JP3479248B2 - Atm伝送試験装置 - Google Patents
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Description
(以下、ATMとする)方式による伝送路の試験を行う
ATM伝送試験装置に関するものである。
セルと呼ばれる一定の長さ(固定長)に分割し、各セル
毎に宛先等を示したヘッダを付加して伝送を行う。AT
M伝送試験では、ATM網を構成する各ノード(ATM
伝送装置)間の伝送路の接続確認、ノード内の接続確
認、またはこれらの伝送品質の確認、ノード間を伝送す
る信号の片道および往復に要する伝搬遅延時間の測定、
ノード間のフレーム位相差の測定等が行われる。
的に伝送路網として保守目的で独自に行われる場合に
は、ATM網を運用系から外して待機系で行われる。ま
た、運用系で伝送試験を行う場合は、ノードを交えて、
VPレベルのF4フロー、VCレベルのF5フローで接
続確認や性能試験を行うことが勧告(ITU−T I.
610)されており、市販の専門書等にもこのような記
述がされている。
ベルのF5フローで伝送試験を行うには、装置が複雑と
なってしまうため、現実にはサポートされていないこと
が多い。
・エンドのVCレベルでの接続確認ならびに伝送品質の
確認が行われている。また、さらにはATM伝送での処
理遅延ゆらぎを心配し、片道および往復の伝搬遅延時間
を運用中のノードにて確認することが要求されている。
であって、ATM網が運用系にあるときに簡単に伝送試
験を行うことができるATM伝送試験装置を提供するこ
とを目的とする。すなわち、本発明は、運用中のノード
において、ATM網を構成するノード間の接続確認を行
うことができるATM伝送試験装置を提供することを目
的とする。また、本発明は、運用中のノードにおいて、
ビット誤り率やセル損失率等の伝送品質の測定、伝送時
における信号の片道、および往復の信号伝搬遅延時間の
測定、ノード間のフレーム位相差の測定などの各種測定
を行うことができるATM伝送試験装置を提供すること
を目的とする。
め、本発明は、非同期伝送モード(ATM)方式による
伝送路の試験を行う手段を備えたATM伝送試験装置に
おいて、試験要求に応じて所定の試験モードを選択し前
記試験モード情報を含む前記試験モードに応じたATM
セルを生成する伝送試験用ATMセル生成手段と、前記
伝送試験用ATMセルを所定のタイミングで対向するノ
ードに送信する試験セル送信手段と、前記対向するノー
ドから送信された前記伝送試験用ATMセルに対する応
答である伝送試験用応答ATMセルを受信する応答セル
受信手段と、前記伝送試験用ATMセルの送信時刻およ
び前記伝送試験用応答ATMセルの受信時刻を計時する
計時手段と、前記受信した伝送試験用応答ATMセルを
用いて伝送品質の測定を行うとともに必要に応じて前記
計時手段の計時した時刻を用いて時間測定を行う測定手
段とを備えた主試験処理部と、前記伝送試験用ATMセ
ルを受信する試験セル受信手段と、前記受信した伝送試
験用ATMセルに含まれる前記試験モードに応じて所定
の前記伝送試験用応答ATMを生成する伝送試験用応答
ATMセル生成手段と、前記伝送試験用応答ATMセル
を所定のタイミングで送信する応答セル送信手段とを備
えた試験応答処理部とにより構成されたATM伝送試験
装置であることを特徴とする。
通常の運用中、所定のATM伝送試験装置に試験要求を
出すことにより、伝送試験が開始される。試験要求が出
されたATM伝送試験装置は、試験要求の試験モードに
応じた伝送試験用ATMセルを生成し、対向するノード
に送信する。これを受信したノードは、伝送試験用応答
ATMセルを生成して送信する。伝送試験用ATMセル
を送信したノードは、応答を受信すると、試験モードに
応じて応答セルの検査を行う。この検査の結果により、
ノード間の伝送品質を測定することができる。また、伝
送試験用ATMセルの送信時刻および受信時刻を用い
て、信号伝搬遅延時間を測定することができる。このよ
うに、運用中のATM網のノードにおいて、ノード間の
接続確認、および伝送品質や伝搬遅延時間の測定をする
ことができる。ここで、試験セル送信手段と応答セル送
信手段、および応答セル受信手段と試験セル受信手段
は、同一の共通回路で構成してもよい。
は、データ・フィールドにATMセルを送信する毎にカ
ウントアップさせるシーケンス番号を設定する手段を含
み、前記測定手段は、前記受信した伝送試験用応答AT
Mセルの前記シーケンス番号を用いてセル損失率を算出
する手段を含む構成とすることもできる。このような構
成のATM伝送装置では、ATMセルに含まれるシーケ
ンス番号をチェックすることにより、セル損失率を算出
することができる。
は、前記試験モードに応じてデータ・フィールドに擬似
乱数であるPNパターンを設定する手段を含み、前記測
定手段は、前記受信した伝送試験用応答ATMセルの前
記PNパターンを用いてビット誤り率を算出する手段を
含む構成とすることもできる。このような構成のATM
伝送試験装置では、伝送試験用ATMセルにPNパター
ンを設定することにより、ノード間のビット誤り率を測
定することができる。
手段が、前記試験モードに応じて受信した前記伝送試験
用ATMセルのデータ・フィールドに設定されたデータ
をそのまま前記伝送試験用応答ATMセルのデータ・フ
ィールドに設定する手段を含む構成とすることもでき
る。このような構成のATM伝送試験装置では、送信し
た伝送試験用ATMセルに設定されたデータが、そのま
ま伝送試験用応答ATMセルによって返送されるため、
両者を用いてノード間の往復の信号パスでのビット誤り
率を測定することができる。
手段は、前記試験モードに応じて前記伝送試験用応答A
TMセルのデータ・フィールドに新たなPNデータを設
定する手段を含む構成とすることもできる。このような
構成のATM伝送試験装置では、対向するノードから、
新たなPNデータが設定された伝送試験用応答ATMセ
ルを受信し、このPNデータを用いてノード間の片道で
のビット誤り率を測定することができる。
験用ATMセルの受信時刻および前記伝送試験用応答A
TMセルの送信時刻を計時する応答処理計時手段を含
み、前記伝送試験用応答ATMセル生成手段は、さら
に、前記試験モードに応じて前記伝送試験用応答ATM
セルのデータ・フィールドに前記応答処理計時手段で計
時した前記受信時刻および送信時刻を付加する手段を含
む構成とすることもできる。このような構成のATM伝
送試験装置は、伝送試験用応答セルを生成する側の送信
時刻および受信時刻を得ることによって、ノード間のフ
レーム位相差、およびノード間の片道および往復の信号
伝搬遅延時間を測定することができる。
時手段が、各ノードで共通となる時刻情報を入力し計時
する手段を含む構成とすることもできる。このような構
成のATM伝送試験装置は、各ノード間で共通の時刻を
用いて計時することができるため、精度の高い測定を行
うことができる。
らに、前記試験セル送信手段から送出された前記伝送試
験用ATMセルを折り返して前記応答セル受信手段に入
力する折り返し手段を含む構成とすることもできる。こ
のような構成のATM伝送試験装置は、装置内部で伝送
試験用セルを折り返して試験を行うことができるため、
ノード内での接続確認を行うことができる。
を用いて説明する。図1は、本発明の一実施の形態であ
るATM伝送試験装置を用いたシステム構成図である。
このATM伝送試験システムは、ノードに当たる本発明
に係る複数のATM伝送試験装置10a、10b、10
cと、これらを接続するATM網20とから構成され
る。各ATM伝送試験装置10a、10b、10cは、
主としてノード処理を行うATMスイッチ11a、11
b、11cと、ATM伝送試験処理を行うATM伝送試
験処理部12a、12b、12cとから成る。
およびATM網20は、一般のATM伝送処理を行うも
のであり、詳しい説明は省略する。ATM伝送試験処理
部12a、12b、12cは、試験要求に従って上記説
明のシステムの伝送路に試験用のATMセルを流して、
ノード間の接続確認、ノード内の接続確認、またこれら
の伝送品質の確認、ノード間を伝送する信号の片道およ
び往復の伝搬遅延時間測定、ノード間のフレーム位相差
を測定する。この伝送路には伝送装置や交換機が含まれ
る。例えば、ATM伝送試験処理部12aにより生成さ
れた試験用ATMセルは、ATMスイッチ11aを経由
し、ATM網20を介して、相手先のATM伝送試験装
置10bが受信する。試験用ATMセルを受信したAT
M伝送試験装置10bは、ATM伝送試験処理部12b
により、所定の試験処理を行う。
は、通常の処理を行うATM伝送装置に付加されたAT
M伝送試験処理部により、運用中のATM網のノードに
おいて伝送試験を行うことができる。各ノードは、同様
の構成をとっており、任意のノードにおいて指令を行う
ことにより伝送試験が開始される。以下の説明では、主
試験処理部を備え、指令を受けて試験を主として行い伝
送試験用ATMセルを生成するノードを主ノードとす
る。また、試験応答処理部を備え、伝送試験用ATMセ
ルを受信し、これに応じて所定の処理を行い伝送試験用
応答ATMセルを送信するノードを対向ノードとする。
各ATM伝送試験装置は、主試験処理部および試験応答
処理部から成るATM伝送試験処理部を備えており、試
験時には、主ノードあるいは対向ノードのいずれか任意
のノードとなる。
しく説明する。図2は、本発明の一実施の形態であるA
TM伝送試験装置のATM伝送試験処理部のブロック図
である。ATM伝送試験処理部は、ATMセル受信部
1、シーケンス番号の処理を行うシーケンス番号処理部
2、試験モードの処理を行うモード値判定/設定部3、
時間処理を行う標準時刻受信部21、基準時計部22、
ATMセル受信時刻記憶部23、ATMセル送信時刻記
憶部24、および伝搬遅延時間/フレーム位相差測定部
25、試験モードに応じたデータ処理を行うビット誤り
率測定部31、PNパターンデータ処理部32、および
タイムスタンプデータ処理部33、ATMセル送信部4
1、およびフレーム位相保持部51とから構成される。
および応答セル受信手段であり、ATM網経由で入力す
るATMセルを受信する。シーケンス番号処理部2は、
伝送試験用ATMセル生成手段であって、主ノードの場
合、ATMセルに送信毎にカウントアップするシーケン
ス番号を設定する。また、主ノードで伝送試験用応答A
TMセル受信時、および対向ノードの場合、受信したA
TMセル中のシーケンス番号をチェックし、セル損失率
を算出する。モード値判定/設定部3は、伝送試験用A
TMセル生成手段および伝送試験用応答ATMセル生成
手段であって、試験モード値の管理を行う。主ノードの
場合は試験要求に従ってモード値の設定を行い、対向ノ
ードの場合は受信セルに含まれるモード値を判定する。
処理計時手段について説明する。標準時刻受信部21
は、例えばGPSや時報のように各ノードで共通となる
時刻情報を入力する。基準時計部22は、標準時刻受信
部21の入力した時刻情報を基に、時間処理を行う。A
TMセル受信時刻記憶部23は、ATMセル受信部1が
セルを受信した時刻を基準時計部22より入力し、これ
を記憶する。ATMセル送信時刻記憶部24は、ATM
セル送信部41がセルを送信した時の時刻を基準時計部
22より入力し、これを記憶する。
は、測定手段であって、ATMセル受信時刻記憶部23
に記憶された受信時刻、ATMセル送信時刻記憶部24
に記憶された送信時刻、およびタイムスタンプデータ処
理部33で処理された対向ノードの送信時刻および受信
時刻を基に、ノード間の信号伝搬遅延時間の算出および
ノード間のフレーム位相差を測定する。
処理を行う処理部について説明する。各処理へは、モー
ド値判定/設定部3より入力する試験モードによって分
岐する。
けるATMセルの構成について説明する。図3は、本発
明の一実施の形態であるATM伝送試験装置で試験に用
いるATMセルの構成図である。ATMセルは、宛先等
を含むATMセルヘッダとペイロードとから構成されて
いる。ペイロードは、さらに、シーケンス番号を設定す
るシーケンス番号フィールドと、試験モードに応じたモ
ード値を登録するモード・フィールドと、試験モードに
応じたデータを設定するデータ・フィールドとから構成
される。
送信時にカウントアップされるシーケンス番号である。
受信側で、受信したATMセルのシーケンス番号フィー
ルドの値をチェックすることにより、受信できなかった
ATMセルの数を検出することができ、これを基に受信
できなかったATMセルの割合であるセル損失率を算出
することが可能となる。
を行う折り返しモード、互いにATMセルを生成して送
出する相互送出モード、時間測定を行うハンドシェイク
送出モードがある。データ・フィールドには、折り返し
モード、および相互送出モードの場合、擬似乱数である
PNパターンデータが埋め込まれる。また、ハンドシェ
イク送出モードの場合には、対向ノードの計時した受信
時刻および送信時刻(以下、タイムスタンプとする)が
書き込まれる。
部31は、上記説明のPNパターンを受信したときに、
これを基にビット誤り率を測定する測定手段である。P
Nパターンデータ処理部32は、試験モードに応じてA
TMセルのデータ・フィールドのPNパターンを処理す
る伝送試験用ATMセル生成手段および伝送試験用応答
ATMセル生成手段である。タイムスタンプデータ処理
部33は、対向ノードの場合に、試験モードに応じてA
TMセル受信時刻記憶部23およびATMセル送信時刻
記憶部24に記憶された送受信時刻を応答セルのデータ
・フィールドに書き込む伝送試験用応答ATMセル生成
手段である。また、主ノードの場合に、対向ノードの送
信したタイムスタンプデータを読み出して処理を行う。
ータ処理部32、またはタイムスタンプデータ処理部3
3によって生成されたATMセルを送信する試験セル送
信手段および応答セル送信手段である。フレーム位相保
持部51は、各ノード間のフレーム位相が一致するよう
にフレーム同期を保持する。
作について各試験モード毎に説明する。まず、折り返し
試験を行う「折り返しモード」について説明する。試験
開始時にはまず、使用者の試験モード設定および試験開
始指令によりシーケンス番号処理部2が起動される。シ
ーケンス番号処理部2により、シーケンス番号フィール
ドに所定の番号が設定され、モード値判定/設定部3へ
進む。折り返し試験を要求する「折り返しモード」が設
定されると、モード値判定/設定部3は、PNパターン
データ処理部32を起動する。PNパターンデータ処理
部32は、データ・フィールドにPNパターンを書き込
み、モード・フィールド=折り返し、データ・フィール
ド=PNパターンの伝送試験用ATMセルを生成する。
このATMセルを、フレーム位相保持部51からのタイ
ミング指示に従ってATMセル送信部41より送信す
る。このときの時刻は、ATMセル送信時刻記憶部24
に記憶される。この送信時刻をt1sとする。
TMセルをATMセル受信部1で受信した対向ノード
は、シーケンス番号処理部2により、シーケンス番号を
チェックし、セル損失率を算出する。続いて、モード値
判定/設定部3により試験モードを判定し、PNパター
ンデータ処理部32を起動する。PNパターンデータ処
理部32は、データ・フィールドに受信した伝送試験用
ATMセルのモード・フィールドおよびPNパターンを
そのまま書き込む。ここで、モード・フィールド=折り
返し、データ・フィールド=受信したPNパターンの伝
送試験用応答ATMセルが生成される。このATMセル
を、迅速にATMセル送信部41より送信する。
答ATMセルをATMセル受信部1で受信した主ノード
は、この受信時刻をATMセル受信時刻記憶部23に記
憶する。これをt1rとする。モード値判定/設定部3
により試験モードを判定し、ビット誤り率測定部31を
起動し、ビット誤り率を測定する。また、シーケンス番
号処理部2により、セル損失率を算出する。さらに、伝
搬遅延時間/フレーム位相差測定部25で、往復の信号
伝搬遅延時間を測定する。
する。図4は、本発明の一実施の形態であるATM伝送
試験装置の折り返しモード時の試験形態を示した図であ
る。主ノードであるノードA(10a)は、上記説明の
ようにPNデータを含む伝送試験用ATMセルを生成
し、対向ノードであるノードB(10b)に送信する。
信したPNデータをそのままノードA(10a)に送り
返す。このため、ノードA(10a)は、送信したPN
データと、受信したPNデータを用いて、ノード間の往
復でのビット誤り率を算出することができる。
遅延時間を算出することができる。図5は、本発明の一
実施の形態であるATM伝送試験装置の折り返しモード
時のタイミングチャートである。図に示したように、ノ
