JP3639652B2 - Adコンバータ内蔵集積回路のテスト方法および装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はアナログ・デジタル変換器(ADコンバータ)を内蔵する集積回路のテスト方法およびテスト装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、集積回路の集積度が飛躍的に増大している。かつてはプリント基板上でしか実現できなかったようなシステムが、現在では1チップの集積回路で実現できるようになっている。
【0003】
これに伴い、純粋にデジタル回路のみを搭載しているだけのLSIは次第に減少し、デジタル回路に加え、ADコンバータやDAコンバータを付加したようなものが多くなっている。このようなLSIの開発においては、従来の純粋デジタルLSIにはなかった種々の困難さが生じる。テストの困難さもその1つである。
【0004】
ADコンバータやDAコンバータは、アナログ回路であり、アナログ回路のテストにおいては、デジタル回路とは全く異なる考慮が必要となってくる。
【0005】
デジタル回路のテストにおいては、ある基準電圧(しきい値)以上を論理値「1」とし、ある基準電圧以下を論理値「0」とみなす。そして、各入力ピンに入力信号を印加し、被試験回路が論理的に正しく動作するかどうかがテストされる。具体的には、与えられた入力信号に対応する出力信号が一定時間間隔ごとに瞬時値としてサンプリングされ、論理値の「1」、「0」として期待どおりのものかどうかがテストされる。
【0006】
一方、アナログ回路のテストにおいては、連続的な電圧値・電流値そのものがテスト対象である。このため、テストすべきパラメータが種々多岐にわたり、またそれが回路によっても異なり、テストに多大な時間を必要とする。また、アナログ回路用のテスト装置(以下、テスト装置については、「テスタ」と称する。)は、一般に非常に高価である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
デジタル回路またはアナログ回路のテスト容易化に関する技術については、特開平02−019780号、または特開平03−267778号等に開示されているが、これらの発明においては、回路のアナログ部とデジタル部それぞれについて、アナログ回路用テスタとデジタル回路用テスタを必要としたり、被試験LSIに専用のテスタを必要とするという問題がある。
【0008】
前述したように、アナログ回路用テスタは高価であることや、テストに多大な時間を要することから、アナログ・デジタル両回路を有するLSIにおいて、デジタル回路用テスタのみでテストできることは、テストにおいて時間とコストを削減でき、結果として開発コストの削減につながる。
【0009】
また、特開平02−135543号または特開平04−096144号に開示されている技術によれば、デジタル回路用テスタによりLSIに内蔵されたADコンバータをテストすることが可能であるが、複雑なテストプログラムを作成する必要があるという問題がある。
【0010】
このテストプログラムは、メインプログラムとテストパターンの2つから構成される。メインプログラムとは、ハードウェアに対する命令の集まりであり、この場合、アナログ入力ピンへの入力電圧をさまざまに変化させてから、テストパターンを入力し、その時々に応じた出力期待値と実際の出力結果とを比較するような命令の並びである。テストパターンとは、テストベクタを時系列的に並べたものであり、テストベクタとは、ある時刻において各入力ピンに印加されるべき論理値「1」、「0」、および各出力ピン上において観測されるはずの論理値「1」、「0」(期待値)の並びである。またテストパターンは、ADコンバータをテストモードに切換え、AD変換後のデジタル出力をさせるための入力である入力パターンと、AD変換後のデジタル出力の期待値である出力パターンとを含む。入力パターン、出力パターンともに「1」、「0」の並びで表される。
【0011】
以下に、従来のデジタル回路用テスタを用いた、ADコンバータ内蔵LSIのテスト方法を説明する。
図5は、従来のデジタル回路用テスタのブロック構成図である。従来のテスタ1は、LSIに入力するテストベクタとそれに対応するLSIから出力される期待値を記憶するパターンメモリ2と、パターンメモリ2からの信号を被試験LSI9に出力するドライバ3と、ドライバ3の出力電圧すなわち被試験LSIへの入力電圧を設定する入力電圧設定ユニット4と、被試験LSI9からの出力と出力判定電圧設定ユニットからのしきい値を比較して、被試験LSI9からの出力を2値化するコンパレータ5と、コンパレータ5のしきい値をセットする出力判定電圧設定ユニット7と、パターンメモリ2からの上記期待値とコンパレータ5からの上記出力を比較し、比較結果を出力する論理比較ユニット6と、前記各ユニットの動作を制御し、テスト結果を出力する制御部8とからなる。尚、図示したもの以外に電源ユニット、タイミング発生器、DC測定ユニット、入力波形整形ユニットなどを備えているが、本発明の説明には、特に関係ないので図示していない。
【0012】
図5のテスタ1をデジタル回路用テスタとして使用するときは、パターンメモリ2に記憶された入力パターンをドライバ3を介してLSI9にテスト入力値として入力する。この時のドライバ3からのLSI9への入力電圧は、入力電圧設定ユニット4により制御される。LSI9からの出力値は、コンパレータ5で2値化された後、論理比較ユニット6に入力される。ここで、コンパレータ5での論理値「0」、「1」判定のための出力電圧のしきい値は、出力判定電圧設定ユニット7により設定される。論理比較ユニット6において、LSI9からの出力値と、パターンメモリ2からの出力パターンとが比較される。上記出力パターンとは、LSIでの入力パターンに対応する予想されるデジタル出力の期待値のことである。論理比較ユニット6は、LSIからのデジタル出力値とパターンメモリ2からの出力パターンをビット毎に比較し、一致するビットに対しては「P」(passを意味する)を、一致しないビットに対しては「F」(failを意味する)を出力する。例えば、パターンメモリ2からの出力パターンが「1111」のとき、LSI9からの出力値が「1111」であれば、比較結果として「PPPP」を出力し、LSI9からの出力値が「1010」であれば、比較結果として「PFPF」を出力する。制御部8は、比較結果が全ビットについて「P」であれば、テスト結果を「良」とし、それ以外は「不良」と判定する。このようにして、制御部は、順次入力パターンを変化させ、LSI9からの出力値を出力パターンと比較することにより、LSI9の内部回路のテストを行うことができる。
【0013】
これに対し、LSIに内蔵されたADコンバータをテストするときは、パターンメモリ2から全て「1」である入力パターンをLSI9に入力し、制御部8が入力電圧設定ユニット4を制御することにより、LSI9への入力電圧を変化させる。これにより、LSI9内部のADコンバータに与えられるアナログ電圧を変化させる。このときのアナログ入力電圧に対するデジタル出力の期待値を、パターンメモリ2から読み出し、論理比較ユニット6にてLSI9からの出力値と比較することにより、ADコンバータのテストを行うことができる。
【0014】
以下、図6に示すような1アナログ入力と4ビットデジタル出力を持つADコンバータに対する従来技術のテスタの動作を説明する。
このADコンバータの場合、4ビットであるため、「0000」から「1111」まで16通りの電圧値を表せる。ここで、図7に示すように、入力するアナログ電圧の最小値(0ボルト)と最大値(Vmボルト)の間を16の区間に分けて、それぞれの区間について代表値をテストするものとする。
【0015】
図8に、LSIのテストパターンの一例を示す。Tn(n=1,2,3・・・)はタイミング、Ainはアナログ入力、D1からD4はデジタル出力の各ビットを表す。今、ADコンバータは、テストパターンの3パターン目入力後、つまりT3終了後に、テストモードになるように設定されている。すなわち、4パターン目以降がADコンバータ用のテストパターンとなる。アナログ入力用ピンAinは、常に「1」であり、入力電圧設定ユニット4で電圧値を変化させることにより可変アナログ入力電圧を発生し、その時のアナログ入力電圧に対応するデジタル出力の期待値をD1からD4までの4ビットで表す。例えば、T5においては、期待値が「0001」となり、この時、図7の2番目の区間の入力電圧がアナログ電圧として印加されるようにプログラムされている。図9は、その時のメインプログラムの内容の一部を表す。実際のプログラムは、テスタに依存したプログラム言語で記述されるが、ここでは、説明の簡単化のために、プログラムの意味する内容を日本語で記述している。図9のステップ1は、最大電圧の0/16の電圧を印加して4パターン目のテストパターンでテストすることを表す。ステップ2は、最大電圧の1/16の電圧を印加して5パターン目のテストパターンでテストすることを表す。以降同様に、アナログ入力電圧を変化させ、指定されたテストパターンでテストを行うことを表す。
【0016】
図10のフローチャートを用いて、この時のテスタの動作を説明する。
テスタにおいて、制御部8は、テストプログラムに従い、入力電圧設定ユニット4により、メインプログラムに記述されたアナログ入力電圧を設定する(S201)。次に、ドライバ3により、アナログ入力ピンに入力電圧を印加し、ADコンバータを動作させる(S202)。ADコンバータは、アナログ入力に対応するデジタル信号を出力する。論理比較ユニット6で、ADコンバータの出力をパターンメモリ2に記憶されたテストパターン上の期待値「0000」と比較する(S203)。その結果、一致しなければ(S204)、すなわち全ての出力ビットが「P」でなければ、LSI9を不良品としテストを終了する(S207)。一致すれば、十分な数のアナログ入力電圧についてテストしたかどうか判断する(S205)。十分な数のアナログ入力電圧のテストが行われていれば、LSI9を良品と判定しテストを終了する(S206)。十分な数のアナログ入力電圧のテストが行われていなければ、S201のステップに戻り、十分な数のアナログ入力電圧のテストが行われるまで上記の手順を繰り返す。以上のようにメインプログラムおよびテストパターンにより、ADコンバータのテストが実施できる。
【0017】
ここで、前述のように、テストパターンのD1からD4は、デジタル出力の期待値を表しているため、メインプログラム中のアナログ入力電圧値を変更するときは、テストパターン中の期待値も変更する必要がある。また、テストするアナログ電圧の間隔等を変更するときも対応するテストパターンを変更する必要が生ずる。
【0018】
このように、テストプログラム中のメインプログラムとテストパターンは、密接に関係しているため、テスト内容を変更するときは、メインプログラムとテストパターンの双方の整合をとりながら変更する必要がある。このため、誤りなくテストプログラムを作成・変更するには多大な労力と時間を要し、特に、近年のようにLSIの大規模化に伴い、テストパターンが増大すると、テストプログラムの作成および変更により多くの時間を必要とする。
【0019】
そこで、本発明は、メインプログラムとテストパターンを独立させることにより、ADコンバータ内蔵集積回路のテストを容易に行えるテスト方法およびテスト装置を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るADコンバータ内蔵集積回路のテスト方法は、ADコンバータを内蔵し、該ADコンバータに対するアナログ入力ピンとデジタル出力ピンを外部に有する集積回路をテストする方法であって、前記ADコンバータのアナログ入力に対応するデジタル出力の期待値パターンを記憶する記憶手段と、前記デジタル出力と前記期待値パターンを比較して比較結果を出力する論理比較手段とを備えたデジタル回路用テスト装置により、前記集積回路をテストする方法において、前記集積回路に対するアナログ入力電圧を決定し、該アナログ入力電圧に対応するデジタル出力の期待値パターンを決定するステップと、前記集積回路のアナログ入力ピンに上記入力電圧を印加し、前記ADコンバータを動作させるステップと、値が固定された所定のパターンを前記記憶手段に記憶するステップと、前記集積回路のADコンバータからのデジタル出力と前記所定のパターンとの前記論理比較手段による比較結果に基づき、集積回路からの実際のデジタル出力パターンを認識するステップと、前記期待値パターンと前記デジタル出力パターンを認識するステップにより認識された前記デジタル出力パターンとを比較し、集積回路が良品か否かを判定するステップとからなる。
【0021】
本発明に係るADコンバータ内蔵集積回路のテスト装置は、ADコンバータを内蔵し、該ADコンバータに対するアナログ入力ピンとデジタル出力ピンを外部に有する集積回路をテストする装置であって、集積回路に内蔵されたADコンバータのアナログ入力に対応するデジタル出力の出力期待値を記憶する記憶手段と、前記デジタル出力と前記出力期待値を比較して比較結果を出力する論理比較手段とを備えたテスト装置において、値が固定された所定のパターンが前記出力期待値の代わりに前記記憶手段に記憶されており、前記集積回路に対するアナログ入力電圧を決定し、該アナログ入力電圧に対応するデジタル出力の期待値パターンを決定する手段と、前記アナログ入力ピンに前記入力電圧を印加し、前記ADコンバータを動作させる手段と、前記ADコンバータからのデジタル出力と前記記憶手段に記憶され所定のパターンとの前記論理比較手段による比較結果に基づき、集積回路からの実際のデジタル出力パターンを認識する認識手段と、前記期待値パターンと前記認識手段により認識された前記デジタル出力パターンとを比較し、集積回路が良品か否かを判定する判定手段とを備える。
【0022】
図4は、上記テスト装置の構成を示す図である。上記テスト装置41において、テストを行うときは、アナログ入力電圧および期待値決定手段42により、テストパターンに記述されたアナログ入力電圧値およびそれに対応した出力値である期待値が読込まれる。入力電圧印加手段43は、上記アナログ入力電圧値をLSI48に印加する。LSI48から出力されるデジタル出力は、論理比較手段45に入力され、記憶手段44に記憶されている固定された所定の値を有する基準値と比較され、比較結果が認識手段46に出力される。認識手段46では、前記比較結果より、真のデジタル出力値を認識し、その値を判定手段47に入力する。判定手段47では、アナログ入力電圧および期待値決定手段42からの期待値と認識手段46からの真のデジタル出力値を比較してLSI48が良品か否かの判定を行う。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を用いて、本発明の一実施形態であるテストシステムについて、詳細な説明を行う。
【0024】
本実施形態において用いるハードウェアすなわちテスタ自体は、上記従来のテスタと同じものを使用する(図5参照)。
本実施形態のテストシステムの特徴は、従来のテストシステムにおいて、前述のアナログ入力電圧に対応する期待値の代わりに、1ベクタからなる所定の固定値である「基準値」を設定することにある。上記「基準値」は、被試験LSIからの出力値と比較されて、LSIからの出力値を確定するための基準値として用いられるものであり、上記テスタ1のパターンメモリ2の中に記憶されている。
【0025】
本実施形態のテストシステムの動作を図1のフローチャートにより説明する。本実施形態のテストシステムにおいて、テスタの制御部8は、メインプログラムに従い、入力電圧設定ユニット4により、アナログ入力電圧を設定し、同時にデジタル出力の期待値も設定する(S101)。次に、ドライバ3により、アナログ入力ピンに入力電圧を印加し、ADコンバータを動作させる(S102)。ADコンバータは入力電圧に対応するデジタル信号を出力する。論理比較ユニット6で、ADコンバータからの出力と、パターンメモリ2に記憶されたテストパターン上の基準値とを比較する(S103)。ここで、本発明の特徴である基準値は、4ビットADコンバータの場合、例えば「0000」のようなビット列から構成される。前述したように、論理比較ユニット6による比較結果として、一致したビットには「P」が、一致しないビットには「F」が出力されるので、この出力結果の「P」、「F」の並びにより、制御部8は、ADコンバータからの出力結果を認識する(S103)。例えば基準値を「0000」としたとき、比較結果が「PPPP」であれば、ADコンバータからの真の出力は「0000」と認識でき、比較結果が「PFPF」であれば、ADコンバータからの真の出力は「0101」と容易に認識できる。前述の処理(S103)で得られる真の出力結果と、ステップS101で決定される期待値とを比較し(S104)、パターンが一致しなければ、被試験LSIを不良品としてテストを終了する(S108)。一致すれば、十分な数のアナログ入力電圧についてテストしたかどうか判断する(S106)。十分な数のアナログ入力電圧のテストが行われていれば、LSI9を良品と判定してテストを終了する(S107)。十分な数のアナログ入力電圧のテストが行われていなければ、S101のステップに戻り、十分な数のアナログ入力電圧に対してテストが行われるまで上記の手順を繰り返す。
【0026】
次に、図1のフローチャートの動作に従った、テストシステムの具体的な動作について図2のメインプログラムに基づいて説明する。
図2は、本実施形態のテストプログラムにおけるメインプログラムの一例を表す。また、使用するテストパターンは図3のテストパターンを用い、図8のテストパターンと同様に4パターン目からテストモードになるよう設定されている。このプログラムによると、ステップ1では、最大電圧の0/16の電圧を印加してテストパターンの4パターン目でテストする。ステップ2でも、最大電圧の1/16の電圧を印加してテストパターンの4パターン目でテストする。以降同様に、順次アナログ入力電圧を変化させ、全て4パターン目のテストパターンを使用しテストができる。このため、テストパターンは1つのテストベクタを設定するだけで十分である。例えば、テストする電圧の間隔やポイント数を変更したい時も、使用するテストパターン部は変更する必要がないので、メインプログラムに単純にステップの追加、削除ができ、従来よりも容易にしかも正確にテストパターンの変更ができる。
【0027】
以上のように、本実施形態のテストシステムでは、値を固定させた「基準値」を設定することに特徴がある。論理比較回路において、この基準値とLSIからのデジタル出力とをビット毎に比較した判定結果より、デジタル出力の「真の出力値」を認識することができ、その「真の出力値」と「期待値」を比較することにより、LSIが良品か否かの判定を行うことができる。このように、固定された値を基準値として設定することにより、テストパターンとして1つのテストベクタを用意するだけで十分となり、メインプログラムとテストパターンを独立させることができ、メインプログラムの作成、変更等が容易になる。尚、本実施形態では、4ビットADコンバータを一例として説明に用いたが、本発明の適用範囲は4ビットに限定されない。
【0028】
【発明の効果】
本発明は、ADコンバータを内蔵した集積回路に対し、ADコンバータのアナログ入力に対応するデジタル出力の期待値パターンを記憶する記憶手段と、集積回路からのデジタル出力と前記期待値パターンを比較して比較結果を出力する論理比較手段とを備えたデジタル回路用テスト装置において、値が固定された所定パターンを前記記憶手段に設定して、その所定パターンと集積回路からの出力パターンとを前記論理手段によって比較することにより、集積回路からの真の出力値を認識し、認識された真の出力値とあらかじめ決定された出力期待値とを比較することにより良否を判定する、テスト方法または装置であって、それにより下記の効果が得られる。
【0029】
(1)集積回路に対する入力電圧のしきい値を制御することによりアナログ入力電圧の制御を可能とし、デジタル回路用テスタでADコンバータのテストを可能とする。
(2)1ベクタからなる所定の値を持つ基準値を設定することにより、入力電圧に対応した期待値に対してそれぞれ、テストパターンを用意する必要がなく、テストプログラムにおける、テストパターンを小さくまた簡易化できる。
(3)固定した値を持つ基準値を設定することにより、テストパターンとメインプログラムを独立させることができ、誤りなくテストプログラムの作成・変更が容易に行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態であるADコンバータ内蔵LSIのテストシステムを表すフローチャート。
【図2】 本発明の一実施形態であるADコンバータ内蔵LSIのテストシステムにおける、デジタル回路用テスタのテストプログラムのメインプログラムを示す図。
【図3】 本発明の一実施形態であるADコンバータ内蔵LSIのテストシステムにおける、デジタル回路用テスタのテストプログラムのテストパターンを示す図。
【図4】 本発明の一実施形態であるADコンバータ内蔵LSIのテスト装置の機能構成図。
【図5】 デジタル回路用テスタのブロック構成図。
【図6】 LSIに内蔵されたADコンバータを示す図。
【図7】 アナログ入力電圧のテスト区間と対応するデジタル出力を示す図。
【図8】 従来のADコンバータ内蔵LSIのテスト方法における、デジタル回路用テスタのテストプログラムのテストパターンを示す図。
【図9】 従来のADコンバータ内蔵LSIのテスト容易方法における、デジタル回路用テスタのテストプログラムのメインプログラムを示す図。
【図10】 従来のADコンバータ内蔵LSIのテスト方法を表すフローチャート。
【符号の説明】
1 デジタル回路用テスタ、2 パターンメモリ、3 ドライバ、4 入力電圧設定ユニット、5 コンパレータ、6 論理比較ユニット、7 出力電圧設定ユニット、8 制御部、9,48 被試験LSI、41本発明のテスト装置、42アナログ入力電圧および期待値決定手段、43 入力電圧印加手段、44 記憶手段、45 論理比較手段、46 認識手段、47 判定手段。
Claims (2)
- ADコンバータを内蔵し、該ADコンバータに対するアナログ入力ピンとデジタル出力ピンを外部に有する集積回路をテストする方法であって、前記ADコンバータのアナログ入力に対応するデジタル出力の期待値パターンを記憶する記憶手段と、前記デジタル出力と前記期待値パターンを比較して比較結果を出力する論理比較手段とを備えたデジタル回路用テスト装置により、前記集積回路をテストする方法において、
前記集積回路に対するアナログ入力電圧を決定し、該アナログ入力電圧に対応するデジタル出力の期待値パターンを決定するステップと、
前記集積回路のアナログ入力ピンに前記入力電圧を印加し、前記ADコンバータを動作させるステップと、
値が固定された所定のパターンを前記記憶手段に記憶するステップと、
前記集積回路のADコンバータからのデジタル出力と前記所定のパターンとの前記論理比較手段による比較結果に基づき、集積回路からの実際のデジタル出力パターンを認識するステップと、
前記期待値パターンと前記デジタル出力パターンを認識するステップにより認識された前記デジタル出力パターンとを比較し、集積回路が良品か否かを判定するステップと
からなるADコンバータ内蔵集積回路のテスト方法。 - ADコンバータを内蔵し、該ADコンバータに対するアナログ入力ピンとデジタル出力ピンを外部に有する集積回路をテストする装置であって、集積回路に内蔵されたADコンバータのアナログ入力に対応するデジタル出力の出力期待値を記憶する記憶手段と、前記デジタル出力と前記出力期待値を比較して比較結果を出力する論理比較手段とを備えたテスト装置において、
値が固定された所定のパターンが前記出力期待値の代わりに前記記憶手段に記憶されており、
前記集積回路に対するアナログ入力電圧を決定し、該アナログ入力電圧に対応するデジタル出力の期待値パターンを決定する手段と、
前記アナログ入力ピンに前記入力電圧を印加し、前記ADコンバータを動作させる手段と、
前記ADコンバータからのデジタル出力と前記記憶手段に記憶され所定のパターンとの前記論理比較手段による比較結果に基づき、集積回路からの実際のデジタル出力パターンを認識する認識手段と、
前記期待値パターンと前記認識手段により認識された前記デジタル出力パターンとを比較し、集積回路が良品か否かを判定する判定手段と
を備えることを特徴とするADコンバータ内蔵集積回路のテスト装置。
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