JP3539940B2 - 電圧レギュレータ - Google Patents

電圧レギュレータ Download PDF

Info

Publication number
JP3539940B2
JP3539940B2 JP2001229374A JP2001229374A JP3539940B2 JP 3539940 B2 JP3539940 B2 JP 3539940B2 JP 2001229374 A JP2001229374 A JP 2001229374A JP 2001229374 A JP2001229374 A JP 2001229374A JP 3539940 B2 JP3539940 B2 JP 3539940B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
circuit
current
constant current
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001229374A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003044151A (ja
Inventor
康隆 ▲高▼林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2001229374A priority Critical patent/JP3539940B2/ja
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to DE60212771T priority patent/DE60212771T2/de
Priority to EP05108301A priority patent/EP1622067B1/en
Priority to US10/207,388 priority patent/US6696822B2/en
Priority to EP02017155A priority patent/EP1282072B1/en
Priority to DE60225360T priority patent/DE60225360T2/de
Publication of JP2003044151A publication Critical patent/JP2003044151A/ja
Priority to US10/748,198 priority patent/US6967470B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3539940B2 publication Critical patent/JP3539940B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/618Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series and in parallel with the load as final control devices
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/26Current mirrors
    • G05F3/262Current mirrors using field-effect transistors only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ICカード等に用いられる電圧レギュレータに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2は、ICカードの一例を示すシステム構成図である。
このICカードは、個人情報等のデータを記憶するためのEEPROM(電気的に消去可能な不揮発性メモリ)1と、データ処理を行うためのCPU(中央処理装置)やRAM,ROM等のメモリを備えた内部ロジック部2を有している。更に、このICカードは、外部から与えられる電源電圧VDDを調整して、内部ロジック部2に一定の電圧VREG を供給するための電圧レギュレータ3と、この電圧VREG の基準となる基準電圧VRや定電流制御信号CSを生成するバンドギャップ4を有している。
【0003】
図3(a),(b)は、ICカードに用いられている従来の電圧レギュレータの構成図であり、それぞれシリーズ型及びシャント型と呼ばれるものである。
【0004】
図3(a)の電圧レギュレータは、−入力端子に基準電圧VRが与えられる差動型の増幅回路Aを有している。増幅回路Aの出力側はP型MOSトランジスタM1のゲートに接続されている。トランジスタM1のソースには電源電圧VDDが与えられ、ドレインは出力ノードN1に接続されている。出力ノードN1と接地電位GNDの間には、抵抗R1,R2による分圧回路が接続され、この分圧回路で生成された比較電圧VCが、増幅回路Aの+入力端子に与えられるようになっている。
【0005】
また、増幅回路Aには、内部で一定の電流を発生するための定電流制御信号CSが与えられると共に、出力ノードN1の信号が位相補償用のコンデンサC1を介して与えられるようになっている。更に、出力ノードN1と接地電位GND間には、電圧平滑用のコンデンサC2が接続されている。
【0006】
この電圧レギュレータでは、出力ノードN1の電圧VREG が、抵抗R1,R2で分圧されて比較電圧VC(=VREG ×R2/(R1+R2))として増幅回路Aの+入力端子に与えられ、−入力端子に与えられる基準電圧VRとの差の電圧が増幅されて出力される。
【0007】
従って、比較電圧VCが基準電圧VRよりも高ければ、増幅回路Aの出力電圧VOは高くなり、トランジスタM1の内部抵抗(ソース・ドレイン間抵抗)が増加し、出力ノードN1の電圧VREG が低下する。逆に、比較電圧VCが基準電圧VRよりも低ければ、増幅回路Aの出力電圧VOは低くなり、トランジスタM1の内部抵抗が減少して、出力ノードN1の電圧VREG は上昇する。
【0008】
このような、フィードバック動作により、比較電圧VCと基準電圧VRが一致する状態で、出力ノードN1の電圧VREG が安定する。従って、VREG =VR×(1+R1/R2)となる。なお、フィードバック動作による出力ノードN1の電圧変動は、コンデンサC1を介して増幅回路Aに帰還され、発振状態となることが防止される。また、出力ノードN1に接続される負荷の微小な電流変動は、コンデンサC2によって吸収され、この出力ノードN1の電圧VREG はほぼ一定に保持される。
【0009】
図3(b)の電圧レギュレータは、図3(a)中のトランジスタM1に代えて、電源電圧VDDから出力ノードN1に一定の電流を供給する定電流回路Bを設けると共に、この出力ノードN1と接地電位GNDとの間に、増幅回路Aの出力電圧VOで制御されるN型のMOSトランジスタM2を設けたものである。
【0010】
この電圧レギュレータでは、定電流回路Bによって、電源電圧VDDから出力ノードN1に常に一定の電流が供給される。ここで、出力ノードN1に接続される負荷に流れる電流が減少すると、出力ノードN1の電圧VREG は上昇する。これにより、増幅回路Aの出力電圧VOが上昇してトランジスタM2の内部抵抗が減少し、このトランジスタM2に流れる電流が増加する。逆に、負荷に流れる電流が増加すると、出力ノードN1の電圧VREG が低下する。これにより、増幅回路Aの出力電圧VOが低下してトランジスタM2の内部抵抗が増加し、このトランジスタM2に流れる電流が減少する。このような、フィードバック動作により、出力ノードN1に接続される負荷に流れる電流と、トランジスタM2に流れる電流の和が常に一定となるように制御され、出力ノードN1の電圧VREG が安定する。
【特許文献1】
特開平3−82363号公報
【特許文献2】
特開2000−66742号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の電圧レギュレータでは、次のような課題があった。
例えば、入力側の電源電圧VDDが5V、出力ノードN1の電圧VREG が3Vで、負荷電流が0〜10mAで変動する場合、図3(a)のシリーズ型の電圧レギュレータでは、電源電圧VDDから負荷電流に対応して0〜10mAの電流が供給される。従って、直列に挿入されるトランジスタM1での電圧降下(2V)と負荷電流の積が損失となり、消費電力の観点からは問題は無い。
【0012】
しかし、電源電圧VDDから供給される電流が、負荷電流に対応しているため、供給される電流の変化を外部からモニタすることにより、ICカードの内部ロジック部の動作を解析することが可能になってしまうという問題があった。
【0013】
特に、DPA/SPA(Differential Power Analysis /Simple Power Analysis)等の進んだ解析技術を使用した場合、セキュリティ上守られるべき秘密データが、電源電流波形から解読されてしまうという問題が発生するおそれがある。
【0014】
一方、図3(b)のシャント型の電圧レギュレータでは、定電流回路Bによって、電源電圧VDDから常に一定の電流が流れるため、電源電流波形のモニタによって内部の状態が解読されるおそれはない。しかし、このために実際の負荷電流に関係なく、常に10mAを越える電流を供給する必要があり、消費電力の観点で問題があった。
【0015】
本発明は、前記従来技術が持っていた課題を解決し、消費電力の増加が少なく、かつ負荷回路の動作解析が困難な電圧レギュレータを提供するものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明の内の第1の発明は、電圧レギュレータにおいて、電源電圧が与えられる入力ノードと負荷が接続される出力ノードの間に設けられ、該出力ノードに一定電流を供給する定電流回路と、前記定電流回路に対して並列に設けられ、前記負荷の電流が前記一定電流より多いときにその不足分の電流を供給する第1のトランジスタと、前記出力ノードと共通電位の間に設けられ、前記負荷の電流が前記一定電流より少ないときにその余剰分の電流を該共通電位に流す第2のトランジスタと、前記出力ノードの出力電圧が一定の電圧となるように前記第1及び第2のトランジスタの導通状態を制御する制御手段とを備えている。
【0017】
第2の発明は、第1の発明における制御手段を、出力電圧を分圧して第1の分圧電圧及び該第1の分圧電圧より低い第2の分圧電圧を生成する分圧回路と、第1の分圧電圧と基準電圧との差の電圧を増幅して第1のトランジスタを制御する第1の増幅回路と、第2の分圧電圧と基準電圧との差の電圧を増幅して第2のトランジスタを制御する第2の増幅回路とで構成している。
【0018】
第1及び第2の発明によれば、以上のように電圧レギュレータを構成したので、次のような作用が行われる。
【0019】
負荷の電流が定電流回路から供給される一定電流より多いときには、制御手段で制御される第1のトランジスタから不足分の電流が供給され、出力ノードの電圧は一定の電圧となるように制御される。一方、負荷の電流が定電流回路から供給される一定電流より少ないときには、制御手段で制御される第2のトランジスタによってから余剰分の電流が共通電位に流され、出力ノードの電圧は一定の電圧となるように制御される。
【0020】
第3の発明は、第1または第2の発明の電圧レギュレータにおいて、制御信号が与えられたときに定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けている。
【0021】
第3の発明によれば、次のような作用が行われる。
制御信号が与えられると、スイッチ手段によって定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流が停止させられる。これにより、負荷の電流はすべて第1のトランジスタから供給され、出力ノードの電圧が一定の電圧となるように制御される。
【0022】
第4の発明は、第2の発明の電圧レギュレータにおいて、制御信号が与えられたときに定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けている。更に、第2の増幅回路を、制御信号が与えられたときに増幅動作を停止するように構成している。
【0023】
第4の発明によれば、次のような作用が行われる。
制御信号が与えられると、スイッチ手段によって定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流が停止させられ、第2の増幅回路の増幅動作は停止させられる。そして、負荷の電流はすべて第1のトランジスタから供給され、出力ノードの電圧が一定の電圧となるように制御される。
【0024】
第5の発明は、第2の発明の電圧レギュレータにおいて、待機信号または制御信号が与えられたときに定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けている。更に、第1の増幅回路を、待機信号が与えられたときに低消費電流モードとなり、第2の増幅回路を、待機信号または制御信号が与えられたときに増幅動作を停止するように構成している。
【0025】
第5の発明によれば、次のような作用が行われる。
制御信号が与えられると、スイッチ手段によって定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流が停止させられ、第2の増幅回路の増幅動作は停止させられる。そして、負荷の電流はすべて第1のトランジスタから供給され、出力ノードの電圧が一定の電圧となるように制御される。また、待機信号が与えられると、定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流が停止させられ、第2の増幅回路の増幅動作は停止させられる。そして、負荷の電流は低消費電流モードで制御される第1のトランジスタから供給される。
【0029】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図である。
この電圧レギュレータは、−入力端子に基準電圧VRが与えられ、+入力端子に比較電圧VCが与えられる差動型の増幅回路10,10を有している。増幅回路10,10はいずれも同じ構成で、その出力側は、それぞれPチャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOS」という)31とNチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOS」という)32のゲートに接続されている。PMOS31のソースには電源電圧VDDが与えられ、ドレインは出力ノードNOに接続されている。NMOS32のドレインは出力ノードNOに接続され、ソースが接地電位GNDに接続されている。
【0030】
また、増幅回路10,10には、内部で一定の電流を発生するための定電流制御信号CSが与えられている。更に、増幅回路10,10には、発振状態とならずに安定した動作が行われるように、出力ノードNOからそれぞれ位相補償用のコンデンサ33,34を介して、位相補償信号PSが与えられるようになっている。
【0031】
電源電圧VDDと出力ノードNOの間には、例えば平均負荷電流の1/2程度の一定電流を流すように設定された定電流回路40が接続されている。また、出力ノードNOと接地電位GNDの間には、電圧平滑用のコンデンサ35が接続されている。
【0032】
更に、出力ノードNOと接地電位GNDの間には、抵抗36,37による分圧回路が接続され、この分圧回路で生成された比較電圧VCが、増幅回路10,10の+入力端子に与えられるようになっている。そして、出力ノードNOから、図示しない負荷回路に対して、所望の一定電圧に調整された電圧VREG が出力されるようになっている。
【0033】
図4(a),(b)は、図1中の増幅回路と定電流回路の一例を示す回路図である。
この増幅回路は、図4(a)に示すように、差動入力部を構成するPMOS11,12を有しており、これらのPMOS11,12のゲートに、それぞれ基準電圧VRと比較電圧VCが与えられるようになっている。PMOS11,12のソースは、共通接続されてPMOS13を介して電源電圧VDDに接続されている。PMOS13のゲートには定電流制御信号CSが与えられ、このPMOS13を介して一定の電流が、PMOS11,12に供給されるようになっている。PMOS11,12のドレインは、それぞれ順方向にダイオード接続されたNMOS14,15を介して接地電位GNDに接続されている。
【0034】
更に、この増幅回路は、定電流制御信号CSに基づいて一定の電流を流すように構成されたPMOS16を有しており、このPMOS16のソースが電源電圧VDDに、ドレインがノードN11に接続されている。ノードN11には、NMOS17のドレインとゲートが接続され、このNMOS17のソースがNMOS18のドレインとゲートに接続されている。そして、NMOS18のソースは、接地電位GNDに接続されている。
【0035】
ノードN11には、NMOS19のゲートが接続され、このNMOS19のソースは、NMOS20を介して接地電位GNDに接続されている。また、NMOS20のゲートは、NMOS14のゲートと共にこのNMOS14のドレインに接続され、ここに位相補償信号PSが与えられるようになっている。NMOS19のドレインは、PMOS21のドレインとゲートに接続され、このPMOS21のソースが電源電圧VDDに接続されている。
【0036】
更に、ノードN11には、NMOS22のゲートが接続され、このNMOS22のソースは、NMOS23を介して接地電位GNDに接続されている。また、NMOS23のゲートは、NMOS15のゲートと共にこのNMOS15のドレインに接続されている。NMOS22のドレインは、PMOS24のドレインに接続され、このPMOS24のソースとゲートが、それぞれ電源電圧VDDとPMOS21のドレインに接続されている。
【0037】
このような増幅回路では、差動入力部のPMOS11,12に入力される基準電圧VRと比較電圧VCの差の電圧が増幅され、NMOS22とPMOS24のドレインの接続点から出力電圧VOが出力されるようになっている。
【0038】
一方、定電流回路は、図3(b)に示すように、定電流制御信号CSに基づいて一定の電流を流すように構成されたPMOS41を有しており、このPMOS41のソースが電源電圧VDDに、ドレインがNMOS42のドレインとゲートに接続されている。NMOS42のソースは接地電位GNDに接続されている。
【0039】
また、NMOS42のドレインには、このNMOS42に対して電流ミラー回路を構成するNMOS43のゲートが接続されている。NMOS43のソースは接地電位GNDに接続され、ドレインはPMOS44のドレインとゲートに接続されている。PMOS44のソースは電源電圧VDDに接続されている。
【0040】
更に、PMOS44のドレインには、このPMOS44に対して電流ミラー回路を構成するPMOS45のゲートが接続されている。PMOS45のソースは電源電圧VDDに接続され、ドレインは電圧レギュレータの出力ノードNOに接続されるようになっている。
【0041】
このような定電流回路では、各トランジスタのゲート幅とゲート長のディメンジョンを所定の比率になるように構成することにより、所望の一定電流を出力ノードNOに供給するようになっている。例えば、定電流制御信号CSに基づいてPMOS41及びNMOS42に50μAの電流が流れると、このNMOS42に流れる電流に比例してNMOS43には500μAの電流が流れる。これにより、PMOS44にも500μAの電流が流れ、このPMOS44に流れる電流に比例して、NMOS45には5mAの電流が流れる。そして、出力ノードNOに5mAの一定電流が供給される。
【0042】
次に、図1の動作を説明する。
まず、出力ノードNOに、例えば所要の電圧VREG が3Vで、負荷電流が0〜10mAの範囲で変化する図示しない負荷回路が接続される。
【0043】
そして、外部から、例えば5Vの電源電圧VDDが供給され、安定した基準電圧VRと定電流制御信号CSが与えられると、定電流回路40を介して例えば5mAの一定電流が出力ノードNOに供給される。
【0044】
これと同時に、増幅回路10の出力電圧VO1によって、定電流回路40に並列に接続された電流源であるPMOS31のゲートが制御される。また、増幅回路10の出力電圧VO2によって、負荷回路に並列に接続されたNMOS32のゲートが制御される。
【0045】
増幅回路10,10の入力側には、出力ノードNOの電圧が抵抗36,37で分圧され、比較電圧VCとして与えられると共に、この出力ノードNOが所要の電圧VREG となるように設定された基準電圧VRが与えられている。
【0046】
これにより、出力ノードNOが電圧VREG となった状態で、増幅回路10の出力電圧VO1と、増幅回路10の出力電圧VO2が安定し、安定した一定の電圧VREG が出力される。
【0047】
例えば、負荷電流が10mAの場合、定電流回路40を介して5mAが供給され、PMOS31を介して不足分の5mAが供給される。そして、NMOS32はオフ状態となる。
【0048】
また、負荷電流が1mAの場合、PMOS31はオフ状態となり、定電流回路40から出力ノードNOに供給された5mAの内、1mAが負荷回路に供給され、余剰分の4mAはNMOS32を介して接地電位GNDに流れる。
【0049】
以上のように、この第1の実施形態の電圧レギュレータは、定電流回路40に並列にPMOS31を設けると共に、負荷回路に並列にNMOS32を設け、出力ノードNOが電圧VREG となるように、これらのPMOS31とNMOS32を制御するように構成している。
【0050】
これにより、負荷回路に流れる負荷電流が定電流回路40の能力を越えない限り、電源電圧VDDから供給される電流が一定値となるので、電源電流波形のモニタによる負荷回路の内部状態の解析が不可能になる。
【0051】
また、負荷電流が定電流回路40の能力を越えたときには、その不足分だけをPMOS31から供給するので、電源電圧VDDから供給される電流の変動は少なく、負荷回路の内部状態の解析は非常に困難である。
【0052】
従って、定電流回路40の電流を適切な値に設定することにより、消費電力をほとんど増加させず、かつ負荷回路の動作解析が困難な電圧レギュレータが得られる。
【0053】
(第2の実施形態)
図5は、本発明の第2の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図であり、図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【0054】
