JP3727670B2 - マイクロコントローラ - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明はマイクロコントローラに関し、特に電子機器に組み込まれるマイクロコントローラに関する。
【0002】
近年では電子機器の高機能化がめざましく、さまざまな機器に組込用マイクロコントローラが使用されている。そのため組み込まれるマイクロコントローラ側にも色々な動作モードに対応する必要が生じており、そのモードごとの動作チェックも不可欠となっている。また携帯機器等への組込みも活発であるため、低消費電力化のために不必要な時には内部動作を停止するような機能を持たせるものが多くなってきている。
【0003】
【従来の技術】
図5,図6夫々は従来のマイクロコントローラの各例のブロック図を示す。図5において、クロック発振回路10で生成されたクロック信号は内部クロック生成回路11に供給され、ここで各種の内部クロック信号が生成されて論理演算回路12に供給される。端子15に外部より供給される所定期間“1”のリセット信号はリセット延長回路16で所定時間延長されて論理演算回路12に供給され、これをリセットする。
【0004】
端子17,18,19には動作モードを指示するモード信号が入来しラッチ回路20,21,22夫々に供給される。ラッチ回路20〜22夫々は延長されたリセット信号が“1”のとき、アンド回路23から内部クロック信号を供給されて端子17〜19夫々よりのモード信号をラッチする。端子19のモード信号はノーマル動作/テスト動作を指示しており、ラッチ回路22出力は論理演算回路12に供給される。また、ラッチ回路20〜22出力は動作モード選択回路24に供給されてデコードされ、動作モード選択回路24出力により論理演算回路12の内部動作が制御される。
【0005】
図6においては、電源投入直後にクロック発振回路10の動作が安定するのを待つために、発振安定待ちカウンタが設けられている。カウンタ25は端子15より“1”のリセット信号を供給されてリセットされた後、クロック発振回路10の出力するクロック信号をカウントしてカウント値が所定値を越えるとリセット延長回路16に設けられた起動フリップフロップ26をセットする。このフリップフロップ26のセットによりリセット延長回路16が動作を開始し、リセット信号を延長して論理演算回路12及びアンド回路23に供給する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
図5,図6に示す従来回路では端子17〜19を動作モード設定専用に割当て、リセット時の端子17〜19夫々の信号レベルによって動作モードを選択している。この場合、マイクロコントローラチップの外部端子数は実装の面から制限されているため、できるだけ少なくしなければならない。しかし、動作モードの設定の容易さ、つまり試験の容易さは直接外部端子から設定できる項目が多いほど簡単になるため、どうしても動作モード設定用の端子数が多くなるという問題があった。
【0007】
また、図6に示す従来回路では発振安定待ちカウンタ25及びフリップフロップ26を設けているために、リセットして動作モードをテストモードに切換えた場合もカウンタ25による所定時間は試験を行うことができず、この待ち時間があるために試験時間が増大するという問題があった。
【0008】
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、試験時における発振安定待ちをなくし試験時間を短縮することができ、また、外部端子が増加することなく動作モード設定用のモード信号のビット数を増加できるマイクロコントローラを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、クロック信号を生成するクロック発振回路と、
上記クロック信号から得られる内部クロック信号を供給されて動作する論理演算回路と、
起動された後に外部端子より供給されるリセット信号を所定時間延長して上記論理演算回路に供給するリセット延長回路と、
外部端子より供給されるモード信号を上記リセット延長回路がリセット信号を出力する期間にラッチする第1のラッチ回路と、
上記第1のラッチ回路のモード信号に応じて上記論理演算回路の動作モードを切換える動作モード選択回路とを有するマイクロコントローラであって、
外部端子より供給されるモード信号が通常モードを指示する場合は、上記外部端子よりリセット信号が供給された後、上記クロック信号をカウントしたカウント値が所定値となった後に上記リセット延長回路を起動するとともに、上記外部端子より供給されるモード信号がテスト動作モードを指示する場合は、上記カウント値が所定値となるのを待たずに上記リセット延長回路を起動する発振安定待ち回路と、
上記外部端子より供給されるモード信号を上記外部端子からリセット延長回路にリセット信号が供給される期間にラッチする第2のラッチ回路とを有し、
上記動作モード選択回路で上記第1及び第2のラッチ回路の両方のモード信号に応じて上記論理演算回路の動作モードを切換える。
【0011】
【作用】
請求項1記載の発明においては、動作モードが通常モードである場合は、外部端子よりリセット信号が供給された後、クロック信号をカウントして所定時間後にリセット延長回路を起動するとともに、動作モードがテスト動作モードである場合は、所定時間待たずに上記リセット延長回路を起動するため、テスト動作モード時には発振安定待ち回路による待ち期間の設定が無効化されるため、待ち時間なく試験を行うことができ、試験時間を短縮できると共に、動作モード選択回路で第1及び第2のラッチ回路のモード信号に応じて上記論理演算回路の動作モードを切換えるため、単一の外部端子で2ビットのモード信号を入力でき、外部端子数の増加なくモード信号のビット数を増加できる。
【0013】
【実施例】
図1は本発明のマイクロコントローラの一実施例のブロック図を示す。同図中、クロック発振回路30で生成されたクロック信号は内部クロック生成回路31に供給され、ここで各種の内部クロック信号が生成されて論理演算回路32に供給される。端子35に外部より供給される所定期間“1”のリセット信号はリセット延長回路36で所定時間延長されて論理演算回路32に供給され、これをリセットする。なお、リセット信号の“1”の期間よりもリセット延長回路36の延長時間が長く設定されている。
【0014】
端子37,38,39には動作モードを指示するモード信号が入来しラッチ回路24,41,42夫々に供給され、また端子39のモード信号はラッチ回路46にも供給される。ラッチ回路40〜42夫々はリセット回路36で延長されたリセット信号が“1”となったとき、アンド回路43を通して内部クロック信号を供給されて端子37〜39夫々よりのモード信号をラッチする。また、ラッチ回路46は端子35から入来するリセット信号が“1”となったときアンド回路45を通して内部クロック信号を供給されて端子39よりのモード信号をラッチする。
【0015】
ラッチ回路46でラッチされたモード信号はノーマル動作/テスト動作を指示する信号として論理演算回路32に供給されると共に、動作モード選択回路44に供給される。またラッチ回路40〜42夫々でラッチされたモード信号は動作モード選択回路44に供給される。動作モード選択回路44はこのモード信号をデコードして制御信号を生成し論理演算回路32に供給する。これによって論理演算回路32の内部動作が制御される。
【0016】
ここで、このマイクロコントローラの試験を行う場合、端子39にテスト動作を指示する。例えば“1”のモード信号を供給した状態で、端子35に所定期間“1”のリセット信号を供給する。このリセット信号が“1”となると、アンド回路45を通してラッチ回路46に内部クロック信号が供給され、上記“1”のモード信号がラッチ回路46にラッチされる。
【0017】
この後“1”のリセット信号がリセット延長回路36で延長されている間に、端子37〜39夫々にどのような試験を行うかを指示するモード信号MD0〜MD2を供給する。リセット延長回路36で延長されたリセット信号が“1”となると、アンド回路43を通して内部クロック信号がラッチ回路40〜42夫々に供給され、上記モード信号MD0〜MD2がラッチ回路40〜42にラッチされる。
【0018】
このようにラッチ回路46と40〜42とのラッチタイミングに位相差を設けることにより端子39から入力するモード信号を1ビット増加させることができる。つまり、外部端子数を増加させることなく、動作モード設定用のモード信号のビット数を増加することができ、試験を簡単に行うことができる。
【0019】
なお、テスト動作時と同様にノーマル動作時においても、動作モードの設定を行うことができる。更に、端子37,38夫々についてもアンド回路45出力でラッチするラッチ回路を追加し、端子39にリセット信号が入来したタイミングでラッチしたモード信号を動作モード選択回路44に供給して、更にモード信号のビット数を増加させても良い。
【0020】
図2は本発明のマイクロコントローラの他の実施例のブロック図を示す。同図中、図1と同一部分には同一符号を付し、その説明を省略する。図2において、発振安定待ちカウンタ50は端子35より“1”のリセット信号を供給されるとカウント値をリセットし、その後クロック発振回路30よりのクロック信号をカウントして、カウント値が所定値となってクロック発振回路30の動作が安定すると“1”のセット信号を出力する。
【0021】
このセット信号はオア回路51を通してリセット延長回路36に設けられた起動フリップフロップ52に供給され、フリップフロップ52をセットする。リセット延長回路36はフリップフロップ52がセットされているときのみ端子35から供給されるリセット信号の延長動作を行う。このため、ノーマル動作モードではリセット延長回路36はクロック発振回路30の動作が安定した後で端子35より入来するリセット信号を遅延して論理演算回路32に供給する。
【0022】
また、端子39にはノーマル動作を“0”でテスト動作を“1”で指示するモード信号が入来し、ラッチ回路42及びオア回路51に供給される。このため、テスト動作モードではリセット信号によりリセットされた発振安定待ちカウンタ50が“1”のセット信号を発生する前に、上記テスト動作を指示する“1”のモード信号がオア回路51から起動フリップフロップ52に供給されて、これをセットしリセット延長回路36が作動する。このリセット延長回路36から“1”のリセット信号が出力されるとアンド回路43を通してラッチ回路40〜42に内部クロック信号が供給され、ラッチ回路40〜42に端子37〜39よりのモード信号MD0〜MD2がラッチされる。ラッチ回路42にラッチされたモード信号MD2は論理演算回路32に供給されて、これをテスト動作モードにすると共に、動作モード選択回路44に供給される。
【0023】
図3は図2の要部の回路図を示す。同図中、端子60は端子35に対応し、リセット信号を反転した図4(D)に示す信号ERSXが供給され、端子61には図4(A)に示す内部クロックMCLK2Xが供給される。信号ERSXはノイズ除去回路62でノイズを除去された後、オア回路64及びナンド回路65等を通し、図4(E)に示す信号SPRESETとされ、更にノア回路67を通して図4(F)に示す信号INITWDOGとされる。この信号INITWDOGは端子69から起動フリップフロップ52に対応するフリップフロップ71にセット信号として供給されると共に、図3には示されていない発振安定待ちカウンタ50に供給される。
【0024】
発振安定待ちカウンタ50は信号INITWDOGの立上りからクロック信号のカウントを開始し、カウント値が所定値を越えたとき立上る図4(G)に示すOSCRDYを生成して端子73からアンド回路75を通してフリップフロップ71のリセット端子に供給する。
【0025】
また、端子76は図2の端子39に対応し、図4(J)に示す“1”でテスト動作モードを指示するモード信号MD2が供給される。この信号MD2はノイズ除去回路62内のオア回路63に供給されると共にインバータ78で反転されてアンド回路75及びオア回路64に供給される。ノイズ除去回路62はオア回路63を設けることにより信号MD2が“1”のときは遅延回路80及びナンド回路81による信号ERSXのエッジのノイズ除去を停止させる。また、オア回路64及びナンド回路65は信号MD2が“0”のとき信号SPRESETが“1”とならないようにしている。なお、この信号SPRESETは電源投入等に用いられる。
【0026】
アンド回路75は負論理で動作しており、図2のオア回路51に対応する。このため、信号MD2が“1”のときは信号OSCRDYが“1”でなくてもフリップフロップ71がリセットされ、フリップフロップ71出力は図4(H)に示す如く信号INITWODGの立下りによって立上り、これによってリセット延長回路82が起動される。リセット延長回路82は図2のりセット延長回路36に対応しており、フリップフロップ83,84,85,86で構成されている。フリップフロップ85,86には信号変化同期化のため、図4(B),(C)に示す内部クロックKB,KAが供給されている。リセット延長回路82は信号INITWDOGの立上りによって端子87より出力するリセット信号RSTを図4(D)に示す如く“1”とし、図4(H)が“1”となった後、内部クロックKBを4クロックだけカウントした後、クロックKAの立上り時点でリセット信号RSTを“0”とする。このリセット信号が論理演算回路32に供給される。
このように、ノーマル動作モードではクロック発振回路30が安定動作するまで論理演算回路32のリセットは待たされるが、テスト動作モードでは発振安定待ちカウンタ50がセット信号を発生するのを待つことなく論理演算回路32をリセットして試験を行うことができ、試験時間を短縮することができる。
【0027】
ところで、図1の実施例と図2,図3の実施例とを組合せても良い。この場合、図3に示すリセット延長回路82は内部クロックKBを4クロックカウントしているため、期間T1においてモード信号MD2を切換えることが可能である。
【0028】
【発明の効果】
上述の如く、請求項1記載の発明によれば、動作モードが通常モードである場合は、外部端子よりリセット信号が供給された後、クロック信号をカウントして所定時間後にリセット延長回路を起動するとともに、動作モードがテスト動作モードである場合は、所定時間待たずに上記リセット延長回路を起動するため、テスト動作モード時には発振安定待ち回路による待ち期間の設定が無効化されるため、待ち時間なく試験を行うことができ、試験時間を短縮できると共に、動作モード選択回路で第1及び第2のラッチ回路のモード信号に応じて上記論理演算回路の動作モードを切換えるため、単一の外部端子で2ビットのモード信号を入力でき、外部端子数の増加なくモード信号のビット数を増加できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマイクロコントローラのブロック図である。
【図2】本発明のマイクロコントローラのブロック図である。
【図3】図2の要部の回路図である。
【図4】図3の回路各部の信号タイミングチャートである。
【図5】従来のマイクロコントローラのブロック図である。
【図6】従来のマイクロコントローラのブロック図である。
【符号の説明】
30 クロック発振回路
31 内部クロック生成回路
32 論理演算回路
35,37〜39 端子
36 リセット延長回路
40〜42,46 ラッチ回路
43,45 アンド回路
44 動作モード選択回路
50 発振安定待ちカウンタ
51 オア回路
52 起動フリップフロップ
Claims (1)
- クロック信号を生成するクロック発振回路と、
上記クロック信号から得られる内部クロック信号を供給されて動作する論理演算回路と、
起動された後に外部端子より供給されるリセット信号を所定時間延長して上記論理演算回路に供給するリセット延長回路と、
外部端子より供給されるモード信号を上記リセット延長回路がリセット信号を出力する期間にラッチする第1のラッチ回路と、
上記第1のラッチ回路のモード信号に応じて上記論理演算回路の動作モードを切換える動作モード選択回路とを有するマイクロコントローラであって、
外部端子より供給されるモード信号が通常モードを指示する場合は、上記外部端子よりリセット信号が供給された後、上記クロック信号をカウントしたカウント値が所定値となった後に上記リセット延長回路を起動するとともに、上記外部端子より供給されるモード信号がテスト動作モードを指示する場合は、上記カウント値が所定値となるのを待たずに上記リセット延長回路を起動する発振安定待ち回路と、
上記外部端子より供給されるモード信号を上記外部端子からリセット延長回路にリセット信号が供給される期間にラッチする第2のラッチ回路とを有し、
上記動作モード選択回路で上記第1及び第2のラッチ回路の両方のモード信号に応じて上記論理演算回路の動作モードを切換えることを特徴とするマイクロコントローラ。
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