ードAは、所定のフレーム周期で伝送試験用ATMセル
を送信する。ここで、フレーム周期とは、ノードがセル
送信から次のセル送信までに設定された時間間隔であ
る。送信時刻t1sと、対向するノードBからの伝送試
験用応答ATMセル受信時刻t1rとから、ノード間の
往復に要する信号伝搬遅延時間twを次の式で算出する
ことができる。 tw= t1r−t1s ……(1) このように、運用中のノード間における往復の信号伝搬
遅延時間を算出することができる。
に戻って説明する。ATMセルの送受信処理等、折り返
しモードと同じ動作については、説明を省略する。試験
開始により、シーケンス番号処理部2によって、シーケ
ンス番号フィールドに所定の番号が設定される。続い
て、「相互送出モード」が設定されていると、モード値
判定/設定部3は、PNパターンデータ処理部32を起
動する。PNパターンデータ処理部32は、データ・フ
ィールドにPNパターンを書き込み、モード・フィール
ド=相互送出、データ・フィールド=PNパターンの伝
送試験用ATMセルを生成して送信する。
TMセルを受信した対向するノードは、シーケンス番号
処理部2でセル損失率を算出し、モード値判定/設定部
3により試験モードを判定し、PNパターンデータ処理
部32を起動する。PNパターンデータ処理部32は、
データ・フィールドに新たなPNパターンを書き込み、
モード・フィールド=相互送出、データ・フィールド=
新たなPNパターンの伝送試験用応答ATMセルを生成
する。このATMセルを、フレーム位相保持部51から
のタイミング指示に従ってATMセル送信部41より送
信する。さらに、必要に応じてビット誤り率測定部31
を起動し、受信したPNパターンのビット誤り率を測定
する。
答ATMセルを受信した主ノードは、シーケンス番号処
理部2により、セル損失率を算出する。続いて、モード
値判定/設定部3により試験モードを判定し、ビット誤
り率測定部31を起動し、ビット誤り率を測定する。
する。図6は、本発明の一実施の形態であるATM伝送
試験装置の相互送出モード時の試験形態を示した図であ
る。主ノードであるノードA(10a)は、上記説明の
ようにPNデータを含む伝送試験用ATMセルを生成
し、対向ノードであるノードB(10b)に送信する。
これを受信したノードB(10b)は、新たなPNデー
タをノードA(10a)に送り返す。このため、ノード
A(10a)およびノードB(10b)は、各ノードに
おいて、片道のビット誤り率を算出することができる。
るATM伝送試験装置の相互送出モード時のタイミング
チャートである。図に示したように、ノードAは、所定
のフレーム周期で伝送試験用ATMセルを送信する。ノ
ードBも伝送試験用ATMセル受信後、所定のフレーム
周期で伝送試験用応答ATMセルを送信する。
いて、図2に戻って説明する。ATMセルの送受信処理
等、折り返しモードと同じ動作については、説明を省略
する。
によって、シーケンス番号フィールドに所定の番号が設
定される。続いて、「ハンドシェイク送出モード」が設
定されていると、モード値判定/設定部3は、タイムス
タンプデータ処理部33を起動する。タイムスタンプデ
ータ処理部33は、データ・フィールドにタイムスタン
プデータを設定し、モード・フィールド=ハンドシェイ
ク送出、データ・フィールド=タイムスタンプの伝送試
験用ATMセルを生成し、送信する。
送信時刻記憶部24に記憶される。
送試験用ATMセルを受信した対向するノードは、AT
Mセル受信時刻記憶部23に受信時刻t2rを記憶す
る。シーケンス番号処理部2でセル損失率を算出した後
に、モード値判定/設定部3により試験モードを判定
し、タイムスタンプデータ処理部33を起動する。タイ
ムスタンプデータ処理部33は、データ・フィールドに
タイムスタンプデータを設定し、モード・フィールド=
ハンドシェイク送出、データ・フィールド=タイムスタ
ンプの伝送試験用応答ATMセルを生成する。このAT
Mセルを迅速に送信する。また、ATMセル送信時刻記
憶部24に送信時刻t2sを記憶する。データ・フィー
ルドに設定されるタイムスタンプは、直前に届いたモー
ドが「ハンドシェイク送出」のATMセルで計時した受
信時刻t2rと送信時刻t2sである。
送試験用応答ATMセルを受信した主ノードは、受信時
刻t1rをATMセル受信時刻記憶部23に記憶すると
ともに、シーケンス番号処理部2でセル損失率を算出し
た後、モード値判定/設定部3により試験モードを判定
し、タイムスタンプデータ処理部33を起動する。タイ
ムスタンプデータ処理部33では、対向ノードから送ら
れたタイムスタンプt2r、t2sを取り出し、伝搬遅
延時間/フレーム位相差測定部25に渡す。また、AT
Mセル受信時刻記憶部23からt1rを、ATMセル送
信時刻記憶部24からt1sを取り出し、伝搬遅延時間
/フレーム位相差測定部25に渡す。
sとからフレーム位相差(フレーム同期のズレ)および
ノード間の片道の信号伝搬遅延時間を算出することがで
きる。図8は、本発明の一実施の形態であるATM伝送
試験装置のハンドシェイク送出モード時のタイミングチ
ャートである。図に示したように、フレーム位相差Δφ
は、式(1)を用いて、次のように表すことができる。 Δφ= t1r−t1s−tw/2 ……(2) また、同様にノード間の片道の信号伝搬時間はそれぞ
れ、 td1= t1r−t1s−Δφ ……(3) td2= Δφ―t1r+t1s+tw ……(4) と、表すことができる。このように、フレーム位相差お
よびノード間の片道の信号伝搬遅延時間を算出すること
ができる。なお、フレーム位相保持部の出力をGPSや
時報などの広域で共通の時刻で測定すると、Δφを正確
に求めることができる。
等の共通時刻を入力して、基準時計部の時計を共通時刻
に合わせれば、式(2)、(3)、(4)は次のように
なる。 Δφ= t2s−t1s ……(5) td1= t1r−t2s ……(6) td2= t2r−tls ……(7) 主ノードにて対向ノードから受信した伝送試験用応答A
TMセルの受信時刻tlrをt2rとして、また、新た
に生成する伝送試験用ATMセルの送信時刻t1sをt
2sとしてタイムスタンプに書き込みフレーム周期に従
って対向ノードに送信することによって、対向ノードで
も上述した手順により、フレーム位相差およびノード間
の片道の伝搬遅延時間を算出することができる。
明する。図9は、本発明の他の実施の形態であるATM
伝送試験装置の試験形態を示した図である。
は、上記説明のATM伝送試験装置に、被試験トランク
13aを付加している。被試験トランク13aは、AT
Mスイッチ11aに接続されており、要求によってAT
Mスイッチ11aより送信されたATMセルを、VC単
位でATMスイッチ側に折り返す。このため、ノード内
の接続確認を行うことができる。
の時間間隔で送信しても受信側でのATMの到着間隔は
揺らいで一定間隔にはならない。上記説明のATM伝送
試験方法は、フレーム周期で試験手順を繰り返し実行
し、得られた結果を中央値や最頻値等の統計処理を行う
ことによって、測定精度を向上させることができる。
間の時刻同期をとる方法として、標準時刻受信部にGP
Sや時報の時刻情報を入力する代わりに、お互いの時刻
情報の入ったATMセルを各ノード間で送受信すること
で各ノード間の時差を補正して共通時刻を作りだしこの
標準時刻受信部に入力する方法も考えられる。
試験装置によれば、試験要求にしたがって、運用中のA
TM網を構成するノード間で伝送試験を実施する。この
ため、運用中のノードにおいて、ATM網を構成するノ
ード間の接続確認、また、必要に応じてビット誤り率や
セル損失率等の伝送品質の測定、伝送時における信号の
片道、および往復の信号伝搬遅延時間の測定、ノード間
のフレーム位相差の測定を行うことができる。これによ
り、ATM網が運用系にあるときでも簡単に伝送試験を
行うことができる。
置を用いたシステム構成図。
置のATM伝送試験処理部のブロック図。
置で試験に用いるATMセルの構成図。
置の折り返しモード時の試験形態を示した図。
置の折り返しモード時のタイミングチャート。
置の相互送出モード時の試験形態を示した図。
置の相互送出モード時のタイミングチャート。
置のハンドシェイク送出モード時のタイミングチャー
ト。
装置の試験形態を示した図。
ド) 11a、11b、11c ATMスイッチ 12a、12b、12c ATM伝送試験処理部 13a 被試験トランク 20 ATM網 21 標準時刻受信部 22 基準時計部 23 ATMセル受信時刻記憶部 24 ATMセル送信時刻記憶部 25 伝搬遅延時間/フレーム位相差測定部 31 ビット誤り率測定部 32 PNパターンデータ処理部 33 タイムスタンプデータ処理部 41 ATMセル送信部 51 フレーム位相保持部
Claims (6)
- 【請求項1】 非同期伝送モード(ATM)方式による
伝送路の試験を行う手段を備えたATM伝送試験装置に
おいて、 試験要求に応じて折り返しモード、相互送出モード、ハ
ンドシェイク送出モードを含む所定の試験モードを選択
し前記試験モード情報を含む前記試験モードに応じたA
TMセルを生成する伝送試験用ATMセル生成手段と、 前記伝送試験用ATMセルを所定のタイミングで対向す
るノードに送信する試験セル送信手段と、 前記対向するノードから送信された前記伝送試験用AT
Mセルに対する応答である伝送試験用応答ATMセルを
受信する応答セル受信手段と、 前記伝送試験用ATMセルの送信時刻および前記伝送試
験用応答ATMセルの受信時刻を計時する計時手段と、 前記受信した伝送試験用応答ATMセルを用いて伝送品
質の測定を行うとともに前記計時手段の計時した時刻を
用いて時間測定を行う測定手段と を備えた主試験処理部と、 前記伝送試験用ATMセルを受信する試験セル受信手段
と、 前記受信した伝送試験用ATMセルに含まれる前記試験
モードに応じて所定の前記伝送試験用応答ATMセルを
生成する伝送試験用応答ATMセル生成手段と、 前記伝送試験用応答ATMセルを所定のタイミングで送
信する応答セル送信手段と を備えた試験応答処理部と により構成され、 前記試験応答処理部は、前記伝送試験用ATMセルの受
信時刻および前記伝送試験用応答ATMセルの送信時刻
を計時する応答処理計時手段を含み、前記伝送試験用応
答ATMセル生成手段は、前記試験モードに応じてハン
ドシェイク試験モード時は前記伝送試験用応答ATMセ
ルのデータ・フィールドに前記応答処理計時手段で計時
した前記受信時刻および送信時刻を付加する手段を含
み、 前記計時手段および応答処理計時手段は、各ノードで共
通となる時刻情報を入力し計時する手段を含むことを特
徴とするATM伝送試験装置。 - 【請求項2】 前記伝送試験用ATMセル生成手段は、
データ・フィールドにATMセルを送信する毎にカウン
トアップさせるシーケンス番号を設定する手段を含み、
前記測定手段は、前記受信した伝送試験用応答ATMセ
ルの前記シーケンス番号を用いてセル損失率を算出する
手段を含むことを特徴とする請求項1記載のATM伝送
試験装置。 - 【請求項3】 前記伝送試験用ATMセル生成手段は、
前記試験モードに応じてデータ・フィールドに擬似乱数
であるPNパターンを設定する手段を含み、前記測定手
段は、前記受信した伝送試験用応答ATMセルの前記P
Nパターンを用いてビット誤り率を算出する手段を含む
ことを特徴とする請求項1または2記載のATM伝送試
験装置。 - 【請求項4】 前記伝送試験用応答ATMセル生成手段
は、前記試験モードに応じて受信した前記伝送試験用A
TMセルのデータ・フィールドに設定されたデータをそ
のまま前記伝送試験用応答ATMセルのデータ・フィー
ルドに設定する手段を含むことを特徴とする請求項1な
いし3のいずれかに記載のATM伝送試験装置。 - 【請求項5】 前記伝送試験用応答ATMセル生成手段
は、前記試験モードに応じて前記伝送試験用応答ATM
セルのデータ・フィールドに新たなPNデータを設定す
る手段を含むことを特徴とする請求項1ないし3のいず
れかに記載のATM伝送試験装置。 - 【請求項6】 前記ATM伝送試験装置は、前記試験セ
ル送信手段から送出された前記伝送試験用ATMセルを
折り返して前記応答セル受信手段に入力する折り返し手
段を含むことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか
に記載のATM伝送試験装置。
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