この電圧レギュレータは、図1中の出力ノードNOと接地電位GND間に直列接続された抵抗36,37の間に、抵抗38を挿入したものである。この抵抗36,38の値の合計は、図1中の抵抗36の値と同じ値に設定されている。抵抗36,38の接続箇所の比較電圧VC1を増幅回路10の+入力端子に与え、抵抗38,37の接続箇所の比較電圧VC2を増幅回路10の+入力端子に与えるように構成している。
【0055】
抵抗38の値は、増幅回路10,10のオフセットのばらつき電圧以上の電位差を、これらの増幅回路10,10の+入力端子に与えることができるような値に設定されている。なお、抵抗36,38,37の抵抗比は、出力ノードNOの電圧VREG に対し、比較電圧VC2が基準電圧VRのレベルと等しくなるような分圧比が設定される。即ち、抵抗36,38,37の値をそれぞれR36,R38,R37とすると、次式のようになる。
VR=VREG ×R37/((R36+R38)+R37)
【0056】
また、増幅回路10の駆動能力は、増幅回路10よりも大きく設定されている。その他の構成は、図1と同様である。
【0057】
次に動作を説明する。
まず、電源電圧DVVが供給され、基準電圧VR、定電流制御信号CS、定電流回路40が安定すると、増幅回路10の出力電圧VO1は、比較電圧VC1が基準電圧VRと同レベルになるように、電流源であるPMOS31のゲートを制御しようとする。また、増幅回路10の出力電圧VO2は、比較電圧VC2が基準電圧VRと同レベルになるように、NMOS32のゲートを制御する。
【0058】
この時、増幅回路10は、増幅回路10よりも駆動能力があるため、比較電圧VC2が基準電圧VRと同レベルになる。そして、抵抗38を設けたことにより、比較電圧VC1は基準電圧VRに対して若干高いレベルになる。従って、電圧VREG は、増幅回路10及びNMOS32によって一定の電圧になり、内部電圧として内部に供給されるようになる。
【0059】
比較電圧VC1は、基準電圧VRよりも高いため、増幅回路10の出力電圧VO1は“H”レベルであり、電流源であるPMOS31は“OFF”状態である。即ち、通常では、内部への電流供給は定電流回路40のみから行われることになる。
【0060】
内部回路の電流消費が定電流回路40の供給能力を越えると、電圧VREG は徐々に下がり、そのうちに比較電圧VC1は基準電圧VRに近付く。比較電圧VC1が基準電圧VRを下回ると、増幅回路10の出力電圧VO1は低下し、電流源であるPMOS31を“ON”にさせ、比較電圧VC1を上げようとする。即ち、内部回路の電流消費が定電流回路40の供給能力を越えた場合は、2つの増幅回路10,10、PMOS31及びNMOS32によって、出力ノードNOの電圧VREG が制御される。
【0061】
以上のように、この第2の実施形態の電圧レギュレータは、増幅回路10に与える比較電圧VC1を、増幅回路10に与える比較電圧VC2よりも高くなるように設定している。これにより、PMOS31よりもNMOS32の制御が優先され、内部回路への電流供給は定電流回路40から供給される。従って、定電流回路40の供給能力を越えた時にのみ、PMOS31から電流が供給されるので、内部電流消費のモニタが困難になり、更にセキュリティ対策の効果が大きくなるという利点がある。
【0062】
(第3の実施形態)
図6は、本発明の第3の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図であり、図5中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【0063】
この電圧レギュレータは、図5中の増幅回路10に代えて、制御信号S1によって動作が制御される増幅回路10Aを設けている。また、定電流回路40に直列に、制御信号S1によってオン/オフ制御されるスイッチ用のPMOS51を設けると共に、増幅回路10Aの出力側と接地電位GNDの間に、この制御信号S1によってオン/オフ制御されるスイッチ用のNMOS52を設けている。その他の構成は、図5と同様である。
【0064】
図7は、図6中の増幅回路10Aの一例を示す回路図であり、図4(a)中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この増幅回路10Aは、図4(a)の増幅回路に、NMOS25、PMOS26,27、及びインバータ28を追加したものである。
【0065】
NMOS25は、ノードN11と接地電位GNDの間に接続され、制御信号S1によってゲートが制御されるようになっている。PMOS26は、PMOS11,12のソースとPMOS13のドレインの間に挿入され、制御信号S1によってゲートが制御されるようになっている。また、PMOS27は、PMOS24のゲートとソースの間に接続され、制御信号S1をインバータ28で反転した信号によってゲートが制御されるようになっている。
【0066】
次に動作を説明する。
制御信号S1がレベル“L”のとき、PMOS51はオン、NMOS52はオフとなる。また、増幅回路10Aでは、NMOS25とPMOS27がオフとなり、PMOS26はオンとなる。従って、制御信号S1が“L”のときの図6の電圧レギュレータの動作は、図5の電圧レギュレータと同じである。
【0067】
一方、制御信号S1がレベル“H”のとき、PMOS51はオフ、NMOS52はオンとなる。これにより、定電流回路40が切り離されると共に、増幅回路10Aの出力側が“L”に固定されてNMOS32がオフとなる。また、増幅回路10Aでは、NMOS25とPMOS27がオンとなり、PMOS26はオフとなり、この増幅回路10A内のほとんどの電流経路がカットオフされる。
【0068】
従って、制御信号S1が“H”のとき、この電源レギュレータは、図3(a)の従来のシリーズ型の電源レギュレータと同様の構成となる。
【0069】
以上のように、この第3の実施形態の電源レギュレータは、制御信号S1に応じて、定電流回路40を切り離すためのPMOS51と、出力ノードNOに並列に接続されたNMOS32をオフ状態にするためのNMOS52を有すると共に、この制御信号S1によってほとんどの動作が停止される増幅回路10Aを有している。このため、第2の実施形態と同様の利点に加えて、セキュリティ上問題とならない動作状態の場合には、制御信号S1を“H”に設定することにより、シリーズ型の電源レギュレータを構成することが可能になり、更に消費電力を削減することができるという利点がある。
【0070】
(第4の実施形態)
図8は、本発明の第4の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図であり、図6中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【0071】
この電圧レギュレータは、図6中の増幅回路10に代えて、待機信号SAによって動作が制御される増幅回路10Bを設けている。また、待機信号SAと制御信号SBの論理和を取るための論理和ゲート(以下、「OR」という)53を設け、このOR53の出力信号によって増幅回路10A、PMOS51及びNMOS52を制御するようにしている。その他の構成は、図6と同様である。
【0072】
図9は、図8中の増幅回路10Bの一例を示す回路図であり、図4(a)中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【0073】
