JP2762922B2 - 伝送品質誤り発生装置 - Google Patents
伝送品質誤り発生装置Info
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- JP2762922B2 JP2762922B2 JP6068929A JP6892994A JP2762922B2 JP 2762922 B2 JP2762922 B2 JP 2762922B2 JP 6068929 A JP6068929 A JP 6068929A JP 6892994 A JP6892994 A JP 6892994A JP 2762922 B2 JP2762922 B2 JP 2762922B2
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- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＡＴＭクロスコネク
ト装置の伝送品質監視試験に際して用いて好適な伝送品
質誤り発生装置に関するものである。
ト装置の伝送品質監視試験に際して用いて好適な伝送品
質誤り発生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、伝送品質監視試験はＡＴＭクロ
スコネクト装置の伝送路上のユーザセルの誤り測定や誤
り検出ができることを確認する試験であり、従来の伝送
品質監視試験装置では周期的に１ＶＰＩ（value of per
fect information）で１種類の誤りを発生させて試験を
行っていた。
スコネクト装置の伝送路上のユーザセルの誤り測定や誤
り検出ができることを確認する試験であり、従来の伝送
品質監視試験装置では周期的に１ＶＰＩ（value of per
fect information）で１種類の誤りを発生させて試験を
行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の伝送品質監視試験は、上述したように、周期
的に１ＶＰＩで１種類の誤りしか発生できないといった
制限があるため、複数種類の誤りから所望の誤りを選択
して発生させたり、複数ＶＰＩへの誤りの発生、同時に
異なる誤りの発生、非周期的な誤りの発生、およびこれ
らを組み合わせた試験等、伝送品質監視試験を多面的に
行うことができなかった。
うな従来の伝送品質監視試験は、上述したように、周期
的に１ＶＰＩで１種類の誤りしか発生できないといった
制限があるため、複数種類の誤りから所望の誤りを選択
して発生させたり、複数ＶＰＩへの誤りの発生、同時に
異なる誤りの発生、非周期的な誤りの発生、およびこれ
らを組み合わせた試験等、伝送品質監視試験を多面的に
行うことができなかった。
【０００４】本発明はこのような課題を解決するために
なされたもので、その目的とするところは、多面的に伝
送品質監視試験を行うことの可能な伝送品質誤り発生装
置を提供することにある。
なされたもので、その目的とするところは、多面的に伝
送品質監視試験を行うことの可能な伝送品質誤り発生装
置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、その第１発明（請求項１に係る発
明）は、ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセルおよび空き
セルを指定された組合せで発生するユーザセル発生手段
と、このユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空
きセルを検出し、ユーザセルをＮセル検出した後の空き
セルを伝送品質監視用セルに置き換える伝送品質監視用
セル生成手段と、この伝送品質監視用セル生成手段によ
り置き換えられた伝送品質監視用セルを含むユーザセル
中より指定されたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出
し、このセルを指定されたセル間隔で検出する毎に空き
セルに置き換えるセル損失発生手段と、伝送品質監視用
セルを含むユーザセル中より指定されたＶＰＩ／ＶＣＩ
を有するセルを検出し、このセルを指定されたセル間隔
で検出する毎にビット誤りを付加するビット誤り発生手
段と、空きセルを検出し、この空きセルを指定されたセ
ル間隔で検出する毎に任意のユーザセルに強制的に置き
換えるセル誤配発生手段と、ユーザセル発生手段，セル
損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を制
御し、同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセ
ルに誤りを発生させる制御手段とを備えたものである。
また、その第２発明（請求項２に係る発明）は、第１発
明の制御手段に代えて、ユーザセル発生手段，セル損失
発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を制御
し、同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数
種類のセルに誤りを発生させる制御手段を設けたもので
ある。また、その第３発明（請求項３に係る発明）は、
第１発明の制御手段に代えて、ユーザセル発生手段，セ
ル損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を
制御し、非同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有す
るセルに誤りを発生させる制御手段を設けたものであ
る。また、その第４発明（請求項４に係る発明）は、第
１発明の制御手段に代えて、ユーザセル発生手段，セル
損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を制
御し、非同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する
複数種類のセルに誤りを発生させる制御手段を設けたも
のである。
るために、本発明は、その第１発明（請求項１に係る発
明）は、ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセルおよび空き
セルを指定された組合せで発生するユーザセル発生手段
と、このユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空
きセルを検出し、ユーザセルをＮセル検出した後の空き
セルを伝送品質監視用セルに置き換える伝送品質監視用
セル生成手段と、この伝送品質監視用セル生成手段によ
り置き換えられた伝送品質監視用セルを含むユーザセル
中より指定されたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出
し、このセルを指定されたセル間隔で検出する毎に空き
セルに置き換えるセル損失発生手段と、伝送品質監視用
セルを含むユーザセル中より指定されたＶＰＩ／ＶＣＩ
を有するセルを検出し、このセルを指定されたセル間隔
で検出する毎にビット誤りを付加するビット誤り発生手
段と、空きセルを検出し、この空きセルを指定されたセ
ル間隔で検出する毎に任意のユーザセルに強制的に置き
換えるセル誤配発生手段と、ユーザセル発生手段，セル
損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を制
御し、同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセ
ルに誤りを発生させる制御手段とを備えたものである。
また、その第２発明（請求項２に係る発明）は、第１発
明の制御手段に代えて、ユーザセル発生手段，セル損失
発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を制御
し、同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数
種類のセルに誤りを発生させる制御手段を設けたもので
ある。また、その第３発明（請求項３に係る発明）は、
第１発明の制御手段に代えて、ユーザセル発生手段，セ
ル損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を
制御し、非同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有す
るセルに誤りを発生させる制御手段を設けたものであ
る。また、その第４発明（請求項４に係る発明）は、第
１発明の制御手段に代えて、ユーザセル発生手段，セル
損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を制
御し、非同一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する
複数種類のセルに誤りを発生させる制御手段を設けたも
のである。
【０００６】
【作用】したがってこの発明によれば、その第１発明で
は、ユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空きセ
ルが検出され、ユーザセルをＮセル検出した後の空きセ
ルが伝送品質監視用セルに置き換えられる。セル損失発
生手段は、伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より
指定されたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、この
セルを指定されたセル間隔で検出する毎に空きセルに置
き換える。また、ビット誤り発生手段は、伝送品質監視
用セルを含むユーザセル中より指定されたＶＰＩ／ＶＣ
Ｉを有するセルを検出し、このセルを指定されたセル間
隔で検出する毎にビット誤りを付加する。また、セル誤
配発生手段は、空きセルを検出し、この空きセルを指定
されたセル間隔で検出する毎に任意のユーザセルに強制
的に置き換える。制御手段は、ユーザセル発生手段，セ
ル損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を
制御し、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同じＶＰ
Ｉ／ＶＣＩを有するセルに誤りを発生させる。また、そ
の第２発明において、制御手段は、ユーザセル発生手
段，セル損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生
手段を制御し、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同
じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセルに誤りを発生
させる。また、その第３発明において、制御手段は、ユ
ーザセル発生手段，セル損失発生手段，ビット誤り手
段，セル誤配発生手段を制御し、非同一セル間隔で、す
なわち非周期的に、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルに
誤りを発生させる。また、その第４発明において、制御
手段は、ユーザセル発生手段，セル損失発生手段，ビッ
ト誤り手段，セル誤配発生手段を制御し、非同一セル間
隔で、すなわち非周期的に、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有す
る複数種類のセルに誤りを発生させる。
は、ユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空きセ
ルが検出され、ユーザセルをＮセル検出した後の空きセ
ルが伝送品質監視用セルに置き換えられる。セル損失発
生手段は、伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より
指定されたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、この
セルを指定されたセル間隔で検出する毎に空きセルに置
き換える。また、ビット誤り発生手段は、伝送品質監視
用セルを含むユーザセル中より指定されたＶＰＩ／ＶＣ
Ｉを有するセルを検出し、このセルを指定されたセル間
隔で検出する毎にビット誤りを付加する。また、セル誤
配発生手段は、空きセルを検出し、この空きセルを指定
されたセル間隔で検出する毎に任意のユーザセルに強制
的に置き換える。制御手段は、ユーザセル発生手段，セ
ル損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段を
制御し、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同じＶＰ
Ｉ／ＶＣＩを有するセルに誤りを発生させる。また、そ
の第２発明において、制御手段は、ユーザセル発生手
段，セル損失発生手段，ビット誤り手段，セル誤配発生
手段を制御し、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同
じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセルに誤りを発生
させる。また、その第３発明において、制御手段は、ユ
ーザセル発生手段，セル損失発生手段，ビット誤り手
段，セル誤配発生手段を制御し、非同一セル間隔で、す
なわち非周期的に、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルに
誤りを発生させる。また、その第４発明において、制御
手段は、ユーザセル発生手段，セル損失発生手段，ビッ
ト誤り手段，セル誤配発生手段を制御し、非同一セル間
隔で、すなわち非周期的に、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有す
る複数種類のセルに誤りを発生させる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づき詳細に説明す
る。図１はこの発明の一実施例を示す伝送品質誤り発生
装置のブロック図である。同図において、１はユーザセ
ル発生回路、２−１，２−２は空きセル検出回路、３−
１〜３−４はディレイ回路、４は伝送品質監視用セル生
成／送出回路、５−１，５−２は指定セル検出回路、６
は空きセル化回路、７はビット誤り付加回路、８はユー
ザセル生成回路、９は制御回路であり、伝送品質監視用
セル生成／送出回路４には制御回路９より設定値Ｎが与
えられている。
る。図１はこの発明の一実施例を示す伝送品質誤り発生
装置のブロック図である。同図において、１はユーザセ
ル発生回路、２−１，２−２は空きセル検出回路、３−
１〜３−４はディレイ回路、４は伝送品質監視用セル生
成／送出回路、５−１，５−２は指定セル検出回路、６
は空きセル化回路、７はビット誤り付加回路、８はユー
ザセル生成回路、９は制御回路であり、伝送品質監視用
セル生成／送出回路４には制御回路９より設定値Ｎが与
えられている。
【０００８】制御回路９は、ユーザセル発生回路１に対
し、ＶＰＩ／ＶＣＩ（virtual channel identify）／ペ
イロードデータ／容量を指定する。これを受けて、ユー
ザセル発生回路１は、ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセ
ルおよび空きセルを指定された組合せで発生する。この
ユーザセル発生回路１の発生するユーザセルと空きセル
は空きセル検出回路２−１により検出される。そして、
ユーザセルをＮセル検出した後の空きセルが、伝送品質
監視用セル生成／送出回路４によって、伝送品質監視用
セルに置き換えられる。これで正常な伝送品質監視用セ
ルを含むユーザセルが発生される。
し、ＶＰＩ／ＶＣＩ（virtual channel identify）／ペ
イロードデータ／容量を指定する。これを受けて、ユー
ザセル発生回路１は、ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセ
ルおよび空きセルを指定された組合せで発生する。この
ユーザセル発生回路１の発生するユーザセルと空きセル
は空きセル検出回路２−１により検出される。そして、
ユーザセルをＮセル検出した後の空きセルが、伝送品質
監視用セル生成／送出回路４によって、伝送品質監視用
セルに置き換えられる。これで正常な伝送品質監視用セ
ルを含むユーザセルが発生される。
【０００９】伝送品質監視試験の誤り測定および誤り検
出には、セル損失／ビット誤り／セル誤配がある。ま
ず、セル損失させるには、制御回路９より、損失させる
セルのＶＰＩ／ＶＣＩ／セル間隔といった情報を指定セ
ル検出回路５−１に通知する。これにより、指定セル検
出回路５−１は、伝送品質監視用セルを含むユーザセル
中より指定されたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出
し、このセルを指定されたセル間隔で検出する毎に、空
きセル化回路６により空きセルに置き換える。これによ
って、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同じＶＰＩ
／ＶＣＩを有するセルにセル損失が発生する。
出には、セル損失／ビット誤り／セル誤配がある。ま
ず、セル損失させるには、制御回路９より、損失させる
セルのＶＰＩ／ＶＣＩ／セル間隔といった情報を指定セ
ル検出回路５−１に通知する。これにより、指定セル検
出回路５−１は、伝送品質監視用セルを含むユーザセル
中より指定されたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出
し、このセルを指定されたセル間隔で検出する毎に、空
きセル化回路６により空きセルに置き換える。これによ
って、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同じＶＰＩ
／ＶＣＩを有するセルにセル損失が発生する。
【００１０】ビット誤りも同様に、制御回路９より、誤
らせるセルのＶＰＩ／ＶＣＩ／セル間隔といった情報を
指定セル検出回路５−２に通知し、また誤らせる位置
（バイト／ビット）の情報をビット誤り付加回路７に通
知する。これにより、指定セル検出回路５−２は、伝送
品質監視用セルを含むユーザセル中より指定されたＶＰ
Ｉ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを指定され
たセル間隔で検出する毎に、ビット誤り付加回路７によ
りビットデータを反転することで、ビット誤りを付加す
る。これによって、同一セル間隔で、すなわち周期的
に、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルにビット誤りが発
生する。
らせるセルのＶＰＩ／ＶＣＩ／セル間隔といった情報を
指定セル検出回路５−２に通知し、また誤らせる位置
（バイト／ビット）の情報をビット誤り付加回路７に通
知する。これにより、指定セル検出回路５−２は、伝送
品質監視用セルを含むユーザセル中より指定されたＶＰ
Ｉ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを指定され
たセル間隔で検出する毎に、ビット誤り付加回路７によ
りビットデータを反転することで、ビット誤りを付加す
る。これによって、同一セル間隔で、すなわち周期的
に、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルにビット誤りが発
生する。
【００１１】セル誤配させるには、制御回路９より、Ｖ
ＰＩ／ＶＣＩ／ペイロードデータ／セル間隔といった情
報をユーザセル生成回路８に通知する。これにより、ユ
ーザセル生成回路８は、指定されたセル間隔で空きセル
が検出される毎に、制御回路９より通知された情報通り
の任意のユーザセルに強制的に置き換える。これによっ
て、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同じＶＰＩ／
ＶＣＩを有するセルに誤配が発生する。
ＰＩ／ＶＣＩ／ペイロードデータ／セル間隔といった情
報をユーザセル生成回路８に通知する。これにより、ユ
ーザセル生成回路８は、指定されたセル間隔で空きセル
が検出される毎に、制御回路９より通知された情報通り
の任意のユーザセルに強制的に置き換える。これによっ
て、同一セル間隔で、すなわち周期的に、同じＶＰＩ／
ＶＣＩを有するセルに誤配が発生する。
【００１２】なお、上述の実施例では各誤りを周期的に
発生させるようにしているが、誤りを発生させる間隔を
特に規定しない場合、各誤りを乱数で発生させるものと
してもよい。すなわち、「セル間隔」を不規則とするこ
とによって、各誤りを非周期的に発生させるものとして
もよい。また、各誤りが生じるＶＰＩ／ＶＣＩは、各１
種類に限ることはなく、複数種類のＶＰＩ／ＶＣＩに同
時に同じ誤りを生じさせるものとしてもよい。また、セ
ル損失／ビット誤り／セル誤配は、必ずしも三つ巴で発
生させなくてもよく、これらの誤りを選択的に組み合わ
せて発生したり、これらの誤りの内の一つを選択して発
生させたりすることも可能である。
発生させるようにしているが、誤りを発生させる間隔を
特に規定しない場合、各誤りを乱数で発生させるものと
してもよい。すなわち、「セル間隔」を不規則とするこ
とによって、各誤りを非周期的に発生させるものとして
もよい。また、各誤りが生じるＶＰＩ／ＶＣＩは、各１
種類に限ることはなく、複数種類のＶＰＩ／ＶＣＩに同
時に同じ誤りを生じさせるものとしてもよい。また、セ
ル損失／ビット誤り／セル誤配は、必ずしも三つ巴で発
生させなくてもよく、これらの誤りを選択的に組み合わ
せて発生したり、これらの誤りの内の一つを選択して発
生させたりすることも可能である。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように本
発明によれば、ユーザセル発生手段，セル損失発生手
段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段が制御され、第
１発明では、同一セル間隔で同じＶＰＩ／ＶＣＩを有す
るセルに誤りが発生し、第２発明では、同一セル間隔で
同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセルに誤りが発
生し、第３発明では、非同一セル間隔で同じＶＰＩ／Ｖ
ＣＩを有するセルに誤りが発生し、第４発明では、非同
一セル間隔で同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセ
ルに誤りが発生するものとなり、複数種類の誤りから所
望の誤りを選択して発生させたり、同じＶＰＩ／ＶＣＩ
を有する複数種類のセルへの誤りの発生、同時に異なる
誤りの発生、非周期的な誤りの発生、およびこれらを組
み合わせた試験等、伝送品質監視試験を多面的に行うこ
とが可能となる。
発明によれば、ユーザセル発生手段，セル損失発生手
段，ビット誤り手段，セル誤配発生手段が制御され、第
１発明では、同一セル間隔で同じＶＰＩ／ＶＣＩを有す
るセルに誤りが発生し、第２発明では、同一セル間隔で
同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセルに誤りが発
生し、第３発明では、非同一セル間隔で同じＶＰＩ／Ｖ
ＣＩを有するセルに誤りが発生し、第４発明では、非同
一セル間隔で同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセ
ルに誤りが発生するものとなり、複数種類の誤りから所
望の誤りを選択して発生させたり、同じＶＰＩ／ＶＣＩ
を有する複数種類のセルへの誤りの発生、同時に異なる
誤りの発生、非周期的な誤りの発生、およびこれらを組
み合わせた試験等、伝送品質監視試験を多面的に行うこ
とが可能となる。
【図１】 本発明の一実施例を示す伝送品質誤り発生装
置のブロック図である。
置のブロック図である。
１…ユーザセル発生回路、２−１，２−２…空きセル検
出回路、３−１〜３−４…ディレイ回路、４…伝送品質
監視用セル生成／送出回路、５−１，５−２…指定セル
検出回路、６…空きセル化回路、７…ビット誤り付加回
路、８…ユーザセル生成回路、９…制御回路。
出回路、３−１〜３−４…ディレイ回路、４…伝送品質
監視用セル生成／送出回路、５−１，５−２…指定セル
検出回路、６…空きセル化回路、７…ビット誤り付加回
路、８…ユーザセル生成回路、９…制御回路。
Claims (4)
- 【請求項１】 ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセルおよ
び空きセルを指定された組合せで発生するユーザセル発
生手段と、 このユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空きセ
ルを検出し、ユーザセルをＮセル検出した後の空きセル
を伝送品質監視用セルに置き換える伝送品質監視用セル
生成手段と、 この伝送品質監視用セル生成手段により置き換えられた
伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定された
ＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを指定
されたセル間隔で検出する毎に空きセルに置き換えるセ
ル損失発生手段と、 前記伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定さ
れたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを
指定されたセル間隔で検出する毎にビット誤りを付加す
るビット誤り発生手段と、 空きセルを検出し、この空きセルを指定されたセル間隔
で検出する毎に任意のユーザセルに強制的に置き換える
セル誤配発生手段と、 前記ユーザセル発生手段，前記セル損失発生手段，前記
ビット誤り手段，前記セル誤配発生手段を制御し、同一
セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルに誤りを
発生させる制御手段とを備えたことを特徴とする伝送品
質誤り発生装置。 - 【請求項２】 ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセルおよ
び空きセルを指定された組合せで発生するユーザセル発
生手段と、 このユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空きセ
ルを検出し、ユーザセルをＮセル検出した後の空きセル
を伝送品質監視用セルに置き換える伝送品質監視用セル
生成手段と、 この伝送品質監視用セル生成手段により置き換えられた
伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定された
ＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを指定
されたセル間隔で検出する毎に空きセルに置き換えるセ
ル損失発生手段と、 前記伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定さ
れたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを
指定されたセル間隔で検出する毎にビット誤りを付加す
るビット誤り発生手段と、 空きセルを検出し、この空きセルを指定されたセル間隔
で検出する毎に任意のユーザセルに強制的に置き換える
セル誤配発生手段と、 前記ユーザセル発生手段，前記セル損失発生手段，前記
ビット誤り手段，前記セル誤配発生手段を制御し、同一
セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類のセ
ルに誤りを発生させる制御手段とを備えたことを特徴と
する伝送品質誤り発生装置。 - 【請求項３】 ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセルおよ
び空きセルを指定された組合せで発生するユーザセル発
生手段と、 このユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空きセ
ルを検出し、ユーザセルをＮセル検出した後の空きセル
を伝送品質監視用セルに置き換える伝送品質監視用セル
生成手段と、 この伝送品質監視用セル生成手段により置き換えられた
伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定された
ＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを指定
されたセル間隔で検出する毎に空きセルに置き換えるセ
ル損失発生手段と、 前記伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定さ
れたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを
指定されたセル間隔で検出する毎にビット誤りを付加す
るビット誤り発生手段と、 空きセルを検出し、この空きセルを指定されたセル間隔
で検出する毎に任意のユーザセルに強制的に置き換える
セル誤配発生手段と、 前記ユーザセル発生手段，前記セル損失発生手段，前記
ビット誤り手段，前記セル誤配発生手段を制御し、非同
一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルに誤り
を発生させる制御手段とを備えたことを特徴とする伝送
品質誤り発生装置。 - 【請求項４】 ＶＰＩ／ＶＣＩを有するユーザセルおよ
び空きセルを指定された組合せで発生するユーザセル発
生手段と、 このユーザセル発生手段の発生するユーザセルと空きセ
ルを検出し、ユーザセルをＮセル検出した後の空きセル
を伝送品質監視用セルに置き換える伝送品質監視用セル
生成手段と、 この伝送品質監視用セル生成手段により置き換えられた
伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定された
ＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを指定
されたセル間隔で検出する毎に空きセルに置き換えるセ
ル損失発生手段と、 前記伝送品質監視用セルを含むユーザセル中より指定さ
れたＶＰＩ／ＶＣＩを有するセルを検出し、このセルを
指定されたセル間隔で検出する毎にビット誤りを付加す
るビット誤り発生手段と、 空きセルを検出し、この空きセルを指定されたセル間隔
で検出する毎に任意のユーザセルに強制的に置き換える
セル誤配発生手段と、 前記ユーザセル発生手段，前記セル損失発生手段，前記
ビット誤り手段，前記セル誤配発生手段を制御し、非同
一セル間隔で、同じＶＰＩ／ＶＣＩを有する複数種類の
セルに誤りを発生させる制御手段とを備えたことを特徴
とする伝送品質誤り発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6068929A JP2762922B2 (ja) | 1994-03-15 | 1994-03-15 | 伝送品質誤り発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6068929A JP2762922B2 (ja) | 1994-03-15 | 1994-03-15 | 伝送品質誤り発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07254907A JPH07254907A (ja) | 1995-10-03 |
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Family Applications (1)
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1994
- 1994-03-15 JP JP6068929A patent/JP2762922B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07254907A (ja) | 1995-10-03 |
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