JPH09238139A - Ａｔｍ交換機試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、ＡＴＭ交換機内の通信経路の導通状
態や品質を行う場合に、セルの損失に加えて、セルの重
複やセルの順序の入れ替え等を判別することができ、ま
たテストセルの伝送速度を均等化して精度の高い試験を
行える装置を提供することを課題とする。 【解決手段】ＡＴＭセルのペイロード部にシーケンス番
号が付加された所定数のテストセルを、前記シーケンス
番号の順序に従って、ＡＴＭ交換機内の通信経路へ送信
するテストセル送信手段と、このテストセル送信手段に
よって送信された前記テストセルが前記ＡＴＭ交換機内
で折り返されて送信されてくると、それらのテストセル
を受信するテストセル受信手段と、このテストセル受信
手段によって受信されたテストセルのペイロード部か
ら、順次シーケンス番号を読み出すシーケンス番号読出
手段と、このシーケンス番号読出手段によって読み出さ
れたシーケンス番号と、シーケンス番号の期待値とを比
較して、前記ＡＴＭ交換機の導通・品質を判定する判定
手段とを備えるＡＴＭ交換機試験装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＡＴＭ交換機の導
通・品質を試験するＡＴＭ交換機試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＡＴＭ交換機内の通信経路の導通
状態や品質を試験する方法として、図１４に示すよう
に、ペイロード部にシーケンス番号（ＳＮ）が書き込ま
れた試験用のＡＴＭセル（以下、テストセルと称する）
を利用する方法が知られている。テストセルを利用した
具体的な試験方法としては、試験対象の通信経路の一方
の終端部から複数のテストセルを送信し、前記通信経路
の他方の終端部でテストセルのシーケンス番号を参照し
て、テストセルの送信順序が保たれているか否かを判別
する方法が例示できる。

【０００３】この方法では、受信側の終端部においてテ
ストセルの送信順序が保たれていれば、前記通信経路の
正常性が判定され、またテストセルの送信順序が保たれ
ていなければ、前記通信経路でセルが損失されたことが
判定される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ＡＴＭ交換
機内の通信経路の導通状態や品質を試験する場合には、
ＡＴＭ交換機のスイッチ部分の切替のタイミングによ
り、テストセルの順序が入れ替わったり、同じテストセ
ルが重複して送信されるといった異常が発生することが
あるが、上記の方法では、これらの異常を検出すること
ができないという問題がある。

【０００５】また、上記のような試験を高い精度で行う
ためには、テストセルの伝送速度の変動を少なくするこ
と、すなわち、テストセルの伝送帯域の変動を少なくす
ることが重要である。そこで、本発明は、前記問題点に
鑑みてなされものであり、ＡＴＭ交換機内の通信経路の
導通状態や品質を行う場合に、セルの損失に加えて、セ
ルの重複やセルの順序の入れ替え等を判別することがで
き、またテストセルの伝送速度を均等化して精度の高い
試験を行える装置を提供することを課題とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、前述した課題
を解決するために以下のような手段を採用した。これを
図１の原理図に沿って説明する。すなわち、本発明のＡ
ＴＭ交換機試験装置１００は、試験対象となるＡＴＭ交
換機へ所定数のテストセルを送信し、前記ＡＴＭ交換機
から折り返し送信されてくるテストセルの状態を監視す
ることにより、前記ＡＴＭ交換機の導通・品質を試験す
る装置であり、テストセル送信手段１０１、テストセル
受信手段１０２、シーケンス番号読出手段１０３、及び
判定手段１０４を備えている。

【０００７】テストセル送信手段１０１は、ＡＴＭセル
のペイロード部にシーケンス番号が書き込まれた所定数
のテストセルを、前記シーケンス番号の順序に従って、
ＡＴＭ交換機へ送信する。テストセル受信手段１０２
は、テストセル送信手段１０１によって送信されたテス
トセルが前記ＡＴＭ交換機によって折り返し送信されて
くると、それらのテストセルを順次受信する。

【０００８】シーケンス番号読出手段１０３は、テスト
セル受信手段１０２によって受信されたテストセルのペ
イロード部から、順次シーケンス番号を読み出す。判定
手段１０４は、シーケンス番号読出手段１０３によって
読み出されたシーケンス番号と、シーケンス番号の期待
値とを比較して、前記ＡＴＭ交換機の導通状態や品質を
判定する（請求項１に対応）。

【０００９】ここで、期待値は、テストセルに書き込ま
れるシーケンス番号の初期値と同一の値を初期値として
保持し、判定手段１０４によって比較されたシーケンス
番号の数値と期待値とが一致する場合、あるいはシーケ
ンス番号の値が期待値よりも大きい場合には、前記比較
されたシーケンス番号を一つインクリメントした値に更
新されるようにし、シーケンス番号の数値が期待値未満
であることが判定された場合には、そのままの値を保持
するようにしてもよい（請求項２に対応）。尚、期待値
の更新処理は、判定手段１０４が行うようにしてもよ
い。

【００１０】また、判定手段１０４は、シーケンス番号
読出手段１０３によって読み出されたシーケンス番号と
期待値とが一致すれば、ＡＴＭ交換機の導通状態や品質
が正常であることを判定し、シーケンス番号と期待値と
が不一致ならばＡＴＭ交換機の導通状態や品質に異常が
発生したことを判定するようにしてもよい。例えば、判
定手段１０４は、テストセルから読み出されたシーケン
ス番号が期待値よりも大きければ、ＡＴＭ交換機内でテ
ストセルの損失が発生したことを判定し、あるテストセ
ルから読み出されたシーケンス番号が期待値よりも小さ
い場合には、ＡＴＭ交換機内でテストセルの重複あるい
はテストセルの順序の入れ替えが発生したことを判定す
るようにしてもよい（請求項３に対応）。

【００１１】さらに、判定手段１０４は、ＡＴＭ交換機
内でテストセルが損失されたことが判定されると、シー
ケンス番号番号と期待値との差分を、損失されたテスト
セルの個数として計数するようにしてもよい。また、判
定手段１０４は、ＡＴＭ交換機内でテストセルの重複や
テストセルの順序の入れ替えが発生したことが判定され
ると、そのような異常が発生した回数を計数するように
してもよい（請求項４に対応）。

【００１２】また、本発明のＡＴＭ交換機試験装置は、
更に指定手段１０５を備えるようにしてもよい。この指
定手段１０５は、テストセルのセル発生速度を、セル発
生速度パラメータにより指定するものである。このよう
にした場合、テストセル送信手段１０１は、指定手段１
０５によって指定されたセル発生速度パラメータに従っ
てテストセルの伝送速度を変更するものとする（請求項
５に対応）。

【００１３】指定手段１０５による指定方法としては、
Ｐを自然数とするとともにＱをＰ以下の自然数とした場
合に、前記セル発生速度パラメータをＰとＱの組で指定
するようにしても良い。このようにした場合、テストセ
ル送信手段１０１は、ＰをＱで割った時の商Ｒと余りＳ
とを求める演算部と、セル発生速度が最大ならばＲ個の
セルを送信可能な時間幅内に１個のテストセルを送信す
る状態を生成する第１状態生成部と、セル発生速度が最
大ならば（Ｒ＋１）個のセルを送信可能な時間幅内に１
個のセルを送信する状態を生成する第２状態生成部と、
前記第１状態生成部で生成された状態と前記第２状態生
成部で生成された状態と組み合わせてテストセルの送信
を行う実行部とを具備するようにしてもよい（請求項６
に対応）。

【００１４】さらに、テストセル送信手段１０１の実行
部は、（Ｑ−Ｓ）とＳとが倍数関係にあり、大の方を小
の方で割った比がＴで表される場合に、（Ｑ−Ｓ）≧Ｓ
ならば、第１状態生成部で生成された状態をＴ回続けて
実行した後に、第２状態生成部で生成された状態を１回
実行することをＳ回繰り返す（あるいは、第２状態生成
部で生成された状態を１回実行した後に、第１状態生成
部で生成された状態をＴ回続けて実行することをＳ回繰
り返す）ようにしてもよい。また、テストセル送信手段
１０１の実行部は、（Ｑ−Ｓ）＜Ｓならば、第１状態生
成部で生成された状態を１回実行した後に、第２状態生
成部で生成された状態をＴ回続けて実行することを（Ｑ
−Ｓ）回繰り返す（あるいは、第２状態生成部で生成さ
れた状態をＴ回続けて実行した後に、第１状態生成部で
生成された状態を１回実行することを（Ｑ−Ｓ）回繰り
返す）ようにしてもよい（請求項７に対応）。

【００１５】また、テストセル送信手段１０１の実行部
は、第１状態生成部で生成された状態を、セル発生速度
パラメータ（Ｑ）から余り（Ｓ）を減算した値（Ｑ−
Ｓ）の回数続けて実行する毎に、第２状態生成部で生成
された状態を前記余り（Ｓ）の値の回数続けて実行する
ようにしてもよい（請求項８に対応）。さらに、テスト
セル送信手段１０１は、互いに異なる割合でテストセル
を送信する状態を生成する複数の状態生成部と、各状態
生成部で生成された状態を順次実行する実行部とを備え
るようにしてもよい（請求項９に対応）。

【００１６】また、指定手段１０５は、テストセルのセ
ル発生速度を、一つのセル発生速度パラメータで指定す
るようにしてもよい（請求項１０に対応）。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面に沿って説明する。本実施形態では、本発明のＡＴ
Ｍ交換機試験装置をＡＴＭ交換機の一モジュールとして
提供し、ＡＴＭ交換機内における通信パスの導通状態や
品質を試験する場合を例に挙げて説明する。

【００１８】図２は、本発明のＡＴＭ交換機試験装置を
適用するＡＴＭ交換機の概略構成を示す。同図に示すよ
うに、ＡＴＭ交換機は、加入者回路１０、第１セル多重
分離回路２０−１、ＡＴＭスイッチ３０、帯域管理装置
４０、交換機制御コンソール５０、第２セル多重分離回
路２０−２、及びＡＴＭ交換機試験装置１００を備えて
いる。

【００１９】そして、ＡＴＭ交換機試験装置１００か
ら、第２セル多重分離回路２０−２、ＡＴＭスイッチ３
０、及び第１セル多重分離回路２０−１を経て加入者回
路１０に接続され、且つ、加入者回路１０内で折り返さ
れて、第１セル多重分離回路２０−１、ＡＴＭスイッチ
３０、及び第２セル多重分離回路２０−２を経てＡＴＭ
交換機試験装置１００に接続される試験用ＡＴＭコネク
ション２００が設定されている。

【００２０】この試験用ＡＴＭコネクション２００は、
上記の装置間を結ぶ通信パスの導通状態や品質の試験用
のテストセルを伝送するために設定されたコネクション
である。尚、本実施形態では、試験用ＡＴＭコネクショ
ン２００の、ＡＴＭ交換機試験装置１００から加入者回
路１０へ向かう方向を方向を「下り方向」と称し、加入
者回路１０からＡＴＭ交換機試験装置１００へ向かう方
向を「上り方向」と称するものとする。

【００２１】加入者回路１０は、第１セル多重分離回路
２０−１に接続されていると共に、図示していない多数
の加入者端末と加入者回線によって接続されている。こ
の加入者回路１０は、第１セル多重分離回路２０−１か
らのデータを、その宛先の加入者端末へつながる加入者
回線へ出力するものであるが、試験用ＡＴＭコネクショ
ン２００が設定されたときには、第１セル多重分離回路
２０−１からのテストセルを、折り返し第１セル多重分
離回路２０−１へ出力するようになっている。図２で
は、加入者回路１０は１個しか示されていないが、複数
設けられていてもよい。

【００２２】第１セル多重分離回路２０−１は、加入者
回路１０とＡＴＭスイッチ３０とに接続されている。そ
して、第１セル多重分離回路２０−１は、「上がり方
向」において、複数の仮想パス（ＶＰ）及び仮想チャネ
ル（ＶＣ）からのセルを１本のセル流に乗せるととも
に、「下り方向」において、１本のセル流からセルを分
離し、ＶＰあるいはＶＣごとに分配する。

【００２３】ＡＴＭスイッチ３０は、第１セル多重分離
回路２０−１、第２セル多重分離回路２０−２及び帯域
管理装置４０に接続されている。そして、ＡＴＭスイッ
チ３０は、受信されたＡＴＭセルのヘッダ部に書き込ま
れている情報に従って前記ＡＴＭセルの宛先を識別し、
識別された宛先の出力伝送路へ前記ＡＴＭセルを送信す
る。

【００２４】帯域管理装置４０は、ＡＴＭスイッチ３０
とコンソール５０とに接続されている。そして、帯域管
理装置４０は、加入者回路１０毎の帯域管理、ＡＴＭセ
ルのヘッダ部を変換した場合の値の管理、ＡＴＭ交換機
全体の故障管理等を行う。交換機制御コンソール５０
は、帯域管理装置４０に接続されている。そして、交換
機制御コンソール５０は、図示していない文字キー、数
字キー、記号キー、機能キー、マウス等を有し、ＡＴＭ
交換機に対する制御指令を入力するのに用いられる。

【００２５】第２セル多重分離回路２０−２は、ＡＴＭ
交換機試験装置１００とＡＴＭスイッチ３０とに接続さ
れている。そして、「下り方向」において、複数の仮想
パス（ＶＰ）及び仮想チャネル（ＶＣ）からのセルを１
本のセル流に乗せるとともに、「上り方向」において、
１本のセル流からセルを分離し、ＶＰあるいはＶＣごと
に分配する。

【００２６】ＡＴＭ交換機試験装置１００は、第２セル
多重分離回路２０−２に接続されている。そして、試験
用のテストセルを試験用ＡＴＭコネクション２００の下
り方向に送信するとともに、試験用ＡＴＭコネクション
２００の上り方向からのテストセルを受信することで、
試験用ＡＴＭコネクション２００の導通状態及び品質を
試験することにより、ＡＴＭ交換機内の通信パスの導通
状態や品質を判定する。

【００２７】ここで、ＡＴＭ交換機試験装置１００から
送信されるテストセルは、図３に示すように、ヘッダ部
とペイロード部からなる固定長のパケットである。そし
て、ヘッダ部は、ＴＡＧ、ＶＰＩ、ＶＣＩ、ＰＴＩ及び
ＣＬＰからなり、ペイロード部は、本発明のシーケンス
番号を書き込むためのＳＮ、ＣＲＣ、及び情報フィール
ドからなる。

【００２８】本実施形態では、シーケンス番号を書き込
むための領域ＳＮに、１６ビット幅が割り当てられてい
る。ここで、ＡＴＭ交換機試験装置１００のハードウェ
ア構成について図４を参照して説明する。ＡＴＭ交換機
試験装置１００は、ＭＰＵ１１１、ファームウェア１１
２、バス１１３、レジスタ１１４、セル発生速度制御部
１２１、ヘッダ生成部１２２、ＳＮカウンタ１２３、Ｃ
ＲＣ演算部１２４、第１疑似ランダムパターン生成部１
２５、テストセル組立部１４１、送信バッファ１４２、
総セル数カウンタ１３１、ヘッダチェック部１３２、Ｓ
Ｎエラーカウンタ１３３、ＳＮチェック部１３４、ＳＮ
カウンタ１３５、ＳＮＮＧカウンタ１３６、ＣＲＣチェ
ック部１３７、エラービット計数部１３８、第２疑似ラ
ンダムパターン生成部１３９、セル分解部１４３及び受
信バッファ１４４から構成されている。

【００２９】ＭＰＵ１１１は、バス１１３に接続されて
おり、ＡＴＭ交換機試験装置１００全体の制御を行う。
ファームウェア１１２は、バス１１３に接続されてお
り、ＭＰＵ１１１を補助する形でＡＴＭ交換機試験装置
１００全体の制御を行う。レジスタ１１４は、バス１１
３に接続されており、セル発生速度制御用の制御パラメ
ータ、テストセル発生個数値、テストセルのヘッダ部に
書き込まれるヘッダ設定値（TAG, VPI, VCI, PT, CL
P）、ヘッダ照合値、受信されたテストセルの総数、試
験用ＡＴＭコネクション２００上で損失されたテストセ
ルの個数、試験用ＡＴＭコネクション２００上でテスト
セルの重複や順序の入れ替えが発生した回数、及びテス
トセルのヘッダ部のデータに発生したエラービットのビ
ット数を記憶している。

【００３０】セル発生速度制御部１２１は、レジスタ１
１４と、テストセル組立部１４１とに接続されている。
そして、セル生成速度制御部１２１は、レジスタ１１４
から制御パラメータが出力されると、この制御パラメー
タに従ったタイミングでセル送信要求信号を出力する。
詳細には、セル発生速度制御部１２１は、図５に示すよ
うに、制御部１２１ａ、第１状態生成部１２１ｃ、第２
状態生成部１２１ｄ及びセル送信要求信号送信部１２１
ｂから構成されている。尚、本実施形態では、テストセ
ルの伝送速度は、６４KBPS〜１５５．５２MBPSの範囲内
で、６４KBPS単位（６４KBPSの倍数）で制御されるもの
とする。以下の説明において、テストセルの伝送速度が
最大値（１５５．５２MBPS）のときに、２４３０個のセ
ルを送信（６４KBPS毎に１個のセルを送信）するのに要
する時間幅を１フレームと称する。また、制御パラメー
タＱは、テストセルの伝送速度を、６４KBPSの何倍にす
るか、すなわち、１フレーム中に何個の有効セルを送信
するかを示すものとする。

【００３１】セル発生速度制御部１２１の制御部１２１
ａは、以下の１）〜３）の処理を行う。 １）レジスタ１１１から出力された制御パラメータＱを
入力する。 ２）２４３０を制御パラメータＱで割った時の商Ｒと、
その余りＳを求める。但し、前記商Ｒと余りＳは自然数
であり、商Ｒは一つのセルを送信するためのタイムスロ
ットの大きさを示し、余りＳは空き時間の大きさを示
す。 ３）Ｑ、Ｒ及びＳの値を、第１状態生成部１２１ｃ及び
第２状態生成部１２１ｄに出力する。

【００３２】第１状態生成部１２１ｃは、以下の１）〜
５）の処理を行う。 １）制御部１２１ａから出力されたＱ、Ｒ及びＳの値を
入力する。 ２）セル発生速度が最大ならばＲ個のセルを送信可能な
時間幅内に１個のセル送信要求信号を生成する（第１状
態）。この状態を、（Ｑ−Ｓ）回繰り返す。 ３）生成されたセル送信要求信号を、その生成の都度、
セル送信要求信号送信部１２１ｂに出力する。 ４）第１状態を（Ｑ−Ｓ）回繰り返し、（Ｑ−Ｓ）個の
セルが送信された時点で、第１状態終了通知信号を第２
状態生成部１２１ｄに通知するとともに、セル送信要求
信号の生成を中断する。 ５）第２状態生成部１２１ｄからの第２状態終了通知信
号を入力した時点で、第１状態に復帰し、セル送信要求
信号の生成を再開する。

【００３３】具体的には、例えば、Ｑが“１２７”なら
ば、Ｒが“１９”で、Ｓが“１７”となるので、第１状
態生成部１２１ｃは、セル発生速度が最大ならば１９個
のセルを送信可能な時間幅に１個のセル送信要求信号を
生成する状態を、（１２７−１７）回連続して繰り返す
ことになる。そして、第１状態生成部１２１ｃは、上記
の状態を（１２７−１７）回繰り返した後に、第２状態
生成部１２１ｄに対して第１状態終了通知信号を通知す
るとともに、セル送信要求信号の生成を中断する。

【００３４】第２状態生成部１２１ｄは、以下の１）〜
４）の処理を行う。 １）制御部１２１ａから出力されたＱ、Ｒ及びＳの値を
入力する。 ２）第１状態生成部１２１ｃからの第１状態終了通知信
号を入力する。 ３）第１状態終了通知信号の入力後、セル発生速度が最
大ならば（Ｒ＋１）個のセルを送信可能な時間幅内に、
１個のセル送信要求信号を生成する（第２状態）。そし
て、この状態をＳ回繰り返す。 ４）生成されたセル送信要求を、その生成の都度、セル
送信要求信号送信部１２１ｂに出力する。 ５）第２状態をＳ回繰り返して、Ｓ個のセル送信要求信
号を生成した時点で、第２状態終了通知信号を第１状態
生成部１２１ｄに通知するとともに、セル送信要求信号
の生成を中断する。

【００３５】具体的には、例えば、Ｑを“１２７”とす
ると、Ｒが“１９”で、Ｓが“１７”となるので、第２
状態生成部１２１ｄは、セル発生速度が最大ならば（１
９＋１）個のセルを送信可能な時間幅内に、１個のセル
送信要求信号を生成する状態（第２状態）を、１７回連
続して繰り返すことになる。そして、第２状態生成部１
２１ｄは、上記の状態を１７回連続して繰り返した後
に、第１状態生成部１２１ｃに対して第２状態終了通知
信号を通知するとともに、セル送信要求信号の生成を中
断する。