この増幅回路10Bは、図4(a)の増幅回路に、直列接続されたPMOS29a,29bを追加すると共に、PMOS13に代えて電流容量の少ないPMOS13aを設けたものである。PMOS13aのゲート幅は、増幅回路10BによってPMOS31を駆動できる最小の寸法に設定され、このPMOS13aとPMOS29aのゲート幅の合計が、MOS13のゲート幅に等しくなるように構成されている。
【0074】
PMOS29aのソースは電源電圧VDDに接続され、ドレインはPMOS29bのソースに接続されている。更に、PMOS29bのドレインは、PMOS13aのドレインに接続されている。そして、PMOS29a,29bのゲートには、定電流制御信号CSと制御信号SAがそれぞれ与えられるようになっている。その他の構成は、図4(a)と同様である。
【0075】
次に動作を説明する。
待機信号SAと制御信号SBが共に“L”のとき、PMOS51はオン、NMOS52はオフとなる。また、増幅回路10Aでは、NMOS25とPMOS27がオフとなり、PMOS26はオンとなる。更に、増幅回路10Bでは、PMOS29bがオンとなり、2つのPMOS13a,29aが並列に接続される。従って、待機信号ASと制御信号SBが“L”のときの図8の電圧レギュレータの動作は、図5の電圧レギュレータと同じである。
【0076】
待機信号SAが“L”で、制御信号SBが“H”のとき、PMOS51はオフとなり、NMOS52はオンとなる。これにより、定電流回路40が切り離されると共に、増幅回路10Aの出力側が“L”に固定されてNMOS32がオフとなる。また、増幅回路10Aでは、NMOS25とPMOS27がオンとなり、PMOS26はオフとなり、この増幅回路10A内のほとんどの電流経路がカットオフされる。更に、増幅回路10Bでは、PMOS29bがオンとなり、2つのPMOS13a,29aが並列に接続される。従って、待機信号が“L”で制御信号SBが“H”のとき、この電源レギュレータは、図3(a)の従来のシリーズ型の電源レギュレータと同様の構成となる。
【0077】
待機信号SAが“H”のときは、制御信号SBのレベルに関係なく、PMOS51はオフ、NMOS52はオンとなる。これにより、定電流回路40が切り離されると共に、増幅回路10Aの出力側が“L”に固定されてNMOS32がオフとなる。また、増幅回路10Aでは、NMOS25とPMOS27がオンとなり、PMOS26はオフとなり、この増幅回路10A内のほとんどの電流経路がカットオフされる。一方、増幅回路10Bでは、PMOS29bがオフとなり、PMOS13bが切り離される、これにより、増幅回路10BのPMOS31に対する駆動能力が低下すると共に、この増幅回路10Bの消費電力が低減する。従って、制御信号SAが“L”のとき、この電源レギュレータは、低消費電力モードのシリーズ型の構成となる。
【0078】
以上のように、この第4の実施形態の電源レギュレータは、待機信号SAに応じて、低消費電力モードとなるように構成された増幅回路10Bを有している。これにより、待機信号SAと制御信号SBにより、第3の実施形態と同様のセキュリティを必要とする動作と、セキュリティを必要としない動作に加えて、例えば待機時に低消費電力モードの動作を行うことができるという利点がある。
【0079】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例えば、次のようなものがある。
(a) PMOS31とNMOS32に代えて、バイポーラトランジスタを使用しても良い。
【0080】
(b) 増幅回路10や定電流回路40等の構成は、図示したものに限定されず、同様の動作が可能なものであれば、どのような回路構成のものでも適用可能である。
【0081】
(c) 位相補償用のコンデンサ33,34の接続箇所は、図示した箇所に限定されず、位相補償によって増幅回路が発振状態となることを防止することができれば良い。
【0082】
(d) 図6及び図8中のNMOS52に代えて、出力ノードNOとNMOS32の間にPMOSを設け、このPMOSをPMOS51と同じように制御信号S1でオン/オフ制御するようにしても良い。
【0083】
(e) 図8中のOR53を省略し、待機信号SAで増幅回路10A,10Bを制御するようにしても良い。その場合、待機信号SAによって、セキュリティを必要とする動作と、低消費電力動作の2つの動作モードの切り替えができる。
【0084】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、第1の発明によれば、一定電流を供給する定電流回路と、これに並列に設けられた第1のトランジスタと、出力ノードと共通電位の間に設けられた第2のトランジスタを有している。これにより、負荷の電流が一定電流を越えたときに第1のトランジスタから不足分の電流が供給される。従って、消費電力の増加を抑え、かつ負荷電流のモニタによる負荷回路の動作解析が困難となる。
【0085】
第2の発明によれば、第1の分圧電圧と基準電圧を比較して第1のトランジスタを制御する第1の増幅回路と、この第1の分圧電圧よりも低い第2の分圧電圧と基準電圧を比較して第2のトランジスタを制御する第2の増幅回路を有している。これにより、第1のトランジスタが先に制御されるので、第1と第2のトランジスタを通して電源電圧から共通電位に流れる貫通電流を防止することができる。
【0086】
第3の発明によれば、制御信号に従って定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けている。これにより、セキュリティを必要としない適用において、無駄な消費電流を無くすことができる。
【0087】
第4の発明によれば、制御信号に従って定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けると共に、この制御信号によって第2の増幅回路の増幅動作を停止するようにしている。これにより、セキュリティを必要としない適用において、更に、消費電力を低減することができる。
【0088】
第5の発明によれば、待機信号または制御信号に従って定電流回路と第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けると共に、第2の増幅回路の動作を停止するように構成している。また、待機信号が与えられたときには、第1の増幅回路を低消費電流モードとするように構成している。これにより、セキュリティを必要としない適用において消費電力を低減することができると共に、待機時には低消費電流モードによって更に消費電力の削減が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図である。
【図2】ICカードの一例を示すシステム構成図である。
【図3】従来の電圧レギュレータの構成図である。
【図4】図1中の増幅回路と定電流回路の一例を示す回路図である。
【図5】本発明の第2の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図である。
【図6】本発明の第3の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図である。
【図7】図6中の増幅回路10Aの一例を示す回路図である。
【図8】本発明の第4の実施形態を示す電圧レギュレータの構成図である。
【図9】図8中の増幅回路10Bの一例を示す回路図である。
【符号の説明】
10,10A,10B 増幅回路
31,51 PMOS
32,52 NMOS
33〜35 コンデンサ
36〜38 抵抗
40 定電流回路
53 OR

Claims (5)

  1. 電源電圧が与えられる入力ノードと負荷が接続される出力ノードの間に設けられ、該出力ノードに一定電流を供給する定電流回路と、
    前記定電流回路に対して並列に設けられ、前記負荷の電流が前記一定電流より多いときにその不足分の電流を供給する第1のトランジスタと、
    前記出力ノードと共通電位の間に設けられ、前記負荷の電流が前記一定電流より少ないときにその余剰分の電流を該共通電位に流す第2のトランジスタと、
    前記出力ノードの出力電圧が一定の電圧となるように前記第1及び第2のトランジスタの導通状態を制御する制御手段とを、
    備えたことを特徴とする電圧レギュレータ。
  2. 前記制御手段は、
    前記出力電圧を分圧して第1の分圧電圧及び該第1の分圧電圧より低い第2の分圧電圧を生成する分圧回路と、
    前記第1の分圧電圧と基準電圧との差の電圧を増幅して前記第1のトランジスタを制御する第1の増幅回路と、
    前記第2の分圧電圧と前記基準電圧との差の電圧を増幅して前記第2のトランジスタを制御する第2の増幅回路とを、
    有することを特徴とする請求項1記載の電圧レギュレータ。
  3. 請求項1または2記載の電圧レギュレータにおいて、制御信号が与えられたときに前記定電流回路と前記第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設けたことを特徴とする電圧レギュレータ。
  4. 請求項2記載の電圧レギュレータにおいて、制御信号が与えられたときに前記定電流回路と前記第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設け、前記第2の増幅回路は、該制御信号が与えられたときに増幅動作を停止するように構成したことを特徴とする電圧レギュレータ。
  5. 請求項2記載の電圧レギュレータにおいて、待機信号または制御信号が与えられたときに前記定電流回路と前記第2のトランジスタに流れる電流を停止させるスイッチ手段を設け、前記第1の増幅回路は、該待機信号が与えられたときに低消費電流モードとなり、前記第2の増幅回路は、該待機信号または制御信号が与えられたときに増幅動作を停止するように構成したことを特徴とする電圧レギュレータ。
JP2001229374A 2001-07-30 2001-07-30 電圧レギュレータ Expired - Fee Related JP3539940B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001229374A JP3539940B2 (ja) 2001-07-30 2001-07-30 電圧レギュレータ
EP05108301A EP1622067B1 (en) 2001-07-30 2002-07-30 Voltage regulator and semiconductor integrated circuit
US10/207,388 US6696822B2 (en) 2001-07-30 2002-07-30 Voltage regulator with a constant current circuit and additional current sourcing/sinking
EP02017155A EP1282072B1 (en) 2001-07-30 2002-07-30 Voltage regulator and semiconductor integrated circuit
DE60212771T DE60212771T2 (de) 2001-07-30 2002-07-30 Spannungsregler und integrierter Halbleiterschaltkreis
DE60225360T DE60225360T2 (de) 2001-07-30 2002-07-30 Spannungsregler und integrierter Halbleiterschaltkreis
US10/748,198 US6967470B2 (en) 2001-07-30 2003-12-31 Voltage regulator combining a series type regulator with a shunt type regulator having a constant current source

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001229374A JP3539940B2 (ja) 2001-07-30 2001-07-30 電圧レギュレータ

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004000583A Division JP3819002B2 (ja) 2004-01-05 2004-01-05 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003044151A JP2003044151A (ja) 2003-02-14
JP3539940B2 true JP3539940B2 (ja) 2004-07-07

Family

ID=19061730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001229374A Expired - Fee Related JP3539940B2 (ja) 2001-07-30 2001-07-30 電圧レギュレータ

Country Status (4)

Country Link
US (2) US6696822B2 (ja)
EP (2) EP1622067B1 (ja)
JP (1) JP3539940B2 (ja)
DE (2) DE60225360T2 (ja)

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3539940B2 (ja) * 2001-07-30 2004-07-07 沖電気工業株式会社 電圧レギュレータ
JP2004062374A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Seiko Instruments Inc ボルテージ・レギュレータ
KR100528464B1 (ko) * 2003-02-06 2005-11-15 삼성전자주식회사 스마트카드의 보안장치
US7102338B2 (en) * 2003-10-23 2006-09-05 Intel Corporation Multi-sense voltage regulator
JP4309891B2 (ja) * 2004-01-30 2009-08-05 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置及びそれを用いた非接触型icカード並びに携帯情報端末
US7135912B2 (en) * 2004-03-22 2006-11-14 Texas Instruments Incorporated Methods and systems for decoupling the stabilization of two loops
DE102004020576B4 (de) * 2004-04-27 2007-03-15 Infineon Technologies Ag Datenverarbeitungsvorrichtung mit schaltbarer Ladungsneutralität und Verfahren zum Betreiben einer Dual-Rail-Schaltungskomponente
JP4390620B2 (ja) * 2004-04-30 2009-12-24 Necエレクトロニクス株式会社 ボルテージレギュレータ回路
CN1770611B (zh) * 2004-11-06 2010-05-05 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 线性稳压电源电路
US7274176B2 (en) * 2004-11-29 2007-09-25 Stmicroelectronics Kk Regulator circuit having a low quiescent current and leakage current protection
JP4607608B2 (ja) * 2005-02-04 2011-01-05 株式会社東芝 半導体集積回路
US7285940B2 (en) * 2005-09-07 2007-10-23 Nxp B.V. Voltage regulator with shunt feedback
KR100840035B1 (ko) * 2006-06-20 2008-06-19 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 반도체 집적 회로 장치 및 그것을 이용한 비접촉형 ic카드 및 휴대 정보 단말기
JP4855197B2 (ja) * 2006-09-26 2012-01-18 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド シリーズレギュレータ回路
US8552698B2 (en) * 2007-03-02 2013-10-08 International Rectifier Corporation High voltage shunt-regulator circuit with voltage-dependent resistor
US8174251B2 (en) * 2007-09-13 2012-05-08 Freescale Semiconductor, Inc. Series regulator with over current protection circuit
JP4937078B2 (ja) * 2007-10-22 2012-05-23 株式会社東芝 定電圧電源回路
KR101369154B1 (ko) 2007-12-11 2014-03-04 삼성전자주식회사 과전압 보호 기능을 갖는 션트 레귤레이터 및 이를 구비한반도체 장치
JP5098742B2 (ja) * 2008-03-26 2012-12-12 ミツミ電機株式会社 定電圧電源回路
JP2009258787A (ja) * 2008-04-11 2009-11-05 Toshiba Corp 電源回路
US7969127B1 (en) * 2008-04-25 2011-06-28 National Semiconductor Corporation Start-up circuit for a shunt regulator
US7973518B2 (en) * 2008-06-05 2011-07-05 Intel Corporation Low noise voltage regulator
US8278893B2 (en) 2008-07-16 2012-10-02 Infineon Technologies Ag System including an offset voltage adjusted to compensate for variations in a transistor
US8148962B2 (en) 2009-05-12 2012-04-03 Sandisk Il Ltd. Transient load voltage regulator
CN102006532B (zh) * 2010-10-09 2014-07-02 昆腾微电子股份有限公司 供电设备、用于数字麦克风的处理芯片和数字麦克风
US8782446B2 (en) * 2012-01-19 2014-07-15 Texas Instruments Incorporated Security of cryptographic devices against differential power analysis
US9235222B2 (en) * 2012-05-17 2016-01-12 Rf Micro Devices, Inc. Hybrid regulator with composite feedback
EP2857923B1 (en) * 2013-10-07 2020-04-29 Dialog Semiconductor GmbH An apparatus and method for a voltage regulator with improved output voltage regulated loop biasing
WO2015100345A2 (en) * 2013-12-23 2015-07-02 Ess Technology, Inc. Voltage regulator using both shunt and series regulation
US20150286232A1 (en) * 2014-04-08 2015-10-08 Fujitsu Limited Voltage regulation circuit
DE102014212502B4 (de) 2014-06-27 2018-01-25 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Überspannungskompensation für einen Spannungsreglerausgang
US9513646B2 (en) * 2014-11-26 2016-12-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Low dropout regulator
KR101748726B1 (ko) * 2015-07-01 2017-06-19 엘에스산전 주식회사 회로차단기의 정전압 공급회로
CN105159380B (zh) * 2015-08-12 2017-01-18 西安航天动力试验技术研究所 一种多通道隔离恒压及恒流源
US9946284B1 (en) 2017-01-04 2018-04-17 Honeywell International Inc. Single event effects immune linear voltage regulator
US10234883B1 (en) * 2017-12-18 2019-03-19 Apple Inc. Dual loop adaptive LDO voltage regulator
DE102020129614B3 (de) * 2020-11-10 2021-11-11 Infineon Technologies Ag Spannungsregelschaltkreis und Verfahren zum Betreiben eines Spannungsregelschaltkreises
TWI782780B (zh) * 2021-11-05 2022-11-01 美商矽成積體電路股份有限公司 低功率雙資料速率記憶體之電源管理電路及其管理方法
CN116736925B (zh) * 2022-12-21 2024-03-12 无锡迈尔斯通集成电路有限公司 零电流高精度使能电路

