JP3459561B2 - 位相比較器 - Google Patents
位相比較器Info
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 47
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 18
- 201000007197 atypical autism Diseases 0.000 description 18
- 208000029560 autism spectrum disease Diseases 0.000 description 18
- 238000001407 pulse-discharge detection Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- 238000004587 chromatography analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03D—DEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
- H03D13/00—Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations
- H03D13/003—Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means
- H03D13/004—Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means the logic means delivering pulses at more than one terminal, e.g. up and down pulses
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、位相ロックループ
(PLL:Phase Locked Loop)に用いられる位相比較回路に
関する。
(PLL:Phase Locked Loop)に用いられる位相比較回路に
関する。
【0002】
【従来の技術】図4は、一般的なPLLの構成を示すブ
ロック図である。PLLは、位相比較器1、チャージポ
ンプ2、ローパスフィルタ3、電圧制御発振器4及び分
周器5により構成される。位相比較器1は、基準クロッ
クBCKと後述する電圧制御発振器4の発振クロックO
CKを分周した分周クロックTCKとの位相を比較し、
その位相差に応じた出力PDU、PDDを発生する。チ
ャージポンプ2は、出力側に対して一定電流を供給する
正の定電流源と、出力側から一定電流を引き込む負の定
電流源とを有し、位相比較器1から入力される比較出力
PDU、PDDに応答してローパスフィルタ3を充放電
する。ローパスフィルタ3は、チャージポンプ2から入
力される出力PDの交流成分を除去し、出力PDに応じ
て変化する電圧Vcを出力する。電圧制御発振器4は、
ローパスフィルタ3を通して印加される電圧Vcに応答
して発振動作を変動し、電圧Vcに従う周波数を有する
発振クロックOCKを発生する。そして、分周器5は、
電圧制御発振器4から入力される発振クロックOCKを
所定の比率で分周し、分周クロックTCKを位相比較器
1に供給する。この分周器5では、例えば、発振クロッ
クOCKを1/2に分周することにより、デューティが
1/2となる分周クロックTCKを得られるようにして
いる。
ロック図である。PLLは、位相比較器1、チャージポ
ンプ2、ローパスフィルタ3、電圧制御発振器4及び分
周器5により構成される。位相比較器1は、基準クロッ
クBCKと後述する電圧制御発振器4の発振クロックO
CKを分周した分周クロックTCKとの位相を比較し、
その位相差に応じた出力PDU、PDDを発生する。チ
ャージポンプ2は、出力側に対して一定電流を供給する
正の定電流源と、出力側から一定電流を引き込む負の定
電流源とを有し、位相比較器1から入力される比較出力
PDU、PDDに応答してローパスフィルタ3を充放電
する。ローパスフィルタ3は、チャージポンプ2から入
力される出力PDの交流成分を除去し、出力PDに応じ
て変化する電圧Vcを出力する。電圧制御発振器4は、
ローパスフィルタ3を通して印加される電圧Vcに応答
して発振動作を変動し、電圧Vcに従う周波数を有する
発振クロックOCKを発生する。そして、分周器5は、
電圧制御発振器4から入力される発振クロックOCKを
所定の比率で分周し、分周クロックTCKを位相比較器
1に供給する。この分周器5では、例えば、発振クロッ
クOCKを1/2に分周することにより、デューティが
1/2となる分周クロックTCKを得られるようにして
いる。
【0003】このようなPLLにおいては、基準クロッ
クBCKと発振クロックOCKとの位相差に応じて電圧
制御発振器4の発振周波数が制御されるようになり、基
準クロックBCKと発振クロックOCKとの位相差が一
定に保たれる。図5は、位相比較器1の構成を示す回路
図であり、図6は、その動作を説明するタイミング図で
ある。
クBCKと発振クロックOCKとの位相差に応じて電圧
制御発振器4の発振周波数が制御されるようになり、基
準クロックBCKと発振クロックOCKとの位相差が一
定に保たれる。図5は、位相比較器1の構成を示す回路
図であり、図6は、その動作を説明するタイミング図で
ある。
【0004】位相比較器1は、3つのフリップフロップ
11、12、13及び2つのXOR(排他論理和)ゲー
ト14、15により構成される。3つのフリップフロッ
プ11、12、13は、直列に接続されてシフトレジス
タを構成し、1段目のフリップフロップ11のD入力に
基準クロックBCKが入力される。1段目及び2段目の
フリップフロップ11、12のT入力には、分周クロッ
クTCKが入力され、3段目のフリップフロップ13の
T入力には、分周クロックTCKの反転クロックが入力
される。これにより、基準クロックBCKの状態が、分
周クロックTCKの立ち上がりのタイミングに応答して
1段目のフリップフロップ11及び2段目のフリップフ
ロップ12に伝えられ、分周クロックTCKの立ち下が
りのタイミングに応答して3段目のフリップフロップ1
3に伝えられる。
11、12、13及び2つのXOR(排他論理和)ゲー
ト14、15により構成される。3つのフリップフロッ
プ11、12、13は、直列に接続されてシフトレジス
タを構成し、1段目のフリップフロップ11のD入力に
基準クロックBCKが入力される。1段目及び2段目の
フリップフロップ11、12のT入力には、分周クロッ
クTCKが入力され、3段目のフリップフロップ13の
T入力には、分周クロックTCKの反転クロックが入力
される。これにより、基準クロックBCKの状態が、分
周クロックTCKの立ち上がりのタイミングに応答して
1段目のフリップフロップ11及び2段目のフリップフ
ロップ12に伝えられ、分周クロックTCKの立ち下が
りのタイミングに応答して3段目のフリップフロップ1
3に伝えられる。
【0005】第1のXORゲート14は、2つの入力
が、基準クロックBCKの入力及びフリップフロップ1
1のQ出力に接続され、その論理合成出力が比較出力P
DUとしてチャージポンプ2に供給される。第2のXO
Rゲート15は、2つの入力が、フリップフロップ12
のQ出力とフリップフロップ13のQ出力とに接続さ
れ、その論理合成出力が比較出力PDDとしてチャージ
ポンプ2に供給される。
が、基準クロックBCKの入力及びフリップフロップ1
1のQ出力に接続され、その論理合成出力が比較出力P
DUとしてチャージポンプ2に供給される。第2のXO
Rゲート15は、2つの入力が、フリップフロップ12
のQ出力とフリップフロップ13のQ出力とに接続さ
れ、その論理合成出力が比較出力PDDとしてチャージ
ポンプ2に供給される。
【0006】以上の位相比較器1の動作を図6に従って
説明する。基準クロックBCKは、分周クロックTCK
の立ち上がりのタイミングでフリップフロップ11に取
り込まれる。これにより、フリップフロップ11の出力
Q1は、基準クロックBCKの変化点に対して分周クロ
ックTCKが次に立ち上がるタイミングで、基準クロッ
クBCKに従うように変化する。基準クロックBCKと
出力Q1とが入力されるXORゲート14の出力PDU
は、基準クロックBCKの立ち下がりから次の分周クロ
ックTCKの立ち上がりまでと、基準クロックの立ち上
がりから次の分周クロックTCKの立ち上がりまでとで
ローレベルとなり、チャージポンプ2の正の定電流源を
オンさせる。
説明する。基準クロックBCKは、分周クロックTCK
の立ち上がりのタイミングでフリップフロップ11に取
り込まれる。これにより、フリップフロップ11の出力
Q1は、基準クロックBCKの変化点に対して分周クロ
ックTCKが次に立ち上がるタイミングで、基準クロッ
クBCKに従うように変化する。基準クロックBCKと
出力Q1とが入力されるXORゲート14の出力PDU
は、基準クロックBCKの立ち下がりから次の分周クロ
ックTCKの立ち上がりまでと、基準クロックの立ち上
がりから次の分周クロックTCKの立ち上がりまでとで
ローレベルとなり、チャージポンプ2の正の定電流源を
オンさせる。
【0007】フリップフロップ11の出力Q1は、分周
クロックTCKの立ち上がりのタイミングでフリップフ
ロップ12に取り込まれる。これにより、フリップフロ
ップ12の出力Q2は、出力Q1が分周クロックTCK
の1周期分だけ遅れた波形を示す。そして、フリップフ
ロップ12の出力Q2は、分周クロックTCKの立ち下
がりのタイミングでフリップフロップ13に取り込まれ
る。これにより、フリップフロップ13の出力Q3は、
出力Q2が分周クロックTCKの1/2周期分だけ遅れ
た波形を示す。出力Q2と出力Q3とが入力されるXO
Rゲート15の出力PDDは、出力Q2の立ち上がりか
ら次の出力Q3の立ち上がりまでと、出力Q2の立ち下
がりから次の出力Q3の立ち下がりまでとでハイレベル
となり、チャージポンプ2の負の定電流源をオンさせ
る。
クロックTCKの立ち上がりのタイミングでフリップフ
ロップ12に取り込まれる。これにより、フリップフロ
ップ12の出力Q2は、出力Q1が分周クロックTCK
の1周期分だけ遅れた波形を示す。そして、フリップフ
ロップ12の出力Q2は、分周クロックTCKの立ち下
がりのタイミングでフリップフロップ13に取り込まれ
る。これにより、フリップフロップ13の出力Q3は、
出力Q2が分周クロックTCKの1/2周期分だけ遅れ
た波形を示す。出力Q2と出力Q3とが入力されるXO
Rゲート15の出力PDDは、出力Q2の立ち上がりか
ら次の出力Q3の立ち上がりまでと、出力Q2の立ち下
がりから次の出力Q3の立ち下がりまでとでハイレベル
となり、チャージポンプ2の負の定電流源をオンさせ
る。
【0008】ここで、比較出力PDUについては、基準
クロックBCKの変化点から分周クロックTCKが次に
立ち上がるまでの期間にローレベルを維持する。これに
対して、比較出力PDDは、比較出力PDUの立ち上が
りから分周クロックTCKの1周期分遅れたタイミング
で、分周クロックTCKの1/2周期の期間だけハイレ
ベルを維持する。この比較出力PDDは、チャージポン
プ2において、比較出力PDUのローレベル期間に含ま
れる加算分(分周クロックTCKの1/2周期)をキャ
ンセルする。従って、比較出力PDUのローレベルの期
間が、基準クロックBCKと分周クロックTCKとの位
相差の大小に応じて伸縮制御される。
クロックBCKの変化点から分周クロックTCKが次に
立ち上がるまでの期間にローレベルを維持する。これに
対して、比較出力PDDは、比較出力PDUの立ち上が
りから分周クロックTCKの1周期分遅れたタイミング
で、分周クロックTCKの1/2周期の期間だけハイレ
ベルを維持する。この比較出力PDDは、チャージポン
プ2において、比較出力PDUのローレベル期間に含ま
れる加算分(分周クロックTCKの1/2周期)をキャ
ンセルする。従って、比較出力PDUのローレベルの期
間が、基準クロックBCKと分周クロックTCKとの位
相差の大小に応じて伸縮制御される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】以上の位相比較器1に
おいては、フリップフロップ11〜13を動作させる分
周クロックTCKがローレベルを示す期間の分が、比較
出力PDUのローレベルの期間に加算されている。そし
て、分周クロックTCKがハイレベルを示す期間に応じ
て比較出力PDDのハイレベルの期間が設定される。従
って、分周クロックTCKは、ハイレベルの期間とロー
レベルの期間とを等しく、即ち、デューティを1/2に
設定するようにしなければならない。電圧制御発信器で
は、発信クロックのデューティが安定しないため、発振
クロックを分周してデューティが1/2となるクロック
を得るようにしている。従って、電圧制御発振器4の発
振周波数を、実際に位相比較器1での比較に用いられる
分周クロックTCKの周波数の2倍以上に設定しなけれ
ばならないという問題が生じる。
おいては、フリップフロップ11〜13を動作させる分
周クロックTCKがローレベルを示す期間の分が、比較
出力PDUのローレベルの期間に加算されている。そし
て、分周クロックTCKがハイレベルを示す期間に応じ
て比較出力PDDのハイレベルの期間が設定される。従
って、分周クロックTCKは、ハイレベルの期間とロー
レベルの期間とを等しく、即ち、デューティを1/2に
設定するようにしなければならない。電圧制御発信器で
は、発信クロックのデューティが安定しないため、発振
クロックを分周してデューティが1/2となるクロック
を得るようにしている。従って、電圧制御発振器4の発
振周波数を、実際に位相比較器1での比較に用いられる
分周クロックTCKの周波数の2倍以上に設定しなけれ
ばならないという問題が生じる。
【0010】そこで本発明は、発振クロックのデューテ
ィ比の制限を受けることなく位相比較を可能にすること
を目的とする。
ィ比の制限を受けることなく位相比較を可能にすること
を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するために成されたもので、第1の特徴とするとこ
ろは、基準クロックと発振クロックとの位相差を検出す
る位相比較回路であって、複数のフリップフロップが直
列に接続され、1段目のフリップフロップに入力した上
記基準クロックの状態を上記発振クロックの立ち上がり
または立ち下がりの何れか一方のタイミングに従って順
次シフトするシフトレジスタと、上記基準クロックの状
態と上記シフトレジスタの1段目に接続されたフリップ
フロップの出力信号の状態との不一致を検出する第1の
論理ゲートと、上記シフトレジスタの2段目に接続され
たフリップフロップの出力信号の状態と3段目に接続さ
れたフリップフロップの出力信号の状態との論理積を取
り出す第2の論理ゲートと、を備え、上記第1及び第2
の論理ゲートの出力に応答してチャージポンプを駆動す
ることにある。
解決するために成されたもので、第1の特徴とするとこ
ろは、基準クロックと発振クロックとの位相差を検出す
る位相比較回路であって、複数のフリップフロップが直
列に接続され、1段目のフリップフロップに入力した上
記基準クロックの状態を上記発振クロックの立ち上がり
または立ち下がりの何れか一方のタイミングに従って順
次シフトするシフトレジスタと、上記基準クロックの状
態と上記シフトレジスタの1段目に接続されたフリップ
フロップの出力信号の状態との不一致を検出する第1の
論理ゲートと、上記シフトレジスタの2段目に接続され
たフリップフロップの出力信号の状態と3段目に接続さ
れたフリップフロップの出力信号の状態との論理積を取
り出す第2の論理ゲートと、を備え、上記第1及び第2
の論理ゲートの出力に応答してチャージポンプを駆動す
ることにある。
【0012】本発明によれば、位相比較器を構成するフ
リップフロップが全て発振クロックの立ち下がりのみ、
あるいは、立ち下がりのみで動作するようになる。従っ
て、発振クロックのデューティが1/2でないときで
も、回路の動作には全く影響しない。さらに第2の特徴
とするところは、基準クロックとこの基準クロックの周
期よりも短い周期を有する発振クロックとの位相差を検
出する位相比較回路であって、上記基準クロックの変化
点から上記発振クロックが次に立ち上がるまでの期間に
第1の極性を維持する第1の出力を得る第1の検出手段
と、上記基準クロックの周期と同一の周期で上記発振ク
ロックの1周期の期間に第2の極性を維持する第2の出
力を得る第2の検出手段と、を備え、上記第1及び第2
の出力に応答してチャージポンプを駆動することにあ
る。
リップフロップが全て発振クロックの立ち下がりのみ、
あるいは、立ち下がりのみで動作するようになる。従っ
て、発振クロックのデューティが1/2でないときで
も、回路の動作には全く影響しない。さらに第2の特徴
とするところは、基準クロックとこの基準クロックの周
期よりも短い周期を有する発振クロックとの位相差を検
出する位相比較回路であって、上記基準クロックの変化
点から上記発振クロックが次に立ち上がるまでの期間に
第1の極性を維持する第1の出力を得る第1の検出手段
と、上記基準クロックの周期と同一の周期で上記発振ク
ロックの1周期の期間に第2の極性を維持する第2の出
力を得る第2の検出手段と、を備え、上記第1及び第2
の出力に応答してチャージポンプを駆動することにあ
る。
【0013】本発明によれば、第2の出力を発振クロッ
クの1/2周期のタイミングで変化させる必要がなくな
り、発振クロックの立ち上がりまたは立ち下がりの何れ
か一方のタイミングのみで動作させることが可能にな
る。
クの1/2周期のタイミングで変化させる必要がなくな
り、発振クロックの立ち上がりまたは立ち下がりの何れ
か一方のタイミングのみで動作させることが可能にな
る。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の位相比較器の第
1の実施形態を示す回路図であり、図2は、その動作を
説明するタイミング図である。尚、本発明の位相比較器
は、図4の位相比較器1に対応するものであり、その出
力PDU、PDDによってチャージポンプを駆動するよ
うに構成される。
1の実施形態を示す回路図であり、図2は、その動作を
説明するタイミング図である。尚、本発明の位相比較器
は、図4の位相比較器1に対応するものであり、その出
力PDU、PDDによってチャージポンプを駆動するよ
うに構成される。
【0015】本実施形態の位相比較器は、3つのフリッ
プフロップ21、22、23、XOR(排他論理和)ゲ
ート24及びANDゲート25により構成される。1段
目のフリップフロップ21は、D入力が基準クロックB
CKの入力に接続され、2段目のフリップフロップ22
は、D入力が1段目のフリップフロップ21のQ出力に
接続される。また、3段目のフリップフロップ23は、
D入力が2段目のフリップフロップ22の*Q出力(反
転出力)に接続される。そして、各段のフリップフロッ
プ21、22、23のT入力には、発振クロックOCK
が入力される。これにより、基準クロックBCKの状態
が、発振クロックOCKの立ち上がりのタイミングに応
答して、1段目のフリップフロップ21及び2段目のフ
リップフロップ22に伝えられ、さらに、その反転値が
3段目のフリップフロップ23に伝えられる。
プフロップ21、22、23、XOR(排他論理和)ゲ
ート24及びANDゲート25により構成される。1段
目のフリップフロップ21は、D入力が基準クロックB
CKの入力に接続され、2段目のフリップフロップ22
は、D入力が1段目のフリップフロップ21のQ出力に
接続される。また、3段目のフリップフロップ23は、
D入力が2段目のフリップフロップ22の*Q出力(反
転出力)に接続される。そして、各段のフリップフロッ
プ21、22、23のT入力には、発振クロックOCK
が入力される。これにより、基準クロックBCKの状態
が、発振クロックOCKの立ち上がりのタイミングに応
答して、1段目のフリップフロップ21及び2段目のフ
リップフロップ22に伝えられ、さらに、その反転値が
3段目のフリップフロップ23に伝えられる。
【0016】XORゲート24は、2つの入力が、基準
クロックBCKの入力及びフリップフロップ21のQ出
力に接続され、その論理合成出力が比較出力PDUとし
てチャージポンプに供給される。ANDゲート25は、
2つの入力が、フリップフロップ22のQ出力とフリッ
プフロップ23のQ出力とに接続され、その論理合成出
力が比較出力PDDとしてチャージポンプに供給され
る。
クロックBCKの入力及びフリップフロップ21のQ出
力に接続され、その論理合成出力が比較出力PDUとし
てチャージポンプに供給される。ANDゲート25は、
2つの入力が、フリップフロップ22のQ出力とフリッ
プフロップ23のQ出力とに接続され、その論理合成出
力が比較出力PDDとしてチャージポンプに供給され
る。
【0017】以上の位相比較器の動作を図2に従って説
明する。基準クロックBCKは、発振クロックOCKの
立ち上がりのタイミングでフリップフロップ21に取り
込まれる。これにより、フリップフロップ21の出力Q
1は、基準クロックBCKの変化点に対して発振クロッ
クOCKが次に立ち上がるタイミングで、基準クロック
BCKに従うように変化する。基準クロックBCKと出
力Q1とが入力されるXORゲート24の出力PDU
は、基準クロックBCKの立ち下がりから次の発振クロ
ックOCKの立ち上がりまでと、基準クロックの立ち上
がりから次の発振クロックOCKの立ち上がりまでとで
ローレベルとなり、チャージポンプの正の定電流源をオ
ンさせる。
明する。基準クロックBCKは、発振クロックOCKの
立ち上がりのタイミングでフリップフロップ21に取り
込まれる。これにより、フリップフロップ21の出力Q
1は、基準クロックBCKの変化点に対して発振クロッ
クOCKが次に立ち上がるタイミングで、基準クロック
BCKに従うように変化する。基準クロックBCKと出
力Q1とが入力されるXORゲート24の出力PDU
は、基準クロックBCKの立ち下がりから次の発振クロ
ックOCKの立ち上がりまでと、基準クロックの立ち上
がりから次の発振クロックOCKの立ち上がりまでとで
ローレベルとなり、チャージポンプの正の定電流源をオ
ンさせる。
【0018】フリップフロップ21の出力Q1は、発振
クロックOCKの立ち上がりのタイミングでフリップフ
ロップ22に取り込まれる。これにより、フリップフロ
ップ22の出力Q2は、出力Q1が発振クロックOCK
の1周期分だけ遅れた波形を示す。そして、フリップフ
ロップ22の出力Q2は、その反転信号が発振クロック
OCKの立ち上がりのタイミングでフリップフロップ2
3に取り込まれる。これにより、フリップフロップ23
の出力Q3は、出力Q2の反転信号が発振クロックOC
Kの1周期分だけ遅れた波形を示す。出力Q2と出力Q
3とが入力されるANDゲート25の出力PDDは、出
力Q2の立ち上がりから次の出力Q3の立ち下がりまで
に限ってハイレベルとなり、チャージポンプの負の定電
流源をオンさせる。
クロックOCKの立ち上がりのタイミングでフリップフ
ロップ22に取り込まれる。これにより、フリップフロ
ップ22の出力Q2は、出力Q1が発振クロックOCK
の1周期分だけ遅れた波形を示す。そして、フリップフ
ロップ22の出力Q2は、その反転信号が発振クロック
OCKの立ち上がりのタイミングでフリップフロップ2
3に取り込まれる。これにより、フリップフロップ23
の出力Q3は、出力Q2の反転信号が発振クロックOC
Kの1周期分だけ遅れた波形を示す。出力Q2と出力Q
3とが入力されるANDゲート25の出力PDDは、出
力Q2の立ち上がりから次の出力Q3の立ち下がりまで
に限ってハイレベルとなり、チャージポンプの負の定電
流源をオンさせる。
【0019】ここで、比較出力PDUについては、図6
の場合と同一であり、基準クロックBCKの変化点から
発振クロックOCKが次に立ち上がるまでの期間だけロ
ーレベルを維持する。この比較出力PDUがローレベル
となる期間は、基準クロックBCKの1/2周期毎に現
れる。一方、比較出力PDDについては、比較出力PD
Uの立ち上がりから発振クロックOCKの1周期分遅れ
たタイミングで、発振クロックOCKの1周期分の期間
だけハイレベルとなる。この比較出力PDDがハイレベ
ルとなる期間は、基準クロックBCKの1周期毎に、即
ち、比較出力PDUがローレベルを示す周期の2倍の周
期で現れる。比較出力PDDがハイレベルを維持する期
間は、比較出力PDUがローレベルを維持する期間に含
まれる加算分(発振クロックOCKの1/2周期)の2
倍となっているため、比較出力PDUのローレベル期間
に含まれる加算分を比較出力PDDでキャンセルするこ
とができる。
の場合と同一であり、基準クロックBCKの変化点から
発振クロックOCKが次に立ち上がるまでの期間だけロ
ーレベルを維持する。この比較出力PDUがローレベル
となる期間は、基準クロックBCKの1/2周期毎に現
れる。一方、比較出力PDDについては、比較出力PD
Uの立ち上がりから発振クロックOCKの1周期分遅れ
たタイミングで、発振クロックOCKの1周期分の期間
だけハイレベルとなる。この比較出力PDDがハイレベ
ルとなる期間は、基準クロックBCKの1周期毎に、即
ち、比較出力PDUがローレベルを示す周期の2倍の周
期で現れる。比較出力PDDがハイレベルを維持する期
間は、比較出力PDUがローレベルを維持する期間に含
まれる加算分(発振クロックOCKの1/2周期)の2
倍となっているため、比較出力PDUのローレベル期間
に含まれる加算分を比較出力PDDでキャンセルするこ
とができる。
【0020】以上のようにして得られる比較出力PD
U、PDDによるチャージポンプの駆動については、図
5と同一である。本発明においては、ANDゲート25
の出力PDDが、発振クロックOCKの立ち上がりのタ
イミングにのみ応答して変化するようになるため、発振
クロックOCKのデューティを1/2にする必要がなく
なる。
U、PDDによるチャージポンプの駆動については、図
5と同一である。本発明においては、ANDゲート25
の出力PDDが、発振クロックOCKの立ち上がりのタ
イミングにのみ応答して変化するようになるため、発振
クロックOCKのデューティを1/2にする必要がなく
なる。
【0021】図3は、本発明の位相比較器の第2の実施
形態を示す回路図である。本実施形態の位相比較器は、
7つのフリップフロップ31〜37、2つのNANDゲ
ート38、39及び2つのANDゲート40、41によ
り構成される。第1のフリップフロップ31は、D入力
が基準クロックBCKの反転信号の入力に接続され、第
2のフリップフロップ32は、D入力が第1のフリップ
フロップ31の*Q出力(反転出力)に接続される。さ
らに、第3のフリップフロップ33は、D入力が第2の
フリップフロップ33の*Q出力に接続される。また、
第4のフリップフロップ34は、D入力が基準クロック
BCKの入力に接続され、第5のフリップフロップ35
は、D入力が第4のフリップフロップ34の*Q出力の
反転信号に接続される。これら第1〜第5のフリップフ
ロップ31〜35のT入力には、それぞれ発振クロック
OCKが入力される。これにより、基準クロックBCK
の状態が、発振クロックOCKの立ち上がりのタイミン
グに応答して各フリップフロップ31〜35に順次伝え
られる。第6のフリップフロップ36は、D入力が電源
電位に接続され、T入力が基準クロックBCKに接続さ
れる。第7のフリップフロップ37は、第6のフリップ
フロップ36と同様に、D入力が電源電位に接続され、
T入力が基準クロックBCKの反転信号の入力に接続さ
れる。
形態を示す回路図である。本実施形態の位相比較器は、
7つのフリップフロップ31〜37、2つのNANDゲ
ート38、39及び2つのANDゲート40、41によ
り構成される。第1のフリップフロップ31は、D入力
が基準クロックBCKの反転信号の入力に接続され、第
2のフリップフロップ32は、D入力が第1のフリップ
フロップ31の*Q出力(反転出力)に接続される。さ
らに、第3のフリップフロップ33は、D入力が第2の
フリップフロップ33の*Q出力に接続される。また、
第4のフリップフロップ34は、D入力が基準クロック
BCKの入力に接続され、第5のフリップフロップ35
は、D入力が第4のフリップフロップ34の*Q出力の
反転信号に接続される。これら第1〜第5のフリップフ
ロップ31〜35のT入力には、それぞれ発振クロック
OCKが入力される。これにより、基準クロックBCK
の状態が、発振クロックOCKの立ち上がりのタイミン
グに応答して各フリップフロップ31〜35に順次伝え
られる。第6のフリップフロップ36は、D入力が電源
電位に接続され、T入力が基準クロックBCKに接続さ
れる。第7のフリップフロップ37は、第6のフリップ
フロップ36と同様に、D入力が電源電位に接続され、
T入力が基準クロックBCKの反転信号の入力に接続さ
れる。
【0022】第1のNANDゲート38は、2つの入力
が、第1のフリップフロップ31のQ出力と第6のフリ
ップフロップ36のQ出力とに接続され、第2のNAN
Dゲート39は、2つの入力が、第4のフリップフロッ
プ34のQ出力と第7のフリップフロップ37のQ出力
とに接続される。第1のANDゲート40は、2つの入
力が2つのNANDゲート38、39の出力に接続さ
れ、その論理合成出力が比較出力PDUとしてチャージ
ポンプに供給される。第2のANDゲート41は、2つ
の入力が、第2のフリップフロップ32のQ出力と第3
のフリップフロップ33のQ出力とに接続され、その論
理合成出力が比較出力PDDとしてチャージポンプに供
給される。
が、第1のフリップフロップ31のQ出力と第6のフリ
ップフロップ36のQ出力とに接続され、第2のNAN
Dゲート39は、2つの入力が、第4のフリップフロッ
プ34のQ出力と第7のフリップフロップ37のQ出力
とに接続される。第1のANDゲート40は、2つの入
力が2つのNANDゲート38、39の出力に接続さ
れ、その論理合成出力が比較出力PDUとしてチャージ
ポンプに供給される。第2のANDゲート41は、2つ
の入力が、第2のフリップフロップ32のQ出力と第3
のフリップフロップ33のQ出力とに接続され、その論
理合成出力が比較出力PDDとしてチャージポンプに供
給される。
【0023】以上の位相比較器においても、第1〜第5
のフリップフロップ31〜35が全て発振クロックOC
Kの立ち上がりのタイミングで動作し、図2と同様の出
力PDU、PDDを得ることができる。
のフリップフロップ31〜35が全て発振クロックOC
Kの立ち上がりのタイミングで動作し、図2と同様の出
力PDU、PDDを得ることができる。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、位相比較に取り込む発
信クロックを1/2のデューティ比に設定する必要がな
いため、発信器の出力をそのまま取り込むことができ
る。従って、電圧制御発信器の発信周波数を低く設定す
ることができる。
信クロックを1/2のデューティ比に設定する必要がな
いため、発信器の出力をそのまま取り込むことができ
る。従って、電圧制御発信器の発信周波数を低く設定す
ることができる。
【図1】本発明の位相比較器の第1の実施形態を示す回
路図である。
路図である。
【図2】第1の実施形態の動作を説明するタイミング図
である。
である。
【図3】本発明の位相比較器の第2の実施形態を示す回
路図である。
路図である。
【図4】一般的なPLLの構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図5】従来の位相比較器の構成を示す回路図である。
【図6】従来の位相比較器の動作を説明するタイミング
図である。
図である。
1 位相比較器
2 チャージポンプ
3 ローパスフィルタ(LPF)
4 電圧制御発信器(VCO)
5 分周器
11〜13、21〜23、31〜37 フリップフロッ
プ 14、15、24 XORゲート 25、40、41 ANDゲート 38、39 NANDゲート
プ 14、15、24 XORゲート 25、40、41 ANDゲート 38、39 NANDゲート
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
H03K 5/26
H03L 7/089
Claims (2)
- 【請求項1】 基準クロックと発振クロックとの位相差
を検出する位相比較回路であって、複数のフリップフロ
ップが直列に接続され、1段目のフリップフロップに入
力した上記基準クロックの状態を上記発振クロックの立
ち上がりまたは立ち下がりの何れか一方のタイミングに
従って2段目のフリップフロップへシフトし、2段目の
フリップフロップに入力した上記基準クロックの状態を
上記発振クロックの立ち上がりまたは立ち下がりの何れ
か一方のタイミングに従って反転して3段目のフリップ
フロップへシフトするシフトレジスタと、上記基準クロ
ックの状態と上記シフトレジスタの1段目に接続された
フリップフロップの出力信号の状態との不一致を検出す
る第1の論理ゲートと、上記シフトレジスタの2段目に
接続されたフリップフロップの出力信号の状態と3段目
に接続されたフリップフロップの出力信号の状態との論
理積を取り出す第2の論理ゲートと、を備え、上記第1
及び第2の論理ゲートの出力に応答してチャージポンプ
を駆動することを特徴とする位相比較器。 - 【請求項2】 基準クロックとこの基準クロックの周期
よりも短い周期を有する発振クロックとの位相差を検出
する位相比較器であって、上記基準クロックの変化点か
ら上記発振クロックが次に立ち上がるまでの期間に第1
の極性を維持する位相比較器の第1の出力を得る第1の
検出手段と、 上記第1の検出手段が第1の極性を維持していないと
き、 上記基準クロックの周期と同一の周期で上記発振ク
ロックの1周期の期間に第2の極性を維持する位相比較
器の第2の出力を得る第2の検出手段と、 を備え、上記第1及び第2の出力に応答してチャージポ
ンプを駆動することを特徴とする位相比較器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02871398A JP3459561B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 位相比較器 |
TW087121933A TW406476B (en) | 1998-02-10 | 1998-12-31 | Phase comparator |
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US09/247,679 US6177812B1 (en) | 1998-02-10 | 1999-02-09 | Phase detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02871398A JP3459561B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 位相比較器 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11234100A JPH11234100A (ja) | 1999-08-27 |
JP3459561B2 true JP3459561B2 (ja) | 2003-10-20 |
Family
ID=12256101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02871398A Expired - Fee Related JP3459561B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 位相比較器 |
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Country | Link |
---|---|
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JP (1) | JP3459561B2 (ja) |
KR (1) | KR100357006B1 (ja) |
TW (1) | TW406476B (ja) |
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US6959063B1 (en) * | 2000-02-29 | 2005-10-25 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Fractional-N phase locked loop |
CA2344787A1 (en) * | 2001-04-19 | 2002-10-19 | Pmc-Sierra Ltd. | A phase detector customized for clock synthesis unit |
US6762626B1 (en) * | 2003-04-24 | 2004-07-13 | International Business Machines Corporation | Phase detector |
KR100630333B1 (ko) * | 2004-07-23 | 2006-10-02 | 삼성전자주식회사 | 위상검출회로 및 방법과 이를 이용한 클록데이터복원회로및 방법 |
US7161391B2 (en) * | 2004-12-03 | 2007-01-09 | Micron Technology | Skew tolerant high-speed digital phase detector |
US20080111597A1 (en) * | 2006-11-09 | 2008-05-15 | International Business Machines Corporation | Systems and Arrangements for Controlling a Phase Locked Loop |
US20080111633A1 (en) * | 2006-11-09 | 2008-05-15 | International Business Machines Corporation | Systems and Arrangements for Controlling Phase Locked Loop |
US8149038B1 (en) * | 2010-03-22 | 2012-04-03 | Altera Corporation | Techniques for phase adjustment |
TWI543597B (zh) * | 2013-02-27 | 2016-07-21 | 晨星半導體股份有限公司 | 訊號取樣方法、資料加解密方法、以及使用這些方法的電子裝置 |
EP3665565B1 (en) * | 2017-08-08 | 2024-02-14 | Politechnika Warszawska | Generator of physically unclonable cryptographic keys |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5644605A (en) * | 1990-11-13 | 1997-07-01 | Dallas Semiconductor Corp. | Jitter attenuator |
KR920011082A (ko) * | 1990-11-28 | 1992-06-27 | 정몽헌 | Pll의 위상비교기 |
JPH0522125A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Kyoei Sangyo Kk | 位相比較回路装置 |
JP3461036B2 (ja) * | 1994-07-28 | 2003-10-27 | ローム株式会社 | 周波数位相比較器 |
JPH0851359A (ja) * | 1994-08-08 | 1996-02-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | デジタル位相比較器 |
US5570053A (en) * | 1994-09-26 | 1996-10-29 | Hitachi Micro Systems, Inc. | Method and apparatus for averaging clock skewing in clock distribution network |
JPH09162727A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-06-20 | Oki Tec:Kk | ディジタル形式位相比較器 |
US5770976A (en) * | 1996-12-11 | 1998-06-23 | Lucent Technologies Inc. | Local clock duty cycle independent phase detector and method of operation thereof |
-
1998
- 1998-02-10 JP JP02871398A patent/JP3459561B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-12-31 TW TW087121933A patent/TW406476B/zh not_active IP Right Cessation
-
1999
- 1999-02-09 KR KR1019990004540A patent/KR100357006B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-02-09 US US09/247,679 patent/US6177812B1/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
US6177812B1 (en) | 2001-01-23 |
TW406476B (en) | 2000-09-21 |
JPH11234100A (ja) | 1999-08-27 |
KR100357006B1 (ko) | 2002-10-18 |
KR19990072534A (ko) | 1999-09-27 |
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