【００３６】但し、制御部１２１ａは、Ｓ≠０であり、
且つ（Ｑ−Ｓ）とＳとが倍数関係にある場合には、Ｑ−
ＳをＡとし、ＳをＢとして、ＡとＢの比ａ：ｂを求め、
算出されたａ、ｂを第１状態生成部１２１ｃと第２状態
生成部１２１ｄとに通知する。そして、第１状態生成部
１２１ｃは、ａ、ｂの通知を受けると、セル発生速度が
最大ならばＲ個のセルを送信可能な時間幅内に、１個の
セル送信要求信号を生成する状態（第１状態）を、ａ回
繰り返したのちに、第２状態生成部１２１ｄに第１状態
終了通知信号を出力する。そして、第２状態生成部１２
１ｄは、第１状態生成部１２１ｃからの第１状態終了通
知信号を入力すると、セル発生速度が最大が最大ならば
Ｒ＋１個のセルを送信可能な時間幅内に、１個のセル送
信要求信号を生成する状態（第２状態）を、ｂ回繰り返
す。

【００３７】セル送信要求信号送信部１２１ｂは、第１
状態生成部１２１ｃ及び第２状態生成部１２１ｄで生成
されたセル送信要求信号をテストセル組み立て部１４１
へ出力する。このとき、テストセル組み立て部１４１
は、セル送信要求信号送信部１２１ｂからのセル送信要
求信号を入力したタイミングで、テストセルを出力す
る。

【００３８】図６（ａ）は、前述した条件に従って生成
されたセル送信要求信号に対応したテストセル送信のタ
イミングを示している。尚、図６（ｂ）は、第１状態と
第２状態の区別をしない、従来のテストセル送信タイミ
ングを示している。図６において、“Ｔ”はテストセル
を表し、“Ａ”はセル発生速度が最大ならば１９個のセ
ルを送信可能な時間幅内に１個のテストセルを送信する
状態（第１状態）を表し、“Ｂ”はセル発生速度が最大
ならば２０個のセルを送信可能な時間幅内に１個のテス
トセルを送信する状態（第２状態）を表し、“Ｃ”は１
７個のセルを送信するのに要する時間を表している。

【００３９】このように本実施形態によるセル発生速度
制御部１２１を用いれば、従来のセル送信方法に比べ、
テストセルの伝送速度を均一化することができる。従っ
て、指定された伝送速度を守って試験用ＡＴＭコネクシ
ョン２００の試験が行えるようになっている。図４に戻
って、ヘッダ生成部１２２は、レジスタ１１４とテスト
組立部１４１とに接続されており、下記の１）〜３）を
行う。 １）レジスタ１１４から出力されたヘッダ設定値（TAG,
VPI, VCI, PTI, CLP ）を入力する。 ２）入力されたヘッダ設定値をテストセルのフォーマッ
トのヘッダ部へ書き込んで、テストセルのヘッダ部を生
成する。 ３）生成されたヘッダ部を、テストセル組立部１４１に
出力する。

【００４０】ＳＮカウンタ１２３は、テストセル組立部
１４１とＣＲＣ演算部１２４とに接続されており、下記
の１）〜２）の処理を行う。 １）カウンタ値を、テストセルのペイロード部（図３
中、ＳＮ）に書き込まれるシーケンス番号として出力す
る。出力されたシーケンス番号は、テストセル組立部１
４１とＣＲＣ演算部１２４とに入力される。 ２）カウンタ値を出力すると、カウンタ値を一つインク
リメントする。

【００４１】ＣＲＣ演算部１２４は、ＳＮカウンタ１２
３とテストセル組立部１４１とに接続されており、下記
の１）〜２）の処理を行う。 １）ＳＮカウンタ１２３から出力されたシーケンス番号
を、符号化して、伝送エラー検出用のエラーチェックコ
ードを算出する。 ２）算出されたエラーチェックコードをテストセル組立
部１４１に出力する。

【００４２】第１疑似ランダムパターン生成部（ＰＲＢ
Ｓ２３生成部）１２５は、テストセル組立部１４１に接
続されており、下記の１）〜２）の処理を行う。 １）テストセルのビットエラーを調べるのに用いられる
疑似ランダムパターンを、ＣＣＩＴＴ勧告のＯ１５１に
準拠して生成する。 ２）生成された疑似ランダムパターンをテストセル組立
部１４１に出力する。

【００４３】テストセル組立部１４１は、セル発生速度
制御部１２１、ヘッダ生成部１２２、ＳＮカウンタ１２
３、ＣＲＣ演算部１２４、第１疑似ランダムパターン生
成部１２５及び送信バッファ１４２に接続されている。
そして、テストセル組立部１４１は、以下の１）〜４）
の処理を行う。 １）ＳＮカウンタ１２３から出力されたシーケンス番号
を、テストセルフォーマットのペイロード部のＳＮに書
き込む。 ２）ＣＲＣ演算部１２４から出力されたエラーチェック
コードを、テストセルフォーマットのペイロード部のＣ
ＲＣに書き込む。 ３）第１疑似ランダムパターン生成部（ＰＲＢＳ２３生
成部）１２５から出力された疑似ランダムパターンを、
テストセルフォーマットのペイロード部の情報フィール
ドに書き込む。 ４）シーケンス番号、エラーチェックコード、及び疑似
ランダムパターンが書き込まれたペイロード部に、ヘッ
ダ生成部１２２から出力されたヘッダ部を付加して、テ
ストセルを生成する。

【００４４】上記１）〜４）の処理が実行されることに
よって生成されたテストセルは、送信バッファ１４２に
一旦格納された後、セル発生速度制御部１２１から出力
されたセル送信要求信号に従って試験用ＡＴＭコネクシ
ョン２００の「下り方向」へ送信される。一方、受信バ
ッファ１４４は、試験用ＡＴＭコネクション２０の「上
り方向」から送信されてきたテストセルを受信する。こ
の受信バッファ１４４は、テストセル分解部１４３と接
続されており、受信されたテストセルを一時的に格納し
た後、テストセル分解部１４３へ出力する。

【００４５】テストセル分解部１４３は、受信バッファ
１４４、ヘッダチェック部１３２、ＳＮチェック部１３
４、ＣＲＣチェック部１３７、及びエラービット計数部
１３８に接続されている。そして、テストセル分解部１
４３は、以下の１）〜６）の処理を行う。 １）受信バッファ１４４から出力されたテストセルを入
力する。 ２）入力されたテストセルをヘッダ部とペイロード部と
に分解する。 ３）分解されたヘッダ部をヘッダチェック部１３２へ出
力する。 ４）分解されたペイロード部のＳＮからシーケンス番号
を読み出し、読み出されたシーケンス番号をＳＮチェッ
ク部１３４及びＣＲＣチェッカ１３７へ出力する。 ５）分解されたペイロード部のＣＲＣからエラーチェッ
クコードを読み出し、読み出されたエラーチェックコー
ドをＣＲＣチェック部１３７へ出力する。 ６）分解されたペイロード部の情報フィールドから疑似
ランダムパターンを読み出し、読み出された疑似ランダ
ムパターンをエラービット計数部１３８へ出力する。

【００４６】ヘッダチェック部１３２は、レジスタ１１
４とテストセル分解部１４３と総セル数カウンタ１３１
とＳＮカウンタ１３５とＣＲＣチェック部１３７とに接
続されており、セル分解部１４３から出力されたヘッダ
部からヘッダ設定値を読み出す。そして、ヘッダチェッ
ク部１３２は、読み出されたヘッダ設定値と、レジスタ
１１４に記憶されているヘッダ設定値とを照合する。こ
こで、前記読み出されたヘッダ設定値とレジスタ１１４
に記憶されているヘッダ設定値とが一致すると、ヘッダ
チェック部１３２は、ＳＮカウンタ１３５とＣＲＣチェ
ック部１３７とに対して、ヘッダ設定値が一致したこと
を示す信号を出力する。一方、前記読み出されたヘッダ
設定値にビット誤りが発生していることが判定される
と、ヘッダチェック部１３２は、ヘッダが一致しなかっ
たことを、ＳＮカウンタ１３５とＣＲＣチェッカ１３７
とエラービット計数部１３８と第２疑似ランダムパター
ン生成部（ＰＲＢＳ２３生成部）１３９とに通知し、動
作を抑止する。さらに、ヘッダチェック部１３２は、ヘ
ッダ設定値の照合後、総セル数カウンタ１３１に対し
て、カウンタ値のインクリメントを指定する信号を出力
する。

【００４７】ＳＮカウンタ１３５は、本発明の期待値を
生成する回路であり、ヘッダチェック部１３２とＳＮチ
ェック部１３４とＣＲＣチェック部１３７とに接続され
ている。そして、ＳＮカウンタ１３５は、ヘッダチェッ
ク部１３２からの信号をトリガにして、期待値を出力す
る。また、ＳＮカウンタ１３５は、以下の３つの条件が
揃った場合に、テストセルから読み出されたシーケンス
番号を一つインクリメントした値を新たな期待値として
設定する。すなわち、（１）ＣＲＣチェッ部１３７か
ら、期待値の更新を許可する信号が入力され、（２）受
信されたテストセルから読み出されたヘッダ設定値とレ
ジスタ１１４に記憶されているヘッダ設定値とが一致し
たことを示す信号がヘッダチェック部１３２から入力さ
れ、（３）ＳＮチェック部１３４から、テストセルから
読み出されたシーケンス番号が期待値以上であることを
示す信号が入力された場合である。

【００４８】ＳＮチェック部１３４は、ＳＮカウンタ１
３５、テストセル分解部１４３及びＳＮエラーカウンタ
１３３に接続されている。そして、ＳＮチェック部１３
４は、ＳＮカウンタ１３５から出力された期待値とセル
分解部１４３から出力されたシーケンス番号とが一致す
るか否かを判別する。ここで、前記シーケンス番号と期
待値とが一致すると、ＳＮチェック部１３４は、ＳＮカ
ウンタ１３５に対して、前記シーケンス番号と期待値と
が一致したことを示す信号を出力する。一方、前記シー
ケンス番号が期待値よりも大きい場合には、ＳＮチェッ
ク部１３４は、前記シーケンス番号が期待値よりも大き
いことを示す信号を、ＳＮカウンタ１３５へ通知すると
ともに、前記シーケンス番号と期待値との差分を算出
し、算出された差分値をＳＮエラーカウンタ１３３へ出
力する。また、前記シーケンス番号が期待値よりも小さ
い場合には、ＳＮチェック部１３４は、ＳＮＮＧカウン
タ１３６に対して、計数値をインクリメントすることを
指定する信号を出力する。

【００４９】ＳＮエラーカウンタ１３３は、試験用ＡＴ
Ｍコネクション２００上で損失されたテストセルの個数
を計数するものであり、ＳＮチェック部１３４とレジス
タ１１４とに接続されている。このＳＮエラーカウンタ
１３３は、ＳＮチェック部１３４から、シーケンス番号
と期待値との差分値を入力すると、この差分値を計数値
に加算し、この加算により更新された計数値をレジスタ
１１４へ出力する。

【００５０】ＣＲＣチェック部１３７は、ヘッダチェッ
ク部１３２、テストセル分解部１４３に接続されてお
り、ヘッダチェック部１３２においてヘッダ設定値とヘ
ッダ照合値とが一致したことが判定されると、セル分解
部１４３から出力されたエラーチェックコードを復号し
てシーケンス番号を算出する。そして、ＣＲＣチェック
部１３７は、算出されたシーケンス番号とセル分解部１
４３から出力されたシーケンス番号とを照合し、両者が
一致すれば、ＳＮカウンタ１３５に対して期待値の更新
を許可することを示す信号を出力する。また、両者が不
一致ならば、ＣＲＣチェック部１３７は、ＳＮカウンタ
１３５に対して、期待値の更新を禁止することを示す信
号を出力する。

【００５１】ＳＮＮＧカウンタ１３６は、試験用ＡＴＭ
コネクション２００上で、テストセルの重複あるいは順
序の入れ替えが発生した回数を計数するものであり、Ｓ
Ｎチェック部１３４とレジスタ１１４とに接続されてい
る。このＳＮＮＧカウンタ１３６は、ＳＮチェック部１
３４から、テストセルから読み出されたシーケンス番号
が期待値より小さいことを示す信号が入力されると、計
数値をインクリメントする。このインクリメントにより
計数値が更新されると、更新後の計数値をレジスタ１１
４へ出力する。

【００５２】第２疑似ランダムパターン生成部（ＰＲＢ
Ｓ２３生成部）１３９は、ヘッダチェック部１３２及び
エラービット計数部１３８に接続されており、下記の
１）〜２）の処理を行う。 １）ヘッダチェック部１３２においてヘッダ設定値とヘ
ッダ照合値とが一致したことが判定された場合に、テス
トセルのビットエラーを調べるのに用いられる疑似ラン
ダムパターンを、ＣＣＩＴＴ勧告のＯ１５１に準拠して
生成する。生成される疑似ランダムパターンは、直前に
第１疑似ランダムパターン生成部（ＰＲＢＳ２３生成
部）１２５で生成された疑似ランダムパターンと一致す
るようになっている。 ２）生成された疑似ランダムパターンをエラービット計
数部１３８に出力する。

【００５３】エラービット計数部１３８は、ヘッダチェ
ック部１３２、第２疑似ランダムパターン生成部１３９
及びレジスタ１１４に接続されている。このエラービッ
ト計数部１３９は、テストセルの情報フィールドにビッ
トエラーが発生した回数を計数するものであり、以下の
１）〜２）の処理を行う。 １）第２疑似ランダムパターン生成部１３９から出力さ
れた疑似ランダムパターンとテストセル分解部１４３か
ら出力された疑似ランダムパターンとが一致するか否か
を判断する。 ２）第２疑似ランダムパターン生成部１３９から出力さ
れた疑似ランダムパターンとテストセル分解部１４３か
ら出力された疑似ランダムパターンとが不一致の場合
に、計数値を一つインクリメントする。 ３）インクリメント後の計数値をレジスタ１１４に出力
する。

【００５４】以下、本実施形態の作用・効果について述
べる。図７は、試験用ＡＴＭコネクションの正常性を判
定する過程を示すフローチャート図である。まず、ＡＴ
Ｍ交換機試験装置１００は、テストセルを受信すると
（ステップＳ１）、このテストセルのペイロード部から
シーケンス番号が読み出され、この読み出されたシーケ
ンス番号とシーケンス番号の期待値とが等しいか否かが
判別される（ステップＳ２）。

【００５５】ステップＳ２でシーケンス番号と期待値と
が等しいことが判定されると（ステップＳ２のＹＥＳの
経路）、受信されたテストセルから読み出されたシーケ
ンス番号が一つインクリメントされ、インクリメントさ
れたシーケンス番号が新たな期待値としてＳＮカウンタ
１３５に設定される（ステップＳ７）。一方、ステップ
Ｓ２において、シーケンス番号と期待値とが等しくない
ことが判定されると（ステップＳ２のＮＯの経路）、前
記シーケンス番号が期待値よりも大きいか否かが判別さ
れる（ステップＳ３）。

【００５６】ステップＳ３において、前記シーケンス番
号が期待値よりも大きいことが判定されると（ステップ
Ｓ３のＹＥＳの経路）、前記シーケンス番号と前記期待
値との差分（Ｗ）（ステップＳ４）が、ＳＮエラーカウ
ンタ１３３の計数値に加算される（ステップＳ５）。そ
して、前記シーケンス番号を一つインクリメントした値
が新たな期待値としてＳＮカウンタ１３５に設定される
（ステップＳ７）。

【００５７】一方、ステップＳ３において、前記シーケ
ンス番号が前記期待値よりも小さいことが判定されると
（ステップＳ３のＮＯの経路）、シーケンス番号の順序
性、すなわちテストセルの順序性に異常（テストセルの
重複、あるいはテストセルの順序の入れ替え）が発生し
たことが判定され、ＳＮＮＧカウンタ１３６の計数値が
一つインクリメントされる（ステップＳ６）。

【００５８】図８〜１０には、受信されたテストセルか
ら読み出されたシーケンス番号、期待値、シーケンス番
号と期待値との差分（シーケンス番号から期待値を減算
した値）、及び期待値を更新するか否かについてをまと
めた表が示されている。図８には、試験用ＡＴＭコネク
ション２００上でテストセルの損失が発生した場合の上
記各値の変化が示されている。具体的には、シーケンス
番号が「６」であるテストセルが試験用ＡＴＭコネクシ
ョン２００上で損失されると、シーケンス番号が「５」
であるテストセルの次に、シーケンス番号が「７」であ
るテストセルが受信される。シーケンス番号が「５」で
あるテストセルが受信された時点では、シーケンス番号
と期待値との差分は「０」であり、シーケンス番号を一
つインクリメントした値（５＋１＝６）が新たな期待値
として設定されるが、シーケンス番号が「７」であるテ
ストセルが受信された時点では、シーケンス番号「７」
と期待値「６」との差分が「１」となる。この差分の値
は、試験用ＡＴＭコネクション２００上で損失されたテ
ストセルの個数を示しており、ＳＮエラーカウンタ１３
３の計数値に加算される。そして、ＳＮカウンタ１３５
の期待値は、受信されたテストセルのシーケンス番号を
一つインクリメントした値（７＋１＝８）へ更新され
る。

【００５９】図９には、試験用ＡＴＭコネクション２０
０上でテストセルの順序が入れ替わった場合の上記各値
の変化が示されている。具体的には、シーケンス番号が
「５」であるテストセルとシーケンス番号が「６」であ
るテストセルとの順序が入れ替わると、シーケンス番号
が「４」であるテストセルの次に、シーケンス番号が
「６」であるテストセルが受信され、続いてシーケンス
番号が「５」であるテストセルが受信されることにな
る。シーケンス番号が「４」であるテストセルが受信さ
れた時点では、シーケンス番号と期待値との差分が
「０」であり、ＳＮカウンタ１３５の期待値は、受信さ
れたテストセルのシーケンス番号を一つインクリメント
した値（４＋１＝５）へ更新される。そして、シーケン
ス番号が「６」であるテストセルが受信された時点で
は、シーケンス番号と期待値との差分は、「１」とな
る。この時点では、試験用ＡＴＭコネクション２００上
でテストセルが損失されたように判定され、前記差分
「１」がＳＮエラーカウンタ１３３の計数値に加算され
る。そして、ＳＮカウンタ１３５の期待値も、受信され
たテストセルのシーケンス番号を一つインクリメントし
た値（６＋１＝７）へ更新される。さらに、シーケンス
番号が「５」であるテストセルが受信された時点では、
シーケンス番号と期待値との差分は「−２」となる。こ
の時点では、試験用ＡＴＭコネクション２００上で、テ
ストセルの重複あるいは順序の入れ替わりが発生したこ
とが判定され、ＳＮＮＧカウンタ１３６の計数値が一つ
インクリメントされることになる。但し、ＳＮカウンタ
１３５の期待値は更新されない。

【００６０】図１０には、試験用ＡＴＭコネクション２
００上でテストセルの重複が発生した場合の上記各値の
変化が示されている。具体的には、シーケンス番号が
「４」であるテストセルの重複が発生すると、シーケン
ス番号が「４」であるテストセルが受信された次に、再
びシーケンス番号が「４」であるテストセルが受信され
ることになる。そして、シーケンス番号が「４」である
２つのテストセルのうち、１番目のテストセルが受信さ
れた時点では、このテストセルから読み出されたシーケ
ンス番号「４」と期待値「４」との差分は「０」であ
る。この場合、ＳＮカウンタ１３５の期待値は、受信さ
れたテストセルから読み出されたシーケンス番号を一つ
インクリメントした値（４＋１＝５）へ更新される。そ
して、シーケンス番号が「４」である２つのテストセル
のうち、２番目のテストセルが受信された時点では、こ
のテストセルから読み出されたシーケンス番号「４」と
期待値「５」との差分は「−１」となる。この場合、試
験用ＡＴＭコネクション２００上でテストセルの重複あ
るいは入れ替えが発生したことが判定され、ＳＮＮＧカ
ウンタ１３６の計数値が一つインクリメントされる。ま
た、ＳＮカウンタ１３５の期待値は更新されずにそのま
まの値が保持される。その後、シーケンス番号が「５」
であるテストセルが受信されると、このテストセルから
読み出されたシーケンス番号「５」と期待値「５」とが
等しくなり、シーケンス番号と期待値との差分が「０」
になる。この場合には、ＳＮカウンタ１３５の期待値
は、テストセルから読み出されたシーケンス番号「５」
を一つインクリメントした値（５＋１＝６）へ更新され
る。

【００６１】次に、セル発生速度制御部１２１の動作に
ついて図１１のフローチャートに沿って述べる。まず、
セル発生速度パラメータとしてＱが指定されると、２４
３０をＱで割ったときの商Ｒと余りＳとが算出される
（ステップＳ１）。そして、余りＳが０であるか否かが
判別される（ステップＳ２）。

【００６２】ステップＳ２で余りＳが０であることが判
定された場合には（ステップＳ２のＹＥＳの経路）、第
１状態生成部１２１ｃに対して、（１）セル１個を出力
するタイムスロットの大きさ＝Ｒ，（２）繰り返し回数
＝Ｑ、及び（３）状態切り替え＝なし、の３つのパラメ
ータが設定される（ステップＳ３）。そして、セル発生
速度制御１２１は、セル発生速度が最大値ならばＲ個の
セルを送信可能な時間幅内に、１個のテストセルを送信
する状態をＱ回繰り返し、タイムスロットの大きさの切
り換えは行わない。

【００６３】一方、上記のステップＳ２で余りＳが０で
はないことが判定された場合には（ステップＳ２のＮＯ
の経路）、Ｑ−ＳをＡとするとともに（ステップＳ
４）、余りＳをＢとして（ステップＳ５）、ＡとＢが倍
数関係にあるか否かが判別される（ステップＳ６）。ス
テップＳ６でＡとＢが倍数関係にあることが判定された
場合には（ステップＳ６のＹＥＳの経路）、ＡとＢの比
ａ：ｂが算出される（ステップＳ７）。

【００６４】そして、第１状態生成部１２１ｃに対し
て、（１）セル一個を出力するタイムスロットの大きさ
＝Ｒ、（２）繰り返し回数＝ａ、及び（３）状態切り替
え＝有り、の３つのパラメータが設定されるとともに、
第２状態生成部１２１ｄに対して、（４）セル１個を出
力するタイムスロットの大きさ＝Ｒ＋１、（５）繰り返
し回数＝ｂ、及び（６）状態切り替え＝有り、の３つの
パラメータが設定される（ステップＳ８）。このとき、
セル発生速度制御部１２１は、セル発生速度が最大値な
らばＲ個のセルを送信可能な時間幅内に、１個のセル送
信要求信号を出力することをａ回繰り返した後に、タイ
ムスロットの大きさを切り換える。この切り換えによ
り、セル発生速度制御部１２１は、セル発生速度が最大
値ならばＲ＋１個のセルを送信可能な時間幅内に、１個
のセル送信要求信号を出力することをｂ回繰り返す。

【００６５】上記のステップＳ６において、ＡとＢとが
倍数関係にないことが判定された場合には（ステップＳ
６のＮＯの経路）、第１状態生成部１２１ｃに対して、
（１）セル１個を出力するタイムスロットの大きさ＝
Ｒ、（２）繰り返し回数＝Ａ、及び（３）状態切り替え
＝有り、の３つのパラメータが設定されるとともに、第
２状態生成部１２１ｄに対して、（４）セル１個を出力
するタイムスロットの大きさ＝Ｒ＋１、（５）繰り返し
回数＝Ｂ、及び（６）状態切り替え＝有り、の３つのパ
ラメータが設定される（ステップＳ９）。このとき、セ
ル発生速度制御部１２１は、セル発生速度が最大値なら
ばＲ個のセルを送信可能な時間幅内に、１個のセル送信
要求信号を出力することをＡ回繰り返した後に、タイム
スロットの大きさを切り換える。この切り換えにより、
セル発生速度制御部１２１は、セル発生速度が最大値な
らばＲ＋１個のセルを送信可能な時間幅内に、１個のセ
ル送信要求信号を出力することをＢ回繰り返す。

【００６６】以上、本実施形態によれば、受信されたテ
ストセルのシーケンス番号と期待値との大小関係を判別
することにより、試験用ＡＴＭコネクション上でテスト
セルが損失されたのか、テストセルの重複が発生したの
か、あるいはテストセルの順序が入れ替わったのかを判
別することができる。また、本実施形態におけるセル発
生速度の制御方法によれば、テストセルの揺らぎを少な
くすることができ、精度の高い試験を行うことができ
る。

【００６７】《他の実施形態》セル発生速度制御部１２
１は、図１２に示すように、Ｎ個の状態生成部（第１状
態生成部１２１ｃ〜第Ｎ状態生成部１２１ｎ，以下、総
称して状態生成部１２１と記す）を有するように構成し
ても良い。これらの状態生成部１２１は、１個のセルを
出力するタイムスロットの大きさが個々に異なるような
タイミングでセル送信要求信号を出力する。そして、各
状態生成部１２１は、セル送信要求信号を出力する状態
を１回行うと、セル送信要求信号の生成を中断し、他の
状態生成部１２１へ状態終了通知信号を出力する。

【００６８】例えば、第１状態生成部１２１ｃは、セル
発生速度が最大のときにＲ個のテストセルを送信可能な
時間幅内に１個のセル送信要求信号を出力する状態（第
１状態）を１回実行すると、セル送信要求信号の生成を
中断して、第２状態生成部１２１ｄに第１状態終了通知
信号を出力する。第２状態生成部１２１ｄは、第１状態
生成部１２１ｃからの第１状態終了通知信号を入力する
と、セル発生速度が最大のときにＲ＋１個のテストセル
を送信可能な時間幅内に１個のセル送信要求信号を出力
する状態（第２状態）を１回実行する。この第２状態の
実行後、第２状態生成部１２１ｄは、セル送信要求信号
の生成を中断して、第３状態生成部１２１ｅに第２状態
終了通知信号を出力する。

【００６９】そして、第３状態生成部１２１ｅは、第２
状態生成部１２１ｄからの第２状態終了通知信号を入力
すると、セル発生速度が最大のときにＲ＋２個のテスト
セルを送信可能な時間幅内に１個のセル送信要求信号を
出力する状態（第３状態）を１回実行する。この第３状
態の実行後、第３状態生成部１２１ｄは、セル送信要求
信号の生成を中断して、下位の状態生成部（図示せず）
に第３状態終了通知信号を出力する。

【００７０】同様にして、第Ｎ状態生成部１２１ｎが第
ｎ状態を実行し終わると、第Ｎ状態生成部１２１ｎから
第１状態生成部１２１ｃに対して、第Ｎ状態終了通知信
号が出力され、上記の動作を繰り返し行う。以上の処理
を実行することにより、テストセルの伝送速度を故意に
不均等にすることができる（図１３参照）。

【００７１】

【発明の効果】本発明によれば、ＡＴＭ交換機内の通信
経路の導通状態や品質をリアルタイムに検出できる。さ
らに、本発明の指定手段を用いることにより、テストセ
ルの伝送速度を均等することができ、精度の高い試験を
行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の基本構成によるＡＴＭ交換機試験装置
の構成図である。

【図２】実施形態の全体構成図である。

【図３】実施形態で用いられるＡＴＭセルのフォーマッ
トを表す図である。

【図４】実施形態のＡＴＭ交換機試験装置の構成図であ
る。

【図５】実施形態のＡＴＭ交換機試験装置のセル発生速
度制御部の詳細構成図である。

【図６】実施形態のセル送信方法及び従来のセル送信方
法の概念を表す図である。（ａ）は実施形態のセル送信
方法の概念を表し、（ｂ）は従来のセル送信方法の概念
を表す。

【図７】実施形態のＳＮチェックフローを表すフローチ
ャートである。

【図８】セルロスが生じた場合の動作状態を表す図であ
る。

【図９】順序入れ代わりが生じた場合の動作状態を表す
図である。

【図１０】セル重複が生じた場合の動作状態を表す図で
ある。

【図１１】実施形態のセル発生速度制御部の処理動作を
表すフローチャートである。

【図１２】ＡＴＭ交換機試験装置のセル発生速度制御部
の別の構成図である。

【図１３】図１２の構成によるセル送信状態を表す図で
ある。

【図１４】従来のＡＴＭセルのフォーマットを表す図で
ある。

【符号の説明】

１０・・加入者回路 ２０・・セル多重分離回路 ３０・・ＡＴＭスイッチ 100・・ＡＴＭ交換機試験装置 121・・セル発生速度制御部 121A・・制御部 121B・・第２状態生成部 121C・・第１状態生成部 121D・・第２状態生成部 123・・ＳＮカウンタ 133・・ＳＮエラーカウンタ 134・・ＳＮチェック部 135・・ＳＮカウンタ 136・・ＳＮＮＧカウンタ 141・・テストセル組立部 143・・セル分解部

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＡＴＭセルのペイロード部にシーケンス
   番号が付加された所定数のテストセルを、前記シーケン
   ス番号の順序に従って、ＡＴＭ交換機内の通信経路へ送
   信するテストセル送信手段と、 前記テストセル送信手段によって送信された前記テスト
   セルが前記ＡＴＭ交換機内で折り返されて送信されてく
   ると、それらのテストセルを受信するテストセル受信手
   段と、 前記テストセル受信手段によって受信されたテストセル
   のペイロード部から、順次シーケンス番号を読み出すシ
   ーケンス番号読出手段と、 前記シーケンス番号読出手段によって読み出されたシー
   ケンス番号と、シーケンス番号の期待値とを比較して、
   前記ＡＴＭ交換機の導通・品質を判定する判定手段と、 を備えるＡＴＭ交換機試験装置。
2. 【請求項２】 前記期待値は、 前記テストセルに書き込まれるシーケンス番号の初期値
   と同一の値を初期値として保持し、 前記判定手段によって、前記シーケンス番号読出手段に
   よって読み出されたシーケンス番号の数値が前記期待値
   以上であることが判定されると、前記読み出されたシー
   ケンス番号を一つインクリメントした値に更新され、 前記判定手段によって、前記シーケンス番号読出手段に
   よって読み出されたシーケンス番号の数値が前記期待値
   未満であることが判定されると、そのままの値を保持す
   る、請求項１記載のＡＴＭ交換機試験装置。
3. 【請求項３】 前記判定手段は、 前記シーケンス番号読出手段によって読み出されたシー
   ケンス番号の数値と前記期待値とが等しければ、前記Ａ
   ＴＭ交換機が正常であることを判定し、 前記シーケンス番号読出手段によって読み出されたシー
   ケンス番号の数値が前記期待値よりも大きければ、前記
   ＡＴＭ交換機内でテストセルの損失が発生したことを判
   定し、 前記シーケンス番号読出手段によって読み出されたシー
   ケンス番号の数値が前記期待値よりも小さければ、前記
   ＡＴＭ交換機内で前記テストセルの重複あるいは順序の
   入れ替えが発生したことを判定する、請求項１記載のＡ
   ＴＭ交換機試験装置。
4. 【請求項４】 前記判定手段は、 前記シーケンス番号読出手段によって読み出されたシー
   ケンス番号の数値が前記期待値よりも大きい場合には、
   前記シーケンス番号と前記期待値との差分を、損失され
   たテストセルの個数として計数し、 前記シーケンス番号読出手段によって読み出されたシー
   ケンス番号の数値が前記期待値より小さい場合には、前
   記テストセルの重複あるいは前記テストセルの順序の入
   れ替えが発生した回数を計数する、請求項３記載のＡＴ
   Ｍ交換機試験装置。
5. 【請求項５】前記テストセルのセル発生速度を、セル発
   生速度パラメータにより指定する指定手段を設け、 前記セル送信手段は、前記指定手段により指定されたセ
   ル発生速度パラメータに基づいて、前記テストセルの発
   生速度を制御する、請求項１記載のＡＴＭ交換機試験装
   置。
6. 【請求項６】前記指定手段は、Ｐを自然数とするととも
   にＱをＰ以下の自然数とした場合に、前記セル発生速度
   パラメータをＰ及びＱの組で指定し、 前記セル送信手段は、 前記セル発生速度パラメータ指定手段から前記セル発生
   速度パラメータが指定されると、ＰをＱで割った時の商
   をＲとして求めるとともにその余りをＳとして求める演
   算部と、 セル発生速度が最大ならばＲ個のセルを送信可能な時間
   幅内に１個のテストセルを送信する状態を生成する第１
   状態生成部と、 セル発生速度が最大ならば（Ｒ＋１）個のセルを送信可
   能な時間幅内に１個のテストセルを送信する状態を生成
   する第２状態生成部と、 前記第１状態生成部で生成された状態と前記第２状態生
   成部で生成された状態に従って前記テストセルの送信を
   行う実行部とを有する、請求項５記載のＡＴＭコネクシ
   ョン試験装置。
7. 【請求項７】前記セル送信手段の前記実行部は、（Ｑ−
   Ｓ）とＳとが倍数関係にあり、大の方を小の方で割った
   比がＴで表される場合に、 （Ｑ−Ｓ）≧Ｓならば、前記第１状態生成部で生成され
   た状態をＴ回続けて実行する毎に、前記第２状態生成部
   で生成された状態を１回実行することをＳ回繰り返し、 （Ｑ−Ｓ）＜Ｓならば、前記第１状態生成部で生成され
   た状態を１回実行する毎に、前記第２状態生成部で生成
   された状態をＴ回続けて実行することを（Ｑ−Ｓ）回繰
   り返す、請求項６記載のＡＴＭコネクション試験装置。
8. 【請求項８】前記セル送信手段の前記実行部は、前記前
   記第１状態生成部で生成された状態を（Ｑ−Ｓ）回続け
   て実行する毎に、前記第２状態生成部で生成された状態
   をＳ回続けて実行する、請求項６記載のＡＴＭコネクシ
   ョン試験装置。
9. 【請求項９】前記セル送信手段は、互いに異なる割合で
   テストセルを送信する状態を生成する複数の状態生成部
   と、 前記複数の状態生成部で生成された状態を順番に実行す
   る実行部とを有する、請求項１記載のＡＴＭコネクショ
   ン試験装置。
10. 【請求項１０】前記指定手段は、前記セル発生速度パラ
    メータをＱだけで指定する請求項５記載のＡＴＭコネク
    ション試験装置。