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS573116A (en) * 1980-06-06 1982-01-08 Nec Corp Converter
JPS60126811A (ja) 1983-12-13 1985-07-06 株式会社エック 可変コンデンサのステータ素子
JPS60126811U (ja) * 1984-01-31 1985-08-26 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 部分帰還型シヤントレギユレ−タ電源装置
JPH0382363A (ja) * 1989-08-23 1991-04-08 Sharp Corp 安定化電源回路
US5608312A (en) * 1995-04-17 1997-03-04 Linfinity Microelectronics, Inc. Source and sink voltage regulator for terminators
JPH10201088A (ja) 1997-01-17 1998-07-31 Hitachi Ltd 定電圧電源回路および半導体集積回路並びにicカード
EP0864956A3 (en) * 1997-03-12 1999-03-31 Texas Instruments Incorporated Low dropout regulators
US5966004A (en) * 1998-02-17 1999-10-12 Motorola, Inc. Electronic system with regulator, and method
FR2776410B1 (fr) * 1998-03-20 2002-11-15 Gemplus Card Int Dispositifs pour masquer les operations effectuees dans une carte a microprocesseur
JP2000047740A (ja) 1998-07-29 2000-02-18 Mitsubishi Electric Corp 電圧補助回路および半導体集積回路装置
JP3315934B2 (ja) * 1998-08-21 2002-08-19 東光株式会社 直列制御型レギュレータ
DE19907575A1 (de) * 1999-02-23 2000-08-24 Philips Corp Intellectual Pty Schaltungsanordnung zum Liefern eines Speisestromes
JP2000348152A (ja) * 1999-06-09 2000-12-15 Hitachi Ltd 非接触icカード
JP3781924B2 (ja) 1999-08-30 2006-06-07 ローム株式会社 電源回路
JP2001134331A (ja) 1999-11-01 2001-05-18 Seiko Epson Corp 半導体集積回路及びそれを用いた装置
US6766455B1 (en) * 1999-12-09 2004-07-20 Pitney Bowes Inc. System and method for preventing differential power analysis attacks (DPA) on a cryptographic device
US6201375B1 (en) * 2000-04-28 2001-03-13 Burr-Brown Corporation Overvoltage sensing and correction circuitry and method for low dropout voltage regulator
DE10025834B4 (de) * 2000-05-25 2005-07-14 Hilti Ag Einrichtung zur Erzeugung einer rauscharmen geregelten Hochspannung aus einer Niedervolt-Versorgungsquelle
JP3990100B2 (ja) 2000-09-26 2007-10-10 株式会社東芝 非接触情報記録媒体
US6333623B1 (en) * 2000-10-30 2001-12-25 Texas Instruments Incorporated Complementary follower output stage circuitry and method for low dropout voltage regulator
JP3539940B2 (ja) * 2001-07-30 2004-07-07 沖電気工業株式会社 電圧レギュレータ
US6548991B1 (en) * 2002-01-19 2003-04-15 National Semiconductor Corporation Adaptive voltage scaling power supply for use in a digital processing component and method of operating the same
US6650093B1 (en) * 2002-06-03 2003-11-18 Texas Instruments Incorporated Auxiliary boundary regulator that provides enhanced transient response

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003044151A (ja) 2003-02-14
US6696822B2 (en) 2004-02-24
EP1622067A1 (en) 2006-02-01
EP1282072B1 (en) 2006-06-28
US6967470B2 (en) 2005-11-22
DE60225360T2 (de) 2009-03-12
DE60225360D1 (de) 2008-04-10
US20030030417A1 (en) 2003-02-13
DE60212771T2 (de) 2007-06-28
EP1282072A1 (en) 2003-02-05
US20040150382A1 (en) 2004-08-05
EP1622067B1 (en) 2008-02-27
DE60212771D1 (de) 2006-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3539940B2 (ja) 電圧レギュレータ
US7385378B2 (en) Constant-voltage circuit, semiconductor device using the same, and constant-voltage outputting method providing a predetermined output voltage
KR101255996B1 (ko) 전압 레귤레이터
US8446215B2 (en) Constant voltage circuit
JP3825300B2 (ja) 内部降圧回路
US7932707B2 (en) Voltage regulator with improved transient response
JP4859754B2 (ja) 基準電圧発生回路及び基準電圧発生回路を使用した定電圧回路
EP3051378B1 (en) Low dropout regulator circuit and method for controlling a voltage of a low dropout regulator circuit
JPH0738056A (ja) 半導体集積回路装置とその電源供給方法
JP3335183B2 (ja) バッファ回路
JP4445780B2 (ja) 電圧レギュレータ
US6437638B1 (en) Linear two quadrant voltage regulator
JP4181695B2 (ja) レギュレータ回路
JP3819002B2 (ja) 半導体装置
US20020175663A1 (en) Reference voltage generator tolerant to temperature variations
US7196505B2 (en) Device and method for low-power fast-response voltage regulator with improved power supply range
CN113258878B (zh) 振荡器
KR100307526B1 (ko) 첨두전류제한회로
CN111650988A (zh) 一种稳压器
KR20030054216A (ko) 반도체기억소자의 이중 중간 전압 발생기
KR20000045330A (ko) 반도체 기억소자의 선충전전압 발생회로
JP2001356828A (ja) 基準電圧発生回路
KR20020006768A (ko) 기준 전압 시프터
JP2000193690A (ja) 電位レベル判定回路

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040105

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040323

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040323

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080402

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090402

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090402

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140402

Year of fee payment: 10

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees