JP3602443B2 - 半導体素子の製法 - Google Patents
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Description
本発明は、HF可溶性マスク材料が使用される半導体構造素子の製法に関する。殊には、電気半導体及びオプトエレクトロニクス半導体コンポーネントが組み合わされているオプトエレクトロニクス半導体構造素子又は水平集積半導体構造素子の製法に関する。
【0002】
エピタキシー基板、例えば半導体基板上のHF可溶性層はよくある従来技術では湿式化学的に、又は乾式化学的にエピタキシー反応器の外部で除去される。この方法では例えば、選択的エピタキシー又はヘテロエピタキシーにより水平集積構造素子が製造される。
【0003】
選択的エピタキシーではHF可溶性層がマスキングのために使用される。この場合、エピタキシー反応器中でマスキングされていない領域に層を選択的に成長させるが、その際、マスキング層をその後、反応器の外部で湿式又は乾式化学的に除去する。更なる集積のためにこの場合、少なくとも更なるリソグラフィー工程が必要である。
【0004】
ヘテロエピタキシーでは直接半導体(direkte Halbleiter: 化合物半導体)をシリコン基板上に形成する。その場合、基板と空気の酸素との接触により生じるシリコンの自然酸化物Si O 2 が大きな問題である。このSiO2層を除去するために、基板を高温工程にさらす必要がある。その際、約900℃に加熱する。
【0005】
いずれの方法でも、基板は反応器から取りだされ、かつ空気にさらされる。この場合、基板は制御不可能な汚染にさらされる。数回の出し入れにより、これらのプロセスは妨害されやすく、機能性構造素子の収率は低下し、かつ製造コストが増大する。
【0006】
ヘテロエピタキシーでは、例えば電気及びオプトエレクトロニクスコンポーネントを集積するが、その際、電気コンポーネントは既に、加工すべき半導体基板上に存在し、その後で、例えばオプトエレクトロニクスコンポーネントを製造する。シリコンの自然酸化物SiO2を除去するために、基板を高温工程にさらす必要があり、これにより、電気構造素子は破壊されることがある。
【0007】
本発明の課題は、エピタキシーによる層析出の際の頻繁なウェハの出し入れ及び高温工程を可能な限り回避することにある。
【0008】
この課題は請求項1に記載の方法により解決される。
【0009】
有利な実施態様及び本方法の有利な使用は従属請求項2〜9の対象である。
【0010】
HF可溶性層のエッチング除去はエピタキシー反応器中で、フッ化水素(HF)又は不安定なフッ素化合物の供給により行う。不安定なフッ素化合物は、光励起又は最低100℃への加熱により分解し、かつフッ化水素を放出することを特徴とする。いくつかのフッ素化合物では、付加的な別のガス、いわゆる担体ガスを供給する必要がある。通常、H2、N2又はアルゴンを使用する。これらの担体ガスの供給は、不安定なフッ素化合物のためには必要であるが、フッ化水素には不要である。
【0011】
多くのエピタキシー反応器は、エッチングされる酸化物と同じ石英ガラスからなるので、反応器壁をエッチングガスに対して保護する必要がある。これは有利には反応器壁の冷却により行う。それというのも、熱に不安定なガスの反応性が明らかに低減されるためである。
【0012】
本発明の方法を用いて、HF可溶性物質を、エピタキシープロセスの直前に、基板から除去することができ、これにより、時間及び経費を節約することができる。
【0013】
異なる層厚を有する複数の異なるHF可溶性マスク材料の使用により、エピタキシー反応器中で様々な構造素子を製造することができる。この場合、異なるHF可溶性マスク材料をそれぞれ異なるエッチング工程で、全プロセスを中断することなく除去する。その場合、いくつかの成長工程で、様々なエピタキシー材料をエピタキシャルに析出させることができる。好適なマスク画定により、構造素子を所定に析出させることができ、これにより、後続のリソグラフィープロセスを有利に節減することができる。
【0014】
この方法を用いて有利には、既に予備処理された(例えば電気)半導体コンポーネントと、他のタイプの(例えばオプトエレクトロニクス)半導体コンポーネントとを結合させることができる。このためには、既に存在する半導体成分を選択的に、厚いHF可溶性層で被覆する。この場合には、例えばオプトエレクトロニクス半導体コンポーネントが設けられる領域は、非常に薄いHF可溶性層でのみ被覆されている。次いでその場でのエッチング工程により、基板のこの領域を露出させて、引き続き、例えばオプトエレクトロニクス半導体コンポーネントの選択的析出を実施する。
【0015】
方法及びそのうちの有利な実施態様を次に、図面1a〜4cと関連した4つの実施例に基づき詳述する。
【0016】
これは、次のものを示している:
図1a〜1cは第1の一般的な実施例の図示であり、
図2a〜2dはレーザー構造を製造するための、方法プロセスの図示であり(第2の実施例)、
図3a〜3cは第3の実施例による方法プロセスの図示であり、かつ
図4a〜4cは第4の実施例による方法プロセスの図示である。
【0017】
図1a〜1cによる実施例では先ず、HF可溶性材料(例えばSiO2又はSixNx)からなるマスク層3が形成されているエピタキシー基板9を(図1a)、エピタキシー反応器中に装入する。続いてマスク層3のウィンドウ4中に、例えばMOVPE(有機金属気相エピタキシー)により例えば半導体レーザーの半導体層列10をエピタキシャルにエピタキシー基板上に析出させる(図1b)。析出プロセスは図1bで、矢印11で示されている。
【0018】
続いて、エピタキシーの後にエピタキシー反応器中に供給されるフッ素化合物(例えばHF)を用いてのエッチング12により半導体層列10の間に存在するマスク層3を除去する(図1c)。プロセス温度は有利には50〜500℃である。この後、こうして製造されたウェハを更に加工することができる。
【0019】
図2a〜2dでは、活性領域6、垂直導波のための第1の導波路2及び水平導波のための第2の導波路8を有するレーザー構造体を製造するための方法経過を図示している(図2d参照)。
【0020】
この構造体を製造するために、HF可溶性マスク層3(例えばSiO2、SixNx)を直接、エピタキシー基板9の上に、複数のウインドウ4を有するように形成する(図2a)。この後、エピタキシー反応器中で選択的析出により、マスク層3のウィンドウ4に第1の導波路層5、活性領域6(例えば活性レーザー層)及び第2の導波路層7からなる層列を形成する(図2b)。第1及び第2の導波路層(5、7)は、垂直導波のための導波路2の少なくとも一部を形成する。
【0021】
続いて、HF可溶性マスク層3をエッチングガス12(例えばNF3)の作用により除去するが(図2c)、このエッチングガスはエピタキシーの後に例えば担体ガス(例えば、H2、N2、Ar等)と一緒にエピタキシー反応器に供給する。温度はこの場合、有利には50〜500℃である。
【0022】
そして後続のプロセス工程で、ウェハを予め反応器から取り出すことなく、垂直導波のための第1の導波路2が完成し、かつ水平導波のための第2の導波路8が生じるように、導波路材料を析出させる(図2d)、その際第1の導波路2は今や析出したばかりの導波路材料の一部、第1の導波路層5及び第2の導波路層7をからなりかつ第2の導波路層は析出したばかりの導波路材料の別の部分により形成される。
【0023】
図3a〜3cには、電気半導体コンポーネント13(例えばトランジスタ、ダイオード、増幅器段等)がオプトエレクトロニクス半導体コンポーネント14(例えばレーザーダイオード、光学増幅器、変調器、光ダイオード等)と結合している水平集積半導体構造素子を製造する方法経過が略示されている。この方法経過では、既に電気半導体コンポーネント13が存在しているエピタキシー基板9にHF可溶性マスク層3を形成する。これはウィンドウ4を有し、そこでは、エピタキシー基板9が露出している(図3a)。このエピタキシー基板9の露出し た領域に、後でオプトエレクトロニクス半導体コンポーネント14を析出させる。このウェハをエピタキシー反応器に装入し、次いでそこで、ウィンドウ4に、エピタキシー基板9の露出した領域にオプトエレクトロニクス半導体コンポーネント14を析出させる(図3b)。続いて、HF可溶性マスク層3を、エピタキシー反応器中にフッ素化合物を供給することにより除去する(図3c)。次いで、ウェハを更に加工する、例えば、更なる半導体層及び/又は電気的コンタクトを設けることができる。
【0024】
特に有利には図3a〜3cに図示されている方法では、電気半導体コンポーネント13が既に存在するエピタキシー基板9を使用する。このようなエピタキシー基板9の上にHF可溶性マスク層3を、電気的半導体コンポーネント13が厚いマスク層3で被覆されており、かつ薄いマスク層3が、該薄いマスク層3の除去後にオプトエレクトロニクス半導体コンポーネント14が析出されるエピタキシー基板9の領域を被覆するように形成する。マスク層3のこの薄い領域をエピタキシー反応器中で第1のマスク除去工程で除去し、かつエピタキシー基板9の領域を露出させる。この後、オプトエレクトロニクス半導体コンポーネントをエピタキシー基板9の露出している領域(即ち、マスク層3のウインドウ4)にエピタキシーにより形成する。
【0025】
図4a〜4cに図示されている方法は、例えば3つの異なるタイプの半導体コンポーネント15、16、17が結合している水平集積半導体構造素子の製造のために役立つ。このためにエピタキシー基板9から出発して、第1の(18)、第2の(19)、かつ第3のHF可溶性マスク層20をエピタキシー基板9上に形成する(図4a)。HF可溶性マスク層18、19,20は、同じ、又は異なる組成であり、かつ/又は同じ又は異なる厚さであってよい。
【0026】
初めにエピタキシー基板9上に形成される第1のマスク層18は、後に半導体コンポーネント15、16、17がエピタキシー基板9上に形成される全ての所にウィンドウを有する。第2のマスク層19は、後に第1のタイプの半導体コンポーネント15がエピタキシー基板上に析出される全ての所にウィンドウを有する。相応して、第3のマスク層20は、後に第1の(15)又は第2のタイプ(16)の半導体コンポーネントが析出される所にのみウィンドウを有する。
【0027】
エピタキシー基板9上に第1のタイプの半導体コンポーネント15をエピタキシャル形成した後(図4a)に、第3のマスク層20及びそのウィンドウ内にある、第2のマスク層19の部分をエッチングによりエピタキシー反応器内部で、フッ素化合物の供給により除去する(図4b)。その際、第2のタイプの半導体コンポーネント6がエピタキシー析出されるエピタキシー基板9の領域を露出させる。その後、第2のマスク層19の残りの部分を、エピタキシー反応器内部でのフッ素化合物の供給によるエッチングにより、除去する(図4c)。この際に、第3のタイプの半導体成分17がエピタキシー析出されるエピタキシー基板9の領域を露出させる。この方法は、任意のタイプ数の半導体コンポーネントにまで展開することができる;但し、マスク層とマスクエッチング工程の数は、相応して、半導体コンポーネントの異なるタイプ数に合わせる必要がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1a〜cは第1の一般的な実施例の示す図である。
【図2】図2a〜dはレーザー構造を製造するための、方法経過を示す図である(第2の実施例)。
【図3】図3a〜cは第3の実施例による方法経過を示す図である。
【図4】図4a〜cは第3の実施例による方法経過を示す図である。
【符号の説明】
2 第1の導波路層、 3 HF可溶性マスク層、 4 エピタキシーウィンドウ、 6 活性領域、 7 第2導波路層、8 水平導波のための第2導波路、 9 エピタキシー基板、10 半導体層列、 11 析出、12 エッチン グもしくはエッチングガスマスク、 13 電気半導体コンポーネント、 14 オプトエレクトニクス半導体コンポーネント、 15 第1のタイプの半導体コンポーネント、 16 第2のタイプの半導体コンポーネント、 17 第3のタイプの半導体コンポーネント、 18 第1のHF可溶性マスク層、19 第2のHF可溶性マスク層、 20 第3のHF可溶性マスク層
Claims (7)
- a)エピタキシーウィンドウ(4)を有するHF可溶性マスク層(3)をエピタキシー基板(9)上に形成する工程、
b)エピタキシー反応器中で、エピタキシー基板(9)のエピタキシーウィンドウ(4)内で露出している領域にオプトエレクトロニクス特性を有する半導体層又は半導体層列(10)をエピタキシャル析出(11)させる工程、および
c)エピタキシー反応器中で分解するか、または反応してフッ化水素になる不安定なフッ素化合物を冷却されたエピタキシー反応器中に供給することによりHF可溶性マスク層(3)を除去する工程(12)
からなる水平集積半導体構造素子の製法において、工程a)で第1の半導体コンポーネント(13)が既にエピタキシー基板(9)上に存在し、かつ工程b)で第2の半導体コンポーネント(14)をエピタキシーウィンドウ(4)中に析出することを特徴とする、水平集積半導体構造素子の製法。 - 第1の半導体コンポーネント(13)が既に存在するエピタキシー基板(9)上に、第1の半導体コンポーネント(13)上に厚く形成されており、かつ薄いHF可溶性マスク層(3)の除去後に第2の半導体コンポーネント(14)が析出されるエピタキシー基板(9)の領域に薄く形成されているHF可溶性マスク層(3)を形成し、第1のマスク除去工程でHF可溶性マスク層(3)の薄い領域を除去し、かつ引き続き、第2の半導体コンポーネント(14)をエピタキシー基板(9)の露出領域に形成する、請求項1に記載の製法。
- n個(n∈自然数)の異なるタイプの半導体コンポーネント(15、16、17)が相互に結合されている水平集積半導体構造素子を製造する方法において、
i)工程a)で、n個のHF可溶性マスク層(18、19、20)の層列を、HF可溶性マスク層(18,19,20)が一部分重なり合って及び/又は一部分エピタキシー基板(9)上に存在し、それぞれのHF可溶性マスク層(18、19、20)がエピタキシーウインドウを有し、かつエピタキシー基板(9)が、第1の半導体コンポーネント(15)が形成されるべき位置(15)でのみ露出するように形成し、その際エピタキシーウィンドウの一部のみがエピタキシー基板(9)への開口を提供し、
ii)工程b)で第1の半導体コンポーネント(15)をエピタキシー基板(9)上に析出させ、
iii)工程c)に基づきn個のHF可溶性マスク層の層列の十分に厚い層を除去して、その際少なくともエピタキシー基板(9)のある領域が露出されるようにし、
iv)第2の半導体コンポーネント(16)を析出させるために、工程b)を繰り返し、かつ(n−1)個のHF可溶性マスク層の層列の十分に厚い層を除去するために、工程c)を繰り返し、
v)n番目の半導体コンポーネントが析出されるまで、記号(iv)で挙げた工程を繰り返す、請求項1又は2記載の製法。 - 複数のHF可溶性マスク層(18,19,20)を異なる層厚で形成し、その際少なくとも1つのHF可溶性マスク層(18,19,20)を完全にかつ少なくとも1つの別のHF可溶性マスク層(18,19,20)を一部分だけ工程c)で除去する、請求項3に記載の製法。
- 複数のHF可溶性マスク層(18,19,20)が異なる組成を有し、その際少なくとも1つのHF可溶性マスク層(18,19,20)を完全にかつ少なくとも1つの別のHF可溶性マスク層(18,19,20)を一部分だけ工程c)で除去する、請求項3又は4に記載の製法。
- 第1の半導体コンポーネント(13)が電気半導体コンポーネントであり、かつ第2の半導体コンポーネント(14)がオプトエレクトロニクス半導体コンポーネントであるか、又はその逆である、請求項1から5までのいずれか1項に記載の製法。
- プロセスの開始前に、エピタキシー反応器中でフッ素化合物の供給により、基板表面のHF可溶性層を清浄にする、請求項1から6までのいずれか1項に記載の製法。
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