子
9:第2面側端子
BR:ブレーク溝
20:LGA型基板
22:接続パッド
40:プリント基板
42:取付パッド
60:接続体
50:構造体
K1,K2:吸着治具
Claims (5)
- 一主平面に接続端子を有する基板と、一主平面のうち該接続端子に対応する位置に取付端子を有する取付基板と、の間に介在させ、第1面側で上記接続端子と接続させ、第2面側で上記取付端子と接続させることにより上記基板と上記取付基板とを接続させるための中継基板であって、
第1面と第2面とを有する板形状をなす本体部および該本体部の側方に延在してなる膨出部を有する中継基板本体と、
上記第1面側に形成された第1面側端子と、
上記第2面側のうち上記第1面側端子と対応する位置に、該第1面側端子と電気的に接続して形成された第2面側端子と、
を有する中継基板。 - 請求項1に記載の中継基板であって、
前記中継基板本体の本体部のうち、前記第1面の全面にわたって前記第1面側端子が形成され、前記第2面の全面にわたって前記第2面側端子が形成されていることを特徴とする中継基板。 - 請求項1または請求項2に記載の中継基板であって、
前記第1面側端子および第2面側端子の少なくともいずれかが、前記第1面または第2面から盛り上がる軟質金属体で形成されていることを特徴とする中継基板。 - 請求項1から請求項3に記載の中継基板であって、
前記膨出部は、折り取り可能とされていることを特徴とする中継基板。 - 請求項4に記載の中継基板であって、
前記中継基板本体の本体部と膨出部との間に、該膨出部を折り取り可能とするブレーク溝を有することを特徴とする中継基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27086097A JP3745514B2 (ja) | 1997-10-03 | 1997-10-03 | 中継基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27086097A JP3745514B2 (ja) | 1997-10-03 | 1997-10-03 | 中継基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11111409A JPH11111409A (ja) | 1999-04-23 |
JP3745514B2 true JP3745514B2 (ja) | 2006-02-15 |
Family
ID=17491990
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27086097A Expired - Fee Related JP3745514B2 (ja) | 1997-10-03 | 1997-10-03 | 中継基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3745514B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001353716A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-25 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック集合基板へのブレーク溝形成方法 |
JP4638785B2 (ja) * | 2005-07-20 | 2011-02-23 | アルプス電気株式会社 | 接続用電子部品の製造方法、ならびに、前記接続用電子部品を用いた接続装置の製造方法 |
-
1997
- 1997-10-03 JP JP27086097A patent/JP3745514B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11111409A (ja) | 1999-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3116273B2 (ja) | 中継基板、その製造方法、基板と中継基板と取付基板とからなる構造体、基板と中継基板の接続体 | |
US5484964A (en) | Surface mounting pin grid arrays | |
JPH06334298A (ja) | 表面実装部品の搭載構造 | |
KR101321190B1 (ko) | Mosfet bga용 절곡 프레임 캐리어 | |
WO2005071744A1 (ja) | 積層型電子部品および積層型電子部品の実装構造 | |
JP3145331B2 (ja) | 中継基板、その製造方法、基板と中継基板と取付基板とからなる構造体、基板と中継基板の接続体および中継基板と取付基板の接続体の製造方法 | |
JP3745514B2 (ja) | 中継基板 | |
JP3272993B2 (ja) | 中継基板、その製造方法、及びその接続方法 | |
JP2006216631A (ja) | 配線基板およびその製造方法 | |
JP3756300B2 (ja) | 中継基板およびその製造方法 | |
JP2001035966A (ja) | 配線基板および中継基板 | |
JP3034231B2 (ja) | 中継基板 | |
JP3754809B2 (ja) | 中継基板およびその製造方法 | |
WO2008004423A1 (fr) | Carte de câblage ayant un conducteur en forme de colonne et son procédé de fabrication | |
US6646332B2 (en) | Semiconductor package device | |
JP2891085B2 (ja) | 半田ボール電極形成方法及びその半田ボール電極形成方法に用いる半田微細球位置決め治具 | |
JP2001284800A (ja) | はんだによるスルーコンタクトを有する出力半導体モジュールのための基板及び該基板の製作法 | |
JP3889888B2 (ja) | ピン立設板及び樹脂製配線基板 | |
JPH0837254A (ja) | 電子回路装置 | |
JP5067107B2 (ja) | 回路基板および半導体装置 | |
JPH023266Y2 (ja) | ||
JP4802679B2 (ja) | 電子回路基板の実装方法 | |
JPH05327161A (ja) | 電子回路モジュール | |
JP3728375B2 (ja) | 中継基板 | |
JPH11135673A (ja) | 配線基板および中継基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050705 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050901 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051025 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051117 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081202 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091202 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091202 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091202 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |